JPH10511233A - 演算増幅器のオフセット電圧に低感度のスイッチド・コンデンサ、1ビット・ディジタル/アナログ・コンバータ - Google Patents

演算増幅器のオフセット電圧に低感度のスイッチド・コンデンサ、1ビット・ディジタル/アナログ・コンバータ

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JPH10511233A
JPH10511233A JP8501312A JP50131296A JPH10511233A JP H10511233 A JPH10511233 A JP H10511233A JP 8501312 A JP8501312 A JP 8501312A JP 50131296 A JP50131296 A JP 50131296A JP H10511233 A JPH10511233 A JP H10511233A
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Abstract

(57)【要約】 スイッチド・コンデンサDACシステムが、入力リード線(62、64)と、出力リード線(66、68)と、入力リード線と出力リード線との間に接続された積分コンデンサ(C3、C4)とを有する演算増幅器(60)を含む積分回路を有する。サンプリング・スイッチ(78)は、第1および第2の非オーバーラップ時間間隔の少なくとも1つにおいて入力電圧(Vref)により充電される入力コンデンサ(C1、C2)を接続するように動作可能であり、第1の時間間隔が第1および第2の非オーバーラップ・サブ間隔へ細分割され、第2の時間間隔が第3および第4の非オーバーラップ・サブ間隔へ細分割される。転送スイッチ(80)は、第1および第3のサブ間隔の少なくとも1つにおいて、電荷を入力コンデンサから積分コンデンサ(C3、C4)へ転送するため入力コンデンサを入力コンデンサからの転送電荷へ接続するように動作可能である。放電スイッチ(S8、S10)は、第2および第4のサブ間隔の少なくとも1つにおいて入力コンデンサを放電ノードへ接続するように動作可能である。本発明の望ましい一実施例において、サンプリング・スイッチは、第1および第2のサブ間隔の1つにおいて入力コンデンサを接続し、転送スイッチは、第1および第3のサブ間隔の1つにおいて入力コンデンサを接続し、放電スイッチは、第2および第4のサブ間隔の1つにおいて入力コンデンサを接続する。

Description

【発明の詳細な説明】 演算増幅器のオフセット電圧に低感度のスイッチド・コンデンサ、1ビット・ ディジタル/アナログ・コンバータ 発明の分野 本発明は、ディジタル/アナログ・コンバータ(DAC)に関し、特に演算増 幅器(OP−amp)のオフセット電圧の非線形エラーを低減するための回路を 含むスイッチド・コンデンサ(switched−capacitor)DAC に関する。 発明の背景 シグマ−デルタ・アナログ/ディジタル・コンバータ(ADC)およびDAC は、適切な処理技術の開発およびディジタル・オーディオその他の用途の増加と 共に最近広く用いられるようになった。シグマ−デルタ・コンバータは、高い信 号/雑音比を達成するためオーバーサンプリング技術(即ち、ナイキスト・レー トより高い速度でのサンプリング)を利用する。このようなコンバータはまた、 優れた線形性を呈する。更にまた、シグマ−デルタ・コンバータは、その単純さ のゆえに実現が比較的簡明であり安価である。 シグマ−デルタADCは、アナログ入力電圧を予め定めた速度でディジタル出 力サンプルへ変換する。典型的なシグマ−デルタADCは、「ノイズ整形法(n oise shaping)」と呼ばれるオーバーサンプリング手法を実施する ことにより、量子化ノイズ電力の主成分が典型的に(出力サンプル内の)信号帯 域幅である関心帯域の上限周波数より高い周波数レンジへシフトされるように、 ノイズ・スペクトル信号を操作するフロント・エンド変調器を含む。その後、デ ィジタル領域内で濾波(デシメーション)が行われて、ディジタル出力サンプル の高周波量子化ノイズ成分を低減する。 従来の1次シグマ−デルタADC(first order sigma−d elta ADC)が、図1にブロック図形態で示される。ADCは、変調器5 0とデシメータ59とを含む。変調器50は、線70上で受取られた入力電圧V inを1ビットのデータ・ストリームXへサンプリング周波数Kfsにより決定 される速度で変換する。変調器50は、入力信号に対してオーバーサンプリング およびノイズ整形を行う。1ビットのデータ・ストリームXは、線57でデシメ ータ59へ与えられ、このデシメータが前記データ・ストリームを低域通過濾波 してその量子化ノイズ成分を低減し、濾波されたNビットの出力サンプルを出力 線61へ速度fsで与える。簡単に言えば、デシメータ59は、定数Kで1ビッ トのデータ・ストリームXをデシメートする。 変調器50は、入力信号Vinをサンプルしてこのサンプルされた入力信号を 加算回路54へ与える入力回路51を含む。加算回路54は、サンプルされた入 力信号から線65で受取ったフィードバック信号(以下に述べる)を差引き、こ の出力信号の差を線55で積分器56へ与える。積分器56は、加算回路55か らの出力信号差を従来通り「積分」して、出力信号Aをクロックされラッチされ るクロック・ラッチ・コンパレータ58へ与える。加算回路54は、積分器の入 力部と一般に見なすことができる。コンパレータ58は、線58Aへ印加される クロック信号によって従来とおり速度Kfsでクロックされる。各クロック・パ ルスごとに、コンパレータ58が信号Aを接地と「比較」して、1ビット出力を 生じる。一連のクロック・パルスに対する一連の出力は、線57に変調器の1ビ ット・データ・ストリーム出力Xを形成する。このように、コンパレータ58は 、有効的な1ビットADCである。 データ・ストリームXはまた、フィードバック線63で、1ビットDAC(図 示せず)を含むフィードバック回路52へ与えられる。データ・ストリームXは 、線74で受取られた正のフィードバック基準電圧+Vrefか、あるいは線76 で受取られた負のフィードバック基準電圧−Vrefのいずれかが、フィードバッ ク線65を介してデータ・ストリームXにおける各ビットごとに回路66へ印加 されるように、フィードバック回路52内のスイッチ53を制御し、前記回路6 6が対応するフィードバック信号を生成してこれを加算回路54へ供給する。変 調 器50のフィードバック回路52のこのスイッチング動作は、閉ループ回路に対 して周知であり、当業者には容易に理解されるはずである。 シグマ−デルタ変調器は、典型的にスイッチド・コンデンサ回路で構成される 。変調器の動作は搬送信号に関して先に一般的に述べたが、スイッチド・コンデ ンサ構成においては、信号は電荷のパケットである。このため、電荷パケットは 、入力信号がサンプルされるたびに、かつフィードバック信号が生成されるたび に、生成され、このような電荷即ち正味電荷は入力回路およびフィードバック回 路から加算回路を介して積分器へ「転送」される。 スイッチド・コンデンサ構成(switched−capacitor im plementation)においては、積分器50は、典型的に演算増幅器と 、フィードバック接続される積分コンデンサ(図1には示さず)とを含む。入力 回路およびフィードバック回路は、典型的に、入力電圧およびフィードバック基 準電圧をそれぞれサンブリングするためのスイッチとコンデンサを含んでいる。 動作中、入力コンデンサは、典型的に、第1の時間間隔(クロック相)において 第1のスイッチ(単数または複数)を介して電圧源(即ち、入力電圧源またはフ ィードバック基準電圧源)によって充電され、その後電荷は、第2の非オーバー ラッピング時間間隔において入力コンデンサから第2のスイッチ(単数または複 数)を介してフィードバック接続された積分コンデンサへ「転送」される。この スイッチは、高い性能と歩留まりのゆえにCMOSトランジスタを含む。 当業者は、当技術オーバーラッピング本文において用いられる如く、電荷の「 転送」とは、入力コンデンサC1の1つの極板と積分コンデンサC3の1つの極 板との間の等電位面による入力コンデンサCの充電(サンプリング)を補償する ため、積分器出力電圧による積分コンデンサC3の充電を意味すること(図2参 照)を理解するはずである。このように、入力コンデンサから積分コンデンサへ の電荷の文字通り物理的な移動は生じない。 単一の入力電圧が(接地に関して)サンプルされる変調器の先の記述は、シン グル・エンデッド(片側接地された)演算増幅器の使用に基く積分器11を前提 とする。しかし、当業者には理解されるように、積分器は、正および負の入力電 圧が個々にサンプルされる差動増幅器を含む。 片側接地されたCMOS演算増幅器あるいは差動CMOS演算増幅器のいずれ も、典型的に1〜10mvの範囲内の関連入力オフセット電圧を有する(理想的 には、入力オフセット電圧は0であるべきであるが)。動作中、差動演算増幅器 の入力端子における電圧間の差は、出力電圧が0ボルトである時、入力オフセッ ト電圧と等しくなる。 シグマ−デルタADC変調器においては、演算増幅器の入力オフセット電圧は 、フィードバック回路のコンデンサ(単数または複数)を充電し(即ち、オフセ ット電圧がフィードバック回路によってサンプルされ)、その電荷が積分器へ「 転送」される。理想的には、フィードバック回路から転送される電荷のみがサン プルされるフィードバック基準電圧による電荷であるはずである。当業者に理解 されるように、フィードバック信号から積分器へ転送される電荷の量は、典型的 には、変調器のディジタル出力信号(図1のX)の遷移密度(即ち、1から0、 あるいは0から1への遷移数)によって制御される。ディジタル出力信号の遷移 密度が典型的には非線形であるゆえに、入力オフセット電圧のサンプリングの結 果として得る電荷の転送もまた非線形である。入力オフセット電圧のサンプリン グによる電荷の非線形転送の結果として、かかる変調器は総合的な非線形性の性 能から免れず、「アイドル・トーン(idle tone)」として知られる反 復的なノイズ・パターンに遭遇する。以下は、このような従来技術の変調器性能 の詳細な論議である。 図1の要素と類似する要素は同じ参照番号で示される図2によれば、従来技術 のスイッチド・コンデンサDACシステムはDAC52および積分器56を含む ように示される。動作中、DAC52は基準電圧Vrefをサンプルして、+Vref あるいは−Vrefと対応する電荷を積分器56へ転送する。基準電圧Vrefは、D ACの入力電圧と見なすことができる。 積分器56は、演算増幅器60と、この演算増幅器の非反転出力リード線66 および反転入力リード線62に接続された第1の積分コンデンサC3と、反転出 力リード線68および非反転入力リード線64に接続された第2の積分コンデン サC4とを含む。 スイッチド・コンデンサDAC52は、基準電圧Vrefの正および負の端末を それぞれ受取る入力線74および76を含む。第1の入力コンデンサC1は、第 1のスイッチング回路78を介して入力線74および76に接続され、第2のス イッチング回路80を介して演算増幅器の入力線とに接続される。第2の入力コ ンデンサC2は、同様に、第1のスイッチング回路78を介して入力線74およ び76に接続され、第2のスイッチング回路80を介して演算増幅器の入力線6 2および64とに接続される。コンデンサC1およびC2は、スイッチング回路 78を介して基準電圧Vrefをサンプルし(即ち、これにより充電され)、電荷 をスイッチング回路80を介してコンデンサC1およびC2に転送する。コンデ ンサC1およびC2の値は、コンデンサC3およびC4の値と同様に、等しいこ とが望ましい。 スイッチング回路78は、記号P1またはP2を付したスイッチを含む。P1 を付したスイッチは、制御信号P1によって制御され、P2を付したスイッチは 制御信号P2によって制御される(図3参照)。スイッチング回路80は、記号 R1またはR2を付したスイッチを含む。R1を付したスイッチは制御信号R1 により制御され、R2を付したスイッチは制御信号R2によって制御される(図 3参照)。 図3のタイミング図に示されるのは、制御信号P1、P2、R1およびR2、 ならびに信号R1およびR2を生成するため用いられるディジタル入力信号Yで ある。シグマ−デルタADC変調器の用途においては、信号Yは典型的にディジ タル出力信号(即ち、図1における信号X)である。これら制御信号は同じ時間 軸上に示され、一方が他方の上にある縦方向の位置は一方が他方と異なる電圧レ ベルを持つことを示すものではなく、信号の「高い」電圧レベルおよび「低い」 電圧レベルは単に相互の相対的なものである。スイッチド・コンデンサ回路にお いて周知のように、スイッチP1およびP2は、2つの重ならない時間間隔(即 ち、クロック位相)で動作する。間隙1(時間軸上に示される)の間、信号P1 は高い電圧レベルにあり、信号P2は低い電圧レベルにある。間隔2の間、信号 P1は低く信号P2は高い。 信号P1は、間隔1において(P1が高い時)P1を付したスイッチが閉じら れ(て電流を通じ)、間隔2において(P1が低い時)P1を付したスイッチが 開かれ(電流の流れを止め)るように、P1を付したスイッチを制御する。反対 に、P2を付したスイッチは、間隔1の間は開き、間隔2において閉じられる。 正確な基準電圧のサンプリングが生じるように、信号P1およびP2が同時に高 くないことが重要である。このように、当業者は理解するように、回路(図示せ ず)の生成する信号P1およびP2は、典型的に、制御信号が同時に高くないこ とを保証する「作動前破断(break−before−made)」動作を確 立する。 制御信号R1およびR2は、下式に従って信号Yのレベルに依存する。 R1=P1*YB+P2*Y および R2=P1*YB 但し、YBはYの補数、「+」は論理的OR演算を表わし、「*」は論理的AN D演算を表わす。Yが低いと、信号R1は信号P1と同じであり、信号R2は信 号P2と同じである。Yが高いと、信号R1は信号P2と同じであり、信号R2 は信号P1と同じである。 再び図2において、スイッチング回路78は、入力線74とコンデンサC1の 左極板との間に接続された第1のスイッチS1と、入力線76とコンデンサC1 の左極板との間に接続された第2のスイッチS2と、入力線76とコンデンサC 2の左極板との間に接続された第3のスイッチS3と、入力線74とコンデンサ C2の左極板との間に接続された第4のスイッチS4とを含む。スイッチング回 路80は、コンデンサC1の右極板と演算増幅器60の反転入力線62との間に 接続された第1のスイッチS5と、コンデンサC1の右極板と非反転入力線64 との間に接続された第2のスイッチS6と、コンデンサC2の右極板と非反転入 力線64との間に接続された第3のスイッチS7と、第2の入力コンデンサC2 の右極板と反転入力線62との間に接続された第4のスイッチS8とを含む。ラ ベルで示されるように、スイッチS1とS3は制御信号P1により制御され、ス イッチS2とS4は制御信号P2により制御され、スイッチS6とS8は制御信 号R1により制御され、またスイッチS5とS7は制御信号R2によって制御さ れる。 当業者は容易に理解されるように、入力コンデンサC1およびC2は、スイッ チング回路78を介して基準電圧をサンプルして、電荷をスイッチング回路80 を介して積分コンデンサC3およびC4へ転送する。入力コンデンサの交差接続 装置は、両方の時間間隔において基準電圧をサンプルすることを可能にし、両方 の時間間隔において電荷を転送することを可能にする。図3のタイミング図は、 信号Yが間隔1および2において1回遷移すること、および間隔2と間隔1の間 に遷移が生じることを仮定する。 図2の従来のDACは両方の時間間隔において基準電圧をサンプルし、かつ両 時間間隔において電荷を積分コンデンサへ転送するよう有効に働くが、DACは 、演算増幅器の入力オフセット電圧の存在のゆえに積分の非線形エラーを生じる ことがある。図4は、基準電圧が0ボルトに等しく(即ち、入力線74および7 6が接地される)かつ演算増幅器70が関連する入力オフセット電圧Vosを持ち 、その結果入力オフセット電圧の作用が更に容易に分析できる場合に対する図2 の従来技術のDACを略図的に示す。このような分析は、下記の如くである。 間隔1において、信号Yがローであるものと仮定すると、コンデンサC1の左 極板がスイッチS1を介して接地され、コンデンサC1の右極板はスイッチS6 を介して、−Vos/2の電圧レベルにある非反転入力線64に接続される。[演 算増幅器の入力線の共通モード電圧は、0ボルトであると仮定する。従って、反 転入力線62は+Vos/2の電圧レベルにあり、非反転入力線64は−Vos/2 の電圧レベルにある。]直後の間隔2において、信号Yがローからハイへ遷移し ないものと仮定すると、コンデンサC1の左極板はスイッチS2を介して接地さ れ、コンデンサC1の右極板はスイッチS3を介して反転入力線62(+Vos/ 2の電圧レベルにある)に接続される。このように、C1*Vosの合計電荷(コ ンデンサC1の右極板における電圧の変化と関連する)が、2つの間隙において コンデンサC1に蓄積し、C1*Vosの同じ電荷がコンデンサC3へ転送される 。当業者は理解されるように、回路および等しい値のコンデンサC1およびC2 の 異なる構成により、大きさが等しく反対の電荷がコンデンサC2からコンデンサ C4へ転送される。従って、コンデンサC2の充電とコンデンサC2からC4へ の電荷の転送は個々に分析されることはない。要約すると、信号Yがローのまま である(遷移しない)ならば、2つの連続間隔の2番目において、C1*Vosと 等しい電荷が積分コンデンサC3へ転送される。 しかし、信号Yが2つの連通間隔間で遷移する時、以下に述べるように、入力 コンデンサの右側の極板は同じノードに接続されたままであり、電荷は転送され ない。(信号Yがローであると仮定する)間隔2においては、コンデンサC1の 左極板はスイッチS2を介して接地され、コンデンサC1の右極板はスイッチS 5を介して反転入力線62(+Vos/2の電圧レベルにおける)に接続される。 その後の接地1においては、(信号Yがハイに遷移するものと仮定して)、コン デンサC1の左極板はスイッチS1を介して接地され、コンデンサC1の右極板 はスイッチS5を介して反転入力線62に接続されたままである。このため、コ ンデンサC1の右極板における電圧は、間隔1および2の間では変化せず、電荷 は転送されない。要約すると、信号Yが2つの連続間隔間で遷移しなければC1 *Vosが転送され、信号Yが時間間隔間で転送しないならば、電荷は転送されな い。 従って、ある期間にわたり演算増幅器の入力オフセット電圧により転送される 合計電荷は、信号Yにおける遷移の密度に依存する。シグマ−デルタADC変調 器においては、出力信号(Y)における遷移密度は典型的には非線形である。図 5は、−1ボルトないし+1ボルトのアナログ入力電圧範囲にわたる2次シグマ −デルタADC変調器のディジタル出力信号に対する遷移密度を示すグラフであ る。図示のように、遷移密度は、中間スケール・コードに対して70%(即ち、 0ボルト)に略々等しく、正と負のフルスケール・コード(即ち、±1ボルト) に対して25%に略々等しい。その結果、図2の従来技術のDACを用いるシグ マ−デルタADC変調器は、非線形性の精度問題およびアイドル・トーンと遭遇 するおそれがある。 従って、本発明の一般的目的は、演算増幅器のオフセット電圧の非線形性エラ ーを低減するための回路を含む高性能のスイッチド・コンデンサDACを提供す ることである。 本発明の他の目的および利点については、以下の詳細な記述から明らかになる であろう。 発明の概要 従来技術の前記短所は、本発明の方法および装置によって克服され、本発明に おいては、サンプリング時間間隔においてスイッチド・コンデンサの入力回路が 入力コンデンサを入力電圧で充電し、サブ時間間隔において電荷を入力コンデン サから積分コンデンサへ転送する。入力コンデンサの1つの極板は、転送サブ時 間間隔において、転送スイッチを介して演算増幅器の入力線に接続される。入力 コンデンサの前記極板は、放電サブ時間間隔において放電スイッチを介して放電 ノードに接続されて、前の転送時間間隔において入力コンデンサで蓄積されたオ フセット電圧電荷を放電する。 更に、本発明の望ましい実施例によれば、スイッチド・コンデンサDACシス テム(switched−capacitor DAC system)は、入 力線と、出力線と、この入力線と出力線との間に接続された積分コンデンサとを 持つ演算増幅器を含む積分回路を含んでいる。スイッチド・コンデンサDACは 、サンプリング・スイッチを介してサンプル・レートで入力電圧により充電され るように接続可能であり、かつ入力コンデンサから転送スイッチを介して積分コ ンデンサへ転送レート(transfer rate)で転送するように接続可 能である。DACは更に、演算増幅器オフセット電圧による電荷の転送が転送レ ートにおける非線形性とは実質的に独立的であるように、転送レートと関連する 予め定めたレートで入力コンデンサを放電ノードに接続するための放電スイッチ を含む。 本発明の一実施例において、入力コンデンサは,第1および第2の非オーバー ラップ時間間隔(nonoverlapping time interval )において入力電圧で充電される。第1の時間間隔は、第1および第2の非オー バーラップ・サブ時間間隔(nonoverlapping sub−inte r val)へ細分割され、第2の時間間隔は第3および第4の非オーバーラップ・ サブ間隔へ細分割される。電荷は、第1および第2のサブ間隔において入力コン デンサから積分コンデンサへ転送され、入力コンデンサは、第2および第4のサ ブ間隔のいずれかにおいて放電ノードに接続される。 本発明の別の実施例において、入力コンデンサは、第2および第4の両サブ間 隔において放電ノードに接続される。 図面の簡単な説明 図1は、従来技術のシグマ−デルタADCシステムのブロック図、 図2は、従来技術のスイッチド・コンデンサDACシステムの概略図、 図3は、図2のDACシステム内部のシステムの動作を制御する制御信号のタ イミング図、 図4は、特定のDAC入力電圧に対する演算増幅器の入力オフセット電圧を示 す図2のDACシステムの概略図、 図5は、2次シグマ−デルタADC変調器の典型的なディジタル出力信号の遷 移密度のグラフ、 図6は、本発明によるDACシステムの概略図、 図7は、図6のDACシステム内部のスイッチの動作を制御する制御信号のタ イミング図、 図8は、特定のDAC入力電圧に対する演算増幅器の入力オフセット電圧を示 す図6のDACシステムの概略図、 図9は、図6のDACシステム内部のスイッチの動作を制御する制御信号の別 の実施例のタイミング図、および 図10は、本発明による別の実施例のDACシステムの概略図である。 詳細な説明 入力コンデンサから積分コンデンサへ転送される入力オフセット電圧の量が転 送スイッチを制御する制御信号を生成するため用いられる入力制御信号の遷移密 度に依存する従来技術のスイッチド・コンデンサDACシステムとは対照的に、 本発明のDACシステムにおいて入力コンデンサから積分コンデンサへ転送され る(入力オフセット電圧による)電荷量は、入力制御信号の遷移密度には依存し ない。本発明の望ましい実施例において、入力コンデンサの1つの極板は、既知 の(例えば、接地)電圧の放電ノードへ周期的に接続されて、電荷が入力コンデ ンサから積分コンデンサへ転送される前に演算増幅器の入力オフセット電圧によ り入力コンデンサに形成された電荷を放電する。 図6は、本発明によるスイッチド・コンデンサDAC回路の第1の実施例の概 略図であり、該回路は、入力オフセット電圧により転送される電荷量がディジタ ル入力信号Yの遷移密度には依存しないことを保証する。このため、本発明のD AC回路は、信号Yの非線形遷移密度には無感応である。 図6のDAC回路は、スイッチS9およびスイッチS10の付設を除いて、図 2の従来技術のDAC回路と同一である。スイッチS9は、コンデンサC1の右 極板と接地の如き基準電圧との間に接続され、スイッチS10は、コンデンサC 2の右極板と同じ基準電圧との間に接続されている。スイッチS9およびS10 の動作は、図7のタイミング図に示される周期的制御信号P3によって制御され る。スイッチS9は、演算増幅器の入力オフセット電圧によるコンデンサC1に おける電荷蓄積を放電するためコンデンサC1の右極板を周期的に接地するよう 動作する。スイッチS10は、コンデンサC2に関して同様に動作する。 図7のタイミング図に示されるように、間隔1および2のそれぞれが2つのサ ブ間隔へ細分割される。間隔1はサブ間隔AおよびBを含み、間隔2はサブ間隔 CおよびCを含む。制御信号R1およびR2は、下式によって支配される。 R1=P1S*YB+P2S*Y および R2=P1S*Y+P2S*YB 但し、P1Sは信号P1と似ているが短縮されたハイ持続時間を持ち、信号P2 Sは信号P2と似ているが同じ短縮されたハイ持続時間を持つ。信号Yがロー( low)ならば、信号R1はサブ間隔Aの間はハイ(high)でありサブ間隔 Bの間はローであり、信号P3はサブ間隔Aの間はローでありサブ間隔Bの間は ハイである。同様に、信号Yがローであれば、信号R2はサブ間隔Cの間はハイ でありサブ間隔Dの間はローであり、信号P3はサブ間隔Cの間はローでありサ ブ 間隔Dの間はハイである。信号Yがハイならば、信号R1およびR2は逆になる 。信号P3が信号R1またはR2と同時にはハイにならないことが重要である。 このため、このような制御信号を生成する回路(図示せず)が、適切な作動前破 断動作を加える。 図8は、増幅器の入力オフセット電圧Vosの作用が更に容易に分析できるよう に、0ボルト(即ち、入力線が接地された)の入力電圧と、演算増幅器の入力オ フセット電圧Vosとを有する本発明のスイッチド・コンデンサDACを示す。こ のような分析は以下の如くである。 間隔2、即ちサブ間隔Cの間、信号Yがローであると仮定すると、コンデンサ C1の左極板がスイッチS2を介して接地され、コンデンサC1の右極板がスイ ッチS5を介して反転入力線62に接続される。従って、コンデンサC1の右極 板は+vos/2の電圧レベルにある。このため、コンデンサC1が−C1*Vos /2の値に充電する。間隔2即ちサブ間隔Dの間、コンデンサC1の左極板はま だスイッチS2を介して接地され、コンデンサC1の右極板はスイッチS9を介 して接地される。このように、コンデンサC1における−C*Vos/2の電荷が 放電される。その後の間隔1即ちサブ間隔Aの間、信号Yが遷移しないものと仮 定すると、コンデンサC1の左極板がスイッチS1を介して接地され、コンデン サC1の右極板はスイッチS6を介して非反転入力線64へ接続されることにな る。従って、コンデンサC1の右極板は−Vos/2の電圧レベルになり、コンデ ンサC1はC1*Vos/2に充電することになる。このように、C1*Vos/2 の電荷が積分コンデンサC4へ転送される(演算増幅器およびDAC回路の異な る構成のゆえに、−C1*Vos/2の等しく反対の電荷が入力コンデンサC2か ら積分コンデンサC3へ転送されることになる)。 その代わり、信号Yが間隔2および間隔1の間で遷移したならば、以下に述べ るように、同じ電荷が間隔1において転送されることになる。コンデンサC1に おける電荷は依然として間隔2即ちサブ間隔Dの間放電されることになる。しか し、その後の間隔1即ちサブ間隔Aの間は、コンデンサC1の右極板はスイッチ S5を介して反転入力線62へ接続されることになる。従って、コンデンサC1 の右極板は、+Vos/2の電圧レベルとなり、コンデンサC1は−C1*Vos/ 2へ充電することになる。このように、従って、−C1*Vos/2の電荷が(C 1*Vos/2の等しく反対の電荷がコンデンサC4へ転送されて)コンデンサC 3へ転送されることになり、これは遷移する信号Y(先に述べた)なしに転送さ れるものと同じである。このように、転送時間のサブ間隔において転送される( 入力オフセット電圧による)電荷のみが、同じ転送サブ間隔においてサンプルさ れたものである。この回路は、入力コンデンサが前の転送サブ間隔の「記憶(m emory)」を持たないように、前の転送時間のサブ間隔からの(入力オフセ ット電圧による)電荷の蓄積を放電するように動作する。 要約すると、先に示し述べたように、入力コンデンサから転送された(入力オ フセット電圧による)電荷量は、制御信号Yの遷移密度に依存しない。従って、 本発明のDAC回路を使用しているシグマ−デルタADC変調器は、従来技術の オフセット電圧の非線形性の諸問題を蒙ることはない。 制御信号Yが間隔1および間隔2の間に1回のみ遷移し得る(これはシグマ− デルタDAC変調器の場合典型的である)ものと仮定すると、信号Yのあり得る 各遷移前に1回スイッチS9とS10を閉じるだけでよい。このように、制御信 号の別の実施例のタイミング図が図9に示される。図示のように、信号P3は、 信号Yの遷移前に間隔1および2(即ち、サブ間隔D)の間に1回のみハイとな る。しかし、当業者には理解されるように、制御信号Yの位相は、用途およびス イッチド・コンデンサ回路に応じて、制御信号P1およびP2に関して変化し得 る。このため、信号Yのあり得る各遷移前に1回、制御信号P3がハイになる( 即ち、P3により制御されるスイッチが閉じられる)ことを前提として、制御信 号P3のタイミング図は然るべく変更され得る。 更に、当業者は理解するように、入力オフセット電圧の作用を完全に打消すた めに、演算増幅器の入力線の接続が各間隔の間に交換(逆に)される「チョッパ −スタビライザ(chopper−stabilizer)」DAC回路の場合 は、図7のタイミング図はこの打消しを生じるために用いられねばならない。 図10は、本発明のDAC回路の代替的な実施例の概略図である。図10の実 施例においては、コンデンサC1の右極板はスイッチ11を介してコンデンサC 2の右極板へ接続され、スイッチS11は制御信号P3によって制御される。コ ンデンサC1の値がコンデンサC2の値と等しいものと仮定すると、入力オフセ ット電圧によりコンデンサC1に蓄積される電荷は、コンデンサC2に蓄積され た電荷と等しく反対になる。従って、コンデンサの右極板がスイッチ11を介し て一緒に接続されると、コンデンサにおける電荷は相互に有効に打消すことにな る。このように、図10の回路は、図6の回路と同一に有効に動作する。しかし 、当業者は理解するように、コンデンサの右極板が固定電圧に接続される図6の 実施例の利点は、前記固定電圧が演算増幅器に対する共通モード基準電圧として 働き、動的に共通モードび電圧がドリフトしようとする傾向を正すのを助けるこ とである。 事例としてのみ開示された現在本発明に対する望ましい実施例と見なされるも のを示し記述したが、当業者には、本文に示され請求の範囲に記載された本発明 の趣旨および範囲から逸脱することなく種々のの変更および修正が可能であるこ とが明らかであろう。特に、特定のスイッチング装置およびタイミング制御パタ ーンを開示したが、入力制御信号における非線形性に依存しないオフセット電圧 電荷の転送を生じる他のものが考えられる。更に、本発明のDACを積分器を含 むシグマ−デルタADC用例に用いられるものとして記載したが、本発明のDA Cは代替的にスイッチド・コンデンサ利得段に接続することもできる。
【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1996年1月8日 【補正内容】 【図2】 【図3】 【図4】 【図6】 【図7】 【図8】 【図9】 【図10】
───────────────────────────────────────────────────── 【要約の続き】 サンプリング・スイッチは、第1および第2のサブ間隔 の1つにおいて入力コンデンサを接続し、転送スイッチ は、第1および第3のサブ間隔の1つにおいて入力コン デンサを接続し、放電スイッチは、第2および第4のサ ブ間隔の1つにおいて入力コンデンサを接続する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.入力リード線と、出力リード線と、前記入力リード線と出力リード線との間 に接続された積分コンデンサとを有する演算増幅器を含む積分回路を備えるシグ マ−デルタADC変調器で使用されるスイッチド・コンデンサDACシステムに おいて、 入力コンデンサと、 第1および第2の非オーバーラップ時間間隔の少なくとも1つの時間間隔の間 、入力電圧により充電される入力コンデンサを接続するように動作可能であるサ ンプリング・スイッチであって、前記第1の時間間隔が第1および第2の非オー バーラップ・サブ間隔へ細分割され、前記第2の時間間隔が第3および第4の非 オーバーラップ・サブ間隔へ細分割される該サンプリング・スイッチと、 前記第1および第3のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、電荷を 前記入力コンデンサから前記積分コンデンサへ転送するため入力コンデンサを接 続するよう動作可能な転送スイッチと、 前記第2および第4のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、前記入 力コンデンサを放電ノードへ接続するよう動作可能な放電スイッチと を備えるスイッチド・コンデンサDACシステム。 2.前記第2および第4のサブ間隔の1つのサブ間隔において、前記放電スイッ チが入力コンデンサを接続する請求項1記載のスイッチド・コンデンサDACシ ステム。 3.前記第2および第4の両サブ間隔において、前記放電スイッチが前記入力コ ンデンサを接続する請求項2記載のスイッチド・コンデンサDACシステム。 4.入力リード線と、出力リード線と、該入力リード線と出力リード線との間に 接続された積分コンデンサとを有する演算増幅器を含む積分回路を備えるシグマ −デルタADC変調器で使用されるスイッチド・コンデンサDACシステムにお いて、 入力コンデンサと、 前記第1および第2の非オーバーラップ時間間隔の少なくとも1つの時間間隔 において、入力電圧により充電される入力コンデンサを接続するサンプリング・ スイッチ手段であって、前記第1の時間間隔が第1および第2の非オーバーラッ プ・サブ間隔へ細分割され、前記第2の時間間隔が第3および第4の非オーバー ラップ・サブ間隔へ細分割される該サンプリング・スイッチ手段と、 前記第1および第3のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、電荷を 前記入力コンデンサから積分コンデンサへ転送するため該入力コンデンサを接続 する転送スイッチ手段と、 前記第2および第4のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、前記入 力コンデンサを放電ノードへ接続する放電スイッチ手段と を備えるスイッチド・コンデンサDACシステム。 5.前記第2および第4のサブ間隔の1つのサブ間隔において、前記放電スイッ チ手段が前記入力コンデンサを接続する請求項4記載のスイッチド・コンデンサ DACシステム。 6.前記第2および第4の両サブ間隔において、前記放電スイッチ手段が前記入 力コンデンサを接続する請求項4記載のスイッチド・コンデンサDACシステム 。 7.ディジタル信号をアナログ信号へ変換する方法において、 第1の時間間隔が第1および第2の非オーバーラップ・サブ間隔へ細分割され 、第2の時間間隔が第3および第4の非オーバーラップ・サブ間隔へ細分割され る、第1および第2の非オーバーラップ時間間隔の少なくとも1つの時間間隔に おいて、入力電圧によって充電される入力コンデンサを接続するステップと、 前記第1および第3のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、電荷を 前記入力コンデンサから積分コンデンサへ転送するように該入力コンデンサを接 続するステップと、 前記第2および第4のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、前記入 力コンデンサを放電ノードへ接続するステップと を含むディジタル信号をアナログ信号へ変換する方法。 8.前記入力コンデンサを放電ノードへ接続する前記ステップが、前記第2およ び第4のサブ間隔の1つのサブ間隔において、該入力コンデンサを放電ノードへ 接続するステップを含む請求項7記載のディジタル信号をアナログ信号へ変換す る方法。 9.前記入力コンデンサを放電ノードへ接続する前記ステップが、前記第2およ び第4の両サブ間隔において該入力コンデンサを放電ノードへ接続するステップ を含む請求項8記載のディジタル信号をアナログ信号へ変換する方法。 10.スイッチド・コンデンサDACシステムが利得コンデンサを有するスイッ チド・コンデンサ利得回路へ接続されたDACシステムであり、 入力コンデンサと、 第1および第2の非オーバーラップ時間間隔の少なくとも1つの時間間隔にお いて、入力電圧により充電される前記入力コンデンサを接続するように動作可能 なサンプリング・スイッチであって、前記第1の時間間隔が第1および第2の非 オーバーラップ・サブ間隔へ細分割され、前記第2の時間間隔が第3および第4 の非オーバーラップ・サブ間隔へ細分割される該サンプリング・スイッチと、 前記第1および第3のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、電荷を 前記入力コンデンサから前記利得コンデンサへ転送するため該入力コンデンサを 接続するよう動作可能な転送スイッチと、 前記第2および第4のサブ間隔の少なくとも1つのサブ間隔において、前記入 力コンデンサを放電ノードへ接続するよう動作可能な放電スイッチと を備えるDACシステム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011081069A1 (ja) * 2009-12-29 2011-07-07 ザインエレクトロニクス株式会社 シグマデルタ変調器

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5821891A (en) * 1996-12-26 1998-10-13 Nokia Mobile Phones, Ltd. Second order demodulator for sigma-delta digital to analog converter
US6040793A (en) * 1998-03-18 2000-03-21 Analog Devices, Inc. Switched-capacitor sigma-delta analog-to-digital converter with input voltage overload protection
US6420988B1 (en) * 1998-12-03 2002-07-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Digital analog converter and electronic device using the same
TW468269B (en) 1999-01-28 2001-12-11 Semiconductor Energy Lab Serial-to-parallel conversion circuit, and semiconductor display device employing the same
US6201835B1 (en) 1999-03-05 2001-03-13 Burr-Brown Corporation Frequency-shaped pseudo-random chopper stabilization circuit and method for delta-sigma modulator
US6906653B2 (en) * 2000-10-18 2005-06-14 Linear Cell Design Co., Ltd. Digital to analog converter with a weighted capacitive circuit
US6437720B1 (en) * 2001-02-16 2002-08-20 Conexant Systems, Inc. Code independent charge transfer scheme for switched-capacitor digital-to-analog converter
JP3747837B2 (ja) * 2001-10-30 2006-02-22 株式会社デンソー レベル判定回路のしきい値電圧設定方法
US7167121B2 (en) * 2002-10-16 2007-01-23 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for split reference sampling
US6879274B2 (en) * 2003-02-24 2005-04-12 Analog Devices, Inc. Signal-conditioning and analog-to-digital conversion circuit architecture
US7068198B2 (en) * 2004-05-28 2006-06-27 Freescale Semiconductor, Inc. Double-sampled integrator system and method thereof
US6970126B1 (en) * 2004-06-25 2005-11-29 Analog Devices, Inc. Variable capacitance switched capacitor input system and method
US7136006B2 (en) * 2004-12-16 2006-11-14 Texas Instruments Incorporated Systems and methods for mismatch cancellation in switched capacitor circuits
WO2006098976A2 (en) * 2005-03-09 2006-09-21 Analog Devices, Inc One terminal capacitor interface circuit
GB2425416B (en) * 2005-04-19 2009-10-14 Wolfson Microelectronics Plc Improved switched capacitor DAC
US7365597B2 (en) * 2005-08-19 2008-04-29 Micron Technology, Inc. Switched capacitor amplifier with higher gain and improved closed-loop gain accuracy
US7388533B2 (en) 2005-12-06 2008-06-17 Electronics And Telecommunications Research Institute Multi-bit sigma-delta modulator and digital-to-analog converter with one digital-to-analog capacitor
US7454967B2 (en) * 2006-07-10 2008-11-25 Lv Sensors, Inc. Signal conditioning methods and circuits for a capacitive sensing integrated tire pressure sensor
US7903011B2 (en) * 2006-09-13 2011-03-08 Honeywell International Inc. Differential current-mode translator in a sigma-delta digital-to-analog converter
US8723807B2 (en) * 2008-01-09 2014-05-13 Integrated Device Technology, Inc. Combined touch sensor and LED driver with n-type MOSFET protecting touch sensor
US7880653B2 (en) * 2009-01-30 2011-02-01 Freescale Semiconductor, Inc. Switched-capacitor circuits, integration systems, and methods of operation thereof
US8237489B2 (en) * 2009-04-07 2012-08-07 Ite Tech. Inc. Capacitance interface circuit
TWI388849B (zh) * 2009-04-07 2013-03-11 Ite Tech Inc 電容介面電路
US7898353B2 (en) * 2009-05-15 2011-03-01 Freescale Semiconductor, Inc. Clock conditioning circuit
US7956782B2 (en) * 2009-06-11 2011-06-07 Honeywell International Inc. Current-mode sigma-delta digital-to-analog converter
US8643527B2 (en) * 2012-02-17 2014-02-04 Analog Devices, Inc. Switched-capacitor MDAC with common-mode hop regulation
US11719738B2 (en) * 2020-10-15 2023-08-08 Samsung Display Co., Ltd. Two-domain two-stage sensing front-end circuits and systems

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1233890A (en) * 1985-05-27 1988-03-08 Peter Gillingham Decimating filter
FR2642921B1 (fr) * 1989-02-07 1991-05-17 Texas Instruments France Chaine de conversion numerique-analogique incluant un modulateur numerique a plusieurs niveaux de quantification, associe a un convertisseur numerique-analogique
GB2256551B (en) * 1991-06-06 1996-01-24 Crystal Semiconductor Corp Switched capacitor integrator with chopper stabilisation performed at the sampling rate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011081069A1 (ja) * 2009-12-29 2011-07-07 ザインエレクトロニクス株式会社 シグマデルタ変調器
JP2011139394A (ja) * 2009-12-29 2011-07-14 Thine Electronics Inc シグマデルタ変調器
US8552895B2 (en) 2009-12-29 2013-10-08 Thine Electronics, Inc. Sigma-delta modulator for reducing power consumption and suitable for high-speed operations

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