JP4134279B1 - Cu合金材 - Google Patents
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Abstract
logN≦0.4742+17.629×exp(−0.1133×X) ・・・(1)
TS≧648.06+985.48×exp(−0.0513×IACS) ・・・(2)
B90≦2.0 ・・・(3)
B90≦25.093−54.82×exp[−{(TS+583.61)/1254}2]+1.25×t ・・・(4)
El≧24.138−24.6076×exp[−{(TS−1816.36)/2213.52}2] ・・・(5)
【選択図】図1
Description
way)は良好であるが、圧延方向に対して平行方向(bad way)は劣ることが多い。このような曲げ加工性および延性の異方性は、圧延によって結晶粒組織が圧延方向に展伸し、曲げ加工時に粒界割れを起点とする割れが発生しやすいことに起因している。
TS≧648.06+985.48×exp(−0.0513×IACS) ・・・(2)
但し、TSは引張強度(MPa)を意味し、IACSは導電率(%)を意味する。
B90≦2.0 ・・・(3)
B90≦25.093−54.82×exp[−{(TS+583.61)/1254}2]+1.25×t ・・・(4)
但し、B90は90゜曲げ試験における曲げ加工性を、TSは引張強度(MPa)を、そして、tは板厚(mm)を、それぞれ、意味する。
B90≦24.238−43.087×exp[−{(TS+383.46)/1199.4}2]+1.25×t ・・・(4')
B90≦-33.0949−55.0551×exp[−{(TS+1898.3)/1949.91}2]+1.25×t・・(4'')
El≧24.138−24.6076×exp[−{(TS−1816.36)/2213.52}2] ・・・(5)
但し、Elは延性(%)を意味し、そして、TSは引張強度(MPa)を意味する。
El≧59.0438−61.9662×exp[−{(TS−2359.36)/4047.4}2] ・・・(5')
El≧89.6632−168.32×exp[−{(TS−10630.2)/11614.9}2] ・・・(5'')
logN≦0.4742+17.629×exp(−0.1133×X) ・・・(1)
TS≧648.06+985.48×exp(−0.0513×IACS) ・・・(2)
B90≦2.0 ・・・(3)
B90≦25.093−54.82×exp[−{(TS+583.61)/1254}2]+1.25×t ・・・(4)
El≧24.138−24.6076×exp[−{(TS−1816.36)/2213.52}2] ・・・(5)
但し、式中の記号の意味は、それぞれ、次のとおりである。
N:粒径が1μm以上の析出物および介在物の単位面積当たりの合計個数(mm−2)、
X:粒径が1μm以上の析出物および介在物の粒径(μm)、
TS:引張強度(MPa)、
IACS:導電率(%)、
B90:90゜曲げ試験における曲げ加工性、
t:板厚(mm)、
El:延性(%)。
なお、B90、TSおよびElは、いずれも板の圧延方向に対して試験片の長辺が直角になるように採取した試験片における値を意味する。
Tiは材料の強度を確保するのに必須の元素である。すなわち、Tiは時効処理の際に、Cu4Tiとして析出し、その析出硬化によって強度を上昇させることができる。Tiの含有量が0.01%未満の場合には十分な強度が得られない。そして、その含有量が2.5%を超えると、強度は上昇するものの導電性が劣化し、さらに曲げ加工性が劣化する。従って、Tiの含有量を0.01〜2.5%とした。また、好ましい範囲は、0.01〜2.0%である。なお、強度確保のための好ましい含有量は0.1%以上である。
上述のとおり、Tiは強度上昇には有効であるが、析出しないでCuマトリックス中に残存した場合には、固溶Tiとなり、その導電性を著しく損なうことになる。これに対して、Crは固溶状態で導電性を損なう程度が低く、固溶Tiとの強い相互作用によって、固溶TiをCr−Tiの形で固定する。その結果として、マトリックスの固溶Tiが減じ、導電性が向上する。この効果は、Cr含有量が0.01%以上で得られる。しかし、0.5%を超えて含有させると曲げ加工性等の延性を損なう。従って、Cr含有量を0.01〜0.5%とした。
Feは強度と導電性のバランスを殆ど損ねることなく、加工性を向上させることができる元素である。さらに、上記のTiおよびCrと同時に含有させても、凝固中および冷却中に余分な金属間化合物等を生成しない元素である。含有量が0.01%未満では加工性の向上効果が見込めない。一方、1%以上含有させるとその効果が飽和するばかりか、導電性を劣化させる。したがって、Feの含有量を0.01%以上かつ1%未満とした。好ましいFeの含有量は0.05〜0.5%であり、さらに好ましいのは0.05〜0.3%である。
Agは必要に応じて含有させることができる。AgはCuマトリックスに固溶した状態でも導電性を劣化させにくい元素であり、また、金属Agは、微細析出によって強度を上昇させることができる。したがって、このような効果を特に発現させたい場合には、Agを0.005〜1%含有させることができる。このような効果は0.005%以上で顕著となるが、1%を超えると飽和するので、それ以上含有させても、合金のコスト上昇を招くだけである。好ましいAgの含有量は、0.1〜1%である。
これらの元素は、いずれも強度と導電率のバランスを維持しつつ、耐食性および耐熱性を向上させる効果を有する元素であるので、必要に応じて含有させることができる。
これらの元素は、Cuマトリックス中の酸素原子と結びついて微細な酸化物を生成して高温強度を上げる元素であるので、必要に応じて含有させることができる。この効果は、これらの元素の合計含有量が0.001%以上のときに顕著となる。しかし、その含有量が0.1%を超えると、上記の効果が飽和するだけでなく、曲げ加工性を劣化させる等の問題がある。従って、Zr、Mg、Li、Caおよび希土類元素の中から選ばれた1種以上を含有させる場合の合計含有量は0.001〜0.1%が望ましい。好ましい含有量は0.005〜0.05%である。なお、希土類元素は、Sc、Yおよびランタノイドを意味し、それぞれの元素の単体を含有させてもよく、また、ミッシュメタルを含有させてもよい。
logN≦0.4742+17.629×exp(−0.1133×X) ・・・(1)
但し、Nは粒径が1μm以上の析出物および介在物の単位面積当たりの合計個数(mm−2)、そして、Xは粒径が1μm以上の析出物および介在物の粒径(μm)を意味する。
logN≦0.4742+7.9749×exp(−0.1133×X) ・・・(1')
但し、Nは粒径が1μm以上の析出物および介在物の単位面積当たりの合計個数(mm−2)、そして、Xは粒径が1μm以上の析出物および介在物の粒径(μm)を意味する。
logN≦0.4742+6.3579×exp(−0.1133×X) ・・・(1'')
但し、Nは粒径が1μm以上の析出物および介在物の単位面積当たりの合計個数(mm−2)、そして、Xは粒径が1μm以上の析出物および介在物の粒径(μm)を意味する。
Cu合金材の圧延面に垂直で、且つ圧延方向と平行な断面を鏡面研磨し、アンモニアおよび過酸化水素水を体積比9:1で混合した腐食液でエッチングした後、光学顕微鏡により100倍または500倍の倍率で1mm×1mmの視野を観察する。その後、析出物および介在物の長径(途中で粒界に接しない条件で粒内に最も長く引ける直線の長さ)のうち、1μm以上のものを測定して得た値を粒径と定義する。
次に本発明の製造方法について説明する。
本発明にかかるCu合金材については、引張強度TS(MPa)、延性El(%)、導電率IACS(%)および90゜曲げ試験における曲げ加工性B90を測定する。これらの測定方法とこれらの物性値の評価について、次に詳述する。
Cu合金材から引張方向と圧延方向が直角になるように、JIS Z 2201に規定される13B号試験片を採取し、JIS Z 2241に規定される方法に従い、室温(25℃)での引張強度TS(MPa)を求めた。
Cu合金材から長手方向と圧延方向と直角になるように幅10mm×長さ60mmの試験片を採取し、試験片の長手方向に電流を流して試験片の両端の電位差を測定し、4端子法により電気抵抗を求めた。続いてマイクロメータで計測した試験片の体積から、単位体積当たりの電気抵抗(抵抗率)を算出し、多結晶純銅を焼鈍した標準試料の抵抗率1.72μΩ・cmとの比から導電率IACS(%)を求めた。
TS≧648.06+985.48×exp(−0.0513×IACS) ・・・(2)
但し、TSは引張強度(MPa)を意味し、IACSは導電率(%)を意味する。
板材に関する曲げ加工性は、引張強度TSと板厚tと、90゜曲げ試験における曲げ加工性B90との関係(バランス)によって評価する。Cu合金材の薄帯から、圧延方向に対して直角方向(bad
way)が試験片の長辺になるように、幅10mm×長さ60mmの試験片を複数採取し、曲げ部の曲率半径(内径)を変えて、90°曲げ試験を実施した。光学顕微鏡を用いて、試験後の試験片の曲げ部を外径側から観察した。そして、割れが発生しない最小の曲率半径をRとし、試験片の厚さtとの比(=R/t)を算出することによって、90゜曲げ試験における曲げ加工性B90を求めた。一部については、圧延方向に対して平行方向(good way)が試験片の長辺になるように試験片を採取して曲げ試験を行ったが、何れも良好な値を示し、工業的に問題となるレベルではなかった。
B90≦2.0 ・・・(3)
B90≦25.093−54.82×exp[−{(TS+583.61)/1254}2]+1.25×t ・・・(4)
但し、B90は90゜曲げ試験における曲げ加工性を、TSは引張強度(MPa)を、そして、tは板厚(mm)を、それぞれ、意味する。
El≧24.138−24.6076×exp[−{(TS−1816.36)/2213.52}2] ・・・(5)
但し、(5)式において、Elは延性(%)を意味し、そして、TSは引張強度(MPa)を意味する。
Claims (4)
- 質量%で、Ti:0.01〜2.5%、Cr:0.01〜0.5%およびFe:0.01%以上かつ1%未満を含有し、残部がCuおよび不純物からなり、合金材中に存在する析出物および介在物のうち粒径が1μm以上のものの合計個数Nが次の(1)式を満足し、且つ引張強度TSと導電率IACSの関係が次の(2)式を満足するCu合金材であって、Cu合金材が引張強度TSが600MPa以下の板材のときは次の(3)式を満足し、Cu合金材が引張強度TSが600MPaを超える板材のときは次の(4)式を満足し、そして、Cu合金材が板材以外のときは次の(5)式を満足することを特徴とするCu合金材。
logN≦0.4742+17.629×exp(−0.1133×X) ・・・(1)
TS≧648.06+985.48×exp(−0.0513×IACS) ・・・(2)
B90≦2.0 ・・・(3)
B90≦25.093−54.82×exp[−{(TS+583.61)/1254}2]+1.25×t ・・・(4)
El≧24.138−24.6076×exp[−{(TS−1816.36)/2213.52}2] ・・・(5)
但し、式中の記号の意味は、それぞれ、次のとおりである。
N:粒径が1μm以上の析出物および介在物の単位面積当たりの合計個数(mm−2)、
X:粒径が1μm以上の析出物および介在物の粒径(μm)、
TS:引張強度(MPa)、
IACS:導電率(%)、
B90:90゜曲げ試験における曲げ加工性、
t:板厚(mm)、
El:延性(%)。
なお、B90、TSおよびElは、いずれも板の圧延方向に対して試験片の長辺が直角になるように採取した試験片における値を意味する。 - 質量%で、さらにAg:0.005〜1%を含有することを特徴とする、請求項1に記載のCu合金材。
- 質量%で、さらにSn、Mn、Co、Al、Si、Nb、Ta、Mo、V、W、Au、Zn、Ni、Te、SeおよびGeの中から選ばれた元素の1種以上を、それぞれ0.01〜1.0%かつ合計で1.0%以下含有することを特徴とする、請求項1又は2に記載のCu合金材。
- 質量%で、さらにZr、Mg、Li、Caおよび希土類元素の中から選ばれた元素の1種以上を合計で0.001〜0.1%含有することを特徴とする、請求項1から3までのいずれかに記載のCu合金材。
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