JP4124753B2 - 薄膜磁気ヘッド素子の研磨加工方法、薄膜磁気ヘッド素子のウエハ、および薄膜磁気ヘッド素子の研磨加工装置 - Google Patents
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Description
・ウエハ径:約9cm径(3.5インチ径)
・研磨時のウエハの回転数:7200rpm
・測定位置:中周位置(中心から約3cm(1.2インチ))
・ライト電流:30mA。周波数270MHz
・リード電流:3.0mA
・ヘッドの実効ライト幅:0.25μm
・ヘッドの実効リード幅:0.17μm
図13には、再生出力の測定結果をヒストグラムとして示す。図13(a)には従来技術の、図13(b)には実施例の試験結果を示す。これより、出力のばらつき(標準偏差)が、0.414mVから0.248mVに改善されただけでなく、平均出力が1.499mVから1.61mVに増加し、出力の絶対値、ばらつきとも改善されたことがわかる。
2 絶縁層
3 下部シールド層
4 シールドギャップ膜
4a 下部シールドギャップ膜
4b 上部シールドギャップ膜
5 MR素子
6 下部磁極層
7 記録ギャップ
8 上部磁極層
8a 上部磁極先端部
8b 上部ヨーク層
9 接続部
16 下部コイル
17 上部コイル
18、19 絶縁層
20 オーバーコート層
31 パッド
32 第1パッド
33 第2パッド
34 グランドパッド
41 第1の抵抗膜
42 第2の抵抗膜
43 第1の長軸線
44 第2の長軸線
51 研磨加工装置
52 研磨板
53 回転軸
54 荷重発生装置
55 荷重伝達用冶具
56 ホルダ
57 溝
58 制御部
61 薄膜磁気ヘッド素子
62 測定素子
71 ウエハ
72 バー
81 薄膜磁気ヘッド
82 基体
90 ヘッドアームアセンブリ
91 アーム
92 ヘッドジンバルアセンブリ
93 スライダ
94 ロードビーム
95 フレクシャ
96 軸
ABS 媒体対向面
G 研磨面
MRH MR高さ
P 記録媒体
TH スロートハイト高さ
Claims (16)
- 記録媒体から磁気記録を読み出す磁気抵抗効果素子と、記録媒体に磁気記録の書き込みを行なう誘導型磁気変換素子とがこの順で積層された薄膜磁気ヘッド素子が一列に複数個形成された長尺形のバーの、該薄膜磁気ヘッド素子が記録媒体と対向する面を研磨加工する方法であって、
前記バーの研磨面に、あらかじめ、積層方向に前記磁気抵抗効果素子と同じレベルで該バーの長手方向と平行に延びる第1の長軸線に沿って、複数個の第1の抵抗膜を設けるステップと、
前記バーの研磨面に、あらかじめ、積層方向に前記誘導型磁気変換素子の記録ギャップと同じレベルまたは該誘導型磁気変換素子の記録ギャップよりも積層方向上側のレベルで該バーの該長手方向と平行に延びる第2の長軸線に沿って、複数個の第2の抵抗膜を設けるステップと、
前記バーを、回転する研磨板に、該バーの該長手方向を該研磨板の半径方向に合わせて押し付けながら前記研磨面を研磨しながら、前記第1および第2の抵抗膜の抵抗値を測定し、該第1の抵抗膜の各々の抵抗値と、該第2の抵抗膜の各々の抵抗値とに基づき、前記研磨面の、前記長手方向と該長手方向と直交する方向との研磨量を制御する監視・研磨ステップとを有する、研磨加工方法。 - 前記第1の抵抗膜を設けるステップと前記第2の抵抗膜を設けるステップは、各々が前記第1および第2の抵抗膜を1つずつ有する複数の測定素子を、前記バーの前記長手方向に、前記薄膜磁気ヘッド素子の間、または/および、前記バーの一端もしくは両端に設けることを含む、請求項1に記載の研磨加工方法。
- 前記測定素子は、前記長手方向に略均等に設けられる、請求項2に記載の研磨加工方法。
- 前記第1および第2の抵抗膜の抵抗値を測定するためのパッドを前記研磨面と異なる面にあらかじめ設けるステップをさらに有し、
前記監視・研磨ステップは、該パッドを介して前記第1および第2の抵抗膜の抵抗値を測定することを含む、請求項1から3のいずれか1項に記載の研磨加工方法。 - 前記パッドは、前記第1の抵抗膜の抵抗値を測定する第1のパッドと、前記第2の抵抗膜の抵抗値を測定する第2のパッドと、該第1および第2のパッドに共通するグランド用パッドとを有する、請求項4に記載の研磨加工方法。
- 前記第1の抵抗膜の抵抗値と研磨量との第1の相関関係、および、前記第2の抵抗膜の抵抗値と研磨量との第2の相関関係をあらかじめ算定するステップをさらに有し、
前記監視・研磨ステップは、該第1の相関関係と該第2の相関関係とに基づいて、前記研磨量を制御する、請求項1から5のいずれか1項に記載の研磨加工方法。 - 前記第1の相関関係と前記第2の相関関係は同一である、請求項6に記載の研磨加工方法。
- 記録媒体から磁気記録を読み出す磁気抵抗効果素子と、記録媒体に磁気記録の書き込みを行なう誘導型磁気変換素子とがこの順で積層された薄膜磁気ヘッド素子が複数個形成されたウエハであって、
前記ウエハを、所定形状の部材に切断したときに現れる該部材の研磨面に、積層方向に前記磁気抵抗効果素子と同じレベルで該部材の長手方向と平行に延びる第1の長軸線に沿った複数個の第1の抵抗膜と、積層方向に前記誘導型磁気変換素子の記録ギャップと同じレベルまたは該誘導型磁気変換素子の記録ギャップよりも積層方向上側のレベルで該部材の長手方向と平行に延びる第2の長軸線に沿った複数個の第2の抵抗膜とが設けられ、該第1および第2の抵抗膜は前記研磨面の研磨にしたがい抵抗値が変化する、ウエハ。 - 前記所定形状の部材は、該薄膜磁気ヘッド素子の記録媒体対向面が長手方向と平行になる向きで、前記薄膜磁気ヘッド素子が一列に並ぶ長尺形のバーである、請求項8に記載のウエハ。
- 各々が前記第1および第2の抵抗膜を1つずつ有する複数の測定素子が、前記バーの前記長手方向に、前記薄膜磁気ヘッド素子の間、または/および、前記バーの一端もしくは両端に設けられている、請求項9に記載のウエハ。
- 前記測定素子は、前記長手方向に、略均等に設けられている、請求項10に記載のウエハ。
- 前記第1および第2の抵抗膜の抵抗値を測定するためのパッドを表面に有する、請求項8から11のいずれか1項に記載のウエハ。
- 前記パッドは、前記第1の抵抗膜の抵抗値を測定する第1のパッドと、前記第2の抵抗膜の抵抗値を測定する第2のパッドと、該第1および該第2のパッドに共通するグランド用パッドを有する、請求項12に記載のウエハ。
- 前記第1の抵抗膜と前記第2の抵抗膜は同一である、請求項8から13のいずれか1項に記載のウエハ。
- 記録媒体から磁気記録を読み出す磁気抵抗効果素子と、記録媒体に磁気記録の書き込みを行なう誘導型磁気変換素子とがこの順で積層された薄膜磁気ヘッド素子が一列に複数個形成された長尺形のバーの、該薄膜磁気ヘッド素子が記録媒体と対向する面を研磨加工する装置であって、
前記バーの研磨面の、積層方向に前記磁気抵抗効果素子と同じレベルで該バーの長手方向と平行に延びる第1の長軸線に沿った複数個の点での研磨量と、積層方向に前記誘導型磁気変換素子の記録ギャップと同じレベルまたは該誘導型磁気変換素子の記録ギャップよりも積層方向上側のレベルで該バーの長手方向と平行に延びる第2の長軸線に沿った複数個の点での研磨量とに基づき、前記研磨面の、前記長手方向と該長手方向と直交する方向との研磨量を制御する研磨加工装置。 - 前記バーを研磨する、回転する研磨板と、
前記バーを該研磨板に押し付ける力を与える荷重発生装置と、
前記バーの研磨面の裏面側に、該バーの長手方向と平行な2つの長軸線に沿って各々複数個設けられ、該荷重発生装置で発生した該押し付け力を受け取り、前記バーを、該バーの前記長手方向を前記研磨板の半径方向に合わせて前記研磨板に押し付ける複数の荷重伝達用治具とを有する、請求項15に記載の研磨加工装置。
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