JP4033855B2 - スイッチング電源制御用半導体装置およびそれを用いたスイッチング電源装置 - Google Patents
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Description
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置を説明する。
VEAO=V0−R×I ・・・・(1)
ここで、V0は予め設定された基準電圧源28による基準電圧、Rは抵抗器27の抵抗値、Iは制御端子50から流出する電流を内部のミラー回路23〜26により変換された抵抗器27を流れる電流値である。
図3に示すように、軽負荷時検出前状態においては、軽負荷時検出用比較器30の出力信号VO1はローレベル(LOW)となっているため、スイッチ素子302はオフとなる。従って、この時の基準電圧源23の出力信号VR、すなわち軽負荷時検出下限電圧VR1は式(2)で表される。
VR1=R1×(I1) ・・・・(2)
一方、軽負荷時検出状態になると、軽負荷時検出用比較器30の出力信号VO1はハイレベル(HIGH)となるため、スイッチ素子302がオンとなり、定電流源301から供給される電流I2も抵抗303へ流れることになる。従って、この時の基準電圧源31の出力信号VR、すなわち軽負荷時検出上限電圧VR2は式(3)で表される。
VR2=R1×(I1+I2) ・・・・(3)
以上により、図3に示すように、軽負荷時検出用比較器30の出力信号VO1に応じて、基準電圧源31の出力電圧VRが軽負荷時検出下限電圧VR1となったり、軽負荷時検出上限電圧VR2となったりすることで、待機時の間欠発振状態を作り出すことができる。
以上のように、間欠スイッチング動作とトランスリセット検出時間設定回路によるドレイン電圧のボトムオンにより、従来よりも更に軽負荷時の電源効率を改善することができる。
図9は本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置におけるトランスリセット検出時間設定回路52の一構成例を示す回路図である。図9において、インバータ33の出力信号がLの時、つまり、間欠停止状態ではなく通常状態では、P型MOSFET403がオンしているため、ノード59の電位はHになっている。また、そのためインバータ406の出力はLになっており、RSフリップフリップのセット信号はLであるので、出力QもLである。次に、間欠停止状態になると、インバータ33の出力信号がHになるため、以下の式(4)で表される遅延時間後にRSフリップフロップ407のセット信号はHになる。
t=C×V÷I2 ・・・・(4)
ここで、Vはインバータ406がHからLに切り替わる閾値、Cはコンデンサ405の容量値である。
I2=M×I1 ・・・・(5)
式(4)からわかるように、コンデンサ405の容量を大きく、あるいは、定電流I2を小さくすると遅延時間tが長くなる。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2のスイッチング電源制御用半導体装置を説明する。
2、4、37、39 定電流源
3、5 切り換えスイッチ
6 レギュレータ
7 起動/停止用比較器
8 ゲートドライバ用基準電源(内部回路基準電源)
9 ゲートドライバレギュレータ用(内部回路基準電源用)比較器
10 起動パルス発生回路
11 ローサイドクランプ
12 ハイサイドクランプ
13 トランスリセット検出回路
17、19、43 AND回路
35、407 RSフリップフロップ
18、33、406 インバータ
20 間欠終了パルス発生回路
21 トランスリセットパルス発生回路
22 クランプ回路
23、24 P型MOSFET
25、26 N型MOSFET
27 抵抗器
29 I−V変換器
30 軽負荷時検出用比較器
31 基準電圧源
32 軽負荷時検出回路
34 OR回路
36 クランプ回路
38、40 P型MOSFET
41 ドレイン電流検出用比較器
42 オン時ブランキングパルス発生回路
45 ゲートドライバ
46 スイッチング素子入力端子
47 スイッチング素子出力端子(グランド端子)
48 起動電圧検出用端子
49 トランスリセット検出端子
50 制御端子
51 スイッチング電源制御用半導体装置
52 トランスリセット検出時間設定回路
53 トランスリセット検出時間設定変更用端子
59 ノード
101、104、112 整流器
102、105、111、117、118、119、405 コンデンサ
103 トランス
103a 一次巻線
103b 二次巻線
103c 三次巻線(バイアス巻線)
106 出力電圧検出回路
107 LED
108 ツェナーダイオード
109 負荷
110 フォトトランジスタ
116 抵抗
300、301、400 定電流源
302、403 P型MOSFET
303 抵抗器
304 インバータ
401、402 N型MOSFET
Claims (8)
- 直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、前記スイッチング素子のスイッチング動作により、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して、負荷に電力供給するスイッチング電源装置に用いられ、前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御するためのスイッチング電源制御用半導体装置であって、
前記トランスの三次巻線に発生した交流電圧から、前記スイッチング素子のスイッチング動作により発生する前記トランスのリセット状態を検出して、そのリセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路と、
前記トランスの二次巻線に発生した交流電流に基づく前記直流電圧の変化を示す制御電流の電流値を電圧に変換するI−V変換器と、
前記I−V変換器からの出力電圧の変化に基づいて、前記負荷への電力供給の大きさを示す負荷状態として軽負荷時を検出した場合に、前記スイッチング素子によるスイッチングの間欠動作を制御するための制御信号を出力する軽負荷時検出回路とを有する制御回路を具備し、
前記トランスリセット検出回路からのトランスリセット検出信号、および前記軽負荷時検出回路からの制御信号に基づいて、前記スイッチング素子の制御電極を駆動し、前記間欠動作を制御しており、
前記軽負荷時検出回路を、
前記I−V変換器からの出力電圧が前記軽負荷時を検出するための軽負荷時検出下限電圧よりも小さくなったときに、前記スイッチング素子のスイッチング動作を停止し、
前記I−V変換器からの出力電圧が前記軽負荷時を検出するための軽負荷時検出上限電圧よりも大きくなったときに、前記スイッチング素子のスイッチング動作を再開するように、前記間欠動作を制御するための制御信号を出力するよう構成し、
前記制御回路に、
前記軽負荷時検出回路からの制御信号によるスイッチング動作停止のタイミングを起点として、前記トランスリセット検出回路からのトランスリセット検出信号の有効期間とする時間を設定するトランスリセット検出時間設定回路と、
前記トランスリセット検出時間設定回路のトランスリセット検出設定時間と前記軽負荷時検出回路からの制御信号によるスイッチング動作再開との各タイミングの前後関係に基づいて、前記スイッチング動作再開時におけるスイッチングオンのタイミングを制御するスイッチングオン制御手段とを設け、
前記スイッチングオン制御手段を、前記トランスリセット検出時間設定回路によるトランスリセット検出設定時間以内に前記軽負荷時検出回路から前記スイッチング動作再開を示す制御信号の出力があった場合には、その制御信号出力後の前記トランスリセット検出回路からのトランスリセット検出信号のタイミングで、前記スイッチング動作再開時におけるスイッチングをオンするよう構成し、
前記トランスリセット検出時間設定回路によるトランスリセット検出設定時間後に前記軽負荷時検出回路から前記スイッチング動作再開を示す制御信号の出力があった場合には、その制御信号の出力タイミングのみで、前記スイッチング動作再開時におけるスイッチングをオンするよう構成したことを特徴とするスイッチング電源制御用半導体装置。 - 前記トランスリセット検出時間設定回路のトランスリセット検出設定時間は、前記スイッチング動作停止期間における前記スイッチング素子のドレイン電圧波形を基に、使用負荷に応じた最適な時間として決定したことを特徴とする請求項1に記載のスイッチング電源制御用半導体装置。
- 前記トランスリセット検出時間設定回路のトランスリセット検出設定時間後における状態保持は、前記スイッチング素子の制御電極を駆動する出力信号のタイミングでリセットするよう構成したことを特徴とする請求項1ないし2のいずれかに記載のスイッチング電源制御用半導体装置。
- 前記トランスリセット検出時間設定回路は、前記トランスリセット検出設定時間がコンデンサの容量値により設定され、前記トランスリセット検出設定時間のタイミングはRSフリップフロップを介して出力するよう構成したことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載のスイッチング電源制御用半導体装置。
- 前記トランスリセット検出時間設定回路のトランスリセット検出設定時間を任意に設定するための時間変更用端子を設けたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載のスイッチング電源制御用半導体装置。
- 前記時間変更用端子とグランド間に、前記トランスリセット検出時間設定回路のトランスリセット検出設定時間を任意に設定するためのコンデンサを接続したことを特徴とする請求項5に記載のスイッチング電源制御用半導体装置。
- 前記スイッチング素子と前記制御回路とを同一の半導体基板上に集積化し、
前記半導体基板上に、少なくとも、前記入力電圧を前記トランスの一次巻線を介して前記スイッチング素子へ入力するためのスイッチング素子入力端子と、
前記スイッチング素子のスイッチング動作により得られたスイッチング電流を出力するためのスイッチング素子出力端子と、
前記制御回路に前記スイッチング素子のスイッチング動作により前記トランスの三次巻線に発生した電流に基づく直流電圧を供給するための電源端子と、
前記スイッチング素子によるスイッチングの間欠動作を制御する制御信号を入力するための制御端子と、
前記トランスリセット検出回路に前記トランスリセット検出用の信号を印加するためのトランスリセット検出用端子とを、外部接続端子として設けたことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載のスイッチング電源制御用半導体装置。 - 直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、前記スイッチング素子を請求項1ないし7のいずれかに記載のスイッチング電源制御用半導体装置で制御してスイッチング動作を行うことより、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して、負荷に電力供給するスイッチング電源装置。
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