JP3949160B2 - 光束の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知する装置 - Google Patents

Description

【技術分野】
【０００１】
本発明は、選択装置および検知装置を有し、光束の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知する装置に関する。更に詳細に云えば、本発明は、共焦点蛍光検鏡に使用するのに適する当該の種類の装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
色素のスペクトル範囲を検知できる共焦点蛍光顕微鏡は、文献"Proceeding of Scanning, Vol, 13, Supplement I, 1991, pI-76およびI-77"から公知である。レーザによって発生されるレーザ光は、光学的要素によって、被検対象に導かれ、上記対象によって反射されるか、上記対象の蛍光物質を励起する。反射光束または蛍光光束は、分光器によってスペクトル分離され、光学フィルタを介して検知器に送られる。フィルタは、色素のスペクトル範囲を絞込むという役割を果たす。関連の色素が被検対象に含まれている場合、この色素は、高い強度にもとづき、検知器によって識別される。従って、かくして、例えば生体臨床医学的用途の場合、対象内の染色された細胞ないし細胞構造を検証できる。
【０００３】
更に、上述の検鏡技術を拡張された範囲に使用することも、既に、知られている。即ち、例えば、細胞成分の立体的関係を決定または検討するため、異なる細胞成分を２つまたはより多数の色素（ないし染料）で同時に染色する。しかしながら、この用途の枠内において、総体的に反射された光束から各色素の異なるスペクトル範囲を絞込む必要がある。
【０００４】
このため、従来は、当該スペクトル範囲に正確に調和させた分光器および光学フィルタを使用する。次いで、絞込まれた各光束を、それ自体は公知の態様で、このために設けた固有の検知器に導く。
【０００５】
光束の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知するための、本発明の出発点をなす上述の装置には、各色素について特殊なフィルタが必要であるという大きな欠点がある。かくして、特に、異なる色素または色素組合せの検知の可能性に鑑みて、多数のフィルタを−システムに応じて−用意しなければならないことになる。公知の装置の別の欠点は、対象から反射された光束の強さがフィルタによって減少されるという点にある。かくして、スペクトル範囲の確実な選択および検知のため、検知器には、高度の光学的要求が課せられ、場合によっては、更に、電子的要求も課せられることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従って、本発明の課題は、光束の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知するための装置であって、構造が極めて簡単で、しかも、異なる（種々の）スペクトル範囲の確実な選択および検知に適した形式の装置を提供することにある。異なるスペクトル範囲の選択および検知は、同時に且つ高い収率で行うべきものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
共焦点蛍光顕微鏡の光路に使用される装置であって、選択装置および検知装置を有し、被検対象からの反射光束又は蛍光光束の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知するための本発明に係る装置は、請求の範囲（請求項）第１項の特徴によって上記課題を解決する。上記特徴にもとづき、選択装置が、光束のスペクトル分解手段と、一方では第１スペクトル範囲を調節可能に絞込み（絞りを通過せしめ）、他方では絞込まれてない（絞りを通過しない）スペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段とを含み、絞込まれた第１スペクトル範囲の光路に設置された第１検知器と、反射されたスペクトル範囲の光路に設置された第２検知器とを有するよう、当該の装置を構成する（形態１・基本構成）。
【発明の効果】
【０００８】
本発明に係る方式の場合、スペクトル分解した光束から第１スペクトル範囲を絞込む（絞りを通過させる）。絞込まれてない（絞りを通過しない）スペクトル範囲は、同時に、少なくとも部分的に反射され、この場合、当該の光路に検知器を設置したことによって、絞込まれた第１スペクトル範囲も反射されたスペクトル範囲も夫々当該光路に配された検知器によって検知される。従って、本発明に係る態様の場合、第１スペクトル範囲の絞込と絞りを通過しないスペクトル範囲の反射との組合せによって、明確な分離が達成され、従って、このように分離された各スペクトル範囲を個々に検知できるということが認識される。即ち、かくて各スペクトル範囲に適合したフィルタは不要である。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に本発明の好ましい実施の形態を示すが、これらは従属請求項の対象でもある（なお、形態１は既述の通りである）。
（２） 上記形態１の装置において、選択装置が、反射されたスペクトル範囲の光路に設置され第２スペクトル範囲を絞込む手段を含み、第２検知器が、絞込まれた第２スペクトル範囲の光路に設置されていることが好ましい（形態２）。
（３） 上記形態１の装置において、選択装置が、反射されたスペクトル範囲の光路に設置され、一方では第２スペクトル範囲を絞込み、他方ではここで絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を更に反射する手段を含み、第２検知器が、絞込まれた第２スペクトル範囲の光路に設置され、第３検知器が、更に反射されるスペクトル範囲の光路に設置されていることが好ましい（形態３）。
（４） 上記形態３の装置において、選択装置が、更に反射されるスペクトル範囲の光路に設置され第３スペクトル範囲を絞込む手段を含み、第３検知器が、絞込まれた第３スペクトル範囲の光路に設置されていることが好ましい（形態４）。
（５） 上記形態１〜４の装置において、スペクトル範囲の複数の絞込・反射手段および検知器が、相互にカスケード状態に配置され、かくして、絞込まれた各スペクトル範囲が検知され、その都度反射された各スペクトル範囲が、場合によっては、反復して絞込まれ、同じく検知されることが好ましい（形態５）。
（６） 上記形態１〜５の装置において、絞込に使用され、場合によっては更に、反射に役立つ手段および関連の各検知器が、一体の構造グループとして構成されていることが好ましい（形態６）。
（７） 上記形態１〜６の装置において、光束をスペクトル分解する手段が、プリズム、回折格子またはホログラムとして構成されていることが好ましい（形態７）。
（８） 上記形態７の装置において、プリズム、回折格子またはホログラムが、入射光束に対して好ましくは直角に延びる軸のまわりに旋回可能に配されることが好ましい（形態８）。
（９） 上記形態１〜８の装置において、スペクトル範囲を絞込む手段が、絞り（好ましくは、スリット形絞り）として構成されていることが好ましい（形態９）。
（１０） 上記形態１〜８の装置において、一方ではスペクトル範囲を絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも部分を反射する手段が、入射光に向く表面に好ましくは全反射を行う被覆層を有することが好ましい（形態１０）。
（１１） 上記形態９又は１０の装置において、スリット形絞りのスリットの位置および／または寸法を変更できることが好ましい（形態１１）。
（１２） 上記形態１０の装置において、１つまたは複数の反射面の位置および／または角度位置を変更可能とすることができる（形態１２）。
（１３） 上記形態１１又は１２の装置において、変更は、好ましくは電動駆動装置を介して、連続的に行うことが好ましい（形態１３）。
（１４） 上記形態１〜１３の装置において、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段が、スペクトル線を絞込む別の手段（特に、光トラップ）を有することが好ましい（形態１４）。
（１５） 上記形態１４の装置において、スペクトル線を絞込む手段が、非反射範囲または吸光範囲として且つまた絞込を行い、場合によっては更に、反射を行う手段の一体の構成部分として構成されていることが好ましい（形態１５）。
（１６） 上記形態１５の装置において、非反射範囲の位置および／または角度位置を変更可能としたことが好ましい（形態１６）。
（１７） 上記形態１６の装置において、変更は、好ましくは電動駆動装置を介して、連続的に行うことが好ましい（形態１７）。
（１８） 上記形態１〜１７の装置において、絞込まれたおよび／または反射されたスペクトル範囲の各光路には、迷光を減少する手段が設けてあることが好ましい（形態１８）。
（１９） 上記形態１〜１８の装置において、光束をスペクトル分解する手段およびスペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段の相対角度位置および／または位置を相互に変更可能とすることができる（形態１９）。
（２０） 上記形態１〜１９の装置において、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞込まれてないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する各手段の相対角度位置および／または位置を相互に変更可能とすることができる（形態２０）。
（２１） 上記形態１〜２０の装置において、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも部分を反射する手段の角度位置および／または位置に対する検知器の相対位置を相互に変更可能とすることができる（形態２１）。
（２２） 上記形態１９〜２１の装置において、変更は、好ましくは電動駆動装置を介して、連続的に行うことが好ましい（形態２２）。
【００１０】
既述の如く、スペクトル分解された光束から第１スペクトル範囲を絞込み、絞りを通過しないスペクトル範囲を反射する。この場合、絞込に使用する手段は、絞込まれた第１スペクトル範囲が検出すべき被検知スペクトル範囲に正確に対応するよう、設計されている。反射面の特殊な構成によって規定できる反射スペクトル範囲についても同様である。この反射スペクトル範囲は、特に有利な実施形態の枠内において、反射スペクトル範囲の光路に設置された手段によって第２の−規定された−スペクトル範囲に絞込むことができる。この場合、第２検知器は、絞込まれた第２スペクトル範囲の光路に設置することになり、この場合も、選択（分離）は−第２検知器によって−行うことができる。
【００１１】
さらに別のスペクトル範囲の選択および検知が必要である場合は、第２スペクトル範囲の絞込手段が、−第１スペクトル範囲の絞込手段と同様−絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する機能を含むことができる。この場合も、第２検知器は、絞込まれた第２スペクトル反射の光路に設置される。この場合、更に反射されるスペクトル範囲の光路には、第３検知器が設置され、従って、合計で３つのスペクトル範囲を検知できる。更に反射される別のスペクトル範囲の光路にも、第３スペクトル範囲の絞込手段を設けることができ、従って、この場合、絞込まれた第３スペクトル範囲の光路に第３検知器を設ける。その都度絞込まれた各スペクトル範囲を検知し、反射された各スペクトル範囲を、場合によっては、反復して絞込み、同じく検知できるよう、上述の装置、即ち、スペクトル範囲を絞込み反射する複数の手段および検知器の機能をカスケード状に（各段階に）組合せることができる。
【００１２】
絞込を行い、場合によっては、更に、反射を行う手段および上記手段に関連する各検知器を一体のコンポーネントとして構成すれば、本発明に係る装置の特にコンパクトな構成に関して特に有利である。この場合、カスケード化のため、配置および寸法に関してのみ相互に適合させる対応する構造グループを組合せる。
【００１３】
本発明に係る装置の具体的な構成に関して、簡単な構造に鑑みて、光束のスペクトル分解手段をプリズムとして構成すれば有利である。この場合、更に、光学格子またはホログラムも対象となる。いずれにせよ、発散光線が得られるよう入射光束をスペクトル分解するのが本質的である。
【００１４】
選択され、最終的に検知されるスペクトル範囲に作用するため、入射光束に好ましくは直角に延びる軸線のまわりに旋回自在にプリズムまたは格子またはホログラムを配置できる。この限りにおいて、絞込手段が不動であっても、スペクトル範囲に極めて簡単に影響（調節）を及ぼすことができる。
【００１５】
スペクトル範囲の絞込手段は、絞り（特に、スリット形絞り）として構成できる。この場合、一方ではスペクトル範囲を絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段を考える場合は、上記手段は、少なくとも入射光束に向く表面に好ましくは全反射被覆層またはミラーを有するミラー絞りとして構成できる。スリット形絞りのスリットの位置および／または角度位置は、変更可能である。更に、上記変更は、好ましくは、電動駆動装置を介して連続的に、即ち、無段階に実施できる。この場合も、例示のプリズムの調節可能性の補足として、選択されるスペクトル範囲を調節ないし規定できる。この場合、一方のスペクトル分解手段と他方の絞込・反射手段との組合された調節可能性によって、問題のスペクトル範囲を特に正確に規定ないし調節できる。
【００１６】
迷光による影響の回避のためまたは１次励起光の抑制のため、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては、更に絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段は、有利な態様として、スペクトル線の別の絞込手段を有することができる。これは、好ましくは、いわゆる、光トラップである。このスペクトル線絞込手段は、非反射範囲または吸光範囲として構成でき、この場合、簡単な事例は、入射光が多重反射にもとづき"消滅"する袋穴である。スペクトル線の絞込に役立つこれらの手段は、被検スペクトル範囲の絞込に役立つ手段の一体の構成部材として構成できる。
【００１７】
更に、光トラップとして役立つ非反射性範囲の位置および／または角度位置を可変に構成することも考えられ、かくして、この限りにおいて正確な調節可能性も得られる。変更は、特定の迷光状態を補償できるよう、電動駆動装置を介して連続的に行い得れば好ましい。
【００１８】
更に、絞込まれたスペクトル範囲および／または反射されたスペクトル範囲の各光路に、基本的に、迷光減少手段を設置することも考えられ、かくして、迷光起因の妨害因子が十分に回避される。
【００１９】
本発明に係る装置の正確な調整に関して、光束をスペクトル分解する手段およびスペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段の相対位置および／または角度位置を相亙に変更できれば有利である。この限りにおいて、被検知スペクトル範囲を規定するため、正確な調整を行うことができる。更に、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する様々の各手段の相対または相互位置および／または相対または相互角度位置を相互に変更することもできる。従って、この限りにおいて、各種の"絞込段階"の正確な調節が可能である。更に、スペクトル範囲を絞込み、場合によっては更に絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射する手段の相互位置および／または角度位置に関して検知器の相対位置を変更できる。更に、この限りにおいて、絞込まれるスペクトル範囲および反射されるスペクトル範囲を反復して制御または規定でき、この場合、位置および／または角度位置の上述のすべての変更は、好ましくは、電動駆動装置を介して行うことができる。
【００２０】
更に、本発明に係る上述の装置を共焦点蛍光顕微鏡の光路に使用できるということは特に明らかである。この場合、上記装置は、蛍光顕微鏡での反射光束または蛍光光束を受光するべく、本来の蛍光顕微鏡に後置する。
【００２１】
さて、本発明の教示を有利な態様で構成でき、更に展開できる。これに関しては、一方では、請求の範囲第１項に続く請求の範囲を挙げ、他方では、図面を参照した本発明の３つの実施例の以下の説明を挙げる。図面を参照して好適な実施例の説明に関連して、一般的に本発明の教示の好適な実施の形態及び展開が説明される。
【実施例】
【００２２】
第１図に、レーザ２によって光束３を形成する共焦点蛍光顕微鏡１の基本的構造の図式的構成図を示した。光束３は、方向変更ミラー４、励起フィルタ５、レンズ６および絞り７を介して分光器８に供給される。
【００２３】
光束３は、分光器８によって約９０°だけ方向変更され、別のレンズ９、旋回自在の走査ミラー１０、アイピース１１および対物レンズ１２を経て顕微鏡被検物体１３に達する。物体１３に入射した光束３の少なくとも一部分は、物体によって反射される。反射された光束１４は、対物レンズ１２、アイピース１１、走査ミラー１０およびレンズ９を経て分光器８にもどる。反射された光束１４は、次いで、分光器を真っすぐに通過し、絞り１５を介して、光束１４を光学的に処理する本発明に係る装置に達する。
【００２４】
第２図に、座標系において２つの色素のスペクトルを示した。横軸に光の波長（単位：ナノメータ（ｎｍ））をプロットし、縦軸に光の相対強度をプロットした。
【００２５】
レーザ２が、例えば、アルゴン・クリプトン・混合ガスレーザである場合、上記レーザによって、特に、４８８ｎｍのアルゴン線および５６８ｎｍのクリプトン線１８が放射される。物体１３の別の構成部分を色素ＦＩＴＣ（フルオレセインイソチオシアネート）および色素リサミン・ロダミンで染色した場合、ＦＩＴＣ色素はアルゴン線１７によって励起され、リサミン・ロダミン色素はクリプトン線１８によって励起される。上記励起によって、ＦＩＴＣ色素に関して、ほぼ４９５ｎｍの範囲に吸収１９が現れ、５２８ｎｍの範囲に放射２０が現れる。リサミン・ロダミン色素の場合、ほぼ５７４ｎｍの範囲に吸収２１が現れ、ほぼ６０２ｎｍの範囲に放射２２が現れる。
【００２６】
物体１３の多様に染色された構成部分を検鏡で識別する場合、ＦＩＴＣ色素およびリサミン・ロダミン色素の各放射２０、２２を検知する必要がある。かくて各放射のＦＩＴＣスペクトル範囲２３及びリサミン・ロダミンスペクトル範囲２４を検知する必要がある。これは、第１図に示した蛍光顕微鏡１の場合、各種のスペクトル範囲を選択、検知する本発明に係る装置１６によって行う。
【００２７】
さて、第３図に、選択装置２５および検知装置２６を有し、光束１４の２つのスペクトル範囲を検知する本発明に係る装置１６の第１実施例を示す。
【００２８】
本発明に係る方式にもとづき、選択装置２５は、光束１４のスペクトル分解手段２７と、一方では第１スペクトル範囲２９を絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分３０を反射する手段２８とを有し、検知装置２６は、絞込まれた第１スペクトル範囲２９の光路に設置された第１検知器３１と、反射されたスペクトル範囲の光路に設置された第２検知器３２とを有する。
【００２９】
更に、第３図から明らかな如く、選択装置２５は、反射されたスペクトル範囲３０の光路に設置され第２スペクトル範囲３４を絞込む手段３３を含み、第２検知器３２は、絞込まれた第２スペクトル範囲３４の光路に設置されている。
【００３０】
第４図に示した本発明に係る装置１６の第２実施例の場合、選択装置２５は、反射されたスペクトル範囲３０の光路に設置され、一方では第２スペクトル範囲３４を絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分３５を更に反射する手段３３を有する。第２検知器３２は、絞込まれた第２スペクトル範囲３４の光路に設置され、第３検知器３６は、更に反射されたスペクトル範囲３５の光路に設置してある。
【００３１】
第４図に示した本発明に係る装置１６の実施例の選択装置２５は、更に、反射されたスペクトル範囲の光路に設置され第３スペクトル範囲３９を絞込む手段３８を含み、この場合、第３検知器３６は、絞込まれた第３スペクトル範囲３９の光路に設置されている。従って、図示の実施例によって、合計３つのスペクトル範囲２９、３４、３９を選択、検知する。概説的説明部分の記述に対応して、複数のスペクトル範囲の絞込・反射手段および検知器をカスケード化でき、従って、３よりも多数のスペクトル範囲を容易に同時に選択、検知できる。
【００３２】
第３、４、５図に示した実施例の場合、光束１４をスペクトル分解する手段２７は、プリズムとして構成され、第５図に示した第３実施例の場合、プリズムは、入射光束１４および紙面に直角に延びる軸線３７のまわりに第５図の矢印４０にもとづき旋回できる。手段２８、３３、３８は、それぞれ、スリット形絞りとして構成され、この場合、絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分を反射するため、入射光に向く表面には、それぞれ、全反射被覆層４１が設けてある。
【００３３】
第５図に示した第３実施例にもとづき、スリット形絞りのスリット４２の位置および寸法は、矢印４３、４４に示した如く、変更でき、かくして、規定のまたは調節可能なスペクトル範囲を絞込むことができる。反射被覆層４１を備えた面の位置および角度位置を変更でき、かくして、反射されたスペクトル範囲に影響を与える（を調節する）ことができる。
【００３４】
吸光範囲または光トラップの機能および迷光の回避または減少に関しては、反復を回避するため、概説的説明部分を参照されたい。
【００３５】
第５図に示した実施例に関して、光束１４のスペクトル分解手段２７および第１スペクトル範囲２９を絞込むまたは絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分３０を反射する手段２８の相対角度位置および位置を相互に変更できるということを補足する。これは、単に矢印４５で示してある。矢印４６で示した如く、スペクトル範囲２９ないし３４を絞込む手段２８、３３についても同様である。更に、第５図に示してない検知器も、手段２８、３３の角度位置および位置に関して相対的に変更できる。
【００３６】
更に、第３、４、５図を参照して説明した本発明に係る装置は、第１図に模式的に示した蛍光顕微鏡１の光路に使用または設置できることを強調する。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１図は、本発明に係る装置を有する共焦点蛍光顕微鏡の図式的構成図。
【図２】第２図は、光束の波長および強度をプロットした座標に２つの色素のスペクトルのグラフ。
【図３】第３図は、光束の２つのスペクトル範囲を選択、検知する本発明に係る装置の第１実施例の図式的構成図。
【図４】第４図は、光束の２つのスペクトル範囲を選択、検知する本発明に係る装置の第２実施例の図式的構成図。
【図５】第５図は、調節可能な選択装置を有する本発明に係る装置の第３実施例の図式的構成図。

Claims (22)

1. 共焦点蛍光顕微鏡（１）の光路に使用される装置であって、選択装置（２５）および検知装置（２６）を有し、被検対象からの反射光束又は蛍光光束（１４）の少なくとも２つのスペクトル範囲を選択、検知する装置において、
   選択装置（２５）が、光束（１４）のスペクトル分解手段（２７）と、一方では第１スペクトル範囲（２９）を調節可能に絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分（３０）を反射する手段（２８）とを含み、
   検知装置（２６）が、絞込まれた第１スペクトル範囲（２９）の光路に設置された第１検知器（３１）と、反射されたスペクトル範囲（３０）の光路に設置された第２検知器（３２）とを含むことを特徴とする装置。
2. 選択装置（２５）が、反射されたスペクトル範囲（３０）の光路に設置され第２スペクトル範囲（３４）を絞込む手段（３３）を含み、第２検知器（３２）が、絞込まれた第２スペクトル範囲（３４）の光路に設置されていることを特徴とする請求の範囲第１項記載の装置。
3. 選択装置（２５）が、反射されたスペクトル範囲（３０）の光路に設置され、一方では第２スペクトル範囲（３４）を絞込み、他方ではここで絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも一部分（３５）を更に反射する手段（３３）を含み、
   第２検知器（３２）が、絞込まれた第２スペクトル範囲（３４）の光路に設置され、第３検知器（３６）が、更に反射されるスペクトル範囲（３５）の光路に設置されていることを特徴とする請求の範囲第１項記載の装置。
4. 選択装置（２５）が、更に反射されるスペクトル範囲（３５）の光路に設置され第３スペクトル範囲（３９）を絞込む手段（３８）を含み、第３検知器（３６）が、絞込まれた第３スペクトル範囲（３９）の光路に設置されていることを特徴とする請求の範囲第３項記載の装置。
5. スペクトル範囲（２９、３４、３９）の複数の絞込・反射手段（２８、３３、３８）および検知器（３１、３２、３６）が、相互にカスケード状態に配置され、かくして、絞込まれた各スペクトル範囲（２９、３４、３９）が検知され、その都度反射された各スペクトル範囲（３０、３５）が、同じく検知されることを特徴とする請求の範囲第１〜４項の１つに記載の装置。
6. 絞込に使用される手段（２８、３３、３８）および関連の各検知器（３１、３２、３６）が、一体の構造グループとして構成されていることを特徴とする請求の範囲第１〜５項の１つに記載の装置。
7. 光束（１４）をスペクトル分解する手段（２７）が、プリズム、回折格子またはホログラムとして構成されていることを特徴とする請求の範囲第１〜６項の１つに記載の装置。
8. プリズム、回折格子またはホログラムが、入射光束（１４）に対して延びる軸のまわりに旋回可能に配されることを特徴とする請求の範囲第７項記載の装置。
9. スペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込む手段（２８、３３、３８）が、絞りとして構成されていることを特徴とする請求の範囲第１〜８項の１つに記載の装置。
10. 一方ではスペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込み、他方では絞りを通過しないスペクトル範囲の少なくとも部分（３０、３５）を反射する手段（２８、３３、３８）が、入射光に向く表面に反射を行う被覆層（４１）を有することを特徴とする請求の範囲第１〜８項の１つに記載の装置。
11. スリット形絞りのスリット（４２）の位置および／または寸法を変更できることを特徴とする請求の範囲第９項または第１０項記載の装置。
12. １つまたは複数の反射面の位置および／または角度位置を変更可能としたことを特徴とする請求の範囲第１０項記載の装置。
13. 変更は、連続的に行うことを特徴とする請求の範囲第１１項または第１２項記載の装置。
14. スペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込む手段（２８、３３、３８）が、スペクトル線を絞込む別の手段を有することを特徴とする請求の範囲第１〜１３項の１つに記載の装置。
15. スペクトル線を絞込む手段が、非反射範囲または吸光範囲として且つまた絞込を行う手段の一体の構成部分として構成されていることを特徴とする請求の範囲第１４項記載の装置。
16. 非反射範囲の位置および／または角度位置を変更可能としたことを特徴とする請求の範囲第１５項記載の装置。
17. 変更は、連続的に行うことを特徴とする請求の範囲第１６項記載の装置。
18. 絞込まれたおよび／または反射されたスペクトル範囲（２９、３４、３９）の各光路には、迷光を減少する手段が設けてあることを特徴とする請求の範囲第１〜１７項の１つに記載の装置。
19. 光束（１４）をスペクトル分解する手段（２７）およびスペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込む手段の相対角度位置および／または位置を相互に変更可能としたことを特徴とする請求の範囲第１〜１８項の１つに記載の装置。
20. スペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込む各手段（２８、３３、３８）の相対角度位置および／または位置を相互に変更可能としたことを特徴とする請求の範囲第１〜１９の１つに記載の装置。
21. スペクトル範囲（２９、３４、３９）を絞込む手段（２８、３３、３８）の角度位置および／または位置に対する検知器（３１、３２、３６）の相対位置を相互に変更可能としたことを特徴とする請求の範囲第１〜２０項の１つに記載の装置。
22. 変更は、連続的に行うことを特徴とする請求の範囲第１９〜２１項の１つに記載の装置。

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