JPS617426A - 光度計 - Google Patents
光度計Info
- Publication number
- JPS617426A JPS617426A JP12852984A JP12852984A JPS617426A JP S617426 A JPS617426 A JP S617426A JP 12852984 A JP12852984 A JP 12852984A JP 12852984 A JP12852984 A JP 12852984A JP S617426 A JPS617426 A JP S617426A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical path
- photometric
- photoelectric detector
- scattered light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、たとえば臨床検査の分野において、血液中の
抗原と試薬中の抗体が抗原抗体反応によシ生成する不溶
性抗原抗体複合物のにとりを吸光度や散乱光強度を用い
て測定しまた抗原と標識酵素をつけた抗体全結合させ抗
原抗体複合物の酵素活性を吸光度測光法により測定し、
さらに抗原と螢光標識をつけた抗体を結合させ、抗原抗
体複合物の螢光強度を測定することにより血清中の抗原
濃度を求める免疫反応測定装置などにおける光度計に関
する。
抗原と試薬中の抗体が抗原抗体反応によシ生成する不溶
性抗原抗体複合物のにとりを吸光度や散乱光強度を用い
て測定しまた抗原と標識酵素をつけた抗体全結合させ抗
原抗体複合物の酵素活性を吸光度測光法により測定し、
さらに抗原と螢光標識をつけた抗体を結合させ、抗原抗
体複合物の螢光強度を測定することにより血清中の抗原
濃度を求める免疫反応測定装置などにおける光度計に関
する。
（ロ）従来技術
たとえば、免疫反応測定においては、抗原の種類により
、あるいは抗体を含んだ試薬の形態によシ吸光度、散乱
光、螢九のいずれを測定するのが最適であるかが異な夛
、従来はそれぞれ分子ｔ′、光度計、レーザネフエロメ
ータ。
、あるいは抗体を含んだ試薬の形態によシ吸光度、散乱
光、螢九のいずれを測定するのが最適であるかが異な夛
、従来はそれぞれ分子ｔ′、光度計、レーザネフエロメ
ータ。
螢光光度計を使い公社るのが一般的であシ。
各種の装置をそろえなければならないという欠点があっ
た。
た。
また、吸光度、散乱光、螢光の測定の使い分けのできる
装置として、第５図に示すように吸光光度測定用の光源
１と散乱光あるいは螢光全測定するための光源２をもち
、その照射光Ｉｉ２それぞれ１つの測光セル３の側面と
底面に照射する方法があるが、この場合には吸光光度測
定装置として使用するか、散乱光あるいは螢光測定装置
として使用するか全選択するものであシ、！過元と散乱
光を同時に測定できないため１両者の比（散乱光Ｉｓ／
透過九Ｉｏ）の測定ができないので、第６図に示すよう
に、にごジのうすいところしか測定できないという欠点
をもち、さらに９６″方向の散乱光しか測定できないと
いう欠点をもつ。なお、第５図において、４は分光器、
５はフィルタ切換え機構。６は光電検出器である。
装置として、第５図に示すように吸光光度測定用の光源
１と散乱光あるいは螢光全測定するための光源２をもち
、その照射光Ｉｉ２それぞれ１つの測光セル３の側面と
底面に照射する方法があるが、この場合には吸光光度測
定装置として使用するか、散乱光あるいは螢光測定装置
として使用するか全選択するものであシ、！過元と散乱
光を同時に測定できないため１両者の比（散乱光Ｉｓ／
透過九Ｉｏ）の測定ができないので、第６図に示すよう
に、にごジのうすいところしか測定できないという欠点
をもち、さらに９６″方向の散乱光しか測定できないと
いう欠点をもつ。なお、第５図において、４は分光器、
５はフィルタ切換え機構。６は光電検出器である。
（ハ）目 的
本発明の目的は、１台の装置で同時に照射光、透過光、
散乱光あるいは螢光のうち必要なものを測定できるよう
にして、測光系のドリフトラ補償しながら、たとえば抗
原の種類７二 よ り あるいは抗体を含んだ試薬の形態ｅ前号（最適な測光法
を選択できる安価な免疫反応測定装置を実現することが
できる光度針を提供することにある。
散乱光あるいは螢光のうち必要なものを測定できるよう
にして、測光系のドリフトラ補償しながら、たとえば抗
原の種類７二 よ り あるいは抗体を含んだ試薬の形態ｅ前号（最適な測光法
を選択できる安価な免疫反応測定装置を実現することが
できる光度針を提供することにある。
に）構 成
本発明の光度計は、複数の測光セルを単色光の照射光路
である測光位置に順次位置づける測光セル移動機構を有
し、測光位置に位置づけられた測光セルからの透過光を
光電検出器に導びく光路と、紋光路中に測光セルからの
散乱光あるいは螢光を取り出す光学素子を配置し、これ
ら散乱光あるいはｇ！光を前記光電検出器に導びく光路
とを形成すると共に。
である測光位置に順次位置づける測光セル移動機構を有
し、測光位置に位置づけられた測光セルからの透過光を
光電検出器に導びく光路と、紋光路中に測光セルからの
散乱光あるいは螢光を取り出す光学素子を配置し、これ
ら散乱光あるいはｇ！光を前記光電検出器に導びく光路
とを形成すると共に。
該両光路のいずれか一方を選択する光路選択機構及び散
乱光あるｂは螢元七光電検出器に導びく光路中圧螢光測
定用フィルタを挿入するフィルタ挿入機構を備え、測光
セルの照射光光路への移動と光路選択機構及びフィルタ
挿入機構の組合わせによシ、照射光、透過光。
乱光あるｂは螢元七光電検出器に導びく光路中圧螢光測
定用フィルタを挿入するフィルタ挿入機構を備え、測光
セルの照射光光路への移動と光路選択機構及びフィルタ
挿入機構の組合わせによシ、照射光、透過光。
散乱光、螢光の必要なものを測定できるよう構成したこ
とを特徴としている。
とを特徴としている。
（ホ）実施例
以下図面にもとすいて本発明光度計の実施例を説明する
。
。
第１図において、（ａ）は照射光測定の状ｍを示す光路
及び測定回路図、 （ｂ）は透過光測定の状態を示す光
路図、（Ｃ）は散乱光測定の状態を示す光路１１．（ｄ
）は螢光測定の状態を示す光路図である。
及び測定回路図、 （ｂ）は透過光測定の状態を示す光
路図、（Ｃ）は散乱光測定の状態を示す光路１１．（ｄ
）は螢光測定の状態を示す光路図である。
照射光の測定の場合（第１図（ａ））には、適宜の駆動
機構によシターンテーブル７を回転して測光セル３．３
′を分光器４から供給される単色光の照射光路である測
光位置を外れた位置で停止させる。この状態で照射光は
２つの測光セル３．３′の間を通フ、集光鏡８の中心部
の孔９を通って光電検出器６に当り、その電気信号が増
幅器１０に入シ、その出力Ｉｉは。
機構によシターンテーブル７を回転して測光セル３．３
′を分光器４から供給される単色光の照射光路である測
光位置を外れた位置で停止させる。この状態で照射光は
２つの測光セル３．３′の間を通フ、集光鏡８の中心部
の孔９を通って光電検出器６に当り、その電気信号が増
幅器１０に入シ、その出力Ｉｉは。
この状態で閉となるスイッチ１１及びホールド回路１２
ｆｔとおして光電検出器６の負高圧電源電圧コントロー
ル回路１３に入ル、増幅器１０の出力Ｉｉが一定になる
よう負高圧電源を圧ｔ−コントロールする。また、この
ときの出力■ｉ拡ψ変換＠１４を通シコンビーータ１５
に記憶される。
ｆｔとおして光電検出器６の負高圧電源電圧コントロー
ル回路１３に入ル、増幅器１０の出力Ｉｉが一定になる
よう負高圧電源を圧ｔ−コントロールする。また、この
ときの出力■ｉ拡ψ変換＠１４を通シコンビーータ１５
に記憶される。
透過光の測定の場合（第１図（ｂ））には、ターンチー
アル７を回転して測光セル３１に照射光路（測光位置）
で停止させる。この状態で透過光と散乱光を分離するた
めの集光鏡８の孔９を透過した光が集光素子１６ｔ−通
って光電検出器６に当る。このとき散乱光は集光鏡８で
反射され集光素子１７により光電検出器６の方向に向う
が、適宜の手段によって駆動される光路遮断機構１８に
よシ遮断されるので、ｙｔ電積検出器６は到達しない。
アル７を回転して測光セル３１に照射光路（測光位置）
で停止させる。この状態で透過光と散乱光を分離するた
めの集光鏡８の孔９を透過した光が集光素子１６ｔ−通
って光電検出器６に当る。このとき散乱光は集光鏡８で
反射され集光素子１７により光電検出器６の方向に向う
が、適宜の手段によって駆動される光路遮断機構１８に
よシ遮断されるので、ｙｔ電積検出器６は到達しない。
したがりて、このときの増幅器１０の出力■ｏは透過光
を示すことになシ、これｌＡ／Ｄ変換器１４を介してコ
散乱元測定の場合（第１図（Ｃυには透過光測定の状態
（第１図中）参照ンから光路遮断機構１８を切替えて、
透過光の光路を遮断し１代りに散乱光が光電検出器６に
当るようにする。このときの増幅！！１０の出力Ｉｓは
散乱光含水すことになフ、これｔ−Ａ／Ｄ変換器１４ｆ
：介してコンピータ１５に記憶する。
を示すことになシ、これｌＡ／Ｄ変換器１４を介してコ
散乱元測定の場合（第１図（Ｃυには透過光測定の状態
（第１図中）参照ンから光路遮断機構１８を切替えて、
透過光の光路を遮断し１代りに散乱光が光電検出器６に
当るようにする。このときの増幅！！１０の出力Ｉｓは
散乱光含水すことになフ、これｔ−Ａ／Ｄ変換器１４ｆ
：介してコンピータ１５に記憶する。
螢光の測定の場魚第１図（ｄ））には、散乱光測定の状
［ｌ！（第１図（Ｃ）参照ンで、散乱光、党路内に螢光
測定用フィルタ１９ｔ−適宜の機構で挿入することによ
り螢光のみが光電検出！！６に当る。このときの増幅＊
ｉｏの出力Ｉｆは螢光を示すことになり、ヒれｔ−Ａ／
Ｄ変換＠１４ｔ−介してコンピュータ１５に記憶する。
［ｌ！（第１図（Ｃ）参照ンで、散乱光、党路内に螢光
測定用フィルタ１９ｔ−適宜の機構で挿入することによ
り螢光のみが光電検出！！６に当る。このときの増幅＊
ｉｏの出力Ｉｆは螢光を示すことになり、ヒれｔ−Ａ／
Ｄ変換＠１４ｔ−介してコンピュータ１５に記憶する。
コンピータ１５に記憶されたＩ７． ＩＯ，Ｉｓ。
Ｉｆを用いて。
に対して光電検出器６の感度のドリフトの影響を補償す
ることができる。
ることができる。
第２図は他の実施例の光路を示す。この実施例では第１
図実施例の光路と較べて、照射光及び透過党金元電検出
Ｗ７４６に導びく光路と散乱光及び螢ｙｔを光電検出器
６に導びく光路とが一部共通の光路で形成され１両光路
選択機構が光路遮断機構１８に代えて光路切換え機構（
ミラー）で構成されている点が相違している。
図実施例の光路と較べて、照射光及び透過党金元電検出
Ｗ７４６に導びく光路と散乱光及び螢ｙｔを光電検出器
６に導びく光路とが一部共通の光路で形成され１両光路
選択機構が光路遮断機構１８に代えて光路切換え機構（
ミラー）で構成されている点が相違している。
すなわち、この実施例では、透過ｙｔ＜又は照射光）Ｌ
集光鏡８の孔９ｈＯ９集光素子１７′で反射され、さら
に光路切換え機構（ミラー）１８で反射されて光電検出
器６に当る（図示の状態）。他方０図示の状態では散乱
光（又は螢′ｙｔ、）は集光鏡８で反射され、さらに゛
集光素子１７によシ光電検出器６の方向に向うが、光路
切換え機構１８′で遮断若しくは光路外に反射されるの
で光電検出＠６には到達しないが、適宜の単段によシ光
路切換え機構１８′を駆動して光路外へ移動させること
によシ。
集光鏡８の孔９ｈＯ９集光素子１７′で反射され、さら
に光路切換え機構（ミラー）１８で反射されて光電検出
器６に当る（図示の状態）。他方０図示の状態では散乱
光（又は螢′ｙｔ、）は集光鏡８で反射され、さらに゛
集光素子１７によシ光電検出器６の方向に向うが、光路
切換え機構１８′で遮断若しくは光路外に反射されるの
で光電検出＠６には到達しないが、適宜の単段によシ光
路切換え機構１８′を駆動して光路外へ移動させること
によシ。
散乱′ｙｔ、（又は螢光）Ｆｉ光電検出器６に到達する
。
。
一方この状態では集光素子１７′で反射された透過光（
又は照射光）はそのまま直進して光電検出１６には到達
しない。
又は照射光）はそのまま直進して光電検出１６には到達
しない。
し九がりて、この実施例の光路によっても前述した照射
光工ｉ、透過元工０．散乱元■ｓ及び螢光Ｉ４の測定を
行うことができる。
光工ｉ、透過元工０．散乱元■ｓ及び螢光Ｉ４の測定を
行うことができる。
（へ）効 果
以上説明したよう罠１本発明によれば、簡単な機構で照
射光Ｉｉ、透過光工ｏ、散乱散乱ｓ。
射光Ｉｉ、透過光工ｏ、散乱散乱ｓ。
けい光１１の測定を行なうことができかつ、１つの光電
検出器を用いて測定時に短時間内の２種類の元の比ＩＯ
／Ｉｉ、 Ｉｇ／Ｉｏ、 Ｉｓ／Ｉｏ 、あるいはＩｆ
／ｌ１ｔ−とることによシ光電検出器の感度のドリフト
金補償することが可能な安価な九度針を提供できる。
検出器を用いて測定時に短時間内の２種類の元の比ＩＯ
／Ｉｉ、 Ｉｇ／Ｉｏ、 Ｉｓ／Ｉｏ 、あるいはＩｆ
／ｌ１ｔ−とることによシ光電検出器の感度のドリフト
金補償することが可能な安価な九度針を提供できる。
また、第１図及び！２１Ｎのような構成をとることによ
ル、散乱元と透過光の比Ｉｓ／Ｉｏの測定ができるので
、 ＪＲ６ｖｆＪに示し良ように。
ル、散乱元と透過光の比Ｉｓ／Ｉｏの測定ができるので
、 ＪＲ６ｖｆＪに示し良ように。
測定可能な濃度範囲を拡けることができるしさらに前方
散乱の測定が可能になることによりつぎのような利点が
得られる。
散乱の測定が可能になることによりつぎのような利点が
得られる。
たとえば、免疫反応測定装置で抗原抗体反応による抗原
抗体複合物のにごシを散乱光を用いて測定する場合、複
合物の生成にともない粒子径が大きくなることによシ、
第３図に示すように前方散乱の散乱光強度が増えてくる
ので、第４図に示すようにθ＝１０〜３０の前方散乱を
測定する方が第５図の従来装置のθ＝９０δ側方散乱を
測定するよりも感度がよくさらに測定値の頭打ちを起こ
す濃度を高くすることができるので、゛測定可能な濃度
範囲を拡けることができる◇
抗体複合物のにごシを散乱光を用いて測定する場合、複
合物の生成にともない粒子径が大きくなることによシ、
第３図に示すように前方散乱の散乱光強度が増えてくる
ので、第４図に示すようにθ＝１０〜３０の前方散乱を
測定する方が第５図の従来装置のθ＝９０δ側方散乱を
測定するよりも感度がよくさらに測定値の頭打ちを起こ
す濃度を高くすることができるので、゛測定可能な濃度
範囲を拡けることができる◇
第１図は本発明の実施例装置を示すもので。
（ａ）は照射光測定の状態を示す光路及び測定回路図、
（ｂ）は透過光測定の状態を示す光路図、（Ｃ）は散乱
光測定の状態を示す光路図、（ｄ）ｔ′ｉ螢光測定の状
態を示す光路図である。第２図は本発明の他の実施例の
光路図、第３図は散乱角と散乱光強度の関係を示す線図
、第４ｔｌ！！ｌは前方散乱と側方散乱の散乱光測定の
感度及び濃度範囲の比較を示す線図、第５図は従来装置
例を示すブロック図、第６図は散乱光のみと散乱ｆｔ、
／透過光の測定の感度及び濃度測定範囲の比較を示す線
図である。 ３．３・・・測光セル、 ４・・・分光器。 ６・・・光電検出器、 ８・・・集光鏡、 ９・・・孔
。 １０・・・増幅器、１４・・・Ａ／Ｄ変換器。 １５・・・コンビ瓢−タ、 １６： １７．１７’
・・・集光素子。 １８・・・光路遮断機構、１８′・・・光路切換え機構
（ミラー２．１９・・・螢光測定用フィルタ。 Ｉｉ・・・照射光、ＩＯ・・・透過光。 Ｉｓ・・・散乱光、 Ｉｆ・・・螢光第２図 窄５図
（ｂ）は透過光測定の状態を示す光路図、（Ｃ）は散乱
光測定の状態を示す光路図、（ｄ）ｔ′ｉ螢光測定の状
態を示す光路図である。第２図は本発明の他の実施例の
光路図、第３図は散乱角と散乱光強度の関係を示す線図
、第４ｔｌ！！ｌは前方散乱と側方散乱の散乱光測定の
感度及び濃度範囲の比較を示す線図、第５図は従来装置
例を示すブロック図、第６図は散乱光のみと散乱ｆｔ、
／透過光の測定の感度及び濃度測定範囲の比較を示す線
図である。 ３．３・・・測光セル、 ４・・・分光器。 ６・・・光電検出器、 ８・・・集光鏡、 ９・・・孔
。 １０・・・増幅器、１４・・・Ａ／Ｄ変換器。 １５・・・コンビ瓢−タ、 １６： １７．１７’
・・・集光素子。 １８・・・光路遮断機構、１８′・・・光路切換え機構
（ミラー２．１９・・・螢光測定用フィルタ。 Ｉｉ・・・照射光、ＩＯ・・・透過光。 Ｉｓ・・・散乱光、 Ｉｆ・・・螢光第２図 窄５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、複数の測光セルを単色光の照射光路である測光位置
に順次位置づける測光セル移動機構を有し、測光位置に
位置づけられた測光セルからの透過光を光電検出器に導
びく光路と、該光路中に測光セルからの散乱光あるいは
螢光を取り出す光学素子を配置し、これら散乱光あるい
は螢光を前記光電検出器に導びく光路とを形成すると共
に、該両光路のいずれか一方を選択する光路選択機構及
び散乱光あるいは螢光を光電検出器に導びく光路中に螢
光測定用フィルタを挿入するフィルタ挿入機構を備えた
ことを特徴とする光度計。 ２、前記光学素子は透過光を通す孔を中心部に有する集
光鏡である特許請求の範囲第１項記載の光度計。 ３、前記光路選択機構は、いずれか一方の光路を遮断す
る光路遮断機構である特許請求の範囲第１項又は第２項
記載の光度計。 ４、複数の測光セルを単色光の照射光路である測光位置
又は測光位置を外れた位置で停止させる測光セル移動機
構を有し、測光位置に停止された測光セルからの透過光
又は測光セルが測光位置外で停止されたときの照射光を
光電検出器に導びく光路と、該光路中に測光セルからの
散乱光あるいは螢光を取り出す光学素子を配置し、これ
ら散乱光あるいは螢光を前記光電検出器に導びく光路と
を形成すると共に、該両光路のいずれか一方を選択する
光路選択機構及び散乱光あるいは螢光を光電検出器に導
びく光路中に螢光測定用フィルタを挿入するフィルタ挿
入機構を備え、かつ光電検出器からの出力を増幅器及び
Ａ／Ｄ変換］を介して記憶し、−ｌｏｇ透過光出力／照
射光出力（吸光度）、散乱光出力／透過光出力（にごり
度）、螢光出力／照射光出力（相対螢光強度）の演算を
行う記憶演算手段を具備したことを特徴とする光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12852984A JPS617426A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12852984A JPS617426A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS617426A true JPS617426A (ja) | 1986-01-14 |
Family
ID=14987002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12852984A Pending JPS617426A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS617426A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62289747A (ja) * | 1986-06-10 | 1987-12-16 | Hitachi Ltd | 濃度分析装置 |
| JPS63165732A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
| WO1995007447A1 (de) * | 1993-09-08 | 1995-03-16 | Leica Lasertechnik Gmbh | Vorrichtung zur selektion und detektion mindestens zweier spektralbereiche eines lichtstrahls |
| DE19648119C1 (de) * | 1996-11-21 | 1998-08-20 | Inst Chemo Biosensorik | Vorrichtung zur simultanen Erfassung von Lichtstrahlen, die von transparenten oder opaken Objekten ausgehen |
| WO2004095009A1 (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-04 | Moritex Corporation | 光学検査装置 |
| JP2009128125A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 液体分析装置 |
| US7701632B2 (en) | 2002-09-04 | 2010-04-20 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP12852984A patent/JPS617426A/ja active Pending
Cited By (9)
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|---|---|---|---|---|
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| EP1058101A2 (de) * | 1993-09-08 | 2000-12-06 | Leica Microsystems Heidelberg GmbH | Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
| EP1058101A3 (de) * | 1993-09-08 | 2001-10-17 | Leica Microsystems Heidelberg GmbH | Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
| DE19648119C1 (de) * | 1996-11-21 | 1998-08-20 | Inst Chemo Biosensorik | Vorrichtung zur simultanen Erfassung von Lichtstrahlen, die von transparenten oder opaken Objekten ausgehen |
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| JP2009128125A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 液体分析装置 |
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