JP4074271B2 - 時間分解分光装置 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 173
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 66
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 63
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 63
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 31
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 20
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 3
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
この時間−2次元空間変換光学系を用いた光信号の観測は、以下のようにして行われる。
次に、この回折光を1次元フーリエ変換光学系によって水平方向成分に対してフーリエ変換することにより、信号光のスペクトル分布を空間分布として得る。
このフィルタリングされた光波を1次元逆フーリエ変換光学系によって水平方向成分に対して逆フーリエ変換することにより、水平方向には時間遅延の分布、垂直方向には切り出されたスペクトル成分の分布がそれぞれ対応する光波分布を得る。
このようにして得た干渉縞のパターンは、光波分布における時間的な強度分布に対応するものであるので、このパターンを解析することで、計測すべき信号光の振幅情報及び位相情報を得る。
このように回折格子が時間−2次元空間変換光学系の光軸に対して傾斜させられると、1次元フーリエ変換光学系及び1次元逆フーリエ変換光学系からなる光学系において回折格子と共役となる共役面も、時間−2次元空間変換光学系の光軸に対して傾斜することとなる。このため、干渉縞を撮影する撮像装置の撮像面も、共役面と共役となるように、時間−2次元空間変換光学系の光軸に対して傾斜させる必要がある。
本発明は、プローブ光を発生する光源と、該プローブ光をコリメートするビーム整形光学系と、該ビーム整形光学系を挟んで前記光源と反対側に配置され、前記プローブ光が斜めに入射するように配置された回折格子と、該回折格子と共役となる共役面上に前記プローブ光の擬似二次元スペクトログラムを結像させる二次元変換光学系と、撮像面が前記共役面上に配置された撮像装置とを備え、該撮像装置によって前記擬似二次元スペクトログラムと参照光との干渉縞パターンを撮影して、該干渉縞パターンに基づいて前記プローブ光のスペクトル解析を行う時間分解分光装置であって、前記回折格子は、前記プローブ光を、前記回折格子への入射位置に応じて分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換する構成とされ、前記二次元変換光学系は、前記各一次回折光を、前記二次元変換光学系の光軸に交差する仮想平面内で、それぞれ前記スペクトル分布が生じる方向とは交差する方向に、スペクトル分布が生じるように変換する構成とされ、前記二次元変換光学系の光軸に対して、前記回折格子は傾いて配置されており、前記二次元変換光学系が、正のパワーを有する第一レンズと、該第一レンズから出射された前記一次回折光を前記二次元変換光学系の前記光軸に交差する仮想平面内で前記スペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換する二次元変換素子と、正のパワーを有し該二次元変換素子により得られた前記擬似二次元スペクトログラムを前記共役面に結像させる第二レンズとを有する縮小光学系からなり、前記撮像面が前記二次元変換光学系の光軸に対して傾斜するように、前記撮像装置が配置されている時間分解分光装置を提供する。
ここで、共役面上に擬似二次元スペクトログラムを結像させるために、二次元変換光学系及び撮像面は、以下のように配置される。
第一レンズは、前側焦点が回折格子上に位置するように配置され、第二レンズは、前側焦点が第一レンズの後側焦点と一致し、後側焦点が共役面上に位置するように配置される。
このことから、二次元変換光学系の光軸に対する撮像面の法線の傾斜角度は、回折格子の傾斜角度だけでなく第二レンズの後側焦点の位置によっても異なり、第二レンズの後側焦点が第一レンズの後側焦点に近くなるほど、二次元変換光学系の光軸に対する撮像面の法線の傾斜角度が小さくなる。
これにより、この時間分解分光装置では、回折格子の傾斜角度を小さくすることなく、光軸に対して撮像面の法線のなす角度を小さくすることができ、回折格子の回折効率を低下させることなく、二次元変換光学系を通過した光束を、撮像面の法線に対してより小さい角度で、撮像面に入射させることができる。
そして、各一次回折光の各波長成分は、二次元変換光学系の回折格子アレイによって、それぞれその波長に応じて、二次元変換光学系の光軸と平行かつスペクトル分布が生じる方向とは交差する面上で異なる方向に分散されるので、これによって擬似二次元スペクトログラムが形成される。
このように、本発明に係る時間分解分光装置によれば、全てのプローブ光を利用して擬似二次元スペクトログラムが形成されるので、プローブ光の利用効率が高く、プローブ光が弱い場合にも明瞭な干渉縞パターンを得ることができる。
[第一実施形態]
以下、本発明の第一実施形態について、図1から図6を用いて説明する。
本実施形態に係る時間分解分光装置1は、試料によって変調された信号光(プローブ光)を分析することによって、フェムト秒〜ピコ秒のオーダーの極短時間内での試料の挙動を観察するものである。
第一ビーム整形光学系4の後段には、第一ビーム整形光学系4によってコリメートされたプローブ光を分散させる回折格子5と、回折格子5による一次回折光をスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して回折格子5と共役となる共役面FC上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムを結像させる二次元変換光学系6と、撮像面7aが共役面FC上に配置された撮像装置7とが設けられており、これによって共役面FC上に結像された擬似二次元スペクトログラムが撮像装置7によって撮影されるようになっている。
この第一ビームスプリッタ12の後段には、参照光を整形する第二ビーム整形光学系13が設けられており、第二ビーム整形光学系13の後段には、整形された参照光を二次元変換光学系6から出射したプローブ光と合波させる合波装置14が設けられている。
光源2としては、例えば超短パルス光レーザー発振器等が用いられる。本実施形態では、光源2の発する信号光は、中心波長800nm、波長幅±5nm、パルス幅100フェムト秒の超短パルス光である。
照射光学系3は、光源2から入射した超短パルス光をポンプ光とプローブ光とに分岐させる第二ビームスプリッタ21と、第二ビームスプリッタ21とステージStとの間でポンプ光に対して任意の時間遅延量をプローブ光に生じさせる時間遅延発生装置22とを有している。第二ビームスプリッタ21としては、例えばハーフミラーが用いられる。
本実施形態では、時間遅延発生装置22は、プローブ光を反射させるミラー23と、ミラー23を移動させるミラー駆動装置24とを有しており、ミラー駆動装置24によってミラー23を移動させることで、プローブ光の光路長を変化させて、ポンプ光に対するプローブ光の時間遅延量を調整することができるようになっている。
ここで、本実施の形態では、照射光学系3の光軸AX1と二次元変換光学系6の光軸AX2とが直交させられている。以下の説明では、光軸AX1と光軸AX2との交点を含みかつ光軸AX2に直交する面を仮想平面F1とし、仮想平面F1上で光軸AX1に平行となる方向をX軸とし、仮想平面F1上でX軸に直交する方向をY軸とし、光軸AX2と平行な方向をZ軸とする。また、光軸AX1と光軸AX2との交点を原点として、X軸及びZ軸においてそれぞれプローブ光の進行方向を正方向とする。
これら第一、第二シリンドリカルレンズ36,38は、縮小光学系を構成している。本実施形態では、第一シリンドリカルレンズ36は、焦点距離f36=100mmであり、第二シリンドリカルレンズ38は焦点距離f38=40mmである。すなわち、二次元変換光学系6の倍率Mは、0.4とされている。
ここで、図2に示すように、共役面FCは、第二シリンドリカルレンズ38の後側焦平面F3を、仮想平面F1に対する仮想平面F1aの回転方向とは逆向きにしてY軸回りに角度φ回転させたものである。すなわち、ZX平面上での光軸AX2に対する共役面FCの法線L2の傾斜角度はφである。
第二ビーム整形光学系13は、例えば、レンズ46とレンズ47とによって構成されるビームエキスパンダである。また、第一ビームスプリッタ12は、レンズ47から出射された参照光を合波装置14まで中継するミラー48を有している。
本実施形態では、レンズ46の焦点距離は10mm、レンズ47の焦点距離は100mmとされている。すなわち、第二ビーム整形光学系13は、第一ビーム整形光学系4と同じく、入射したプローブ光を約10倍に拡大しかつコリメートして出射するようになっている。
このミラー51には、第二ビーム整形光学系13から、プローブ光の光路に対して傾斜する方向より参照光が入射されるようになっている。したがって、ミラー51は、プローブ光を通過させつつ、参照光をプローブ光と平行になるようにZ軸の正方向に向けて反射して撮像装置7に入射させるようになっている。
図6に示すように、第一シリンドリカルレンズ36は、前側焦点が回折格子5上に位置するように配置され、第二シリンドリカルレンズ38は、前側焦点が第一シリンドリカルレンズ36の後側焦点R1と一致し、後側焦点が撮像面7a上(共役面FC上)に位置するように配置される。
すなわち、二次元変換光学系6の倍率が小さくなるほど、光軸AX2に対する撮像面7aの法線L2の傾斜角度φが小さくなる。
回折格子5を含む仮想平面F1aと共役面FCとの交線Uは、ZX平面上で基準平面FSと第一シリンドリカルレンズ36の後側焦点R1とを結ぶ半直線UR1上に位置している。
このことから、次式(1)の関係が得られる。
そして、式(1)から次式(2)が得られる。
以上のことから、二次元変換光学系6が縮小倍率を有する場合には、撮像面7aの傾斜角度φが、回折格子5の傾斜角度θに比べて小さくなる。
ここで、回折格子5と撮像面7a間の倍率について説明する。図6に示すように回折格子5内でZX平面と平行となる座標軸X5を定義する。また、撮像面7a上でZX平面と平行となる座標軸Xiを定義する。
二次元変換光学系6において、X5軸とXi軸との間での倍率はMcosθ/cosφで与えられる(Y軸方向の倍率は1である)。従って、回折格子5上に形成される光束のX5軸方向の寸法αは14.14mmであり、撮像装置7の撮像面7a上に結像される擬似二次元スペクトログラムSのXi軸方向の寸法βは4.31mmとなる。
このように、この時間分解分光装置1では、撮像装置7による干渉縞パターンの撮影を良好に行うことができ、時間分解分光計測を高精度に行うことができる。
以下、本発明の第二実施形態について、図7及び図8を用いて説明する。
図7に示すように、本実施形態に係る時間分解分光装置61は、第一実施形態に示した時間分解分光装置1において、第一ビーム整形光学系4及び二次変換光学系6の代わりに、第一ビーム整形光学系64及び二次変換光学系66を設けたことを主たる特徴とするものである。以下、第一実施形態の時間分解分光装置1と同様または同一の部材については同じ符号を用いて示し、詳細な説明を省略する。
本実施形態では、第一ビーム整形光学系64は、焦点距離100mmの球面レンズ71と焦点距離50mmの球面レンズ72とからなる、倍率0.5の縮小光学系を有している。そして、この縮小光学系と回折格子5との間には、Z軸方向に正のパワーを有する第三シリンドリカルレンズ73と、前側焦平面が第三シリンドリカルレンズ73の後側焦平面上に位置する第四シリンドリカルレンズ74とが設けられている。これら第三、第四シリンドリカルレンズ73,74は、倍率10の拡大光学系を構成しており、プローブ光の幅(Z軸方向の寸法)をY軸方向の寸法の10倍に拡大している。
そして、このようにして回折格子5の傾斜方向に延びる線状の断面の光束に整形されたプローブ光は、回折格子5によって分散されて、各一次回折光の集合が、スペクトル分布の生じる方向(X軸方向)に延びる線状の断面の光束となる。
ここで、本実施形態では、合波装置14の代わりに、合波装置14において集光シリンドリカルレンズ52の代わりに集光球面レンズ52aが設けられた合波装置14aが用いられる。
具体的には、回折格子アレイ77は、図8に示すように、格子溝がY軸方向に複数設けられかつそれぞれ格子定数が異なる複数の回折格子77a,77b,77c,…を、X軸方向に沿って格子定数の大きさの順番に配列したものである。これにより、回折格子5によってX軸に沿ったスペクトル分布を有する各一次回折光は、それぞれ波長に応じて異なる格子定数の回折格子に入射して、それぞれYZ平面上の異なる方向に分散される。
本実施形態では、第一、第二球面レンズ76,78は、それぞれ焦点距離f=40mmとされている。また、共役面FC上に形成される擬似二次元スペクトログラムSのY軸方向の寸法は14.14mm、ZX平面に平行な方向の寸法は10mmである。
4,64 第一ビーム整形光学系
5 回折格子
6,66 二次元変換光学系
7 撮像装置
36 第一シリンドリカルレンズ
37 フィルタ(二次元変換素子)
38 第二シリンドリカルレンズ
76 第一球面レンズ
77 回折格子アレイ(二次元変換素子)
78 第二球面レンズ
FC 共役面
P 干渉縞パターン
S 擬似二次元スペクトログラム
Claims (2)
- プローブ光を発生する光源と、
該プローブ光をコリメートするビーム整形光学系と、
該ビーム整形光学系を挟んで前記光源と反対側に配置され、前記プローブ光が斜めに入射するように配置された回折格子と、
該回折格子と共役となる共役面上に前記プローブ光の擬似二次元スペクトログラムを結像させる二次元変換光学系と、
撮像面が前記共役面上に配置された撮像装置とを備え、
該撮像装置によって前記擬似二次元スペクトログラムと参照光との干渉縞パターンを撮影して、該干渉縞パターンに基づいて前記プローブ光のスペクトル解析を行う時間分解分光装置であって、
前記回折格子は、前記プローブ光を、前記回折格子への入射位置に応じて分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換する構成とされ、
前記二次元変換光学系は、前記各一次回折光を、前記二次元変換光学系の光軸に交差する仮想平面内で、それぞれ前記スペクトル分布が生じる方向とは交差する方向に、スペクトル分布が生じるように変換する構成とされ、
前記二次元変換光学系の光軸に対して、前記回折格子は傾いて配置されており、
前記二次元変換光学系が、正のパワーを有する第一レンズと、
該第一レンズから出射された前記一次回折光を前記二次元変換光学系の前記光軸に交差する仮想平面内で前記スペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換する二次元変換素子と、
正のパワーを有し該二次元変換素子により得られた前記擬似二次元スペクトログラムを前記共役面に結像させる第二レンズとを有する縮小光学系からなり、
前記撮像面が前記二次元変換光学系の光軸に対して傾斜するように、前記撮像装置が配置されている時間分解分光装置。 - 前記ビーム整形光学系が、前記プローブ光を、前記回折格子の傾斜方向に沿って延びる線状の断面の光束に整形し、
前記二次元変換光学系が、前記各一次回折光中の各波長成分を、それぞれその波長に応じて、前記二次元変換光学系の光軸と平行かつ前記スペクトル分布が生じる方向とは交差する面上で異なる方向に分散させる回折格子アレイを有する請求項1記載の時間分解分光装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004218950A JP4074271B2 (ja) | 2004-07-27 | 2004-07-27 | 時間分解分光装置 |
| US11/153,361 US7385693B2 (en) | 2004-06-21 | 2005-06-16 | Microscope apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004218950A JP4074271B2 (ja) | 2004-07-27 | 2004-07-27 | 時間分解分光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006038632A JP2006038632A (ja) | 2006-02-09 |
| JP4074271B2 true JP4074271B2 (ja) | 2008-04-09 |
Family
ID=35903782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004218950A Expired - Fee Related JP4074271B2 (ja) | 2004-06-21 | 2004-07-27 | 時間分解分光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4074271B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4074270B2 (ja) * | 2004-07-26 | 2008-04-09 | オリンパス株式会社 | 時間分解分光装置 |
| JP3992699B2 (ja) * | 2004-07-22 | 2007-10-17 | オリンパス株式会社 | 時間分解分光装置 |
| CN102841075B (zh) * | 2011-11-15 | 2016-01-06 | 中国科学院光电研究院 | 激光光谱诱导成分检测系统 |
| CN104199182B (zh) * | 2014-09-26 | 2017-05-03 | 江苏大学 | 一种两步衍射相位成像方法及对应相位恢复方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3018173B1 (ja) * | 1998-09-10 | 2000-03-13 | 大阪大学長 | 極短光パルスの波形計測方法 |
| JP4198325B2 (ja) * | 2001-03-06 | 2008-12-17 | 株式会社フォトロン | 多画面分光撮影装置 |
| JP2003004530A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-01-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光撮像システム |
| JP3875127B2 (ja) * | 2002-03-22 | 2007-01-31 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 広帯域スーパーコンティニューム極短光パルスを用いたシングルショット過渡吸収計測方法およびシングルショット過渡吸収計測システム |
| JP4074270B2 (ja) * | 2004-07-26 | 2008-04-09 | オリンパス株式会社 | 時間分解分光装置 |
| JP3992699B2 (ja) * | 2004-07-22 | 2007-10-17 | オリンパス株式会社 | 時間分解分光装置 |
-
2004
- 2004-07-27 JP JP2004218950A patent/JP4074271B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2006038632A (ja) | 2006-02-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060829 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061003 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061204 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070424 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070618 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080108 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080124 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110201 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110201 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120201 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |
