JP3804785B2 - 露光装置および露光方法 - Google Patents

露光装置および露光方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3804785B2
JP3804785B2 JP2002305401A JP2002305401A JP3804785B2 JP 3804785 B2 JP3804785 B2 JP 3804785B2 JP 2002305401 A JP2002305401 A JP 2002305401A JP 2002305401 A JP2002305401 A JP 2002305401A JP 3804785 B2 JP3804785 B2 JP 3804785B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
reticle
reticle stage
exposure apparatus
counterweight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002305401A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003158073A (ja
Inventor
明光 蛯原
ノヴァク トーマス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Publication of JP2003158073A publication Critical patent/JP2003158073A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3804785B2 publication Critical patent/JP3804785B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70766Reaction force control means, e.g. countermass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • G03F7/70725Stages control
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70775Position control, e.g. interferometers or encoders for determining the stage position
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/709Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70991Connection with other apparatus, e.g. multiple exposure stations, particular arrangement of exposure apparatus and pre-exposure and/or post-exposure apparatus; Shared apparatus, e.g. having shared radiation source, shared mask or workpiece stage, shared base-plate; Utilities, e.g. cable, pipe or wireless arrangements for data, power, fluids or vacuum
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、正確に運動することのできる運動可能なステージ装置に関し、より詳細には、1つの直線方向において運動可能であって、高精度の位置決め及び高速の運動を行うことのできる、ステージ装置に関し、そのようなステージ装置は、マイクロリソグラフ装置において特に好ましく使用される。
【0002】
【従来の技術】
ウエーハステッパにおいては、結像されるレティクルに対する露光フィールドのアライメントがそのフィールド内に露光される回路のでき具合に影響する。走査型露光装置においては、レティクル及びウエーハは、露光シーケンスの間に、同時に移動し、互いに走査される。本発明は、そのような装置に関して、正確な走査運動を行うための装置を開示する。
【0003】
高精度を得るためには、ステージは、機械的な外乱から絶縁する必要がある。これは、電磁力を用いて、ステージを位置決め及び移動させることにより、達成される。また、高い制御帯域幅も必要とされ、これは、ステージが軽量であり、ステージが可動部を有しない必要がある。また、ステージは、干渉計の計測を阻害する恐れのある過剰の熱の発生、あるいは、アライメント精度を低下させる機械的な変化があってはならない。
【0004】
米国特許第4,506,204号、第4,506,205号、及び、第4,507,597号に開示される如き、無整流型の電磁アライメント装置は、経済的ではなく、その理由は、そのような電磁アライメント装置は、市販されていないような、大きな磁石及びコイルから成るアセンブリを製造する必要があるからである。ステージの重量、及び、発生する熱も、そのような設計を高精度の用途に応用することを不適切にする。
【0005】
上述の如き無整流子型の装置に対する改善が、米国特許第4,952,858号に開示されており、この米国特許は、平面における大きな変位移動を行なう、XY方向に機械的に案内される、通常のサブステージを用いており、これにより、大きな磁石及びコイルから成るアセンブリの必要性を排除している。サブステージに設けられる電磁手段は、ステージを機械的な外乱から絶縁する。しかしながら、サブステージ及びステージを合わせた重量は、依然として、低い制御帯域幅をもたらし、ステージを支持する電磁要素によって発生される熱も依然としてかなりのものである。
【0006】
整流型の電磁手段を用いる一般的な装置は、従来技術の無整流子型の手段に比較して、かなりの改善を示すが、低い制御帯域幅、及び、干渉計の干渉の問題は、依然として残っている。そのような装置においては、サブステージは、1つの直線方向に電磁力を用いて移動され、一方、サブステージに設けられた整流型の電磁手段が、ステージをその直交方向に動かす。上記サブステージは重たく、その理由は、ステージを動かすための磁気軌道を担持しているからである。また、ステージ上での放熱が、干渉計の精度を低下させる。
【0007】
また、コイル及び磁石から成る、平行な2つのリニアモータを用いて、運動可能な部材(ステージ)を、ある長い(例えば、10cmよりも長い)直線方向において動かすことが知られている。この場合には、ステージは、ある種の直線的なガイド部材によって、案内され、上記ガイド部材に対して平行に設けられたリニアモータによって、一直線方向に駆動される。ステージを、極めて小さいストロークの範囲だけ駆動する時には、上述の従来技術に開示されているように、幾つかの電磁アクチュエータの複合体に基づくガイドレス構造を採用することができる。しかしながら、ガイドレスステージをある直線方向において長い距離動かすためには、従来技術におけるように、特殊に構成された電磁アクチュエータが必要となって、装置の寸法が大きくなり、その結果、より大きな電力を消費するという問題が生ずる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、電磁力を用いて、ガイドレスステージを長い直線運動の方向に動かすことを可能とし、また、小さな慣性力及び高い応答を達成する、軽量の装置を提供することである。
【0009】
また、本発明の目的は、1つの直線方向の運動を行わせるための電磁アクチュエータとして、市販の通常のリニアモータを用いて、ガイドレスステージ装置を提供することである。
【0010】
また、本発明の目的は、上記長い直線運動の方向に対して直交する方向において接触することなく、小さな変位にわたって、能動的に正確に位置決め制御を行うことのできる、ガイドレスステージ装置を提供することである。
【0011】
更に、本発明の目的は、1つの直線方向に動く運動可能な部材(ステージ本体)、及び、同じ方向に順次動いて、その運動部材との間に一定のスペースを常時維持する第2の運動可能な部材を提供すると共に、上記第2の運動可能な部材とステージ本体との間に、上記直線方向と直交する方向の電磁力(作用力及び反力)をもたらすことにより、完全に非接触型のステージ装置を提供することである。
【0012】
また、本発明の目的は、物体を支持しながら移動する非接触型のステージ本体に接続される、種々のケーブル(電線)及び管の張力が変化するために、位置決め及び走行精度が低下することを防止することのできる、非接触型のステージ装置を提供することである。
【0013】
また、本発明の目的は、第1の運動可能な部材及び第2の運動可能な部材を平行に配列し、これら第1及び第2の運動可能な部材を互いに反対の直線方向に動かすようにすることにより、その高さが低い非接触型の装置を提供することである。
更に、本発明の目的は、非接触型のステージ本体が、ある直線方向に動いても、装置全体の重心の位置が変化しないように構成された装置を提供することである。
【0014】
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、一実施例を表す図面に対応付けて説明すると、請求項記載の露光装置は、基準面の上で少なくとも第1方向にレチクルを移動するレチクルステージ(14)を備え、レチクル(44)のパターンを基板に露光する露光装置であって、(a) ベース構造(12)に対して運動可能に設けられ、第1方向に移動することができるカウンターウエート(22)と、(b) 第1方向に向かう駆動力を発生するように、レチクルステージ(14)に設けられた第1磁化部材(54A,54B)と、カウンターウエート(22)に設けられた第2磁化部材(56A,56B)とを備え、レチクルステージ(14)を電磁的に駆動する駆動手段(54、56)と、(c) 第1方向と実質的に直交する第2方向にレチクルステージ(14)を移動可能な電磁手段(70)とを備え、駆動手段(54、56)の励起により、レチクルステージ(14)とカウンターウエート(22)とが、第1方向においてそれぞれ逆方向に移動している。
【0016】
請求項記載の露光装置は、前記電磁手段(70)がコイル(74A)と磁石(72)とを有している。
請求項3記載の露光装置は、第2方向におけるレチクルステージ(14)の移動量は、第1方向におけるレチクルステージ(14)の移動量より小さい。
請求項4記載の露光装置は、レチクルステージ(14)が第1流体軸受(48)を介して基準面の上を移動し、カウンターウエート(22)が第1流体軸受(48)とは異なる位置に設けられた第2流体軸受(32)を介してベース構造(12)の上で移動している。
【0017】
請求項記載の露光装置は、第1磁化部材と第2磁化部材との一方がコイル(54A,54B)であり、第1磁化部材と第2磁化部材との他方が磁石(56A,56B)である。
【0018】
請求項記載の露光装置は、レチクルステージ(14)の位置を検出するレーザ干渉計装置(15)を備えている。
請求項記載の露光装置は、駆動手段(54,56)がレチクルステージ(14)のヨーイングを補正している。
【0019】
請求項記載の露光装置は、駆動手段が一対の駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)を有し、レチクルステージ(14)は一対の対向する側部を有し、駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)はレチクルステージ(14)の対向する側部(42A、42B)に設けられている
請求項記載の露光装置は、カウンターウエート(22)が第1方向に沿ったアーム(26)を有している。
【0020】
請求項1記載の露光装置は、カウンターウエート(22)が矩形状である。
請求項1記載の露光装置は、レチクルステージ(14)にはケーブル(83)が接続されており、ケーブルをレチクルステージ(14)に追従させるキャリア(60)を備え、電磁手段(70)はコイル部材(74A)及び磁石部材(72)を有しており、これら部材の一方をレチクルステージ(14)に設け、これら部材の他方をキャリア(60)に設け、電磁手段(70)によりケーブル(83)の張力がレチクルステージ(14)に与える影響を解消している。
【0021】
請求項1記載の露光装置は、カウンターウエート(22)の位置を調節するリニアモータを設けている。
請求項1記載の露光装置は、レチクルステージ(14)が走査されている間にレチクル(44)のパターンを基板に露光する走査型露光装置である。
【0022】
請求項1記載の露光方法は、基準面の上で少なくとも第1方向にレチクルを移動するレチクルステージ(14)を備え、レチクル(44)のパターンを基板に露光する露光方法であって、レチクルステージ(14)に設けられた第1磁化部材(54A,54B)と、ベース構造対して運動可能なカウンターウエートに設けられた第2磁化部材(56A,56B)とを備えた駆動手段により、レチクルステージ(14)を第1方向に動かす作用力を与えるステップと、カウンターウエートが前記作用力に応じて反対方向に動くステップと、電磁手段(70)により、レチクルステージ(14)を第1方向と実質的に直交する第2方向に移動するステップとを含んでいる。
【0023】
請求項1記載の露光方法は、電磁手段(70)はコイル(74A)と磁石(72)とを有している。
請求項1記載の露光方法は、レチクルステージ(14)を第1流体軸受(48)を介して基準面の上で移動、カウンターウエート(22)第2流体軸受(32)を介してベース構造の上で移動する。
【0024】
請求項1記載の露光方法は、第1磁化部材と第2磁化部材との一方はコイル(54A,54B)であり、第1磁化部材と第2磁化部材との他方は磁石(56A,56B)である。
【0025】
請求項18記載の露光方法は、レーザ干渉計装置(15)によりレチクルステージ(14)の位置を検出するステップを含んでいる。
請求項19記載の露光方法は、駆動手段(54、56)によりレチクルステージ(14)のヨーイングを補正する。
【0026】
請求項2記載の露光方法は、駆動手段は一対の駆動アセンブリ(54A,56A,54B,56B)を有し、レチクルステージは一対の対向する側部を有し、駆動アセンブリ(54A,56A,54B,56B)は、前記レチクルステージ(14)の対向する側部(42A、42B)に設けられている
請求項2記載の露光方法は、カウンターウエート(22)が第1方向に沿ったアーム(26)を有している。
【0027】
請求項2記載の露光方法は、カウンターウエート(22)が矩形状である。
請求項2記載の露光方法は、レチクルステージ(14)にはケーブル(83)が接続されており、ケーブル(83)をレチクルステージ(14)に追従させるキャリア(60)を備え、電磁手段(70)がレチクルステージ(14)とキャリア(60)との間に第2方向の電磁力をもたらすことにより、ケーブル(83)の張力がレチクルステージ(14)に与える影響を解消する。
【0028】
請求項2記載の露光方法は、カウンターウエート(22)の位置をリニアモータにより調節するステップを含んでいる。
請求項2記載の露光方法は、レチクル(44)のパターンがレチクルステージ(14)の走査されている間に基板に露光される。
請求項2記載のステージ装置は、基準面の上で少なくとも第1方向に物体を移動するステージ(14)を備えたステージ装置において、(a)ベース構造(12)に対して運動可能に設けられ、第1方向に移動することができるカウンターウエート(22)と、(b)第1方向に向かう駆動力を発生するように、ステージ(14)に設けられた第1磁化部材(54A,54B)と、カウンターウエート(22)に設けられた第2磁化部材(56A,56B)とを備え、ステージ(14)を電磁的に駆動する駆動手段(54、56)と、(c) 第1方向と実質的に直交する第2方向にステージ(14)を移動可能な電磁手段(70)とを備え、駆動手段(54、56)の励起により、ステージ(14)とカウンターウエート(22)とが、第1方向においてそれぞれ逆方向に移動する
請求項27記載のステージ装置は、電磁手段(70)がコイル(74A)と磁石(72)とを有している。
請求項28記載のステージ装置は、ステージ(14)が第1流体軸受(48)を介して基準面の上を移動し、カウンターウエート(22)が第1流体軸受(48)とは異なる位置に設けられた第2流体軸受(32)を介してベース構造(12)の上で移動している。
請求項29記載のステージ装置は、第1磁化部材と第2磁化部材との一方がコイル(54A,54B)であり、第1磁化部材と第2磁化部材との他方が磁石(56A,56B)である。
請求項30記載のステージ装置は、駆動手段(54,56)がステージ(14)のヨーイングを補正している。
請求項31記載のステージ装置は、駆動手段が一対の駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)を有し、ステージ(14)は一対の対向する側部を有し、駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)はステージ(14)の対向する側部(42A、42B)に設けられている。
請求項32記載のステージ装置は、ステージ(14)にはケーブル(83)が接続されており、ケーブルをステージ(14)に追従させるキャリア(60)を備え、電磁手段(70)はコイル部材(74A)及び磁石部材(72)を有しており、これら部材の一方をステージ(14)に設け、これら部材の他方をキャリア(60)に設け、電磁手段(70)によりケーブル(83)の張力がレチクルステージ(14)に与える影響を解消している。
請求項33記載のステージ装置は、カウンターウエート(22)の位置を調節するリニアモータを設けている。
【0029】
本発明の他の目的及び特徴は、全体を通じて、同様の参照符号により同様の要素を示している、図面を参照しながら、以下の記載を読むことにより、より明らかとなろう。
【0030】
【作用】
請求項記載の露光装置は、電磁手段(70)がレチクルステージ(14)の第2方向の位置を補正するとともに、レチクルステージ(14)と、ベース構造(12)に対して運動可能に設けられたカウンターウエート(22)とが第1方向においてそれぞれ逆方向に移動しているので、レチクルステージ(14)とベース構造(12)との間の反作用力を実質的に排除することができる
【0031】
請求項記載の露光装置は、コイル(74A)と磁石(72)とを用いてレチクルステージ(14)の第2方向の位置を補正している。
請求項3記載の露光装置は、レチクルステージ(14)の長い運動方向である第1方向に対してほぼ直交する方向において接触することなく、レチクルステージ(14)を小さな変位で位置決めできる。
請求項4記載の露光装置は、レチクルステージ(14)が第1流体軸受(48)によりギャップを持って基準面の上を移動し、カウンターウエート(22)が第2流体軸受(32)によりギャップを持って移動している。
【0032】
請求項記載の露光装置は、コイル(54A,54B)と磁石(56A,56B)とを用いてレチクルステージ(14)を第1方向に移動している。
【0033】
請求項記載の露光装置は、レーザ干渉計装置(15)がレチクルステージ(14)の位置を検出している。
請求項記載の露光装置は、駆動手段(54,56)によりレチクルステージ(14)のヨーイングを補正することができる。
【0034】
請求項記載の露光装置は、一対の駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)がレチクルステージ(14)を第1方向に移動している。
請求項記載の露光装置は、第1方向に沿ったアーム(26)によりカウンターウエート(22)を構成することができる。
【0035】
請求項1記載の露光装置は、矩形状の部材によりカウンターウエート(22)を構成することができる。
請求項1記載の露光装置は、電磁手段(70)がケーブル(83)の張力に起因したレチクルステージ(14)に与える外乱力を阻止している。
【0036】
請求項1記載の露光装置は、リニアモータによりカウンターウエート(22)の位置を調節することができる。
請求項1記載の露光装置は、レチクルステージ(14)の走査露光中の重心位置を維持することができる。
【0037】
請求項1記載の露光方法は、電磁手段(70)がレチクルステージ(14)の第2方向の位置を補正するとともに、レチクルステージ(14)と、ベース構造(12)に対して運動可能に設けられたカウンターウエート(22)とが第1方向においてそれぞれ逆方向に移動しているので、レチクルステージ(14)とベース構造(12)との間の反作用力を実質的に排除することができる
【0038】
請求項1記載の露光方法は、コイル(74A)と磁石(72)とを用いてレチクルステージ(14)の第2方向の位置を補正している。
【0039】
請求項1記載の露光方法は、レチクルステージ(14)が第1流体軸受(48)によりギャップを持って基準面の上を移動し、カウンターウエート(22)が第2流体軸受(32)によりギャップを持って移動している。
【0040】
請求項1記載の露光方法は、コイル(54A,54B)と磁石(56A,56B)とを用いてレチクルステージ(14)を第1方向に移動している。
請求項18記載の露光方法は、レーザ干渉計装置(15)がレチクルステージ(14)の位置を検出している。
【0041】
請求項19記載の露光方法は、駆動手段(54,56)によりレチクルステージ(14)のヨーイングを補正することができる。
請求項2記載の露光方法は、一対の駆動アセンブリ(54A,56A,54B,54B)がレチクルステージ(14)を第1方向に移動している。
【0042】
請求項2記載の露光方法は、第1方向に沿ったアーム(26)をカウンターウエート(22)としている。
請求項2記載の露光方法は、矩形状のカウンターウエート(22)としている。
【0043】
請求項2記載の露光方法は、電磁手段(70)がケーブル(83)の張力に起因したレチクルステージ(14)に与える外乱力を阻止している。
請求項2記載の露光方法は、リニアモータによりカウンターウエート(22)の位置を調節することができる。
請求項2記載の露光方法は、レチクルステージ(14)とベース構造(12)との間の走査露光中の反作用力を実質的に排除することができる
なお、以上の所定の要素に付した括弧付き符号は、本発明の一実施形態を示す図面中の部材に対応しているが、各符号は本発明を分かり易くするために例示したに過ぎず、本発明をその実施形態の構成に限定するものではない。
【0044】
本発明の特殊な特徴として、整流型のリニアモータが、ステージの両側部に設けられ、駆動フレームに取り付けられている。各々の整流型のリニアモータは、コイル部材及び磁石部材を備えており、これら部材の一方は、ステージの両側部の一方に取り付けられ、また、上記部材の他方は、駆動フレームに取り付けられている。両方のモータは、同じ方向に駆動される。これらモータを、若干異なる距離だけ駆動することにより、ステージの微小ヨー回転が生ずる。
【0045】
本発明の別の特徴によれば、可動カウンターウエートが設けられ、これにより、ステージが運動する間には常に、運動量保存の法則を用いて、ステージ装置の重心の位置を維持する。本発明の一実施例においては、各々のリニアモータの一方の部材を担持する駆動フレームが、ベース構造の上で懸架されており、駆動アセンブリが、上記ベース構造の上方で上記ステージを一方へ動かす作用力を与えると、駆動フレームは、その反作用力に応じて、反対方向に動き、これにより、装置の重心を実質的に維持する。本装置は、ステージ装置とこのステージ装置が設けられているベース構造との間の反作用力を実質的に排除し、これにより、大きな加速力を可能にすると共に、装置に対する振動の影響を極めて少なくする。
【0046】
ステージの運動を3つの特定の自由度に制限することにより、装置は簡単になる。市販の電磁部品を用いることにより、装置の設計は、ステージの寸法の変更に対して、容易に適合することができる。この高精度の位置決め装置は、走査型露光装置のレティクルスキャナとして使用されるのに、理想的であり、ある直線方向において円滑且つ正確な走査運動をもたらすと共に、走査方向に対して直交する方向の小さな変位移動、並びに、平面における小さなヨー回転量を制御することにより、正確なアライメントを確実に行う。
本発明は、一般に、電磁式アライメント装置に応用することができるが、好ましい実施例は、図1乃至図8に示すレティクルステージ用の走査装置を含む。
次に図面を参照すると、本発明の位置決め装置10は、その上方にレティクルステージ14が所望の如く運動するように懸架されている、ベース構造12と、レティクルステージの位置を追跡するレーザ干渉計装置15と、位置センサ13と、CPU16’(図8参照)によって作動される、位置制御装置16とを備えている。
【0047】
細長い位置決めガイド17が、ベース12に設けられており、また、サポートブラケット18(図示の実施例においては、2つのブラケット)が、例えば空気軸受20によって、ガイド17上で運動可能に支持されている。サポートブラケット18は、レティクルステージ14をX方向に動かしまたわずかにヨー回転させるための、磁気軌道アセンブリの形態の駆動アセンブリ22すなわち駆動フレームに接続されている。この駆動フレームは、平行に隔置された一対の磁気軌道アーム24、26を備えており、これら磁気軌道アームは、横断アーム28、30によって互いに接続され、開放された矩形体を形成している。好ましい実施例においては、駆動フレーム22は、例えば空気軸受32によって、ベース構造12の上で運動可能に支持されており、これにより、上記フレームは、上記ベース構造の上で、ガイド17の長手方向の軸線に沿った方向に自由に運動する。この方向は、レティクルステージの走査運動が必要とされる主軸方向である。本明細書で使用する「一つの方向」又は「第1の方向」は、フレーム22又はレティクルステージ14が、ガイド17の長手方向の軸線に沿ったX方向において、前方又は後方に移動することを意味する。
【0048】
次に、図1及び図7を参照して更に説明すると、X方向に細長いガイド部材すなわち案内部材17は、前方及び後方のガイド面17A、17Bを有しており、これらガイド面は、ベース構造12の表面12Aに対して、概ね直交している。前方ガイド面17Aは、矩形の駆動フレーム22に面しており、サポートブラケット18の内側に固定された空気軸受20を案内する。サポートブラケット18は、駆動フレーム22のガイド部材に対して平行なアーム24の上面の各端部に取り付けられている。また、各々のサポートブラケット18は、フック形状に形成され、Y方向においてガイド部材17を跨いでおり、その自由端は、ガイド部材17の後側の後方ガイド面17Bに面している。空気軸受20’は、サポートブラケット18の自由端の内側で固定され、後方ガイド面17Bに面している。従って、各々のサポートブラケット18のY方向における移動は、ガイド部材17及び空気軸受20、20’によって拘束されており、X方向においてだけ移動することができる。
【0049】
次に、本発明の第1の実施例によれば、駆動フレーム22の4つの矩形の部品の底面に固定された空気軸受32は、空気層を形成し、パッド面とベース構造12の表面12Aとの間に、一定のギャップすなわち間隙(1μmから数μm未満)を持っている。駆動フレームは、空気層によって、表面12Aから浮揚され、垂直方向(Z方向)において支持されている。後に詳細に説明するが、図1においては、細長いアーム24の上側部の上方に位置しているキャリア/従動子60が、ガイド部材17の両面17A、17Bに面するブラケット62によって支持された空気軸受66A、66Bによって、横方向(Y方向)において支持され、また、ベース構造12の表面12Aの上方で、垂直方向(Z方向)において支持されている。従って、キャリア/従動子60は、駆動フレーム22のいずれの部分にも接触しないように、支持されている。従って、駆動フレーム22は、ベースの表面12Aの上方でガイド部材17によって側面から案内され、X方向においてのみ直線的に動く。
【0050】
次に、図1及び図2を参照して、レティクルステージ14及び駆動フレーム22から成る構造を説明する。レティクルステージ14は、主本体42を備えており、該主本体の開口46の上方に、レティクル44が設けられている。レティクル本体42は、対向する一対の側部42A、42Bを備えており、例えば空気軸受48によって、ベース構造12の上方に置かれ、懸架されている。複数の干渉計ミラー50が、レティクルステージ14の主本体42に設けられており、上記干渉計ミラーは、レーザ干渉計の位置感知装置15(図8参照)と共に作動して、位置制御装置16へ与えられるレティクルステージの正確な位置を決定し、これにより、レティクルステージ14を所望の如く動かすための適正な駆動信号を導く。
【0051】
レティクルステージ14の基本的な運動は、第1の電磁駆動アセンブリ、すなわち、対向する側部42A、42Bの各々に設けられた別個の駆動アセンブリ52A、52Bの形態をした手段によって、行われる。駆動アセンブリ52A、52Bは、レティクルステージ14の側部42A、42Bにそれぞれ固定された駆動コイル54A、54Bを備えており、これら駆動コイルは、駆動フレーム22の磁気軌道アーム24、26の磁気軌道56A、56Bと協働する。本発明の好ましい実施例においては、上記磁気コイルは、駆動フレーム22に取り付けられているが、電磁駆動アセンブリ52のそのような要素の配置は、逆転させることができる。
【0052】
ここで、レティクルステージ14の構造を更に詳細に説明する。図1に示すように、ステージ本体42は、駆動フレーム22の中の矩形の空間の中でY方向に動けるように、装着されている。ステージ本体42の4つのコーナー部の各々の下で固定された空気軸受48は、パッド面とベースの表面12Aとの間に、極めて小さなエアーギャップを形成し、ステージ14全体を表面12Aから浮揚させてこれを支持する。上記エアーギャップ48は、表面12Aに対する真空吸引を行うための凹所を有する、予圧型のものであるのが好ましい。
【0053】
図2に示すように、ステージ本体42の中央の矩形の開口46が設けられており、これにより、レティクル44に形成されたパターンの投影像が、上記開口を通過することができる。投影像が、矩形の開口46を通って、矩形の開口の下方に設けられた投影光学装置PL(図7参照)を通過することができるように、ベース構造12の中央部に、他の開口12Bが設けられている。レティクル44は、クランプ部材42Cによって、ステージ本体の表面に載置されると共に、真空圧によって吸着されており、上記クランプ部材は、矩形の開口46の周囲の4点で突出して設けられている。
【0054】
次に、アーム26付近でステージ本体42の側部42Bに隣接して固定されている、干渉計ミラー50Yは、X方向において細長い垂直な反射面を有しており、上記干渉計ミラーの長さは、X方向において、ステージ14の運動ストロークよりも幾分長く、Y軸干渉計からのレーザビームLBYが、上記反射面に対して直交して入射する。図2においては、レーザビームLBYは、ベース構造12の側部に固定されたミラー12Dによって、直角に曲げられている。
【0055】
図2の線3−3に関する部分的な断面図である図3を参照すると、干渉計ミラー50Yの反射面に入射するレーザビームLBYは、クランプ部材42Cに取り付けられたレティクル44の底面(パターンが形成される表面)と同じ平面に置かれる。また、図3においては、ガイド部材17のガイド面17Bに面するサポートブラケット18の端面に作用する空気軸受20も示されている。
【0056】
図1及び図2を再度参照すると、X1軸線の干渉計からのレーザビームLBX1が入射し、干渉計ミラー50X1で反射する。また、X2軸線の干渉計からのレーザビームLBX2が入射し、干渉計ミラー50X2で反射する。これら2つのミラー50X1、50X2は、コーナーキューブ型のミラーとして構成されており、ステージ14がヨー回転する場合でも、上記ミラーは、レーザビームの入射軸及び反射軸を、XY平面の中で常に平行に維持する。また、図2のブロック12Cは、レーザビームLBX1、LBX2を各々のミラー50X1、50X2に向けるためのプリズムの如き光学ブロックであり、該光学ブロックは、ベース構造12の部品に固定されている。LBYレーザビームに関する対応するブロックは図示されていない。
【0057】
図2においては、2つのレーザビームLBX1、LBX2の各々の中心線の間のY方向における距離BLは、ヨー回転の量すなわちヨー回転量を計算するために使用される基準線の長さである。従って、X1軸線の干渉計のX方向における測定値ΔX1とX2軸線の干渉計のX方向における測定値ΔX2との間の差を基準線の長さBLで割った値は、極めて小さい範囲におけるヨー回転量に概ね等しい。また、ΔX1及びΔX2の和の半分の値は、ステージ14全体のX座標位置を表す。これらの計算は、図8に示す位置制御装置16の高速デジタルプロセッサで行われる。
【0058】
更に、各々のレーザビームLBX1、LBX2の中心線は、レティクル44にパターンが形成される表面と同じ表面に設定される。レーザビームLBX1、LBX2の各々の中心線の間のスペースを半分に分割する、図2に示される線GXの延長線、及び、レーザビームLBYの延長線は、パターンが形成される表面と同じ表面の中で交差する。更に、光学軸線AX(図1及び図7参照)も、図1に示すように、上記交点を通る。図1においては、光学軸線AXを含むスリット形状の照射フィールドILSが、レティクル44の上に示されており、また、レティクル44のパターン像が、走査されて、投影光学装置PLを介して、感光性の基板に露光される。
【0059】
また、図1及び図2には、ステージ本体42の側部42Aに固定された2つの矩形状のブロック90A、90Bが設けられている。これらのブロック90A、90Bは、キャリア/従動子60に取り付けられた第2の電磁アクチュエータ70からのY方向の駆動力を受け取る。細部については後に説明する。
【0060】
ステージ本体42の両側に固定された駆動コイル54A、54Bは、XY平面に対して平坦で平行に形成され、磁気軌道56A、56BのX方向に、接触することなく伸長するスロットの磁束空間を運動する。この実施例において使用される駆動コイル54及び磁気軌道56から成るアセンブリは、市販で容易に入手可能な、汎用型のリニアモータであり、整流子を有していても有していなくても良い。
【0061】
ここで、実際の設計を考えると、レティクルステージ14の移動ストロークは大体、レティクル44のサイズ(露光のための走査を行う時に必要とされる移動量、及び、レティクルを交換するために、照射光学装置からレティクルを取り除く時に必要とされる移動量)により決定される。この実施例においては、6インチのレティクルを用いる場合には、移動ストロークは約30cmである。
上で説明したように、駆動フレーム22及びステージ14は、独立して浮揚し、ベースの表面12Aの上で支持され、同時に、磁気作用及び反力が、リニアモータ52によってのみ、X方向に互いに作用される。これにより、運動量保存の法則が、駆動フレーム22とステージ14との間に働く。
【0062】
次に、レティクルステージ14の全重量が、サポートブラケット18を含むフレーム22の全重量の約5分の1であと仮定すると、ステージ14のX方向における30cmの前進運動が、駆動フレーム22をX方向に6cm後退させる。これは、ベース構造12の上における装置の重心の位置が、X方向において実質的に固定されていることを意味する。Y方向においては、大きな重量の物体は移動しない。従って、Y方向における重心の位置の変動も、比較的少ない。
【0063】
ステージ14は、上述のように、X方向に運動することができるが、移動コイル(54A、54B)、及び、リニアモータ52の固定子は、X方向のアクチュエータがない場合には、Y方向において互いに干渉する(衝突する)。従って、本発明の特徴的な構成要素である、キャリア/従動子60及び第2の電磁アクチュエータ70が、ステージ14をY方向において制御するために設けられている。
【0064】
次に、図1、図2、図3及び図7を参照して、その構造を説明する。
図1に示すように、キャリア/従動子60は、ガイド部材17を跨いでいるフック形状のサポートブラケット62によって、Y方向に運動可能に取り付けられている。また、図2から明らかなように、キャリア/従動子60は、アーム24の上方に設けられ、ステージ14(本体42)とアーム24との間に、あるスペースを維持している。キャリア/従動子60の一端部60Eは、アーム24の上方で、実質的に内方へ(ステージ本体42に向かって)突出している。この端部部品の中では、磁気軌道56Aのスロットのスペースに入る駆動コイル68(コイル54と同じ形状)が固定されている。
【0065】
また、ブラケット62によって支持されて、ガイド部材17のガイド面17Aに面している空気軸受66A(図2、図3、図4及び図7参照)が、キャリア/従動子60のガイド部材とアーム24との間のスペースの中で固定されている。キャリア/従動子60を浮揚させて該キャリア/従動子をベースの表面12Aの上で支持する空気軸受66も、図3に示されている。
【0066】
ガイド部材17のガイド面17Bに接する空気軸受66Bも、空気軸受66Aとは反対側のフックの側部に設けられるサポートブラケット62の自由端に固定されており、上記空気軸受66Aと66Bとの間に、ガイド部材17が位置している。
【0067】
次に、図7から明らかなように、キャリア/従動子60は、磁気軌道56A及びステージ本体42に関して、それぞれY方向及びZ方向において、あるスペースを維持するように配置されている。図7には、投影光学装置PLと、ベース構造12を上記投影光学装置PLの上方に支持するためのコラムロッドCBとが示されている。そのような構造は、投影アライナーに対しては一般的であり、ベース構造12の上方の上記構造の重心の不必要な移動が、コラムロッドCBと投影光学装置PLとの間の横方向のずれを生じることがあり、従って、露光の際に、感光性の基板の上の像の歪みを生ずる。従って、ステージ14の運動が、ベース構造12の上方の重心を移動させない、本実施例の如き装置の利点は、重要である。
【0068】
また、図4を参照して、キャリア/従動子の構造を説明する。図4においては、理解を容易にするために、キャリア/従動子60が、2つの部品60A、60Bに分解されている。図4から明らかなように、キャリア/従動子60自体をX方向に動かす駆動コイル68は、キャリア/従動子60の端部60Eの下方部に固定されている。更に、空気軸受66Cが、端部60Eの底面上のベース構造12Aに面しており、キャリア/従動子60を浮揚させる役割を果たしている。
【0069】
従って、キャリア/従動子60は、2つの空気軸受66、及び、1つの空気軸受66Cの3つの点によって、Z方向において支持され、空気軸受66A、66Bによって、Y方向への移動が拘束され、X方向に運動できるようになっている。この構造において重要な点は、第2の磁気軌道アーム70が、サポートブラケット62と背中合わせの関係で配列されており、従って、上記アクチュエータが、Y方向の駆動力を発生すると、ステージ14とキャリア/従動子60との間のY方向の反力が、サポートブラケット62の中で固定された空気軸受66A、66Bに積極的に作用することである。換言すれば、アクチュエータ70及び空気軸受66A、66Bを、XY平面のY軸に対して平行な線の上に設けることにより、アクチュエータ70’が作動している時に、キャリア/従動子60を機械的に変形する恐れのある望ましくない応力が発生するのを防止する。反対に、これは、キャリア/従動子60の重量を減少させることができることを意味する。
【0070】
上で説明した図2、図4及び図6から明らかなように、駆動フレーム22の形態のアーム24の中の磁気軌道56Aは、ステージ本体42の側の駆動コイル54Aに対して、磁束をもたらし、これと同時に、キャリア/従動子60用の駆動コイル68に磁束をもたらす。空気軸受66A、66B、66Cに関しては、真空予圧型のものが好ましく、その理由は、キャリア/従動子60が軽くなるからである。真空予圧型ではなく、磁気予圧型のものも使うことができる。
【0071】
次に、図3、図5及び図7を参照して、キャリア/従動子60に設けられた第2のアクチュエータを説明する。ボイスコイルモータ70の形態の第2の電磁駆動アセンブリは、レティクルステージ14の主本体42に取り付けられたボイスコイル74と、キャリア/従動子60に取り付けられた磁石72とを備えており、該磁石は、駆動アセンブリ22によって生ずるステージ14のX方向の長い直線運動に対して直交する運動平面上で、X方向にステージ14を微小距離だけ動かす。コイル74及び磁石72の位置は、逆転させることができる。ボイスコイルモータ(VCM)70の概略的な構造が、図3及び図7に示されており、その詳細な構造は、図5に示されている。図5には、図7の矢印5で示す水平な平面において切断した、VCMの断面図が示されている。図5においては、VCM70の磁石72が、キャリア/従動子60の側に固定されている。また、VCM70のコイルは、コイル本体74Aと、その支持部品74Bとを備えており、該支持部品74Bは、2つの矩形状のブロック90A、90Bの間で堅固に伸長している接続プレート(XY平面に対して垂直なプレート)92に対して固定されている。VCM70の中央線KXは、コイル74の駆動力の方向を示しており、電流が、コイル本体74に流れると、コイル74は、その電流の方向に従って、Y方向における正の運動又は負の運動を生じ、上記電流の大きさに対応する力を発生する。一般に使用されているVCMにおいては、一般に、リング形状のダンパ又はベローズが、コイルと磁石との間に設けられ、これにより、上記コイルと磁石との間にギャップを維持するが、本発明によれば、上記ギャップは、キャリア/従動子60の追従運動によって維持され、従って、ダンパ又はベローズの如き上述のような支持要素は必要ではない。
【0072】
本実施例においては、図5に示すように、容量性のギャップセンサ13A、13Aが、位置決めセンサ13として設けられている(図8参照)。図5においては、容量性センサ用の電極が設けられ、X方向において互いに向かい合う矩形状のブロック90A、90Bの側面とVCM70のケース70’の側面との間のX方向のギャップの変化を感知する。そのような位置決めセンサ13は、キャリア/従動子60とステージ14(又は、本体42)との間のY方向のギャップの変化を感知することができる限り、どのような場所にも置くことができる。更に、センサのタイプは、光電子型、誘電型、超音波型、あるいは、空気ミクロ装置の如き、総ての非接触型のタイプとすることができる。
【0073】
図5のケース70’は、キャリア/従動子60と一体となっており、レティクルステージ14の側のいずれの部材とも接触しないように、設けられている(空間的に)。ケース70’と矩形状のブロック90A、90Bとの間のX方向(走査方向)のギャップに関しては、センサ13Aの側のギャップが大きくなると、センサ13Bの側のギャップが小さくなる。従って、センサ13Aによって測定されたギャップ値とセンサ13Bによって測定されたギャップ値との間の差は、ディジタル演算又はアナログ演算によって得られ、キャリア/従動子60用の駆動コイル68の駆動電流を制御する、直接サーボ(フィードバック)制御装置は、このギャップの差をゼロにする、サーボ駆動回路を用いて設計されており、これにより、キャリア/従動子60は、X方向の追従運動を自動的に実行し、ステージ本体42に対してあるスペースを常に維持する。また、図8の位置制御装置16の作動によって、駆動コイル68への電流の流れを制御する、間接サーボ制御装置は、センサの1つからだけ得られる測定されたギャップ値、及び、X軸干渉計から測定されたステージ14のX座標位置を用い、2つのギャップセンサ13A、13Bを差動的に用いることなく、設計することが可能である。
【0074】
図5に示すVCM70においては、コイル本体74Aと磁石72との間のX方向(非励起方向)のギャップは、実際には、約2−3mmである。従って、ステージ本体42に対するキャリア/従動子60の追従精度は、約±0.5−1mmのものが許容できる。この精度は、どの程度のステージ本体のヨー回転量が許容されるかに依存し、また、VCM70のコイル本体74AのKX方向(励起方向)の線の長さにも依存する。また、上記精度の程度は、干渉計(例えば、その干渉計の分解能が、0.01μmであると仮定して)を用いた場合の、ステージ本体42の正確な位置決め精度(±0.03μm)よりも、かなり低いものとなる。これは、従動子用のサーボ装置を、かなり簡単に設計することができ、また、従動子制御装置を装備するコストが小さくなることを意味する。また、図5の線KXは、XY平面上のステージ14全体の重心を通るように設定されており、図に示すサポートブラケット62の内側に設けられた一対の空気軸受66A、66Bの各々の重心も、XY平面の線KXの上に位置している。
【0075】
図6には、ガイド部材17と、キャリア/従動子60と、磁気軌道56Aとを備える部品を、図2の矢印6の方向から切断した、断面図が示されている。磁気軌道56Aを収容するアーム24は、空気軸受32によって、浮揚されてベースの表面12Aの上に支持されており、キャリア/従動子60は、空気軸受66によって、ベースの表面12Aの上で浮揚して支持されている。この時に、ステージ本体42の底面における空気軸受48の高さ(図3又は図7)、及び、空気軸受32の高さは、ステージ本体42の側の駆動コイル54Aを、磁気軌道56Aのスロットのスペースの中で、Z方向に2−3mmのギャップを維持するように決定される。
【0076】
キャリア/従動子60とアーム24との間のZ方向及びY方向の各々のスペースは、めったに変化することはなく、その理由は、上記キャリア/従動子及びアームは共に、共通のガイド部材17及びベースの表面12Aによって案内されているからである。また、駆動フレーム22(アーム24)の底面の空気軸受32が案内されている、ベースの表面12A上の部品と、ステージ本体の底面の空気軸受48が案内されている、ベースの表面12A上の部品との間に、Z方向の高さの差がある場合でも、そのような差が、運動ストロークの範囲内で厳密に一定している限り、磁気軌道56Aと駆動コイル54Aとの間のZ方向のギャップも一定に維持される。
【0077】
更に、キャリア/従動子60用の駆動コイル68は元々、キャリア/従動子60に固定されているので、磁気軌道56Aのスロットのスペースの中の上方及び下方に、2−3mmのギャップを維持するようになされている。駆動コイル68は、磁気軌道56Aに対して、Y方向にはめったにシフトしない。
【0078】
ステージ14上の駆動コイル54A、54Bと、ボイスコイルモータのコイル74と、キャリア/従動子駆動コイル68とに、信号を送るためのケーブル82(図2参照)が設けられており、これらケーブル82は、キャリア/従動子60及びガイド17に設けられ、従って、レティクルステージ14に与える引っぱり力を取り除いている。ボイスコイルモータ70は、ステージ14に対する機械的な外乱力の伝達を阻止することにより、バッファとして作用する。
【0079】
従って、図2及び図4を参照して、ケーブルの出力を詳細に説明する。図2に示すように、電気装置の電線、及び、空気圧及び真空装置の管(以下にケーブルと呼称する)を接続するコネクタ80が、ベース構造12の上で、ガイド部材17の一端部に設けられている。上記コネクタ80は、外部制御装置(図8に示す電気的なシステム制御装置に加えて、空気圧及び真空装置の制御装置を含む)から、フレキシブルケーブル82までのケーブル81を接続する。ケーブル82は更に、キャリア/従動子60の端部部品60Eにも接続されており、システム電線、及び、ステージ本体42に必要な空気圧及び真空装置の管が、ケーブル83として分配されている。
【0080】
上述のように、VCM70は、ケーブルの引っぱり力すなわち張力による影響を解消するように作用するが、時々、その影響が、キャリア/従動子60とステージ本体42との間に、予期しない方向のモーメントとして現れることがある。換言すれば、ケーブル82の張力は、ガイド部材17のガイド面、あるいは、ベースの表面12Aを回転させる力を、キャリア/従動子60に与え、ケーブル83の張力は、キャリア/従動子60及びステージ本体に対して、これらを相対的に回転させる力を与える。
【0081】
そのようなモーメントの1つ、すなわち、キャリア/従動子60をシフトさせるすなわち移動させる成分は、問題ではないが、ステージ本体をX方向、Y方向及びθ方向(ヨー回転方向)にシフトさせるモーメントは、アライメント、あるいは、オーバーレー精度に影響を与えることがある。X方向及びθ方向に関しては、シフトは、2つのリニアモータ(54A、56A、54B、56B)による一連の駆動によって、補正することができ、また、Y方向に関しては、シフトは、VCM70によって補正することができる。この実施例においては、ステージ14の全重量をかなり低減することができ、VCM70によるステージ14のY方向の運動の応答、並びに、X方向及びθ方向のリニアモータによる応答は、完全に非接触式のガイドレス構造と相俟って、極めて高い。また、ミクロン振動(ミクロン単位の振動)が、キャリア/従動子60に生じ、そのようなミクロン振動が、ケーブル83を介してステージ14へ伝達された場合でも、そのような振動(数Hzから数十Hzまで)は、上述の高い応答によって、十分に解消することができる。
【0082】
次に、図4は、各々のケーブルが、キャリア/従動子60でどのように分配されているかを示している。ステージ本体42用の駆動コイル54A、54B及びVCM70の駆動コイル74への各々の駆動信号、並びに、位置センサ13(ギャップセンサ13A、13B)からの感知信号が、コネクタ80からシステム電線82Aに入る。各々の空気軸受48、66への圧力ガス及び真空が、コネクタ80から、空気圧系の管82Bに入る。一方、駆動コイル54A、54Bへの駆動信号が、ステージ本体42に接続された電気系の電線83Aに入り、また、空気軸受48用の圧力ガス、及び、クランプ部材42C用の真空が、空気系のホース83Bに入る。
【0083】
また、図2に示すラインとは別に、駆動フレーム22の空気軸受20、20’、32用の空圧系のための別のラインを設けることが好ましい。また、図4に示すように、ケーブル83の張力又は振動を阻止できない場合には、ステージ本体42が受ける張力又は振動によるモーメントを、可能な限りY方向にだけ限定するように配列するようにすると良い。この場合には、上記モーメントは、極めて高い応答を有するVCMによってだけ、解消することができる。
【0084】
次に図1、図2及び図8を参照すると、レティクルステージ14の位置決めは、レーザ干渉計装置15を用いて、最初にその現在の位置を知ることにより、実行される。駆動信号が、レティクルステージの駆動コイル54A、54Bに送られ、ステージ14をX方向に駆動する。駆動に際し、差動力をレティクルステージ14の両側部42A、42Bへ与えると、レティクルステージ14は微小なヨー回転を生ずる。ボイスコイルモータ70のボイスコイル72への適宜な駆動信号が、レティクルステージ14のY方向の微小変位すなわち移動を生ずる。レティクルステージ14の位置が変化するに連れて、駆動信号が、キャリア/従動子のコイル68へ送られ、これにより、キャリア/従動子60が、レティクルステージ14に追従する。その結果生ずる、与えられた駆動力に対する反力が、磁気軌道アセンブリすなわち駆動フレーム22を、レティクルステージ14の運動とは反対の方向に動かし、これにより、装置の重心位置を実質的に維持する。カウンターウエート、あるいは、磁気軌道アセンブリ22の反動部を装置に含める必要はなく、この場合には、磁気軌道アセンブリ22を、ベース12上に固定して設けることができることは理解されよう。
【0085】
上述のように、本実施例のステージ装置を制御するために、図8に示す制御装置が設けられている。図8のこの制御装置を、以下に詳細に説明する。2つのリニアモータのそれぞれの駆動コイル54A、54Bとして構成された、X1駆動コイル、及び、X2駆動コイル、並びに、VCM70の駆動コイル72として構成された、Y駆動コイルが、レティクルステージ14に設けられており、駆動コイル68は、キャリア/従動子60に設けられている。これら各々の駆動コイルは、駆動信号SX1、SX2、SY1、SΔXに応じて、位置制御装置16によって駆動される。ステージ14の座標位置を測定するレーザ干渉計装置は、ビームすなわち光線LBYを送信/受信するX1軸干渉計と、ビームLBX2を送信/受信するX2軸干渉計とを備えており、これら干渉計は、各軸の各々の方向に関する情報IFY、IFX1、IFX2を、位置制御装置16へ送信する。位置制御装置16は、2つの駆動信号SX1、SX2を駆動コイル54A、54Bへ送信し、これにより、X方向における位置情報IFX1、IFX2の間の差が、設定値になる。すなわち、換言すれば、レティクルステージ14のヨー回転量が、設定の値に維持される。従って、露光時は言うまでもなく一旦、レティクル44がステージ本体42上でアライメントされると、ビームLBX1、LBX2、X1軸干渉計及びX2軸干渉計、位置制御装置16、及び、駆動信号SX1、SX2による、ヨー回転(θ方向における)の位置決めが常時行われる。
【0086】
また、X方向の位置情報IFX1、IFX2の合計の平均値から、ステージ14のX方向の現在の座標位置を得た制御装置16は、ホストCPU16’からの種々の命令、並びに、各パラメータに関する情報CDに基づき、駆動信号SX1、SX2を、駆動コイル54A、54Bにそれぞれ送信する。特に、走査露光が作動している時には、ヨー回転量を補正しながら、ステージ14をX方向に直線的に動かす必要があり、制御装置16は、必要に応じて、同じ又は若干異なる力を与えながら2つの駆動コイル54A、54Bを制御する。
【0087】
また、Y軸干渉計からの位置情報IFYも、制御装置16へ送信され、制御装置16は、最適な駆動信号SΔXを、キャリア/従動子60の駆動コイル68へ送信する。この時点において、制御装置16は、レティクルステージ14とキャリア/従動子60との間のX方向のスペースを測定する位置センサ13からの感知信号Spdを受信し、必要な信号SΔXを送信して、信号Spdを上述の設定値にする。キャリア/従動子60の追従精度は、それほど厳密ではなく、制御装置16の感知信号Spdも厳密に求める必要はない。例えば、各々の干渉計からの1ミリ秒毎の位置情報IFY、IFX1、IF2を読むことにより、運動を制御する時には、制御装置16の高速プロセッサ(演算装置)が、その度毎に、感知信号Spdの電流をサンプリングし、その値が、基準値に比較して、大きいかあるいは小さいかを判定する。その偏差が、ある点を超えている場合には、その偏差に比例する信号SΔXを駆動コイル68へ送信することができる。また、上述のように、駆動コイル68を直接サーボ制御し、また、位置制御装置16を経ることなく、キャリア/従動子60の追従運動を直接制御する、制御装置95を設けることもできる。
【0088】
図示の可動ステージ装置は、該可動ステージ装置をX方向において拘束するアタッチメントを何等有していないので、小さな影響が、このようなステージ装置を正のX方向又は負のX方向にドリフトすなわち変動させることがある。これは、そのようなアンバランスが過度になると、ある部品同士を衝突させることがある。上記影響としては、ケーブルの力、ベースの基準面12Aの不正確なレベリングすなわち水平度、あるいは、構成要素間の摩擦が挙げられる。1つの簡単な方法は、弱いバンパ(図示せず)を用いて、駆動アセンブリ22の過剰の移動を阻止することである。他の簡単な方法は、駆動アセンブリが、ストロークの終端付近に到達した時に、駆動アセンブリ22を案内するために使用される1又はそれ以上の空気軸受(32、20)への空気の供給を遮断することである。そのような空気軸受は、反対方向へ戻る駆動が始まった時に、作動させることができる。
【0089】
より正確な方法は、測定手段(図示せず)によって、駆動アセンブリの位置を監視し、正しい位置を回復してこれを維持するための駆動力を与えることを必要とする。そのような測定手段の精度は、厳密である必要はないが、0.1乃至1.0mm程度の精度が必要である。上記駆動力は、駆動アセンブリ22に取り付けられた別のリニアモータ(図示せず)、あるいは、上記駆動アセンブリに接続された他のモータを用いて、与えることができる。
【0090】
最後に、キャリア/従動子60の上記1又はそれ以上の空気軸受(66、66A、66B)の作動を停止し、ステージ42のアイドル期間の間に、ブレーキの役割を果たさせることができる。キャリア/従動子60のコイル68が励起されて、キャリア/従動子60がブレーキを受けた状態にある場合には、駆動アセンブリは、駆動されて加速される。従って、位置制御装置16は、駆動アセンブリ22の位置を監視する。駆動アセンブリが、位置を逸脱してドリフトすると、駆動アセンブリは、キャリア/従動子60のコイル68を間欠的に用いて、十分な精度で再度位置決めされる。
【0091】
本発明の第1の実施例においては、カウンターウエートとして機能する駆動フレーム22は、装置全体の重心位置を移動させないように設けられており、ステージ本体42とは反対の方向に動かされる。しかしながら、図1乃至図7の構造が、重心の移動すなわちシフトが大きな問題ではない装置に応用された場合には、駆動フレーム22をベース構造12と一緒に固定することもできる。そのような場合には、重心に関する問題を除くと、装置に何等変更を行うことなく、幾つかの効果及び機能を得ることができる。
【0092】
本発明は、ある平面において、3つの自由度で高精度の位置及び運動の制御を行わせるために使用できるステージを提供する。その特徴は(1)直線運動が長く、(2)そのような長い直線運動に直交する直線運動が短く、(3)ヨー回転量が少ない。このステージは、ステージドライバ(ステージ駆動装置)として、電磁力を用いることにより、周囲の構造の機械的な悪影響から絶縁される。このガイドレスステージ用の構造を用いることにより、高い制御帯域幅が得られる。これら2つの要点は、ステージの円滑且つ正確な操作を達成することに貢献する。
【0093】
好ましい実施例の説明
図1乃至図8に示す実施例の説明を念頭において、図9及び図10を参照すると、本発明の好ましい実施例が示されており、この実施例の各構成要素の参照符号の下2桁は、図1乃至図7の各構成要素の2桁の参照符号に概ね対応している。
【0094】
図9及び図10においては、上述の第1の実施例とは異なり、カウンターウエートとして機能する駆動フレームが取り除かれ、2つのリニアモータの各々の磁気軌道156A、156Bは、ベース構造112に堅固に取り付けられている。X方向に直線的に動くステージ本体142は、2つの磁気軌道156A、156Bの間に設けられている。図10に示すように、ベース構造112には、開口112Bが形成されており、ステージ本体142は、開口部分112BをY方向に跨ぐように配置されている。ステージ本体142のY方向の両端部において、4つの予圧型の空気軸受148が、底面に固定されており、上記空気軸受は、ステージ本体142を浮揚させ、ベースの表面112Aに対して支持している。
【0095】
また、本実施例によれば、レティクル144が、挟持されており、ステージ本体142の上に別個に設けられたレティクル保持プレートすなわちレティクルチャックプレート143の上で支持されている。Y軸レーザ干渉計用の直線ミラー150Y、並びに、X軸レーザ干渉計用の2つのコーナーミラー150X1、150X2が、レティクルチャックプレート143に設けられている。駆動コイル154A、154Bは、ステージ本体142のY方向の両端部において、磁気軌道156A、156Bに相対して固定されており、上述の制御サブシステムによって、ステージ本体142をX方向に直線的に動かし、極く微小な量だけヨー回転させる。
【0096】
図10から明らかなように、リニアモータの右側の磁気軌道156B、及び、リニアモータの左側の磁気軌道156Aは、これら軌道の間のZ方向の高さが異なるように配置されている。換言すれば、左側の磁気軌道156の長い軸線の方向における両端部の底面は、図9に示すように、ブロック部材155を用いてベースの表面112Aに対して、ある高さだけ上に配置されている。VCMが固定されているキャリア/従動子160は、上記上にある磁気軌道156Aの下方のスペースの中に設けられている。
【0097】
キャリア/従動子160は、一段低い高さにあるベース構造112のベースの表面112A’上に予圧型の空気軸受166(2点)によって、浮揚されて支持されている。また、ベース構造112の上に設けられた、直線的なガイド部材117の垂直なガイド面117Aに面する2つの予圧型の空気軸受164が、キャリア/従動子160の側面に固定されている。このキャリア/従動子160は、上述の実施例に関する図4に示すものとは異なっており、キャリア/従動子160用の駆動コイル168(図9)は、キャリア/従動子160の底部から垂直に伸長する部品に対して水平に固定され、且つ、磁気軌道156Aの磁束スロットの中に接触することなく設けられている。キャリア/従動子160は、運動ストロークの範囲内において、磁気軌道156Aのいずれの部分にも接触しないように配置されており、ステージ本体142をY方向において正確に位置決めするVCM170を備えている。
【0098】
また、図9においては、キャリア/従動子160を浮揚させて支持する空気軸受166が、VCM170の下に設けられている。キャリア/従動子160のステージ本体142に対する追従運動も、上述の実施例と同様に、位置センサ13からの感知信号に基づいて行われる。
【0099】
上述の如く構成された第2の実施例においては、カウンターウエートとして機能する部材が実質的に存在しないので、装置全体の重心が、ステージ本体142のX方向のシフトに応じて移動すなわちシフトするという不都合がある。しかしながら、キャリア/従動子160を用いて、接触することなく、ステージ本体142を追従することにより、VCM170による非接触型の電磁力によって、ステージ本体142をY方向に正確に位置決めすることが可能である。また、上記2つのリニアモータは、その高さ方向Zに差があるように配置されているので、各々のリニアモータによって発生された力モーメントのベクトル和が、レティクルステージ全体の重心において極めて小さくすることができるという利点があり、その理由は、各々のリニアモータの力モーメントが、互いに実質的に相殺し合うからである。
【0100】
また、VCM170の長手方向の作用軸線(図5の線KX)が、XY平面上だけではなく、Z方向においても、ステージの構造全体の重心を通るので、VCM170の駆動力が、不必要なモーメントをステージ本体142に与えることが、より困難となる。また、キャリア/従動子160を介してケーブル82、83を接続する方法は、上記第1の実施例と同じ態様で、応用することができるので、完全に非接触型のガイドレスステージに関する問題も改善される。
【0101】
同じガイドレスの原理を、別の実施例にも採用することができる。例えば、図11及び図12においては、ベース212上に支持されたステージ242は、単一の磁気軌道256の中で動く単一の可動コイル254によって、長手のX方向に駆動される。上記磁気軌道は、ベース212に堅固に取り付けられている。上記コイルの重心は、ステージ242の重心付近に位置している。ステージをY方向に動かすためには、一対のVCM(274A、274B、272A、272B)を起動し、Y方向の加速力を与える。ヨー回転すなわちヨーイングを制御するためには、コイル274A、274Bが、電子サブシステムの制御を受けて、差動的に起動される。VCM磁石(272A、272B)が、キャリア/従動子のステージ260に取り付けられている。キャリア/従動子のステージは、上述の第1の実施例と同様に、案内されて駆動される。この別の実施例は、ウエーハステージに利用することができる。レティクルステージに使用される場合には、コイル254及び軌道256の一方の側に、レティクルを設けることができ、ステージ242の重心が、コイル254及び軌道256を通るように維持する必要がある場合には、ステージ242につり合いを保つための補償開口を、レティクルとは反対側のコイル254及び軌道256の側に設けることができる。
【0102】
上記各々の実施例から得られる利点は、以下のように大まかにまとめることができる。精度を維持するために、キャリア/従動子の設計は、ステージに接続されたケーブルが、キャリア/従動子を介してステージに追従するので、該ステージ用のケーブルの張力の問題がなくなる。キャリア/従動子を外部装置に接続するケーブルは、ある量の張力を有しているが、ステージは、そのような影響を受けることはなく、その理由は、ステージに対する機械的な外乱の伝達を阻止することによって、バッファとして作用するキャリア/従動子にステージが直接、つながっていないからである。
【0103】
また、カウンターウエートの設計により、運動量保存の法則を用いて、長いストローク方向におけるステージの移動の間に、ステージ装置の重心の位置が維持される。この装置は、ステージ装置とステージ装置が取り付けられるベース構造との間の反力を実質的に排除し、これにより、大きな加速度を可能にすると同時に、装置への振動の影響を極めて小さくする。
【0104】
また、ステージは、上述のように、3つの自由度で限定された運動を行うように設計されているので、そのようなステージは、3つの自由度の総てにおいて、全範囲の運動を行うように設計されているステージに比較して、極めて簡単である。また、無整流子型の装置とは異なり、本発明は、市販の電磁要素を用いる。本発明は、ステージの寸法及びストロークが増大するに連れて、製造することが益々困難になる、特注型の電磁要素を必要としないので、本発明は、ステージの寸法又はストロークを変えることが容易である。
【0105】
単一のリニアモータを用いた場合の実施例ではもう一方のリニアモータを用いる必要はなく、2つのVCMを用いることでヨー角の補正を行なうことができる。
好ましい実施例について本発明を説明したが、本発明は、種々の別の形態を取ることができ、請求の範囲によってのみ限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の装置の概略的な斜視図である。
【図2】図1に示す装置の平面図である。
【図3】図2に示す構造を線3−3に沿って矢印の方向に見て示す立面図である。
【図4】部分的に分解された図1のキャリア/従動子の構造を、位置決めガイドから分解した状態で示す拡大斜視図である。
【図5】図7に示す構造の一部を、線5に沿って、矢印の方向に見て示す拡大水平断面図である。
【図6】図2に示す構造の一部を、ボイスコイルモータを取り除き、線6に沿って矢印の方向で見て示す拡大垂直断面図である。
【図7】図2に示す構造の一部を、線7−7に沿って、矢印の方向に見て示す垂直断面図である。
【図8】ステージの位置を制御するための感知/制御装置を概略的に示すブロックダイアグラムである。
【図9】本発明の好ましい実施例を示す、図2と同様の平面図である。
【図10】図9に示す構造を、線10−10に沿って、矢印の方向に見て示す垂直断面図である。
【図11】本発明の別の実施例を極めて簡略化して示す、図9と同様の平面図である。
【図12】本発明の更に別の実施例を極めて簡略化して示す、図10と同様の立面図である。
【符号の説明】
10 位置決め装置
12 ベース構造
14 レティクルステージ
16 位置制御装置
16’ CPU
17A、17B ガイド面
17 位置決めガイド
18 サポートブラケット
20 空気軸受
22 駆動アセンブリ(駆動フレーム)
24、26 磁気軌道アーム
32 空気軸受
42 主本体
52 電磁駆動アセンブリ
54A、54B 駆動コイル
56A、56B 磁気軌道
60 キャリア/従動子

Claims (33)

  1. 基準面の上で少なくとも第1方向にレチクルを移動するレチクルステージを備え、前記レチクルのパターンを基板に露光する露光装置において、
    (a) ベース構造に対して運動可能に設けられ、前記第1方向に移動することができるカウンターウエートと、
    (b) 前記第1方向に向かう駆動力を発生するように、前記レチクルステージに設けられた第1磁化部材と、前記カウンターウエートに設けられた第2磁化部材とを備え、前記レチクルステージを電磁的に駆動する駆動手段と、
    (c) 前記第1方向と実質的に直交する第2方向に前記レチクルステージを移動可能な電磁手段とを備え、
    前記駆動手段の励起により、前記レチクルステージと前記カウンターウエートとが、前記第1方向においてそれぞれ逆方向に移動することを特徴とする露光装置。
  2. 請求項に記載の露光装置において、前記電磁手段はコイルと磁石とを有していることを特徴とする露光装置。
  3. 請求項1または2記載の露光装置において、前記第2方向における前記レチクルステージの移動量は、前記第1方向における前記レチクルステージの移動量より小さいことを特徴とする露光装置
  4. 請求項1から3のいずれか1項記載の露光装置において、前記レチクルステージは第1流体軸受を介して前記基準面の上を移動し、前記カウンターウエートは前記第1流体軸受とは異なる位置に設けられた第2流体軸受を介して前記ベース構造の上で移動することを特徴とする露光装置。
  5. 請求項1から4のいずれか1項記載の露光装置において、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との一方はコイルであり、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との他方は磁石であることを特徴とする露光装置。
  6. 請求項1からのいずれか1項記載の露光装置において、前記レチクルステージの位置を検出するレーザ干渉計装置を備えたことを特徴とする露光装置。
  7. 請求項1からのいずれか1項記載の露光装置において、前記駆動手段は前記レチクルステージのヨーイングを補正することを特徴とする露光装置。
  8. 請求項1から7のいずれか1項記載の露光装置において、前記レチクルステージは一対の対向する側部を有し、前記駆動手段は一対の駆動アセンブリを有し、前記駆動アセンブリは前記レチクルステージの対向する側部に設けられていることを特徴とする露光装置。
  9. 請求項1からのいずれか1項記載の露光装置において、前記カウンターウエートは前記第1方向に沿ったアームを有していることを特徴とする露光装置。
  10. 請求項1からのいずれか1項記載の露光装置において、前記カウンターウエートは矩形状であることを特徴とする露光装置。
  11. 請求項1から10のいずれか1項記載の露光装置において、前記レチクルステージにはケーブルが接続されており、前記ケーブルを前記レチクルステージに追従させるキャリアを備え、前記電磁手段はコイル部材及び磁石部材を有しており、これら部材の一方を前記レチクルステージに設け、これら部材の他方を前記キャリアに設けることを特徴とする露光装置。
  12. 請求項1から11のいずれか1項記載の露光装置において、前記カウンターウエートの位置を調節するリニアモータを設けたことを特徴とする露光装置。
  13. 請求項1から12のいずれか1項記載の露光装置において、前記露光装置は、前記レチクルステージが走査されている間に前記レチクルのパターンを前記基板に露光する走査型露光装置であることを特徴とする露光装置。
  14. 基準面の上で少なくとも第1方向にレチクルを移動するレチクルステージを備え、前記レチクルのパターンを基板に露光する露光方法において、
    前記レチクルステージに設けられた第1磁化部材と、ベース構造対して運動可能なカウンターウエートに設けられた第2磁化部材とを備えた駆動手段により、前記レチクルステージを前記第1方向に動かす作用力を与えるステップと、
    前記カウンターウエートが前記作用力に応じて反対方向に動くステップと、
    電磁手段により、前記レチクルステージを前記第1方向と実質的に直交する第2方向に移動するステップとを含むことを特徴とする露光方法。
  15. 請求項14記載の露光方法において、前記電磁手段はコイルと磁石とを有していることを特徴とする露光方法。
  16. 請求項14または15記載の露光方法において、前記レチクルステージ第1流体軸受を介して前記基準面の上で移動し、前記カウンターウエート第2流体軸受を介してベース構造の上で移動することを特徴とする露光方法。
  17. 請求項14から16のいずれか1項記載の露光方法において、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との一方はコイルであり、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との他方は磁石であることを特徴とする露光方法。
  18. 請求項14から17のいずれか1項記載の露光方法において、レーザ干渉計装置により前記レチクルステージの位置を検出するステップを含むことを特徴とする露光方法。
  19. 請求項14から18のいずれか1項記載の露光方法において、前記駆動手段により前記レチクルステージのヨーイングを補正することを特徴とする露光方法。
  20. 請求項14から19のいずれか1項記載の露光方法において、前記レチクルステージは一対の対向する側部を有し、前記駆動手段は、一対の駆動アセンブリを有し、前記駆動アセンブリは、前記レチクルステージの対向する側部に設けられていることを特徴とする露光方法。
  21. 請求項14から20のいずれか1項記載の露光方法において、前記カウンターウエートは前記第1方向に沿ったアームを有していることを特徴とする露光方法。
  22. 請求項14から21のいずれか1項記載の露光方法において、前記カウンターウエートは矩形状であることを特徴とする露光方法。
  23. 請求項14から22のいずれか1項記載の露光方法において、前記レチクルステージにはケーブルが接続されており、前記ケーブルを前記レチクルステージに追従させるキャリアを備え、前記電磁手段が前記レチクルステージと前記キャリアとの間に前記第2方向の電磁力をもたらすことにより、前記ケーブルの張力が前記レチクルステージに与える影響を解消することを特徴とする露光方法。
  24. 請求項14から23のいずれか1項記載の露光方法において、前記カウンターウエートの位置をリニアモータにより調節することを特徴とする露光方法。
  25. 請求項14から24のいずれか1項記載の露光方法において、前記レチクルのパターンは、前記レチクルステージが走査されている間に前記基板に露光されることを特徴とする露光方法。
  26. 基準面の上で少なくとも第1方向に物体を移動するステージを備えたステージ装置において、
    (a) ベース構造に対して運動可能に設けられ、前記第1方向に移動することができるカウンターウエートと、
    (b) 前記第1方向に向かう駆動力を発生するように、前記ステージに設けられた第1磁化部材と、前記カウンターウエートに設けられた第2磁化部材とを備え、前記ステージを電磁的に駆動する駆動手段と、
    (c) 前記第1方向と実質的に直交する第2方向に前記ステージを移動可能な電磁手段とを備え、
    前記駆動手段の励起により、前記ステージと前記カウンターウエートとが、前記第1方向においてそれぞれ逆方向に移動することを特徴とするステージ装置。
  27. 請求項26に記載のステージ装置において、前記電磁手段はコイルと磁石とを有していることを特徴とするステージ装置。
  28. 請求項26または27記載のステージ装置において、前記ステージは第1流体軸受を介して前記基準面の上で移動し、前記カウンターウエートは前記第1流体軸受とは異なる位置に設けられた第2流体軸受を介して前記ベース構造の上で移動することを特徴とするステージ装置。
  29. 請求項26から28のいずれか1項記載のステージ装置において、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との一方はコイルであり、前記第1磁化部材と前記第2磁化部材との他方は磁石であることを特徴とするステージ装置。
  30. 請求項26から29のいずれか1項記載のステージ装置において、前記駆動手段は前記ステージのヨーイングを補正することを特徴とするステージ装置。
  31. 請求項26から30のいずれか1項記載のステージ装置において、前記ステージは一対の対向する側部を有し、前記駆動手段は一対の駆動アセンブリを有し、前記駆動アセンブリは前記ステージの対向する側部に設けられていることを特徴とするステージ装置。
  32. 請求項26から31のいずれか1項記載のステージ装置において、前記ステージにはケーブルが接続されており、前記ケーブルを前記ステージに追従させるキャリアを備え、前記電磁手段はコイル部材及び磁石部材を有しており、これら部材の一方を前記ステージに設け、これら部材の他方を前記キャリアに設けることを特徴とするステージ装置。
  33. 請求項26から32のいずれか1項記載のステージ装置において、前記カウンターウエートの位置を調節するリニアモータを設けたことを特徴とするステージ装置。
JP2002305401A 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法 Expired - Lifetime JP3804785B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US26699994A 1994-06-27 1994-06-27
US08/266999 1994-06-27

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14319095A Division JP3800616B2 (ja) 1994-06-27 1995-06-09 目標物移動装置、位置決め装置及び可動ステージ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003158073A JP2003158073A (ja) 2003-05-30
JP3804785B2 true JP3804785B2 (ja) 2006-08-02

Family

ID=23016891

Family Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14319095A Expired - Lifetime JP3800616B2 (ja) 1994-06-27 1995-06-09 目標物移動装置、位置決め装置及び可動ステージ装置
JP2002305402A Expired - Lifetime JP3804786B2 (ja) 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法
JP2002305403A Expired - Lifetime JP3804787B2 (ja) 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法
JP2002305401A Expired - Lifetime JP3804785B2 (ja) 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法
JP2006075215A Expired - Lifetime JP4135188B2 (ja) 1994-06-27 2006-03-17 位置決め装置
JP2007094076A Expired - Lifetime JP4687911B2 (ja) 1994-06-27 2007-03-30 位置決め装置及び位置決め方法

Family Applications Before (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14319095A Expired - Lifetime JP3800616B2 (ja) 1994-06-27 1995-06-09 目標物移動装置、位置決め装置及び可動ステージ装置
JP2002305402A Expired - Lifetime JP3804786B2 (ja) 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法
JP2002305403A Expired - Lifetime JP3804787B2 (ja) 1994-06-27 2002-10-21 露光装置および露光方法

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006075215A Expired - Lifetime JP4135188B2 (ja) 1994-06-27 2006-03-17 位置決め装置
JP2007094076A Expired - Lifetime JP4687911B2 (ja) 1994-06-27 2007-03-30 位置決め装置及び位置決め方法

Country Status (4)

Country Link
JP (6) JP3800616B2 (ja)
KR (7) KR100281853B1 (ja)
GB (13) GB2325566B (ja)
HK (12) HK1035432A1 (ja)

Families Citing this family (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1341044A3 (en) * 1995-05-30 2003-10-29 ASML Netherlands B.V. Positioning device with a reference frame for a measuring system
JP3659529B2 (ja) * 1996-06-06 2005-06-15 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
JPH10521A (ja) * 1996-06-07 1998-01-06 Nikon Corp 支持装置
US5821981A (en) * 1996-07-02 1998-10-13 Gerber Systems Corporation Magnetically preloaded air bearing motion system for an imaging device
US6222614B1 (en) * 1996-12-06 2001-04-24 Nikon Corporation Exposure elements with a cable-relaying support
WO1998028665A1 (en) * 1996-12-24 1998-07-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Two-dimensionally balanced positioning device with two object holders, and lithographic device provided with such a positioning device
USRE40043E1 (en) 1997-03-10 2008-02-05 Asml Netherlands B.V. Positioning device having two object holders
EP1450208A1 (en) * 1997-03-10 2004-08-25 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus having two object holders
US20010003028A1 (en) 1997-09-19 2001-06-07 Nikon Corporation Scanning Exposure Method
EP1028456A4 (en) * 1997-09-19 2003-03-05 Nikon Corp PLATINUM, SCANNING ALIGNMENT DEVICE, AND SCANNING EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURED THEREBY
JP4164905B2 (ja) * 1997-09-25 2008-10-15 株式会社ニコン 電磁力モータ、ステージ装置および露光装置
US6408045B1 (en) * 1997-11-11 2002-06-18 Canon Kabushiki Kaisha Stage system and exposure apparatus with the same
AU1051999A (en) * 1997-11-12 1999-05-31 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
AU4061099A (en) * 1998-06-17 2000-01-05 Nikon Corporation Exposure method and exposure apparatus
US6252234B1 (en) * 1998-08-14 2001-06-26 Nikon Corporation Reaction force isolation system for a planar motor
US6307284B1 (en) * 1998-09-16 2001-10-23 Canon Kabushiki Kaisha Positioning apparatus, information recording/reproducing apparatus, and inspection apparatus
AU1554901A (en) 1999-12-16 2001-06-25 Nikon Corporation Exposure method and exposure apparatus
TWI264617B (en) 1999-12-21 2006-10-21 Asml Netherlands Bv Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
EP1111469B1 (en) * 1999-12-21 2007-10-17 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a balanced positioning system
US6836093B1 (en) 1999-12-21 2004-12-28 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
TW546551B (en) * 1999-12-21 2003-08-11 Asml Netherlands Bv Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
DE60136667D1 (de) 2000-02-21 2009-01-08 Sharp Kk Präzisionsträgerplatte
US7301605B2 (en) 2000-03-03 2007-11-27 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method, catadioptric optical system and manufacturing method of devices
KR100387243B1 (ko) * 2000-06-26 2003-06-12 삼성전자주식회사 초소형 정보저장기기용 x-y 스테이지 전자 구동 장치 및그 코일 제작 방법
JP2002170765A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
JP4021158B2 (ja) * 2001-04-27 2007-12-12 株式会社新川 半導体製造装置におけるxyテーブル
JP2002343706A (ja) * 2001-05-18 2002-11-29 Nikon Corp ステージ装置及びステージの駆動方法、露光装置及び露光方法、並びにデバイス及びその製造方法
US6788385B2 (en) 2001-06-21 2004-09-07 Nikon Corporation Stage device, exposure apparatus and method
KR100391000B1 (ko) * 2001-06-30 2003-07-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 노광 장치
ATE362653T1 (de) * 2002-03-12 2007-06-15 Hamamatsu Photonics Kk Methode zur trennung von substraten
KR100937318B1 (ko) * 2002-12-02 2010-01-18 두산인프라코어 주식회사 머시닝센터 이송축의 직각도 조정장치
JP2006517055A (ja) * 2002-12-09 2006-07-13 エーシーエム リサーチ,インコーポレイティド ウェファチャックと研磨/鍍金の容器との整列の測定
KR101163435B1 (ko) 2003-04-09 2012-07-13 가부시키가이샤 니콘 노광 방법 및 장치, 그리고 디바이스 제조 방법
TW201834020A (zh) 2003-10-28 2018-09-16 日商尼康股份有限公司 照明光學裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
TWI512335B (zh) 2003-11-20 2015-12-11 尼康股份有限公司 光束變換元件、光學照明裝置、曝光裝置、以及曝光方法
KR101499405B1 (ko) 2003-12-15 2015-03-05 가부시키가이샤 니콘 스테이지 장치, 노광 장치, 및 노광 방법
JP4586367B2 (ja) * 2004-01-14 2010-11-24 株式会社ニコン ステージ装置及び露光装置
TWI412067B (zh) 2004-02-06 2013-10-11 尼康股份有限公司 偏光變換元件、光學照明裝置、曝光裝置以及曝光方法
KR101206671B1 (ko) 2004-04-09 2012-11-29 가부시키가이샤 니콘 이동체의 구동 방법, 스테이지 장치 및 노광 장치
US20080192226A1 (en) 2004-06-07 2008-08-14 Nikon Corporation Stage Unit, Exposure Apparatus, and Exposure Method
ATE535015T1 (de) 2004-09-01 2011-12-15 Nikon Corp Substrathalter, bühnenvorrichtung und belichtungsvorrichtung
JP4541849B2 (ja) * 2004-11-22 2010-09-08 キヤノン株式会社 位置決め装置
US7557529B2 (en) 2005-01-11 2009-07-07 Nikon Corporation Stage unit and exposure apparatus
US7456935B2 (en) * 2005-04-05 2008-11-25 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing a positioning device for positioning an object table
EP3232270A3 (en) 2005-05-12 2017-12-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
US7292317B2 (en) * 2005-06-08 2007-11-06 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing substrate stage compensating
US7675201B2 (en) * 2006-07-25 2010-03-09 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus with planar motor driven support
EP2068349A4 (en) * 2006-09-29 2011-03-30 Nikon Corp STAGE EQUIPMENT AND EXPOSURE DEVICE
JP5267029B2 (ja) 2007-10-12 2013-08-21 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法
US8379187B2 (en) 2007-10-24 2013-02-19 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9116346B2 (en) 2007-11-06 2015-08-25 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP4554715B2 (ja) * 2009-02-24 2010-09-29 ファナック株式会社 ケーブルクランプまたは中継する構造を備えた直線駆動装置
JP5626206B2 (ja) * 2009-05-15 2014-11-19 株式会社ニコン 移動体装置、用力伝達装置、及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JP5651035B2 (ja) * 2011-02-09 2015-01-07 株式会社ソディック 移動装置
CN102887341A (zh) * 2011-07-22 2013-01-23 大银微系统股份有限公司 悬臂式平台的横梁预拉模组
CN103522079B (zh) * 2013-09-29 2016-01-06 天津大学 双弹簧预紧柔性解耦直线电机定位平台
US9878386B2 (en) 2013-10-31 2018-01-30 Foundation Of Soongsil University-Industry Cooperation Eccentric electrode for electric discharge machining, method of manufacturing the same, and micro electric discharge machining apparatus including the same
CN103824792A (zh) * 2014-02-28 2014-05-28 上海和辉光电有限公司 一种储藏柜及控制方法
JP5912143B2 (ja) * 2014-03-04 2016-04-27 株式会社新川 ボンディング装置
JP6379612B2 (ja) * 2014-04-11 2018-08-29 株式会社ニコン 移動体装置及び露光装置、並びにデバイス製造方法
CN107664920B (zh) * 2016-07-29 2019-04-12 上海微电子装备(集团)股份有限公司 电磁导轨装置
CN109690406A (zh) * 2016-09-09 2019-04-26 Asml控股股份有限公司 光刻设备和支撑结构背景
CN110328405B (zh) * 2019-08-09 2020-09-22 佛山市镭科智能设备有限公司 一种型材的夹持控制方法
CN114043260B (zh) * 2022-01-13 2022-04-26 上海隐冠半导体技术有限公司 位移装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5208497A (en) * 1989-04-17 1993-05-04 Sharp Kabushiki Kaisha Linear driving apparatus
NL9100407A (nl) * 1991-03-07 1992-10-01 Philips Nv Optisch lithografische inrichting met een krachtgecompenseerd machinegestel.
JPH0529442A (ja) * 1991-07-18 1993-02-05 Toshiba Corp テ−ブル装置
US5285142A (en) * 1993-02-09 1994-02-08 Svg Lithography Systems, Inc. Wafer stage with reference surface
JPH07260472A (ja) * 1994-03-22 1995-10-13 Nikon Corp ステージ装置の直交度測定方法
US5528118A (en) * 1994-04-01 1996-06-18 Nikon Precision, Inc. Guideless stage with isolated reaction stage
JPH08229759A (ja) * 1995-02-24 1996-09-10 Canon Inc 位置決め装置並びにデバイス製造装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100281853B1 (ko) 2001-04-02
GB2325563A (en) 1998-11-25
GB2329518B (en) 1999-06-02
GB2325564A (en) 1998-11-25
GB2329516B (en) 1999-06-02
KR100281857B1 (ko) 2001-02-15
GB2290658A (en) 1996-01-03
HK1025842A1 (en) 2000-11-24
GB2329520B (en) 1999-06-02
JP3804786B2 (ja) 2006-08-02
HK1025841A1 (en) 2000-11-24
GB2329067B (en) 1999-06-02
GB9817490D0 (en) 1998-10-07
GB2325565A (en) 1998-11-25
GB2290658B (en) 1999-03-24
GB2329521B (en) 1999-06-02
KR100281858B1 (ko) 2001-02-15
GB2325566A (en) 1998-11-25
GB9817493D0 (en) 1998-10-07
GB2325563B (en) 1999-03-24
KR100281855B1 (ko) 2001-02-15
HK1025840A1 (en) 2000-11-24
GB2329522B (en) 1999-06-02
HK1026767A1 (en) 2000-12-22
JP4687911B2 (ja) 2011-05-25
GB2329517B (en) 1999-06-02
JP2003197519A (ja) 2003-07-11
KR960002519A (ko) 1996-01-26
GB2329522A (en) 1999-03-24
JP2007242034A (ja) 2007-09-20
JP3800616B2 (ja) 2006-07-26
KR100281860B1 (ko) 2001-02-15
GB2329067A (en) 1999-03-10
KR100281859B1 (ko) 2001-02-15
JPH0863231A (ja) 1996-03-08
GB9512659D0 (en) 1995-08-23
GB2329516A (en) 1999-03-24
GB9817492D0 (en) 1998-10-07
GB9817494D0 (en) 1998-10-07
GB2325565B (en) 1999-03-31
GB2329521A (en) 1999-03-24
GB2329517A (en) 1999-03-24
HK1035430A1 (en) 2001-11-23
GB2329520A (en) 1999-03-24
HK1035432A1 (en) 2001-11-23
HK1035433A1 (en) 2001-11-23
KR100281856B1 (ko) 2001-02-15
JP2006258817A (ja) 2006-09-28
HK1026766A1 (en) 2000-12-22
GB2325566B (en) 1999-03-31
JP2003197518A (ja) 2003-07-11
GB9825844D0 (en) 1999-01-20
GB9817491D0 (en) 1998-10-07
GB2329519B (en) 1999-06-02
GB2329519A (en) 1999-03-24
JP4135188B2 (ja) 2008-08-20
HK1017824A1 (en) 1999-11-26
GB2325564B (en) 1999-03-24
JP2003158073A (ja) 2003-05-30
HK1035435A1 (en) 2001-11-23
JP3804787B2 (ja) 2006-08-02
HK1032291A1 (en) 2001-07-13
HK1035431A1 (en) 2001-11-23
GB2329518A (en) 1999-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3804785B2 (ja) 露光装置および露光方法
US6693402B2 (en) Electromagnetic alignment and scanning apparatus
EP0244012B1 (en) Positioning device
US20030173833A1 (en) Wafer stage with magnetic bearings
US20040004703A1 (en) Method and apparatus for reducing rotary stiffness in a support mechanism
WO2001081171A1 (en) Wafer stage with magnetic bearings

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051205

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060419

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060502

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160519

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term