JP3801835B2 - セラミックヒータの製造方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はグロープラグ等に使用されるセラミックヒータとその製造方法とに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、セラミックグロープラグ等に使用されるセラミックヒータとして、絶縁性のセラミック基体に対し、セラミック導電材料等で構成された抵抗発熱体を埋設した構造を有するものが知られている。セラミック基体としては、窒化珪素質セラミックが耐熱衝撃性や高温強度に優れていることから広く用いられている。
【0003】
ところで、窒化珪素質セラミックも他の多くのセラミックと同様、焼結助剤を添加することが行われている。焼結助剤は焼成時に溶融して液相を形成し、焼結体の緻密化を促進するとともに、得られるセラミック焼結体中において、窒化珪素質主相を結合する粒界相を形成する役割を果たす。そして、窒化珪素質セラミックの製造に使用される焼結助剤としては、酸化マグネシウム(MgO)系やアルミナ(Al)とイットリア(Y)との共添加系が多く使用されてきた。しかしながら、これらの焼結助剤は、焼成により形成される粒界相が軟化点の低いガラス質となりやすく、焼結体の高温強度、特に1200℃以上での強度が損なわれやすい欠点がある。また、希土類酸化物とシリカとの共添加系は粒界相を結晶化でき、焼結体の高温強度の向上に寄与するが、焼成時に生ずる液相の流動性が悪いため焼結速度が低下し、焼結ムラひいては室温強度のばらつきを生じやすい問題がある。
【0004】
そこで、特許第2735721号公報には、希土類酸化物とともにアルミナを共添加した窒化珪素質セラミックをセラミックヒータに使用する発明が開示されている。この構成によれば、Alの添加により焼結速度を適度に改善しつつ、粒界相の強化も図ることができるものと思料される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特許公報の技術では、セラミック焼結体の全体にわたってAlの添加がなされるため、粒界相の軟化点はどうしても低くなりがちであり、結局のところ高温強度の低下が避けがたい問題点があった。また、Al成分がAlの状態で含有されていることも、粒界相のガラス化を助長しやすく、高温強度改善の観点において不利に作用するものと考えられる。
【0006】
本発明の課題は、Al成分添加による窒化珪素質セラミック基体の高温強度低下を抑制しつつ、室温強度のばらつき等も少なくすることができるセラミックヒータと、その製造方法とを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段及び作用・効果】
上記の課題を解決するために、本発明のセラミックヒータの第一の構成は、窒化珪素質セラミック基体(以下、単にセラミック基体あるいは基体ともいう)中に抵抗発熱体を埋設した構造を有するとともに、前記窒化珪素質セラミック基体の表層部に、内層部よりもAl成分濃度の高いAl成分濃化層が形成されていることを特徴とする。
【0008】
上記の構成によれば、セラミック基体の表層部にのみAl成分濃化層を形成することで、仮にそのAl成分が粒界相の軟化点を低下させる作用を有していたとしても、その存在領域が焼結体のセラミック基体の表層部に限られていることから、高温強度の低下を生じにくい。また、Al成分濃化層の形成により、セラミック基体表層部における窒化珪素質主相(以下、単に主相ともいう)粒子の成長が抑制され、破壊の起点となりうる異常成長した粒子が生じにくくなることから、強度、特に室温強度のばらつきを生じにくくなる。
【0009】
Al成分濃化層の厚さは、例えば50〜1000μmとなっているのがよい。厚さが50μm未満では窒化珪素質セラミック基体の室温強度のばらつき抑制効果が不十分となる場合があり、1000μm以上では、同じく高温強度が十分に確保できなくなる場合がある。Al成分濃化層の厚さは、より望ましくは50〜500μmとするのがよい。また、Al成分濃化層中の平均的なAl成分濃度は、0.1〜5重量%であるのがよい。Al成分濃度が0.1重量%未満では、セラミック基体表層部における主相粒子の成長抑制効果が不十分となって室温強度のばらつきにつながる可能性があり、5重量%を超えると、Al成分濃化層自体の高温強度不足を招き、十分な強度改善効果を達成できなくなる場合がある。
【0010】
また、Al成分濃化層における主相粒子の成長抑制効果が十分に達成されれば、これに対応して、窒化珪素質主相の平均粒径が、内層部における窒化珪素質主相の平均粒径よりも小となる特有の組織が得られることとなる。この場合、Al成分濃化層における窒化珪素質主相の平均粒径が0.1〜1μmであり、内層部の窒化珪素質主相の平均粒径が0.2〜5μmであるのがよい。いずれも、平均粒径がその下限値未満となることは、これを実現するための原料粉末の調製が困難となり、上限値を超えるとセラミック基体の強度不足等につながる場合がある。また、Al成分濃化層中の主相結晶粒子の最大値は10μm以下となっていることが、破壊起点形成を抑制する観点において望ましい。なお、本明細書において、粒子径は、断面組織上で観察される結晶粒子の外形線に対し、その外形線と接しかつ粒子内を横切らないように2本の平行線を、その粒子との位置関係を変えながら各種引いたときの、上記平行線間の距離の最大値として定義する。
【0011】
窒化珪素質セラミック基体の組織は、例えば、窒化珪素を主成分とするSi相粒子が、後述の焼結助剤成分に由来した粒界相(結合相)により結合された形態のものである。なお、主相は、β化率が70体積%以上(望ましくは90体積%以上)のSi相を主体とするものであるのがよい。この場合、Si相は、SiあるいはNの一部が、Alあるいは酸素で置換されたもの、さらには、相中にLi、Ca、Mg、Y等の金属原子が固溶したものであってもよい。例えば、次の一般式にて表されるサイアロンを例示することができる;
β−サイアロン:Si6−zAl8−z(z=0〜4.2)
α−サイアロン:M(Si,Al)12(O,N)16(x=0〜2)
M:Li,Mg,Ca,Y,R(RはLa,Ceを除く希土類元素)。なお、本明細書において、「主成分」(「主体」あるいは「主に」等も同義)とは、特に断りがない限り、着目している物質において含有率が50重量%以上であることを意味する。
【0012】
セラミック基体中のAl成分は、主にAl以外の無機化合物形態にて存在していることが望ましい。具体的には、上記のように珪素成分を置換する形で主相中に取り込まれること、あるいは粒界相中に存在する場合でも、窒化物や酸窒化物の形態、あるいは他の焼結助剤成分との複合窒化物、複合酸化物あるいは複合酸窒化物等の形で存在しているのがよい。これにより、粒界相のガラス化抑制、あるいは、主相の結晶粒成長抑制の効果をさらに高めることができ、セラミック基体の高温強度の低下抑制に効果的である。なお、上記の効果は、Al成分のセラミック基体表層部への濃化が生じているか否かとは無関係に発現しうる。本発明のセラミックヒータの第二の構成は、Al成分を含有した窒化珪素質セラミック基体中に抵抗発熱体を埋設した構造を有するとともに、Al成分が窒化珪素質セラミック基体中にて主に、Al以外の無機化合物形態にて存在していることを特徴とする。
【0013】
次に、焼結助剤成分は、主に結合相を構成するが、一部が主相中に取り込まれることもありえる。なお、結合相中には、焼結助剤として意図的に添加した成分のほか、不可避不純物、例えば窒化珪素原料粉末に含有されている酸化珪素などが含有されることがある。
【0014】
焼結助剤成分は、例えば希土類成分のほか、本発明の効果が損なわれない範囲にて、SiやAlなど、周期律表の4A、5A、3B及び4Bの各族の元素成分を使用できる。これらは、原料段階にて主に酸化物の形で添加することができる。そして、得られる窒化珪素質セラミック基体中における焼結助剤成分の含有量は、上記各元素単体の換算重量にて、3〜15重量%とすることができる。焼結助剤成分が3重量%未満では緻密な焼結体が得にくくなり、15重量%を超えると強度や靭性あるいは耐熱性の不足を招くことがある。焼結助剤成分の含有量は、望ましくは6〜10重量%とするのがよい。
【0015】
なお、希土類成分としては、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luを用いることができる。これらのうちでもTb、Dy、Ho、Er、Tm、Ybは、粒界相の結晶化を促進し、高温強度を向上させる効果があるので好適に使用できる。また、Al成分添加との相乗効果により、主相結晶粒子の異常成長を抑制する効果が一層高められ、室温強度のばらつきをより効果的に抑制することができる(特に、希土類元素としてTb、Dy、Ho、Er、Tm、Ybの1種又は2種以上を用いた場合に顕著である)。その理由としては、上記希土類元素の存在により、Al成分がAl以外の無機化合物形態にて存在しやすくなることが推測される。該効果は、セラミック基体中のAl成分含有量が0.1〜5重量%であり、希土類成分含有量が3〜15重量%である場合に、一層顕著に発揮される。
【0016】
焼結助剤成分としての希土類成分は、Siとの複合酸化物形態にて存在していることが、粒界相の結晶化を促進する上で一層望ましい。具体的には、希土類成分をRとして、上記複合酸化物は、RSiO及び/又はRSiの形で含有されているのがよい。これらの複合酸化物が結晶質にて含有されているか否かは、例えば、X線ディフラクトメータ法による回折パターン測定や、あるいは透過電子顕微鏡法による制限視野回折法など、各種公知の結晶解析方法にて確認することができる。
【0017】
なお、粒界相の結晶化を促進するためには、主相形成に関与しない過剰な酸化珪素成分が必要十分な量だけ含有されている必要がある。この過剰酸化珪素成分が、例えば前述の複合酸化物の結晶生成を促進する。該過剰酸化珪素成分の含有量は、以下に説明するような過剰酸素量によって見積もることができる。すなわち、セラミック基体中の珪素を除く焼結助剤成分(Alを除く)の含有量と、全酸素含有量とを求め、さらに、焼結助剤成分が全て酸化物として存在するために必要な酸素量を上記全酸素含有量から差し引いた残りの酸素量を、過剰酸素量として定義する。そして、希土類成分を焼結助剤成分として使用することによる前述の効果は、その過剰酸素量がSiO換算した値にて、1〜10重量%となっていることが望ましい。SiO換算した過剰酸素量が1重量%未満では、焼結性が損なわれる場合があり、逆に10重量%を超えると、粒界相の軟化点が下がって高温強度が損なわれる場合がある。
【0018】
次に、Al成分濃化層は、セラミック基体の表面に近づくほどAl成分濃度が高くなる組成傾斜構造を有しているものとして形成することができる。この構成によれば、Al成分濃化層と内層部との間に組成的な不連続境界部が生じにくくなり、セラミック基体の強度を一層高めることができる。
【0019】
なお、Al成分濃化層においてAl成分濃度に傾斜が生じている場合、Al成分濃化層の厚さtは、図11に示すように定義する。すなわち、窒化珪素質セラミック基体の表面から深さ方向xにおいて、Al成分の濃度変化曲線:
C=F(x)‥‥(1)
を測定し、さらに、(1)の曲線から、基体表面でのAl成分の重量含有濃度レベルをC0と、基体内部の平均的なAl成分の重量含有濃度レベルCBとを求め、
C=CB+0.5(C0−CB)‥‥(2)
を算出する(CBがほぼゼロとなることもありうる)。そして、x−C平面上にて、曲線(1)と直線(2)との交点B(曲線(1)に生じているノイズ等の影響により、交点が複数生ずる場合は、その最も表面寄りのものを採用する)を求め、点Bのx座標の値を上記の厚さtとして定める。Al成分の濃度変化曲線は、例えば基体断面において上記のx方向に分析線ALを定め、その分析線ALに沿って電子線プローブ微小分析(EPMA)による線分析を行うことにより測定できる。この場合、濃度変化曲線は、分析線ALに沿ったAl成分の特性X線強度の変化プロファイルとして得られる。なお、本明細書においては、Al成分の特性X線強度は濃度に比例して増大するものと考える。
【0020】
Al成分濃化層内にAl成分濃度の傾斜構造を生じさせる場合、層表面位置でのAl成分の重量含有濃度をC0とし、また、基体中のAlの平均的な重量含有濃度をCBとしたときに、CB/C0(以下、傾斜度ともいう)が0.9以下となっていることが望ましい。
【0021】
Al成分濃化層を有した上記のセラミックヒータは、以下のような本発明の製造方法により製造できる。すなわち、該方法は、窒化珪素質セラミック基体の成形体又は仮焼体の表面に、Al成分源物質を接触させた状態にて、成形体又は仮焼体を焼成することにより、得られる窒化珪素質セラミック基体の表層部に、内層部よりもAl成分濃度の高いAl成分濃化層を形成することを特徴とする。この方法では、基体の表面側からAl成分を拡散させることによりAl成分濃化層を容易に形成でき、また、焼成工程とAl成分濃化層の形成工程とを兼用できるので能率もよい。また、得られる層中のAl濃度の調整も容易である。さらに、Al成分の一方向的な拡散により、組成傾斜構造も容易に得られる利点がある。
【0022】
上記の焼成は、例えば、成形型のキャビティ内面にAl成分源物質を含有した被覆層を形成し、その成形型を用いて成形体又は仮焼体をホットプレス成形することにより行うことができる。この場合、Al成分源物質を含有した被覆層に離型剤成分を含有させておくと、離型剤の塗布により、結果的にAl成分源物質の被覆も同時に行うことができ、工程の短縮を図ることができる。
【0023】
なお、セラミック基体中のAl成分を、前述のようにAl以外の無機化合物の形で含有させるために、酸素分圧(例えば不純物として含有されるもの)が0.01〜100Pa、窒素分圧が約5×10Pa(約0.5気圧)以上の窒素雰囲気にて、1700℃以上に設定される焼成温度にて焼成する条件を選択することができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に示す実施例を参照しつつ説明する。
図1は、本発明に製造方法によって製造されるセラミックヒータを使用したグロープラグを、その内部構造とともに示すものである。すなわち、グロープラグ50は、その一端側に設けられたセラミックヒータ1と、そのセラミックヒータ1の先端部2が突出するようにその外周面を覆う金属製の外筒3、さらにその外筒3を外側から覆う筒状の金属ハウジング4等を備えており、セラミックヒータ1と外筒3との間及び外筒3と金属ハウジング4との間は、それぞれろう付けにより接合されている。
【0025】
セラミックヒータ1の後端部には、金属線により両端が弦巻ばね状に形成された結合部材5の一端が外側から嵌合するとともに、その他端側は、金属ハウジング4内に挿通された金属軸6の対応する端部に嵌着されている。金属軸6の他方の端部側は金属ハウジング4の外側へ延びるとともに、その外周面に形成されたねじ部6aにナット7が螺合し、これを金属ハウジング4に向けて締めつけることにより、金属軸6が金属ハウジング4に対して固定されている。また、ナット7と金属ハウジング4との間には絶縁ブッシュ8が嵌め込まれている。そして、金属ハウジング4の外周面には、図示しないエンジンブロックにグロープラグ50を固定するためのねじ部5aが形成されている。
【0026】
セラミックヒータ1は、図2に示すように、U字状のセラミック抵抗発熱体(以下、単に発熱体という)10を備え、その各両端部に線状又はロッド状の電極部11及び12の先端部が埋設されるとともに、発熱体10と電極部11及び12の全体が、円形断面を有する棒状の窒化珪素質セラミック基体13中に埋設されている。発熱体10は、方向変換部10aがセラミック基体13の末端側に位置するように配置されている。
【0027】
セラミック基体13は、例えばSi粉末に、ErやYb等の焼結助剤粉末を3〜15重量%の範囲で添加・混合して焼結したものであり、図10(d)に示すように、その表層部には、内層部よりもAl成分濃度の高いAl成分濃化層2sが形成されている。この、Al成分濃化層は、前記セラミック基体の表面に近づくほどAl成分濃度が高くなる組成傾斜構造を有している。
【0028】
また、発熱体10は、例えば導電性セラミック粉末としてのWCあるいはMoSi粉末とSi粉末との混合粉末に対し、セラミック基体13に使用されたものと同様の焼結助剤成分を、0.8〜10.5重量%の範囲で添加・混合して焼結したものであり、その焼結体組織は、Si系基質(マトリックスセラミック相)中にWCあるいはMoSi系粒子が分散したものとなっている。一方、電極部11及び12は、W、W−Re、Mo、Pt、Nb、Ta、ニクロム等の金属線で構成される。
【0029】
図2において、セラミック基体13の表面には、その電極部12の露出部12aを含む領域に、ニッケル等の金属薄層(図示せず)が所定の方法(例えばメッキや気相製膜法など)により形成され、該金属薄層を介してセラミック基体13と外筒3とがろう付けにより接合されるとともに、電極部12がこれら接合部を介して外筒3と導通している。また、電極部11の露出部11aを含む領域にも同様に金属薄層が形成されており、ここに結合部材5がろう付けされている。このように構成することで、図示しない電源から、金属軸6(図1)、結合部材5及び電極部11を介して発熱体10に対して通電され、さらに電極部12、外筒3、金属ハウジング4(図1)、及び図示しないエンジンブロックを介して接地される。
【0030】
以下、セラミックヒータ1の製造方法について説明する。まず、図3(a)に示すように、発熱体10に対応したU字形状のキャビティ32を有した金型31に対し電極材30を、その一方の端部が該キャビティ32内に入り込むように配置する。そしてその状態で、WCあるいはMoSi粉末、Siを主成分とする粉末及び焼結助剤粉末とからなる原料セラミック粉末と、バインダ(有機結合剤)とを含有するコンパウンド33を射出することにより、同図(b)に示すように、電極材30とU字状の発熱体成形体34とが一体化された一体成形体35を作成する。なお、発熱体成形体34はほぼ円形の軸断面を有するように形成される。
【0031】
一方これとは別に、セラミック基体13を形成するための原料粉末を予め金型プレス成形することにより、図4(a)に示すような、上下別体に形成された分割予備成形体36,37を用意しておく。これら分割予備成形体36,37は、上記一体成形体35に対応した形状の凹部38がその合わせ面39aに形成されている。次いで、この凹部38に一体成形体35を収容し、分割予備成形体36,37を該型合わせ面39aにおいて型合わせする。そして、図5(a)に示すように、その状態でこれら分割予備成形体36,37及び一体成形体35を、金型61のキャビティ61a内に収容し、パンチ62,63を用いてプレス・圧縮することにより、図5(b)及び図6(a)に示すように、これらが一体化された複合成形体39が形成される。ここで、そのプレス方向は、分割予備成形体36,37の合わせ面39aに対しほぼ直角に設定される。
【0032】
こうして得られた複合成形体39は、まず原料粉末中のバインダ成分等を除去するために所定の温度(例えば約600℃)で仮焼され、図6(b)に示す仮焼体39’とされる(なお、仮焼体は、広義の意味において複合成形体であるとみなす)。続いて図5(b)に示すように、この仮焼体39’が、グラファイト等で構成されたホットプレス用成形型65,65のキャビティ65a,65aにセットされる。
【0033】
ここで、キャビティ65aの内面にはAl成分源物質を含んだ離型剤が塗布される。例えば、図8(a)に示すように、溶媒(例えばエタノール)中に離型剤粉末70(例えば窒化硼素(BN)の微粉末)とAl成分源粉末71(例えばアルミナ粉末)とを、分散剤とともに配合して塗布用懸濁液SLを作る。そして、これを図8(b)に示すように、刷毛80等により手動塗布したり、あるいはスプレーノズル80により噴霧塗布したりすることができる。塗布後、溶媒を蒸発・乾燥させることにより、離型剤粉末70とAl成分源粉末71との複合塗布層72が形成される。
【0034】
なお、塗布用懸濁液SLは、均一塗布性と、必要な塗布層厚さとが確保できるように、離型剤粉末70とAl成分源粉末71とが主体となる固形分の体積含有率を3〜20%としておくことが望ましい。ここで、形成すべき複合塗布層72の厚さは、離型性と形成されるべきAl成分濃化層の厚さ確保のために、25〜100μm程度に設定するのがよい。また、離型剤粉末70とAl成分源粉末71との合計含有量に対するAl成分源粉末71の含有比率も、同様の観点により10〜80重量%の範囲にて調整するのがよい。さらに、焼結時のAl成分拡散を均一に進行させる観点において、Al成分源粉末71は平均粒径が0.5〜10μm程度のものを使用するのがよい。
【0035】
上記のように複合塗布層72を形成した成形型65にセットされた仮焼体39’は、図5(b)に示すように、焼成炉64(以下、単に炉64という)内で両成形型65及び66の間で加圧されながら所定の焼成保持温度(1700℃以上:例えば約1800℃前後)で焼成されることにより、図6(c)に示すような焼成体70となる。このとき、図4(b)に示す発熱体成形体34が発熱体10を、分割予備成形体36,37がセラミック基体13をそれぞれ形成することとなる。また、各電極材30はそれぞれ電極部11及び12となる。
【0036】
そして、図10(a)に示す複合塗布層72中のAl成分源粉末からは、同図(b)に示すように、焼結体70側にAl成分が拡散し、表面側でAl成分濃度が高くなるように組成傾斜したAl成分濃化層70sが形成される。焼成は、不純物酸素分圧を0.01〜100Paとした常圧の窒素を導入して焼成温度(例えば1800℃)まで昇温し、該雰囲気中にて焼成保持する条件を例示できる。
【0037】
図12は、Al成分濃化層70s中のセラミック組織の一例をごく模式的に示したものである。複合塗布層72側から拡散してくるAl成分は、例えば窒化珪素質の主相中の珪素成分と置換して、Si−Al複合窒化物(あるいは酸窒化物)を形成したり、あるいは粒界相中にても他の焼結助剤成分との複合窒化物、複合酸化物あるいは複合酸窒化物等、主にアルミナ以外の無機化合物を形成したりする。他方、焼結助剤が希土類成分Rを含有する場合は、RSiO及び/又はRSi等の珪素との結晶質複合酸化物が形成される。いずれにしろ、Al成分が、粒界相のガラス化を促進しやすいアルミナではなく、主相表面を覆う複合窒化物や複合酸窒化物、あるいは粒界相中に分散した結晶質の複合無機化合物等の形態で存在することで、焼成時の主相結晶粒子の成長が抑制され、強度ばらつきを起こしやすい局所粒成長した組織が生じにくくなる。
【0038】
上記焼成により、仮焼体39’は、図6(b)に示すように、分割予備成形体36及び37の合わせ面39aに沿う方向に圧縮されながら焼成体70となる。そして、図6(c)に示すように、発熱体成形体34の直線部34bは、その円状断面が上記圧縮方向につぶれるように変形することにより、楕円状断面を有した発熱体10の直線部10bとなる。他方、図10(b)に示すように、成形型65のキャビティ65aに形成した複合塗布層は、Al成分が焼結体70側に拡散して離型剤成分が残留し、離型層75となる。これにより、図10(c)に示すように、焼結体70をキャビティ65aから簡単に離脱させることができる。
【0039】
得られた焼結体70は、外周面に研磨等の加工を施すことにより、セラミック基体13の断面が円形に整形されて最終的なセラミックヒータ1となる。ここで、Al成分濃化層70sは、研磨後においても必要十分な厚さのAl濃化層2sを確保できるよう、研摩代を考慮して形成厚さを調整しておく必要がある。
【0040】
なお、Al成分源粉末は、仮焼体の外面に塗布してもよい。例えば、図9に示すように、Al成分源粉末を懸濁させた懸濁液SLを仮焼体39’に塗布し、乾燥することにより、Al成分源粉末の塗布層73を形成することができる。なお、この塗布層73中には離型剤粉末は含有されていても、含有されていなくてもいずれでもよい。後者の場合は、成形型側に離型剤を塗布しておくことが望ましい。また、懸濁液SLは、ここでは浸漬により塗布しているが、スプレー塗布など他の方法を用いてもよいことはもちろんである。
【0041】
なお、図7に示すように、セラミック基体粉末の成形体に対し、導電性セラミック粉末のペーストを用いて発熱体形状をパターン印刷し、これを焼成することによりその印刷パターンを焼結して、抵抗発熱体10とするようにしてもよい。また、抵抗発熱体は、WやW−Re等の高融点金属にて構成してもよい。
【0042】
【実験例】
セラミック基体用原料粉末は下記のようにして調製した。すなわち、平均粒径0.7μmのSi粉末に対し、表1に示す配合比率にて各種焼結助剤粉末を配合し、これをボールミルにて湿式粉砕した。そして、これに所定量のバインダを添加した後、スプレードライ法により乾燥させてセラミック基体用原料粉末とした。一方、発熱体用原料粉末は以下のように調整した。まず、平均粒径1μmのWC粉末55質量%、窒化珪素(Si)粉末40質量%、焼結助剤としてのEr粉末5質量%(ただし、WC粉末、窒化珪素粉末及びEr粉末の合計を100質量%とする)を配合し、ボールミルを用いて溶媒とともに50hr湿式混合して乾燥後、有機結合剤としてのポリプロピレン及びワックスを添加してコンパウンドを作成し、ペレット造粒した。そして、この造粒ペレットを用いて図3(a)に示すように射出成形し、同図(b)に示す一体成形体35を作成した。
【0043】
次いで上記原料粉末を用いて前述の方法により、図4(a)に示す分割予備成形体36,37を作成し、さらにこれと前述の一体成形体35とを前述の方法により一体プレス成形して、図5(a)及び図6(a)に示す複合成形体39を形成した。この複合成形体39を約600℃で仮焼して図6(b)に示す仮焼体39’とし、これをホットプレス焼成した。そして、本発明の実施例品である番号9の試験品については、平均粒径1μmのBN粉末を質量にて50部に対し、平均粒径2μmのアルミナ粉末を質量にて50部配合し、これをエタノール中に懸濁させた塗布用懸濁液をホットプレス成形型のキャビティ内面に塗布して乾燥することにより、厚さ約50μmの複合塗布層を形成した。なお、焼成は、焼成温度を1800℃、加圧力300kgf/cm、焼成キープ時間を30分に設定するとともに、焼成雰囲気は、不純物酸素分圧を0.01〜100Paとした常圧の窒素を導入して1800℃まで昇温し、該雰囲気中にて焼成保持するようにした。
【0044】
番号9の試験品については、軸線と直交する断面により切断して表面を研摩し、EPMAにより各元素の分布状態を調べた。図13にその結果を示している。(a)はAl、(b)はО(酸素)の特性X線の強度マッピングであり、いずれも画像上部に円弧状の試験品断面外形輪郭が現れている。領域中、白っぽく現れている部分が特性X線強度の強い領域、すなわち成分濃度の高い領域である。(a)から明らかなように、試験品(窒化珪素質セラミック基体)の表層部には、明らかにAl成分の濃化した領域、すなわちAl成分濃化層が認められ、さらに、Al濃度は内層側に向かうほど減少する組成傾斜構造が形成されていることがわかる。なお、別途行ったEPMAによる線分析の結果から、図11に定義したAl成分濃化層の平均的な厚さは約280μmであった。
【0045】
さらに、図14(a)は内層部の、同図(b)はAl成分濃化層の走査型電子顕微鏡(SEM)観察像である。これによると、Al成分濃化層のほうが内層部よりも結晶粒子が微細化していることがわかる。なお、(a)の画像から推定される内層部の結晶粒子(主相)の平均粒径は約0.36μm、最大粒径は5μmであり、(b)の画像から推定されるAl成分濃化層の結晶粒子(主相)の平均粒径は約0.28μm、最大粒径は約2.5μmである。
【0046】
次に、Al成分濃化層においてAl成分がAlの形で存在しているならば、該層において、これに対応した酸素成分の濃化が観察されるはずであるが、図13の(a)と(b)とを比較することにより、そのような酸素の濃化は特に見られないことがわかる。またEPMAの線分析を利用して、より詳細にО濃度の分布を調査したところ、Al成分濃化層では内層部よりもО濃度がむしろ減少していることが判明した。これらの実験事実は、Al成分がAl以外の無機化合物として存在していることを示唆するものである。
【0047】
また、図15は、セラミック基体の表面に入射X線としてCuのKα1線(波長:約1.54Å)を入射させたときの、ディフラクトメータ法によるX線回折測定の結果である。これによると、主相であるβ−Siのほかに、ErとSiとの複合酸化物の結晶が存在していることがわかる。
【0048】
以上のようにして得られた各セラミックヒータは、セラミック基材の外周面を外径3.50mmとなるように研摩し(研磨面の算術平均粗さ:0.1μm)、室温(試験品数N=10)及び1400℃(試験品数N=5)にて3点曲げ抗折試験を行った(スパン長:12mm、クロスヘッド速度:0.5mm/分)。なお、試料番号9については、研磨後においてもAl成分濃化層が平均厚さにて約280μm残存していた。以上の結果を表1に示す。
【0049】
【表1】
Figure 0003801835
【0050】
この結果から以下のことがわかる。まず、Al−Y系焼結助剤を用いたものは、いずれも1400℃での高温強度が著しく低くなっている(番号1,2)。また、Er−SiO系焼結助剤を用いたものは、室温強度の最小値が低く、ばらつきが大きい(番号3〜5)。さらに、Er−SiO−Al系焼結助剤を用いたものは、室温強度のばらつきは小さいが、高温強度が伸び悩んでいることがわかる(番号6〜8)。しかしながら、本発明品である番号9においては、高温強度も十分高く、かつ室温強度のばらつきも小さくなっていることがわかる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のセラミックヒータを採用したグロープラグの一例を示す正面部分断面図。
【図2】そのセラミックヒータの正面断面図。
【図3】セラミックヒータの製造工程説明図。
【図4】図3に続く工程説明図。
【図5】図4に続く工程説明図。
【図6】複合成形体及び焼成体の断面形状変化を示す模式図。
【図7】本発明のセラミックヒータの別実施例を示す断面図。
【図8】本発明のセラミックヒータ製造方法の一実施例における、その特徴部分を、変形例とともに示す工程説明図。
【図9】仮焼体にAl成分源粉末の塗布層を形成する方法を示す工程説明図。
【図10】本発明のセラミックヒータ製造方法の一実施例における作用説明図。
【図11】Al成分濃化層の厚さの定義を示す説明図。
【図12】本発明のセラミックヒータの窒化珪素質セラミック基体の組織の一例を示す模式図。
【図13】実験例における発明品断面のAl及びОのEPMA二次マッピング画像。
【図14】実験例における発明品断面の内層部と表層部とのSEM観察画像に基づく組織スケッチ。
【図15】実験例における発明品の表層部のX線回折プロファイル。
【符号の説明】
1 セラミックヒータ
2a Al成分濃化層
13 窒化珪素質セラミック基体

Claims (3)

  1. 焼結助剤成分として希土類成分を含有する窒化珪素質セラミック基体中に抵抗発熱体を埋設した構造を有するセラミックヒータの製造方法において、前記窒化珪素質セラミック基体の成形体又は仮焼体の表面に、Al成分源物質を接触させた状態にて、前記成形体又は仮焼体を焼成することにより、得られる窒化珪素質セラミック基体の表層部に、内層部よりもAl成分濃度の高いAl成分濃化層を形成するセラミックヒータの製造方法において、
    前記焼成を、成形型のキャビティ内面に前記Al成分源物質を含有した被覆層を形成し、その成形型を用いて前記成形体又は仮焼体をホットプレス成形することにより行うことを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
  2. 前記Al成分源物質を含有した被覆層は離型剤成分を含有する請求項1記載のセラミックヒータの製造方法。
  3. 焼結助剤成分として希土類成分を含有する窒化珪素質セラミック基体中に抵抗発熱体を埋設した構造を有するセラミックヒータの製造方法において、前記窒化珪素質セラミック基体の仮焼体の外面に、Al成分源物質を接触させた状態にて、前記仮焼体を焼成することにより、得られる窒化珪素質セラミック基体の表層部に、内層部よりもAl成分濃度の高いAl成分濃化層を形成するセラミックヒータの製造方法において、
    前記焼成を、前記仮焼体の表面に前記Al成分源物質と離型剤とを含有した被覆層を形成し、該仮焼体をホットプレス成形することにより行うことを特徴とするセラミックヒータの製造方法。
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