JP3778566B2 - 広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン - Google Patents
広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン Download PDFInfo
- Publication number
- JP3778566B2 JP3778566B2 JP51962696A JP51962696A JP3778566B2 JP 3778566 B2 JP3778566 B2 JP 3778566B2 JP 51962696 A JP51962696 A JP 51962696A JP 51962696 A JP51962696 A JP 51962696A JP 3778566 B2 JP3778566 B2 JP 3778566B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- nfet
- power supply
- electronic circuit
- output terminal
- bipolar transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/133—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
- H03H11/02—Multiple-port networks
- H03H11/26—Time-delay networks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
本発明はデジタル回路の分野、特に広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーンに関するものであるが、これに限定されるものではない。
発明の背景
多くの低電圧デジタル回路は、約2.3ボルトから約3.6ボルトまでのような比較的広い範囲の電源電位に亘って動作させる必要がある。デジタル集積回路をこれらの低電圧分野に適合するように設計するのは困難である。その理由は、集積回路の動作が電源電位に応じて可成り変化する為である。特に、スタティックパワーが零の簡単な低電圧デジタル回路を形成するのが困難である為、設計補正技術が必要となる。このような技術の1つでは、電源電位が低くなった際の速度の損失を補償するために、電源電位が低くなると“オン”状態に一層長く保つ単安定マルチバイブレータ、すなわち“ワンショット”を用いている。しかし、電源電位が低くなった際に、最大繰返し周波数を比較的一定に保って可成り長いパルスを発生する“ワンショット”を設計するのには問題がある。
発明の目的
本発明の目的は、電源電圧変動により最大切換周波数が殆ど影響されないかほんのわずかしか影響されない論理回路を提供せんとするにある。本発明の他の目的は、処理パラメータの広がりに対するよりも電源電圧変動に感応しない論理回路を提供せんとするにある。
発明の概要
この目的のために、本発明は、論理回路を有する電子回路において、前記論理回路が、
-2進入力信号を受ける入力端子と、
-2進出力信号を生じる出力端子と、
-前記入力端子及び出力端子間に並列に配置された第1及び第2信号路と
を具え、
-前記第1信号路が、直列接続のPFET及び第1NFETを有する非対称の第1CMOS論理ゲートを具え、PFETが第1NFETよりも可成り大型であり、PFET及び第1NFETの共通ノードが前記出力端子に接続されており、
-前記第2信号路が、第1バイポーラトランジスタを有するBiCMOSプルダウン回路を具え、前記第1バイポーラトランジスタの主電流通路は前記出力端子に接続され、この第1バイポーラトランジスタのベース電極は制御電流を受け、前記プルダウン回路が入力信号に応答してこの第1バイポーラトランジスタのベース電極に制御電流を供給するように動作し、この制御電流は、電子回路の電源ノードにおける電源電圧が低くなるにつれて小さくなるようになっていることを特徴とする電子回路を提供する。
本発明は、高レベルから低レベルへの又は低レベルから高レベルへの遷移の少なくとも1つを実行するのに要する時間が電源電圧レベルの変動に感応しなければ、伝搬遅延を平均で一定に保つことができるという認識を基に成したものである。例えば本発明によるデジタル遅延チェーンでは、電源電位変動に対する感度が一方向での切換時において他方向での切換時におけるよりも高くなる。その結果、電源電位の変動による集積回路動作の変化が補償され、最大繰返しすなわち切換周波数は電源電位が降下しても殆ど減少しなくなる。
本発明によれば、電源電位の変動に対する感度が処理パラメータの変動に対する感度よりも可成り大きくなったBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供するのが好ましい。
本発明によれば、論理回路が、2進入力信号を受ける入力端子と、2進出力信号を生じる出力端子とを有する。第1及び第2信号路は入力端子と出力端子との間に並列に配置する。第1信号路は直列接続のPFET及びNFETを有する非対称の第1CMOS論理ゲートを有する。PFETはNFETよりも可成り大型とし、出力端子にはPFETとNFETとの共通ノードが接続される。第2信号路は、第1バイポーラトランジスタを有するBiCMOSプルダウン回路を具え、この第1バイポーラトランジスタの主電流通路は出力端子に接続され、この第1バイポーラトランジスタのベース電極には制御電流が供給される。プルダウン回路は入力信号に応答して第1バイポーラトランジスタのベース電極に制御電流を供給するよう動作する。制御電流は、電子回路の電源ノードにおける電源電圧(VCC)が低くなるにつれて低くなる。
本発明の電子回路は遅延チェーンとして用いるのが好ましい。本発明のBiCMOSデジタル遅延チェーンを低電圧集積回路分野に用いると、変動する電源電位に対する集積回路動作の一貫性を可成り高める。最適には、前記の他方向ではなく前記の一方向に切換えた際に電源電位感度を高くして、電源電位の変動時に最大繰返し周波数がほぼ一定に維持されるようにしたデジタル遅延チェーンを形成するのが望ましい。更に、デジタル遅延チェーンは、製造処理パラメータの変動に対するよりも電源電位の変動に対して大きな遅延感度を程するようにする必要がある。
【図面の簡単な説明】
図面と関連する以下の詳細な説明を読むことにより本発明を更に完全に理解しうるであろう。図面中、
図1Aは、従来のデジタル遅延チェーンを示し、
図1Bは、図1Aのデジタル遅延チェーンに用いるのに適した従来のCMOSインバータを示し、
図2は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第1実施例を示す線図であり、
図3は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第2実施例を示し、
図4は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第3実施例を示す。
好適実施例の説明
一般的な形態のデジタル遅延回路は図1Aに示すように、簡単なCMOSインバータのチェーンを以って構成しうる。図1Aにおいては、2つのCMOSインバータU1及びU2が入力端子IN及び出力端子OUT間に直列に接続されている。一例として2つのインバータを示してあるが、所望の遅延量や反転出力信号を望むか非反転出力信号を望むかに応じて用いるインバータの個数を異ならせることができること明らかである。
従来及び本発明の双方のデジタル遅延チェーンに用いるのに適した簡単な従来のCMOSインバータ段を図1Bに示す。他の図で用いるインバータU1〜U5に相当するCMOSインバータは、電源端子VCCと大地との間に直列に接続されたNFETトランジスタNO及びPFETトランジスタPOを有する。これら2つのFETのゲートは互いに且つ入力端子INに接続され、直列路中のこれら2つのFETの共通接続点はインバータ出力端子OUTとして機能する。
図1Aに示すCMOSデジタル遅延チェーンでは、インバータU1,U2への電源電位が低下すると、信号がこのデジタル遅延チェーンを経て伝搬する時間が増大する。これらインバータのしきい値が互いに等しいものとすると、高レベル信号の伝搬時間は低レベル信号の伝搬時間にほぼ等しくなり、これら双方の伝搬遅延は電源電位の変動に応じてほぼ等しく増大したり減少したりする。
しかし、広い範囲の電源電位に亘って動作するように設計した低電圧適用分野の場合、電源感度をできるだけ高めるのが望ましい。これを達成するのは、図1Aに示す従来のCMOSインバータのデジタル遅延チェーンによっては困難である。その理由は、電源感度を高めると処理感度が同等に(且つ不所望に)高まる為である。
広い電源電位範囲に亘って動作するのに適した本発明による低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン10の第1実施例を図2に示す。この回路は、入力端子(IN)と出力端子(OUT)との間に結合された第1及び第2信号路を有し、第1信号路が直列接続の2つのインバータU1及びU2より成っている。第2信号路は1つのCMOSインバータU3を有し、その入力端が入力端子INに結合され、その出力端がバイポーラトランジスタQ1のベースに結合されている。バイポーラトランジスタQ1、この場合NPNトランジスタの主電流通路がNFETトランジスタN1と直列に結合されてBiNMOSインバータ回路を形成しており、トランジスタN1のゲートが入力端子INに接続されている。トランジスタQ1及びN1間の共通接続点における、BiNMOSインバータの出力端子はNFETトランジスタN2のゲートに接続され、このトランジスタN2は、NFETトランジスタN3及びNPNバイポーラトランジスタQ2と相俟ってBiCMOSプルダウン回路を構成する。トランジスタN2の主電流路はトランジスタN3の電流路と直列に接続され、これらの共通接続点がトランジスタQ2のベースに結合されている。トランジスタQ2のコレクタにおけるBiCMOSプルダウン回路の出力端はトランジスタN3のゲート及びトランジスタN2のドレインに接続され、この共通接続点が出力端子OUTに結合されている。トランジスタN1及びN3のソースとトランジスタQ2のエミッタとは接地され、トランジスタQ1のコレクタは電源端子VCCに接続されている。図2に示す回路の、重要度の低い細部は本発明の精神及び範囲を逸脱することなく変更することができ、例えばトランジスタN3のゲートを図示の代りにトランジスタN1のゲートに接続することができ、さもなければトランジスタN3を簡単な抵抗と置き代えることもできる。
図2に示す回路は、処理感度を著しく高めることなく電源感度を高くしうるとともに、一方向に切換わる際の電源感度を他方向におけるよりも著しく高くし、これにより電源電位が減少した際の繰返し周波数を比較的高く維持しうるようにしたBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。図1Aの2インバータチェーンU1,U2は、インバータU2のしきい値が極めて高くなるように変更して(この変更は例えば図1BにおけるNFETトランジスタNOをPFETトランジスタPOよりも小型にすることにより達成される)、第1信号路中に用いられている。
動作中、入力端子INへの入力が高レベルから低レベルに遷移すると、入力信号は双方の並列信号路を経て伝搬する。電源電位が比較的高い(例えば代表的な低電圧適用分野で3.6ボルトである)場合、BiNMOS回路はトランジスタN2のゲートをそのゲート−ソース電圧が比較的大きくなるように充分高い電位に引き上げ、これにより第2信号路におけるトランジスタN2がトランジスタQ2のベースに充分な電流を供給して出力端子OUTにおいて迅速な高レベル−低レベル遷移が得られるようにする。電源電位が、代表的な低電圧適用分野で約2.3ボルトまで減少すると、トランジスタQ1はもはやトランジスタN2のゲートを充分高い電位に引き上げることができず、従ってこのトランジスタN2は、トランジスタQ2の動作による迅速な高レベル−低レベル遷移を生ぜしめるのに充分な電流をこのトランジスタQ2のベースに供給することができない。この場合、低電圧状態での高レベル−低レベル遷移は第1信号路中のCMOSインバータU2のNFETトランジスタNOによって行なわれる。トランジスタNOは比較的小型の装置である為、回路がその電源電位範囲の低電位側で動作している場合には出力端子における高レベル−低レベル遷移は長くかかる。一方、低レベル−高レベル遷移は電源電圧の低電位側及び高電位側の双方でCMOSインバータU2の比較的大型のPFETトランジスタPOにより行なわれ、従って電源電圧の変動にそれほど感応しない。従って、本発明の回路は、その出力端子における高レベル−低レベル遷移中電源電圧変動に著しく感応するとともに低レベル−高レベル遷移中電源電位の変動に実質的に感応しないBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。更に、本発明の回路の処理感度は図1Aに示す簡単なデジタル遅延チェーンに比べて実質的に生じない。
本発明の他の回路構成を図3及び4に示す。図3におけるBiCMOSデジタル遅延チェーン12の構成は図2に示す回路のものに類似しているも、インバータU2の入力端がトランジスタQ1のベース−エミッタ通路を経てインバータU3の出力端に結合されている。従って、第1信号路には図2におけるように2つの信号反転が導入されるも、インバータU3が第1及び第2信号路の双方に対する第1インバータとして作用し、従って図2におけるような別のインバータU1の必要性を無くし、これにより、得られる回路を簡単化する。他のあらゆる点において、図3の回路は図2の回路と同じである。図面に示す主題に関する変更は可能であり、例えば図2のインバータU1がインバータU2及びトランジスタQ1のベースの双方を制御するようにした場合には、図2のインバータU3を省略しうる。
図4は、BiCMOSデジタル遅延チェーン14が、追加のインバータ段と直列に接続された図2に示すような回路を有する実施例を示す。従って、本例の入力端子INはCMOSインバータU4の入力端に接続され、このインバータU4の出力端がCMOSインバータU1及びU3の入力端に接続され、インバータU2の出力端とトランジスタQ2のコレクタとがCMOSインバータU5の入力端に接続され、このインバータU5の出力端が出力端子OUTに接続されている。反転出力を得るか或いは非反転出力を得るかに応じて、又、遅延量を所望のものにするために、回路の入力端子及び出力端子の双方におけるインバータの個数を他の個数にすることができることに注意すべきである。例えば、インバータU4又はU5のいずれか1つのみを用いることにより、或いは他のいずれかの奇数個のインバータを用いることにより、出力信号を反転形態にしたり、入力信号の遅延変更を行なったりする。更に、インバータU4の出力端とインバータU5の入力端との間の図4の回路部分を、図示のように図2の回路とせずに、図3の回路を以って構成することができる。
本発明によれば、電源電位の変動による集積回路の動作の変更を補償したり、電源電位が降下した際に最大繰返し周波数が著しく減少しないようにするために、電源電位変動に対する感度を、一方向に切換わる場合の方が他方向に切換わる場合よりも大きくするBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。更に本発明によれば、電源電位の変動に対する感度が処理パラメータの変動に対する感度よりも可成り大きくなったBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。
図示の回路は特に遅延チェーンとして用いるのが適しているも、これに限定されるものではないことに注意すべきである。
本発明を特にその数個の好適実施例につき図示し、説明したが、形態及び細部の種々の変更を本発明の精神及び範囲を逸脱することなく行なうことができること当業者にとって明らかである。
Claims (7)
- 論理回路を有する電子回路において、前記論理回路が、
-2進入力信号を受ける入力端子と、
-2進出力信号を生じる出力端子と、
-前記入力端子及び出力端子間に並列に配置された第1及び第2信号路と
を具え、
-前記第1信号路が、直列接続のPFET及び第1NFETを有する非対称の第1CMOS論理ゲートを具え、PFETが第1NFETよりも可成り大型であり、PFET及び第1NFETの共通ノードが前記出力端子に接続されており、
-前記第2信号路が、第1バイポーラトランジスタを有するBiCMOSプルダウン回路を具え、前記第1バイポーラトランジスタの主電流通路は前記出力端子に接続され、この第1バイポーラトランジスタのベース電極は制御電流を受け、前記プルダウン回路が入力信号に応答してこの第1バイポーラトランジスタのベース電極に制御電流を供給するように動作し、この制御電流は、電子回路の電源ノードにおける電源電圧が低くなるにつれて小さくなるようになっていることを特徴とする電子回路。 - 請求の範囲1に記載の電子回路において、前記BiCMOSプルダウン回路が、
-前記入力端子にゲート入力端が接続されている第2CMOS論理ゲートと、
-他のバイポーラトランジスタであって、そのベース電極が前記第2CMOS論理ゲートのゲート出力端に接続され、この他のバイポーラトランジスタの主電流通路が前記電源ノードに接続されている当該他のバイポーラトランジスタと、
-第2NFETであって、その制御電極に入力信号が供給され、この第2NFETの主電流通路が前記他のバイポーラトランジスタの主電流通路と直列に接続されている当該第2NFETと、
-第3NFETであって、その制御電極が前記他のバイポーラトランジスタ及び前記第2NFETの主電流通路間の共通ノードに接続されており、この第3NFETの主電流通路が前記出力端子と前記第1バイポーラトランジスタのベース電極との間に接続されている当該第3NFETと
を具えていることを特徴とする電子回路。 - 請求の範囲2に記載の電子回路において、前記第1CMOS論理ゲートの入力端が前記他のバイポーラトランジスタ及び前記第2NFETの主電流通路間の前記共通ノードに接続されていることを特徴とする電子回路。
- 請求の範囲2に記載の電子回路において、前記入力端子と前記第1CMOS論理ゲートのゲート入力端との間に第3CMOS論理ゲートが配置されていることを特徴とする電子回路。
- 請求の範囲2に記載の電子回路において、前記第1CMOS論理ゲートのゲート入力端が前記第2CMOS論理ゲートのゲート出力端に接続されていることを特徴とする電子回路。
- 請求の範囲1に記載の電子回路において、前記入力端子又は前記出力端子に少なくとも1つの他のCMOS論理ゲートが接続されていることを特徴とする電子回路。
- 遅延チェーンとして動作する請求の範囲1〜6のいずれか一項に記載の電子回路。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/355,568 US5563543A (en) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | Low-voltage BiCMOS digital delay chain suitable for operation over a wide power supply range |
US08/355,568 | 1994-12-14 | ||
PCT/IB1995/001014 WO1996019868A1 (en) | 1994-12-14 | 1995-11-16 | LOW-VOLTAGE BiCMOS DIGITAL DELAY CHAIN SUITABLE FOR OPERATION OVER A WIDE POWER SUPPLY RANGE |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09511892A JPH09511892A (ja) | 1997-11-25 |
JP3778566B2 true JP3778566B2 (ja) | 2006-05-24 |
Family
ID=23397922
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51962696A Expired - Fee Related JP3778566B2 (ja) | 1994-12-14 | 1995-11-16 | 広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5563543A (ja) |
EP (1) | EP0745286B1 (ja) |
JP (1) | JP3778566B2 (ja) |
KR (1) | KR100350820B1 (ja) |
DE (1) | DE69523740T2 (ja) |
WO (1) | WO1996019868A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6734809B1 (en) * | 1999-04-02 | 2004-05-11 | Think Outside, Inc. | Foldable keyboard |
US8436670B2 (en) | 2011-01-13 | 2013-05-07 | Micron Technology, Inc. | Power supply induced signal jitter compensation |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2593894B2 (ja) * | 1987-11-16 | 1997-03-26 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US4933574A (en) * | 1989-01-30 | 1990-06-12 | Integrated Device Technology, Inc. | BiCMOS output driver |
US4934745A (en) * | 1989-08-14 | 1990-06-19 | Senninger Irrigation, Inc. | Flexible hose coupling |
JPH03121618A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-23 | Toshiba Corp | 出力回路 |
US5079447A (en) * | 1990-03-20 | 1992-01-07 | Integrated Device Technology | BiCMOS gates with improved driver stages |
US5068548A (en) * | 1990-05-15 | 1991-11-26 | Siarc | Bicmos logic circuit for basic applications |
KR930006228B1 (ko) * | 1990-07-20 | 1993-07-09 | 삼성전자 주식회사 | 신호지연회로 |
US5243237A (en) * | 1992-01-22 | 1993-09-07 | Samsung Semiconductor, Inc. | Noninverting bi-cmos gates with propagation delays of a single bi-cmos inverter |
US5430398A (en) * | 1994-01-03 | 1995-07-04 | Texas Instruments Incorporated | BiCMOS buffer circuit |
-
1994
- 1994-12-14 US US08/355,568 patent/US5563543A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-11-16 JP JP51962696A patent/JP3778566B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-16 DE DE69523740T patent/DE69523740T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-16 WO PCT/IB1995/001014 patent/WO1996019868A1/en active IP Right Grant
- 1995-11-16 KR KR1019960704512A patent/KR100350820B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-11-16 EP EP95936051A patent/EP0745286B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69523740T2 (de) | 2002-08-01 |
JPH09511892A (ja) | 1997-11-25 |
EP0745286B1 (en) | 2001-11-07 |
WO1996019868A1 (en) | 1996-06-27 |
US5563543A (en) | 1996-10-08 |
KR100350820B1 (ko) | 2002-12-28 |
KR970701450A (ko) | 1997-03-17 |
DE69523740D1 (de) | 2001-12-13 |
EP0745286A1 (en) | 1996-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4777389A (en) | Output buffer circuits for reducing ground bounce noise | |
US6188244B1 (en) | Hysteresis input buffer | |
JPH05129930A (ja) | 高速パスゲート、ラツチ及びフリツプフロツプ回路 | |
EP0293833A2 (en) | Output circuit having wide range frequency response characteristic | |
US5900745A (en) | Semiconductor device including input buffer circuit capable of amplifying input signal with low amplitude in high speed and under low current consumption | |
US5214317A (en) | CMOS to ECL translator with incorporated latch | |
JPH0746098A (ja) | 遅延回路 | |
JP3436400B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH10163855A (ja) | レベル変換回路 | |
KR100263667B1 (ko) | 슈미트 트리거 회로 | |
US5485110A (en) | ECL differential multiplexing circuit | |
US5311075A (en) | Level shifting CMOS integrated circuits | |
JP3778566B2 (ja) | 広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン | |
JPH02268515A (ja) | Bicmosロジツク回路 | |
JP2542457B2 (ja) | Ttl/cmosレベル変換器 | |
JPH0482319A (ja) | 論理回路 | |
JP3487631B2 (ja) | ドライバ回路を具える電子回路 | |
JP2880298B2 (ja) | BiCMOSマルチプレクサ及び論理ゲート及びこれを使用する加算器 | |
EP0523747A1 (en) | Latch circuit | |
US5446400A (en) | GTL compatible BICMOS input stage | |
KR0135012B1 (ko) | 차동 논리회로 | |
KR930011437A (ko) | 전력소모를 감소시키는 기능을 갖는 바이폴라-상보형 금속 산화물 반도체(bicmos) 트랜지스터 트랜지스터 논리(ttl)회로 | |
JPH023328B2 (ja) | ||
KR100243263B1 (ko) | Rc 오실레이터용 슈미트트리거 회로 | |
JPH04230120A (ja) | 差動eclバス3状態検出受信機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050607 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050905 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20051017 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060131 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060228 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100310 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110310 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |