JPH05129930A - 高速パスゲート、ラツチ及びフリツプフロツプ回路 - Google Patents

高速パスゲート、ラツチ及びフリツプフロツプ回路

Info

Publication number
JPH05129930A
JPH05129930A JP4088503A JP8850392A JPH05129930A JP H05129930 A JPH05129930 A JP H05129930A JP 4088503 A JP4088503 A JP 4088503A JP 8850392 A JP8850392 A JP 8850392A JP H05129930 A JPH05129930 A JP H05129930A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
mos
circuit
coupled
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4088503A
Other languages
English (en)
Inventor
Michael G Ward
ジー. ワード マイケル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Semiconductor Corp
Original Assignee
National Semiconductor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Semiconductor Corp filed Critical National Semiconductor Corp
Publication of JPH05129930A publication Critical patent/JPH05129930A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/012Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
    • H03K3/356147Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit using pass gates
    • H03K3/356156Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit using pass gates with synchronous operation

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 クロック信号から最終出力データ信号へのデ
ータ信号伝搬時間を減少させ、且つ最終出力端における
スイッチング遷移速度を増加させ、さらに、出力駆動電
流を増加させる。 【構成】 ラッチ及びフリップフロップに使用するBI
CMOSパスゲート回路PSGT3が、負荷容量C
過渡的充電のためのバイポーラプルアツプトランジンス
タQ1およびバイポーラプルダウントランジスタQ3を
組込んでいる。このバイポーラ出力回路は、トランスペ
アレント動作モードにおいて、パスゲート入力端V′
INにおけるデータ信号に応答して、パスゲート出力端
OUTにおけるシンク用及びソース用駆動電流のβ増
幅及び増加したシンク用及びソース用出力駆動電流を与
える。MOS入力論理回路はQP,QP,QP
QP,NAND1が、トランジスタQ1及びQ3を制
御する。出力ラッチバック回路LTBK2が出力データ
信号をラッチする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、クロック信号から出力
信号への信号伝搬遅延を減少させた新規なパスゲート、
ラッチ及びフリップフロップ回路に関するものである。
本発明は、例えば、非同期的入力データ信号を蓄積し且
つ同期された出力データ信号をクロック動作させるため
に使用されるオクタルフリップフロップ及びラッチなど
のような並列結合されたラッチ可能バッファ内に組込む
ことが可能である。本発明は、特に、大きな「幾何学的
形状」の出力バッファを駆動し且つ比較的大きな出力負
荷容量を駆動するフリップフロップ及びラッチ可能バッ
ファに適している。本発明は、BICMOS集積回路製
造プロセスに適用可能であり、且つ増加させたソース及
びシンク出力駆動電流で出力負荷容量を充電及び放電す
るためにMOS入力論理回路とバイポーラ出力回路とを
結合している。
【0002】
【従来の技術】第一及び第二ラッチ回路により形成した
従来のD型フリップフロップ回路を図1に示してある。
第一ラッチは、データ信号を受取るための第一入力端V
INと、トランスペアレント(透明)動作モードでデータ
信号を伝達する第一出力端n1と、非反転第一出力ノー
ドn1におけるデータ信号をラッチするMOS第一ラッ
チバック回路LTBK1とを具備するMOS第一パスゲ
ートPSGT1により与えられている。LTBK1の反
転出力端は、ノードn2において与えられている。第二
ラッチは、第一ラッチバック回路LTBK1から反転出
力端n2へ結合されている第二入力端と最終の出力端へ
結合されている負荷容量CL を充電及び放電する第二及
び最終出力端(VOUT )を具備するMOS第二パスゲー
ト回路PSGT2により与えられている。MOS第二ラ
ッチバック回路LTBK2が、最終出力端におけるデー
タ信号をラッチするために第二出力端VOUT へ結合され
ている。
【0003】クロック信号CP_(尚、本明細書におい
ては、英文字記号の後にアンダーラインを付した記号
は、図面中における英文字記号の上にオーバーラインを
付したものと同一である)が高電圧レベルにあると、ク
ロック信号CPは低電圧レベルにある。パスゲートNM
OSトランジスタ要素QN1及びPMOSトランジスタ
要素QP1は、両方とも、導通状態であり、且つ第一パ
スゲートPSGT1はトランスペアレント即ち透明な動
作モードにある。従って、第一入力端VINに印加される
データ信号は、第一出力端n1に表われ、且つCMOS
インバータ段INV2,INV1により与えられるラッ
チバック回路LTBK1によりラッチされる。反転され
たデータ信号は、第二パスゲートPSGT2へ入力を供
給するノードn2における第一ラッチバック回路LTB
K1によりラッチされる。
【0004】クロック信号CP_が高であり且つCPが
低であると、パスゲートNMOSトランジスタ要素QN
2及びPMOSトランジスタ要素QP2は非導通状態で
あり、且つ第二パスゲート回路PSGT2はブロッキン
グモードにある。クロック信号がCP_低及びCP高へ
スイッチすると、第二パスゲート回路PSGT2はトラ
ンスペアレント即ち透明状態となり、ノードn2から反
転されたデータ信号を第二出力端VOUT へ通過させ、そ
こで、第二ラッチバック回路LTBK2によりラッチさ
れる。LTBK2のMOSインバータ段INV3,IN
V4が結合されて、VOUT においてデータ信号の非反転
ラッチを与える。従って、VOUT における最終的出力デ
ータ信号は、第一入力端VINにおける対応する入力デー
タ信号に関して反転される。
【0005】クロック信号CP_及びCPが、図2に示
したクロックバッファにより、元のクロック信号CLK
から派生される。フリップフロップ又はラッチ可能バッ
ファ回路の速度は、元のクロック信号CLKの発生から
最終出力端VOUT における出力高又は低電圧レベルデー
タ信号の発生までに測定されるスタンダードな信号伝搬
遅延時間である。図1のフリップフロップ回路の欠点
は、スタンダードな測定方法に従っての信号伝搬遅延時
間TP CLK/VOUT は、RC時定数に依存し且つそれ
により遅延される。RC時定数の容量は、出力ラッチバ
ック回路LTBK2のCMOSインバータゲートINV
4に関連する容量及び負荷容量CL である。負荷容量C
L は、例えば、最終出力端VOUT に結合された次の段と
関連している。RC時定数における抵抗は、その寸法、
従って第二パスゲートトランジスタ要素QN2,QP2
及びCMOSインバータゲートINV2の駆動トランジ
スタ要素の電流担持能力に逆比例する。
【0006】IC幾何学的形状におけるレイアウト面積
が問題でない場合には、パスゲートPSGT2のパスゲ
ートトランジスタ要素QN2,QP2の寸法及びCMO
SインバータゲートINV2のプルアップ及びプルダウ
ントランジスタ要素の寸法を、所望の伝搬遅延TP
LK/VOUT が達成されるまで増加される。しかしなが
ら、パスゲートトランジスタ要素の寸法が増加すると、
クロックパルス信号CP及びCPにより充電及び放電さ
れる容量負荷も増加する。究極的に、パスゲートトラン
ジスタ要素のゲート電極を充電及び放電するのに必要と
される時間のために、図2のクロックバッファの動作時
間は遅滞化される。更に、より大型のトランジスタの幾
何学的形状に対して付加的なICレイアウト空間が必要
とされる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
とするところは、クロック信号から最終出力データ信号
へのデータ信号伝搬時間TP CLK/VOUT を減少さ
せ且つ最終出力端におけるスイッチング遷移速度を増加
させた新規なパスゲート、ラッチ及びフリップフロップ
回路及び一般的なラッチ可能バッファ回路を提供するこ
とである。本発明の別の目的とするところは、出力負荷
容量充電及び放電時間を減少させ且つ出力端におけるス
イッチング遷移速度を増加させるためにパスゲート、ラ
ッチ及びフリップフロップの出力端におけるシンク(吸
い込み用)及びソース(供給用)出力駆動電流を増加さ
せることである。本発明の更に別の目的とするところ
は、ICコンポーネント面積を従来の全てのMOSパス
ゲートに対して必要とされるもの以下に維持しながら出
力駆動電流を増加させるMOS及びバイポーラの両方の
技術の利点を組込んだBICMOSパスゲート回路を提
供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、パスゲ
ート出力端における負荷容量の過渡的充電及び放電のた
めにパスゲート出力端に結合されたバイポーラプルダウ
ントランジスタ要素及びバイポーラプルアップトランジ
スタ要素を具備するバイポーラ出力回路を有するパスゲ
ート回路が提供される。バイポーラ出力回路の利点は、
それが、トランスペアレント動作モードにおいてパスゲ
ート入力端におけるデータ信号に応答して、パスゲート
出力端におけるスイッチング遷移期間中に増加したシン
ク用及びソース用出力駆動電流を供給するということで
ある。更に、バイポーラプルダウントランジスタ要素
は、出力端におけるHL遷移に対するシンク用電流のβ
増幅を与える。
【0009】本発明によれば、MOS入力論理回路がパ
スゲート入力端へ結合されており且つ選択したクロック
信号に応答してパスゲートのトランスペアレント及びブ
ロッキング動作モードを実現すべく結合されたクロック
信号入力端を組込んでいる。MOS入力論理回路は、バ
イポーラ出力回路へ結合されており、且つトランスペア
レント動作モードにおいてパスゲート出力端におけるそ
れぞれのスイッチング遷移期間中にバイポーラプルアッ
プ及びプルダウントランジスタ要素のうちの一つの過渡
的ターンオンに対しバイポーラ出力回路の導通状態を制
御すべく構成されている。MOS入力論理回路は、パス
ゲート出力端におけるスイッチング遷移に続いて且つパ
スゲート回路のブロッキング動作モード期間中に、それ
ぞれのバイポーラプルアップ及びプルダウントランジス
タ要素のターンオフを与える。
【0010】BICMOSパスゲート回路が、パスゲー
ト出力端におけるデータ信号をラッチするためにパスゲ
ート出力端に結合されたMOS出力ラッチバック回路を
具備するラッチ内に組込まれている。この出力ラッチバ
ック回路の利点は、それも、パスゲート出力端を高電圧
レベルVCC電力レールへのプルアップを完了するという
ことである。
【0011】MOS入力論理回路は、バイポーラプルア
ップトランジスタ要素のベースノードへ直列的に結合さ
れた第一及び第二MOSプルアップトランジスタ要素に
より与えられている。第一プルアップトランジスタ要素
のゲートノードは、パスゲート入力端へ結合されてお
り、一方第二MOSプルアップトランジスタ要素のゲー
トノードはクロック信号入力端へ結合されている。MO
S入力論理回路も、バイポーラプルダウントランジスタ
要素のベースノードへ直列結合された第三及び第四MO
Sプルアップトランジスタ要素を有している。第三MO
Sプルアップトランジスタ要素のゲートノードは、第一
論理ゲートを介して、パスゲート入力端へ結合されてお
り、一方第四MOSプルアップトランジスタ要素もクロ
ック信号入力端へ結合されている。
【0012】MOS入力論理回路の第一論理ゲートは、
パスゲート入力端及びパスゲート出力端へそれぞれ結合
した入力端を有している。論理ゲート出力端は、第三M
OSプルアップトランジスタ要素のゲートノードへ結合
されており、それはバイポーラプルダウントランジスタ
要素のベースノードへ結合されている。従って、第一論
理ゲートは、パスゲート入力端及び出力端におけるデー
タ信号及びクロック信号入力端におけるクロック信号に
関してバイポーラプルダウントランジスタ要素の制御に
条件付けを与える。
【0013】本発明の別の実施例によれば、MOS入力
論理回路が、パスゲート入力端及びパスゲート出力端へ
それぞれ結合されている論理ゲート入力端を具備する第
二論理ゲートを有している。第二論理ゲートの論理ゲー
ト出力端は、第一MOSプルアップトランジスタ要素の
ゲートノードへ結合されており、それは、バイポーラプ
ルアップトランジスタ要素のベースノードへ結合されて
いる。従って、第二論理ゲートは、それぞれのパスゲー
ト入力端及び出力端におけるデータ信号とクロック信号
入力端におけるクロック信号に関してバイポーラプルア
ップトランジスタ要素の制御に条件付けを与える。
【0014】BICMOSパスゲートのこの別の実施例
によれば、入力及び出力ラッチバック回路間にBICM
OSパスゲート回路と並列してMOSパスゲート回路が
結合されている。従って、BICMOSパスゲートは、
結合した出力端におけるスイッチング遷移期間中に従来
のMOSパスゲート回路に対する過渡的パスゲートエン
ハンサ(向上器)として機能する。BICMOSパスゲ
ート回路は、出力端におけるスイッチング遷移期間中シ
ンク(吸い込み)電流のβ増幅でのソース(湧き出し)
及びシンク(吸い込み)出力ベース駆動電流の過渡的増
加を与える。
【0015】BICMOSパスゲート回路は、例えば、
直列結合した第一及び第二ラッチから構成されるフリッ
プフロップ回路内にも組込まれている。BICMOSパ
スゲート回路は、フリップフロップ回路の第二ラッチ内
にパスゲートを与える。一方、BICMOSパスゲート
回路は、最終出力端を駆動するフリップフロップの第二
ラッチ内の従来のMOSパスゲートの動作を向上させる
ために使用することも可能である。
【0016】
【実施例】本発明の一実施例に基づいて構成されたBI
CMOSフリップフロップ回路を図3に示してある。図
1のフリップフロップ回路の回路要素と実質的に同一又
は同様の回路機能を実施する回路要素には同一の参照番
号を付してある。従来のMOS第二パスゲート回路PS
GT2の代わりに、BICMOSパスゲートPSGT3
が、第一ラッチバック回路LTBK1と第二ラッチバッ
ク回路LTBK2との間に結合されている。更に、BI
CMOS第二パスゲートPSGT3の第二入力端V′IN
が、MOS第一パスゲートPSGT1及びMOS第一ラ
ッチバック回路LTBK1からの非反転第一出力ノード
n1へ結合されている。
【0017】BICMOS第二パスゲートPSGT3
は、フリップフロップ回路の最終出力を与えるパスゲー
ト出力端VOUT へ結合されているバイポーラプルアップ
トランジスタ要素Q1及びバイポーラプルダウントラン
ジスタ要素Q3を有するバイポーラ出力回路を組込んで
いる。このバイポーラプルアップトランジスタ要素Q1
は、高電圧レベル電力レールVCCと第二出力端VOUT
の間に結合されており、出力負荷容量CL 及び出力ラッ
チバック回路LTBK2により提供される容量を充電す
るための出力電流をソース即ち供給する。バイポーラプ
ルダウントランジスタ要素Q3は、第二出力端VOUT
低電圧レベル電力レールGNDとの間に結合されてお
り、負荷容量CL 及び出力ラッチバック回路LTBK2
の容量を放電するための出力駆動電流をシンク即ち吸い
込む。
【0018】バイポーラ出力回路は、更に、バイポーラ
プルアップトランジスタ要素Q1のベースノードと低電
圧レベル電力レールGNDとの間に結合されているアン
チ同時的導通バイポーラトランジスタ要素Q2を有して
いる。アンチ同時的導通トランジスタ要素Q2のベース
ノードは、トランジスタ要素Q2及びQ3の同位相での
動作のためにバイポーラプルダウントランジスタ要素Q
3のベースノードへ結合されている。プルダウントラン
ジスタ要素Q3が導通状態となると、アンチ同時的導通
トランジスタ要素Q2が迅速にプルアップトランジスタ
要素Q1をターンオフさせる。バラスト抵抗R3は、並
列プルダウントランジスタ要素Q2とQ3との間の電流
ホギングを防止する。更に、バイポーラトランジスタ要
素Q2は、アンチ同時的導通態様のみを実施するための
最小寸法のトランジスタである。バイポーラ出力回路Q
1,Q3は、出力端におけるスイッチング遷移期間中の
過渡的動作のために意図されているものである。後述す
る如く、MOS入力論理回路は、DC定常状態条件期間
中ではなく出力端におけるACイベント期間中に過渡的
ターンオンのためにバイポーラプルアップ及びプルダウ
ントランジスタ要素Q1,Q3を制御する。バイポーラ
出力回路は、出力駆動シンク電流のβ増幅及び増加した
スイッチング速度のための出力駆動ソース電流のβ増幅
のための電圧増幅器を与えている。
【0019】バイポーラ出力プルダウントランジスタ要
素Q3の制御のために、MOS入力論理回路は、高電圧
レベル電力レールVCCとトランジスタ要素Q3のベース
ノードとの間に直列結合されているPMOSプルアップ
トランジスタ要素QP5,QP6を有している。PMO
Sプルアップトランジスタ要素QP5のゲートは、第一
論理ゲートNAND1の論理ゲート出力端へ結合されて
おり、該ゲートNAND1は、第二パスゲート入力端又
は第二入力端V′IN及び第二出力端VOUT へそれぞれ結
合されている二つの論理ゲート入力端を有している。P
MOSプルアップトランジスタ要素QP6のゲートリー
ドがクロックパルス入力端CP_へ結合されている。従
って、プルダウントランジスタ要素Q3のターンオン
は、第二パスゲート入力端及び出力端V′IN,VOUT
おけるデータ信号及びクロックパルス入力端CP_にお
けるクロック信号により条件付けがされる。NMOSプ
ルダウントランジスタ要素QN3が、プルダウントラン
ジスタ要素Q3のベースノードと低電圧電力レールGN
Dとの間に結合されている。トランジスタ要素QN3の
ゲートは、第一論理ゲートNAND1の論理ゲート出力
端へ結合されており、従って、それは、PMOSプルア
ップトランジスタ要素QP5と位相がずれた状態で動作
する。従って、NMOSプルダウントランジスタ要素Q
N3は、導通状態にある場合に、トランジスタ要素Q3
をオフ状態に保持するAC及びDCミラーキラートラン
ジスタ要素の機能を実施する。AC及びDCミラーキラ
ートランジスタ要素QN3がオフである場合には、ブリ
ード抵抗R2が、浮遊電荷及び回路ノイズを接地へ散逸
させるために、接地への比較的低いインピーダンスの経
路を与える。
【0020】プルアップトランジスタ要素Q1の場合、
MOS入力論理回路は、高電圧レベル電力レールVCC
トランジスタ要素Q1のベースノードとの間に直列結合
されているPMOSプルアップトランジスタ要素QP3
及びQP4を有している。PMOSプルアップトランジ
スタ要素QP3のゲートは、第二パスゲート入力端V′
INへ結合されており、一方トランジスタ要素QP4のゲ
ートはクロックパルス入力端CP_へ結合されている。
従って、プルアップトランジスタ要素Q1の導通状態
は、第二入力端V′INにおけるデータ信号及びクロック
パルス入力端CP_におけるクロック信号に関して条件
付けされる。トランジスタ要素QP3及びQP4が導通
状態でない場合には、ブリード抵抗R1が抵抗R2と同
様の機能を行ない、電荷及び回路ノイズに対して接地へ
の比較的低いインピーダンスの経路を与え、従ってプル
アップトランジスタ要素Q1はターンオンすることはな
い。バイポーラ出力プルアップ及びプルダウントランジ
スタ要素Q1,Q3の過渡的動作について以下に説明す
る。
【0021】第一入力端VINにおける論理高データ信号
及び最終出力端VOUT における論理低データ信号が存在
する定常状態条件の場合、バイポーラプルアップ又はプ
ルダウントランジスタ要素Q1,Q3の何れもが導通状
態ではない。MOS入力論理回路においてV′INが高で
あり且つVOUT が低である場合、PMOSプルアップト
ランジスタ要素QP3,QP5の何れもが導通状態では
ない。同様に、BICMOS第二パスゲートPSGT3
がブロッキングモードにありクロックパルス信号CP_
が高である場合には、PMOSプルアップトランジスタ
要素QP4,QP6の何れもが導通状態ではない。NM
OSプルダウントランジスタ要素QN3は、DCミラー
キラートランジスタ要素として機能し、従って浮遊電荷
及びノイズはトランジスタ要素Q3をターンオンさせる
ことは不可能である。
【0022】出力端VOUT における低から高(LH)の
遷移の場合、論理高信号が第一入力端VINに表われる。
クロックパルスCP_が高で且つCPが低である場合に
は、第一パスゲートPSGT1が、ノードn1を介して
論理低信号を第二入力端V′INへ通過させる。VOUT
いまだに低状態を維持する。従って、第一論理ゲートN
AND1は、バイポーラプルダウントランジスタ要素Q
3をオフ状態に保持する。しかしながら、PMOSプル
アップトランジスタ要素QP3が導通状態となる。クロ
ックパルス信号がCP_低からCP高へ遷移すると、B
ICMOSパスゲートPSGT3がトランスペアレント
動作モードとなる。トランジスタ要素QP3及びQP4
が導通状態であると、バイポーラプルアップトランジス
タ要素Q1がターンオンし、出力負荷容量を迅速に充電
し、且つ第二出力端VOUT をVCCよりも1VBE低い電圧
レベルへプルアップさせる。ラッチバック回路LTBK
2及びINV4が、出力端VOUT をVCCへプルアップす
ることを完了する。バイポーラプルアップトランジスタ
要素Q1のベース・エミッタ接合の両側に論理高信号が
存在すると、トランジスタ要素Q1は、出力端における
LH遷移の完了と共にターンオフする。
【0023】BICMOS第二パスゲートPSGT3が
トランスペアレント動作モード状態で出力端におけるL
H遷移期間中に、PMOSトランジスタ要素QP5はオ
フでであり、一方トランジスタ要素QP6は導通状態で
あり且つトランジスタ要素QP5のドレイン容量をバイ
ポーラプルダウントランジスタ要素Q2,Q3のベース
ノードへ放電させる。AC及びDCミラーキラーNMO
Sトランジスタ要素QN3は導通状態であり、且つこの
電荷を接地へそらせる。一方、抵抗R2により与えられ
る接地への低インピーダンス経路もトランジスタ要素Q
2及びQ3がターンオンすることを防止し且つ同時的な
導通状態は最小とされる。抵抗R1は、実質的に、トラ
ンジスタ要素Q1のベース・エミッタ接合を横断しての
電圧を等しくさせ且つ浮遊電荷及びノイズがトランジス
タ要素Q1をターンオンさせることを防止する。
【0024】第一入力端VINにおける論理低信号及び最
終出力端VOUT における論理高信号の定常状態条件の場
合、バイポーラプルアップ及びプルダウントランジスタ
要素Q1,Q3は同様に導通状態となることはない。
V′IN低信号及びVOUT 高信号の場合、第一論理ゲート
NAND1は、前述した如くクロック入力端CP_にお
けるクロック信号の値がどの様なものであろうと、バイ
ポーラプルダウントランジスタ要素Q3をオフ状態に保
持する。PMOSトランジスタ要素QP3が導通状態で
あったとしても、トランジスタ要素Q1のベース・エミ
ッタ接合の両側における論理高信号は、バイポーラプル
アップトランジスタ要素Q1がターンオンすることを防
止する。
【0025】最終出力端VOUT における高から低への
(HL)遷移の場合、第一入力端VINに論理高信号が表
われる。クロック信号CP_が高であり且つCPが低で
ある場合には、第一パスゲートPSGT1はトランスペ
アレント動作モードにあり、且つ第一出力ノードn1を
介して論理高信号を第二入力端V′INへ通過させる。V
OUT はいまだに高状態である。従って、第一論理ゲート
NAND1の論理ゲート出力は低状態へ移行し、且つP
MOSプルアップトランジスタ要素QP5をターンオン
させる。PMOSプルアップトランジスタ要素QP3は
オフである。クロック信号がCP_低及びCP高へスイ
ッチングすると(PSGT3はトランスペアレント動作
モードにある)、トランジスタ要素QP5及びQP6の
両方がバイポーラプルダウントランジスタ要素Q3をタ
ーンオンさせる。アンチ同時的トランジスタ要素Q2
は、バイポーラプルアップトランジスタ要素Q1をオフ
状態に保持する。従って、トランジスタ要素QP4は、
トランジスタ要素Q1のベース内ではなくアンチ同時的
導通トランジスタ要素Q2を介してトランジスタ要素Q
P3のドレイン容量を放電する。
【0026】バイポーラプルダウントランジスタ要素Q
3は、出力負荷容量を迅速に放電し且つ最終出力端V
OUT を接地よりも1VSAT 高い電圧レベルへプルダウン
させる。ラッチバック回路LTBK2及び特にインバー
タ段INV4は,VOUT の接地へのプルダウンを完了す
る。VOUT が低状態であると、NAND1論理ゲート出
力が論理高状態へスイッチし、トランジスタ要素QP5
及びバイポーラプルダウントランジスタ要素Q3をシャ
ットオフさせる。
【0027】出力端におけるLH遷移に対するクロック
信号から最終出力信号TP CLK/VOUT への図1及び
3の回路に対するそれぞれの伝搬遅延時間をプロットし
且つ比較するグラフを図4に示してある。伝搬遅延時間
は、2.25V=VCC/2におけるクロック信号に対し
て測定される。図3のBICMOSパスゲートフリップ
フロップ回路は、2.05nsから1.53nsへの伝
搬遅延時間における減少を達成している。出力端におけ
るHL遷移に対するそれぞれの伝搬遅延時間の比較を図
5に示してある。図3のBICMOSパスゲートフリッ
プフロップ回路は、伝搬遅延時間を1.60nsから
1.38nsへ減少させている。
【0028】図3のフリップフロップ回路のさらなる利
点は、クロックパルスCPを発生するための図2のクロ
ックバッファ内のインバータバッファINV8の寸法を
減少させることが可能であるということである。このこ
とは、クロックバッファ回路の速度向上のためCPイン
バータINV7上の容量負荷を減少させている。同様
に、LTBK1のインバータINV2の寸法も減少させ
ることが可能であり、更にレイアウト空間を節約するこ
とを可能としている。
【0029】本発明の別の実施例に基づく回路を図6の
フリップフロップ回路として示してある。図1及び3の
フリップフロップ回路の回路要素と同一又は同様の機能
を達成する回路要素には同一の参照番号を付してある。
図6のフリップフロップ回路においては、BICMOS
第二パスゲート回路PSGT3Aが、第三パスゲート回
路を形成する従来のMOSパスゲート回路PSGT2と
並列されたパスゲートエンハンサ(向上器)回路として
フリップフロップ回路内に組込まれている。第二及び第
三パスゲート回路PSGT3A及びPSGT2が、第一
及び第二ラッチバック回路LTBK1及びLTBK2の
間に並列的に結合されている。MOS第一パスゲート回
路PSGT1が、前述した如く、第一入力端VINに結合
されている。図6のフリップフロップ回路は、図1及び
3のフリップフロップ回路における如く、反転用フリッ
プフロップ回路である。
【0030】図6のフリップフロップ回路において、B
ICMOS第二パスゲート回路PSGT3Aは、ACス
イッチングイベント期間中に、出力駆動電流の過渡的向
上を与える。該回路の定常状態条件は、MOS第三パス
ゲートPSGT2を介して維持される。
【0031】BICMOS第二パスゲート回路PSGT
3Aは、図3のBICMOS第二パスゲート回路PSG
T3の回路要素のほとんどを組込んでいる。図6の実施
例においては、AC及びDCミラーキラートランジスタ
要素QN3及びバラスト抵抗R3が除去されており、且
つブリード抵抗R2がトランジスタ要素Q2及びQ3を
オフ状態に保持するための接地への唯一の低インピーダ
ンス経路を与えている。BICMOSパスゲート回路P
SGT3Aにおいて、第二論理ゲートNOR1/INV
6が付加されており、PMOSプルアップトランジスタ
要素QP3を介してバイポーラプルアップトランジスタ
要素Q1の過渡的動作に関する積極的な制御を与えてい
る。図6のフリップフロップ回路におけるBICMOS
パスゲートPSGT3Aの動作において、第二論理ゲー
トNOR1/INV6は、出力端VOUT におけるLH遷
移に対してPMOSプルアップトランジスタ要素QP3
をターンオンさせる。出力端VOUT が論理高状態にある
と、第二論理ゲートNOR1/INV6がトランジスタ
要素QP3を積極的にターンオフさせる。出力端VOUT
におけるHL遷移の場合、第二論理ゲートNOR1/I
NV6がトランジスタ要素QP3の積極的なターンオフ
を与える。
【0032】以上、本発明の具体的実施の態様について
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 例えばオクタルフリップフロップ及びラッチ
におけるラッチ可能なバッファ回路として使用される従
来のD型フリップフロップを示した概略回路図。
【図2】 図1,3,6の回路と共に使用するクロック
バッファ回路を示した概略回路図。
【図3】 フリップフロップ回路の第二ラッチ内の従来
のMOSパスゲート回路に対する代替物としてBICM
OSパスゲート回路を組込んだ本発明の一実施例に基づ
いて構成したBICMOSフリップフロップ回路を示し
た概略回路図。
【図4】 図1及び3の回路の最終出力端における低か
ら高への(LH)スイッチング遷移期間中の伝搬遅延T
P CLK/VOUT を比較したグラフ図。
【図5】 図1及び3の回路の最終出力端における高か
ら低への(HL)スイッチング遷移期間中の信号伝搬遅
延TP CLK/VOUTを比較したグラフ図。
【図6】 フリップフロップの第二ラッチにおける従来
のMOSパスゲート回路に対するエンハンサとしてBI
CMOSパスゲート回路が組込まれている本発明の別の
実施例に基づくBICMOSフリップフロップ回路を示
した概略回路図。
【符号の説明】
PSGT BICMOSパスゲート回路 Q1 バイポーラプルアップトランジスタ要素 Q3 バイポーラプルダウントランジスタ要素 Q3 プルダウントランジスタ要素 VOUT パスゲート出力端 V′IN パスゲート入力端 LTBK2 最終的ラッチバック回路

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データ信号を受取るためのパスゲート入
    力端(V′IN)と、データ信号を通過させるためのトラ
    ンスペアレント動作モードと、データ信号を阻止するた
    めのブロッキング動作モードと、前記トランスペアレン
    ト動作モードにおいてデータ信号を伝達させるためのパ
    スゲート出力端(VOUT )とを具備するパスゲート回路
    において、トランスペアレント動作モードにおいてパス
    ゲート入力端(V′IN)におけるデータ信号に応答して
    パスゲート出力端(VOUT )におけるスイッチング遷移
    期間中出力駆動電流をシンク及びソースするパスゲート
    出力端(VOUT )における負荷容量(CL )の過渡的な
    充電及び放電のためにパスゲート出力端(VOUT )に結
    合されておりバイポーラプルアップトランジスタ要素
    (Q1)とバイポーラプルダウントランジスタ要素(Q
    3)を有するバイポーラ出力回路(Q1,Q3)が設け
    られており、パスゲート入力端(V′IN)へ結合されて
    おり且つ選択されたクロック信号に応答して前記トラン
    スペアレント及びブロッキング動作モードのために結合
    されたクロック信号入力端(CP_,CP_)を具備する
    MOS入力論理回路が設けられており、前記MOS入力
    論理回路は前記バイポーラ出力回路へ結合されており且
    つ前記トランスペアレント動作モードにおいてパスゲー
    ト出力端(VOUT )におけるそれぞれのスイッチング遷
    移期間中に前記バイポーラプルアップ及びプルダウント
    ランジスタ要素のうちの一つの過渡的ターンオンのため
    に且つ前記パスゲート出力端におけるスイッチング遷移
    に続いて且つ前記パスゲート回路のブロッキング動作モ
    ード期間中における前記バイポーラプルアップ及びプル
    ダウントランジスタ要素のターンオフのために前記バイ
    ポーラ出力回路の導通状態を制御すべく構成されている
    ことを特徴とするパスゲート回路。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記パスゲート出力
    端(VOUT )に結合されており前記パスゲート出力端に
    おけるデータ信号をラッチし且つ前記パスゲート出力端
    (VOUT )を高電圧レベル電力レール(VCC)へプルア
    ップさせるMOS出力ラッチバック回路(LTBK2)
    (INV3,INV4)が設けられていることを特徴と
    するパスゲート回路。
  3. 【請求項3】 請求項1において、前記MOS入力論理
    回路が、バイポーラプルアップトランジスタ要素(Q
    1)のベースノードへ電流を供給すべく結合されている
    第一MOSプルアップトランジスタ手段(QP3,QP
    4)と、前記バイポーラプルダウントランジスタ要素
    (Q3)のベースノードへ電流を供給すべく結合されて
    いる第二MOSプルアップトランジスタ手段(QP5,
    QP6)とを有しており、前記第一及び第二MOSプル
    アップトランジスタ手段が、パスゲート出力端(V
    OUT )におけるそれぞれのスイッチング遷移期間中にバ
    イポーラプルアップ及びプルダウントランジスタ要素の
    うちの一つの過渡的ターンオンのために結合されている
    ことを特徴とするパスゲート回路。
  4. 【請求項4】 請求項3において、バイポーラプルアッ
    プトランジスタ要素(Q1)のベースノードへ結合され
    ている第一MOSプルアップトランジスタ手段(QP
    3,QP4)は、直列結合された第一及び第二MOSプ
    ルアップトランジスタ要素を有しており、前記第一MO
    Sプルアップトランジスタ要素(QP3)は、パスゲー
    ト入力端(V′IN)へ結合したゲートノードを有してお
    り、且つ前記第二MOSプルアップトランジスタ要素
    (QP4)はクロック信号入力端(CP_)へ結合した
    ゲートノードを有しており、且つバイポーラプルダウン
    トランジスタ要素(Q3)のベースノードへ結合した第
    二MOSプルアップトランジスタ手段(QP5,QP
    6)が、直列結合された第三及び第四MOSプルアップ
    トランジスタ要素を有しており、前記第三MOSプルア
    ップトランジスタ要素(QP5)は第一論理ゲート(N
    AND1)を介してパスゲート入力端(V′IN)へ結合
    したゲートノードを有しており、且つ前記第四MOSプ
    ルアップトランジスタ要素(QP6)は、クロック信号
    入力端(CP_)へ結合したゲートノードを有すること
    を特徴とするパスゲート回路。
  5. 【請求項5】 請求項4において、前記第一論理ゲート
    (NAND1)が、パスゲート入力端(V′IN)及びパ
    スゲート出力端(VOUT )へそれぞれ結合された論理ゲ
    ート入力端及びパスゲート入力端(V′IN)及び出力端
    (VOUT )におけるデータ信号及びクロック信号入力端
    (CP_)におけるクロック信号に関してバイポーラプ
    ルダウントランジスタ要素(Q3)の制御の条件付けを
    行なうために第三MOSプルアップトランジスタ要素
    (QP5)のゲートノードへ結合されている論理ゲート
    出力端を有することを特徴とするパスゲート回路。
  6. 【請求項6】 請求項5において、更に、バイポーラプ
    ルアップトランジスタ要素(Q1)のベースノードから
    の電流をシンクすべく結合されたアンチ同時的導通第二
    バイポーラプルダウントランジスタ要素(Q2)が設け
    られており、且つ第二MOSプルアップトランジスタ手
    段(QP5,QP6)がミラーキラー第二バイポーラプ
    ルダウントランジスタ要素(Q2)のベースノードへ電
    流を供給すべく結合されていることを特徴とするパスゲ
    ート回路。
  7. 【請求項7】 請求項5において、更に、バイポーラプ
    ルダウントランジスタ要素(Q3)のベースノードから
    の電流をシンクすべく結合されており且つ第一論理ゲー
    ト(NAND1)の論理ゲート出力端へ結合されている
    ゲートノードを具備するミラーキラーMOSプルダウン
    トランジスタ要素(QN3)が設けられていることを特
    徴とするパスゲート回路。
  8. 【請求項8】 請求項4において、前記MOS入力論理
    回路が、パスゲート入力端(V′IN)及びパスゲート出
    力端(VOUT )へそれぞれ結合された論理ゲート入力端
    を具備しており且つ第三MOSプルアップトランジスタ
    要素(QP5)のゲートノードへ結合した論理ゲート出
    力端を具備する第一論理ゲート(NAND1)を有して
    おり、且つ前記MOS入力論理回路が、更に、前記パス
    ゲート入力端(V′IN)及びパスゲート出力端(V
    OUT )へそれぞれ結合された論理ゲート入力端を具備す
    ると共に第一MOSプルアップトランジスタ要素(QP
    3)のゲートノードへ結合した論理ゲート出力端を具備
    する第二論理ゲート(NOR1,INV6)を有してお
    り、前記第一及び第二論理ゲートがそれぞれのパスゲー
    ト入力端(V′IN)及び出力端(VOUT )におけるデー
    タ信号及びクロック信号入力端(CP_,CP_)におけ
    るクロック信号に関してバイポーラプルアップ(Q1)
    及びプルダウン(Q3)トランジスタ要素の制御の条件
    付けを行なうことを特徴とするパスゲート回路。
  9. 【請求項9】 請求項8において、パスゲート入力端
    (V′IN)へ結合されているMOS入力ラッチバック回
    路(LKBT1)(INV1,INV2)と、パスゲー
    ト出力端(VOUT )へ結合されているMOS出力ラッチ
    バック回路(LKBT2)(INV3,INV4)と、
    入力ラッチバック回路(LTBK1)と出力ラッチバッ
    ク回路(LTBK2)との間に前記BICMOSパスゲ
    ート回路(PSGT3A)と並列結合されたMOS第二
    パスゲート回路(PSGT2)とが設けられていること
    を特徴とするパスゲート回路。
  10. 【請求項10】 フリップフロップ回路において、デー
    タ信号を受取るための第一入力端(VIN)と第一出力端
    (n1)とを具備する第一ラッチ回路が設けられてお
    り、前記第一ラッチ回路は第一入力端(VIN)へ結合さ
    れており通過モードにおいて前記データ信号を通過させ
    るMOS第一パスゲート(PSGT1)を有すると共に
    第一出力端(n1)へ結合されており前記第一出力端に
    おいてデータ信号をラッチするMOS第一ラッチバック
    (LTBK1)を有しており、第一出力端(n1)へ結
    合されている第二入力端(V′IN)を具備しており且つ
    第二出力端(VOUT )を与える第二ラッチ回路が設けら
    れており、前記第二ラッチ回路は前記第二入力端(V′
    IN)へ結合されており通過モードにおいて前記データ信
    号を通過させ且つブロッキングモードにおいてデータ信
    号を阻止するBICMOS第二パスゲート(PSGT
    3)(PSGT3A)を有すると共に、第二出力端(V
    OUT )へ結合されており第二出力端におけるデータ信号
    をラッチし且つ第二出力端を実質的に高電圧レベル電力
    レール(VCC)へプルアップさせるMOS第二ラッチバ
    ック(LTBK2)を有しており、前記BICMOS第
    二パスゲート(PSGT3)は、第二出力端(VOUT
    における負荷容量(CL )の充電及び放電するための第
    二出力端ソース及びシンク駆動電流の過渡的増加のため
    に第二入力端(V′IN)に結合されているMOS入力論
    理回路(QP3,QP4,QP5,QP6,NAND
    1)を有すると共に第二出力端(VOUT )へ結合されて
    いるバイポーラ出力回路(Q1,Q3)を有しており、
    前記MOS入力論理回路が第二パスゲート(PSGT
    3)のトランスペアレント動作モードにおける第二入力
    端(V′IN)におけるデータ信号に応答して第二出力端
    (VOUT )におけるスイッチング過渡状態期間中第二出
    力ソース及びシンク駆動電流の過渡的増加のためにバイ
    ポーラ出力回路(Q1,Q3)の導通状態を制御すべく
    結合されていることを特徴とするフリップフロップ回
    路。
  11. 【請求項11】 請求項10において、前記BICMO
    S第二パスゲート(PSGT3)(PSGT3A)のバ
    イポーラ出力回路(Q1,Q3)が、第二出力端(V
    OUT )へ結合されており前記第二入力端(V′IN)にお
    けるデータ信号に応答して第二出力駆動電流を過渡的に
    ソース及びシンクするためにバイポーラプルアップ(Q
    1)及びプルダウン(Q3)トランジスタ要素を有する
    ことを特徴とするフリップフロップ回路。
  12. 【請求項12】 請求項11において、前記MOS入力
    論理回路が、バイポーラプルアップトランジスタ要素
    (Q1)のベースノードへ電流をソースすべく結合され
    ている第一MOSプルアップトランジスタ手段(QP
    3,QP4)を有すると共にバイポーラプルダウントラ
    ンジスタ要素(Q3)のベースノードへ電流をソースす
    べく結合されている第二MOSプルアップトランジスタ
    手段(QP5,QP6)を有しており、前記第一及び第
    二MOSプルアップトランジスタ手段が、第二出力端
    (VOUT )におけるそれぞれのスイッチング遷移期間中
    にバイポーラプルアップ(Q1)及びプルダウン(Q
    3)トランジスタ要素のうちの一つの過渡的ターンオン
    のために結合されていることを特徴とするフリップフロ
    ップ回路。
  13. 【請求項13】 請求項12において、バイポーラプル
    アップトランジスタ要素(Q1)のベースノードへ結合
    されている第一MOSプルアップトランジスタ手段(Q
    P3,QP4)が、直列結合された第一及び第二MOS
    プルアップトランジスタ要素を有しており、前記第一M
    OSプルアップトランジスタ要素(QP3)は第二入力
    端(V′IN)へ結合されたゲートノードを具備しており
    且つ前記第二MOSプルアップトランジスタ要素(QP
    4)はクロック信号入力端(CP_)へ結合したゲート
    ノードを具備しており、且つバイポーラプルダウントラ
    ンジスタ要素(Q3)のベースノードへ結合した第二M
    OSプルアップトランジスタ手段(QP5,QP6)は
    直列結合された第三及び第四MOSプルアップトランジ
    スタ要素を有しており、前記第三MOSトランジスタ要
    素(QP5)は第一論理ゲート(NAND1)を介して
    第二入力端(V′IN)へ結合したゲートノードを有して
    おり且つ前記第四MOSトランジスタ要素(QP6)は
    クロック信号入力端(CP_)へ結合したゲートノード
    を有することを特徴とするフリップフロップ回路。
  14. 【請求項14】 請求項13において、前記BICMO
    S第二パスゲート(PSGT3)(PSGT3A)のバ
    イポーラ出力回路は、バイポーラプルアップトランジス
    タ要素(Q1)のベースノードからの電流をシンクすべ
    く結合されたアンチ同時的導通第二バイポーラプルダウ
    ントランジスタ要素(Q2)を有しており、且つ前記第
    二MOSプルアップトランジスタ手段(QP5,QP
    6)はアンチ同時的導通第二バイポーラプルダウントラ
    ンジスタ要素(Q2)のベースノードへ電流をソースす
    べく結合されていることを特徴とするフリップフロップ
    回路。
  15. 【請求項15】 請求項14において、前記BICMO
    S第二パスゲート回路(PSGT3)(PSGT3A)
    のMOS入力論理回路は、第二入力端(VIN)及び出力
    端(VOUT )におけるデータ信号及びクロック信号入力
    端(CP_)におけるクロック信号に関してバイポーラ
    プルダウントランジスタ要素(Q3)の制御の条件付け
    を行なうために第二入力端(V′IN)へ結合した論理ゲ
    ート入力端を具備すると共に前記第二出力端(VOUT
    及び第三MOSプルアップトランジスタ要素(QP5)
    のゲートノードへ結合した論理ゲート出力端を具備する
    第一論理ゲート(NAND1)を有することを特徴とす
    るフリップフロップ回路。
  16. 【請求項16】 請求項13において、前記BICMO
    S第二パスゲート(PSGT3)のMOS入力論理回路
    が、バイポーラプルダウントランジスタ要素(Q3)の
    ベースノードからの電流をシンクすべく結合されたMO
    Sプルダウントランジスタ要素(QN3)を有してお
    り、前記MOSプルダウントランジスタ要素(QN3)
    は前記第一論理ゲート(NAND1)を介して第二入力
    端(V′IN)へ結合したゲートノードを有することを特
    徴とするフリップフロップ回路。
  17. 【請求項17】 請求項13において、更に、BICM
    OS第二パスゲート(PSGT3A)と並列的に第一ラ
    ッチバック(LTBK1)と第二出力端(VOUT )との
    間に結合されておりデータ信号を通過させ且つ第二出力
    端(VOUT )を高電圧レベル電力レール(VCC)へプル
    アップさせるMOS第三パスゲート(PSGT2)が設
    けられていることを特徴とするフリップフロップ回路。
  18. 【請求項18】 請求項17において、BICMOS第
    二パスゲート(PSGT3A)のMOS入力論理回路
    が、第二入力端(V′IN)及び第二出力端(VOUT )へ
    それぞれ結合した論理ゲート入力端を具備すると共に第
    三MOSプルアップトランジスタ要素(QP5)のゲー
    トノードへ結合した論理ゲート出力端を具備する第一論
    理ゲート(NAND1)を有しており、且つ第二入力端
    (V′IN)及び第二出力端(VOUT )へそれぞれ結合し
    た論理ゲート入力端を具備すると共に第一MOSプルア
    ップトランジスタ要素のゲートノードへ結合した論理ゲ
    ート出力端を具備する第二論理ゲート(NOR1,IN
    V6)を有しており、前記第一及び第二論理ゲートが、
    第二入力端(V′IN)及び出力端(VOUT )におけるデ
    ータ信号及びクロック信号入力端(CP_,CP_)にお
    けるクロック信号に関しバイポーラプルアップ(Q1)
    及びプルダウン(Q3)トランジスタ要素の制御の条件
    付けを行なうことを特徴とするフリップフロップ回路。
  19. 【請求項19】 請求項13において、MOS第一パス
    ゲート(PSGT1)が、相補的クロック信号入力端に
    おけるクロック信号に従ってトランスペアレント及びブ
    ロッキングモードを実現するための相補的クロック信号
    入力端(CP_,CP)を有しており、且つ前記BIC
    MOS第二パスゲート(PSGT3)(PSGT3A)
    が前記トランスペアレント及びブロッキングモードを実
    現するためのクロック信号入力端(CP_,CP_)を有
    しており、且つそれぞれの第一及び第二パスゲートが異
    なった位相でトランスペアレント及びブロッキング動作
    モードで動作すべく構成されていることを特徴とするフ
    リップフロップ回路。
  20. 【請求項20】 フリップフロップ回路において、相補
    的クロック信号入力端(CP_,CP)を具備すると共
    にトランスペアレント及びブロッキング動作モードを具
    備するMOS第一パスゲート(PSGT1)と、論理高
    及び論理低レベルのデータ信号を受取るための第一入力
    端(VIN)と、トランスペアレント動作モードにおいて
    データ信号を通過させるための第一出力端(n1)とを
    有する第一ラッチ回路が設けられており、前記第一ラッ
    チ回路は、更に、第一出力端(n1)における信号をラ
    ッチするために第一MOSパスゲート(PSGT1)の
    第一出力端(n1)へ結合された第一MOSラッチバッ
    ク(LTBK1)を有しており、クロック信号入力端
    (CP_,CP_)を具備すると共にトランスペアレント
    及びブロッキング動作モードを具備するBICMOS第
    二パスゲート(PSGT3)を有する第二ラッチ回路が
    設けられており、前記BICMOS第二パスゲートは、
    データ信号を受取るためにMOS第一パスゲート(PS
    GT1)の第一出力端(n1)へ結合された第一入力端
    (V′IN)と、第二出力端(VOUT )を与えるバイポー
    ラ出力回路(Q1,Q3)を有しており、前記バイポー
    ラ出力回路が、ソース及びシンク用第二出力駆動電流を
    与えるために第二出力端(VOUT )へ結合されたバイポ
    ーラプルアップトランジスタ要素(Q1)及びバイポー
    ラプルダウントランジスタ要素(Q3)を有しており、
    且つ第二出力端におけるデータ信号をラッチし且つ第二
    出力端を高電圧レベル電力レール(VCC)へプルアップ
    させるために第二出力端(VOUT )へ結合したMOS第
    二ラッチバック(LTBK2)を有しており、前記MO
    S入力論理回路が、バイポーラ出力回路の導通状態を制
    御すべく結合されており且つ前記トランスペアレント動
    作モードにおいて第二入力端(V′IN)におけるデータ
    信号に応答して第二出力端(VOUT )におけるスイッチ
    ング遷移期間中にバイポーラプルアップ及びプルダウン
    トランジスタ要素のうちの一つの過渡的ターンオンを与
    え且つ第二出力端(VOUT)におけるスイッチング遷移
    に続いて且つブロッキング動作モード期間中にバイポー
    ラプルアップ及びプルダウントランジスタ要素のターン
    オフを与えるべく構成されており、前記MOS第一パス
    ゲート(PSGT1)及び前記BICMOS第二パスゲ
    ート(PSGT3)が、選択されたクロック信号に応答
    して互いに位相がずれた状態でトランスペアレント及び
    ブロッキング動作モードで動作すべく構成されているこ
    とを特徴とするフリップフロップ回路。
JP4088503A 1991-04-11 1992-04-09 高速パスゲート、ラツチ及びフリツプフロツプ回路 Pending JPH05129930A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/684,043 US5132577A (en) 1991-04-11 1991-04-11 High speed passgate, latch and flip-flop circuits
US684043 1991-04-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05129930A true JPH05129930A (ja) 1993-05-25

Family

ID=24746480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4088503A Pending JPH05129930A (ja) 1991-04-11 1992-04-09 高速パスゲート、ラツチ及びフリツプフロツプ回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5132577A (ja)
EP (1) EP0508673B1 (ja)
JP (1) JPH05129930A (ja)
KR (1) KR100219869B1 (ja)
DE (1) DE69225994T2 (ja)
HK (1) HK1014433A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE37475E1 (en) 1994-01-19 2001-12-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Logic synthesis method and semiconductor integrated circuit
JP2009524918A (ja) * 2006-01-27 2009-07-02 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光電式半導体チップ

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3225528B2 (ja) * 1991-03-26 2001-11-05 日本電気株式会社 レジスタ回路
TW198159B (ja) * 1991-05-31 1993-01-11 Philips Gloeicampenfabrieken Nv
JP3229164B2 (ja) * 1994-07-28 2001-11-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション ラッチ回路
US5506528A (en) * 1994-10-31 1996-04-09 International Business Machines Corporation High speed off-chip CMOS receiver
US5742190A (en) * 1996-06-27 1998-04-21 Intel Corporation Method and apparatus for clocking latches in a system having both pulse latches and two-phase latches
JP3036438B2 (ja) * 1996-07-31 2000-04-24 日本電気株式会社 アナログスイッチ回路
DE19741426C1 (de) 1997-09-19 1999-01-21 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Datenspeicherung
JPH11317656A (ja) * 1998-05-06 1999-11-16 Oki Electric Ind Co Ltd 入力回路
US6107852A (en) * 1998-05-19 2000-08-22 International Business Machines Corporation Method and device for the reduction of latch insertion delay
GB2388981B (en) * 2002-05-20 2006-11-15 Micron Technology Inc Increasing drive strength and reducing propagation delays through the use of feedback
JP4265934B2 (ja) 2003-06-06 2009-05-20 シャープ株式会社 スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法
JP3958322B2 (ja) 2004-01-28 2007-08-15 シャープ株式会社 シフトレジスタ、およびアクティブマトリクス型表示装置
CN100550626C (zh) * 2004-08-10 2009-10-14 日本电信电话株式会社 主从触发器,触发式触发器,和计数器
US9395738B2 (en) 2013-01-28 2016-07-19 Nvidia Corporation Current-parking switching regulator with a split inductor
US9800158B2 (en) 2013-01-30 2017-10-24 Nvidia Corporation Current-parking switching regulator downstream controller
US9804621B2 (en) 2013-02-05 2017-10-31 Nvidia Corporation Current-parking switching regulator downstream controller pre-driver
US9459635B2 (en) 2013-02-08 2016-10-04 Nvidia Corporation Current-parking switching regulator upstream controller
US9639102B2 (en) 2013-02-19 2017-05-02 Nvidia Corporation Predictive current sensing
US9389617B2 (en) * 2013-02-19 2016-07-12 Nvidia Corporation Pulsed current sensing
CN115019867B (zh) * 2022-07-13 2022-12-20 深圳市迪浦电子有限公司 一种利用非挥发性元件修调规格的集成电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3812384A (en) * 1973-05-17 1974-05-21 Rca Corp Set-reset flip-flop
NL8402986A (nl) * 1984-10-01 1986-05-01 Philips Nv D-flipflop met enkelvoudige overdrachtspoorten.
JPS6342216A (ja) * 1986-08-08 1988-02-23 Hitachi Ltd バイポ−ラトランジスタと電界効果トランジスタとを含む複合回路
JPH0732353B2 (ja) * 1986-09-08 1995-04-10 シャープ株式会社 フリップフロップ回路
US4703203A (en) * 1986-10-03 1987-10-27 Motorola, Inc. BICMOS logic having three state output
JPH0736507B2 (ja) * 1989-02-02 1995-04-19 株式会社東芝 半導体論理回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE37475E1 (en) 1994-01-19 2001-12-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Logic synthesis method and semiconductor integrated circuit
USRE38152E1 (en) 1994-01-19 2003-06-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Logic synthesis method and semiconductor integrated circuit
JP2009524918A (ja) * 2006-01-27 2009-07-02 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光電式半導体チップ

Also Published As

Publication number Publication date
US5132577A (en) 1992-07-21
DE69225994D1 (de) 1998-07-30
KR100219869B1 (ko) 1999-09-01
DE69225994T2 (de) 1999-02-25
KR920020842A (ko) 1992-11-21
EP0508673A3 (en) 1993-04-21
HK1014433A1 (en) 1999-09-24
EP0508673B1 (en) 1998-06-24
EP0508673A2 (en) 1992-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5132577A (en) High speed passgate, latch and flip-flop circuits
EP0303341B1 (en) Output buffer circuits
EP1024597B1 (en) Output circuit for use in a semiconductor integrated circuit
JP3093380B2 (ja) 半導体集積回路における信号出力回路
JP3980431B2 (ja) バッファ回路とバッファツリー及び半導体装置
US5073727A (en) Cmos inverter with noise reduction feedback means
KR930018855A (ko) 높은 동적 전류 및 낮은 정적 전류용 2중 한계기능을 갖는 "트랜지스터 트랜지스터로직(ttl)-상보형 금속 산화물 반도체(cmos)" 변환 입력 버퍼 회로
JPH07147530A (ja) ラッチ回路及びマスタースレーブ型フリップフロップ回路
García et al. A single-capacitor bootstrapped power-efficient CMOS driver
JP2538660B2 (ja) Bicmos論理回路
US5132569A (en) High speed Bi-COMS input circuit fabricated from a small number of circuit components
US5541528A (en) CMOS buffer circuit having increased speed
JPH0736507B2 (ja) 半導体論理回路
US7176725B2 (en) Fast pulse powered NOR decode apparatus for semiconductor devices
WO2001056084A1 (en) Low power dissipation mos jam latch
KR100305710B1 (ko) 고속출력변환 기능을 가지는 전류감지형 씨모스 플립플롭
KR930011437A (ko) 전력소모를 감소시키는 기능을 갖는 바이폴라-상보형 금속 산화물 반도체(bicmos) 트랜지스터 트랜지스터 논리(ttl)회로
US6124734A (en) High-speed push-pull output stage for logic circuits
JP2982313B2 (ja) 出力バッファ回路
JPH0581874A (ja) 出力バツフア回路
JPH05300002A (ja) 半導体論理回路
JPH08321768A (ja) バッファ回路及びこれを用いた半導体集積回路
JPH09511892A (ja) 広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン
JPH07112151B2 (ja) 入力回路
KR20010061297A (ko) 고속 및 저전력의 버스라인 구동회로