JP3036438B2 - アナログスイッチ回路 - Google Patents
アナログスイッチ回路Info
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- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 14
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 68
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/16—Modifications for eliminating interference voltages or currents
- H03K17/161—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
- H03K17/162—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアナログスイッチ回
路に係り、特に半導体集積回路に搭載されてアナログ信
号をオン、オフさせるアナログスイッチ回路に関する。
路に係り、特に半導体集積回路に搭載されてアナログ信
号をオン、オフさせるアナログスイッチ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のアナログスイッチ回路として、例
えば図6(a)に示す構成の入力装置に用いられるアナ
ログスイッチが知られている。この入力装置は、図6
(a)に示すように、電源12、入力信号源13、1
4、電流制限抵抗15、16、静電気保護用ダイオード
1、2、31、33、アナログスイッチ3、28、コン
パレータ17から構成される。
えば図6(a)に示す構成の入力装置に用いられるアナ
ログスイッチが知られている。この入力装置は、図6
(a)に示すように、電源12、入力信号源13、1
4、電流制限抵抗15、16、静電気保護用ダイオード
1、2、31、33、アナログスイッチ3、28、コン
パレータ17から構成される。
【0003】ここで、アナログスイッチ3、28は、図
6(b)に示すように、ドレイン同士、及びソース同士
が接続されたPchトランジスタ21及びNchトランジ
スタ24と、端子26からの信号を反転してPchトラ
ンジスタのゲートに印加するインバータ27とから構成
されている。
6(b)に示すように、ドレイン同士、及びソース同士
が接続されたPchトランジスタ21及びNchトランジ
スタ24と、端子26からの信号を反転してPchトラ
ンジスタのゲートに印加するインバータ27とから構成
されている。
【0004】このアナログスイッチ3、28の構造は、
図7(a)に示すように、P基板19上にラッチアップ
防止のためのP+ 分離層18により分離されたN-層20
及び22が形成され、更にN-層20内のPchトランジ
スタ21と、N-層22内に形成されたP-層23内のN
chトランジスタ24のゲート電極間をインバータ27
を介して接続した構造である。
図7(a)に示すように、P基板19上にラッチアップ
防止のためのP+ 分離層18により分離されたN-層20
及び22が形成され、更にN-層20内のPchトランジ
スタ21と、N-層22内に形成されたP-層23内のN
chトランジスタ24のゲート電極間をインバータ27
を介して接続した構造である。
【0005】このため、Pchトランジスタ21のソー
ス、ドレイン及びバックゲートが、各々PNPトランジ
スタ4のエミッタ、コレクタ及びベースとなり、バック
ゲートすなわちベースが電源電位VDDに接続される。ま
た、Nchトランジスタ24のドレイン、ソース及びバ
ックゲートが、各々NPNトランジスタ5のエミッタ、
コレクタ及びベースとなり、バックゲートすなわちベー
スが接地電位VSSに接続される。従って、アナログスイ
ッチ3、28は、PNPトランジスタ4とNPNトラン
ジスタ5とを寄生トランジスタとして有し、図7(b)
に示すように、エミッタ同士とコレクタ同士が接続され
たPNPトランジスタ4とNPNトランジスタ5で表す
ことができる。
ス、ドレイン及びバックゲートが、各々PNPトランジ
スタ4のエミッタ、コレクタ及びベースとなり、バック
ゲートすなわちベースが電源電位VDDに接続される。ま
た、Nchトランジスタ24のドレイン、ソース及びバ
ックゲートが、各々NPNトランジスタ5のエミッタ、
コレクタ及びベースとなり、バックゲートすなわちベー
スが接地電位VSSに接続される。従って、アナログスイ
ッチ3、28は、PNPトランジスタ4とNPNトラン
ジスタ5とを寄生トランジスタとして有し、図7(b)
に示すように、エミッタ同士とコレクタ同士が接続され
たPNPトランジスタ4とNPNトランジスタ5で表す
ことができる。
【0006】次に、このアナログスイッチ回路の動作に
ついて説明する。まず、図6(a)に示した入力信号源
13及び14の電位が、電源電位VDDと接地電位VSSと
の間にある場合の動作について説明するに、この場合は
アナログスイッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオ
ンとすると、入力信号源14の電位がそのままコンパレ
ータ17の入力に与えられ、ここで基準電位refとレ
ベル比較され、その比較結果が出力される。
ついて説明する。まず、図6(a)に示した入力信号源
13及び14の電位が、電源電位VDDと接地電位VSSと
の間にある場合の動作について説明するに、この場合は
アナログスイッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオ
ンとすると、入力信号源14の電位がそのままコンパレ
ータ17の入力に与えられ、ここで基準電位refとレ
ベル比較され、その比較結果が出力される。
【0007】次に、入力信号源13の電位が電源電位V
DD以上であり、入力信号源14の電位が、電源電位VDD
と接地電位VSSとの間にある場合の動作は、アナログス
イッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオンとする
と、入力信号源13から電流制限抵抗15、静電気保護
用ダイオード1を経て、電源12に電流が流れ込むが、
図7(a)から分かるように静電気保護用ダイオード1
と並列に、寄生のPNPトランジスタ4のエミッタ・ベ
ースが接続されるため、PNPトランジスタ4のベース
に電流が流れ、 PNPトランジスタ4がオン状態とな
る。
DD以上であり、入力信号源14の電位が、電源電位VDD
と接地電位VSSとの間にある場合の動作は、アナログス
イッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオンとする
と、入力信号源13から電流制限抵抗15、静電気保護
用ダイオード1を経て、電源12に電流が流れ込むが、
図7(a)から分かるように静電気保護用ダイオード1
と並列に、寄生のPNPトランジスタ4のエミッタ・ベ
ースが接続されるため、PNPトランジスタ4のベース
に電流が流れ、 PNPトランジスタ4がオン状態とな
る。
【0008】その結果、入力信号源13から、電流制限
抵抗15、 PNPトランジスタ4、アナログスイッチ3
の出力端子49、アナログスイッチ28、電流制限抵抗
16、入力信号源14に電流が流れることとなり、コン
パレータ17の入力電位が入力信号源14の電位よりも
上昇してしまい、コンパレータ17から正しい比較値が
出力されない場合が生じる。
抵抗15、 PNPトランジスタ4、アナログスイッチ3
の出力端子49、アナログスイッチ28、電流制限抵抗
16、入力信号源14に電流が流れることとなり、コン
パレータ17の入力電位が入力信号源14の電位よりも
上昇してしまい、コンパレータ17から正しい比較値が
出力されない場合が生じる。
【0009】また、入力信号源13の電位が接地電位V
SS以下である場合には、接地電位VSSから、静電気保護
用ダイオード2、電流制限抵抗15を経て、入力信号源
13に電流が流れるが、静電気保護用ダイオード2と並
列に、寄生のNPNトランジスタ5のベース・エミッタ
が接続されるため、 NPNトランジスタ5がオン状態
となる。
SS以下である場合には、接地電位VSSから、静電気保護
用ダイオード2、電流制限抵抗15を経て、入力信号源
13に電流が流れるが、静電気保護用ダイオード2と並
列に、寄生のNPNトランジスタ5のベース・エミッタ
が接続されるため、 NPNトランジスタ5がオン状態
となる。
【0010】その結果、入力信号源14から、電流制限
抵抗16、アナログスイッチ28、アナログスイッチ3
の出力端子49、NPNトランジスタ5、電流制限抵抗
15、入力信号源13に電流が流れることとなり、コン
パレータ17の入力電位が入力信号源14の電位よりも
下降してしまい、コンパレータ17から正しい比較値が
出力されない場合が生じる。
抵抗16、アナログスイッチ28、アナログスイッチ3
の出力端子49、NPNトランジスタ5、電流制限抵抗
15、入力信号源13に電流が流れることとなり、コン
パレータ17の入力電位が入力信号源14の電位よりも
下降してしまい、コンパレータ17から正しい比較値が
出力されない場合が生じる。
【0011】そこで、従来このような現象をほぼ改善す
るアナログスイッチ回路が知られている(特開昭58−
68319号公報:発明の名称「入力装置」)。これ
は、図8(a)に示すように、集積回路(IC)の電源
電位VDDおよび接地電位VSSと、電源12との間に、ダ
イオード50、51を接続し、入力電源13、14と接
地電位VSSとの間に、ショットキバリアダイオードのよ
うな順電圧降下の小さいダイオード52、53を接続し
た構成であり、入力信号源13、14の電圧がある状態
で、電源12の電圧がなくなっても、アナログスイッチ
3、28のオフ状態を維持させることを目的としてい
る。
るアナログスイッチ回路が知られている(特開昭58−
68319号公報:発明の名称「入力装置」)。これ
は、図8(a)に示すように、集積回路(IC)の電源
電位VDDおよび接地電位VSSと、電源12との間に、ダ
イオード50、51を接続し、入力電源13、14と接
地電位VSSとの間に、ショットキバリアダイオードのよ
うな順電圧降下の小さいダイオード52、53を接続し
た構成であり、入力信号源13、14の電圧がある状態
で、電源12の電圧がなくなっても、アナログスイッチ
3、28のオフ状態を維持させることを目的としてい
る。
【0012】このアナログスイッチ回路では、入力信号
源13から電流制限抵抗15、PNPトランジスタ4の
エミッタからベースを経て、電源12に至る電流を、ダ
イオード50により阻止する。また、電位関係が、入力
信号源14が電源12より高い正電位、入力信号源13
が電源12より低い負電位の場合には、入力信号源14
から電流制限抵抗16、アナログスイッチ28の寄生P
NPトランジスタ39のエミッタからベース(あるいは
静電気保護用ダイオード31)、ICの電源VDD、IC
内の制御回路(図示せず)やリークを経て、ICの接地
電位VSS、寄生NPNトランジスタ5のベースからエミ
ッタ、電流制限抵抗15、入力信号源13に電流経路が
できる。
源13から電流制限抵抗15、PNPトランジスタ4の
エミッタからベースを経て、電源12に至る電流を、ダ
イオード50により阻止する。また、電位関係が、入力
信号源14が電源12より高い正電位、入力信号源13
が電源12より低い負電位の場合には、入力信号源14
から電流制限抵抗16、アナログスイッチ28の寄生P
NPトランジスタ39のエミッタからベース(あるいは
静電気保護用ダイオード31)、ICの電源VDD、IC
内の制御回路(図示せず)やリークを経て、ICの接地
電位VSS、寄生NPNトランジスタ5のベースからエミ
ッタ、電流制限抵抗15、入力信号源13に電流経路が
できる。
【0013】この場合、図8(b)に示すように、寄生
ダイオード54と寄生NPNトランジスタ55が、寄生
NPNトランジスタ56に流れるリーク電流によってオ
ンとなって電流が流れようとする。しかし、順電圧降下
の小さいダイオード52及び53により上記の電流をバ
イパスすることにより、図8(b)のような寄生ダイオ
ード54、寄生NPNトランジスタ55をオフ状態に維
持して電流が流れるのを防いでいる。
ダイオード54と寄生NPNトランジスタ55が、寄生
NPNトランジスタ56に流れるリーク電流によってオ
ンとなって電流が流れようとする。しかし、順電圧降下
の小さいダイオード52及び53により上記の電流をバ
イパスすることにより、図8(b)のような寄生ダイオ
ード54、寄生NPNトランジスタ55をオフ状態に維
持して電流が流れるのを防いでいる。
【0014】また、従来図9に示す如きアナログスイッ
チ回路も知られている(特開昭63−144620号公
報:発明の名称「アナログマルチプレクサ回路」)。同
図において、アナログスイッチ3、57の間と電源電位
VDDとの間にPchトランジスタ60が接続され、アナ
ログスイッチ58、59と接地電位VSSの間にNchト
ランジスタ61が接続され、更にアナログスイッチ3及
び58の各一端が電流制限抵抗15を介して入力信号源
13に接続された構成である。
チ回路も知られている(特開昭63−144620号公
報:発明の名称「アナログマルチプレクサ回路」)。同
図において、アナログスイッチ3、57の間と電源電位
VDDとの間にPchトランジスタ60が接続され、アナ
ログスイッチ58、59と接地電位VSSの間にNchト
ランジスタ61が接続され、更にアナログスイッチ3及
び58の各一端が電流制限抵抗15を介して入力信号源
13に接続された構成である。
【0015】この回路では、アナログスイッチ3、5
7、58、59がそれぞれオフの時に、Pchトランジ
スタ60とNchトランジスタ61とをオンとする。こ
れにより、入力信号源13の電位が、電源12の電位V
DDよりも高い場合には、アナログスイッチ58内の寄生
のPNPトランジスタ62は動作するが、Nchトラン
ジスタ61をオンとすることにより、次段のアナログス
イッチ59の入力電位を電源電位VDD以下とし、アナロ
グスイッチ59内の寄生のPNPトランジスタ63の動
作を防ぐ。
7、58、59がそれぞれオフの時に、Pchトランジ
スタ60とNchトランジスタ61とをオンとする。こ
れにより、入力信号源13の電位が、電源12の電位V
DDよりも高い場合には、アナログスイッチ58内の寄生
のPNPトランジスタ62は動作するが、Nchトラン
ジスタ61をオンとすることにより、次段のアナログス
イッチ59の入力電位を電源電位VDD以下とし、アナロ
グスイッチ59内の寄生のPNPトランジスタ63の動
作を防ぐ。
【0016】また、この回路は寄生PNPトランジスタ
62の動作による電流を、オンとされているNchトラ
ンジスタ61を介して接地電位VSSに流すことにより、
入力端子35の電圧をできるだけ下げ、アナログスイッ
チ3内の寄生のPNPトランジスタ4のベース電流をで
きるだけ少なくすることにより、PNPトランジスタ4
のコレクタ電流を小さくし、更にPchトランジスタ6
0のオンにより、次段のアナログスイッチ57内の寄生
のPNPトランジスタ64のエミッタ・ベース間を短絡
して、寄生PNPトランジスタ64の動作を防いでい
る。
62の動作による電流を、オンとされているNchトラ
ンジスタ61を介して接地電位VSSに流すことにより、
入力端子35の電圧をできるだけ下げ、アナログスイッ
チ3内の寄生のPNPトランジスタ4のベース電流をで
きるだけ少なくすることにより、PNPトランジスタ4
のコレクタ電流を小さくし、更にPchトランジスタ6
0のオンにより、次段のアナログスイッチ57内の寄生
のPNPトランジスタ64のエミッタ・ベース間を短絡
して、寄生PNPトランジスタ64の動作を防いでい
る。
【0017】また、更に従来知られている他のアナログ
スイッチ回路として図10に示す如き回路構成のアナロ
グスイッチ回路が知られている(特開平1−23673
1号公報:発明の名称「相補型アナログスイッチ」)。
この従来のアナログスイッチ回路は、図10に示すよう
に、縦続接続されたアナログスイッチ3とアナログスイ
ッチ57との間と接地電位VSS(もしくは電源電位
VDD)の間に、Nchトランジスタ65(もしくはPc
hトランジスタ)を接続するとともに、アナログスイッ
チ3の入力端を電流制限抵抗15を介して入力信号源1
3に接続し、また、縦続接続されたアナログスイッチ2
8とアナログスイッチ67との間と接地電位VSS(もし
くは電源電位VDD)の間に、Nchトランジスタ68
(もしくはPchトランジスタ)を接続するとともに、
アナログスイッチ28の入力端を電流制限抵抗16を介
して入力信号源17に接続した構成である。なお、特開
平1−236731号公報では、バックゲートの電位と
ゲート電位との関係から、アナログスイッチがオンして
しまう場合を記載しているが、ここでは寄生トランジス
タの動作によりアナログスイッチがオンしてしまう場合
に対して適用している。
スイッチ回路として図10に示す如き回路構成のアナロ
グスイッチ回路が知られている(特開平1−23673
1号公報:発明の名称「相補型アナログスイッチ」)。
この従来のアナログスイッチ回路は、図10に示すよう
に、縦続接続されたアナログスイッチ3とアナログスイ
ッチ57との間と接地電位VSS(もしくは電源電位
VDD)の間に、Nchトランジスタ65(もしくはPc
hトランジスタ)を接続するとともに、アナログスイッ
チ3の入力端を電流制限抵抗15を介して入力信号源1
3に接続し、また、縦続接続されたアナログスイッチ2
8とアナログスイッチ67との間と接地電位VSS(もし
くは電源電位VDD)の間に、Nchトランジスタ68
(もしくはPchトランジスタ)を接続するとともに、
アナログスイッチ28の入力端を電流制限抵抗16を介
して入力信号源17に接続した構成である。なお、特開
平1−236731号公報では、バックゲートの電位と
ゲート電位との関係から、アナログスイッチがオンして
しまう場合を記載しているが、ここでは寄生トランジス
タの動作によりアナログスイッチがオンしてしまう場合
に対して適用している。
【0018】この従来のアナログスイッチ回路では、ア
ナログスイッチ3、57(28、67)がオフの時に、
Nchトランジスタ65(68)をオンとする。すなわ
ち、入力信号源13の電位が、電源12の電位VDDより
も高い場合には、アナログスイッチ3内の寄生のPNP
トランジスタ4は動作するが、Nchトランジスタ65
をオンすることにより、次段のアナログスイッチ57の
電位を電源電位VDD以下とし、アナログスイッチ57内
の寄生PNPトランジスタ64の動作を防ぐ。
ナログスイッチ3、57(28、67)がオフの時に、
Nchトランジスタ65(68)をオンとする。すなわ
ち、入力信号源13の電位が、電源12の電位VDDより
も高い場合には、アナログスイッチ3内の寄生のPNP
トランジスタ4は動作するが、Nchトランジスタ65
をオンすることにより、次段のアナログスイッチ57の
電位を電源電位VDD以下とし、アナログスイッチ57内
の寄生PNPトランジスタ64の動作を防ぐ。
【0019】入力信号源13の電位が、接地電位VSSよ
りも低い場合には、アナログスイッチ3内の寄生のNP
Nトランジスタ5は動作するが、Nchトランジスタ6
5をオンすることにより、次段のアナログスイッチ57
内の寄生のNPNトランジスタ66のベース・エミッタ
間を短絡し、NPNトランジスタ66の動作を防ぐ。
りも低い場合には、アナログスイッチ3内の寄生のNP
Nトランジスタ5は動作するが、Nchトランジスタ6
5をオンすることにより、次段のアナログスイッチ57
内の寄生のNPNトランジスタ66のベース・エミッタ
間を短絡し、NPNトランジスタ66の動作を防ぐ。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、図8に示し
た従来のアナログスイッチ回路においては、ICの「電
源電位VDD−接地電位」が変動すると、ICが正常な動
作をしなくなる場合がある。その理由は、例えば入力信
号源13、14の電位が、電源12の電位VDDよりも高
い場合には、ICの電源電位は「入力信号源電位−アナ
ログスイッチ内の寄生のPNPトランジスタのエミッタ
・ベース間電圧」となるため、コンパレータ17の基準
電圧refを、電源電圧VDDの抵抗分割値としている時
には、基準電圧refが変動し、ICとしての正常な動
作をしなくなるからである。
た従来のアナログスイッチ回路においては、ICの「電
源電位VDD−接地電位」が変動すると、ICが正常な動
作をしなくなる場合がある。その理由は、例えば入力信
号源13、14の電位が、電源12の電位VDDよりも高
い場合には、ICの電源電位は「入力信号源電位−アナ
ログスイッチ内の寄生のPNPトランジスタのエミッタ
・ベース間電圧」となるため、コンパレータ17の基準
電圧refを、電源電圧VDDの抵抗分割値としている時
には、基準電圧refが変動し、ICとしての正常な動
作をしなくなるからである。
【0021】また、上記の従来のアナログスイッチ回路
では構成する素子数が多いという問題がある。すなわ
ち、図6に示した従来例ではn入力当たり、6×n個の
素子(信号経路にあるアナログスイッチを構成するPc
hトランジスタ、Nchトランジスタ及びインバータと
2つの静電気保護用ダイオード)が必要で、それほど多
くはない。
では構成する素子数が多いという問題がある。すなわ
ち、図6に示した従来例ではn入力当たり、6×n個の
素子(信号経路にあるアナログスイッチを構成するPc
hトランジスタ、Nchトランジスタ及びインバータと
2つの静電気保護用ダイオード)が必要で、それほど多
くはない。
【0022】これに対して、図8に示した従来のアナロ
グスイッチ回路では、n入力当り(7×n+2)個の素
子数が必要であり、また図9に示した従来のアナログス
イッチ回路では、図9では図示を省略したが1入力当り
4つのアナログスイッチのスイッチング制御信号経路に
1つのインバータが設けられているので、n入力当り1
4×n個の素子数が必要で、また、図10に示した従来
のアナログスイッチ回路では、図10では図示を省略し
たが1入力当り2つのアナログスイッチのスイッチング
制御信号経路に1つのインバータが設けられているの
で、n入力では9×n個の素子数が必要である。
グスイッチ回路では、n入力当り(7×n+2)個の素
子数が必要であり、また図9に示した従来のアナログス
イッチ回路では、図9では図示を省略したが1入力当り
4つのアナログスイッチのスイッチング制御信号経路に
1つのインバータが設けられているので、n入力当り1
4×n個の素子数が必要で、また、図10に示した従来
のアナログスイッチ回路では、図10では図示を省略し
たが1入力当り2つのアナログスイッチのスイッチング
制御信号経路に1つのインバータが設けられているの
で、n入力では9×n個の素子数が必要である。
【0023】また、従来のアナログスイッチ回路におい
ては、電流制限抵抗15、16が必要であり、寄生トラ
ンジスタの動作により発熱するという問題がある。その
理由は、寄生トランジスタにより、入力端子と電源電位
VDD・接地電位VSS間にダイオード1、2が入るため、
電流制限抵抗15、16がないと過電流が流れ、破壊に
至るために電流制限抵抗15、16が必要であるが、図
7(a)のような構造の場合には、入力信号源13の電
位が電源12の電位より高いと、P+領域から電源電位
VDDに流れる電流により、P+領域−N-層20−P基板
19間の寄生PNPトランジスタ67が動作し、図8
(b)のような構造の場合には、入力信号源13の電位
が接地電位VSSより低いと、接地電位VSSからN+領域
に流れる電流により、N-層20−P-層23−N+領域
間の寄生NPNトランジスタ56が動作し、電流制限抵
抗の値や寄生PNPトランジスタ67、寄生NPNトラ
ンジスタ56の電流増幅率によっては発熱し、最悪の場
合は破壊する。また、発熱に至らない程度の寄生電流で
あっても、MOSFETのバックゲートの電位変動を生
じ、高精度のICに影響を与える場合がある。
ては、電流制限抵抗15、16が必要であり、寄生トラ
ンジスタの動作により発熱するという問題がある。その
理由は、寄生トランジスタにより、入力端子と電源電位
VDD・接地電位VSS間にダイオード1、2が入るため、
電流制限抵抗15、16がないと過電流が流れ、破壊に
至るために電流制限抵抗15、16が必要であるが、図
7(a)のような構造の場合には、入力信号源13の電
位が電源12の電位より高いと、P+領域から電源電位
VDDに流れる電流により、P+領域−N-層20−P基板
19間の寄生PNPトランジスタ67が動作し、図8
(b)のような構造の場合には、入力信号源13の電位
が接地電位VSSより低いと、接地電位VSSからN+領域
に流れる電流により、N-層20−P-層23−N+領域
間の寄生NPNトランジスタ56が動作し、電流制限抵
抗の値や寄生PNPトランジスタ67、寄生NPNトラ
ンジスタ56の電流増幅率によっては発熱し、最悪の場
合は破壊する。また、発熱に至らない程度の寄生電流で
あっても、MOSFETのバックゲートの電位変動を生
じ、高精度のICに影響を与える場合がある。
【0024】本発明は以上の点に鑑みなされたもので、
電源電位の変動を生じさせないことにより、動作の信頼
性向上を図るとともに、構成する素子数を低減すること
により、小型化が可能なアナログスイッチ回路を提供す
ることを目的とする。
電源電位の変動を生じさせないことにより、動作の信頼
性向上を図るとともに、構成する素子数を低減すること
により、小型化が可能なアナログスイッチ回路を提供す
ることを目的とする。
【0025】また、本発明の他の目的は、電源電位の変
動を生じさせないことにより、動作の信頼性向上を図る
とともに、寄生トランジスタの動作をなくすことによ
り、発熱や寄生電流を防止し、信頼性を向上し得るアナ
ログスイッチ回路を提供することにある。
動を生じさせないことにより、動作の信頼性向上を図る
とともに、寄生トランジスタの動作をなくすことによ
り、発熱や寄生電流を防止し、信頼性を向上し得るアナ
ログスイッチ回路を提供することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、ドレイン同士が接続され、かつ、ソース同
士が接続されたPチャンネルの第1のトランジスタ及び
Nチャンネルの第2のトランジスタからなるアナログス
イッチと、第1のトランジスタのバックゲートと高電位
側電源との間に、互いに逆向きに並列接続された第1及
び第2のダイオードと、第2のトランジスタのバックゲ
ートと低電位側電源との間に、互いに逆向きに並列接続
された第3及び第4のダイオードとを有することを特徴
とする。
成するため、ドレイン同士が接続され、かつ、ソース同
士が接続されたPチャンネルの第1のトランジスタ及び
Nチャンネルの第2のトランジスタからなるアナログス
イッチと、第1のトランジスタのバックゲートと高電位
側電源との間に、互いに逆向きに並列接続された第1及
び第2のダイオードと、第2のトランジスタのバックゲ
ートと低電位側電源との間に、互いに逆向きに並列接続
された第3及び第4のダイオードとを有することを特徴
とする。
【0027】この発明では、アナログスイッチの入力端
と高電位側電源と低電位側電源の間に接続される静電気
保護用ダイオ−ドの順電圧降下VFよりも、アナログス
イッチの寄生トランジスタが動作する電圧が(約2×V
F)と大きくできるため、入力信号源の電位が高電位側
電源の電位以上、あるいは低電位側電源の電位以下のと
きに、上記の寄生トランジスタに電流が流れないように
できる。
と高電位側電源と低電位側電源の間に接続される静電気
保護用ダイオ−ドの順電圧降下VFよりも、アナログス
イッチの寄生トランジスタが動作する電圧が(約2×V
F)と大きくできるため、入力信号源の電位が高電位側
電源の電位以上、あるいは低電位側電源の電位以下のと
きに、上記の寄生トランジスタに電流が流れないように
できる。
【0028】また、本発明は上記の目的を達成するた
め、ドレイン同士が接続され、かつ、ソース同士が接続
されたPチャンネルの第1のトランジスタ及びNチャン
ネルの第2のトランジスタからなるアナログスイッチ
と、入力端子とアナログスイッチの入力端との間に、ゲ
ートが高電位側電源に接続されたエンハンスメント型で
Nチャンネルの第3のトランジスタ及びゲートが低電位
側電源に接続されたエンハンスメント型でPチャンネル
の第4のトランジスタのうちの一方を単独で、又は両方
を直列に接続したことを特徴とする。
め、ドレイン同士が接続され、かつ、ソース同士が接続
されたPチャンネルの第1のトランジスタ及びNチャン
ネルの第2のトランジスタからなるアナログスイッチ
と、入力端子とアナログスイッチの入力端との間に、ゲ
ートが高電位側電源に接続されたエンハンスメント型で
Nチャンネルの第3のトランジスタ及びゲートが低電位
側電源に接続されたエンハンスメント型でPチャンネル
の第4のトランジスタのうちの一方を単独で、又は両方
を直列に接続したことを特徴とする。
【0029】この発明では、入力信号源の電位が高電位
側電源の電位よりも高い場合には、第3のトランジスタ
がオフするため、また入力信号源の電位が低電位側電源
の電位よりも低い場合には、第4のトランジスタがオフ
するため、アナログスイッチの入力電位が、高電位側電
源と低電位側電源の間の電位となり、アナログスイッチ
の寄生トランジスタは動作しない。
側電源の電位よりも高い場合には、第3のトランジスタ
がオフするため、また入力信号源の電位が低電位側電源
の電位よりも低い場合には、第4のトランジスタがオフ
するため、アナログスイッチの入力電位が、高電位側電
源と低電位側電源の間の電位となり、アナログスイッチ
の寄生トランジスタは動作しない。
【0030】
【発明の実施の形態】次に、本発明の各実施の形態につ
いて、図面と共に説明する。
いて、図面と共に説明する。
【0031】図1は本発明になるアナログスイッチ回路
の第1の実施の形態の回路図を示す。この実施の形態
は、図1に示すように、電源12、入力信号源13及び
14、電流制限抵抗15及び16、制御回路10及び1
1、コンパレータ17、ダイオード6、7、8及び9か
ら構成されており、2入力の例でいる。制御回路10及
び11は入力信号源13、14の電圧(入力信号)をコ
ンパレータ17に伝達するか否かを制御する回路で、そ
れぞれ同一構成であるから、制御回路11について代表
してその構成について説明すると、制御回路10は静電
気保護用ダイオード1及び2とアナログスイッチ3から
構成されている。コンパレータ17には制御回路10及
び11のいずれか一方を通して一方の入力信号のみが入
力される。
の第1の実施の形態の回路図を示す。この実施の形態
は、図1に示すように、電源12、入力信号源13及び
14、電流制限抵抗15及び16、制御回路10及び1
1、コンパレータ17、ダイオード6、7、8及び9か
ら構成されており、2入力の例でいる。制御回路10及
び11は入力信号源13、14の電圧(入力信号)をコ
ンパレータ17に伝達するか否かを制御する回路で、そ
れぞれ同一構成であるから、制御回路11について代表
してその構成について説明すると、制御回路10は静電
気保護用ダイオード1及び2とアナログスイッチ3から
構成されている。コンパレータ17には制御回路10及
び11のいずれか一方を通して一方の入力信号のみが入
力される。
【0032】アナログスイッチ3は図6及び図7と共に
説明したように、ドレイン同士、及びソース同士が接続
されたPchトランジスタ21及びNchトランジスタ2
4と、端子26からの信号を反転してPchトランジス
タのゲートに印加するインバータ27とから構成されて
おり、寄生PNPトランジスタ4と寄生NPNトランジ
スタ5を有している。また、電流制限抵抗15及びアナ
ログスイッチ3の接続点には静電気保護用ダイオード1
のアノードと静電気保護用ダイオード2のカソードがそ
れぞれ接続され、上記ダイオード1のカソードは高電位
側電源の電源電位VDDに接続され、上記ダイオード2の
アノードは低電位側電源の接地電位VSSに接続されてい
る。
説明したように、ドレイン同士、及びソース同士が接続
されたPchトランジスタ21及びNchトランジスタ2
4と、端子26からの信号を反転してPchトランジス
タのゲートに印加するインバータ27とから構成されて
おり、寄生PNPトランジスタ4と寄生NPNトランジ
スタ5を有している。また、電流制限抵抗15及びアナ
ログスイッチ3の接続点には静電気保護用ダイオード1
のアノードと静電気保護用ダイオード2のカソードがそ
れぞれ接続され、上記ダイオード1のカソードは高電位
側電源の電源電位VDDに接続され、上記ダイオード2の
アノードは低電位側電源の接地電位VSSに接続されてい
る。
【0033】更に、寄生PNPトランジスタ4のベース
と電源電位VDDの間には互いに逆向きにダイオード6及
び7が並列に接続され、寄生NPNトランジスタ5のベ
ースと接地電位VSSとの間には互いに逆向きにダイオー
ド8及び9が並列に接続されている。ダイオード6〜9
は制御回路10及び11に共通に、つまり入力信号数に
関係なく共通に設けられており、制御回路11内のアナ
ログスイッチ28の寄生PNPトランジスタ(39)の
ベースと電源電位VDDの間に互いに逆向きにダイオード
6及び7が並列に接続され、寄生NPNトランジスタ
(40)のベースと接地電位VSSとの間に互いに逆向き
にダイオード8及び9が並列に接続されている。
と電源電位VDDの間には互いに逆向きにダイオード6及
び7が並列に接続され、寄生NPNトランジスタ5のベ
ースと接地電位VSSとの間には互いに逆向きにダイオー
ド8及び9が並列に接続されている。ダイオード6〜9
は制御回路10及び11に共通に、つまり入力信号数に
関係なく共通に設けられており、制御回路11内のアナ
ログスイッチ28の寄生PNPトランジスタ(39)の
ベースと電源電位VDDの間に互いに逆向きにダイオード
6及び7が並列に接続され、寄生NPNトランジスタ
(40)のベースと接地電位VSSとの間に互いに逆向き
にダイオード8及び9が並列に接続されている。
【0034】図2は図1に示したアナログスイッチ回路
の第1の実施の形態の構造断面図を示す。図2に示すよ
うに、P基板19上にはラッチアップ防止のためのP+
分離層18を挟んでN-層20とN-層22が形成されて
おり、N-層20にはPchトランジスタ21とダイオ
ード7が形成され、N-層22にはダイオード6とP-層
23及び25がそれぞれ形成されている。P-層23に
はNchトランジスタ24とダイオード9が形成され、
P-層25にはダイオード8が形成されている。
の第1の実施の形態の構造断面図を示す。図2に示すよ
うに、P基板19上にはラッチアップ防止のためのP+
分離層18を挟んでN-層20とN-層22が形成されて
おり、N-層20にはPchトランジスタ21とダイオ
ード7が形成され、N-層22にはダイオード6とP-層
23及び25がそれぞれ形成されている。P-層23に
はNchトランジスタ24とダイオード9が形成され、
P-層25にはダイオード8が形成されている。
【0035】スイッチ制御端子26はNchトランジス
タ24のゲート電極に接続されると共にインバータ27
を介してPchトランジスタ21のゲート電極に接続さ
れ、ドレイン同士とソース同士がそれぞれ接続されたP
chトランジスタ21及びNchトランジスタ24と共
に、図6(b)に示したようにアナログスイッチ3を構
成している。
タ24のゲート電極に接続されると共にインバータ27
を介してPchトランジスタ21のゲート電極に接続さ
れ、ドレイン同士とソース同士がそれぞれ接続されたP
chトランジスタ21及びNchトランジスタ24と共
に、図6(b)に示したようにアナログスイッチ3を構
成している。
【0036】ここで、上記の構造によりPchトランジ
スタ21のソース、ドレイン及びバックゲートを、各々
エミッタ、コレクタ及びベースとする寄生PNPトラン
ジスタ4が形成され、そのバックゲートすなわちベース
が電源電位VDDに接続される。また、Nchトランジス
タ24のドレイン、ソース及びバックゲートを、各々エ
ミッタ、コレクタ及びベースとする寄生NPNトランジ
スタ5が形成され、バックゲートすなわちベースが接地
電位VSSに接続される。これにより、アナログスイッチ
3は従来と同様に図1に示したように寄生トランジスタ
4及び5で表現することができる。
スタ21のソース、ドレイン及びバックゲートを、各々
エミッタ、コレクタ及びベースとする寄生PNPトラン
ジスタ4が形成され、そのバックゲートすなわちベース
が電源電位VDDに接続される。また、Nchトランジス
タ24のドレイン、ソース及びバックゲートを、各々エ
ミッタ、コレクタ及びベースとする寄生NPNトランジ
スタ5が形成され、バックゲートすなわちベースが接地
電位VSSに接続される。これにより、アナログスイッチ
3は従来と同様に図1に示したように寄生トランジスタ
4及び5で表現することができる。
【0037】次に、この実施の形態の動作について説明
する。まず、入力信号源13の電位が電源12の電位V
DD以上であり、かつ、入力信号源14の電位が電源12
の電位VDDと接地電位VSSとの間にある電位である場合
の動作について説明する。なお、以下の説明では制御回
路10内のアナログスイッチ3をオフさせ、制御回路1
1内のアナログスイッチ28をオンさせて入力信号源1
4からの入力信号をコンパレータ17に入力するものと
する。
する。まず、入力信号源13の電位が電源12の電位V
DD以上であり、かつ、入力信号源14の電位が電源12
の電位VDDと接地電位VSSとの間にある電位である場合
の動作について説明する。なお、以下の説明では制御回
路10内のアナログスイッチ3をオフさせ、制御回路1
1内のアナログスイッチ28をオンさせて入力信号源1
4からの入力信号をコンパレータ17に入力するものと
する。
【0038】このときは、入力信号源13から静電気保
護用ダイオード1を経て電源12に電流が流れる。ここ
で、図3に示すように静電気保護用ダイオード1及び2
の各順電圧はVDで、またダイオード6〜9の各順電圧
はVFで示すように、順電流Iの対数に比例し、電流制
限抵抗15により電流が制限される上記の場合はほぼ
0.6V〜0.7V程度である。
護用ダイオード1を経て電源12に電流が流れる。ここ
で、図3に示すように静電気保護用ダイオード1及び2
の各順電圧はVDで、またダイオード6〜9の各順電圧
はVFで示すように、順電流Iの対数に比例し、電流制
限抵抗15により電流が制限される上記の場合はほぼ
0.6V〜0.7V程度である。
【0039】このときの、静電気保護用ダイオード1の
順電圧VDは、直列に接続された2個のダイオード(す
なわち、アナログスイッチ3内の寄生PNPトランジス
タ4のエミッタ・ベース間のダイオードとダイオード
6)に順電流が流れるために必要な電圧である、ほぼ
(0.6V〜0.7V)×2(図3にVBE+VFで示
す)に比べて非常に小さいため、入力信号源13から電
源12に流れる電流は、静電気保護用ダイオード1によ
りバイパスされるため、寄生PNPトランジスタ4は動
作しない。従って、このときのコンパレータ17の入力
には制御回路11を通過した入力信号源14の電位がそ
のまま正常に印加される。
順電圧VDは、直列に接続された2個のダイオード(す
なわち、アナログスイッチ3内の寄生PNPトランジス
タ4のエミッタ・ベース間のダイオードとダイオード
6)に順電流が流れるために必要な電圧である、ほぼ
(0.6V〜0.7V)×2(図3にVBE+VFで示
す)に比べて非常に小さいため、入力信号源13から電
源12に流れる電流は、静電気保護用ダイオード1によ
りバイパスされるため、寄生PNPトランジスタ4は動
作しない。従って、このときのコンパレータ17の入力
には制御回路11を通過した入力信号源14の電位がそ
のまま正常に印加される。
【0040】次に、入力信号源13の電位が接地電位V
SS以下であるときの動作について説明する。このとき
は、接地電位VSSから静電気保護用ダイオード2、電流
制限抵抗15を介して入力信号源13に電流が流れる
が、このときは静電気保護用ダイオード2に並列に、ダ
イオード8とアナログスイッチ3内の寄生NPNトラン
ジスタ5のベース・エミッタ間のダイオードの計2個の
ダイオードの直列回路が接続されることになるため、上
記と同様の理由から接地電位VSSから入力信号源13に
流れ込む電流は、静電気保護用ダイオード2によりバイ
パスされるため、寄生NPNトランジスタ5は動作しな
い。従って、このときのコンパレータ17の入力には制
御回路11を通過した入力信号源14の電位がそのまま
印加される。
SS以下であるときの動作について説明する。このとき
は、接地電位VSSから静電気保護用ダイオード2、電流
制限抵抗15を介して入力信号源13に電流が流れる
が、このときは静電気保護用ダイオード2に並列に、ダ
イオード8とアナログスイッチ3内の寄生NPNトラン
ジスタ5のベース・エミッタ間のダイオードの計2個の
ダイオードの直列回路が接続されることになるため、上
記と同様の理由から接地電位VSSから入力信号源13に
流れ込む電流は、静電気保護用ダイオード2によりバイ
パスされるため、寄生NPNトランジスタ5は動作しな
い。従って、このときのコンパレータ17の入力には制
御回路11を通過した入力信号源14の電位がそのまま
印加される。
【0041】以上の動作は入力信号源13の電位が電源
12の電位VDD以上、あるいは接地電位VSS以下の場合
であるが、入力信号源13の電位が電源12の電位V
DDと接地電位VSSとの間にある電位であり、また制
御回路11内のアナログスイッチ28をオフさせ、制御
回路10内のアナログスイッチ3をオンさせて入力信号
源13からの入力信号をコンパレータ17に入力すると
きに、入力信号源14の電位が電源12の電位VDD以
上又はVSS以下である場合も、上記の説明から明らかに
分かるように、ダイオード6〜9によりアナログスイッ
チ28内の寄生トランジスタを動作させないようにでき
る。
12の電位VDD以上、あるいは接地電位VSS以下の場合
であるが、入力信号源13の電位が電源12の電位V
DDと接地電位VSSとの間にある電位であり、また制
御回路11内のアナログスイッチ28をオフさせ、制御
回路10内のアナログスイッチ3をオンさせて入力信号
源13からの入力信号をコンパレータ17に入力すると
きに、入力信号源14の電位が電源12の電位VDD以
上又はVSS以下である場合も、上記の説明から明らかに
分かるように、ダイオード6〜9によりアナログスイッ
チ28内の寄生トランジスタを動作させないようにでき
る。
【0042】この第1の実施の形態では、この実施の形
態のアナログスイッチ回路を搭載したICの電源電位V
DDと接地電位VSSと電源12が直結され、安定した電位
VDDとVSSが得られ、よってICが常に正常動作がで
き、信頼性が向上する。また、この実施の形態の素子数
はn入力当り(6n+4)個であり、従来の14n個あ
るいは9n個などに比べて少なく、ICの小型化を実現
できる。
態のアナログスイッチ回路を搭載したICの電源電位V
DDと接地電位VSSと電源12が直結され、安定した電位
VDDとVSSが得られ、よってICが常に正常動作がで
き、信頼性が向上する。また、この実施の形態の素子数
はn入力当り(6n+4)個であり、従来の14n個あ
るいは9n個などに比べて少なく、ICの小型化を実現
できる。
【0043】次に、本発明の第2の実施の形態について
説明する。図4は本発明になるアナログスイッチ回路の
第2の実施の形態の回路図を示す。この実施の形態は、
図2に示すように、電源12、入力信号源13及び1
4、静電気保護用ダイオード1,2,29〜34、アナ
ログスイッチ3及び28、Nchトランジスタ37、4
1、Pchトランジスタ38、42から構成されてい
る。
説明する。図4は本発明になるアナログスイッチ回路の
第2の実施の形態の回路図を示す。この実施の形態は、
図2に示すように、電源12、入力信号源13及び1
4、静電気保護用ダイオード1,2,29〜34、アナ
ログスイッチ3及び28、Nchトランジスタ37、4
1、Pchトランジスタ38、42から構成されてい
る。
【0044】入力信号源13の正側端子に接続された入
力端子35と電源電位VDDとの間には、互いに逆向きと
された静電気保護用ダイオード1及び2からなる直列回
路が接続されており、入力端子35と接地電位VSSとの
間にも互いに逆向きとされた静電気保護用ダイオード2
及び30からなる直列回路が接続されている。同様に、
入力信号源14の正側端子に接続された入力端子36と
電源電位VDDとの間には、互いに逆向きとされた静電気
保護用ダイオード31及び32からなる直列回路が接続
されており、入力端子36と接地電位VSSとの間にも互
いに逆向きとされた静電気保護用ダイオード33及び3
4からなる直列回路が接続されている。
力端子35と電源電位VDDとの間には、互いに逆向きと
された静電気保護用ダイオード1及び2からなる直列回
路が接続されており、入力端子35と接地電位VSSとの
間にも互いに逆向きとされた静電気保護用ダイオード2
及び30からなる直列回路が接続されている。同様に、
入力信号源14の正側端子に接続された入力端子36と
電源電位VDDとの間には、互いに逆向きとされた静電気
保護用ダイオード31及び32からなる直列回路が接続
されており、入力端子36と接地電位VSSとの間にも互
いに逆向きとされた静電気保護用ダイオード33及び3
4からなる直列回路が接続されている。
【0045】また、入力端子35とアナログスイッチ3
との間に、Nchトランジスタ37とPchトランジス
タ38が直列接続され、入力端子36とアナログスイッ
チ28との間に、Nchトランジスタ41とPchトラ
ンジスタ42が直列接続されている。Nchトランジス
タ37及び41の各ゲートは電源電位VDDに接続され、
Pchトランジスタ38及び42のゲートは接地電位V
SSに接続されている。
との間に、Nchトランジスタ37とPchトランジス
タ38が直列接続され、入力端子36とアナログスイッ
チ28との間に、Nchトランジスタ41とPchトラ
ンジスタ42が直列接続されている。Nchトランジス
タ37及び41の各ゲートは電源電位VDDに接続され、
Pchトランジスタ38及び42のゲートは接地電位V
SSに接続されている。
【0046】アナログスイッチ3は寄生PNPトランジ
スタ4と寄生NPNトランジスタ5を有しており、アナ
ログスイッチ28は寄生PNPトランジスタ39と寄生
NPNトランジスタ40を有している。アナログスイッ
チ3及び28の出力端は、それぞれコンパレータ17の
入力端子に共通接続されている。
スタ4と寄生NPNトランジスタ5を有しており、アナ
ログスイッチ28は寄生PNPトランジスタ39と寄生
NPNトランジスタ40を有している。アナログスイッ
チ3及び28の出力端は、それぞれコンパレータ17の
入力端子に共通接続されている。
【0047】図5(a)、(b)は図4に示したアナロ
グスイッチ回路の第2の実施の形態の構造断面図を示
す。図5(a)、(b)に示すように、ICのP基板1
9上にはラッチアップ防止のためのP+分離層18を挟
んでN-層20とN-層22が形成されており、N-層2
0にはPchトランジスタ21とP-層43、44、4
5及び46が形成され、N-層22にはPchトランジ
スタ38が形成されている。また、P-層43にはNc
hトランジスタ37が、P-層44にはNchトランジ
スタ24が形成されている。
グスイッチ回路の第2の実施の形態の構造断面図を示
す。図5(a)、(b)に示すように、ICのP基板1
9上にはラッチアップ防止のためのP+分離層18を挟
んでN-層20とN-層22が形成されており、N-層2
0にはPchトランジスタ21とP-層43、44、4
5及び46が形成され、N-層22にはPchトランジ
スタ38が形成されている。また、P-層43にはNc
hトランジスタ37が、P-層44にはNchトランジ
スタ24が形成されている。
【0048】更に、図5(b)に示すように、N-層2
0内のP-層45及び46のうち、P-層45には静電気
保護用ダイオード1及び29が形成され、P-層46に
は静電気保護用ダイオード2及び30が形成されてい
る。
0内のP-層45及び46のうち、P-層45には静電気
保護用ダイオード1及び29が形成され、P-層46に
は静電気保護用ダイオード2及び30が形成されてい
る。
【0049】スイッチ制御端子26はNchトランジス
タ24のゲート電極に接続されると共にインバータ27
を介してPchトランジスタ21のゲート電極に接続さ
れ、ドレイン同士とソース同士がそれぞれ接続されたP
chトランジスタ21及びNchトランジスタ24と共
に、図6(b)に示したようにアナログスイッチ3を構
成している。
タ24のゲート電極に接続されると共にインバータ27
を介してPchトランジスタ21のゲート電極に接続さ
れ、ドレイン同士とソース同士がそれぞれ接続されたP
chトランジスタ21及びNchトランジスタ24と共
に、図6(b)に示したようにアナログスイッチ3を構
成している。
【0050】ここで、上記の構造によりPchトランジ
スタ21のソース、ドレイン及びバックゲートを、各々
エミッタ、コレクタ及びベースとする寄生PNPトラン
ジスタ4が形成され、そのバックゲートすなわちベース
が電源電位VDDに接続される。また、Nchトランジス
タ24のドレイン、ソース及びバックゲートを、各々エ
ミッタ、コレクタ及びベースとする寄生NPNトランジ
スタ5が形成され、バックゲートすなわちベースが接地
電位VSSに接続される。これにより、アナログスイッチ
3は従来と同様に図4に示したように寄生トランジスタ
4及び5で表現することができる。
スタ21のソース、ドレイン及びバックゲートを、各々
エミッタ、コレクタ及びベースとする寄生PNPトラン
ジスタ4が形成され、そのバックゲートすなわちベース
が電源電位VDDに接続される。また、Nchトランジス
タ24のドレイン、ソース及びバックゲートを、各々エ
ミッタ、コレクタ及びベースとする寄生NPNトランジ
スタ5が形成され、バックゲートすなわちベースが接地
電位VSSに接続される。これにより、アナログスイッチ
3は従来と同様に図4に示したように寄生トランジスタ
4及び5で表現することができる。
【0051】更に、図5(a)に示すように、Pchト
ランジスタ38のドレイン及びバックゲートを、各々ア
ノード及びカソードとする寄生ダイオード47が形成さ
れ、そのバックゲートすなわちカソードが寄生トランジ
スタ4及び5の各エミッタに接続される。また、Nch
トランジスタ37のドレイン及びバックゲートを、各々
カソード及びアノードとする寄生ダイオード48が形成
され、バックゲートすなわちアノードが寄生ダイオード
47のアノードに接続され、寄生ダイオード48のカソ
ードが入力端子35に接続される。
ランジスタ38のドレイン及びバックゲートを、各々ア
ノード及びカソードとする寄生ダイオード47が形成さ
れ、そのバックゲートすなわちカソードが寄生トランジ
スタ4及び5の各エミッタに接続される。また、Nch
トランジスタ37のドレイン及びバックゲートを、各々
カソード及びアノードとする寄生ダイオード48が形成
され、バックゲートすなわちアノードが寄生ダイオード
47のアノードに接続され、寄生ダイオード48のカソ
ードが入力端子35に接続される。
【0052】次に、この実施の形態の動作について説明
する。まず、図4に示した入力信号源13、14の電位
が、電源電位VDDと接地電位VSSとの間にあり、アナロ
グスイッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオンであ
る場合の動作について説明するに、このときは、Nch
トランジスタ37、41はゲートが最高電位である電源
電位VDDに接続されているためオンとなり、Pchトラ
ンジスタ38、42はゲートが最低電位である接地電位
VSSに接続されているためオンとなることより、入力信
号源13、14の電位が、そのままアナログスイッチ
3、28に伝わる。しかし、アナログスイッチ3がオ
フ、アナログスイッチ28がオンであるから、コンパレ
ータ17には入力信号源14の電位のみがアナログスイ
ッチ28を通して印加されて基準電圧refと比較され
る。
する。まず、図4に示した入力信号源13、14の電位
が、電源電位VDDと接地電位VSSとの間にあり、アナロ
グスイッチ3がオフ、アナログスイッチ28がオンであ
る場合の動作について説明するに、このときは、Nch
トランジスタ37、41はゲートが最高電位である電源
電位VDDに接続されているためオンとなり、Pchトラ
ンジスタ38、42はゲートが最低電位である接地電位
VSSに接続されているためオンとなることより、入力信
号源13、14の電位が、そのままアナログスイッチ
3、28に伝わる。しかし、アナログスイッチ3がオ
フ、アナログスイッチ28がオンであるから、コンパレ
ータ17には入力信号源14の電位のみがアナログスイ
ッチ28を通して印加されて基準電圧refと比較され
る。
【0053】ここで、仮に、Pchトランジスタ38の
ソース電位、すなわちアナログスイッチ3の入力電位が
接地電位VSSであったとしても、Pchトランジスタ3
8のドレイン・ソース間は図5(a)に示した寄生ダイ
オード47により0.6V程度以下であることより、N
chトランジスタ37は、ゲートがバイアスされ、オン
状態となる。これにより、Pchトランジスタ38は、
ソース電位が「入力信号源13の電位−0.6v程度以
下」にバイアスされるため、オン状態となる。
ソース電位、すなわちアナログスイッチ3の入力電位が
接地電位VSSであったとしても、Pchトランジスタ3
8のドレイン・ソース間は図5(a)に示した寄生ダイ
オード47により0.6V程度以下であることより、N
chトランジスタ37は、ゲートがバイアスされ、オン
状態となる。これにより、Pchトランジスタ38は、
ソース電位が「入力信号源13の電位−0.6v程度以
下」にバイアスされるため、オン状態となる。
【0054】また、仮に、Pchトランジスタ38のソ
ース電位が電源電位VDDであったとしても、Pchトラ
ンジスタ38はオンであり、Nchトランジスタ37の
ソース・ドレイン間は図5(a)に示した寄生ダイオー
ド48により0.6V程度以下であることより、Pch
トランジスタ38のソース、すなわちアナログスイッチ
3に蓄積されていた電荷は、入力信号源13に向けて放
電し、Nchトランジスタ37は、ソース電位が「入力
信号源13の電位+0.6v程度以下」となり、ゲート
・ソース間が「電源電位VDD−(入力信号源13の電位
+0.6V程度以下)」にバイアスされるため、オン状
態となる。
ース電位が電源電位VDDであったとしても、Pchトラ
ンジスタ38はオンであり、Nchトランジスタ37の
ソース・ドレイン間は図5(a)に示した寄生ダイオー
ド48により0.6V程度以下であることより、Pch
トランジスタ38のソース、すなわちアナログスイッチ
3に蓄積されていた電荷は、入力信号源13に向けて放
電し、Nchトランジスタ37は、ソース電位が「入力
信号源13の電位+0.6v程度以下」となり、ゲート
・ソース間が「電源電位VDD−(入力信号源13の電位
+0.6V程度以下)」にバイアスされるため、オン状
態となる。
【0055】 次に、入力信号源13の電位が、電源1
2の電源電位VDDを越えた場合の動作について説明す
る。図4に示す入力信号源13の電位が上昇すると、そ
れにつれてNchトランジスタ37、Pchトランジス
タ38の各々のソース電位が上昇し、「電源電位VDD
−Nchトランジスタ37のソース電位(すなわち入力
信号源13の電位)」がNchトランジスタ37のしき
い電圧VTHNよりも小さくなると、Nchトランジス
タ37はエンハンスメント型のMOSFETであるか
ら、Nchトランジスタ37はオフ状態となり、電源1
2の電位VDD以上となっても、Nchトランジスタ3
7はオフであり、また、静電気保護用ダイオード29に
より静電気保護用ダイオード1に電流が流れるのを防ぐ
ため、入力信号源13からの電流は流れなくなり、従っ
て電流制限抵抗は不要となる。
2の電源電位VDDを越えた場合の動作について説明す
る。図4に示す入力信号源13の電位が上昇すると、そ
れにつれてNchトランジスタ37、Pchトランジス
タ38の各々のソース電位が上昇し、「電源電位VDD
−Nchトランジスタ37のソース電位(すなわち入力
信号源13の電位)」がNchトランジスタ37のしき
い電圧VTHNよりも小さくなると、Nchトランジス
タ37はエンハンスメント型のMOSFETであるか
ら、Nchトランジスタ37はオフ状態となり、電源1
2の電位VDD以上となっても、Nchトランジスタ3
7はオフであり、また、静電気保護用ダイオード29に
より静電気保護用ダイオード1に電流が流れるのを防ぐ
ため、入力信号源13からの電流は流れなくなり、従っ
て電流制限抵抗は不要となる。
【0056】 次に入力信号源13の電位が、接地電位
VSS以下の場合の動作について説明する。入力信号源
13の電位が下降すると、それにつれてNchトランジ
スタ37、Pchトランジスタ38の各々のソース電位
が下降するが、Pchトランジスタ38のソース電位
(すなわち入力信号源13の電位)がPchトランジス
タ38のしきい電圧VTHPよりも小さくなると、Pc
hトランジスタ38はエンハンスメント型のMOSFE
Tであるから、Pchトランジスタ38はオフ状態とな
り、接地電位VSS以下となっても、Pchトランジス
タ38はオフであり、また静電気保護用ダイオード30
により静電気保護用ダイオード2に電流が流れるのを防
ぐため、入力信号源13への電流は流れなくなり、従っ
て電流制限抵抗は不要となる。
VSS以下の場合の動作について説明する。入力信号源
13の電位が下降すると、それにつれてNchトランジ
スタ37、Pchトランジスタ38の各々のソース電位
が下降するが、Pchトランジスタ38のソース電位
(すなわち入力信号源13の電位)がPchトランジス
タ38のしきい電圧VTHPよりも小さくなると、Pc
hトランジスタ38はエンハンスメント型のMOSFE
Tであるから、Pchトランジスタ38はオフ状態とな
り、接地電位VSS以下となっても、Pchトランジス
タ38はオフであり、また静電気保護用ダイオード30
により静電気保護用ダイオード2に電流が流れるのを防
ぐため、入力信号源13への電流は流れなくなり、従っ
て電流制限抵抗は不要となる。
【0057】以上のように、入力信号源13が電源12
の電位V DD以上の時には、Nchトランジスタ37が働
き、入力信号13が接地電位VSS以下の時には、Pch
トランジスタ38が働くため、入力信号源13が接地電
位VSS以下となることがなく、電源電位VDDを越える場
合には、Pchトランジスタ38は不要であり、入力信
号源13が電源電位VDD以上となることがなく、接地電
位VSS以下となる場合には、Nchトランジスタ37は
不要である。
の電位V DD以上の時には、Nchトランジスタ37が働
き、入力信号13が接地電位VSS以下の時には、Pch
トランジスタ38が働くため、入力信号源13が接地電
位VSS以下となることがなく、電源電位VDDを越える場
合には、Pchトランジスタ38は不要であり、入力信
号源13が電源電位VDD以上となることがなく、接地電
位VSS以下となる場合には、Nchトランジスタ37は
不要である。
【0058】この実施の形態では、入力信号源の電位が
ICの電源電位VDD以上、及び接地電位VSS以下となる
ことがないので、電流制限抵抗が不要であり、よって寄
生トランジスタの動作による発熱を防止することができ
る。
ICの電源電位VDD以上、及び接地電位VSS以下となる
ことがないので、電流制限抵抗が不要であり、よって寄
生トランジスタの動作による発熱を防止することができ
る。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入力信号源の電位が高電位側電源の電位よりも高い場
合、及び入力信号源の電位が低電位側電源の電位よりも
低い場合に、アナログスイッチの寄生トランジスタが動
作しないようにしたため、アナログスイッチが搭載され
ている半導体集積回路(IC)と高電位側電源及び低電
位側電源が変動せず、これにより、常にICは正常の動
作を行うことができるようになり、信頼性が向上する。
入力信号源の電位が高電位側電源の電位よりも高い場
合、及び入力信号源の電位が低電位側電源の電位よりも
低い場合に、アナログスイッチの寄生トランジスタが動
作しないようにしたため、アナログスイッチが搭載され
ている半導体集積回路(IC)と高電位側電源及び低電
位側電源が変動せず、これにより、常にICは正常の動
作を行うことができるようになり、信頼性が向上する。
【0060】また、本発明によれば、アナログスイッチ
を構成する第1、第2のトランジスタのバックゲートと
高電位側電源、低電位側電源との間に、互いに逆向きに
並列接続された2つのダイオードを並列接続し、更に入
力信号源とアナログスイッチの入力端の間に電流制限抵
抗を設けると共に、アナログスイッチの入力端と高電位
側電源及び低電位側電源との間にそれぞれ第1及び第2
の静電気保護用ダイオードを接続する構成としたため、
n入力当たりの素子数が(6×n+4)個となり、従来
に比べて少ない素子数で構成でき、よって、アナログス
イッチが搭載されたICの小型化ができる。
を構成する第1、第2のトランジスタのバックゲートと
高電位側電源、低電位側電源との間に、互いに逆向きに
並列接続された2つのダイオードを並列接続し、更に入
力信号源とアナログスイッチの入力端の間に電流制限抵
抗を設けると共に、アナログスイッチの入力端と高電位
側電源及び低電位側電源との間にそれぞれ第1及び第2
の静電気保護用ダイオードを接続する構成としたため、
n入力当たりの素子数が(6×n+4)個となり、従来
に比べて少ない素子数で構成でき、よって、アナログス
イッチが搭載されたICの小型化ができる。
【0061】更に、本発明によれば、入力端子とアナロ
グスイッチの入力端との間に、ゲートが高電位側電源に
接続されたNチャンネルの第3のトランジスタ及びゲー
トが低電位側電源に接続されたPチャンネルの第4のト
ランジスタのうちの一方を単独で、又は両方を直列に接
続し、入力信号源に接続された入力端子と高電位側電源
との間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続された第1及
び第2の静電気保護用ダイオードと、入力端子と前記低
電位側電源との間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続さ
れた第3及び第4の静電気保護用ダイオードとを設ける
ことにより、入力信号源電位が高電位側電源電位以上あ
るいは低電位側電源電位以下であっても、第3又は第4
のトランジスタにより、アナログスイッチは、高電位側
電源電位と低電位側電源電源電位の間の電位が入力され
るため、電流制限抵抗を不要にでき、よってアナログス
イッチの寄生トランジスタの動作による発熱がなく、信
頼性を向上でき、また素子数も低減できる。
グスイッチの入力端との間に、ゲートが高電位側電源に
接続されたNチャンネルの第3のトランジスタ及びゲー
トが低電位側電源に接続されたPチャンネルの第4のト
ランジスタのうちの一方を単独で、又は両方を直列に接
続し、入力信号源に接続された入力端子と高電位側電源
との間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続された第1及
び第2の静電気保護用ダイオードと、入力端子と前記低
電位側電源との間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続さ
れた第3及び第4の静電気保護用ダイオードとを設ける
ことにより、入力信号源電位が高電位側電源電位以上あ
るいは低電位側電源電位以下であっても、第3又は第4
のトランジスタにより、アナログスイッチは、高電位側
電源電位と低電位側電源電源電位の間の電位が入力され
るため、電流制限抵抗を不要にでき、よってアナログス
イッチの寄生トランジスタの動作による発熱がなく、信
頼性を向上でき、また素子数も低減できる。
【図1】本発明の第1の実施の形態の回路図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態の構造を示す断面図
である。
である。
【図3】本発明の第1の実施の形態の動作を説明する特
性図である。
性図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態の回路図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態の構造を示す断面図
である。
である。
【図6】従来の一例を示す図である。
【図7】図6のアナログスイッチ回路の構造を示す断面
図とアナログスイッチ説明図である。
図とアナログスイッチ説明図である。
【図8】従来の公知例1の説明図である。
【図9】従来の公知例2の回路図である。
【図10】従来の公知例3の回路図である。
1、2、29、30、31、32、33、34 静電気
保護用ダイオード 3、28、57、58、59、67 アナログスイッチ 4、39、62、63、64、67 寄生PNPトラン
ジスタ 5、40、55、56、66 寄生NPNトランジスタ 6、7、8、9、50、51 ダイオード 10、11 制御回路 12 電源 13、14 入力信号源 15、16 電流制限抵抗 17コンパレ−タ 18 P+分離層 19 P基板 20、22 N-層 23、25、43、44、45、46 P-層 21、38、42、60 Pチャンネル(ch)トラン
ジスタ 24、37、41、61、65、68 Nchトランジ
スタ 26 スイッチ制御端子 27 インバータ 35、36 入力端子 47、48、54 寄生ダイオード 49 アナログスイッチ3の出力端子 52、53 順電圧降下の小さいダイオード
保護用ダイオード 3、28、57、58、59、67 アナログスイッチ 4、39、62、63、64、67 寄生PNPトラン
ジスタ 5、40、55、56、66 寄生NPNトランジスタ 6、7、8、9、50、51 ダイオード 10、11 制御回路 12 電源 13、14 入力信号源 15、16 電流制限抵抗 17コンパレ−タ 18 P+分離層 19 P基板 20、22 N-層 23、25、43、44、45、46 P-層 21、38、42、60 Pチャンネル(ch)トラン
ジスタ 24、37、41、61、65、68 Nchトランジ
スタ 26 スイッチ制御端子 27 インバータ 35、36 入力端子 47、48、54 寄生ダイオード 49 アナログスイッチ3の出力端子 52、53 順電圧降下の小さいダイオード
Claims (4)
- 【請求項1】 ドレイン同士が接続され、かつ、ソース
同士が接続されたPチャンネルの第1のトランジスタ及
びNチャンネルの第2のトランジスタからなるアナログ
スイッチと、 前記第1のトランジスタのバックゲートと高電位側電源
との間に、互いに逆向きに並列接続された第1及び第2
のダイオードと、 前記第2のトランジスタのバックゲートと低電位側電源
との間に、互いに逆向きに並列接続された第3及び第4
のダイオードとを有することを特徴とするアナログスイ
ッチ回路。 - 【請求項2】 前記アナログスイッチは半導体集積回路
基板上に入力信号源の数に対応して設けられ、前記入力
信号源と前記アナログスイッチの入力端の間に設けられ
た電流制限抵抗と、該アナログスイッチの入力端と前記
高電位側電源及び低電位側電源との間にそれぞれ設けら
れた第1及び第2の静電気保護用ダイオードと、前記ア
ナログスイッチの出力端に入力端子が接続されたコンパ
レータとを更に有すると共に、前記第1乃至第4のダイ
オードは前記入力信号源の数に等しい前記アナログスイ
ッチに共通に設けたことを特徴とする請求項1記載のア
ナログスイッチ回路。 - 【請求項3】 ドレイン同士が接続され、かつ、ソース
同士が接続されたPチャンネルの第1のトランジスタ及
びNチャンネルの第2のトランジスタからなるアナログ
スイッチと、 入力端子と前記アナログスイッチの入力端との間に、ゲ
ートが高電位側電源に接続されたエンハンスメント型で
Nチャンネルの第3のトランジスタ及びゲートが低電位
側電源に接続されたエンハンスメント型でPチャンネル
の第4のトランジスタのうちの一方を単独で、又は両方
を直列に接続したことを特徴とするアナログスイッチ回
路。 - 【請求項4】 前記アナログスイッチは半導体集積回路
基板上に入力信号源の数に対応して設けられ、前記入力
信号源に接続された前記入力端子と前記高電位側電源と
の間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続された第1及び
第2の静電気保護用ダイオードと、前記入力端子と前記
低電位側電源との間にそれぞれ互いに逆向きに直列接続
された第3及び第4の静電気保護用ダイオードと、前記
アナログスイッチの出力端に入力端子が接続されたコン
パレータとを更に有することを特徴とする請求項3記載
のアナログスイッチ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8201703A JP3036438B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | アナログスイッチ回路 |
US08/904,341 US5880621A (en) | 1996-07-31 | 1997-07-31 | Analog switch circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8201703A JP3036438B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | アナログスイッチ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1051286A JPH1051286A (ja) | 1998-02-20 |
JP3036438B2 true JP3036438B2 (ja) | 2000-04-24 |
Family
ID=16445529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8201703A Expired - Lifetime JP3036438B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | アナログスイッチ回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5880621A (ja) |
JP (1) | JP3036438B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0860762A3 (de) * | 1997-02-25 | 1999-04-07 | TEMIC TELEFUNKEN microelectronic GmbH | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Erzeugen einer Versorgungsgleichspannung |
US6351171B1 (en) * | 1998-10-26 | 2002-02-26 | Agilent Technologies, Inc. | Accelerated interconnect transmission via voltage clamping towards toggle point |
GB2344689A (en) * | 1998-12-07 | 2000-06-14 | Ericsson Telefon Ab L M | Analogue switch |
US6181193B1 (en) * | 1999-10-08 | 2001-01-30 | International Business Machines Corporation | Using thick-oxide CMOS devices to interface high voltage integrated circuits |
JP2002112469A (ja) * | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Allied Tereshisu Kk | 電界効果トランジスタで構成したor回路およびそれを用いた電源回路 |
DE60228914D1 (de) * | 2001-05-25 | 2008-10-30 | Toshiba Kk | Hochfrequenz-Schaltvorrichtung mit eingefügter Inverter-Schaltung |
JP3949027B2 (ja) * | 2002-08-06 | 2007-07-25 | 富士通株式会社 | アナログスイッチ回路 |
JP4641710B2 (ja) * | 2003-06-18 | 2011-03-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
DE10334334B3 (de) * | 2003-07-28 | 2004-10-14 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | CMOS-Analogschalter |
US7088150B2 (en) * | 2003-12-05 | 2006-08-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Driver-side current clamping with non-persistent charge boost |
US7595775B2 (en) * | 2003-12-19 | 2009-09-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting display device with reverse biasing circuit |
US7057425B2 (en) * | 2004-05-25 | 2006-06-06 | Avago Technologies General Ip Pte. Ltd. | Propagation of a dynamic signal to a quasi-differential receiver biased by an ungrounded driver-side bias signal |
US7466573B2 (en) | 2006-05-16 | 2008-12-16 | Honeywell International, Inc. | Method and apparatus for integrated active-diode-ORing and soft power switching |
JP5281556B2 (ja) * | 2009-12-07 | 2013-09-04 | セイコーインスツル株式会社 | 物理量センサ |
JP6425380B2 (ja) | 2013-12-26 | 2018-11-21 | ローム株式会社 | パワー回路およびパワーモジュール |
JP6081385B2 (ja) * | 2014-01-30 | 2017-02-15 | 株式会社東芝 | ドライバ回路、および、インピーダンス調整回路 |
CN114400993A (zh) * | 2022-01-18 | 2022-04-26 | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 | 一种具有双向过压保护的模拟开关电路 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5868319A (ja) * | 1981-10-19 | 1983-04-23 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 入力装置 |
JPS63144620A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | Nippon Denso Co Ltd | アナログマルチプレクサ回路 |
JPH01236731A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-21 | Nec Corp | 相補型アナログスイッチ |
JP2839624B2 (ja) * | 1990-02-28 | 1998-12-16 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
US5132577A (en) * | 1991-04-11 | 1992-07-21 | National Semiconductor Corporation | High speed passgate, latch and flip-flop circuits |
JPH0537325A (ja) * | 1991-08-02 | 1993-02-12 | Mitsubishi Denki Eng Kk | 半導体集積回路 |
US5579200A (en) * | 1993-01-29 | 1996-11-26 | Zilog, Inc. | Electrostatic discharge protection for metal-oxide-silicon feedback elements between pins |
-
1996
- 1996-07-31 JP JP8201703A patent/JP3036438B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-07-31 US US08/904,341 patent/US5880621A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5880621A (en) | 1999-03-09 |
JPH1051286A (ja) | 1998-02-20 |
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