JP3717696B2 - Qcmセンサデバイス - Google Patents

Qcmセンサデバイス Download PDF

Info

Publication number
JP3717696B2
JP3717696B2 JP05674599A JP5674599A JP3717696B2 JP 3717696 B2 JP3717696 B2 JP 3717696B2 JP 05674599 A JP05674599 A JP 05674599A JP 5674599 A JP5674599 A JP 5674599A JP 3717696 B2 JP3717696 B2 JP 3717696B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
sensor device
working electrode
quartz substrate
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP05674599A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000258324A (ja
JP2000258324A5 (ja
Inventor
英二 冨士元
薫 北寄崎
卓孝 野口
方紀 羽場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Corp
Original Assignee
Meidensha Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Meidensha Corp filed Critical Meidensha Corp
Priority to JP05674599A priority Critical patent/JP3717696B2/ja
Publication of JP2000258324A publication Critical patent/JP2000258324A/ja
Publication of JP2000258324A5 publication Critical patent/JP2000258324A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3717696B2 publication Critical patent/JP3717696B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、水晶振動子の作用電極表面を試料ガスや試料溶液に晒したときの水晶振動子の発振周波数やインピーダンス等の電気的特性の変化から作用電極表面での試料成分の吸脱着を検知・定量するQCM(Quartz Crystal Microbalance)センサデバイスに関する
【0002】
【従来の技術】
近年、ATカット水晶振動子を用いてマイクロバランス原理を応用したケミカル及びバイオセンサが注目を集めている。ATカット水晶振動子は、その主共振周波数が振動子の板厚と反比例する。この場合、水晶振動子の電極面に試料成分が成膜したり、あるいは物質の吸着が起きると表面に存在する物質の単位平面積当たりの重量に対応した周波数のシフトが起きる。
【0003】
QCMセンサは、上記の周波数シフト現象を応用したもので、ATカット水晶振動子は広い温度範囲において周波数が安定しているため、安定した検出感度が期待でき、条件が揃えば1〜10ngの吸着物質の検出がリアルタイムで可能である。以下に吸着物質量と周波数のシフト量の関係を示す。
【0004】
主共振周波数f0を持つ水晶振動子の、表面に生じる質量変化(電極面の吸脱着量)Δmと、周波数変化量(周波数のシフト量)Δfとの関係は、下記(1)式に示すSauerberyの式により表される。
【0005】
【数1】
Figure 0003717696
【0006】
Δf:周波数変化量、f0:水晶振動子の主共振周波数、APIEZO:電気的有効面積(電極面積)、μq:水晶のせん断弾性定数、ρq:水晶の密度、Δm:電極表面に生じる質量変化(電極面の吸脱着量)
ここで、ATカット水晶振動子の共振周波数は、下記の(2)、(3)式で表される。
【0007】
【数2】
Figure 0003717696
【0008】
ν:水晶中での音速、tq:水晶の厚さ、
また、Sauerberyの式は、主共振周波数と水晶の厚さの関係を展開して、下記の(4)式のようになる。
【0009】
【数3】
Figure 0003717696
【0010】
上記の(4)式において、Cfは全体感度である。
【0011】
なお、これを液中にて使用する際には、周波数変化量Δfは液の粘度と密度にも影響されるため、下記の(5)式のように書き直される。
【0012】
【数4】
Figure 0003717696
【0013】
ηL:溶液の粘性率、ρL:溶液の密度、ω0=2πf0
この式中の全体感度Cfは下記の(6)式で表わされる。
【0014】
【数5】
Figure 0003717696
【0015】
上記の各式から解るように、全体感度Cfを上げるには主共振周波数f0を上げることが重要となる。また、全体感度Cf自身も周波数の関数であるため、実際の周波数変化量Δfは、主共振周波数f0の2乗や3/2乗に依存することになる。
【0016】
従って、センサとして用いる水晶振動子の主共振周波数を高くするほど、高感度のセンサとすることができる。例えば、図13は、15wt%(重量パーセント)のグルコース溶液に浸した水晶振動子の周波数シフト量Δfを主共振周波数f0の変化に対してプロットしたものである。主共振周波数f0が高ければ同じ電極表面での振動ロスで共振周波数のずれが大きく取れることが分る。
【0017】
上記のように、ATカット水晶振動子は、厚みすべりのモードを使用しているため、主共振周波数f0はその厚みtqと反比例する。また、水晶振動子は、十分なγ値(水晶振動子の等価回路では並列容量と直列容量の比、通常はATカットで250ぐらいで少ない程よい)を得るためには電極有効面積も周波数に比例して小さくする必要がある。以上の理由で高周波用の水晶振動子は電極面積が小さく、しかも水晶厚の薄いものが要望される。
【0018】
一方、QCMセンサを実現するには、小型の水晶振動子をそれに機械的な歪みを与えることなく支持でき、なおかつ振動子表面は試料ガスあるいは試料溶液に晒すという条件を満たすため、センサデバイスの収納装置は図14に示すような構成にしている。
【0019】
同図において、絶縁材料製にされる筒形のセンサデバイス収納装置本体1は、その内部には発振回路部2がネジ止めされる。センサデバイス収納装置本体1の上面部には突出して一対の接触子3、4がバネ性を有して設けられ、それらの他端が内部に引き出されて発振回路部2に接続される。
【0020】
センサデバイス収納装置本体1の上面の周辺部にはピン5、6で位置合わせする円板状のスペーサ7を設け、このスペーサ7によって水晶振動子8をセンサデバイス収納装置本体1との間に挟み込み、水晶振動子8の電極を接触子3、4の先端に接触させる。この挟み込みには、水晶振動子8の周辺部両面に位置させたオーリング9、10で緩衝及び気密構造とする。ネジ込み蓋11は、スペーサ7をセンサデバイス収納装置本体1に圧接し、水晶振動子8の上面を試料ガスや試料溶液に晒すための孔を設ける。
【0021】
センサデバイス収納装置本体1は、下部をネジ込み蓋12で気密性を有して覆い、側部には発振回路部2からの信号線や電源線を通すための管13を設ける。
【0022】
上記のようなセンサデバイスの収納装置は、水晶振動子8の作用電極面を試料ガスや試料溶液に晒し、水晶振動子8の作用電極面で試料成分が吸脱着されることによる電気的特性の変化として、例えば、発振回路部2の発振周波数変化をカウンタ14の計数値変化として測定する測定装置に構成される。
【0023】
また、溶液系の電気化学的測定では、図15に示すように、センサデバイス収納装置20を電解液を導入する容器21内に浸漬し、該容器21内には電解液の成分を作用電極面に吸脱着させるのに、作用電極の電位を設定するための基準電位を発生する参照電極(基準電極)22及び該作用電極表面に電解液成分を吸脱着させるための対極電極23を設けた測定セル構成とし、これら電極及び水晶振動子の電極(作用電極)にポテンショガルバノスタット(PGS)24を接続したQCM測定システムに構成される。
【0024】
さらにまた、作用電極に試料溶液から検知・定量しようとする成分に応じたレセプターを形成しておくことで、例えば、作用電極に「はしか」のウイルスを検知・定量するための「抗はしかウイルス抗体」やインフルエンザの抗体を検知・定量するための「インフルエンザ抗体」を固定化しておくことで、試料の成分中に「はしか」や「インフルエンザ」のウイルスが存在するかを検知さらには定量することができる。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】
従来のQCMセンサデバイスを使用したQCM測定システムは、センサデバイス収納装置を容器に浸漬し、この容器に参照電極と対極電極を位置させる測定セル構成になる。このため、参照電極及び対極電極とこれら電極の取り付け装置を設けた測定セルは、煩雑であると共に、システム構成の大型化を招く。
【0026】
また、参照電極や対極電極の相対位置及びセンサデバイス収納装置の水晶振動子との相対位置が測定の度に変わると、測定精度に影響を及ぼす。このため、これら電極間の相対位置を再現できる電極取り付け構造を必要とし、例えば、X−Y−Z軸方向に電極を移動制御できる電極位置制御機構が必要になる。
【0027】
特に、高周波用の水晶振動子は、その電極面積を小さくした構造になることから、参照電極や対極電極の位置制御には高精度のものが必要になり、高価な電極位置制御機構を必要とする。
【0028】
本発明の目的は、コンパクトで低価格の測定セル構成にでき、しかも電極間の相対位置を精度良く規定できるQCMセンサデバイスを提供することにある
【0029】
従来のQCM測定システムにおいて、QCMセンサデバイスは、それが試料溶液に晒される場合、前記の(4)式で示すように、振動周波数変化Δfが溶液の粘度η L 及び密度(温度)ρ L の影響を受ける。
【0030】
このため、QCM測定システムとしては、測定精度を高めるには、試料溶液の粘度及び密度の変化に応じて、水晶振動子の振動周波数やインピーダンス、コンダクタンスなどの電気的特性の測定量を補正する必要がある。
【0031】
この補正には、試料溶液の粘度及び密度測定装置を測定セルに設け、この測定信号からカウンタ14等の計数値を補正することになり、高価で一層大掛かりな測定セル及び測定システムになる。
【0032】
本発明の目的は、試料の粘度及び密度の測定装置を不要にして高精度測定ができるQCMセンサデバイスを提供することにある。
【0033】
従来のQCMセンサデバイスを使用したQCM測定システムは、センサデバイス収納装置を容器に浸漬し、この容器に参照電極と対極電極を位置させる測定セル構成になる。このため、対極電極から作用電極に流れる電流力線は、その電位分布の不均等及びこれによって流れる電流力線の不均等は、作用電極面に析出される試料成分量が電極面位置で偏ったものになり、発振周波数やインピーダンスなどの変動として現れ、結果的に測定精度を高めるのが難しくなる。
【0034】
本発明の目的は、対極電極と作用電極間の電位分布を均等にできるQCMセンサデバイスを提供することにある。
【0035】
【課題を解決するための手段】
本発明は、水晶基板面に作用電極とその裏面電極の他に、参照電極及び対極電極を一体形成した構造のQCMセンサデバイスとしたもので、以下の構成を特徴とする。
【0036】
本発明の請求項1は、水晶振動子の作用電極表面を試料ガスや試料溶液に晒したときの水晶振動子の電気的特性の変化から前記作用電極表面での試料成分の吸脱着を検知・定量するためのQCMセンサデバイスにおいて、
水晶基板の表裏面を掘り込み、この掘り込み部の表裏面に作用電極とその裏面電極とを対向させて形成し、試料ガスや試料溶液に晒される面の作用電極の周辺に、該作用電極の電位を設定するための基準電位を発生する参照電極と、試料成分を吸脱着させるための対極電極とを、前記水晶基板上に一体的に形成した構造を特徴とするQCMセンサデバイス。
【0037】
請求項1のQCMセンサデバイスにおいて、前記水晶基板の表裏面に、前記作用電極に隣接させて前記作用電極とその裏面電極と同等のパターンとなる一対の電極を形成し、該一対の電極は少なくとも一方の電極を前記作用電極と共に試料ガスや試料溶液に晒し、試料の粘度・密度の変化による前記作用電極の電気的特性の変化の補正量を前記一対の電極の電気的特性の変化から得る構造を特徴とする。
【0038】
請求項1のQCMセンサデバイスにおいて、前記水晶基板を支持基板の表側に設けると共に、該支持基板の裏側に、前記作用電極とその裏面電極と同等のパターンになる一対の電極を表裏面に形成した水晶基板を設け、該一対の電極は少なくとも一方の電極を前記作用電極と共に試料ガスや試料溶液に晒し、試料の粘度・密度の変化による前記作用電極の電気的特性の変化の補正量を前記一対の電極の電気的特性の変化から得る構造を特徴とする。
【0039】
請求項1のQCMセンサデバイスにおいて、前記各電極から水晶基板縁部まで伸びるリード部を水晶基板に各々形成し、前記水晶基板を支持基板に接着支持したことを特徴とする。
【0040】
請求項4のQCMセンサデバイスにおいて、前記支持基板には、前記水晶基板の各リード部と電気的に接続される支持基板リード部を形成したことを特徴とする。
【0041】
請求項5のQCMセンサデバイスにおいて、前記水晶基板のリード部と支持基板の各リード部を、電気絶縁性および耐薬品性の被膜で覆ったことを特徴とする。
【0042】
削除
【0043】
削除
【0044】
削除
【0045】
削除
【0046】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造を図1の(a)に平面図で、(b)に側面図で示す。
【0047】
水晶基板31は、長方形で一様な厚みをもつATカット水晶で構成され、その支持基板としての石英基板32にシリコーン接着剤等で接着されてその支持とリード線引き出しがなされる。
【0048】
水晶基板31は、電極形成部分がエッチングで掘り込まれ、この掘り込み部の中心部で表面に円形の作用電極33Aが、この作用電極に対向して裏面に電極33Bがスパッタリング法などで形成されると共に、そのリード部が形成される。なお、水晶基板31の掘り込み部の厚みは、前記の式(2)(3)に従った主共振周波数f0(5MHZや10MHZ)に応じて決定される。また、作用電極の面積は水晶振動子の特性、扱い易さ等を考慮しての最適設計で決められ、前記の式(4)〜(6)での感度を決める要素として使われる。
【0049】
また、水晶基板31の作用電極33Aの面には、作用電極33Aを取り囲んで対極電極34がリード部と共に形成され、さらに作用電極33Aの近くに参照電極35が形成される。
【0050】
石英基板32は、水晶基板31の各電極33A,33B,34,35のリード部に接続されるリード部36がパターン形成され、各電極のリード部とは導電性接着剤37(又はワイヤボンド)で個別に電気的に接続される。さらに、各電極のリード部と石英基板32上のリード部36にはシリコン等の電気絶縁性及び耐薬品性の高い被膜38で覆われる。
【0051】
以上の構造になるQCMセンサデバイスは、QCM測定システムを構成するには、電極33A,34,35の部分が試料溶液や試料ガスに晒されるよう図4のようなセンサデバイス収納装置に収納される。同図では、水晶基板31と石英基板32からなるQCMセンサデバイスは、石英基板32の端部が装置本体100内にシールされて取り付けられ、その端部に引き出された端子が装置本体100内の発振回路やポテンショガルバノスタット等の電気的測定回路に接続される。水晶基板31は装置本体100の外部に突出した配置にされ、この突出部分に試料溶液又は試料ガスが導入されるようキャップ101が装置本体100にシールされて取り付けられる。
【0052】
したがって、本実施形態のQCMセンサデバイスは、測定セルを構成するのに、図15における従来の容器21に参照電極22や対極電極23を設けることが不要になるし、これら電極の位置制御機構も不要になり、測定セルの小型化を図ることができる。また、作用電極に対する対極電極34や参照電極35の相対位置は、これらが水晶基板31に一体に形成されるため、精度良く常に同じ位置関係に保つことができる。
【0053】
また、QCMセンサデバイスの収納装置としては、支持基板になる石英基板32を装置本体100に装着し、その内部の電気的測定回路に接続するのみで済む。
【0054】
(第2の実施形態)
図2は、本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスであり、水晶基板部分のみをその平面図で示す。
【0055】
同図が図1と異なる部分は、水晶基板31には、作用電極33Aとその裏面電極33B、参照電極35及び対極電極34に隣接させて、作用電極33Aとその裏面電極33Bと同等のパターンになる一対の電極39A,39Bを基板の表裏面に形成し、そのリード部で石英基板32側に引き出せるようにした構造にある。
【0056】
この一対の電極39A,39Bは、作用電極33Aと同じ面の電極が作用電極33Aと一緒に試料に晒され、発振回路部40に接続されてその発振周波数f1(又はインピーダンスなど)が測定され、試料の粘度・密度の変化による作用電極の振動周波数又はインピーダンスなどの補正量検出電極としている。
【0057】
この構造のQCMセンサデバイスによれば、電極39A,39Bが形成された水晶部分は、該試料溶液に一方の電極39Aが晒されてもその表面には試料成分の吸脱着が起きないため、試料成分による発振周波数又はインピーダンスなどの変化は起きないが、試料溶液の粘度及び密度の変化により発振周波数又はインピーダンスなどが変化する。一方、作用電極33Aが形成された水晶部分は、作用電極表面の吸脱着による発振周波数等の変化に加えて、試料溶液の粘度及び密度により発振周波数等が変化する。
【0058】
すなわち、電極39A,39Bと発振回路部40による発振周波数等の測定は、作用電極33A部分の水晶部分が試料溶液の粘度及び密度で変化する発振周波数分又はインピーダンス分を測定することができ、この電極39A,39B部分で測定する発振周波数f1で作用電極33A部分で測定する発振周波数f2を補正する(差し引く)ことによって作用電極33A部分での測定に試料溶液の粘度及び密度による影響を取り除いた測定ができる。
【0059】
なお、電極39A,39Bは、作用電極33Aとその裏面電極33Bと同じ水晶基板31上に設けるのが好ましいが、別の水晶基板に設けて水晶基板31の近傍で試料溶液に晒す構造とすることもできる。例えば、図3は、石英基板32の裏側に電極39A,39Bが形成された水晶基板41を設けた場合である。
【0060】
図3において、(a)には水晶基板31の平面図を、(c)には水晶基板41の平面図を、(b)には石英基板32の表側に水晶基板31を設け、裏側に水晶基板41を設けた側面図を示す。
【0061】
このセンサデバイス構造においても、図4の収納装置では、水晶基板31の電極部分及び41の電極部分を共に試料溶液に晒すことができる。
【0062】
(第3の実施形態)
上記までのQCMセンサデバイスは、水晶基板を石英基板などの支持基板に接着する構造になるため、水晶基板の電極形成部が掘り下げられており、この電極形成部と石英基板との間に密閉されたギャップが形成される。
【0063】
このギャップには、周囲の温度変化や試料ガスや試料溶液の温度が高い場合等に温度変化及び圧力変化が起り、圧力変化によって電極形成部に撓み応力を発生させ、特に高周波用の水晶振動子ではその発振周波数やインピーダンスなどに影響し、結果的に測定結果に微小な誤差を生じさせることが考えられる。
【0064】
本実施形態は、水晶基板と支持基板との間のギャップによる電極形成部の撓み発生を防止することができるQCMセンサデバイスを提供するものである。
【0065】
本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造を図5に水晶基板部分を(a)に側面図で、(b)に支持基板の平面図で示す。
【0066】
同図が図1と異なる部分は、水晶基板31に面して、支持基板32にその長手方向に沿って空気抜き用の溝32Bを設けた点にある。
【0067】
溝32Bは、その一方の終端が水晶基板31の電極形成部の位置まで形成され、他端が少なくとも水晶基板31の端部を越えた位置まで形成されることで、外気に連通される。
【0068】
本実施形態によれば、水晶基板31と支持基板32の間にギャップが形成される場合にも、支持基板32に設けた溝32Bによってギャップ部分を外気に常時連通させておくことができ、基板の周囲温度や試料溶液の温度変化で水晶基板31の電極形成部が撓むのを防止することができ、測定誤差の発生を防止できる。
【0069】
(第4の実施形態)
図6は、本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスであり、(a)に側面図で、(b)に矢印A−Aに沿った支持基板の平面図で示す。
【0070】
本実施形態は、第3の実施形態と同様に、ギャップによる撓みを無くすためのものであり、水晶基板と支持基板からなるQCMセンサデバイスを2枚張り合わせた構造に適用するものである。
【0071】
水晶基板31 1 と支持基板32 1 からなるQCMセンサデバイスと、水晶基板31 2 と支持基板32 2 からなるQCMセンサデバイスとを支持基板32 1 、32 2 の背面同士を張り合わせる構造において、支持基板32 1 、32 2 にはそれぞれ水晶基板31 1 、31 2 の電極形成部位置に空気抜き用孔32A 1 、32A 2 を設け、支持基板32 1 、32 2 同士の張り合わせ面の周辺部にスペーサ32Cとしてポリイミド樹脂等の合成樹脂のコーティングを施している。このスペーサ32Cには、測定等を行う際にも試料溶液等に晒されない位置に欠落部(不図示)を形成しておく。
【0072】
この構造により、張り合わせた2枚の支持基板32 1 、32 2 の間には欠落部を介して外気に連通する空間が形成されるので、水晶基板31 1 、31 2 と支持基板32 1 、32 2 の間に形成されたギャップを、それぞれ孔32A 1 ,32A 2 、支持基板32 1 、32 2 間の空間、スペーサ32Cの欠落部を介して外気に常時連通させることができる。
【0073】
本実施形態においても、前記の実施形態と同様に、水晶基板31 1 、31 2 と支持基板32 1 、32 2 の間にギャップが形成される場合でも、孔32A 1 、32A 2 とスペーサ32C等によってギャップ部分を外気に常時連通させておくことができるので、基板の周囲温度や試料溶液の温度変化で水晶基板31 1 、31 2 の電極形成部が撓むのを防止することができ、測定誤差の発生を防止できる。また、支持基板には図5の場合の溝32Bの形成が不要になる
【0074】
以上までの第3、第4の実施形態では、水晶基板の電極形成部は両面が掘り下げられた構造のものを示すが、試料溶液に晒される面が平坦で、支持基板に接着される面のみが掘り下げられた構造のものに適用できる。また、電極としては対極電極及び参照電極を別途に設けるものに適用できる。
【0075】
(第5の実施形態)
本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造を図7に示し、水晶基板周辺部のみを側断面図で示す。
【0076】
水晶基板41は、長方形で一様な厚みをもつATカット水晶で構成され、その支持基板としての石英基板42にシリコーン接着剤等で接着されてその支持とリード線引き出しがなされる。
【0077】
水晶基板41は、電極形成部分がエッチングで掘り込まれ、この掘り込み部の中心部で表裏面に対向して円形の作用電極43Aとその裏面電極43Bがスパッタリング法などで形成されると共に、そのリード部が形成される。なお、水晶基板41の掘り込み部の厚みは、前記までの実施形態と同様にされる。参照電極44は、水晶基板41の面で作用電極43Aの近辺に形成される。以上までの構成は、前記までの実施形態のものとほぼ同様の構造になる。
【0078】
ここで、本実施形態では、対極電極45を作用電極43Aに対向させた立体構造としている。対極電極45は、側面から見て略S字型に曲げられた導電性の金属板にされ、その支持部が水晶基板41面に接着されて支持される共に電極リード部45 1 に接続され、先端部が作用電極43A面とほぼ同じ平面形状で作用電極43Aにギャップを有して対向配置される。
【0079】
対極電極45の先端部の平面構造は、図8の(a)に示すように作用電極43Aと同等の円形にしたもの、(b)に示すように中央部に孔を設けたもの、(c)に示すように矩形状のもの、(d)に示すように多数の孔を設けたものにされるが、作用電極43Aとの間の電位分布を均等にするには作用電極43Aの平面形状と同等になる同図の(a)、(b)、(d)に示す構造のものがより好ましい。
【0080】
以上の構造になるQCMセンサデバイスは、QCM測定システムを構成するには、電極43A,44,45の部分が試料溶液等に晒されるよう図4や図14のようなセンサデバイス収納装置に収納され、又は図9に示すように裸のまま容器21内に浸漬され、発振回路2やポテンショガルバノスタット(PGS)24に接続されて発振周波数の変化等が測定される
【0081】
したがって、本実施形態のQCMセンサデバイスは、作用電極43Aと対極電極45の間の電位分布をほぼ均等にすることができ、作用電極43A面での吸脱着量がその電極面位置で均等化され、測定精度を高めることができる。
【0082】
(第6の実施形態)
図10は、本発明に他の実施形態を示すQCMセンサデバイス構造である。同図が図7と異なる部分は、対極電極46を石英基板(又は水晶基板)47に形成し、この石英基板47の一端をスペーサ48を挟んで水晶基板41面に接着した点にある。
【0083】
この構造によれば、図7の場合と同様に、対極電極46を作用電極43Aにギャップを有して対向配置させることができるのに加えて、対極電極46の支持が確実になるし、デバイス製作上は作用電極を形成する水晶基板と対極電極を設けた石英基板を別途にして製作及び製品管理が容易になる。
【0084】
なお、図10の構造で、石英基板47はスペーサ48を挟んで支持基板42へ接着する構造、さらには参照電極44を石英基板47面に設けた構造として同等の作用効果を得ることができる。
【0085】
以上までの第1〜第6の実施形態で示したQCMセンサデバイスは、石英などの支持基板に水晶基板を設けており、その構造上、QCMセンサデバイスを直接に試料ガスや試料溶液に浸漬しても、作用電極側のみが試料溶液や試料ガスなどに晒されることから、図4に示す収納装置を用いて測定を行うことができる。この図4の収納装置を用いた測定システムでは、測定に使用する試料ガスや試料溶液が従来のものと比較して少量で済む効果もある
【0086】
第7の実施形態)
上記までのQCMセンサデバイスは、高周波化のために薄い水晶基板を採用し、この機械的強度を高めるために水晶基板を石英基板などの支持基板に接着する構造とした場合、水晶基板を試料溶液に晒したときに、溶液によっては水晶基板と支持基板とを接着している接着剤が溶け出してしまうことがある。
【0087】
これら接着剤の溶け出しは、試料溶液に接着剤が混入したり、あるいは試料溶液と接着剤が反応して水晶振動子の作用電極面に吸脱着され、その検知・定量に誤差を発生させたり、誤った測定になる恐れがある。
【0088】
本実施形態は、試料溶液に接着剤が混入又は試料と接着剤が反応するのを防止できるQCMセンサデバイスを提供するものである。
【0089】
図11は、本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイスと、これを使った測定システムを示し、QCMセンサデバイスには図2における作用電極33Aとその裏面電極33Bに隣接して一対の電極39A,39Bを設けた場合である。
【0090】
水晶基板51は、高周波化を図るため、比較的厚い水晶基板からその裏面の電極形成部が掘り下げられ、その表裏面には作用電極とその裏面電極になる52A,52Bと、これらに隣接して一対の電極53Aと53Bが対向して形成される。各電極52A,52B,53A,53Bは、それぞれ水晶基板51の両側にリード部を介して端子部54A,54B,55A,55Bに接続される。なお、水晶基板51の掘り込み部の厚みや電極面積は、前記までの実施形態と同様のものにされる。また、電極52A,53Aの近傍または水晶基板面に、参照電極(基準電極)及び対極電極が設けられる。
【0091】
水晶基板51が載置される基台56は、水晶基板51の裏面に設けられる端子部54Bと55Bに電気的接触を得るための接触子57A、57Bが設けられ、これらはリード部を介して端子部58A,58Bに接続される。
【0092】
基台56上に載置された水晶基板51の上面には、その端子部54A,55A位置に突出して一対の接触子59A,59Bがバネ性を有して設けられ、それらの他端が端子60A,60Bに引き出される。
【0093】
オーリング61は、シリコンゴムなど、電気的絶縁性及び耐薬品性に優れた部材で構成され、水晶基板51の試料溶液等に晒される電極52A,53A面の周辺を囲んで水晶基板51上に載置され、電極部分に試料溜めを形成する。
【0094】
上記の各端子部58A,58B,60A,60Bは、測定システムの構成に際しては、図14と同様の発振回路等の電気的特性測定回路に切換接続又は複数の電気的特性測定回路に接続される
【0095】
以上の構成において、試料溶液の検知・定量には、オーリング61を水晶基板51上に載置し、この載置で電極52A,53A部分を含めてその周辺に試料溜めを形成し、この試料溜め部分に試料溶液を注入または滴下させることで、作用電極52Aとその裏面電極52Bにおける発振周波数やインピーダンスなどの変化を測定する。また、一対の電極53A,53Bにおける試料溶液の粘度・密度等による発振周波数やインピーダンスの補正量が測定される
【0096】
本実施形態のQCMセンサデバイスによれば、水晶基板51は従来の支持基板に接着されることなく単体構成になり、試料溶液に晒されるのはオーリング61で囲まれた作用電 極52Aや電極53Aとそのリード部の一部のみになり、試料溶液に接着剤が混入または溶け出すことはない。
【0097】
したがって、試料溶液に接着剤が混入したり、あるいは試料溶液と接着剤が反応して水晶振動子の作用電極52A面の吸脱着量が変化し、その検知・定量に誤差を発生させたり、誤った測定になるのを防止できる
【0098】
また、水晶基板51を単体構成とするため、その取り外しが容易になり、測定終了後に接触子を外して水晶基板を取り出し、洗浄や電極の再加工等が容易になる。
【0099】
なお、実施形態において、オーリング61は、その断面形状が円形のものに限らず、四角形のものや帯状の構造など、試料の性質と溜められる量に応じて適当なものが用意される。例えば、帯状のものは、多くの試料を溜めることができる。
【0100】
また、水晶基板51の支持は、基台56と接触子59A,59Bでバネ性を持たせて挟む構造にされるが、接触子自体をバネ材製のものを使用して挟む構造など、適宜変更することができる。
【0101】
また、水晶基板51は、裏面のみを掘り下げた構造とする場合を示すが、一層の高周波化のために、試料溶液等に晒される面も掘り下げた構造でもよい
【0102】
(第8の実施形態)
図12は、本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイス構造と、これを使った測定システムを側断面図で示す
【0103】
本実施形態が図11と異なる部分は、試料溶液に晒される作用電極とこれに隣接する電極53Aの形成部分を掘り下げた構造とし、この掘り下げ部分を試料溜めにするものである。
【0104】
水晶基板51は、電極52Bおよび53Bが形成される面を掘り下げることなく平坦なものにし、試料溶液に晒される作用電極52Aとこれに隣接する電極53Aの形成部を試料溜めができるよう深く掘り下げ、その外周部が電極形成部よりも十分に高くなる構造としている。例えば、水晶基板51の外周部からみた電極形成部の深さは、数十μm〜数百μmとする。この外周部の上端部には端子部54A,54Bが形成される。
【0105】
以上の構造になるQCMセンサデバイスを使用した測定システムは、図11と同様に、水晶基板51を基台56に載置することで裏面の電極52B,53Bを発振回路等に接続を得、作用電極52Aおよびこれに隣接する電極53Aの端子部54A,55Aをそれぞれ接触子に接触させることで発振回路等に接続を得る
【0106】
そして、水晶基板51の表面に形成される試料溜め部分に試料溶液を注入または滴下させることで、作用電極52Aおよびこれに隣接する電極53Aでの発振周波数やインピーダンスなどの変化を測定する
【0107】
したがって、本実施形態のQCMセンサデバイスによれば、図11の場合と同様に、水晶基板51は単体構成になり、試料溶液に晒されるのは作用電極52A,53Aとそのリード部のみになり、試料溶液に接着剤が混入または溶け出すことはない。
【0108】
また、水晶基板51を単体構成とするため、その取り外しが容易になり、測定終了後に接触子を外して水晶基板を取り出し、洗浄や電極の再加工等が容易になる。
【0109】
以上までの各実施形態において、QCMセンサデバイスの各電極形状は、楕円、四角形などのものに適用して同等の作用効果を得ることができる。また、電極は表側と裏側の面積は同じにする必要はない。
【0110】
また、試料溶液や試料ガスに晒される作用電極の形成面は、その掘り込みを無くした構造とすることで、測定後の作用電極面側の洗浄等が容易になる。
【0111】
【発明の効果】
本発明によれば、QCMセンサデバイスは、水晶基板面に作用電極とその裏面電極の他に、作用電極面に参照電極及び対極電極を一体形成した構造としたため、測定セルに参照電極や対極電極を設ける従来のものに比べて測定セルの小型化を図ることができるし、電極間の相対位置が変化することなく精度良くしかも低価格の測定セル及び測定システムを実現できる。
【0112】
また、作用電極とその裏面電極の近傍に両電極と同等の一対の電極を設けたQCMセンサデバイス構造としたため、試料ガスや試料溶液の粘度・温度変化による測定値の補正ができ、粘度や温度による測定精度への影響を少なくできる。
【0113】
また、本発明によれば、QCMセンサデバイスは、支持基板には水晶基板の電極形成部との間のギャップ部分に空気抜き用の孔又は溝を設けたため、ギャップ部分の温度変化にも電極形成部の撓み発生を防止することができ、これによる測定誤差の発生を無くすことができる。
【0114】
また、本発明によれば、対極電極を作用電極にギャップを有して対向させた立体構造としたため、対極電極と作用電極間の電位分布を均等にして測定精度を高めることができる。
【0115】
また、本発明によれば、水晶基板単体構成のQCMセンサデバイスとし、試料溶液に晒される作用電極の近辺のみに試料溜めを設けた構造としたため、試料溶液に接着剤が混入又は試料と接着剤が反応するのを防止できる。また、水晶基板の取り扱いや製品管理が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造。
【図2】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造。
【図3】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造。
【図4】 本発明の実施形態を示すQCMセンサデバイス収納装置。
【図5】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造
【図6】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造
【図7】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造
【図8】 図7における対極電極の平面構造例
【図9】 図7におけるQCM測定システムの構成例。
【図10】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスの構造
【図11】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスと測定システムの構成
【図12】 本発明の他の実施形態を示すQCMセンサデバイスと測定システムの構造
【図13】 QCMセンサによる周波数シフト特性例。
【図14】 従来のセンサデバイス収納装置の例。
【図15】 従来のQCM測定システムの例。
【符号の説明】
31、41、51、…水晶基板
32、42…石英基板(支持基板)
32A、32A1、32A2…孔
32B…溝
32C、48…スペーサ
33A、43A、52A…作用電極
33B、43B、52B…裏面電極
39A、39B、53A、53B…作用電極と裏面電極に隣接させた一対の電極
34、45、46…対極電極
35、44…参照電極
36…リード部
56…基台
61…オーリング
100…収納装置本体
101…キャップ

Claims (6)

  1. 水晶振動子の作用電極表面を試料ガスや試料溶液に晒したときの水晶振動子の電気的特性の変化から前記作用電極表面での試料成分の吸脱着を検知・定量するためのQCMセンサデバイスにおいて、
    水晶基板の表裏面を掘り込み、この掘り込み部の表裏面に作用電極とその裏面電極とを対向させて形成し、試料ガスや試料溶液に晒される面の作用電極の周辺に、該作用電極の電位を設定するための基準電位を発生する参照電極と、試料成分を吸脱着させるための対極電極とを、前記水晶基板上に一体的に形成した構造を特徴とするQCMセンサデバイス。
  2. 前記水晶基板の表裏面に、前記作用電極に隣接させて前記作用電極とその裏面電極と同等のパターンとなる一対の電極を形成し、該一対の電極は少なくとも一方の電極を前記作用電極と共に試料ガスや試料溶液に晒し、試料の粘度・密度の変化による前記作用電極の電気的特性の変化の補正量を前記一対の電極の電気的特性の変化から得る構造を特徴とする請求項1記載のQCMセンサデバイス。
  3. 前記水晶基板を支持基板の表側に設けると共に、該支持基板の裏側に、前記作用電極とその裏面電極と同等のパターンになる一対の電極を表裏面に形成した水晶基板を設け、該一対の電極は少なくとも一方の電極を前記作用電極と共に試料ガスや試料溶液に晒し、試料の粘度・密度の変化による前記作用電極の電気的特性の変化の補正量を前記一対の電極の電気的特性の変化から得る構造を特徴とする請求項1記載のQCMセンサデバイス。
  4. 前記各電極から水晶基板縁部まで伸びるリード部を水晶基板に各々形成し、前記水晶基板を支持基板に接着支持したことを特徴とする請求項1に記載のQCMセンサデバイス
  5. 前記支持基板には、前記水晶基板の各リード部と電気的に接続される支持基板リード部を形成したことを特徴とする請求項4に記載のQCMセンサデバイス。
  6. 前記水晶基板のリード部と支持基板の各リード部を、電気絶縁性および耐薬品性の被膜で覆ったことを特徴とする請求項5に記載のQCMセンサデバイス。
JP05674599A 1999-03-04 1999-03-04 Qcmセンサデバイス Expired - Fee Related JP3717696B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05674599A JP3717696B2 (ja) 1999-03-04 1999-03-04 Qcmセンサデバイス

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05674599A JP3717696B2 (ja) 1999-03-04 1999-03-04 Qcmセンサデバイス

Related Child Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005107094A Division JP2005274578A (ja) 2005-04-04 2005-04-04 Qcmセンサデバイス
JP2005107095A Division JP2005201912A (ja) 2005-04-04 2005-04-04 Qcmセンサデバイス
JP2005107096A Division JP2005214989A (ja) 2005-04-04 2005-04-04 Qcmセンサデバイス

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2000258324A JP2000258324A (ja) 2000-09-22
JP2000258324A5 JP2000258324A5 (ja) 2005-07-28
JP3717696B2 true JP3717696B2 (ja) 2005-11-16

Family

ID=13036076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP05674599A Expired - Fee Related JP3717696B2 (ja) 1999-03-04 1999-03-04 Qcmセンサデバイス

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3717696B2 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3933340B2 (ja) * 1999-03-30 2007-06-20 昇 小山 マルチチャンネルqcmセンサデバイス
JP2002310872A (ja) * 2001-04-06 2002-10-23 Ulvac Japan Ltd 測定方法及び測定装置
JP3911191B2 (ja) * 2002-04-26 2007-05-09 株式会社アルバック 分析方法
JP2006078179A (ja) * 2002-09-12 2006-03-23 Furukawa Techno Research:Kk マイクロ質量センサとその発振子の保持機構
TWI283745B (en) * 2003-06-26 2007-07-11 Nihon Dempa Kogyo Co Crystal sensor
JP4530361B2 (ja) * 2005-06-29 2010-08-25 日本碍子株式会社 物質検出素子の製造方法
JP4788259B2 (ja) * 2005-09-16 2011-10-05 株式会社明電舎 フローセル型qcmセンサ
JP2007093550A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Ulvac Japan Ltd センサ及びこれを使用した装置
JP2007093548A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Ulvac Japan Ltd センサ及びこれを備えた測定装置
JP2007101225A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Ulvac Japan Ltd センサ及びこれを備えた測定装置
WO2007037386A1 (ja) * 2005-09-30 2007-04-05 Ulvac, Inc. センサ及びこれを使用した装置
JP4669767B2 (ja) * 2005-09-30 2011-04-13 株式会社アルバック センサ及びこれを使用した装置
JP4781784B2 (ja) * 2005-10-31 2011-09-28 京セラキンセキ株式会社 微少質量測定用センサの構造
JP4707104B2 (ja) * 2005-10-31 2011-06-22 日本碍子株式会社 振動素子の製造方法
JP4811106B2 (ja) * 2006-05-08 2011-11-09 株式会社明電舎 Qcmセンサデバイス
JP2009229353A (ja) * 2008-03-25 2009-10-08 Seiko Epson Corp 気体センサデバイス及び気体センサシステム
JP5051798B2 (ja) * 2010-06-30 2012-10-17 日本電波工業株式会社 感知装置
US9086338B2 (en) 2010-06-25 2015-07-21 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Sensing device
JP5102334B2 (ja) * 2010-06-25 2012-12-19 日本電波工業株式会社 感知装置
WO2014002650A1 (ja) * 2012-06-25 2014-01-03 セイコーインスツル株式会社 圧電ユニット、圧電装置、圧電判定装置及び状態判定方法
JP5936275B2 (ja) * 2013-03-26 2016-06-22 公益財団法人鉄道総合技術研究所 亀裂監視装置
JP5936276B2 (ja) * 2013-03-26 2016-06-22 公益財団法人鉄道総合技術研究所 亀裂監視装置
KR102060280B1 (ko) * 2019-07-19 2019-12-27 주식회사 라온즈 복합 현장 진단 장치 및 복합 현장진단 네트워크 분석 시스템
CN117347571B (zh) * 2023-12-04 2024-03-12 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 一种混合气体测量装置的多参数自校准方法、装置及系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000258324A (ja) 2000-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3717696B2 (ja) Qcmセンサデバイス
US6544478B1 (en) QCM sensor
US7148611B1 (en) Multiple function bulk acoustic wave liquid property sensor
US7382205B2 (en) Transducer and electronic device
JP2000338022A (ja) マルチチャンネルqcmセンサデバイス及びマルチチャンネルqcm測定システム
TWI443338B (zh) And a sensing means for sensing the sensing object in the liquid
JP4222513B2 (ja) 質量測定装置および方法
WO1996035103A9 (en) A piezoelectric crystal microbalance device
JP3933340B2 (ja) マルチチャンネルqcmセンサデバイス
JP3876842B2 (ja) 質量測定チップおよび質量測定装置
US9236554B2 (en) Piezoelectric device and method for fabricating the same
JPH0715485B2 (ja) 圧電型力学量センサ
JP4890911B2 (ja) Qcmセンサ素子
US7498721B2 (en) Resonant sensor assembly
JP2005274578A (ja) Qcmセンサデバイス
JP2018165644A (ja) 振動素子の周波数調整方法、振動素子の製造方法および振動素子
JP2005214989A (ja) Qcmセンサデバイス
JP2004286585A (ja) 質量測定チップおよびその製造方法ならびに質量測定装置
JP2004294356A (ja) Qcmセンサー装置
JP2005201912A (ja) Qcmセンサデバイス
JP2009031233A (ja) マルチチャンネルqcmセンサ
JP4811106B2 (ja) Qcmセンサデバイス
KR100336084B1 (ko) 큐씨엠 센서
JP3944644B2 (ja) 質量測定チップの製造方法
TW201111783A (en) Quartz sensor and sensing device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041125

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041222

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20041222

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20050117

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20041222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050628

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050704

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050823

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050831

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080909

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100909

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110909

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110909

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130909

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees