JP3648304B2 - 不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents
不揮発性半導体記憶装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3648304B2 JP3648304B2 JP29994095A JP29994095A JP3648304B2 JP 3648304 B2 JP3648304 B2 JP 3648304B2 JP 29994095 A JP29994095 A JP 29994095A JP 29994095 A JP29994095 A JP 29994095A JP 3648304 B2 JP3648304 B2 JP 3648304B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- memory cell
- temperature
- circuit
- constant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/04—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with means for avoiding disturbances due to temperature effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
- G11C11/5642—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
- G11C16/28—Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/147—Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/14—Dummy cell management; Sense reference voltage generators
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、不揮発性半導体記憶装置に係わり、特に読み出し電圧やベリファイ電圧の温度依存性をメモリセルのしきい値電圧の温度依存性に等しくした不揮発性半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、読み出し専用の不揮発性半導体記憶装置(ROM)には、メモリセルトランジスタのしきい値電圧Vtを2種類(Vt1,Vt2)設けることによって、それぞれデータの“0”,“1”に対応させ記憶するものがある。しきい値電圧Vtは、
Vt= Vfb+X{2Fi×Fn×(2Fi-Vbs)+ g×Fs(2Fi-Vbs)}1/2
と表わされる。ここで、Vfbはフラットバンド電圧(これはゲートとシリコン基板の仕事関数の差Fi-ms に比例する)、Xはチャネルの極性(nチャネルの場合+1,pチャネルの場合−1)、Fi はフェルミポテンシャル、Fn はナローチャネル効果の補正係数、Vbsは基板とソースの電位差、gはバックバイアス効果係数、Fs はショートチャネル効果補正係数である。通常、2種類のしきい値電圧は、チャネルインプラのドーズ量を変えて、Fi-ms を変えることによって変えられる。
【0003】
読み出し時、メモリセルのゲート電圧Vg は2種類のしきい値電圧(Vt1<Vt2とする)の間に設定される。しきい値電圧Vt1のメモリセルが読み出される場合、メモリセルトランジスタはオンし、ドレイン電流が流れる。一方、しきい値電圧Vt2のメモリセルが読み出される場合、メモリセルトランジスタはオフするため、ドレイン電流は流れない。従って、ドレイン電流が流れるか否かを検出することによって、データを読み出すことができる。
【0004】
ところで、温度が変化すると、ゲートとシリコン基板の仕事関数の差Fi-ms とフェルミポテンシャルFi が変動するため、メモリセルのしきい値電圧は変動する。これに対し、読み出しのためのゲート電圧は電源電圧或いは分割された電圧であり、温度の変動によっても変動しない。従って、温度変化等によるしきい値電圧の変動があってもデータを誤読み出ししないために、2つのしきい値電圧差を十分確保する必要があった。
【0005】
しかしながら、電源電圧が下がったり、メモリセルに3種類以上のしきい値電圧を持たせることによって単位メモリセル当たりの情報量を増やそうとすると、この大きいしきい値電圧マージンが問題となってくる。
【0006】
なお、参考のために、図7に従来の読み出し電圧発生回路の例を示す。これは、2つの抵抗R17,R18を用いた抵抗分割による分圧回路である。また、図8にしきい値電圧マージンを説明するための図を示す。実線は常温時のしきい値電圧分布、破線は高温時のしきい値電圧分布であり、温度が高くなるほどしきい値電圧が低くなる傾向にある。従って、常温時に読み出しマージンを適切に設定しても、高温時は高い方のしきい値電圧Vt2の最小値が小さくなりマージン領域にはみ出すため、実際の読み出しマージンは本来の読み出しマージンよりも小さくなる。
【0007】
一方、電気的書き換え可能な手段を有する不揮発性半導体記憶装置(EEPROM)では、メモリセルとして電荷蓄積層と制御ゲートが積層されたFET−MOS構造が用いられている。EEPROMでは通常、書き換え時にメモリセルに電源電圧より高い電圧を印加し、トンネル電流などによって電荷蓄積層の電荷量をコントロールする。メモリセルのしきい値電圧はこの電荷量によって変化するため、2種類のしきい値電圧(Vt1<Vt2とする)を取らせることができる。消去時には、ある長さのデータ単位に、全てのデータは1つのしきい値電圧(例えばVt1)に設定される。書き込みは、ビット毎に選択的に行われ、選択されたメモリセルのしきい値電圧はVt2にされ、非選択のメモリセルのしきい値電圧はVt1のままにされる。
【0008】
また、消去されるメモリセルのしきい値電圧や書き込まれるメモリセルのしきい値電圧をなるべくメモリセル毎にばらつかないようにするため、ベリファイ読み出しが行われている。これは、書き込み或いは消去をした後に、ビット毎或いは消去単位の全ビットが十分にそれぞれ書き込まれたか否か或いは消去されたか否かを確認するための読み出しである。2種類のしきい値電圧間のマージンを十分取るために、例えば書き込みベリファイ時に、メモリセルのゲートは通常の読み出し電圧Vreadより高い電圧Vvrfyが印加される。
【0009】
ところで、この種のEEPROMにおいても前記したROMと同様に、温度が変化するとメモリセルのしきい値電圧は変動するが、読み出し電圧やベリファイ電圧は温度によらず一定である。このため、2つのしきい値電圧の差を十分確保する必要があった。また、このしきい値電圧マージンは、ROMの場合と比べてより大きく取る必要がある。例えば、ベリファイ電圧Vvrfy印加時には高温であり、通常読み出し電圧Vread印加時に低温である場合があるためである。さらにROMの場合と同様に、電源電圧が下がったり、メモリセルに3種類以上のしきい値電圧を持たせることによって単位メモリセル当たりの情報量を増やそうとすると、この大きいしきい値電圧マージンがより大きな問題となってくる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
このように従来、ROMやEEPROM等の不揮発性半導体記憶装置においては、温度変化によりセルトランジスタのしきい値電圧が変動するため、しきい値電圧マージンを大きくする必要があり、これが低電圧駆動や多値メモリを実現する上での障害となっていた。
【0011】
本発明は、上記事情を考慮して成されたもので、その目的とするところは、しきい値電圧マージンを小さくすることができ、低電圧駆動や多値メモリの実現に寄与し得る不揮発性半導体記憶装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
(構成)
上記課題を解決するために本発明は、次のような構成を採用している。
即ち本発明(請求項1)は、データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルに対し、読み出し電圧の印加によりメモリセルに記憶されたデータを読み出す不揮発性半導体記憶装置において、前記読み出し電圧を発生するために、温度依存性のない一定電圧Vbgr と温度依存性を有するメモリセルのしきい値電圧Vtとを加算する手段を設けたことを特徴とする。
【0013】
また本発明(請求項2)は、データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルを有し、データの書き換え時に書き換えが十分行われたか否かを確認するためのベリファイ電圧の印加を行う電気的書き換え可能な不揮発性半導体記憶装置において、前記ベリファイ電圧を発生するために、温度依存性のない一定電圧Vbgr と温度依存性を有するメモリセルのしきい値電圧Vtとを加算する手段を設けたことを特徴とする。
【0014】
ここで、本発明の望ましい実施態様としては、次のものがあげられる。
(1) メモリセルは、読み出し専用の不揮発性半導体記憶装置(ROM)を構成するものであること。
(2) 読み出し電圧を発生する手段として、しきい値電圧がVtで、ゲートとドレインが共通接続されると共に負荷抵抗を介して電源端に接続され、ソースに温度依存性のない一定電圧Vbgr が印加されるMOSトランジスタを用い、該MOSトランジスタがオン状態の時にドレインに現れる出力電圧を取り出すこと。
(3) メモリセルは、電気的書き換え可能な不揮発性半導体記憶装置(EEPROM)を構成するものであること。
(4) ベリファイ電圧を発生する手段として、しきい値電圧がVtで、ゲートとドレインが共通接続されると共に負荷抵抗を介して電源端に接続され、ソースに温度依存性のない一定電圧Vbgr が印加されるMOSトランジスタを用い、該MOSトランジスタがオン状態の時にドレインに現れる出力電圧を取り出すこと。
(5) 一定電圧Vbgr を作成する手段として、オペアンプの非反転入力端と出力端との間に接続された抵抗R1と、非反転入力端と接地端との挿入されたダイオードD1と、オペアンプの反転入力端と出力端との間に接続された抵抗R2と、反転入力端と接地端との間に挿入された抵抗R3とダイオードD2の直列回路とを備えたこと。
(6) 一定電圧Vbgr を作成する手段として、温度依存性の小さいブレイクダウン電圧を持つダイオードを用い、該ダイオードにより得られる基準電圧を分圧すること。
【0015】
また本発明(請求項6)は、データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルに対し、読み出し電圧の印加によりメモリセルに記憶されたデータを読み出す不揮発性半導体記憶装置において、前記読み出し電圧を発生する手段として、前記メモリセルのしきい値電圧の温度依存性に応じて温度依存性を変えられる定電圧を発生する定電圧発生回路と、この定電圧発生回路の出力電圧から必要な読み出し電圧を発生する電圧変換回路とを設け、前記定電圧発生回路は、前記電圧変換回路で得られる読み出し電圧の温度依存性が前記メモリセルのしきい値電圧の温度依存性と一致するように定電圧の温度依存性を設定するものであることを特徴とする。
(作用)
本発明(請求項1)では、読み出し電圧を、温度依存性のない一定電圧Vbgr と温度依存性を有するメモリセルのしきい値電圧Vtとの和(Vbgr +Vt)としているので、読み出し電圧の温度依存性をメモリセルのしきい値電圧の温度依存性に等しくすることができる。このため、温度変化によりメモリセルのしきい値電圧が変動してもデータを誤読み出しすることはない。
【0016】
また本発明(請求項2)では、ベリファイ電圧を、温度依存性のない一定電圧Vbgr と温度依存性を有するメモリセルのしきい値電圧Vtとの和(Vbgr +Vt)としているので、ベリファイ電圧の温度依存性をメモリセルのしきい値電圧の温度依存性に等しくすることができる。さらに本発明(請求項6)では、読み出し電圧を発生するために、定電圧発生回路と電圧変換回路を設け、定電圧発生回路のパラメータを最適化することにより、メモリセルのしきい値電圧Vtと同じ温度依存性を持つ読み出し電圧を発生させることができる。
従って本発明によれば、しきい値電圧マージンを小さくすることができ、これにより低電圧駆動や多値メモリの実現に寄与することが可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の詳細を図示の実施形態によって説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる不揮発性半導体記憶装置における温度補償読み出し電圧発生回路を示す回路構成図である。
【0018】
この回路は、ROMやEEPROMを構成するメモリセルと同じプロセスで作られた同じ構造のトランジスタMCと、高抵抗の抵抗素子Rとからなる。トランジスタMCの電荷蓄積層は制御ゲートと共にドレインに接続され、さらに抵抗素子Rを介して電源端1に接続されている。トランジスタMCのソースは入力端2に接続され、入力端2には温度依存性の小さな一定電圧Vbgr が入力される。そして、トランジスタMCのドレインが出力端3に接続され、この出力端3に現れる出力電圧が読み出し電圧として用いられるものとなっている。
【0019】
本実施形態における読み出し電圧発生回路の出力端3に現れる出力電圧Vgは、トランジスタMCのしきい値電圧Vtを用いて、
Vg=Vbgr +Vt
となる。温度が変動した時のトランジスタMCのしきい値電圧Vtの変動量をdVt、出力電圧、即ちメモリセルのゲート電圧Vgの変動量をdVgとすると、Vbgr の温度変動量を無視できて、
dVg=dVt
となる。即ち、読み出し電圧の変動量としきい値電圧の変動量が等しくなる。
【0020】
このように本実施形態によれば、メモリセルのデータ読み出しに用いる読み出し電圧の温度変動量をメモリセルのしきい値電圧の温度変動量と同一にできるため、隣り合うしきい値電圧間マージンを不必要に取らなくてよく、低電圧動作や多値メモリを実現しやすくなる。
【0021】
図2は、温度依存性の小さな一定電圧Vbgr を出力するバンドギャップリファレンス回路を示す図である。
オペアンプ4の非反転入力端と出力端との間に抵抗R1が接続され、非反転入力端と接地端との間にダイオードD1が挿入され、オペアンプ4の反転入力端と出力端との間に抵抗R2が接続され、反転入力端と接地端との間に抵抗R3とダイオードD2の直列回路が挿入されている。そして、オペアンプ4の出力端が前記読み出し電圧発生回路の入力端2に接続されるものとなっている。
【0022】
この回路は、バンドギャップリファレンス回路として知られているもので(アナログ集積回路設計技術(上):培風館,p275-276,P.R.グレイ/R.G.メイヤー共著)、次式で示されるように、温度が変化しても出力電圧Vbgr は一定のままである。
【0023】
Vbgr =Vf1+αVT
VT =kT/q
但し、αは抵抗の比(R2/R1)や(R2/R3)等によって決まる定数、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、qは素電荷量である。
【0024】
図3は、温度依存性の小さなブレイクダウン電圧を持つダイオードD3を用いた温度依存性の小さな一定電圧Vbgr を出力する回路を示す図である。この回路も、バンドギャップリファレンス回路として知られているもので(アナログ集積回路設計技術(上):培風館,p270-272,P.R.グレイ/R.G.メイヤー共著)、温度が変化しても出力電圧は上式と同様に一定のままである。
【0025】
なお、図中の5は電圧発生回路、R6〜R9は抵抗素子、Qp1はpMOSトランジスタを示している。
図4は、図3の回路を改良したもので、複数の温度補償読み出し電圧レベルを出力できる回路を示す図である。
【0026】
ドレインが電源端に接続されたpMOSトランジスタQp2のゲートにオペアンプの出力が入力され、トランジスタQp2のドレインは抵抗素子R10を介してオペアンプの非反転入力端に接続されている。オペアンプの反転入力端には、一定電圧Vbgr が入力される。そして、オペアンプの非反転入力端には、抵抗素子R11,R12,R13が直列に接続され、抵抗素子R11,R12の接続点が前記図1に示す読み出し電圧発生回路の入力端2に接続される。抵抗素子R12,R13の接続点はnMOSトランジスタQn1を介して接地端に接続され、抵抗素子R13はnMOSトランジスタQn2を介して接地端に接続されている。
【0027】
このような構成において、抵抗素子R11,R12,R13の抵抗値をそれぞれr1,r2,r3とすると、入力電圧V1が“H”の時、出力電圧Vg1は、
Vg1=r2/(r1+r2)×Vbgr
となり、電圧V2が“H”の時、出力電圧Vg2は、
Vg2=(r2+r3)/(r1+r2+r3)×Vbgr
となる。Vg1<Vg2であるから、書き込みベリファイ電圧Vreadを(Vg2+Vt )、通常読み出し電圧Vvrfyを(Vg1+Vt )とすることによって、温度変動時のVreadとVvrfyの変動量を等しくすることができる。このため、隣り合うしきい値電圧間マージンを不必要に取らなくてよく、低電圧動作や多値メモリを実現しやすくなる。
(第2の実施形態)
本実施形態は、前記図2に示すバンドギャップリファレンス回路の各パラメータを最適化することにより、温度補償された読み出し電圧やベリファイ電圧を発生するものである。メモリセルのしきい値電圧の温度依存性を−2mV/℃、常温T0 における読み出し電圧を1.0V、ベリファイ電圧を1.5Vとする場合について考える。
【0028】
図5は、本実施形態に係わるバンドギャップリファレンス回路を示す図である。前記の図2と同様に、2つのダイオードD1,D2、3つの抵抗R1,R2,R3、1つのオペアンプ4から構成される。但し、抵抗R3は抵抗r1,r2に分割(R3=r1+r2)されており、r2と並列にnMOSトランジスタQn3が接続されている。
【0029】
このときの出力電圧Vbgr は、
Vbgr =Vf1+αVt
α=R2 /R3 ・Ln{(R2 ×A2)/(R1 ×A1 )}
Vt =kT/q
で与えられることが知られている。ここで、Vf1はダイオードD1のフォアードバイアス、A1,A2はダイオードD1,D2のジャンクション面積、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、qは素電荷量である。抵抗R1〜R3に温度依存性があってもそれらの比は温度依存性を持たないから、Vbgr の温度依存性は定数αによって変えることができる。
【0030】
さて、読み出し電圧とベリファイ電圧をVbgr の抵抗分割によって得るとき、温度係数もその分割比だけ変化してしまう。従って、各電圧に対して定数αを与える必要がある。常温T0 における電圧Vf1=0.6V、その温度係数が−2mV/℃のとき、温度Tにおける電圧Vbgr は、
Vbgr =(0.6-0.024α)+8×10-5(α-25)(T−T0 )
となる。メモリセルのゲート電圧(読み出し電圧やベリファイ電圧)Vcgが電圧Vbgr のβ倍によって得られるとすると、
Vcg=βVbgr
このとき、常温T0 におけるゲート電圧Vcgと電圧Vbgr をそれぞれVcg0,Vbgr0とすると、Vcg0 =1.0V,1.5Vのそれぞれに対するパラメータαは下記の(表1)の値を取る必要がある。
【0031】
【表1】
【0032】
(表1)にはそのときの電圧Vbgr0と係数βも示されている。パラメータαが与えられたとき、5つのパラメータセット、即ち3つの抵抗値や2つのダイオードのpnジャンクション面積は一意的に決めることはできないが、例えばA1=A2、R1=25kΩ、R2=100kΩ、R3=22kΩ(Vcg0 =1.0V),29kΩ(Vcg0 =1.5V)とすればよい。
【0033】
図5では、2つのゲート電圧を発生する回路であり、読み出し時には“H”、ベリファイ時には“L”となる信号REを入力する。ここで、r1=7kΩ、r2=22kΩとされている。
【0034】
図6は、電圧Vbgr を入力しゲート電圧Vcgを出力する回路である。これは、一種の電圧変換回路であり、(表1)のβの値に対応して、R4=2.5kΩ、R5=4.4kΩ、R6=3.1kΩに設定されている。この回路には、信号REと共に、ベリファイ時に“H”となる信号VRFYが入力される。この構成により、2つの電圧Vcgを1つの回路で得ることができる。
【0035】
つまり、図5の回路では所望の温度特性を持つ定電圧Vbgr が出力され、図6の回路では定電圧Vbgr から必要な読み出し電圧Vcgが発生される。さらに図5の回路では、読み出し電圧Vcgにおける温度特性がメモリセルのしきい値電圧Vtの温度特性と等しくなるように、定電圧Vbgr の温度特性を定めている。
【0036】
このように本実施形態によれば、読み出し電圧を発生するために、定電圧発生回路と電圧変換回路を設け、定電圧発生回路のパラメータを最適化することにより、メモリセルのしきい値電圧Vtと同じ温度依存性を持つ読み出し電圧を発生させることができる。従って、先の第1の実施形態と同様の効果が得られる。
【0037】
なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではない。メモリセルはROMやEEPROMを構成するものに限らず、複数のしきい値電圧を持つものであればよい。また、読み出し電圧やベリファイ電圧に限らず、メモリセルトランジスタのしきい値電圧と同じ温度特性を有する電圧を必要とする部分に適用することが可能である。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することができる。
【0038】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、温度依存性のない一定電圧Vbgr と温度依存性を有するメモリセルのしきい値電圧Vtとを加算する手段を設け、読み出し電圧やベリファイ電圧の温度依存性をメモリセルのしきい値電圧の温度依存性に等しくすることができるので、しきい値電圧マージンを小さくすることができ、低電圧駆動や多値メモリの実現に寄与することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態に係わる温度補償読み出し電圧発生回路を示す回路構成図。
【図2】温度依存性の小さな一定電圧を出力する回路を示す図。
【図3】温度依存性の小さな一定電圧を出力する回路を示す図。
【図4】複数の温度補償読み出し電圧レベルを出力できる回路を示す図。
【図5】読み出し電圧に応じた温度係数を有する定電圧発生回路を示す図。
【図6】定電圧Vbgr に対応した読み出し電圧Vcgを発生する回路を示す図。
【図7】従来の読み出し電圧発生回路の例を示す図。
【図8】しきい値電圧マージンを説明するための図。
【符号の説明】
1…電源端
2…入力端
3…出力端
4…オペアンプ
MC…トランジスタ
Qn…nチャネルMOSトランジスタ
Qp…pチャネルMOSトランジスタ
R,R1〜R17…抵抗
D1〜D3…ダイオード
Claims (9)
- データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルに対し、読み出し電圧の印加により記憶されたデータを読み出す不揮発性半導体記憶装置において、
前記読み出し電圧を発生するために、ダイオードの温度依存性を利用したバンドギャップリファレンス回路からなり、前記メモリセルのしきい値電圧の温度依存性に応じて温度依存性を変えられる定電圧を発生する定電圧発生回路と、この定電圧発生回路の出力電圧から必要な読み出し電圧を生成する電圧変換回路とを具備し、
前記定電圧発生回路は、前記電圧変換回路で得られる読み出し電圧の温度依存性が前記メモリセルのしきい値電圧の温度依存性と一致するように定電圧の温度依存性を設定するものであることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置において、
前記メモリセルの読み出し電圧に対応する第1の実質的に一定の電圧を生成する第1の電圧発生部と、前記メモリセルのベリファイ電圧に対応する第2の実質的に一定の電圧を生成する第2の電圧発生部とを有する定電圧源と、
この定電圧源に接続され、前記メモリセルのトランジスタのゲートに所定の電圧を印加するための電圧生成回路とを備え、
前記電圧生成回路は、電圧特性が前記メモリセルのトランジスタのしきい値電圧特性の温度変化と実質的に同じように変化する素子を有し、該素子による温度依存性を有する電圧と前記定電圧源からの一定電圧とを加算して出力するものであることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置において、
一定の電圧を発生する電圧発生器と、この電圧発生器の出力電圧を分圧する分圧器とからなる定電圧源と、
前記定電圧源に接続され、前記メモリセルのトランジスタのゲートに所定の電圧を印加するための電圧生成回路とを備え、
前記電圧生成回路は、電圧特性が前記メモリセルのトランジスタのしきい値電圧特性の温度変化と実質的に同じように変化する素子を有し、該素子による温度依存性を有する電圧と前記定電圧源からの一定電圧とを加算して出力するものであることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置において、
一定の電圧を発生する電圧発生器と、複数の抵抗を直列接続してなり、前記電圧発生器の出力電圧を分圧する抵抗分圧器と、この抵抗分圧器に接続されて出力電圧を切り替えるスイッチ回路とからなる定電圧源と、
前記定電圧源に接続され、前記メモリセルのトランジスタのゲートに所定の電圧を印加するための電圧生成回路とを備え、
前記電圧生成回路は、電圧特性が前記メモリセルのトランジスタのしきい値電圧特性の温度変化と実質的に同じように変化する素子を有し、該素子による温度依存性を有する電圧と前記定電圧源からの一定電圧とを加算して出力するものであることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記スイッチ回路は、前記メモリセルの読み出し電圧とベリファイ電圧との間で前記出力電圧を切り替えることを特徴とする請求項4記載の不揮発性半導体記憶装置。
- データの記憶状態によりしきい値電圧が異なるメモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置において、
ダイオードの温度依存性を利用したバンドギャップリファレンス回路からなり、温度補正された読み出し電圧及び温度補正されたベリファイ電圧の少なくとも一方を生成する電圧生成部と、読み出し電圧及びベリファイ電圧の少なくとも一方をメモリセルに印加する電圧印加部とを備え、
前記読み出し電圧及び前記ベリファイ電圧の少なくとも一方の生成を、前記メモリセルのしきい値電圧温度特性に基づいて補償することにより行うことを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - しきい値電位が可変のトランジスタを備え、動作中には複数の所定しきい電圧のうちの1つになるメモリセルのアレーが基板に設けられた不揮発性半導体記憶装置において、
温度変化とは実質的に独立な電圧を発生する第1の回路と、
この第1の回路及び前記アレーに接続され、いずれか1個のセルのしきい値電圧を示し温度の変化と共に電位が変化する電圧と前記第1の回路の出力電圧を電位的に結合して結合電圧を生成し、この結合電圧を1個のメモリセルに印加する第2の回路とを備え、
前記結合電圧が前記のいずれか1個のメモリセルのしきい値電圧特性の温度変化と実質的に同じように変化することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記第2の回路には、前記結合電圧を読み出し電圧として用い、ある1個のメモリセルからデータを読み出す読み出し回路と、前記結合電圧をベリファイ電圧として用い、ある1個のメモリセルの状態を検査する検査回路の少なくとも一方が設けられていることを特徴とする請求項7記載の不揮発性半導体記憶装置。
- データ記憶状態に依存してしきい値電圧が可変であるメモリセルのアレーを有する不揮発性半導体記憶装置において、
いずれか1個のメモリセルのデータを読み出す回路に、前記アレーに接続されてメモリセルに読み出し電圧を与える読み出し電圧発生部が設けられ、
前記読み出し電圧発生部は、ダイオードの温度依存性を利用したバンドギャップリファレンス回路からなり、1個のメモリセルのしきい値電圧の温度依存状態に応じて温度依存状態の調整が可能な定電圧を発生する定電圧発生回路と、この定電圧発生回路の出力電圧に基づいて前記読み出し電圧を生成する電圧変換回路とを備え、
前記読み出し電圧が温度依存状態の点で前記メモリセルのしきい値電圧に実質的に等しくなるように、前記定電圧発生回路が定電圧の温度依存状態を設定することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29994095A JP3648304B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US08/747,761 US5864504A (en) | 1995-11-17 | 1996-11-13 | Nonvolatile semiconductor memory with temperature compensation for read/verify referencing scheme |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29994095A JP3648304B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 不揮発性半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09147583A JPH09147583A (ja) | 1997-06-06 |
JP3648304B2 true JP3648304B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=17878787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29994095A Expired - Lifetime JP3648304B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 不揮発性半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5864504A (ja) |
JP (1) | JP3648304B2 (ja) |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11154397A (ja) * | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 不揮発性半導体メモリ |
KR100507370B1 (ko) * | 1998-06-11 | 2007-11-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 워드라인 부트스트랩 회로 |
EP1058270B1 (en) * | 1999-06-04 | 2007-03-21 | STMicroelectronics S.r.l. | Biasing stage for biasing the drain terminal of a nonvolatile memory cell during the read phase |
US6198670B1 (en) | 1999-06-22 | 2001-03-06 | Micron Technology, Inc. | Bias generator for a four transistor load less memory cell |
JP3954245B2 (ja) | 1999-07-22 | 2007-08-08 | 株式会社東芝 | 電圧発生回路 |
US6269026B1 (en) * | 2000-02-29 | 2001-07-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Charge sharing to help boost the wordlines during APDE verify |
US6205074B1 (en) * | 2000-02-29 | 2001-03-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature-compensated bias generator |
JP3633864B2 (ja) * | 2000-11-29 | 2005-03-30 | Necマイクロシステム株式会社 | 不揮発性メモリの基準電圧発生回路 |
IT1316271B1 (it) * | 2000-12-28 | 2003-04-03 | Micron Technology Inc | Generatore di impulsi compensato in tensione e temperatura. |
KR100525913B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2005-11-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래쉬 메모리 소자의 포스트 프로그램 검증 회로 |
ITTO20020252A1 (it) * | 2002-03-21 | 2003-09-22 | Micron Technology Inc | Circuito e procedimento per la generazione di una corrente di riferimento a bassa tensione, dispositivo di memoria comprendente tale circuit |
KR100476888B1 (ko) * | 2002-04-04 | 2005-03-17 | 삼성전자주식회사 | 온도보상기능을 가진 멀티비트 플래쉬메모리 |
US6801454B2 (en) * | 2002-10-01 | 2004-10-05 | Sandisk Corporation | Voltage generation circuitry having temperature compensation |
US7571287B2 (en) | 2003-03-13 | 2009-08-04 | Marvell World Trade Ltd. | Multiport memory architecture, devices and systems including the same, and methods of using the same |
US7957189B2 (en) * | 2004-07-26 | 2011-06-07 | Sandisk Il Ltd. | Drift compensation in a flash memory |
US7817469B2 (en) * | 2004-07-26 | 2010-10-19 | Sandisk Il Ltd. | Drift compensation in a flash memory |
EP1729302B1 (en) * | 2005-05-31 | 2019-01-02 | Micron Technology, Inc. | A circuit for retrieving data stored in semiconductor memory cells |
JP2007060544A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Micron Technol Inc | 温度係数が小さいパワー・オン・リセットを生成する方法及び装置 |
JP2007059024A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Micron Technol Inc | 温度補償された読み出し・検証動作をフラッシュ・メモリにおいて生成するための方法及び装置 |
JP2007058772A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Micron Technol Inc | バンド・ギャップ基準から可変出力電圧を生成する方法及び装置 |
KR100784861B1 (ko) * | 2005-10-10 | 2007-12-14 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것을 위한 전압 발생회로 |
US7269092B1 (en) | 2006-04-21 | 2007-09-11 | Sandisk Corporation | Circuitry and device for generating and adjusting selected word line voltage |
US7518930B2 (en) * | 2006-04-21 | 2009-04-14 | Sandisk Corporation | Method for generating and adjusting selected word line voltage |
US7489556B2 (en) * | 2006-05-12 | 2009-02-10 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for generating read and verify operations in non-volatile memories |
US7342831B2 (en) * | 2006-06-16 | 2008-03-11 | Sandisk Corporation | System for operating non-volatile memory using temperature compensation of voltages of unselected word lines and select gates |
US7391650B2 (en) * | 2006-06-16 | 2008-06-24 | Sandisk Corporation | Method for operating non-volatile memory using temperature compensation of voltages of unselected word lines and select gates |
US7436724B2 (en) * | 2006-08-04 | 2008-10-14 | Sandisk Corporation | Method and system for independent control of voltage and its temperature co-efficient in non-volatile memory devices |
US7403434B1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-22 | Sandisk Corporation | System for controlling voltage in non-volatile memory systems |
US7447093B2 (en) * | 2006-12-29 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Method for controlling voltage in non-volatile memory systems |
US8131915B1 (en) | 2008-04-11 | 2012-03-06 | Marvell Intentional Ltd. | Modifying or overwriting data stored in flash memory |
US8683085B1 (en) | 2008-05-06 | 2014-03-25 | Marvell International Ltd. | USB interface configurable for host or device mode |
KR101434400B1 (ko) * | 2008-07-09 | 2014-08-27 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치 및 메모리 시스템 및 그것의 관리방법 |
US7755946B2 (en) * | 2008-09-19 | 2010-07-13 | Sandisk Corporation | Data state-based temperature compensation during sensing in non-volatile memory |
US8611151B1 (en) | 2008-11-06 | 2013-12-17 | Marvell International Ltd. | Flash memory read performance |
US8213228B1 (en) | 2008-11-06 | 2012-07-03 | Marvell International Ltd. | Flash memory read performance |
US8947929B1 (en) | 2008-11-06 | 2015-02-03 | Marvell International Ltd. | Flash-based soft information generation |
US8423710B1 (en) | 2009-03-23 | 2013-04-16 | Marvell International Ltd. | Sequential writes to flash memory |
US8213236B1 (en) * | 2009-04-21 | 2012-07-03 | Marvell International Ltd. | Flash memory |
CN101859161A (zh) * | 2010-06-17 | 2010-10-13 | 华为技术有限公司 | 低电压源带隙基准电压电路和一种集成电路 |
US8756394B1 (en) | 2010-07-07 | 2014-06-17 | Marvell International Ltd. | Multi-dimension memory timing tuner |
US8677225B1 (en) | 2011-02-11 | 2014-03-18 | Marvell International Ltd. | Low-density parity-check decoder |
US8547746B2 (en) | 2011-02-24 | 2013-10-01 | Micron Technology, Inc. | Voltage generation and adjustment in a memory device |
US8576651B2 (en) | 2012-01-20 | 2013-11-05 | Sandisk 3D Llc | Temperature compensation of conductive bridge memory arrays |
CN111863090B (zh) * | 2019-04-29 | 2022-08-30 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种控制擦除性能的方法和装置 |
US11237726B2 (en) * | 2019-12-13 | 2022-02-01 | Micron Technology, Inc. | Memory system performance enhancements using measured signal and noise characteristics of memory cells |
US11029890B1 (en) | 2020-03-02 | 2021-06-08 | Micron Technology, Inc. | Compound feature generation in classification of error rate of data retrieved from memory cells |
US11086572B1 (en) | 2020-03-02 | 2021-08-10 | Micron Technology, Inc. | Self adapting iterative read calibration to retrieve data from memory cells |
US12009034B2 (en) | 2020-03-02 | 2024-06-11 | Micron Technology, Inc. | Classification of error rate of data retrieved from memory cells |
US11740970B2 (en) | 2020-03-02 | 2023-08-29 | Micron Technology, Inc. | Dynamic adjustment of data integrity operations of a memory system based on error rate classification |
US11221800B2 (en) | 2020-03-02 | 2022-01-11 | Micron Technology, Inc. | Adaptive and/or iterative operations in executing a read command to retrieve data from memory cells |
US11257546B2 (en) | 2020-05-07 | 2022-02-22 | Micron Technology, Inc. | Reading of soft bits and hard bits from memory cells |
US11562793B2 (en) * | 2020-05-07 | 2023-01-24 | Micron Technology, Inc. | Read soft bits through boosted modulation following reading hard bits |
US11081200B1 (en) | 2020-05-07 | 2021-08-03 | Micron Technology, Inc. | Intelligent proactive responses to operations to read data from memory cells |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4196406A (en) * | 1978-06-12 | 1980-04-01 | General Electric Company | Ultrasonic control device |
JP3158420B2 (ja) * | 1990-08-30 | 2001-04-23 | 日本電気株式会社 | 温度検出回路および温度検出回路を備えた半導体装置 |
JPH05289760A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 基準電圧発生回路 |
JPH0746082A (ja) * | 1993-07-30 | 1995-02-14 | Nippondenso Co Ltd | フィルタ回路 |
US5440520A (en) * | 1994-09-16 | 1995-08-08 | Intel Corporation | Integrated circuit device that selects its own supply voltage by controlling a power supply |
US5619122A (en) * | 1995-04-14 | 1997-04-08 | Delco Electronics Corporation | Temperature dependent voltage generator with binary adjustable null voltage |
-
1995
- 1995-11-17 JP JP29994095A patent/JP3648304B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-11-13 US US08/747,761 patent/US5864504A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09147583A (ja) | 1997-06-06 |
US5864504A (en) | 1999-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3648304B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
KR100458409B1 (ko) | 전압 발생 회로 | |
US6026023A (en) | Non-volatile semiconductor memory | |
KR100420574B1 (ko) | 반도체집적회로장치 | |
KR100790040B1 (ko) | 온도 종속성이 보상된 전류를 가지는 비휘발성 메모리 셀및 그 데이터 판독 방법 | |
US7825698B2 (en) | Method and apparatus for systematic and random variation and mismatch compensation for multilevel flash memory operation | |
US6529411B2 (en) | Reference voltage generator circuit for nonvolatile memory | |
JP3247402B2 (ja) | 半導体装置及び不揮発性半導体記憶装置 | |
US6396739B2 (en) | Reference voltage generator using flash memory cells | |
US5706240A (en) | Voltage regulator for memory device | |
JP5749685B2 (ja) | 基準電圧発生回路及び基準電圧発生方法 | |
JP3450629B2 (ja) | 負電圧検知回路及び不揮発性半導体記憶装置 | |
US6229732B1 (en) | Regulated voltage supply circuit for inducing tunneling current in floating gate memory devices | |
JP3887064B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
WO2000014747A1 (en) | Regulated voltage supply circuit for inducing tunneling current in floating gate memory devices | |
KR100276189B1 (ko) | 반도체 집적 회로 | |
JP4200912B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
WO2022133777A1 (en) | Voltage regulation for multiple voltage levels | |
KR100320794B1 (ko) | 플래쉬메모리셀의읽기및소거확인전압발생회로 | |
JPH06119069A (ja) | 基準電圧発生回路 | |
JP2002150786A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
Chai | A 2 x 2 array analog memory implemented with a special layout injector |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040406 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040607 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040610 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041116 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050114 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050214 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080218 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090218 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100218 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100218 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110218 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120218 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120218 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130218 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140218 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |