JP3383229B2 - マイクロメータ - Google Patents

マイクロメータ

Info

Publication number
JP3383229B2
JP3383229B2 JP32061398A JP32061398A JP3383229B2 JP 3383229 B2 JP3383229 B2 JP 3383229B2 JP 32061398 A JP32061398 A JP 32061398A JP 32061398 A JP32061398 A JP 32061398A JP 3383229 B2 JP3383229 B2 JP 3383229B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spindle
display
anvil
value
minimum value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP32061398A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000146561A (ja
Inventor
誠悟 高橋
哲也 中土井
高弘 大塚
秀二 林田
康二 佐々木
正彦 太刀掛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP32061398A priority Critical patent/JP3383229B2/ja
Priority to US09/430,305 priority patent/US6308433B1/en
Priority to EP99122330A priority patent/EP1001245B1/en
Priority to DE69907851T priority patent/DE69907851T2/de
Priority to CN99124804.XA priority patent/CN1130546C/zh
Publication of JP2000146561A publication Critical patent/JP2000146561A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3383229B2 publication Critical patent/JP3383229B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロメータに
関する。詳しくは、スピンドルの移動速度を高速化した
マイクロメータに関する。
【0002】
【背景技術】マイクロメータの中には、スピンドルの移
動を従来のマイクロメータに比べ高速化したものが知ら
れている。このものは、図1および図2に示すように、
アンビル2を有するフレーム1と、このフレーム1にア
ンビル2に対して進退可能に設けられたスピンドル3
と、前記フレーム1に前記スピンドル3と同軸上に配置
されたインナスリーブ4と、このインナスリーブ4の外
周に回転可能に被嵌されたアウタスリーブ5と、このア
ウタスリーブ5の外側にラチェット機構6を介して回動
可能に設けられたシンブル7と、このシンブル7の回転
に伴ってスピンドル3を前記アンビル2に対して進退さ
せる駆動手段8と、前記スピンドル3の変位量を検出す
る変位検出手段9と、この変位検出手段9で検出された
検出値を表示する表示手段10とを備えた構成である。
なお、12は電源オンオフスイッチである。
【0003】ここで、駆動手段8は、前記スピンドル3
の後端に連結部材20を介して突設された係合ピン21
と、前記インナスリーブ4の周壁にスピンドル3の軸方
向に沿って形成され前記係合ピン21をスピンドル3の
軸方向へ移動可能に案内するスリット22と、前記アウ
タスリーブ5の内周面にスピンドル3を中心として螺旋
状に形成され前記係合ピン21と係合する1条の螺旋溝
23とから構成されている。螺旋溝23のピッチは、従
来のねじピッチに比べ極めて大きく、たとえば、従来の
マイクロメータのねじピッチ(通常0.5mmピッチ)
の約10〜20倍に形成されている。また、変位検出手
段9は、前記スピンドル3の長手方向に沿って設けられ
たスケール24およびスケール24に所定の隙間を隔て
て前記フレーム1に固定された検出器25からなるセン
サ26を含み、センサ26で検出された信号をスピンド
ル3の移動変位量に対応する数のパルス信号に形成し、
そのパルスを計数する構造である。
【0004】いま、シンブル7の回動操作によってアウ
タスリーブ5を回転させると、そのアウタスリーブ5の
螺旋溝23に係合する係合ピン21を介してスピンドル
3が軸方向へ進退される。このとき、螺旋溝23のピッ
チが従来のねじピッチに対して約10〜20倍に形成さ
れているから、スピンドル3の移動速度を従来に比べ約
10〜20倍の速度で移動させることができる。従っ
て、寸法差のある被測定物を交互に測定するような場合
でも、スピンドル3を高速移動させることができるか
ら、能率的な測定が行える。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の高速
型マイクロメータの構造では、螺旋溝23のピッチ、つ
まり、リードが大きいため、駆動力(シンブル7を回転
させる力)のばらつきに対してスピンドル3の推力(測
定力)の変動を抑えることができる利点を有する反面、
アンビル2とスピンドル3とで被測定物を挟んだ状態に
おいて、シンブル7から手を離したとき、被測定物から
の反力によってアウタスリーブ5には従来のマイクロメ
ータよりも大きな回転力が作用するため、アウタスリー
ブ5の回転に伴ってスピンドル3が戻されることがあ
る。スピンドル3が戻されると、この移動が変位検出手
段9によって検出される結果、表示手段10の表示値が
変化するという不具合がある。
【0006】本発明の目的は、このような従来の高速型
マイクロメータ固有の問題を解消すべくなされたもの
で、被測定物からの反力によってスピンドルが戻される
ことがあっても、高速かつ高精度な測定を実現できるマ
イクロメータを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のマイクロメータ
は、アンビルを有するフレームと、このフレームにアン
ビルに対して進退可能に設けられたスピンドルと、この
スピンドルの外側でかつスピンドルの中心軸線を中心と
して前記フレームに回動可能に設けられたスリーブと、
このスリーブの回転に伴って前記スピンドルをアンビル
に対して進退させる駆動手段と、前記スピンドルの変位
量を検出する変位検出手段と、この変位検出手段で検出
された検出値を表示する表示手段とを備え、前記駆動手
段は、前記スリーブおよびスピンドルの一方にスピンド
ルを中心として螺旋状に設けられた螺旋溝と、前記スリ
ーブおよびスピンドルの他方に設けられ前記螺旋溝に摺
動可能に係合する係合ピンとを含んで構成され、かつ、
前記螺旋溝のリードが5mm以上に形成されたマイクロ
メータにおいて、前記スピンドルの移動方向を判別する
移動方向判別手段と、この移動方向判別手段によってス
ピンドルがアンビルに対して前進する方向へ移動してい
ることが判別されたとき、前記変位検出手段によって検
出される検出値を前記表示手段に更新表示する一方、前
記移動方向判別手段によってスピンドルがアンビルに対
して後退する方向へ移動していることが判別され、か
つ、前記表示手段に更新表示された表示値からのスピン
ドルの後退量が設定量未満の範囲では、前記表示手段の
表示値をホールドする最小値更新ホールド手段と、前記
移動方向判別手段によってスピンドルがアンビルに対し
て後退する方向へ移動していることが判別され、かつ、
前記表示手段に更新表示された表示値からのスピンドル
の後退量が設定量以上になったとき、前記変位検出手段
によって検出される検出値を前記表示手段に表示する最
小値ホールド解除手段とを備えたことを特徴とする。
【0008】このような構成によれば、スピンドルがア
ンビルに対して前進する方向へ移動しているときには、
変位検出手段によって検出される検出値が表示手段に更
新表示されていく。つまり、スピンドルがアンビルに対
して前進しているときには、自動的に最小値が更新表示
される。この測定中において、スピンドルがアンビルに
対して後退する方向へ移動すると、その後退量、つま
り、更新処理された最小値からのスピンドルの後退量が
設定量未満の範囲では、表示手段の表示値がホールドさ
れる。つまり、最小値がホールドされたままである。従
って、螺旋溝のリードが大きいため生じるスリーブの回
転によって、スピンドルが戻されることがあっても、そ
れによって表示値が変動することがないから、高速かつ
高精度な測定を実現できる。一方、スピンドルの後退量
が設定量以上になると、変位検出手段によって検出され
る検出値が表示手段に表示される。つまり、最小値ホー
ルド状態が解除される。従って、特別なスイッチ操作を
伴うことなく、通常の一連の測定動作の中で、最小値ホ
ールド状態を解除することができるから、操作性に優れ
る。
【0009】ここで、最小値ホールド状態の解除条件を
規定する設定量を、任意に設定する設定手段を備えてい
ることが望ましい。このような設定手段を備えれば、設
定量を任意に設定することができるから、測定条件によ
って最小値ホールド解除条件を変えることができる。従
って、最小値ホールド状態が不用意に解除されることが
なくなるから、表示値の確実な読み取りを行うことがで
きる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。なお、本実施形態の説明にあたっ
て、マイクロメータの機構については、図1および図2
で示した構造と同じであるから、これらの説明について
は省略する。本実施形態のマイクロメータは、図3に示
すように、前記変位検出手段9の検出値を処理して前記
表示手段10に表示する演算処理手段31に対して、ス
ピンドル3の移動方向を判別する移動方向判別手段32
と、最小値更新ホールド手段33と、最小値ホールド解
除手段34とがそれぞれ付加されている。
【0011】また、一定時間毎に変位検出手段9から取
り込んだ検出値Dを記憶する検出値記憶部41と、検出
値Dの最小値Dmを更新記憶する最小値記憶部42と、
最小値ホールド状態の解除条件を規定する設定量αを予
め記憶した設定量記憶部43とがそれぞれ設けられてい
る。なお、変位検出手段9は、前記センサ26と、この
センサ26で検出された信号をスピンドル3の移動変位
量に対応する数のパルス信号として出力するパルス化回
路27と、このパルス化回路27からのパルスを計数す
るカウンタ28とから構成されている。
【0012】前記移動方向判別手段32は、前記検出値
記憶部41の検出値Dと最小値記憶部42の最小値Dm
との関係からスピンドル3の移動方向を判別する。つま
り、今回取り込んだ検出値Dが最小値Dmより小さけれ
ば、スピンドル3が前進する方向へ移動していると判定
し、検出値Dが最小値Dmより大きければ、スピンドル
3が後退する方向へ移動していると判定する。検出値D
と最小値Dmとが同じであれば、停止状態と判定する。
【0013】前記最小値更新ホールド手段33は、前記
移動方向判別手段32によってスピンドル3がアンビル
2に対して前進する方向へ移動していることが判別され
たとき、変位検出手段9によって検出される検出値Dを
表示手段10に更新表示する。一方、移動方向判別手段
32によってスピンドル3がアンビル2に対して後退す
る方向へ移動していることが判別され、かつ、そのスピ
ンドル3の後退量(最小値記憶部42に記憶された最小
値Dmからのスピンドル3の後退量(D−Dm))が設
定量記憶部43に記憶された設定量α未満の範囲では、
表示手段10の表示値をホールドする。
【0014】前記最小値ホールド解除手段34は、前記
移動方向判別手段32によってスピンドル3がアンビル
2に対して後退する方向へ移動していることが判別さ
れ、かつ、そのスピンドル3の後退量(D−Dm)が設
定量α以上になったとき、変位検出手段9によって検出
される検出値を表示手段10に表示する。
【0015】次に、本実施形態の作用を図4のフローチ
ャートを参照しながら説明する。まず、電源がオンされ
ると、初期設定(変位検出手段9の検出値を検出値記憶
部41および最小値記憶部42に記憶)を行い、続い
て、変位検出手段9の検出値Dを検出値記憶部41に記
憶させたのち、今回取り込んだ検出値記憶部41の検出
値Dと最小値記憶部42の最小値Dmからスピンドル3
の移動方向を判別する。つまり、検出値Dが最小値Dm
より小さければ(D<Dm)、スピンドル3が前進する
方向へ移動していると判定し、検出値Dが最小値Dmよ
り大きければ(D>Dm)、スピンドル3が後退する方
向へ移動していると判定する。検出値Dと最小値Dmと
が同じであれば(D=Dm)、停止状態と判定する。
【0016】スピンドル3が停止状態と判定した場合
(D=Dm)、停止処理を行う。つまり、検出値記憶部
41の検出値Dを表示手段10に表示させる。スピンド
ル3が前進する方向へ移動していると判定した場合(D
<Dm)、最小値更新処理を行う。つまり、検出値記憶
部41の検出値Dを最小値記憶部42に更新記憶させ、
その最小値記憶部42の最小値Dmを表示手段10に表
示させたのち、検出値取込処理へ戻る。従って、スピン
ドル3をアンビル2に向かって進出させると、変位検出
手段9からの検出値Dが、最小値記憶部42に更新記憶
されていくとともに、表示手段10に更新表示されてい
く。つまり、表示手段10には常に最小値が表示され
る。
【0017】スピンドル3が後退する方向へ移動してい
ると判定した場合(D>Dm)、そのスピンドル3の後
退量(D−Dm)が設定量記憶部43に記憶された設定
量α以上であるか否かを判定する。スピンドル3の後退
量が設定量α未満の範囲では、最小値ホールド処理を行
う。つまり、表示手段10の表示値をホールドされた状
態に維持する(最小値記憶部42の最小値Dmを更新す
ることなく、そのまま表示手段10に表示する)。この
とき、シンブル7から手(指)を離すと、被測定物から
の反力がスピンドル3に作用するため、係合ピン21お
よび螺旋溝23を介してアウタスリーブ5が僅か回動さ
れる。つまり、スピンドル3がアンビル2から離れる方
向へ戻される。しかし、スピンドル3がアンビル2から
離れる方向へ戻されても、変位検出手段9からの検出値
は更新されないから、スピンドル3がアンビル2に対し
て最も近づいた位置の値が表示手段10に表示されたま
まである。従って、表示値の変動がないから、高精度な
測定を行える。
【0018】また、スピンドル3の後退量(D−Dm)
が設定量α以上になったときには、最小値ホールド解除
処理を行う。つまり、検出値記憶部41の検出値Dを、
最小値Dmとして最小値記憶部42に書き込むととも
に、表示手段10に表示する。従って、表示手段10の
表示値を読み取ったのち、スピンドル3をアンビル2か
ら離れる方向へ後退させると、その後退量(D−Dm)
が予め設定した設定量αに達したとき、最小値ホールド
状態が自動的に解除される。通常、測定完了後、次の測
定に移る際には、スピンドル3を一旦後退させるが、そ
の後退動作に伴って最小値ホールド状態が自動的に解除
されるから、特別な解除動作を行うことなく、通常の測
定動作で解除できる。
【0019】従って、本実施形態によれば、スピンドル
3が前進する方向へ移動しているときには、表示手段1
0には、常に最小値が表示される。このとき、スピンド
ル3が後退する方向へ移動すると、その後退量、つま
り、最小値Dmからのスピンドル3の後退量(D−D
m)が設定量α未満の範囲では、表示手段10の表示値
(最小値)がホールドされたままであるから、螺旋溝2
3のリードが大きいため生じるアウタスリーブ5の回転
によって、スピンドル3が戻されることがあっても、そ
れによって表示値が変動することがない。よって、高速
かつ高精度な測定を行うことができる。しかも、さぐり
作業を行いながら測定する場合でも、正確な測定を行え
る。
【0020】また、スピンドル3の後退量(D−Dm)
が設定量α以上になると、最小値ホールド状態が自動的
に解除され、変位検出手段9によって検出される検出値
が表示手段10に表示される。従って、特別なスイッチ
操作を伴うことなく、通常の一連の測定動作の中で、最
小値ホールド状態を解除することができるから、操作性
に優れる。
【0021】なお、前記実施形態では、駆動手段8を構
成する螺旋溝23のリードを、従来のマイクロメータの
リード(通常0.5mm)に対して約10〜20倍(5
〜10mm)としたが、螺旋溝のリードが5mm以上で
あれば、上述した問題(被測定物からの反力によってア
ウタスリーブ6が回転し、これによって、スピンドル3
が後退する問題)が考えられるから、螺旋溝のリードが
5mm以上の高速型マイクロメータに本発明を適用する
と好適である。
【0022】また、設定量αを任意に設定する設定手段
13(図1,2,3において、二点鎖線で示す)を設け
るようにしてもよい。このような設定手段13を備えれ
ば、設定量αを任意に設定することができるから、最小
値ホールド解除条件を変えることができる。よって、最
小値ホールド状態が不用意に解除されることがなくなる
から、表示値の確実な読み取りを行うことができる。
【0023】また、前記実施形態では、スピンドル3に
係合ピン21と突設し、アウタスリーブ5に螺旋溝23
を形成したが、これとは逆でもよい。つまり、スピンド
ル3の外周面に螺旋溝を形成し、アウタスリーブ5に螺
旋溝に係合する係合ピンを突設してもよい。この場合、
スピンドル3が回転しながら進退するので、変位検出手
段としては、ロータリエンコーダなどを用いればよい。
【0024】
【発明の効果】本発明のマイクロメータによれば、高速
型マイクロメータ固有の問題を解消でき、高速かつ高精
度な測定を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】マイクロメータを示す正面図である。
【図2】同上マイクロメータを示す断面図である。
【図3】本発明のマイクロメータを示すブロック図であ
る。
【図4】同上マイクロメータの作用を示すフローチャー
トである。
【符号の説明】
1 フレーム 2 アンビル 3 スピンドル 4 インナスリーブ 5 アウタスリーブ 7 シンブル 8 駆動手段 9 変位検出手段 10 表示手段 21 係合ピン 23 螺旋溝 31 演算処理手段 32 最小値更新処理手段 33 最小値更新ホールド手段 34 最小値ホールド解除手段 44 設定手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林田 秀二 神奈川県川崎市高津区坂戸1−20−1 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 佐々木 康二 神奈川県川崎市高津区坂戸1−20−1 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 太刀掛 正彦 広島県東広島市志和町志和東2805−1 株式会社ミツトヨ内 (56)参考文献 特開 昭63−103908(JP,A) 特開 昭57−173708(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 21/02

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アンビルを有するフレームと、このフレ
    ームにアンビルに対して進退可能に設けられたスピンド
    ルと、このスピンドルの外側でかつスピンドルの中心軸
    線を中心として前記フレームに回動可能に設けられたス
    リーブと、このスリーブの回転に伴って前記スピンドル
    をアンビルに対して進退させる駆動手段と、前記スピン
    ドルの変位量を検出する変位検出手段と、この変位検出
    手段で検出された検出値を表示する表示手段とを備え、 前記駆動手段は、前記スリーブおよびスピンドルの一方
    にスピンドルを中心として螺旋状に設けられた螺旋溝
    と、前記スリーブおよびスピンドルの他方に設けられ前
    記螺旋溝に摺動可能に係合する係合ピンとを含んで構成
    され、かつ、前記螺旋溝のリードが5mm以上に形成さ
    れたマイクロメータにおいて、 前記スピンドルの移動方向を判別する移動方向判別手段
    と、 この移動方向判別手段によってスピンドルがアンビルに
    対して前進する方向へ移動していることが判別されたと
    き、前記変位検出手段によって検出される検出値を前記
    表示手段に更新表示する一方、前記移動方向判別手段に
    よってスピンドルがアンビルに対して後退する方向へ移
    動していることが判別され、かつ、前記表示手段に更新
    表示された表示値からのスピンドルの後退量が設定量未
    満の範囲では、前記表示手段の表示値をホールドする最
    小値更新ホールド手段と、 前記移動方向判別手段によってスピンドルがアンビルに
    対して後退する方向へ移動していることが判別され、か
    つ、前記表示手段に更新表示された表示値からのスピン
    ドルの後退量が設定量以上になったとき、前記変位検出
    手段によって検出される検出値を前記表示手段に表示す
    る最小値ホールド解除手段とを備えたことを特徴とする
    マイクロメータ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のマイクロメータにおい
    て、 前記設定量を任意に設定する設定手段を備えていること
    を特徴とするマイクロメータ。
JP32061398A 1998-11-11 1998-11-11 マイクロメータ Expired - Fee Related JP3383229B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32061398A JP3383229B2 (ja) 1998-11-11 1998-11-11 マイクロメータ
US09/430,305 US6308433B1 (en) 1998-11-11 1999-10-29 Micrometer that holds displayed displacement when retraction amount is less than a set amount
EP99122330A EP1001245B1 (en) 1998-11-11 1999-11-09 Micrometer
DE69907851T DE69907851T2 (de) 1998-11-11 1999-11-09 Mikrometer
CN99124804.XA CN1130546C (zh) 1998-11-11 1999-11-10 测微计

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32061398A JP3383229B2 (ja) 1998-11-11 1998-11-11 マイクロメータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000146561A JP2000146561A (ja) 2000-05-26
JP3383229B2 true JP3383229B2 (ja) 2003-03-04

Family

ID=18123372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32061398A Expired - Fee Related JP3383229B2 (ja) 1998-11-11 1998-11-11 マイクロメータ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6308433B1 (ja)
EP (1) EP1001245B1 (ja)
JP (1) JP3383229B2 (ja)
CN (1) CN1130546C (ja)
DE (1) DE69907851T2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190018360A (ko) * 2017-08-14 2019-02-22 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법
US10443996B2 (en) 2016-09-13 2019-10-15 Bagel Labs Co., Ltd. Length measuring device and control method thereof
KR20190130529A (ko) * 2019-11-11 2019-11-22 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4520722B2 (ja) * 2002-12-10 2010-08-11 株式会社ミツトヨ 回転運動変換機構および測定機
JP4825697B2 (ja) * 2007-01-25 2011-11-30 株式会社ミツトヨ デジタル式変位測定器
JP5851882B2 (ja) * 2012-02-27 2016-02-03 株式会社ミツトヨ デジタル式変位測定器
US8997369B2 (en) * 2012-05-15 2015-04-07 Mitutoyo Corporation Fast rotary drive for a handheld micrometer
CN103278064A (zh) * 2013-04-29 2013-09-04 成都科瑞测量仪器有限公司 一种高精密数字位移传感器通讯测量仪
CN103398640A (zh) * 2013-08-12 2013-11-20 太仓斯普宁精密机械有限公司 带有放大镜的螺旋测微计
USD729659S1 (en) 2013-09-02 2015-05-19 Mitutoyo Corporation Micrometer
US9377282B2 (en) * 2013-09-03 2016-06-28 Mitutoyo Corporation Method for validating a workpiece measurement in a dimensional metrology hand tool
USD744359S1 (en) * 2013-12-11 2015-12-01 Tesa Sa Micrometer
USRE47140E1 (en) * 2013-12-11 2018-11-27 Tesa Sa Micrometer
US9482509B2 (en) 2014-12-12 2016-11-01 Mitutoyo Corporation Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
JP6602154B2 (ja) * 2015-10-22 2019-11-06 京都機械工具株式会社 デジタル式測定工具
JP6101390B2 (ja) * 2016-06-23 2017-03-22 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
CN106546139B (zh) * 2016-10-18 2019-04-16 浙江吉利控股集团有限公司 一种碰撞假人位移传感器标定装置及其标定方法
CN107726941A (zh) * 2017-11-09 2018-02-23 江西凯润达精密仪器有限公司 磁性防水螺旋千分尺
US11040422B1 (en) * 2018-01-25 2021-06-22 Dennis Willard Davis Manual stage with magnetic sensor and digital readout

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3484942A (en) * 1968-02-15 1969-12-23 Rene H Toubhans Micrometer with non-backlash,non-rotating lead screw
JPS4736262U (ja) * 1971-05-11 1972-12-22
US4103427A (en) * 1976-08-30 1978-08-01 Suntech, Inc. Electronic digital micrometer
JPS6145441Y2 (ja) * 1978-06-24 1986-12-20
JPS57173708A (en) * 1981-04-17 1982-10-26 Sony Magnescale Inc Length measuring device
US4485556A (en) * 1981-04-30 1984-12-04 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Micrometer gauge
US4561185A (en) * 1983-03-31 1985-12-31 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Measuring instrument
US4578868A (en) * 1983-04-01 1986-04-01 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Digital display measuring apparatus
JPS6033011A (ja) * 1983-08-04 1985-02-20 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 測定デ−タ合否判別装置
DE3432405A1 (de) * 1984-09-04 1986-03-13 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Mikrometer
SE450172B (sv) * 1985-10-18 1987-06-09 Carl Urban Ungerstedt Anordning for att kompensera for glapp i ett metsystem
US4821422A (en) * 1988-01-11 1989-04-18 Mcdonnell Douglas Corporation Magnetic wire holding device
JPH06194102A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Mitsutoyo Corp マイクロメータ
JP2965444B2 (ja) * 1993-10-01 1999-10-18 株式会社ミツトヨ 定圧型測定機
JP3623038B2 (ja) * 1996-02-26 2005-02-23 株式会社ミツトヨ マイクロメータ

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10443996B2 (en) 2016-09-13 2019-10-15 Bagel Labs Co., Ltd. Length measuring device and control method thereof
KR20190018360A (ko) * 2017-08-14 2019-02-22 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법
KR102080071B1 (ko) * 2017-08-14 2020-02-21 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법
KR20190130529A (ko) * 2019-11-11 2019-11-22 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법
KR102099098B1 (ko) 2019-11-11 2020-04-09 주식회사 베이글랩스 길이 측정 장치 및 그 제어 방법

Also Published As

Publication number Publication date
EP1001245A3 (en) 2000-05-31
DE69907851T2 (de) 2003-10-09
JP2000146561A (ja) 2000-05-26
EP1001245B1 (en) 2003-05-14
EP1001245A2 (en) 2000-05-17
CN1254086A (zh) 2000-05-24
DE69907851D1 (de) 2003-06-18
CN1130546C (zh) 2003-12-10
US6308433B1 (en) 2001-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3383229B2 (ja) マイクロメータ
EP0831300B1 (en) Capacitance-type displacement measuring device
JP2010019783A (ja) 内径測定器
JPH03184703A (ja) ドリルチャック
JPH0116366B2 (ja)
US3758956A (en) Micrometer comprising a digital counter
JP6416499B2 (ja) デジタル式比較測定器
JP2000292161A (ja) 真円度測定器
JP2557200B2 (ja) 回転角度測定方法
JPH0731343A (ja) 魚釣用スピニングリール
JP2574031Y2 (ja) 刃先検出装置
JP3428943B2 (ja) 回転体の位置検出装置
JPS6237455B2 (ja)
JP2757129B2 (ja) 連続伸線機のダイス径測定方法およびダイス径測定装置
JP3426679B2 (ja) 簡易用紙測長カウンタ
JPH0236310A (ja) 回転角度検出装置
JP6985120B2 (ja) 測定システム
JPH09189502A (ja) 外形寸法測定装置
JPS62245108A (ja) 溝付スペ−サ型光ケ−ブルの溝形状異常検出方法および検出機
JPH0680311A (ja) 線状体のリール巻取り方法
JP3900234B2 (ja) 形状測定装置及びその方法
JP2957082B2 (ja) グラビア彫刻機のグラビアシリンダ端面位置検出装置
JPH0599650A (ja) 位置検出装置
JPS6147363B2 (ja)
JPH01304336A (ja) ボールねじの機械損失測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20021203

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111220

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141220

Year of fee payment: 12

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees