JP6985120B2 - 測定システム - Google Patents

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Description

本発明は、複数の測定装置による同時測定が可能な測定システムに関する。
比較測定を行う測定装置のひとつとして、ダイヤルゲージが知られている。ダイヤルゲージは、先端に測定子が設けられたスピンドルの直線運動の変位量を測定するものが一般的であるが、てこ状の測定子の揺動の変位量を測定するものもある(てこ式ダイヤルゲージ)。
ダイヤルゲージは上記のような分類の仕方のほか、測定結果の表示形式により分類することができる。具体的には、変位量を指針の回転角によって表示する指針式のダイヤルゲージと、変位量をデジタル表示するデジタル式のダイヤルゲージ(例えば特許文献1参照)がある。
特開平10−103901号公報
ダイヤルゲージを用いて、例えば、被測定物の平面度や円筒度などを測定する場合、一般に複数回の測定が必要であり、回数が多いほど手間も時間もかかる。そこで例えば、複数のダイヤルゲージを固定可能なスタンドを用いて同時に使用する方法が考えられる。
しかし、複数の測定値を同時に読み取る必要から、低速で移動させることで測定時間が長くなったり、読み漏らしで再測定が必要になったりするといった問題がある。
また、複数回の測定による場合と複数個の装置を同時に使用する場合のいずれにおいても、測定回又は装置ごとの測定結果を関連付ける作業が必要になり、手間がかかると共にスキルが求められる。
本発明の目的は、複数の測定装置を同時に使用して各測定装置から速やかにかつ容易に測定結果を収集し、それぞれの測定結果を集約した所定の情報を表示することが可能な測定システムを提供することにある。
(1)本発明の測定システムは、統括装置と複数の測定装置とを備える。測定装置は、被測定物に当接する測定子と、測定子が被測定物の表面を相対的に一定の方向に摺動する過程において測定子の変位量を検出する検出手段と、記憶手段と、測定開始指示の受信を契機に、検出手段が検出する変位量を周期的に取得して記憶手段に書き込む処理を開始し、測定終了指示の受信を契機に処理を終了するデータ収集手段と、測定結果送信指示の受信を契機に、周期ごとの変位量の測定結果を統括装置に送信する提供手段と、を備える。統括装置は、統括記憶手段と、それぞれの測定装置が同時に測定を行うようにそれぞれの測定装置に対して測定開始指示及び測定終了指示を送信し、それぞれの測定装置から測定結果を受信して統括記憶手段に記憶させる取得手段と、表示手段と、それぞれの測定装置の測定結果に基づく所定の情報を表示手段に表示させる表示制御手段と、を備える。
このように測定システムを構成することで、複数の測定装置により同時に行った測定の結果を統括装置に速やかにかつ容易に収集し、統括装置においてそれぞれの測定結果に基づく所定の情報を表示することができる。
(2)統括装置は、いずれかの測定装置と一体化してもよい。一体化することで、システムをコンパクトに構成することができる。
(3)統括装置とそれぞれの測定装置との接続は、デイジーチェーン接続により行ってもよい。デイジーチェーン接続を採用することで、統括装置と当該統括装置の最寄りでない測定装置との距離をスター接続の場合よりも長くすることができる。
(4)表示制御手段は、例えば、それぞれの測定装置の測定結果を集約した集約情報を表示手段に表示させてもよい。
(5)統括記憶手段が、複数の基準測定物に対してそれぞれ実施された測定により得られた複数の集約情報を予め記憶し、表示制御手段は、被測定物に対して実施された測定により得られた集約情報と、記憶手段に記憶されている複数の基準測定物それぞれの集約情報と、を所定の類似性を尺度として対比することにより被測定物に最も類似する基準測定物を特定し、特定された基準測定物を示す情報を表示手段に表示させてもよい。
それぞれの基準測定物が測定物の種類を代表するものである場合、本発明によれば、被測定物がいずれの種類に属している可能性が最も高いかを容易に特定することができる。
(6)本システムに好適な測定装置としては、例えば、スピンドル式ダイヤルゲージ又はてこ式ダイヤルゲージが挙げられる。
測定装置100の外観の一例を示す図である。 測定システム10の機能ブロック図である。 測定システム10による被測定物Wの平面度の把握のための測定の一例を示す図である。 測定システム10による被測定物Wの円筒度の把握のための測定の一例を示す図である。 測定システム10による被測定物Wの寸法の測定の一例を示す図である。 マスターワークと検査対象ワークの集約情報収集のための測定の一例を示す図である。
以下、本発明の測定システムの実施形態について説明する。なお、以下では測定装置がスピンドル式のダイヤルゲージである場合を例にとって説明するが、被測定物の表面で測定子を移動させる過程での測定子の変位を測定する装置であれば同様に適用可能である。例えば、てこ式などの他の方式のダイヤルゲージでもよいし、ダイヤルゲージ以外の測定装置であっても構わない。
<第1実施形態>
本発明の測定システム10は、複数の測定装置100と、統括装置200と、を備える。図1に測定装置100の外観の一例を、図2に測定システム10の機能ブロック図を、それぞれ示す。なお、統括装置200において測定装置100とで同様の機能部分については同じ符号を付し、説明を省略する。
測定装置100は、本体ケース110、スピンドル120、測定子121、検出手段130、データ収集手段140、記憶手段150、提供手段160、表示制御手段170、及び表示手段171を備える。ただし、表示制御手段170と表示手段171は、測定装置100において測定結果を表示しないのであれば、無くても構わない。
スピンドル120は、軸方向に変位自在に本体ケース110に設けられる。スピンドル120の先端には、測定時に被測定物Wに当接する測定子121が設けられ、被測定物Wの凹凸による測定子121の変位がスピンドル120の変位に反映される。
検出手段130は、測定開始から測定終了までの間、測定子121が被測定物Wの表面を相対的に一定の方向に摺動する過程において、スピンドル120の変位量を検出する。変位量の検出方式は、光電式、静電容量式、電磁式など、変位量を電気信号として出力できる方式であれば任意の方式を採用してよい。
データ収集手段140は、統括装置200からの測定開始指示の受信を契機に、検出手段130が検出する変位量を所定の周期で取得して任意の記憶手段である記憶手段150に書き込む処理を開始し、測定終了指示の受信を契機に処理を終了する。
提供手段160は、統括装置200との間で情報の送受が可能な任意の通信機能を備え、統括装置200からの測定結果送信指示の受信を契機に、記憶手段150に記憶された周期ごとの変位量の測定結果を統括装置200に送信する。
なお、統括装置200と複数の測定装置100それぞれとの間の通信接続は、統括装置200に対してスター接続する方法のほか、複数の測定装置100をデイジーチェーン接続する方法を採っても構わない。その場合には、デイジーチェーン接続対応の通信機能を備えればよい。デイジーチェーン接続を採用することで、各測定装置100の設定にやや手間を生じるが、統括装置200と当該統括装置200の最寄りでない測定装置100との距離を、スター接続の場合よりも長くすることができるというメリットがある。
表示制御手段170は、周期ごとの変位量に基づく所定の情報を表示手段171に表示させる。
表示制御手段170の機能は、例えば、測定装置100がCPUを備えて、表示制御手段170の機能が記述されたプログラムをCPUで実行させることにより実現することができる。この場合、プログラムの記述内容に応じて、高度な処理や解析を行うことができ、それを表示手段171への表示に反映することができる。
表示手段171としてグラフィック表示が可能なディスプレイを採用することで、例えば、周期ごとの変位量を、変位量の位置的推移を示すグラフの形式で表示手段171に表示させることができる。
統括装置200は、統括記憶手段250、取得手段260、表示制御手段270及び表示手段271を備える。
取得手段260は、それぞれの測定装置100との間で情報の送受が可能な任意の通信機能を備え、それぞれの測定装置100が同時に測定を実行するように、それぞれの測定装置100に対して測定開始指示及び測定終了指示を送信する。また、測定終了指示の送信以後にそれぞれの測定装置100に対して測定結果送信指示を送信し、それぞれの測定装置100から測定結果を受信して任意の記憶手段である統括記憶手段250に記憶させる。
表示制御手段270は、それぞれの測定装置100の測定結果に基づく所定の情報を表示手段271に表示させる。
表示制御手段270の機能は、例えば、統括装置200がCPUを備えて、表示制御手段270の機能が記述されたプログラムをCPUで実行させることにより実現することができる。この場合、プログラムの記述内容に応じて、高度な処理や解析を行うことができ、それを表示手段271への表示に反映することができる。このとき、表示手段271にグラフィック表示が可能なディスプレイを採用することで、測定結果や解析結果の表示態様の柔軟性を大きく高めることができる。
表示手段271に表示させる所定の情報としては、例えば、測定装置100ごとに変位量の位置的推移をグラフ化して各グラフを重畳したものであってもよいし、各測定装置100による測定結果の集約情報であってもよい。
この集約情報の内容は任意であり、例えば、各測定装置100の測定結果を解析して得られた平面度、真円度、円筒度、同軸度、同心度などであってもよいし、その他何らかのルールで各測定装置100による測定結果を集約したものであってもよい。
統括装置200は、測定装置100と一体的に構成してもよい。この場合、図2に示すように、統括装置200の本体ケース210に軸方向に変位自在に設けられ先端に測定子121を有するスピンドル120、検出手段130、及びデータ収集手段140を更に備え、当該データ収集手段140が取得手段260からの指示に従い測定装置100と同時に測定を開始及び終了し、測定結果を統括記憶手段250に記憶させるように構成すればよい。統括装置200の測定装置100の機能において、自身の測定結果を表示手段171に表示させたい場合には、測定時においては表示制御手段270及び表示手段271を表示制御手段170及び表示手段171と同様に機能させるように構成すればよい。
図3は、統括装置200に測定装置100の機能を備え、2台の測定装置100とともの実質的に3台の測定装置100により本発明の測定システム10を構成して、被測定物Wの平面度を測定する場合の一例を示す図である。図3の構成においては、3台の測定装置を図示しないスタンドなどに固定して同時に図面右方向に移動させて、それぞれの測定結果を得る。図3の各測定装置100においては、この時点での測定結果が表示手段171にグラフで表示される場合を示している。そして2台の測定装置100による測定結果が統括装置200に送信され、統括装置200の測定装置100の機能による測定結果とともに表示制御手段270において解析され、解析結果が表示手段271に表示される。
また図4は、統括装置200に測定装置100の機能を備え、3台の測定装置100とともの実質的に4台の測定装置100により本発明の測定システム10を構成して、被測定物Wの円筒度を測定する場合の一例を示す図である。図4の構成においては、4台の測定装置を図示しないスタンドなどに固定して、円筒を各測定装置100に対して相対的に軸中心に回転させて、それぞれの測定結果を得る。図4の各測定装置100においては、この時点での測定結果が表示手段171にグラフで表示される場合を示している。そして3台の測定装置100による測定結果が統括装置200に送信され、統括装置200の測定装置100の機能による測定結果とともに表示制御手段270において解析され、解析結果が表示手段271に表示される。
また図5は、統括装置200に測定装置100の機能を備え、1台の測定装置100とともの実質的に2台の測定装置100により本発明の測定システム10を構成して、被測定物Wの寸法を測定する場合の一例を示す図である。図5の構成においては、実質的に2台の測定装置100を、それぞれの測定子121が所定の隙間をもって配置されるように固定具Fに固定しスピンドル120の突起状態を調整しておく。この状態で2つの測定子121の間に被測定物Wを挿入し、2台の測定装置100の測定結果を得る。そして、1台の測定装置100による測定結果が統括装置200に送信され、統括装置200の測定装置100の機能による測定結果とともに表示制御手段270において寸法が計算され、計算結果が表示手段271に表示される。この構成によれば、被測定物Wを測定子121間に挿入するだけで寸法が測定できるため、ノギスやマイクロメータなどのように測定機器を手に持たなくてもよい。
以上説明した第1実施形態の測定システム10によれば、複数の測定装置100に表示される変位量の動向を凝視する必要がなく、一度の測定で複数の測定データを速やかに得ることができるため測定時間を短くすることができる。また、測定も容易に行うことができる。更に、統括装置200を表示手段271が見やすい位置に配置すれば測定装置100の配置状況は問わないため、配置の柔軟性が高い。加えて、各測定装置100から収集した測定結果の傾向の把握やさまざまな解析を表示制御手段270において実施し、結果を表示することができる。
<第2実施形態>
第1実施形態の測定システム10において、統括記憶手段250に、基準測定物である複数のマスターワークMWを例えば図6(a)から(d)に示すようにして測定して得られた、それぞれのマスターワークMWの集約情報を予め記憶させておく。そして、表示制御手段270が、被測定物である検査対象ワークTWを例えば図6(e)に示すように測定して得られた集約情報と、統括記憶手段250に記憶されているそれぞれのマスターワークMWの集約情報とを、所定の類似性を尺度として対比することにより、複数(図6の例では4個)のマスターワークMWの中から検査対象ワークTWに最も類似しているマスターワークMWを特定して、特定されたマスターワークMWを示す任意の情報を任意の形態で表示手段271に表示させてもよい。
これにより、それぞれの基準測定物が測定物の種類を代表するものである場合、本発明によれば、被測定物がいずれの種類に属している可能性が最も高いかを容易に特定することができる。
本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではない。各実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。すなわち、本発明において表現されている技術的思想の範囲内で適宜変更が可能であり、その様な変更や改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含む。
10…測定システム
100…測定装置
110、210…本体ケース
120…スピンドル
121…測定子
130…検出手段
140…データ収集手段
150…記憶手段
160…提供手段
170、270…表示制御手段
171、271…表示手段
200…統括装置
250…統括記憶手段
260…取得手段
F…固定具
MW…マスターワーク
TW…検査対象ワーク
W…被測定物

Claims (6)

  1. 統括装置と複数の測定装置とを備え、
    前記測定装置は、
    被測定物に当接する測定子と、
    前記測定子が前記被測定物の表面を相対的に一定の方向に摺動する過程において、前記測定子の変位量を検出する検出手段と、
    記憶手段と、
    測定開始指示の受信を契機に、前記検出手段が検出する前記変位量を周期的に取得して前記記憶手段に書き込む処理を開始し、測定終了指示の受信を契機に処理を終了するデータ収集手段と、
    測定結果送信指示の受信を契機に、周期ごとの前記変位量の測定結果を前記統括装置に送信する提供手段と、
    を備え、
    前記統括装置は、
    統括記憶手段と、
    それぞれの前記測定装置が同時に測定を行うようにそれぞれの前記測定装置に対して前記測定開始指示及び前記測定終了指示を送信し、前記測定終了指示の送信以後にそれぞれの前記測定装置に対して前記測定結果送信指示を送信し、それぞれの前記測定装置から前記測定結果を受信して前記統括記憶手段に記憶させる取得手段と、
    表示手段と、
    それぞれの前記測定装置の前記測定結果に基づく所定の情報を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、
    を備える測定システム。
  2. 前記統括装置は、いずれかの前記測定装置と一体化されていることを特徴とする請求項1に記載の測定システム。
  3. それぞれの前記測定装置は、前記統括装置にデイジーチェーン接続されることを特徴とする請求項1又は2に記載の測定システム。
  4. 前記表示制御手段は、それぞれの前記測定装置の前記測定結果を集約した集約情報を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の測定システム。
  5. 前記統括記憶手段は、複数の基準測定物に対してそれぞれ実施された測定により得られた複数の前記集約情報を予め記憶し、
    前記表示制御手段は、前記被測定物に対して実施された測定により得られた前記集約情報と、前記統括記憶手段に記憶されている前記複数の基準測定物それぞれの前記集約情報と、を所定の類似性を尺度として対比することにより前記被測定物に最も類似する前記基準測定物を特定し、特定された前記基準測定物を示す情報を前記表示手段に表示させる
    ことを特徴とする請求項に記載の測定システム。
  6. 前記測定装置は、スピンドル式ダイヤルゲージ又はてこ式ダイヤルゲージであることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の測定システム。

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