JP3362858B2 - 磁気センサ - Google Patents

磁気センサ

Info

Publication number
JP3362858B2
JP3362858B2 JP53752398A JP53752398A JP3362858B2 JP 3362858 B2 JP3362858 B2 JP 3362858B2 JP 53752398 A JP53752398 A JP 53752398A JP 53752398 A JP53752398 A JP 53752398A JP 3362858 B2 JP3362858 B2 JP 3362858B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal processing
magnetic sensor
circuit
processing circuit
magnetic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP53752398A
Other languages
English (en)
Inventor
和敏 石橋
一郎 柴崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Original Assignee
Asahi Kasei Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Corp filed Critical Asahi Kasei Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP3362858B2 publication Critical patent/JP3362858B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/028Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
    • G01D3/036Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、磁気センサに関し、より詳しくは、近接ス
イッチや、電流センサ、エンコーダ等のセンサとして用
いられる信号処理回路付き磁気センサに関する。
背景技術 信号処理回路付き磁気センサとしては、ホール素子を
センサに用いたホールICがよく知られているが、従来の
ホールICは、シリコン(Si)を材料としたホール素子の
形態をもつ磁気センサ部と、この磁気センサ部で検出し
た信号の信号処理IC部とからなる。Siモノリシックホー
ルIC(以下、SiホールICという)が一般的である。
SiホールICは、その磁気センサ部であるホール素子が
Siという、電子移動度が小さな素材で構成されているた
めに、磁気センサの磁界に対する感度が低く、従ってホ
ールICとして動作させようとすると、大きな磁界を加え
る必要があった。すなわち磁界に対する感度が低いとい
う欠点があった。
またSiは外部より機械的応力を受けると、電圧を発生
する事が知られている。
SiホールICは、使用時に外部からの応力により磁気セ
ンサ部のホール素子に生ずるこの電圧によって、磁界に
対する感度が変化してしまうという欠点を有していた。
このような欠点は、SiホールICを用いて、高精度で高
信頼性の近接スイッチや電流センサ、エンコーダ等を製
作しようとすると、問題となっていた。
このため、正確に磁石の位置検出や磁界強度の検出が
できる、高感度でかつ外部応力によっても感度が変化し
ない、安定な特性の信号処理回路付き磁気センサが望ま
れていた。しかし、そのような磁気センサの実現は、大
きな困難が伴いこれまで実現されていなかった。
また、一方でホール素子等の磁気センサを用い、信号
処理回路をオペアンプや抵抗等のディスクリート部品で
構成し、上記した近接スイッチや電流センサ、エンコー
ダ等のセンサとして用いることが行われており、磁石の
位置検出や磁界強度の検出を精度良く行うために種々の
方法が検討されている。
しかしこの方法では、使う側にセンサの特性を理解
し、それに最適な回路設計を行い、個別部品を調達し、
組み立てを行うという、極めて専門的な技術が必要で、
しかも磁気センサ素子と、個別部品で構成した信号処理
回路とを、基板上に実装して実現するために、コストア
ップすると共に、大サイズ化し、安価と小さなサイズを
要求するセンサ分野では致命的な欠点を有していた。
例えば、図12の従来技術(日本国特開平2−38920号
公報)では、ディスクリートの磁気センサである磁気抵
抗素子60、70と、抵抗素子6、7、7'および演算増幅回
路51による信号処理回路とを用い、異なった温度係数を
有する抵抗素子6、7、7'の合成抵抗によりフィードバ
ック抵抗を構成し、演算増幅回路51の出力端から反転入
力端にフィードバックすることにより、所望の温度特性
をもつ磁気特性を実現できる技術が開示されているが、
この回路構成では上記したコストアップ、大サイズ化等
の問題点を抱えている。しかもこの回路構成では、磁気
抵抗素子60,70の中点電位のばらつきにより、出力電圧
がばらついてしまうため、所定の出力を得る歩留まりが
低下するという問題がある。又、中点電位は通常温度ド
リフトするので、そのドリフトが回路の出力電圧に現
れ、センサの出力信号の温度特性に影響を与えるため、
結局所望の温度特性を得ることが難しくなるという欠点
を有している。
またさらに、図12の構成ではディスクリートの抵抗素
子6、7、7′により所望の温度特性をもつ磁気特性が
実現されているので、温度係数の異なる抵抗は任意に利
用できるが、SiモノリシックICのような条件下での実現
性について何ら開示されていない。
その他の問題として、例えば図14に示すように単にPN
接合で基板21aと電気的に分離された構造からなる信号
処理回路20a、磁気センサ部30aを有する従来の一般的な
SiホールICの場合、125℃を超える周囲温度では、動作
が不安定になり、さらに150℃以上では全く動作しなく
なってしまうという問題もあった。
一方、ホール素子の出力抵抗をシュミットトリガ回路
の入力抵抗として用いることにより、スレッシュホール
ド電圧にホール素子の出力抵抗の温度依存性を反映させ
て、ホールICとしての温度特性を改善するという技術が
知られている。すなわち、図15の回路構成において、演
算増幅回路51の反転入力端の電位をV1、フィードバック
抵抗をRF、演算増幅回路51の増幅後出力信号18の出力電
位をVdo,ホール素子4の出力抵抗の1/2をRhoとすると、
シュミットトリガ回路のスレッシュホールド電圧Vth
は、Vth=(Vdo−V1)・Rho/RFで表される(日本国特開
昭61−226982号公報)。
ここで、V1が問題になる。V1はホール素子4の出力の
電位で、ホール素子4の入力抵抗Rhiとホール素子駆動
電流Icとの積の約1/2の値になるが、RhiがばらつくとV1
の値がばらつくことになり、その結果Vthがばらつきを
持ち、設計通りのスレッシュホールド電圧を得られなく
なるため、設計値と異なる磁気特性を持つホールICにな
ってしまい、歩留まりを低下させてしまう原因になる。
このホール素子4の入力電圧の約1/2になる出力端子
の電位を、ホール素子の中点電位と呼ぶが、この値はホ
ール素子の製造のばらつきにより分布を持った値とな
り、この中点電位のばらつきもの、V1のばらつきとな
り、歩留まり低下の原因となる。
発明の開示 本発明者等は、前述の磁気センサの問題を解決した実
用的な磁気センサを鋭意研究した。
磁気センサ部とSiICの信号処理回路を分離した構造
で、磁気センサを構成する事により、高感度で安定に動
作する信号処理回路付き磁気センサの製作を狙った。
高感度で安定な特性の信号処理回路付き磁気センサを
実現するためには、センサ部にSiホール素子よりも磁界
での感度が大きく、また機械的外部応力が加わっても安
定な磁気センサ出力が得られる、化合物半導体薄膜ある
いは、磁性薄膜からなる高感度磁気センサと、信号処理
の回路とを組み合わせた信号処理回路付き磁気センサを
検討した。
その結果、本発明者らは、上記化合物半導体センサと
して用い、SiのモノリシックICと組み合わせて、一つの
パッケージに納めた、ハイブリッド構造のホールICを発
明した。
この発明により、使う側に特別な回路技術等の専門技
術の必要ない汎用的な、安価で小サイズ、高性能の信号
処理回路付き磁気センサを実現でき、容易に磁石の位置
検出や磁界強度の検出を精度良く行うことが可能になっ
た。
しかし、従来の技術ではホール素子の製造上生じるば
らつきや、ICのばらつきによるホールICとしての歩留ま
りの低下がどうしても発生し、更にはIC中の回路構成部
品の精度を上げる必要があるなどの、コストアップの問
題が解決できなかった。
更に、磁気センサである化合物半導体薄膜や磁性薄膜
は、一般に温度が高くなるにつれて、その抵抗が大きく
なり、さらに磁気センサ出力が小さくなるという欠点が
あり、そのまま信号処理の回路と組み合わせると、温度
が高くなるにつれて、信号処理回路付き磁気センサの出
力が小さくなってしまう、すなわち、温度依存性が大き
いという問題があった。このため、信号処理回路付き磁
気センサの一般的な検出対象である磁石が、温度が高く
なるにつれて、その磁束密度が小さくなるという傾向を
持つので、精度の高い実用的な検出に対して致命的な欠
点となっていた。
発明者らは、この問題を解決すべく研究を行った。
本発明は、このような問題を解決するために、磁気セ
ンサ側の影響を受けない信号処理回路付きの磁気センサ
を提供することを目的とする。つまり、ホール素子の製
造上生じるばらつきや、ICのばらつきによるホールICと
しての歩留まりの低下を少なくし、さらにはIC回路中の
構成部品の削減や要求精度の緩和を可能し、それにより
更に収率改善やコストダウンを実現することにある。
また、本発明の他の目的は簡単な構成で磁気センサの
抵抗や感度の温度係数を補正し、幅広い温度範囲にわた
って温度依存性の無い、高性能の信号処理回路付き磁気
センサを実現することにある。さらに、永久磁石の磁界
を検出する場合のような、検出磁界が温度依存性を持つ
場合についても、センサ出力の温度依存性は小さくでき
る様な、高性能の信号処理回路付き磁気センサを実現す
ることにある。
本発明の請求項1に記載の信号処理回路付き磁気セン
サは、化合物半導体薄膜または磁性薄膜からなる磁気セ
ンサ部と、該磁気センサ部で電気的出力として検出した
磁気信号を増幅する信号処理回路とを備え、前記信号処
理回路は、前記磁気センサ部に接続された演算増幅回路
と、該演算増幅回路の出力に応じた異なる電流値を、該
演算増幅回路の非反転入力端にフィードバックする定電
流回路とを有することを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発
明において、前記定電流回路は、二種類以上の異なった
温度係数を有する複数の抵抗を備え、前記定電流回路が
出力する電流は、前記複数の抵抗の合成抵抗の温度係数
に反比例する温度係数を有することを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発
明において、前記複数の抵抗の合成抵抗は、前記磁気セ
ンサ部の内部抵抗と感度の温度係数によって生じる誤差
を補正するものであることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の発
明において、前記複数の抵抗は、前記磁気センサ部の内
部抵抗や感度の温度係数に加えて、前記磁気センサ部の
検出対象の温度係数によって生じる誤差を補正するもの
であることを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4いず
れかに記載の発明において、前記信号処理回路はモノリ
シックICであることを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項1乃至5いず
れかに記載の発明において、前記信号処理回路は、絶縁
性基板上、もしくは半導体基板上に配置した絶縁層上に
形成されていることを特徴とする。
ここで本発明の信号処理回路付き磁気センサにおい
て、磁気センサ部は、化合物半導体薄膜から成り、ホー
ル効果や磁気抵抗効果を利用した磁気センサ、あるい
は、磁性薄膜からなる磁気抵抗効果を利用した磁気セン
サであれば良く、InAs(インジム・ヒ素)、GaAs(ガリ
ウム・ヒ素)、InGaAs(インジウム・ガリウム・ヒ
素)、InSb(インジウム・アンチモン)、InGaSb(イン
ジウム・ガリウム・アンチモン)、etc.からなるホール
素子や磁気抵抗素子、或いはNiFe(ニッケル・鉄)、Ni
Co(ニッケル・コバルト)、etc.からなる磁性薄膜磁気
抵抗素子、もしくはそれらを組み合わせた磁気センサは
特に好ましい。
ここで、化合物半導体薄膜とは、基板上にCVD法、MBE
法、蒸着法、スパッタ法といった一般的な半導体の形成
技術により形成された薄膜、又は半導体インゴットを削
り出し法等によって作成された薄膜、又は半導体基板表
面にイオン注入法や拡散法等によって形成された活性層
を指す。
また、本発明の信号処理回路付き磁気センサの信号処
理回路は、一般に、微小な構造で製作された回路であれ
ば良く、Si基板上に集積化された回路は好ましく、回路
を構成する素子は、MOS構造を有していても、バイポー
ラ構造を有していても、さらにそれらを混合した回路で
も良い。また、信号処理の機能が実現できていれば、Ga
As基板上に集積化されて製作された回路も好ましく、さ
らに、小型化されて製作されたセラミック基板上のマイ
クロ構造の回路等も好ましい。
前記複数の抵抗素子は、前記磁気センサ部の内部抵抗
の温度係数と感度の温度係数とに加え、前記磁気センサ
部の検出対象の温度係数も補正する温度係数を有するこ
とができる。
本信号処理回路付きの磁気センサの信号処理回路部と
しては、一般に、微小な構造で製作された回路で、例え
ばセラミック基板上に形成された回路のような、絶縁性
の基板上に回路が形成された構成とすることができる。
または、Si基板上に絶縁層、あるいは、高抵抗層が形成
され、その層上に集積化された回路で信号処理回路を構
成したり、ICの表面に半導体、あるいは、強磁性体のセ
ンサが作り込まれて一体化された構成のものでもよい。
ここでいう、絶縁性の基板、絶縁性の層、または高抵
抗層とは、その抵抗率が10の5乗〜10の7乗Ω・cm以上
の基板または層のことであり、PN接合による絶縁構造で
は無いものをいう。例えば、セラミック、シリコン酸化
物、アルミナ等の基板、あるいは、層のことである。
図面の簡単な説明 図1は、本発明の第1の実施形態を示す回路図であ
る。
図2は、本発明の第6の実施形態を示す回路図であ
る。
図3は、本発明の第2の実施形態を示す回路図であ
る。
図4は、本発明の第3の実施形態の変形例を示す回路
図である。
図5は、本発明の第4の実施形態の変形例を示す回路
図である。
図6は、本発明の第5の実施形態を示す回路図であ
る。
図7は、本発明の回路と比較のための回路を用いてデ
ジタル信号処理を行った場合の動作磁束密度の温度依存
性を、比較した結果のグラフを示す図である。
図8は、デジタル変換後の出力電圧と印加磁束密度と
の関係を示す特性図である。
図9は、本発明の回路と比較のための回路を用いてデ
ジタル信号処理を行った場合の動作磁界強度の温度依存
性を、比較した結果のグラフを示す図である。
図10は、セラミック基板上に本発明に係る信号処理回
路を形成した場合と、一般的Siの集積回路の場合とにお
ける、動作磁束密度の温度依存性を比較して示す特性図
である。
図11Aは、図1乃至5の信号処理部を含む基板構造を
示す断面図である。
図11Bは、他の基板構造を示す断面図である。
図12は、比較のための従来の信号処理回路を示す図で
ある。
図13は、比較のための他の信号処理回路を示す図であ
る。
図14は、従来の信号処理回路部の基板構造を示す断面
図である。
図15は、比較のためのさらに他の従来の信号処理回路
を示す図である。
図16は、本発明における信号処理回路中の増幅回路の
詳細を示す図である。
図17は、図16の回路図の詳細を示した図である。
図18は、本発明における信号処理回路中の増幅回路の
他の詳細を示す図である。
発明を実施するための最良の形態 以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説
明する。
実施例1 図1に示す実施形態は、電圧電源1によって信号処理
回路5が駆動され、さらにホール素子4が定電流源50を
介して電圧電源1によって駆動される。ホール素子4の
2つの出力端は信号処理回路5中の演算増幅回路の反転
入力端および非反転入力端に接続される。さらに、信号
処理回路5内の定電流回路52からの定電流ifを演算増幅
回路の非反転入力端にフィードバックする。本実施形態
は、このような構成によって、シュミトトリガ回路、す
なわちデジタル処理回路を形成している。
図1の実施形態では、抵抗RFによるフィードバックで
はなく、定電流源からの定電流ifによるフィードバック
構成になっているため、デジタル処理回路のスレッシュ
ホールド電圧Vthは、Vth=Rho×ifとなり(Rho:ホール
素子出力抵抗の約1/2)、演算増幅回路の反転入力端の
電位V1の影響を受けなくなる。よって、ホール素子4の
入力抵抗のばらつきや中点電位のばらつきの影響をまっ
たく受けなくなり、設計通りの磁気特性を実現できるの
で、大幅な歩留まりの改善が可能となる。
ここで図1乃至図5に記載された信号処理回路の詳細
な構造について、図16及び図18の各構成を例として説明
することにする。
図16において、5は信号処理回路であって、演算増幅
回路51と、定電流回路52と、バッファ回路53とを有して
いる。演算増幅回路51の反転入力端及び非反転入力端に
は、ホール素子4の2つの出力端を接続して、ホール素
子4の出力抵抗を演算増幅回路51の入力抵抗としてい
る。定電流回路52は演算増幅回路51の出力に応答して2
つの定電流値i1,i2(il>i2)のいずれかを出力するこ
とができ、出力した電流を演算増幅回路51の非反転入力
端にフィードバックする。すなわち、定電流回路52から
は、演算増幅回路51の出力がHighのときi1が出力され、
演算増幅回路51の出力がLowのときi2が出力され、正帰
還がかかるので、演算増幅回路51および定電流回路52に
よってシュミトトリガ回路として動作する。バッファ回
路53は、演算増幅回路51および定電流回路52によって構
成されたシュミトトリガ回路の動作を乱さずに演算増幅
回路51の出力を外部に取り出す。また、図18は、演算増
幅回路51と、定電流回路52と、バッファ回路53とを直列
に接続した信号処理回路5の他の一例を示すものであっ
て、その動作は図16と同様である。
実施例2 図3乃至5に本発明の実施形態の異なった形態を示
す。
図3は図1のホール素子駆動用定電流源50の代わりに
一対の駆動用抵抗2、3でホール素子4の上下を挟み込
んだ回路構成である。V1の影響が無いため、上下の抵抗
2、3の抵抗値をそろえておく必要が無く、抵抗の相対
精度を必要としないため、モノリシックIC化する場合に
歩留まり低下を防ぐことができる。
実施例3、及び4 図4は駆動用抵抗2がホール素子4の入力に+側だけ
に、図5は駆動用抵抗3がホール素子4の入力の一側だ
けに接続された回路構成であり、図3乃至5のいずれも
図1と同様の効果を実現できる。
実施例5 図6は、本発明の第5の実施形態を示すもので、出力
信号の温度依存性を、幅広い温度範囲にわたってほとん
どゼロに近い温度依存性を有し、安定した出力を得るこ
とができる、高性能の信号処理回路付き磁気センサを実
現するための信号処理回路の一例を示すものである。さ
らに本発明では、永久磁石による磁界の様な、温度依存
性を持つ磁界の検出の場合であっても、センサ出力とし
て温度に依存しない出力を得ることが可能である。
この実施形態では、演算増幅回路51の増幅後出力信号
と非反転入力端とにデジタル信号処理フィードバック抵
抗として、抵抗6,7を直列接続したものであって、これ
によりフィードバック量に比例したスレッシュホールド
電圧を持つシュミットトリガ回路(以下、単にデジタル
処理回路と呼ぶこともある)が形成されている。すなわ
ち、演算増幅回路51は、非反転入力端の電圧が反転入力
端の電圧より高ければ出力電圧は極大となり、逆の場合
は出力電圧は極小となるので、コンパレータとして動作
する。すなわち、図8はデジタル変換後の出力電圧(Vd
o)とホール素子への印加磁束密度との関係を示す図で
あって、出力電圧がHighからLowへ変化する磁束密度を
動作磁束密度(Bop)と呼び、逆にLowからHighへ変化す
る磁束密度を復帰磁束密度(Brp)と呼ぶ。
図6に示すように、電圧電源1によって演算増幅回路
51を駆動し、かつ、駆動用抵抗2,3を介してInAsホール
素子4を駆動する。このInAsホール素子によって、磁気
センサ部30が構成される。また、InAsホール素子4の出
力抵抗を演算増幅回路51の入力抵抗としており、演算増
幅回路51の非反転入力端にフィードバックされる温度係
数の異なった二種類のフィードバック抵抗6および7
(Rf1およびRf2)でシュミットトリガ回路が構成されて
いる。このような構成にすると、スレッシュホールド電
圧Vth=(Vdo−V1)・Rho/(Rf1+Rf2)で表される。駆
動用抵抗2、3と演算増幅回路51と、抵抗6、7によっ
て信号処理回路部20が構成される。この構成において、
V1の影響が無視できる場合は、Rf1とRf2の抵抗値の大き
さの割合を適当に設定することにより、Vthの温度係数
を設定でき、その結果InAsホール素子4の内部抵抗の温
度係数と感度の温度係数により生じる誤差を補正するこ
とができる。これによって(Bop)と(Brp)に任意の温
度係数を持たせることができる。なお、抵抗6および7
は並列接続することもできる。
このように、磁界に対して温度依存性の無いセンサ出
力を得ることが可能である。
また、検出対象の磁界が温度依存性を有する例えば永
久磁石による磁界の場合でも、永久磁石の温度係数はあ
らかじめ測定可能なので、Rf1とRf2の抵抗値の大きさの
割合を適切に設定することによって、永久磁石の温度係
数により生じる誤差を補正して、センサ出力の温度依存
性を無くすることが可能である。
尚、第5の実施形態では、磁気センサとしてInAsホー
ル素子を用いたが、この代わりに磁性薄膜磁気抵抗素子
(NiFe)を用いることもできる。
実施例6 図2は、本発明の第6の実施例を示す。図17はその信
号処理回路の詳細な構造を示す。2つの定電流値i1,i2
を決定するための構成要素の一部として、信号処理回路
51内、特に定電流回路52内の2つの(またはそれ以上
の)、各々異なる温度係数を持つ複数の抵抗(この場合
はR1、R2の2個)を適用し、2つの定電流値i1,i2を、
この各々異なる温度係数を持つ抵抗R1、R2の(直列接続
または並列接続またはこれらの組み合わせによる)合成
抵抗の有する温度係数に反比例させる(i1∝1/(R1+R
2)、i2∝1/(R1+R2))ことによって、Vth1=Rho×i
1、Vth2=Rho×i2と任意の温度係数を持たせることが可
能になり、従って、図6に示す効果に加えて、V1の影響
を受けなくすることができるので、上述したように信号
処理回路5の出力信号に、例えば、磁気センサ部4の内
部抵抗の温度係数と感度の温度係数により生じる誤差を
補正することが可能であり、さらに、磁気センサ部の検
出対象の温度係数により生じる誤差も補正することが可
能である。
以上の各実施形態においては、その回路構成の信号処
理回路部をSiのモノリシックICでも実現しているが、通
常のSiモノリシック中で実現される抵抗は、比較的温度
係数の小さい低シート抵抗の抵抗と、比較的温度係数の
大きい高シート抵抗の抵抗が存在する。Siモノリシック
ICにおいて、通常はこの温度係数の違いは、回路技術上
負の要因となり、歓迎されない特性とされてきた。本発
明では、この違いを利用して、直列あるいは並列または
その組合わせの合成抵抗とすることにより所望の温度係
数を作り出し、その温度係数に反比例する定電流を作り
出して、フィードバックすることで、不可能とされてい
たSiモノリシックICでの任意の磁気特性の温度係数を実
現できる信号処理回路付き磁気センサを実現できた。
実施例7 通常のSiICで製作された信号処理回路部の回路素子
は、PN接合で基板と電気的に分離された構造でSI基板表
面に形成されていることに着目し、この分離のためのPN
接合の電流リークが高温で増大していることに起因し
て、125℃以上の高温での動作が不安定になっているも
のと考えられる。そこで、基板へのリーク電流の少ない
回路の構造として、回路素子を絶縁性基板の表面に製作
し、その結果、高温での安定動作に、基板へのリーク電
流が大きな影響を与えていることを見い出した。
本実施形態においては、そのような基板へのリーク電
流を少なくする構造の信号処理回路を用いて、化学物半
導体磁気センサや磁性薄膜磁気抵抗素子と組み合わせる
ことによって、磁気センサを構成する。
図11Aは、図1乃至6の信号処理回路部20を含む基板
構造を示す。この信号処理回路部20の集積回路は、絶縁
性のセラミック基板上に形成された構造となっている。
すなわち、絶縁性基板21上に信号処理回路部20としての
半導体回路素子が形成されている。このような構造によ
って、周囲温度が高温でも安定な動作が可能となる。
また、この図11Aにおいて、信号処理回路部20が設け
られた絶縁基板21上には、磁気センサ部30が設けられて
いる。なお、この磁気センサ30は、信号処理回路部20の
上部に絶縁層を介して設けたり、この絶縁基板21とは別
個の基板上に設けてもよい。
実施例8 図11Bは、信号処理回路部20を含む他の基板構造例を
示す。Si基板23上にSiO2のような絶縁層22が形成され、
その絶縁層22上に信号処理回路部20としての半導体回路
素子が形成されている。この場合にも同様に、高温での
安定した動作の効果が得られる。
また、この図11Bにおいて、信号処理回路部20が設け
られたSi基板23の絶縁層22上には、磁気センサ部30が設
けられている。なお、この磁気センサ部30は、信号処理
回路部20の上部に絶縁層を介して設けたり、このSi基板
23とは別個の基板上に設けてもよい。
以上、図11A、11Bに示すような回路構成とすることに
よって、175℃というこれまで実現できなかった高温ま
で安定した信号処理動作を行うことができ、これによ
り、高精度で信頼性の高い増幅回路付きの磁気センサを
実現することが可能となる。
次に、上記した本発明の実施形態を従来のものと比較
して検討した実験結果を示す。
−実験例− (実験例1) 図7に、SiモノリシックICで実現した図2の回路にお
いてInAsホール素子4をセンサとして用いて得られた動
作磁束密度(Bop)の温度依存性を比較してグラフに示
す。
ここで一方の抵抗R1の温度係数として2000ppm/℃を、
他方の抵抗R2の温度係数として7000ppm/℃を用い、R1と
R2の大きさの比を2:8にした場合と7:3にした場合につい
ての結果を示している。
更に比較のために図13の回路においてInAsホール素子
4をセンサとして用いて得られた動作磁束密度(Bop)
の温度依存性を比較してグラフに示す。
本発明のデジタル出力回路を用いれば、R1とR2の比が
7:3の場合、動作磁束密度の温度係数を、幅広い温度範
囲でほとんどゼロにできる。また、R1とR2の比が2:8の
場合に、一般的なフェライト磁石の温度係数と同じ、−
0.18%/℃の温度係数にすることもできるので、フェラ
イト磁石による磁界を検出する場合には、R1とR2の比を
2:8に設計することにより、センサ出力の温度依存性を
ほとんどゼロにする事ができる。
さらに、R1はSi集積回路中の一般的抵抗で、シート抵
抗が比較的小さいものであり、R2は高抵抗を作るための
シート抵抗が比較的大きいものを用いたが、本発明の回
路構成にすることにより、InAsホール素子の感度と抵抗
の温度係数に合わせた、専用の温度係数を持った抵抗を
新たに用意することなく、通常プロセスで作製できる二
種類の抵抗の、定数の組み合わせで実現できるため、IC
作製に特別なプロセスを付加することなく、安価に実現
できるという効果もある。
(実験例2) 図9に、やはりSiモノリシックICで実現した図2、及
び比較のための図13の回路において、磁性薄膜磁気抵抗
素子(NiFe)をセンサとして用いて得られた動作磁束強
度(Hop)の温度依存性を比較してグラフに示す。
動作磁束強度の温度係数を、幅広い温度範囲でほとん
どゼロにできることがわかる。
(実験例3) 図10は、セラミック基板上に図2の信号処理回路を形
成した図11A,11Bに示す場合の動作磁束密度の温度依存
性を、従来の一般的なSi基板上に集積回路を形成した場
合と比較した例を示す。この図10から、周囲温度が150
℃以上の高温においても、本発明の回路では動作磁束密
度が安定していることがわかる。
以上、説明したように、磁気センサ部を化合物半導体
薄膜で構成すると共に、定電流回路による電流でフィー
ドバックする構成にしたので、ホール素子の中点電位の
ばらつきや、回路の抵抗のばらつきによる歩留まりの低
下を無くすることができる。
又、定電流回路によるフィードバック電流の温度係数
を信号処理回路中の二種類以上の異なった温度係数を持
った複数の抵抗の合成抵抗の温度係数に反比例するよう
にすることにより、動作磁束密度の温度依存性をほとん
どゼロにすることができ、更には永久磁石の磁界を検出
する場合の様に、検出磁界が温度依存性を持つ場合にお
いても、幅広い温度範囲で温度に依存しないセンサ出力
を得るようにできる。
さらにまた、信号処理回路部の集積回路を、絶縁性の
セラミック基板上に形成したので、周囲温度が高温の場
合でも安定動作を可能とした。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−226982(JP,A) 特開 平1−188016(JP,A) 実開 平3−36979(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 33/06 - 33/09 H01L 43/02 - 43/06 H03K 3/023 - 3/0234

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】化合物半導体薄膜または磁性薄膜からなる
    磁気センサ部と、該磁気センサ部で電気的出力として検
    出した磁気信号を増幅する信号処理回路とを備え、 前記信号処理回路は、前記磁気センサ部に接続された演
    算増幅回路と、該演算増幅回路の出力に応じた異なる電
    流値を、該演算増幅回路の非反転入力端にフィードバッ
    クする定電流回路とを有することを特徴とする信号処理
    回路付き磁気センサ。
  2. 【請求項2】前記定電流回路は、二種類以上の異なった
    温度係数を有する複数の抵抗を備え、前記定電流回路が
    出力する電流は、前記複数の抵抗の合成抵抗の温度係数
    に反比例する温度係数を有することを特徴とする請求項
    1に記載の信号処理回路付き磁気センサ。
  3. 【請求項3】前記複数の抵抗の合成抵抗は、前記磁気セ
    ンサ部の内部抵抗と感度の温度係数によって生じる誤差
    を補正するものであることを特徴とする請求項2に記載
    の信号処理回路付き磁気センサ。
  4. 【請求項4】前記複数の抵抗は、前記磁気センサ部の内
    部抵抗や感度の温度係数に加えて、前記磁気センサ部の
    検出対象の温度係数によって生じる誤差を補正するもの
    であることを特徴とする請求項3に記載の信号処理回路
    付き磁気センサ。
  5. 【請求項5】前記信号処理回路はモノリシックICである
    ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の信
    号処理回路付き磁気センサ。
  6. 【請求項6】前記信号処理回路は、絶縁性基板上、もし
    くは半導体基板上に配置した絶縁層上に形成されている
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の信
    号処理回路付き磁気センサ。
JP53752398A 1997-02-28 1998-02-27 磁気センサ Expired - Lifetime JP3362858B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4637697 1997-02-28
JP9-46376 1997-02-28
JP9-172114 1997-06-27
JP17211497 1997-06-27
PCT/JP1998/000841 WO1998038519A1 (fr) 1997-02-28 1998-02-27 Detecteur magnetique

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP3362858B2 true JP3362858B2 (ja) 2003-01-07

Family

ID=26386487

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53752398A Expired - Lifetime JP3362858B2 (ja) 1997-02-28 1998-02-27 磁気センサ

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6448768B1 (ja)
EP (1) EP0964259B1 (ja)
JP (1) JP3362858B2 (ja)
KR (1) KR100338611B1 (ja)
CN (1) CN1124494C (ja)
AT (1) ATE310249T1 (ja)
DE (1) DE69832368T2 (ja)
TW (1) TW422994B (ja)
WO (1) WO1998038519A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102445671A (zh) * 2010-10-13 2012-05-09 北京中科信电子装备有限公司 一种霍尔器件误差补偿电路
JP2016011878A (ja) * 2014-06-27 2016-01-21 セイコーインスツル株式会社 磁気センサ

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19913074C2 (de) * 1999-03-23 2001-07-26 Wacker Werke Kg Bodenverdichtungsvorrichtung mit Servosteuerung
US6693033B2 (en) 2000-02-10 2004-02-17 Motorola, Inc. Method of removing an amorphous oxide from a monocrystalline surface
US6501973B1 (en) 2000-06-30 2002-12-31 Motorola, Inc. Apparatus and method for measuring selected physical condition of an animate subject
US6555946B1 (en) 2000-07-24 2003-04-29 Motorola, Inc. Acoustic wave device and process for forming the same
AU2001279196A1 (en) * 2000-08-18 2002-03-04 Motorola, Inc. Compound semiconductor hall sensor
US6638838B1 (en) 2000-10-02 2003-10-28 Motorola, Inc. Semiconductor structure including a partially annealed layer and method of forming the same
US6501121B1 (en) 2000-11-15 2002-12-31 Motorola, Inc. Semiconductor structure
US6673646B2 (en) 2001-02-28 2004-01-06 Motorola, Inc. Growth of compound semiconductor structures on patterned oxide films and process for fabricating same
DE10145657C1 (de) * 2001-03-10 2002-10-10 Automation Hans Nix Gmbh & Co Verfahren zur Eliminierung von Fehlereinflüssen bei dem Einsatz von Magnetfeld-Sensoren zur Schichtdickenmessung
US6709989B2 (en) 2001-06-21 2004-03-23 Motorola, Inc. Method for fabricating a semiconductor structure including a metal oxide interface with silicon
US6646293B2 (en) 2001-07-18 2003-11-11 Motorola, Inc. Structure for fabricating high electron mobility transistors utilizing the formation of complaint substrates
US6693298B2 (en) 2001-07-20 2004-02-17 Motorola, Inc. Structure and method for fabricating epitaxial semiconductor on insulator (SOI) structures and devices utilizing the formation of a compliant substrate for materials used to form same
US6594414B2 (en) 2001-07-25 2003-07-15 Motorola, Inc. Structure and method of fabrication for an optical switch
US6667196B2 (en) 2001-07-25 2003-12-23 Motorola, Inc. Method for real-time monitoring and controlling perovskite oxide film growth and semiconductor structure formed using the method
US6585424B2 (en) 2001-07-25 2003-07-01 Motorola, Inc. Structure and method for fabricating an electro-rheological lens
US6589856B2 (en) 2001-08-06 2003-07-08 Motorola, Inc. Method and apparatus for controlling anti-phase domains in semiconductor structures and devices
US6639249B2 (en) 2001-08-06 2003-10-28 Motorola, Inc. Structure and method for fabrication for a solid-state lighting device
US6673667B2 (en) 2001-08-15 2004-01-06 Motorola, Inc. Method for manufacturing a substantially integral monolithic apparatus including a plurality of semiconductor materials
US7317313B2 (en) * 2002-11-14 2008-01-08 Measurement Specialties, Inc. Magnetic encoder apparatus
CN100511719C (zh) * 2003-09-09 2009-07-08 旭化成电子材料元件株式会社 红外线传感器ic、红外线传感器及其制造方法
US7217981B2 (en) * 2005-01-06 2007-05-15 International Business Machines Corporation Tunable temperature coefficient of resistance resistors and method of fabricating same
US7630159B2 (en) * 2005-05-27 2009-12-08 Agere Systems Inc. Resistance mode comparator for determining head resistance
WO2007069680A1 (ja) 2005-12-16 2007-06-21 Asahi Kasei Emd Corporation 位置検出装置
JP2008151530A (ja) * 2006-12-14 2008-07-03 Denso Corp 磁界検出用半導体集積回路
JP4940965B2 (ja) * 2007-01-29 2012-05-30 株式会社デンソー 回転センサ及び回転センサ装置
KR101280646B1 (ko) * 2009-06-30 2013-07-01 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 자기 센서
KR101046029B1 (ko) * 2010-04-23 2011-07-01 삼성전기주식회사 홀 소자 및 자기 센서 회로
CN101937063B (zh) * 2010-08-11 2013-02-13 上海腾怡半导体有限公司 磁场传感器
JP6073705B2 (ja) * 2013-02-26 2017-02-01 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 ヒューズ回路及び半導体集積回路装置
US9322840B2 (en) 2013-07-01 2016-04-26 Infineon Technologies Ag Resistive element
JP6505717B2 (ja) 2013-12-26 2019-04-24 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー センサ診断のための方法および装置
US10527703B2 (en) 2015-12-16 2020-01-07 Allegro Microsystems, Llc Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor
US10401438B2 (en) * 2016-03-08 2019-09-03 Ablic Inc. Magnetic sensor and magnetic sensor device
CN107305240A (zh) * 2016-04-20 2017-10-31 德昌电机(深圳)有限公司 磁传感器集成电路、电机组件及应用设备
JP6994843B2 (ja) * 2017-04-28 2022-01-14 エイブリック株式会社 磁気センサ回路
JP7200760B2 (ja) * 2019-03-08 2023-01-10 Tdk株式会社 磁気抵抗効果デバイス及び磁気アレイ
CN111208452A (zh) * 2019-11-07 2020-05-29 中国计量大学 一种用于多铁性磁传感器的直读式读出系统

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4371837A (en) 1979-11-13 1983-02-01 American Can Company Temperature compensated input power and output offset circuits for a hall effect transducer
JPS61226982A (ja) 1985-04-01 1986-10-08 Asahi Chem Ind Co Ltd ハイブリツド・ホ−ルic
DE3827606A1 (de) * 1987-08-18 1989-03-02 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Temperaturkompensationsschaltung fuer einen hall-generator
JP2565528B2 (ja) 1988-01-22 1996-12-18 株式会社日立製作所 ヒステリシスコンパレータ回路
JPH01214784A (ja) 1988-02-23 1989-08-29 Fujitsu Ltd 磁気検出装置及びそのバイアス磁界設定方法
JPH0238920A (ja) 1988-07-29 1990-02-08 Nec Corp 温度補正形増幅回路
JPH0336979A (ja) 1989-06-30 1991-02-18 Fanuc Ltd 可変リラクタンス型acサーボモータ制御方式
DE4030085A1 (de) * 1990-09-22 1992-03-26 Philips Patentverwaltung Auswerteschaltung fuer einen magnetoresistiven drehzahlsensor o. dgl.
JPH06289111A (ja) * 1993-04-02 1994-10-18 Stanley Electric Co Ltd ホール素子の駆動回路
JPH08139386A (ja) 1994-11-11 1996-05-31 Mitsubishi Electric Corp 波形整形回路
JPH08194040A (ja) 1995-01-18 1996-07-30 Mitsubishi Electric Corp 磁電変換装置
JPH0954149A (ja) * 1995-08-17 1997-02-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体磁電変換装置
US6100680A (en) * 1996-01-17 2000-08-08 Allegro Microsystems, Inc. Detecting the passing of magnetic articles using a transducer-signal detector having a switchable dual-mode threshold
JPH09318387A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Mitsubishi Electric Corp 検出装置
US5831426A (en) * 1996-08-16 1998-11-03 Nonvolatile Electronics, Incorporated Magnetic current sensor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102445671A (zh) * 2010-10-13 2012-05-09 北京中科信电子装备有限公司 一种霍尔器件误差补偿电路
CN102445671B (zh) * 2010-10-13 2015-12-16 北京中科信电子装备有限公司 一种霍尔器件误差补偿电路
JP2016011878A (ja) * 2014-06-27 2016-01-21 セイコーインスツル株式会社 磁気センサ

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000075825A (ko) 2000-12-26
EP0964259B1 (en) 2005-11-16
US6448768B1 (en) 2002-09-10
KR100338611B1 (ko) 2002-05-27
TW422994B (en) 2001-02-21
ATE310249T1 (de) 2005-12-15
EP0964259A1 (en) 1999-12-15
CN1124494C (zh) 2003-10-15
EP0964259A4 (en) 2000-11-22
DE69832368T2 (de) 2006-08-03
DE69832368D1 (de) 2005-12-22
CN1249038A (zh) 2000-03-29
US20020021126A1 (en) 2002-02-21
WO1998038519A1 (fr) 1998-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3362858B2 (ja) 磁気センサ
KR100421162B1 (ko) 반도체 장치
EP0300635A1 (en) Current detecting device using ferromagnetic magnetoresistance element
US11789095B2 (en) Current sensor, magnetic sensor and circuit
US20190317175A1 (en) Calibration of Hall Device Sensitivity Using an Auxiliary Hall Device
US20020093332A1 (en) Magnetic field sensor with tailored magnetic response
JPH07501402A (ja) 高出力電圧スイングを有する温度補償された磁気抵抗センサ回路
JP2002365350A (ja) 磁気検出装置
EP3422032B1 (en) A temperature compensation circuit, corresponding device and method
JP2015015390A (ja) ホール素子のオフセット電圧補正方法とこれを用いたホールセンサ
US6486659B1 (en) Magnetoresistor sensor die with an array of MRs
US6498482B2 (en) Magnetoresistor die composed of two reference mangetoresistors and a linear displacement sensing magnetoresistor
EP2681574B1 (en) Magnetic sensors
US6825709B2 (en) Temperature compensation circuit for a hall element
US4683429A (en) Electrical circuit which is linearly responsive to changes in magnetic field intensity
US20180313909A1 (en) Magnetic sensor circuit
US10605872B2 (en) Calibration method for a hall effect sensor
JP3471986B2 (ja) ホール素子及びそれを用いた電力量計
JPH0674975A (ja) 電流検出回路
JPH11329186A (ja) 近接センサ
JP3182182B2 (ja) 感磁性型半導体装置
US20230236267A1 (en) Sensor calibration circuit
JPH10239410A (ja) 増幅回路付き磁気センサ
JPS61226982A (ja) ハイブリツド・ホ−ルic
JPS5946564A (ja) 磁気検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071025

Year of fee payment: 5

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071025

Year of fee payment: 5

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071025

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081025

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081025

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091025

Year of fee payment: 7

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091025

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101025

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101025

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111025

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111025

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121025

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121025

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131025

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term