JP3302594B2 - 積層電子部品及びその製造方法 - Google Patents
積層電子部品及びその製造方法Info
- Publication number
- JP3302594B2 JP3302594B2 JP04159897A JP4159897A JP3302594B2 JP 3302594 B2 JP3302594 B2 JP 3302594B2 JP 04159897 A JP04159897 A JP 04159897A JP 4159897 A JP4159897 A JP 4159897A JP 3302594 B2 JP3302594 B2 JP 3302594B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- porcelain
- electronic component
- sio
- forming
- mzs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 20
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 15
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 12
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 11
- 238000001354 calcination Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 claims description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 10
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 10
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 8
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 7
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 7
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 4
- 229910002026 crystalline silica Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 1
- 238000013329 compounding Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 1
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 229910021489 α-quartz Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B3/00—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
- H01B3/02—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances
- H01B3/12—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances ceramics
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/16—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on silicates other than clay
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/16—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on silicates other than clay
- C04B35/20—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on silicates other than clay rich in magnesium oxide, e.g. forsterite
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
- H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
- H01G4/1218—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates
- H01G4/1227—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates based on alkaline earth titanates
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Description
〜数GHz程度の高周波領域での使用に適した積層電子
部品及びそれらの製造方法に関するものである。
積層磁器コンデンサの誘電体磁器層の材料としては、例
えば、低誘電率ガラス系材料、MZS−Al2 O3 −S
rTiO3 系材料等、SiO2 を主成分の一部として含
有する誘電体磁器組成物が多く提案されている。
子を多く含み、この粒子は粒度分布に非常に幅が有り、
しかも形状が異方形状(角張った形状)になっている。
また、これらの低誘電率ガラス系材料は、一般的に非常
に硬く、粉砕により微粒子化を実現しようとすると、破
壊靱性値が小さいので、異方形状になり易い。
るシリカ原料は一般に結晶質シリカ系材料が使用されて
いる。結晶質シリカ系材料の主成分であるSiO2 は非
常に硬い材料であり、しかも市販されているシリカ原料
は結晶質(α−quartz)で、非常に粒子径が大き
く(平均粒子径で3μm以上、最大径は8μm以上)、
粒度分布にも幅が有り過ぎる。また、この粒子は、ガラ
ス系材料の場合と同様の理由から、異方形状をしてい
る。
砕したシリカ粉末の懸濁液の上澄みを分級する方法があ
るが、そういった方法で得られる微細なシリカ原料の粉
末でも、その粒度は高々1.5μm程度であり、しかも
その粒子の形状は角張った異方形状をしている。
形状のシリカ原料の粉末を用いて作製したMZSの粉体
も、シリカ原料の粉末の粒子形状が残っており、粗く、
異方形状である。
MZSを用いてグリーンシートを作成すると、グリーン
シートの表面が粗くなり、誘電体磁器層の厚みの均一性
が悪くなり、積層磁器コンデンサの容量分布が悪くな
る。また、グリーンシートの表面が粗くなることによっ
て内部電極の表面も荒れ、内部電極の表面抵抗が上昇
し、Q値の周波数特性、特に高周波領域におけるQ値の
周波数特性が悪くなる。
グリーンシートはバインダー量の適正範囲の幅が狭く、
バインダー量が過剰になったり、足りなくなり易い。バ
インダー量が過剰になると、チップのカット時にバリが
多く発生し、バレルを施してもバリは完全には消滅しな
い。バインダー量が足りなくなると、シートの密着強度
が低下して、積層ずれ、エアの巻き込みが起こり、信頼
性の低下を引き起こす。
グリーンシートは収縮開始温度が高いので、焼成時に積
層磁器コンデンサにデラミネーションを生じさせ易い。
波領域で、結晶質の材料と比較して、損失が大きくなる
と言われている。
領域におけるQ値の周波数特性が良好で、焼成温度の低
い積層電子部品を提供することと、所望の特性を備えた
この種の積層電子部品を容易に得ることができる積層電
子部品の製造方法を提供することを目的とする。
品は、1又は2以上の磁器層と2以上の内部電極とを交
互に積層してなり、該磁器層と該内部電極との界面の粗
さが0μmを超え、0.2μm以下である。
り、該誘電体磁器組成物は、MgO、ZnO及びSiO
2を仮焼してなるMZSとAl2O3とSrTiO3と
を主成分とする混合物の焼結体からなり、該磁器層は前
記内部電極に挟持され、該磁器層と該内部電極によって
磁器コンデンサが形成されている。
法は、SiO2 を含有する混合物を仮焼する工程と、該
仮焼によって得られたものを含む磁器原料を調製する工
程と、該磁器原料からなる未焼成磁器層と内部電極パタ
ーンとを交互に積層した積層体を形成する工程と、該積
層体を焼成する工程と、該積層体に外部電極を形成する
工程とを備え、前記SiO2 として、平均一次粒子径が
80nm〜0.5μmで、粒子形状が略球状のものを使
用するものである。
及びSiO2 を含有するものを使用し、前記積層物を形
成する工程を、前記仮焼によって得られたMZSを主成
分の一部とする未焼結磁器シートを形成する工程と、該
未焼結磁器シートに内部電極パターンを形成する工程
と、該内部電極パターンを形成した該未焼結磁器シート
を積層する工程とで構成して、積層磁器コンデンサを製
造するようにしてもよい。
晶質、いずれのものも使用することができるが、上記の
ような微細粒子を製造する観点から考えると非晶質のも
のが好ましい。また、未焼結磁器シートとしては、例え
ばMZS,Al2 O3 及びSrTiO3 を主成分とする
ものを使用することができるが、MZSが含まれるもの
であれば、これ以外のものを使用してもよい。
に、磁器組成物を使用している積層インダクタ、積層L
C部品等、磁器組成物の原料としてSiO2 を使用する
積層電子部品にも適用可能である。
ZnO及びSiO2 を表1に示すような比率で秤量し、
これらをボールミルに入れ、湿式で15時間粉砕混合
し、これらの混合物からな泥漿を得た。ここで、SiO
2 は、平均1次粒子径が0.1μmで、粒子形状がほゞ
球形の非晶質シリカ(実施例1)と、平均1次粒子径が
3μmで、粒子形状が角状の結晶質シリカ(比較例1)
を使用した。
て濾過し、ケーキの部分を乾燥器に入れ、150℃で充
分に乾燥させ、混合物の粉末を得た。そして、この混合
物の粉末を加熱炉に入れ、大気中において850〜12
00℃で仮焼し、混合物を構成している化合物を相互に
反応させ、MZSを得た。ここで、MZSの成分と焼成
温度との関係を調べたところ、表2に示す通りであっ
た。
ミルに入れ、湿式で充分に粉砕してMZSの泥漿を形成
し、この泥漿を取り出して濾過し、ケーキの部分を乾燥
器に入れ、150℃で充分に乾燥させ、MZSの粉末を
得た。そして、MZS,Al2 O3 及びSrTiO3 を
表3に示すような配合比率で秤量し、これらをボールミ
ルに入れ、湿式で充分に混合し、これらの混合物からな
る泥漿を得た。
キの部分を乾燥器に入れ、150℃で充分に乾燥させ、
混合物の粉末を得た。そして、この混合物の粉末に溶剤
系バインダーを加えて充分に混合してスラリーを作成
し、このスラリーをドクターブレード法で塗工して、グ
リーンシートを作成した。ここで、グリーンシートの表
面粗さRA を調べたところ、表4に示す通りであった。
からなる内部電極パターンを印刷し、このグリーンシー
トを複数枚積層した。ここで、内部電極パターンは隣り
合うグリーンシート間で長手方向に半分程ずれるように
した。そして、この積層したグリーンシートに厚さ方向
から圧力を加え、グリーンシート相互を圧着させ、この
圧着させた積層物を格子状に裁断し、積層体チップを得
た。
し、まず、グリーンシート中に含まれている有機バイン
ダーを燃焼除去させ、その後、1000℃で2時間焼成
し、積層体チップを焼結させた。ここで、この焼成によ
って得られた積層体チップを切断し、その切断面を研磨
し、顕微鏡で観察したところ、図1,2の顕微鏡写真に
示すようになっていた。ここで、図1は実施例1に係る
積層磁器コンデンサの断面の顕微鏡写真、図2は比較例
1に係る積層磁器コンデンサの断面の顕微鏡写真であ
る。
トを塗布し、700℃で15分間焼き付けて、静電容量
が1pFの積層チップコンデンサを得た。そして、この
積層チップコンデンサの高周波特性(Q値)を測定した
ところ、表5に示す通りであった。
周波特性(Q値)を比較してみると、グリーンシートの
平均シート表面粗さRA が滑らか(表4参照)で、誘電
体磁器層と内部電極との界面が滑らか(図1,2参照)
な実施例1の方が高周波特性(Q値)において優位性が
見られることがわかる。
挙げて説明しているが、積層インダクタ、積層LC部品
についても同様の実験をしたところ、同様の優位性が認
められた。
の表面が非常に平滑になり、内部電極の表面抵抗が小さ
くなり、積層電子部品のQ値の周波数特性、特に高周波
領域におけるQ値の周波数特性が良好になるという効果
がある。
ンダー量、可塑剤量の適正値の範囲が広くなり、積層体
チップの裁断時のバリの発生が少なくなり、シートの密
着強度が向上し、積層ずれやエアーの巻き込みが防止さ
れ、信頼性の高い積層電子部品が得られるという効果が
ある。
体チップの焼成温度、すなわち積層体チップの収縮開始
温度を約50℃低温化できるので、積層体チップにデラ
ミネーションが発生し難くなるという効果がある。
微鏡写真である。
微鏡写真である。
Claims (5)
- 【請求項1】 1又は2以上の磁器層と2以上の内部電
極とを交互に積層してなり、該磁器層は誘電体磁器組成
物からなり、該誘電体磁器組成物は、MgO、ZnO及
びSiO 2 を仮焼してなる珪酸マグネシウム・亜鉛(以
下、「MZS」という。)とAl 2 O 3 とSrTiO 3
とを主成分とする混合物の焼結体からなり、該磁器層は
前記内部電極に挟持され、該磁器層と該内部電極によっ
て磁器コンデンサが形成され、該磁器層と該内部電極と
の界面の粗さは0μmを超え、0.2μm以下であるこ
とを特徴とする積層電子部品。 - 【請求項2】 SiO2を含有する混合物を仮焼する工
程と、該仮焼によって得られたものを含む磁器原料を調
製する工程と、該磁器原料からなる未焼成磁器層と内部
電極パターンとを交互に積層した積層物を形成する工程
と、該積層物を焼成する工程と、該積層物に外部電極を
形成する工程とを備え、前記SiO2として、平均一次
粒子径が80nm〜0.5μmで、粒子形状が略球状の
ものを使用することを特徴とする積層電子部品の製造方
法。 - 【請求項3】 前記混合物がMgO、ZnO及びSiO
2を含有し、前記積層物を形成する工程が、前記仮焼に
よって得られたMZSを主成分の一部とする未焼結磁器
シートを形成する工程と、該未焼結磁器シートに内部電
極パターンを形成する工程と、該内部電極パターンを形
成した該未焼結磁器シートを積層する工程とからなるこ
とを特徴とする請求項2に記載の積層電子部品の製造方
法。 - 【請求項4】 前記SiO2が非晶質であることを特徴
とする請求項2又は3に記載の積層電子部品の製造方
法。 - 【請求項5】 前記未焼結磁器シートがMZS、Al2
O3及びSrTiO3を主成分とすることを特徴とする
請求項2〜4のいずれかに記載の積層電子部品の製造方
法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04159897A JP3302594B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | 積層電子部品及びその製造方法 |
US09/018,912 US6137672A (en) | 1997-02-10 | 1998-02-05 | Laminated electronic part, method for the production thereof, and dielectric ceramic composition |
US09/656,221 US6346161B1 (en) | 1997-02-10 | 2000-09-06 | Laminated electronic part, method for the production thereof, and dielectric ceramic composition |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04159897A JP3302594B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | 積層電子部品及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10223469A JPH10223469A (ja) | 1998-08-21 |
JP3302594B2 true JP3302594B2 (ja) | 2002-07-15 |
Family
ID=12612842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04159897A Expired - Fee Related JP3302594B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | 積層電子部品及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6137672A (ja) |
JP (1) | JP3302594B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3302594B2 (ja) * | 1997-02-10 | 2002-07-15 | 太陽誘電株式会社 | 積層電子部品及びその製造方法 |
DE10051388B4 (de) * | 1999-10-18 | 2009-02-12 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo-shi | Verfahren zur Herstellung einer keramischen Grünfolie und Verfahren zur Herstellung eines keramischen Vielschichtbauelements |
JP2001131673A (ja) * | 1999-11-05 | 2001-05-15 | Sony Corp | 電子薄膜材料、誘電体キャパシタおよび不揮発性メモリ |
US6514895B1 (en) * | 2000-06-15 | 2003-02-04 | Paratek Microwave, Inc. | Electronically tunable ceramic materials including tunable dielectric and metal silicate phases |
JP3581114B2 (ja) * | 2001-06-27 | 2004-10-27 | シャープ株式会社 | 拡散防止膜およびその製造方法および半導体記憶素子およびその製造方法 |
US7358207B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-04-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and multilayer electronic component |
US9591893B2 (en) | 2014-12-17 | 2017-03-14 | Westlife Distribution USA, LLC | Fastener with concealed tool bits |
JP2022151231A (ja) * | 2021-03-26 | 2022-10-07 | 太陽誘電株式会社 | セラミック電子部品およびその製造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4266265A (en) * | 1979-09-28 | 1981-05-05 | Sprague Electric Company | Ceramic capacitor and method for making the same |
JPS6287456A (ja) * | 1985-10-11 | 1987-04-21 | 日本碍子株式会社 | 誘電体磁器用セラミツク組成物 |
US4874716A (en) * | 1986-04-01 | 1989-10-17 | Texas Instrument Incorporated | Process for fabricating integrated circuit structure with extremely smooth polysilicone dielectric interface |
US5006956A (en) * | 1988-11-07 | 1991-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
US5010443A (en) * | 1990-01-11 | 1991-04-23 | Mra Laboratories, Inc. | Capacitor with fine grained BaTiO3 body and method for making |
US5101319A (en) * | 1990-04-03 | 1992-03-31 | Vistatech Corporation | Pre-engineered electrode/dielectric composite film and related manufacturing process for multilayer ceramic chip capacitors |
US5534290A (en) * | 1990-04-03 | 1996-07-09 | Visatech Corporation | Surround print process for the manufacture of electrode embedded dielectric green sheets |
JP2757587B2 (ja) * | 1990-06-26 | 1998-05-25 | 松下電器産業株式会社 | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ及びその製造方法 |
US5254360A (en) * | 1991-07-29 | 1993-10-19 | Bmc Technology Corporation | Process for producing ceramic capacitors with thinner electrodes |
JP2858073B2 (ja) * | 1992-12-28 | 1999-02-17 | ティーディーケイ株式会社 | 多層セラミック部品 |
JPH07211132A (ja) * | 1994-01-10 | 1995-08-11 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよびこれを用いた積層セラミックコンデンサの製造方法 |
US5629252A (en) * | 1995-06-15 | 1997-05-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for manufacturing a dielectric ceramic composition dielectric ceramic and multilayer high frequency device |
JP3080587B2 (ja) * | 1996-06-28 | 2000-08-28 | 太陽誘電株式会社 | 誘電体磁器組成物と磁器コンデンサ |
JP3302594B2 (ja) * | 1997-02-10 | 2002-07-15 | 太陽誘電株式会社 | 積層電子部品及びその製造方法 |
WO1998044523A1 (fr) * | 1997-03-31 | 1998-10-08 | Tdk Corporation | Materiau ceramique dielectrique non reducteur |
-
1997
- 1997-02-10 JP JP04159897A patent/JP3302594B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-02-05 US US09/018,912 patent/US6137672A/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-09-06 US US09/656,221 patent/US6346161B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10223469A (ja) | 1998-08-21 |
US6346161B1 (en) | 2002-02-12 |
US6137672A (en) | 2000-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3767362B2 (ja) | 積層型セラミック電子部品の製造方法 | |
JPS6036369A (ja) | 磁器製造法 | |
JP2001237140A (ja) | 積層型セラミック電子部品およびその製造方法ならびにセラミックペーストおよびその製造方法 | |
JP4859593B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサおよびその製法 | |
JP4587924B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2001114569A (ja) | セラミックスラリー組成物、セラミックグリーンシート及び積層セラミック電子部品の製造方法 | |
JP3302594B2 (ja) | 積層電子部品及びその製造方法 | |
JP4622518B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
JP4208448B2 (ja) | 磁器コンデンサ及びその製造方法 | |
JP2007039755A (ja) | 複合金属粉末およびその製法、導体ペースト、電子部品の製法、ならびに電子部品 | |
JP4385726B2 (ja) | 導体ペーストおよびそれを用いた積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
JP4627876B2 (ja) | 誘電体磁器および積層型電子部品 | |
JP2004179349A (ja) | 積層型電子部品およびその製法 | |
JP4601438B2 (ja) | グリーンシートの製造方法 | |
JP2003133164A (ja) | 積層セラミックコンデンサとその製造方法 | |
KR100951317B1 (ko) | 유전체 재료의 제조 방법 및 이를 이용하여 제조된 유전체재료를 포함하는 적층 세라믹 콘덴서 | |
JP2002043161A (ja) | 積層型セラミック電子部品およびその製造方法 | |
KR100819981B1 (ko) | 그린 시트, 그린 시트의 제조 방법 및 전자부품의 제조방법 | |
JP3759386B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサおよびそれに用いる内部電極ペースト | |
KR100379205B1 (ko) | 도전성 페이스트, 적층 세라믹 커패시터 및 이것의 제조방법 | |
JPH07335474A (ja) | セラミックコンデンサの製造方法 | |
JP2004111951A (ja) | 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法 | |
JP3319704B2 (ja) | 誘電体磁器組成物と磁器コンデンサ | |
JPH06172017A (ja) | セラミツクス基板用グリーンシート及びセラミツクス基板 | |
JP2004256362A (ja) | セラミックグリーンシートおよび積層セラミックコンデンサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011016 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020409 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080426 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090426 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100426 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100426 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110426 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120426 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130426 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140426 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |