JP3179089B2 - 情報パターンを具える記録担体を設ける方法及び装置 - Google Patents

情報パターンを具える記録担体を設ける方法及び装置

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、形成される情報パターンの品質に影響を及
ぼすとともに記録担体に依存する少なくとも1つのパラ
メータが調整される、記録担体に情報パターンを与える
方法に関する。
本発明はさらに、記録担体に情報パターンを与える書
き込み手段と、書き込み手段を調整する手段とを有する
情報記録装置に関する。
〔従来の技術〕
上記のような方法及び上記のような装置は、とくにヨ
ーロッパ特許出願第EP−A−0,288,114号より既知であ
る。その明細書に開示されている方法及び装置は記録担
体を構築している間に、調整データ、とりわけ書き込み
手順及び書き込み強度、が与えられる記録担体を使用し
ている。記録担体が情報記録装置に挿入された後、調整
データは記録担体から読み出され、こうして読み出され
た調整データに一致するよう書き込み手段が調整され
る。
〔解決しようとする課題〕
然るに、従来技術の不都合な点として、結果として行
われる書き込み手段の調整が必ずしも最適ではないこと
である。従って、記録された情報パターンの大きさに偏
りが生じてしまい、記録された情報が必ずしも信頼性を
もって読み出されるとは限らなくなってしまう。
本発明の目的は冒頭に述べた情報記録装置の書き込み
手段の調整を改良することである。
〔課題解決の手段〕
この目的を達成するため、方法としては、予め定めら
れた較正区域の多数の可能性の内から1つの較正区域が
決定され、該決定された較正区域内に異なるパラメータ
設定でテストパターンが形成され、パラメータの最適設
定が、上記のように形成されたテストパターンに基づき
予め定められた判定基準に従って決定され、パラメータ
は、情報パターンの形成される間に上記最適設定に一致
するよう調整されるのである。
また、この目的を達成するため、装置としては、該装
置は、記録担体上の予め定められた多数の較正区域から
1つの較正区域を決定するための手段を有し、決定され
た較正区域に書き込み手段の異なる設定でテストパター
ンが形成されるようにする手段を有し、こうして形成さ
れたテストパターンに基づいて最適設定を選択するため
の手段を有し、また情報パターンの形成される間に選定
された最適設定に一致して書き込み手段が調整されるよ
うにする手段を有するものとする。
本発明はとりわけ、書き込み手段の最適設定は使用さ
れる記録担体及び使用される情報記録装置に強く依存し
ているという事実を認識することに立脚している。けれ
ども、記録担体と記録装置との特定の組合せに対して
は、記録担体の全記録領域において最適設定がほぼ一定
なことが判っている。
従って、本発明の装置の調整データの決定は、記録担
体の全記録領域に対して最適と考える事ができる。さら
に、多数の較正区域を用いることは、最適設定を数回、
例えば、記録担体が記録装置に搭載される度毎に決定す
ることを可能とする。このことは重ね書きの出来ない同
形式の記録担体が多数の異なる情報記録装置中に用いら
れる時に特に有利である。そのとき複数の較正区域を用
いることは、各情報記録装置に対して最適設定を決定す
ることを可能とする。原則として、用いようとする較正
区域は、どの記録領域が既にテストパターンを具えて設
けられているかを検出することにより選定できる。これ
の不都合は、設定が最適である間にテストパターンが形
成されるわけではないので、テストパターンの存在の信
頼できる検出が保証出来ないことである。さらに、未使
用の較正区域の探索は、較正区域の合計の長さの故に、
かなりの時間を必要とするであろう。
各情報信号を記録するために最適設定が1度だけ決定
されなければならないとすると、何個の情報信号が既に
記録担体上に記録されているかを詳記する内容テーブル
があれば、このテーブルの内容から、使用された較正区
域の最大数を得ることができる。この数に基づいて較正
区域の明確な選定が常に可能である。最後に言及した選
択方法は、一旦最適設定が決定されてしまうと情報信号
の記録を辞めることが許されないという不都合がある。
これは信号が記録されるということが絶対に確定的にな
るまで最適設定の決定過程を遅らせなければならないこ
とを意味する。これは情報信号の記録に更なる遅れをも
たらすことになりうる。
上記選択方法の不都合は、各較正区域に1つの補助区
域が割り当てられ、最適設定が定められる度毎に、最適
設定を決めるために用いられる較正区域に割り当てられ
た補助区域内に補助パターンが形成され、較正区域は補
助区域内に記録されている補助パターンに基づいて決め
ることを特徴とする方法を用いて解消される。
補助区域の使用は常に、どの較正区域が既に使われて
いるかを明確に決定することを可能なものとする。補助
区域の大きさは較正区域の大きさよりもかなり小さいか
ら、未使用の較正区域の選定は、較正区域それ自身に基
づくよりも補助区域に基づいて進める方が遙かに速やか
に進めることができる。
較正区域の位置を特定する目的でアドレス情報が予め
与えられている記録担体が用いられる場合、使用された
較正区域の直ぐ後に、テストパターンが未だ与えられて
いない区域が続いていると有利である。実際、テストパ
ターンが形成されるとき、アドレス情報はそれを正確に
読み出すことが最早保証されない程度にまで破壊される
ことがあるからである。また、破壊されたアドレス情報
を持つ区域の後すぐ近くに位置する区域を決めることに
は問題がある。予め形成されたサーボトラックの一部を
較正区域が形成している記録担体を用いるときには、テ
ストパターンを供給する結果として正確なトラッキング
が保証されない程度にまでトラックが破壊されてしまう
ことがある。
較正区域の数は、記録担体上に記録できる情報信号の
最大数より大きいか等しいように選択するのが好適であ
る。(この数はCD信号を記録する場合は100である。)
このことは調整を決定するための較正区域が、記録すべ
き各情報信号について利用可能なことを保証する。
〔実施例〕
第1図は本発明の情報記録装置の実施例を実例によっ
て示す。本実施例は記録装置であって、それを用いて情
報が軸2の周りを回転する記録担体1のような光学的記
録担体に記録できる。情報記録装置は回転する記録担体
1に対向して配置された普通の読み出し/書き込みヘッ
ド3を有する。例えばモータ4とスピンドル5aの形式の
普通の位置付けシステムを用いて、読み出し/書き込み
ヘッド3は、例えばマイクロプロセッサを持つ普通の制
御ユニット5の制御の下に、記録担体1の半径方向へ移
動できる。
記録されるべき情報信号Viは入力点6を通って信号処
理回路7に与えられる。信号処理回路7も普通の形式の
もので、与えられた入力信号を、例えばCDフォーマット
かRDAT−フォーマットのような適切な記録フォーマット
の記録信号Vopに変換する。記録信号Vopは普通の形式の
駆動回路8に与えられ、そこで記録信号Vopは、それに
対応する情報パターンが記録担体上に記録されるような
やり方で、読み出し/書き込みヘッド3に対する駆動信
号Vsに変換される。記録された情報パターンを読み出す
目的のために、読み出し/書き込みヘッド3は、読み出
された情報パターンを表す読み取った信号V1を供給する
ための出力点を持っている。読み出された信号V1は該信
号により表される情報を復原するために読み取り回路9
に与えられる。駆動回路8は調整可能なタイプのもので
あり、記録された情報パターンの品質に影響を及ぼす1
つ又はそれ以上のパラメータを調整することができる。
光学的読み出し/書き込みヘッドが用いられ、それによ
って輻射線ビームで光学的に検出できる情報パターンが
形成されるときには、該輻射線ビームの強さが、情報パ
ターンの品質を左右する重要なパラメータとなる。読み
出し/書き込みヘッドが磁気的又は磁気光学的書き込み
ヘッドであって、それが磁気効果(領域)の形体で情報
パターンを形成する目的で磁場を生成するならば、生成
される磁場の強さが重要な調整パラメータとなりうる。
情報パターンが書き込みパルスを用いて形成される場
合、パルス幅が重要な調整パラメータとなりうる。なお
上記の調整パラメータは可能性のある極めて多数の調整
パラメータのほんの二、三の例に過ぎないことに留意さ
れたい。これについては特にオランダ国特許出願第9000
150号を参照されたい。その中で、調整パラメータは、
記録効果が記録担体上に形成される速度の規準値であ
る。効果を形成する間、書き込みビームの強度を制御し
て、効果が形成される速度を調整された基準値に保つよ
うにしている。
駆動回路8の最適設定を決めるために、記録装置は解
析回路10を有し、これが読み取り信号から読み取られた
情報パターンの品質を示す解析信号Vaを得る。最適設定
は、較正過程において、記録担体1上に駆動回路の異な
る設定でテスト情報パターンを形成し、次いで解析信号
Vaに基づいて、該解析信号が最適品質の記録パターンを
示すような駆動回路8の設定を選択することにより決め
ることができる。原則としてテスト情報パターンの書き
込みには情報信号Viが用いられる。しかしこの目的でテ
スト信号生成器11を用いることも可能であって、その場
合にはそれは例えば信号処理回路7に含まれうる。最適
設定は、制御ユニット15の制御下において決定され。こ
の目的のために、制御ユニットは、解析回路10、駆動回
路8及びテスト信号生成器11に結合されうる。このよう
な制御ユニットは、適切なプログラムを搭載している
か、あるいは適切なハードウェア回路を有する。好適に
は、最適設定は、記録担体が情報記録装置に挿入された
後に実行される較正過程において決定される。
最適設定を決定するために、記録担体は、記録担体上
の予め決められた位置に多数の較正区域を具える。その
位置は例えば情報パターンを記録するために供されるサ
ーボトラックの開始部分である。第2図はサーボトラッ
ク20を直線形で図式的に示した説明図である。サーボト
ラック20は情報信号を記録しようとする区域PAを持って
いる。区域PAの前にある区域TAは、最適調整を決定する
目的でテストパターンを与えるためのものである。区域
TAを較正区域21a,…,21dに分割し、その各が較正過程を
実行するのに十分な数のテストパターンをもつに適した
長さである。較正過程が始まる時に、較正区域21のうち
の未使用のものが選択され、次いで異なる調整パラメー
タの設定をその選択された較正区域21に記録する。これ
らのテストパターンが読み出されてそのとき生成された
解析信号Vaに基づいて最適調整が選択される。較正過程
の開始時において未使用の較正区域の選択は多数の異な
るやり方で行うことができる。例えば較正区域を読み出
してそこに情報パターンがあるかどうかを検索すること
が可能である。較正区域の長さを考えればそれにはかな
りの時間がかかるかも知れない。さらに、テストパター
ンの読み出しは、テストパターンを与えことによりサー
ボトラックが局所的トラッキングの最早不可能な程度に
まで破壊されることがあるので、問題であろう。既に記
録されている情報信号の数がサーボトラック20の一部の
中に示されているとき、各情報信号を記録するために最
適調整の決定に唯1の較正区域しか必要としないなら、
それによって既に使用された較正区域の最大数がわかる
だろう。較正区域の一連番号が既に記録されている情報
信号の数に1を足した番号の較正区域を較正過程で選択
することにすれば、未使用の較正区域を見出すことは常
に簡単であろう。しかしその場合、情報信号が毎回最適
設定の定められた後で実際に記録されるということに注
意の払わなければならない。これは、内容テーブルの中
で特定される記録されている情報信号の数に対応する較
正区域が実際に未使用であることを保証するためであ
る。
上記の選択方法の不都合は、その較正区域が未使用で
ある記録担体上の別の区域を指示することによって緩和
することができる。これは例えば、各較正過程の後で較
正区域がいくつ既に使用されているかを示す信号を記録
することによって可能である。また、各較正区域に補助
区域を割り当て、較正区域の使用後にそれに付随する補
助区域内に補助パターンを形成することも可能である。
第2図の区域CAの中で、較正区域に割り当てられている
補助区域に参照番号22a,…,22dが付されている。この場
合、補助区域中に補助パターンが存在するかどうかを検
出することにより、未使用の較正区域を選択することが
できる。サーボトラック20内の較正区域21及び補助区域
22の位置はアドレスで特定することができ、該アドレス
は例えばサーボトラックに記録されている。だがこれら
の区域の位置は別のやり方、例えばディスク形の記録担
体の回転の中心から予め定められた距離にこれらの区域
を配置する等で特定してもよい。
較正区域の選択のために、制御ユニットには適切なプ
ログラムが搭載されている。第3図に、このようなプロ
グラムのフローチャートの一例が示されている。該プロ
グラムは、最適設定が再び決定されるべきとき、例えば
記録担体が情報記録装置に搭載される度毎に、格納場所
から取り出される。該プログラムは、制御ユニット5の
制御下に区域CAの最初の位置を見出すステップB1を持
ち、区域CAに達したらステップB2で区域CAの読み出しを
開始し、区域CAの内部で読み出された補助区域内に補助
パターンが存在するかどうかをチェックする。補助パタ
ーンが記録されていない補助区域が検出されると、ステ
ップB3で、それに関連する較正区域の開始部分アドレス
が、検出された補助区域のアドレスに基づいて、例えば
較正区域の最初のアドレスとそれに対応する補助区域の
アドレスとの関係を特定するテーブルを用いて得られ
る。続いて、ステップB4で、こうして決められたアドレ
スをもつ較正区域が制御ユニット5の制御下において特
定され、ステップB5で較正過程が実行される。ステップ
B5の後ステップB6で、当該較正区域に割り当てられた補
助区域内に補助パターンが形成される。補助パターンを
記録するためには、記録装置に与えられたテスト信号又
は情報信号Viを用いることができる。
較正区域内にテストパターンが形成されると、テスト
パターンに続くアドレス情報が最早信頼できるやり方で
読み出すことができない程度にまで完全さを損なわれる
ことがあることに留意されたい。従って常に、テストパ
ターンが未だ設けられていない区域の後の較正区域を使
うというやり方で、較正区域21を選択するのが好適であ
る。それは例えば一番目の較正過程では最後の較正区域
21dを用い、次には較正区域21内の前回使った較正区域
の直前の区域をその都度用いることにより簡単に達成さ
れる。
第4図に更に詳細な情報記録装置の実施例を一例とし
て掲げる。これは標準CD信号が光学的記録担体116上に
光学的に記録できるようなタイプのものである。光学的
記録担体116は、輻射線に感応する例えばフェーズ変化
素材すなわち染色(dye)の層を具えたタイプのもので
もよく、該層に情報パターンを記録したいサーボトラッ
クが設けられている。
上記のタイプの記録担体は、とりわけオランダ国特許
出願第8800151号、オランダ国特許出願第8900766号、オ
ランダ国特許出願第8901145号に包括的に記載されてお
り、参照によってここに盛り込まれる。これらの特許出
願に記載の記録担体は千鳥トラック(トラックウォブ
ル、track−wobble)の形式のトラック変調を持ち、そ
の周波数は、絶対時間符号ATIPの形体でアドレスを表す
アドレス信号に従って変調される。普通のタイプの光学
的読み出し/書き込みヘッド105が回転する記録担体116
に対向して配置され、例えばモータ103とスピンドル104
の形式の位置付けシステムを用いて、記録担体116の半
径方向に移動できる。望ましければ、読み出し/書き込
みヘッド105は情報パターンを記録するのにも情報パタ
ーンを読み出すのにも用いることができる。この目的で
読み出し/書き込みヘッド105は輻射線ビーム107aを生
成する半導体レーザを有し、該輻射線ビーム107aの強さ
は駆動回路107を用いて可変であり、このことは例えば
オランダ国特許出願第8901591号に詳しく記載されてい
るので、参照によってここに盛り込まれる。輻射線ビー
ム107aは既知のやり方で記録担体116のサーボトラック
に指向される。該ビーム107aは記録担体116から部分的
に反射し、反射ビームは千鳥トラックに従って変調され
る。情報パターンが存在する場合には、反射ビームは、
情報パターンにも従って変調される。反射ビームは輻射
線に感応する検出器108aの方へ向かい、該検出器108aは
ビーム変調に対応する読み出し信号VIを生成する。信号
VIは、千鳥トラックにより生成されて名目上の走査速度
で約22kHzという周波数を持つ成分を有する。モータ100
を制御するためにモータ制御回路108を用いて、千鳥ト
ラックにより読み出し信号VI内に生成される成分の周波
数がほぼ22kHzに維持されるように、モータの速度が制
御される。読み出し信号VIは検出回路109にも与えら
れ、そこでは千鳥トラックによって読み出し信号VI内に
生成される成分から時間符号ATIPを得て、これらの符号
を例えばマイクロコンピュータ110を持つ制御ユニット
に与える。さらに読み出し信号VIは、千鳥トラックによ
って読み出し信号VI内に生成された信号成分を拒絶する
ための高域通過特性を持つ増幅回路111に与えられる。
こうして低周波成分を除去された読み出し信号VIは、読
み出された情報パターンの品質を示す解析回路65に与え
られる。解析回路の一例を以下に詳細に説明する。解析
回路65の出力点にある解析信号Vaもマイクロコンピュー
タ110に与えられる。記録装置はさらに普通のCIRC符号
化回路112を有し、記録すべき信号Viは、マイクロコン
ピュータ110によって制御されるスイッチ115を経由して
それに与えられる。CIRC符号化回路112は在来形のEFM変
調器113に直列に配置される。該EFM変調器は駆動回路10
7に接続される出力点を持っている。駆動回路107は普通
の制御可能なタイプであり、このような駆動回路を用い
て、記録された情報パターンの品質に影響を及ぼしうる
パラメータを調整することができる。このようなパラメ
ータは例えば、情報パターンの形成中の輻射線ビームの
強さでありうる。情報パターンが一定の長さの輻射線パ
ルスで形成されているときは、この長さが、与えられる
情報パターンの品質に影響を及ぼす重要なパラメータと
なりうる。磁気光学的記録の場合は、輻射線ビームによ
って走査された記録担体区域内に生成された磁場の強さ
が重要なパラメータになりうる。テストパターンを生成
する目的で記録装置1はテスト信号生成器114を有する
ことができ、それは例えば無作為なディジタル信号を生
成するか又はディジタル信号値0(ディジタル静寂)に
対応する信号を生成する。しかしながら、情報信号は原
則としてテストパターンの形成にも用い得ることに留意
されたい。信号生成器114により生成される信号はスイ
ッチ115を介してCIRC符号化回路112に与えられる。スイ
ッチ115は普通の形式のものであり、制御ユニット110か
ら受け取った制御信号に依存して記録すべき信号Viが信
号生成器114の出力信号かを切り換える。
上述のように、テストパターンは記録担体116上のア
ドレス可能な位置に記録することが好ましい。記録担体
上のサーボトラックが、一時的内容テーブル(Temporar
y TOC)を記録するための区域(PMA)と決定的な内容テ
ーブル(TOC)を記憶するための区域(Lead In Area)
とプログラム区域(PA)とにこの順序で分割されている
上記オランダ国特許出願第8900766号と一致して記録担
体116が構築される場合、較正区域をもつ区域PCAは一時
的内容テーブルを記録するための区域(PMA)に先行す
る区域であることが好適である。第5図はサーボトラッ
ク117のレイアウトを示す説明図である。さらに第5図
は、分、秒及びフレームで表される絶対時間符号ATIPを
用いて示された各種区域のアドレスをも示している。例
えば、プログラム区域(PA)の始めに対する絶対時間符
号ATIPは0.00.00である。Lead In Areaの始めに対する
絶対時間符号ATIPはTSLとマークされる。区域TAの始め
における絶対時間符号ATIPはTLIAマイナス0.13.25に等
しいが、一方では区域TAの初めはTLIAマイナス0.35.65
に等しい絶対時間符号を持っている。各絶対時間符号AT
IPは1フレームに対応する長さのサーボトラック部分を
マークする。各較正区域21に対して多数の15フレームが
使用可能であり、各補助区域22に対して1フレームが使
用可能である。記録担体が標準CD信号を記録するために
用いられるなら、使用可能な長さは、記録すべき各情報
信号に対する1較正サイクルを実行するのに十分なもの
である。これは、CD標準に従えば異なる情報信号(トラ
ック)の最大数は100だからである。
テスト情報パターンが既に記録されている区域内のAT
IP符号の読み出しが常に保証されている訳ではないか
ら、較正区域21が使われるシークエンスは後から前へと
いうのが、すなわち使われるべき第1の較正区域21がTA
区域の最後(すなわちCA区域との境界の近く)に位置す
るのが、適切である。このようにして、テストパターン
が未だ記録されていない比較的大きい区域が常に、光学
的書き込み強度を決めるため用いられる区域に先行する
ようになる。使用されるべき較正区域21の始めを決定す
るのに必要であるにも拘らず、テストパターンが既に記
録されているサーボトラック部分において絶対時間符号
ATIPを常に信頼性高く読み出すことができる訳ではない
ので、このことは利点である。最適書き込み強度は次の
ようにして決めることができる:新しい情報信号(トラ
ック)が記録される前に、テスト情報パターンを記録す
るための較正区域のアドレスが補助区域22に基づいて得
られる。第5図に示す実例では(一連番号1−5をも
つ)5つの較正区域が既に使われており、ハッチングが
付されている。これは一連番号1−5をもつ補助区域内
の補助パターンで表されている。これらの補助区域にも
ハッチングが付されている。次の較正サイクルのため
に、一連番号6を持つ較正区域を使用することができ
る。これは、補助パターンをもつ5つの補助区域1−5
によって示される。較正区域が選択された後、選定され
た較正区域に多数の異なる書き込み強度でテストパター
ンが記録される。この後で、記録されたテストパターン
が読み出され、較正区域のどの部分においてテストパタ
ーンが最適であるかが解析信号Vaを用いて決定される。
続いて情報パターンが、最適テストパターンが記録され
ている書き込み強度に対応する書き込み強度で、関連す
る(一連番号6を持つ)補助区域に記録される。
マイクロコンピュータ110には較正サイクルを実行す
るための適切な制御プログラムが搭載されている。第6
図は、このようなプログラムの一例のフローチャートを
示す。このプログラムのステップS1で、読み出し/書き
込みヘッド105はマイクロコンピュータ110の制御の下に
記録担体上のCA区域に対向して配置され、検出回路109
により検出される読み出し信号VI中の絶対時間符号ATIP
を用いてアドレッシングが実行される。ステップS2で
は、テストパターンを記録するために使われる較正区域
21のアドレスが、補助区域22中に記録されている補助パ
ターンに基づいて決定される。これは単に、ビーム107a
で補助区域を走査している間に反射されたビーム107aが
高周波変調をしているかどうかを検出することによって
実施することができる。このような高周波変調は、読み
出し信号V1中に高周波信号成分の存在を検出することに
よって検出できる。この目的のために、記録装置は読み
出し/書き込みヘッド105とマイクロコンピュータ110と
の間に配置された高周波検出器120を有することができ
る。読み出し回路が読み出し信号V1から記録された情報
を復原するために用いられるときには、テストパターン
の存在は読み出し回路の出力信号の存在に基づいて検出
できる。
ステップS3では、上記アドレスを持つ較正区域21がマ
イクロコンピュータ110の制御下にその場所を見出され
る。一旦この区域に到達したら、ステップS4で書き込み
強度Isが初期値Ioに設定される。関連する記録担体のIo
の値は、上述のオランダ国特許出願第8901145号に記載
されるように記録担体上に予め記録されていることが好
ましい。この値は、較正サイクルの前に読み出すことが
できる。さらに、マイクロコンピュータ110の制御の下
に、信号生成器114が制御可能なスイッチ115を用いてCI
RC符号化回路112接続され、それにより信号生成器の出
力信号によって定まるEFM変調テスト信号がEFM変調器11
3によって生成される。最後にステップS5で制御信号S/L
が、EFM変調器113の出力点上のEFM変調された信号Vefm
と一致して書き込み強度の設定値Isと強度I1との間にビ
ーム107aの強度が切り換えられるように、駆動回路107
を設定する。その結果としてEFM信号に対応する残りの
パターンが記録される。ステップS6では、検出回路によ
って検出された絶対時間符号ATIPがマイクロコンピュー
タ110によって読み出される。ステップS7では、この絶
対時間符号が前回読み出したものに対して変化している
かどうかを確認する。変化していなければステップS6を
繰り返す。変化していれば、ステップS8で、読み出され
た絶対時間符号が較正区域の終わりを示しているかどう
かをテストする。終わりを示しているのでなければステ
ップS9が実行され、そこで書き込み強度Isを小さい幅Δ
Iだけ増加させ、然る後にプログラムはステップS6に進
む。ステップS8で較正区域21の終わりに到達しているこ
とが判ったら、ステップS10が実行され、そこで制御信
号S/Lは駆動回路107を、ビーム107aの強度がレベルI1で
一定に維持されるようなやり方で設定する。ステップS1
1では、上記較正区域21の始めの場所が見出され、再び
読み出される。ステップS12では、解析信号Vaがマイク
ロコンピュータ110によって読み出される。ステップS13
では、解析信号Vaの値がテストパターンの最適品質に対
応しているかどうかをチェックする。もし対応していな
ければプログラムはステップS12に進む。対応していれ
ば検出回路109によって検出された絶対時間符号がステ
ップS14で読み出される。続いてステップS15において、
ステップS14で読み出された絶対時間符号に対応する最
適書き込み強度を計算する。これは例えば、最後に読み
出された絶対時間符号と較正区域の始めに対応する時間
符号との差を決定することによって可能である。それ
は、この差を用いて、テスト情報を記録している中で最
後に読み出された絶対時間符号に到達する前に初期値Io
はΔIを幾段階増加したかにより決定することが可能で
ある。この段階数及び初期値Ioが最適書き込みエネルギ
ーを確定する。続いてステップS16で書き込み強度Isは
最適値Ioptに設定される。
ステップS17で、使用された較正区域に付随する補助
区域22の位置が特定される。ステップS18で、該区域に
到達すると、情報パターンがこの補助区域22内に形成さ
れる。
上述の較正過程におけるテストパターンの形成中に、
それは最初は低い書き込み強度で実行し、逐次段階を挙
げて行く。これは較正区域の始めにおけるアドレス情報
が常に読み出し可能なことを保証することができること
を意味する。その理由は、低い書き込み強度で形成され
たテストパターンによってアドレス情報が完全さを損な
われることはないからである。
以下に、最適書き込み強度を決定する適切な方法を実
例により説明する。記録担体の走査部分において反射の
変化を生じさせない低レベルI1と反射の際に変化の生じ
させる高書き込みレベルIsとの間でその強度が切り換え
られる輻射線ビームで記録担体を走査することにより、
光学的に読み取り可能な記録担体に、変動する反射特性
を持つ効果を有する情報パターンが与えられる。そのよ
うな強さの変動Iの一例と、変化した反射特性を持つ付
随した効果パターン58及び特性変化のない中間区域59と
が第7図に示される。効果58の情報パターン及び中間区
域59は、光学特性の検出可能な変化が不可能な程に十分
低い一定の強度の読み出しビームでパターンを走査する
ことにより読み出すことができる。走査過程の間は、記
録担体から反射した読み出しビームは走査された情報パ
ターンと一致して変調される。読み出しビームの変調は
普通のやり方で、ビーム変調を示している読み出し信号
V1を生成する輻射線感応検出器を用いて検出できる。読
み出し信号V1も第7図に示してある。読み出し信号V1は
該読み出し信号を規準レベルVrefと比較することにより
2値信号に再度変換される。信頼できる変換のために
は、読み出し信号V1が基準レベルと交差する点が十分確
定していることが望ましい、換言すれば読み出し信号V1
中の「ジッター(jitter)」が最小であることが望まし
い。よく知られているように、光学的記録における読み
出し信号V1のジッターは情報パターンが対称であれば、
すなわち効果58の平均長が中間区域59の平均長に等しけ
れば最小になる。茲で生じる問題点は、効果58の長さが
書き込み強度Isに強く依存することである。もし書き込
み強度があまりに高ければ効果58はあまりに長くなろう
し、またもし書き込み強度があまりに低ければ効果58は
あまりに短くなろう。従って、書き込み強度の正確な調
整が必要である。
最適書き込み強度の実行可能な決定方法においては、
テストパターンが様々な書き込み強度でデューティサイ
クル50%のパルス型信号の援けをかりて記録されること
ができ、然る後に記録されたテストパターンは読み出す
ことができる。そうすると最適設定というのは、該設定
に対し読み出し信号V1の第2高調波歪が最小となるよう
に定めることにより決定できる。
次に、最適書き込み強度を決定するまた別の方法が第
8図を用いて詳細に説明される。第8a図、第8b図、第8c
図には、強度の変化Iと、対応する効果58の情報パター
ンと、中間区域59と、及び書き込み強度が低過ぎる場
合、最適の場合、高過ぎる場合のそれぞれにおける読み
出し信号V1が示されている。
第8図では、読み出し信号V1は最高レベルA1と最低レ
ベルA2との間を変動する。レベルDCというのは読み出し
信号V1中の直流レベルの値を表している。第6図から明
らかになるであろうように、読み出し信号V1の直流レベ
ルDCは、もし書き込み強度が最適値を持っているなら
ば、レベルA1とレベルA2との丁度ほぼ真中にある。もし
書き込み強度が低過ぎるならば、直流レベルDCはレベル
A1とレベルA2の真中より上にあり、書き込み強度が高過
ぎるならば直流レベルDCはレベルA1とレベルA2の真中よ
り下にある。従って書き込み強度の最適設定は、直流レ
ベルDCがレベルA1とレベルA2との丁度ほぼ真中に位置す
るように書き込み強度Isを調整することによって得られ
る。
次に、最適強度を決定する上記方法を改良したものが
第9a図を用いて説明される。この方法によれば、情報パ
ターンが最適強度を決定する目的で記録され、該パター
ンは、その各々が短い効果58と短い中間区域59を1つず
つ持ちデューティサイクル50%の書き込み信号を用いて
記録された多数の副パターン70を有する。該情報パター
ンは更に、比較的長い効果58と比較的長い中間区域59を
1つずつ持ち、やはりデューティサイクル50%の書き込
み信号の援けをかりて記録された副パターン71を有す
る。副ターン70の数は副パターン71の数より相当大きく
選定する。第9a図は更に、光学的読み出し部の援けをか
りて読み出した場合に得られた読み出し信号V1も示して
いる。
副パターン70の大きさは、これらの副パターン70に対
応する読み出し信号V1の信号成分の振幅が副パターン71
に対応する信号の信号成分の振幅よりかなり小さくなる
ようなやり方で選定される。このことは、副パターン70
の大きさをこのパターンの第1高調波のみが光学的走査
部の光学的カットオフ周波数より下に位置するように選
定することにより達成できる。副パターン71の大きさ
は、このパターンの少なくとも第1及び第2高調波が上
記光学的カットオフ周波数より下に位置するように選定
される。読み出し信号V1中の直流レベルDCは、主として
副パターン70に対応する信号成分にとって統制される。
読み出し信号V1の最大値A1と最小値A2との差は、専ら副
パターン71に対応する値によって統制される。書き込み
の強さIsの変化は、副パターン70の効果58の長さと中間
区域59の長さとの比に対して、副パターン71の効果58の
長さと中間区域59の長さとの比に対するよりもかなり大
きく影響するから、第9a図に示したこの方法の場合の直
流レベルDCもまた、読み出し信号V1の振幅が情報パター
ン中に生起するすべての副パターンについて同じである
第8図に示した方法の場合に較べて、書き込みレベルの
変動に遙かに影響されやすいであろう。このことすべて
が、第9a図に示した方法を用いることにより最適書き込
みの強さが遙かに正確に決定できることを意味する。
第9a図に示した最適書き込み強度で記録されている情
報パターンの他に、低過ぎる書き込みレベルと高過ぎる
書き込みレベルとでそれぞれ記録されている類似の情報
パターンが第9b図、第9c図に示されている。第9図から
明らかになるであろうように、最適書き込み強度の場合
の直流レベルDCもまた、信号V1中の最大信号値(A1)と
最小信号値(A2)との丁度ほぼ真中にあるのに対し、書
き込みレベルが低過ぎる場合又は書き込みレベルが高過
ぎる場合の直流レベルDCは、それぞれ中心より上又は下
に位置している。第9図に示す情報パターンは、短い効
果と中間区域とを持つ比較的多数の副パターンや長い効
果と中間区域とを持つ比較的少数の副パターンを含む多
くの情報パターンの可能性の内のたった1つに過ぎな
い。同様に極めて適切な副ターンとして、CD標準と一致
するEFM信号に対応するパターンがある。そんなパター
ンは、最小3ビット(I3効果)から最大11ビット(I11
効果)までに対応する長さの区域を有する。そのような
EFMパターンにおけるすべての効果の約1/3はI3効果であ
るのに対し、すべての効果の僅か4%がI11効果であ
る。I3の効果の大きさは、これらの効果の基本波のみが
光学的読み出しシステムの光学的カットオフ周波数より
下に位置している類のものである。I11効果について
は、少なくとも第1、第2、第3高調波が光学的カット
オフ周波数より下に位置している。
第10図は解析回路65の一例を示し、最適書き込み強度
に対応するレベルから直流レベルDCが逸脱する程度を示
すために、これを用いて読み出し信号V1から解析信号Va
を得ることができる。第8図の解析回路10は、読み出し
信号V1中の直流レベルDCを決めるために低域通過フィル
タ80を有する。解析回路10はさらに、読み出し信号V1中
の最大値A1を決めるための正のピーク検出器81と読み出
し信号V1中の最小値A2を決めるための負のピーク検出器
82とを有する。ピーク検出器81、82の出力信号は、加算
回路83の非反転入力点に与えられ、低域通過フィルタ80
の出力は、その値を2倍に増幅した後、加算回路83の反
転入力点に与えられる。それによって解析信号Vaを構成
する加算回路83の出力信号が Va=A1+A2−2DC と書けることになり、その結果として、信号値DCが最大
信号値A1と最小信号値A2の平均値からどの程度逸脱して
いるかを示すものとなる。
解析回路のその他の適切な実例については、オランダ
国特許出願第8901591号の記載を参照されたい。与えら
れたパターンの品質の測度として読み出し信号中の第2
高調波歪が用いられるなら、解析回路は普通の第2高調
波検出器を有することができる。
本発明は光学的記録装置に限定されるものではなく、
その他の記録装置、例えば磁気記録装置、あるいは電子
ビームを用いて情報を記録する装置にも使用することが
できるということに留意されたい。また、本発明は重ね
書きのできる記録担体にも使用できるけれども、一度し
か書き込めないタイプの記録担体に関して使用するのに
特に適したものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の情報記録装置の実施例を示す図。 第2図は、第1図の装置の記録担体上に較正区域を記録
するための適切な位置を示す説明図。 第3図は、第1図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフローチャート。 第4図は、本発明の情報記録装置のさらに詳しい実施例
を示す図。 第5図は、第4図の装置の記録担体上に較正区域を記録
するための適切な位置を示す説明図。 第6図は、第4図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフローチャート。 第7図は、最適調整を決定する適切な方法を説明する
図。 第8a図、第8b図、第8c図は、最適調整を決定する別の適
切な方法を詳しく説明する図。 第9a図、第9b図、第9c図は、最適調整を決定するまた別
の適切な方法を詳しく説明する図。 第10図は、第4図の装置に使用する解析回路の一例を示
す図。 1,116……記録担体 3,105……読み出し/書き込みヘッド 4,100,103……モータ 5……制御ユニット 7……信号処理回路 8,107……駆動回路 9……読み取り回路 10……解析回路 11,114……テスト信号生成器 65……解析回路 108……モータ制御回路 109……検出回路 110……マイクロコンピュータ 111……増幅回路 112……CIRC符号化回路 113……EFM変調器 115……スイッチ 120……高周波検出器
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/013

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】個々の情報信号にそれぞれ対応する情報パ
    ターンを記録担体上に形成することにより複数の情報信
    号を該記録担体上に記録する方法であって、 記録される情報パターンの最適品質を達成するように、
    係る情報パターンの品質に影響を及ぼす記録担体に依存
    する少なくとも1つの記録パラメータが調整され、 前記記録担体は、一連の較正区域と、該較正区域から隔
    てられ且つ各較正区域にそれぞれ対応する一連の補助区
    域とを有し、 前記方法は、前記情報信号を記録するために、 前記一連の補助区域から、テストパターンの記録のため
    に未だ使用されていない較正区域に対応する補助区域を
    決定するステップと、 決定された前記補助区域に対応する較正区域に前記記録
    パラメータの異なる設定で複数のテストパターンを記録
    するステップと、 記録された前記テストパターンの予め決められた最適品
    質の基準に従って、前記記録パラメータの最適設定を決
    定するステップと、 前記情報信号の記録中、決定された前記最適設定に合わ
    せて前記記録パラメータを調整するステップと、 前記テストパターンが記録された前記較正区域に対応す
    る補助区域に、前記記録パラメータの前記最適設定で補
    助パターンを記録するステップと、 を含む方法。
  2. 【請求項2】前記較正区域は、前記一連の補助区域のう
    ち補助パターンが未だ記録されていない補助区域の一番
    後ろのものに対応する、請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】前記補助区域の大きさは前記較正区域より
    も小さく、テストパターンが記録されるべき較正区域
    は、前記較正区域に基づくよりも前記補助区域に基づく
    ほうが迅速に特定される、請求項2に記載の方法。
  4. 【請求項4】前記記録担体は、該記録担体上に予め記録
    されたアドレスを具えており、前記補助区域及びそれに
    対応する前記較正区域のそれぞれの位置は、該区域の関
    連するアドレスにより特定される、請求項1に記載の方
    法。
  5. 【請求項5】前記記録担体は、限られた数の情報信号を
    記録する容量を具えており、前記較正区域の数は、記録
    可能な前記情報信号の前記限られた数に少なくとも等し
    い、請求項1に記載の方法。
  6. 【請求項6】複数の情報信号を記録担体上に記録する情
    報記録装置であって、 前記記録担体は、一連の較正区域と、該較正区域から隔
    てられ且つ各較正区域にそれぞれ対応する一連の補助区
    域とを有し、前記情報記録装置は、 記録される情報パターンの品質に影響を及ぼす記録担体
    に依存する記録パラメータを有し、それぞれの前記情報
    信号に対応する情報パターンを前記記録担体上に記録す
    る書込手段と、 前記一連の補助区域から、情報信号の記録のために未だ
    使用されていない較正区域に対応する補助区域を決定す
    る決定手段と、 決定された前記補助区域に対応する較正区域に前記記録
    パラメータの異なる設定で複数のテストパターンを記録
    するように前記書込手段を制御する手段と、 記録された前記テストパターンの予め決められた最適品
    質に従って、前記記録パラメータの最適設定を決定する
    手段と、 前記情報信号の記録中、決定された前記最適設定に合わ
    せて前記記録パラメータを調整する手段と、を有し、 前記制御手段が更に、前記記録パラメータの調整のの
    ち、前記テストパターンが記録された前記較正区域に対
    応する補助区域に補助パターンを記録するように前記書
    込手段を制御する、情報記録装置。
  7. 【請求項7】前記一連の補助区域のうち補助パターンが
    未だ記録されていない補助区域の一番後ろのものを選択
    することにより、未だ使用されていない較正区域に対応
    する補助区域の位置を特定し、未だ記録されていない補
    助区域は、決定された前記補助区域に先行する、請求項
    6に記載の情報記録装置。
  8. 【請求項8】前記記録担体は、該記録担体上に予め記録
    されたアドレを具え、前記較正区域及び前記補助区域の
    それぞれの位置は、該区域の関連するアドレスから特定
    される、請求項6に記載の情報記録装置。
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