CN1024053C - 给记录载体提供信息模式的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

在此处披露的方法和设备中对影响被记录的信息模式(58，59)的质量的至少一个与记录载体有关的参量(Is)进行调整，在确定参量(Is)的最佳设备时从多个预定的校正区域(21a，……，21d)中选择一个校正区域(21)。
对参量的不同设置给所选择的校正区域(21)提供测试模式，在如此形成的测试模式的基础上根据预定的标准确定参量的最佳设置，在记录信息模式(58，59)期间将参量调整为上述最佳值。

Description

本发明涉及给记录载体提供信息模式的方法，在该方法中对影响形成的信息模式的质量的至少一个与记录载体有关的参量进行调整。
本发明还涉及信息记录设备，该设备包括给记录载体提供信息模式的写入装置和调整写入装置的装置。
这种方法和这种设备在EP-A-0，288，114已经公知了。EP-A-0，288，114中描述的方法和设备使用在记录载体的制作期间已经提供了调整数据，特别是写入方式和写入强度的数据。在记录载体插入信息记录设备以后从记录载体中读出调整数据并根据读出的调整数据调整写入装置。但是，已有技术的设备的缺点是写入装置的调整并不是总为最佳。这样一来，已记录的信息模式的大小可能产生偏差，就不能总是可靠地读出已记录的信息。
本发明的目的是提供在开始段中所述的设备，该设备对写入装置的调整进行了改进。作为方法，通过从许多预定的可能允许的校正区域中选择一个校正区域，为确立不同的参量值在所选的区域中形成测试模式，在形成的测试模式的基础上根据预定的标准确定参量的最佳值以及在形成信息模式区间将参量调整为上述最佳值来实现上述目的。
作为设备，通过提供包括从许多在记录载体上的预定校正区域中选出一个校正区域的选择装置，对写入装置的不同设置使在选出的校正区域中形成测试模式的装置，在形成的测试模式的基础上选出最佳 设置的装置以及在信息模式形成期间将写入装置调整为已选出的最佳装置的装置的设备来实现上述目的。
本发明特别根据这一认识，即写入装置的最佳设置强烈地依赖于所用的记录载体以及所用的信息记录设备。但是，对于记录载体和记录设备的特定组合，最佳设置对记录载体的整个记录区域来说基本上是恒定的。
因此，可以认为本发明设备中调整数据的确定对记录载体的整个记录区域来说是最佳的。此外，多个不同校正区域的使用使得可多次进行最佳设置的确定。例如，每当记录载体被装入记录设备中时。这在当在多个不同的信息记录设备中使用同一种不能被重写的记录载体时尤其有利。多个校正区域的使用还使得对每个信息记录设备可确定最佳的设置。原理上通过检测已向那个记录区域提供了测试模式能够选出待用的校正区域。这样做的缺点是测试模式不在设置为最佳时形成，因此不能保证对测试模式的存在进行可靠的检测。此外，由于校正区域的总长度，可能需要相当长的时间对未使用的校正区域进行搜索。
如果有一个指明在记录载体上已记录了多少信息信号的内容目录，设定对每个记录信息信号仅一次就能确定最佳的设置，从该目录就能得到已使用的校正区域的最大数目。根据该数目总是可能对校正区域进行明确和选择的。刚提到的选择方法的缺点是一旦确定了最佳的设置就不允许参考已记录的信息信号。这意味确定最佳设置的过程必须延迟到绝对肯定信号将要被记录时为止。这可能将导致信息信号记录时附加的延迟。
上述选择的方法的缺点可用下述方法来减少，该方法特征在于对 每个校正区域指定一个从属区域，形成从属模式，每当确定最佳设置时就在为用于确定最佳设置的校正区域而指定的从属区域中根据记录在从属区域中的从属模式选择校正区域。
从属区域的使用使总可能明确地确定哪个校正区域已被使用。由于从属区域的尺寸可远少于校正区域的尺寸，根据从属区域对未使用的校正区域进行选择要远远比根据校正区域本身进行选择快得多。
如果使用为了对校正区域进行定位而预先被提供了外加地址信息的记录载体，直接使用的校正区域最好在没有被提供测试模式的区域之后。实际上，一旦形成测试模式，地址信息会被破坏，不再能保证能正确地读出地址信息，对位于具有已破坏了的地址信息的区域后一短距离的区域进行定位将会引起麻烦。当使用其校正区域为预制伺服轨迹的一部分的记录载体时，形成测试模式将会破坏该轨迹，不再保证正确的寻迹。
最好选择校正区域的数目大于或等于能被记录在记录载体上的信息信号的最大数目。（该数目对于记录CD信号是一百）这就保证对每一将被记录的信息信号都有一个用于确定调整的校正区域。
现参看图1到图10详细描述更多的实施例以及它们的优点，其中
图1和图4表示本发明的设备的实施例，
图2和图5表示在记录载体上记录校正区域的合适的位置，
图3和图6是由设备的控制单元执行的程序的流程图，
图7，图8和图9表示确定最佳调整的合适的方式，
图10表示在图4所示的设备中使用的分析电路的实施。
图1例示了本发明信息记录设备的一实施图。该实施例是一记录 设备，通过该记录设备信息能被记录在绕着轴2旋转的记录载体1上（例如光学记录载体）。该信息记录设备包括一逆对着旋转记录载体的通用读/写头3。在包括例如微处理器的通用控制单元5的控制下，借助于通用的例如由马达4和转轴5a组成的定位系统，读-写头3能沿着相对于记录载体1的径向方向运动。
待记录的信息信号Vi通过输入端6被输入到信号处理电路7，信号处理电路7为通用型，该电路将被输入的输入信号转换成具有合适的记录格式（例如CD格式RDAT格式）的记录信号Vop，记录信号Vop输入到通用型的驱动电路8，该电路以这样的方式为读/写头3将记录信号Vop转换成驱动信号Vs使相应于记录信号Vop的信息模式记录在记录载体上，为了读出已记录的信息模式，读/写头3有一用于输出读出信号V1的输出端，读出信号V1代表了被读出的信息模式，读出信号V1输入到读出电路9以便恢复由读出信号V1代表的信息。驱动电路8是可调的以便调整一个或多个能够影响和调整已记录的信息模式的质量的参量，当使用通过辐射光来形成具有可用光检测的效应的信息模式的光读/写头时，辐射光束的强度就是一影响信息模式的质量的重要参量。如果读/写头是通过产生磁场以便以磁化效应（磁畴）的形式形成信息模式的磁读/写头或磁-光读写头，该读写头以磁效应的形式产生为形成信息模式目的磁场，所产生的磁场的场强就是一重要的调整参量。如果通过写脉冲来形成信息模式，脉冲宽度就是一重要的调整参量。需要指出的是上述调整参量仅是大量可能的调整参量中的几个例子，在这方面请专门参看NL-A-9000150（PHN13.217），其中调整参量是产生作用的速度的参考值，在产生作用期间控制写入光束的强度以便保持根据可调的参考值产 生作用的速度。
为了确定驱动电路8的最佳位置，该设备包括分析电路10，该分析电路10从读出信号中得到表明被读出的信息模式的质量的分析信号Va。在校正过程中通过对驱动电路的不同设置在记录载体1中形成测试信息模式和通过根据分析信号Va选择由分析信号表明了最佳质量的那一设置能在测试过程中确定最佳设置。从原理上来说，信息信号Vi可用来写入测试信息模式。但是，也可以用测试信号发生器11来达到这一目的，该测试信号发生器11可被包括在例如信号处理电路7中。在控制单元5的控制下确定最佳设置，为达到这一目的，控制单元5被连接到分析电路10，驱动电路8和测试信号发生器11（如果有的话），该控制单元装有合适的程序或包括合适的硬件电路，最好在校正过程中确定最佳设置，校正过程是在记录载体已经被插入信息记录设备后才进行的。
为了确定最佳设置，已给记录载体提供了许多位于记录载体上预定位置的校正区域，例如位于打算作记录信息模式的伺服轨迹的前端。图2以图解的形式例示了直线状的伺服轨迹20。伺服轨迹包括打算作记录信息信号的区域PA。在区域PA前面的区域TA为了确定最佳调整打算用来输入测试模式。区域TA被分为校正区域21a，……21d，每个区域有一适于执行校正过程的长度，在每一校正过程的开始，选出使用的校正区域21，然后测试横式记录在选出的校正区域以实现对调整参量的不同设置，读出这些测试模式并且根据产生的分析信号Va选择最佳调整，在校正过程的开始可用多种不同的方法选择未使用的校正区域，例如，可以读出校正区域并且检测在被读出的校正区域中是否有信息模式存在，考虑到校正区域的长度，这要 花费相当长的时间，此外，因为通过输入测试模式伺服轨迹会被破坏到使得不再可能进行局部的寻迹，所以读出测试模式也可能成问题，如果假定为了记录每个信息信号仅需要一个校正区域来确定最佳设置，当已被记录的信息信号的数目在伺服轨迹20的一部分中被表示时，由此就能确定已使用的校正区域的最大数目，如果在校正过程中，校正区是如此选取使它们的序号相应于已记录的信息信号的号码加一的校正区域，将总会容易地找出未使用的校正区域，但是，必须注意到信息信号实际上每次都是在已确定个最佳设置后才被记录的，这是为了保证相应于在目录中指定的已记录的信息信号的号码的校正区域确实未被使用。
通过在记录载体上不相连的区域中指出哪一个校正区域还未被使用能够减轻上述选择方法的缺点，这是可能的，例如在每一校正过程之后记录下表明有多少个校正区域已被使用的信号，这也是可能的，在校正区域被使用之后每每一校正区域指定一从属区域并且在相关的从属区域中形成从属模式，在图2的区域CA中，给校正区域指定的从属区域具有标号22a，……22d，在这种情况下，通过检测在从属区域中是否存在从属模式就能够选择未使用的校正区域，可用被记录在例如伺服轨迹中的地址来指明在伺服轨迹20中的校正区域21和从属区域22的位置，但是，也可以用另外的方式指明这些区域的位置，例如，将这些区域设置在离圆盘状的记录载体的旋转中心一预定的距离处。
为了选择校正区域，控制单元装入合适的程序，作为例子图3给出这种程序的流程图，在再次确定最佳设置的时刻，例如每当记录载体被装入信息记录设备时取出程序，该程序包括步骤B1。在该步骤中 在控制单元5的控制下对区域CA的前端区域进行定位，一旦到达区域CA就在步骤B2读出区域CA并辨别在区域CA中被读出的从属区域内是否存在从属模式，一旦检测到还没有记录从属模式的从属区域就在步骤B3中在被检测的从属区域的地址的基础上，例如利用确定校正区域的起始地址和给校正区域指定的从属区域的地址之间的关系的目录来获得相关的校正区域的前端区域的地址，然后在步骤B4中在控制单元5的控制下对具有如此确定地址的校正区域进行定位，在步骤B5中完成校正过程，步骤B5之后，在步骤B6中在给相关的校正区域指定的从属区域中形成从属模式，可用测试信号或输入到记录设备的信息信号Vi来记录从属模式。
要注意当在校正区域中形成测试模式时，伺服轨迹会被覆盖到这样的程度使得不再能够可靠地读出在测试模式后的地址信息。因此，最好这样选择校正区域21，即总是使用在该区域的前面有一还没有给提供测试模式的区域的校正区域，例如通过使用最后的区域21d进行第一次校正过程并且以后每次都使用正好在上次已被使用的校正区域21前面的校正区域21。
图4详细表示信息记录设备的一实施例，所示实施例能将标准的CD信号用光学方法记录在光记录载体116上，光记录载体116有例如由相应材料或染料构成的光照敏感层，该敏感层有用作记录信息模式的伺服轨迹，上述类型的记录载体特别在NL-A-8800151，NL-A-8900766和N2-A-8901145（PHN12.398，PHN12，887，PHN12，925）中有充分的描述，此处作为参考文献，上述专利申请中描述的记录载体具有轨迹摆动形式的轨迹调制，频率被从绝对时间码ATLP的形式表示 地址的地址信号所调制，通用型光读/写头105相对着旋转的记录载体116并且借助于通用的例如由马达103和转轴104组成的定位系统能够沿着相对于记录载体116的径向方向运动，如果需要读/写头105可用来既记录信息模式又读出信息模式，为此目的，读/写头105包括用来产生辐射光束107a的半导体激光器，辐射光束的强度通过驱动电路107来改变，在NL-A-890159（PHN12.994）中有对该半导体激光器的详细描述，在此作为参考文献，辐射光束107a以公知的方式瞄准记录载体116的伺服轨迹，光束107a部分被记录载体116反射，反射光束被轨迹摆动以及信息模式（如果存在信息模式的话）所调制，反射光束射向光照敏感检测器108a，后者产生相应于光束调制的读出信号VI，信号VI含有由轨迹摆动产生的在标准扫描速度时频率约为22KHz的分量，通过马达控制电路108控制马达100，控制马达的转数以便将读出信号VI中由轨迹摆动产生的分量的频率基本保持在22KHz，读出信号VI还被输入到检测电路109，后者从读出信号VI还被输入到检测电路109，后者从读出信号VI中由轨迹摆动产生的分量中检测出时间码ATIP并将这些码传送到包括，例如微型计算机110的控制单元。此外，读出信号VI还被输入到具有高通特性的放大电路111以便抑制读出信号VI中由轨迹摆动产生的分量，由此低频分量已被消除的读出信号VI被输入到分析电路65，后者显示出被读出的信息模式的质量，以后将详细描述分析电路的实例，分析电路65输出端的分析信号也被输入到微型计算机110，记录设备还包括通用的CIRC编码电路112，通过被微型计算机110控制的开关115可将要记录的信号Vi输入到该电路CIR C编码电路112与常规EFM调制器113串接，EFM调制器的输出端接至驱动电路107，驱动电路107为通用可控型，通过能调整那些能影响记录信息模式质量的方式对该电路加以控制，例如这种参量可以是在形成信息模式期间辐射光束的强度，如果用等宽度的辐射脉冲来形成信息模式则该宽度就是影响已记录的信息模式质量的重要参量。在磁-光记录的情况中，通过辐射光束扫描在记录载体区域中产生的磁场强度是一重要参量，为了产生测试模式，记录设备1包括一测试信号发生器114，后者产生例如-随机数字信号或产生相应于数字信号值零（信号静寂）的信号。但是，需要指出的是在原理上也可用信息信号来形成测试模式。信号发生器114产生的信号通过开关115输入到CIRC编码电路112，开关115为通用型，根据来自控制单元110的信号传送将要被记录的信号Vi或传送信号发生器114的输出信号。
如上所述，测试模式最好记录在记录载体116上的可寻地址单元中，如果记录载体116有上述荷兰专利申请NL-A-890076（PHN12，887）中所述的结构，即在该记录载体中伺服轨迹按以下次序被分成记录暂时目录（暂时TOC）的区域（PMA），记录的最后目录（TOC）的区域（Lead    Tn    Area）和程序区域（PA），则具有校正区域的区域PCA最好是在区域（PMA）前面以使记录暂时目录，图5用图表示伺服轨迹117的结构。
此外，图5表示通过以分，秒和格表示的绝对时间码表示的各种区域的地址。例如，程序区域（PA）的前端的绝对时间码ATIP是0.00.00.Lead    Tn    Area的前端的绝对时间码ATIP是TSL。区域PMA前端的绝对时间码等于TSL减0.13.25而区 域TA前端具有TLIA减0.35.65的绝对时间码。每一个绝对时间码ATIP区分具有相应于一格的长度的伺服轨迹部分，每一校正区域21有15个格而每一从属区域22只有一格。如果记录载体被用来记录标准的CD信号，可用的长度足够对每个要被记录的信息信号完成一个校正操作过程，这是因为CD标准信号中不同信息信号（轨迹）的最大数是一百。
由于在已记录有测试信息模式的区域中不是总能保证ATLP码的读出，所以使用校正区域21的次序最好是从后到前，就是说，要使用的第一个校正区域21位于TA区域的末端（即靠近CA区域的边界），这样一来，用来确定免写入程度的一个区域的前面总是有一个相对较大的还没有记录制度模式的区域。这样做是好的，因为在忆记录有测试模式的伺服轨迹部分中不总是能够保证可靠地读出绝对时间码ATIP，即使可靠地读出绝对时间码ATIP对确定要被使用的校正区域21的开始是必要的，确定最佳写入强度的方法如下：在新的信息信号（轨迹）被记录之前，根据从属区域22来获得记录测试信息模式的校正区域的地址，在图5所示的例子中五个校正区域（序号为1-5）已被使用，它们用阴影线的区域来表示，这种情况用在五个具有序号1-5的从属区域中的从属模式来表示，这些从属区域也画上阴影线，序号为6的校正区域就能被用于下一个校正操作过程，这用具有从属模式的五个从属区域1-5表示，选出校正区域后就用许多不同的写入强度值将测试模式记录在选出的校正区域中，在这之后读出的所记录的测试模式并通过分析信号Va确定校正区域哪一部分中的测试模式为最佳，然后就用相应于记录最佳测试模式时写入强度将信息模式记录在相关的从属区域（序号为6）中。
微型计算机110被装入合适的控制程序以便执行校正操作过程，图6是这种程序实例的流程图，在该程序步骤S1中，在微型计算机110的控制下将读/写头对着记录载体上的CA区域，寻址是在旧检测电路109检测的读出信号VI中的绝对时间码ATIP来实现的，在步骤S2中根据记录在从属区域22中的从属模式确定将要作记录测试模式的校正区域21的地址，通过检测在用光束107a扫描从属区域期间反射光束107a是否被高频调制就可简单地达到该目的，通过检测读出信号V1中的高频信号分量的存在就能检测这种高频调制，为此目的，记录设备可以包括一位于读/写头105和微型计算机之间的高频检测器120，当使用读出电路从读出信号中恢复已记录的信息时，根据读出电路的输出信号的存在能够检测测试模式的存在。
在步骤S3中，在微型计算机110的控制下确定具有所述地址的校正区域21的位置，一旦找出这一区域就在步骤S4中将写入强度Is设备定为初始值Io，最好以在上述专利申请NL-A-8901145（PHN12.925）1中描述的方式将有关记录载体的Io值预先记录在记录载体上，因此就能在校正操作过程之前读出该值，此外，在微型计算机110的控制下，信号发生器114通过可控开关115连到CIRC编码电路112，因此由信号发生器的输出信号确定的EFM调制测试信号由EFM调制器113来产生，最后，在步骤S5中控制信号S/L用这样一种方式驱动驱动电路107使得光束107a的强度在写入强度Is的设定值和取决于在EFM调制器113的输出端的EFM调制信号Vefm的强度I1之间变换，由此导致相应于被记录的EFM信号的剩余模式，在步骤S6 中通过计算机110读出被检测电路109检测的绝对时间码，在步骤ST中查明该绝对时间码相对以前读出的绝对时间码是否已有改变，若否，重复步骤S6，若已改变，就在步骤S8中检验被读出的绝对时间码是否表示校正区域的结束，若否，则执行步骤S9，在该步骤中写入强度Is增加一个小增量△I，在该步骤之后程序转向步骤S6。如果在步骤S8中发现已到达校正区域21的结束处，就执行步骤S10，在该步骤中控制信号S/L用这样一种方式驱动驱动电路107使得光束107a的强度保持恒定在电平I1，在步骤S11中再次确定并读出所述校正区域21开始的位置，在步骤S12微型计算机110读出分析信号Va，在步骤S13检验分析信号Va的值是否相应于测试模式的最佳质量，若否，程序转向步骤S12，在其它情形中，在步骤S14中读出由检测电路109检测的绝对时间码，然后在步骤S15中计算相应于在步骤S114中读出的绝对时间码的最佳写入强度。例如，通过确定刚读出的绝对时间码和相应于校正区域的开始的时间码的偏差就可以达到上述计算目的，根据这一偏差就有可能确定在记录测试信息模式期间在到达刚读出的绝对时间码之前初始值Io增加了多少个增量△I。增量的数目和初始值Io确定最佳写入能量Iopt。然后在步骤S16中将写入强度Is设定为最佳值Iopt。
在步骤S17中确定与被使用的校正区域相关的从属区域22的位置，一旦找到上述区域就在步骤S18中在这一从属区域22中形成信息模式。
在上述校正过程中形成测试模式期间，开始时用低写入强度来进行，然后写入强度逐步增大，这就意味着有可能保证总能够读出校正 区域开始处的地址信息，因为该地址信息不会被低写入强度形成的测试模式所覆盖。
下面举例说明确定最佳写入强度的合适方法，通过用辐射光束扫描记录载体给该光可读记录载体提供包含具有可变反射性能的作用的信息模式，该辐射光束的强度I在低强度I1和高写入强度I5之间变化，对于低强度I1在反射时记录载体的被扫描部分不发生变化，而高写入强度Is在反射时记录载体的被扫描部分发生变化。强度变化I及其具有可变反射性能的作用58的相应的型式以及具有不变的性能的中间区域59的实例如图7所示，通过用恒定强度的读出光束扫描信息可读出作用58的信息型式以及中间区域59，该读出光束强度足够低以便消除光学性能方面的可检测到的变化，在扫描过程期间，根据被扫描的信息模式对从记录载体反射的读出光束的调制，通过光照敏感检测器以通常的方法就能检测读出光束的调制，该检测器产生表示光束调制的读出信号V1，读出信号V1也示于图7，通过读出信号与参考电平Vref的比较将读出信号V1再转换成二值信号，为了可靠转换，需要仔细地确定读出信号V1与参考电平的交叉点，换句话说，读出信号的起伏应该很小，众所周知，如果信息模式是对称的，即如果作用58的平均长度等于中间区域59的平均长度，光记录中的读出信号V1的起伏就很小，由此产生的问题是作用58的长度强烈地依赖于写入强度Is。如果写入强度很大作用于58就会很长，如果写入强度很小作用58就会很短。因此，需要精确地调整写入强度。
在一种允许的确定最佳写入强度的方法中可用占空比为50%的脉冲信号以不同的写入强度记录测试模式，然后读出所记录的测试模 式，通过确定取何值时读出信号V1的二次谐波长为最小就能确定最佳设置。
参看图8详细描述确定最佳写入强度的另一种方法。图8a，图8b和图8c分别表示在写入强度Is分别为太小，最佳和太大情况下的强度变化I，作用58相应的信息型式和中间区域59。
图8中读出信号V1在最大电平A1和最小电平A2之间变化，电平DC表示读出信号V1中的直流电平值，由图6显而易见，如果写入强度具有最佳值读出信号的直流电平就基本位于电平A1和A2中间。如果写入强度太小直流电平DC将位于电平A1和A2间的中点之上，而当写入强度太大时直流电平DC将位于电平A1和A2间的中点之下。因此，通过调整写入强度Is到一个值，对于该值直流电平DC基本位于电平A1和A2间的中点，就能够得到最佳写入强度的设定值。
参看图9a描述对上述确定最佳强度的方法的改进。根据这一方法，为了确定最佳强度，记录一信息模式，该模式包含多个子模式70，每个子模式70以包含由占空比为50%的写入信号记录的一短作用58和一短的中间区域59，该信息模式还包括另一个子模式71，该子模式又包含也由占空比为50%的写入信号记录的较长的作用58和较长的中间区域59，选择子模式70的数目远大于子模式71的数目。图9a还表示进行读出时由光读出设备获得的读出信号V1。
选择子模式70的大小使得读出信号V1中相应于这些子模式的信号分量的幅值远小于相应于子模式71的信号分量的幅值。通过选择于子模式70的大小使得仅有该模式的一次谐波位于光扫描设备的光 截止频率之下就能达到上述目的。这样选择子模式71的大小使得至少该模式的一次和二次谐波都位于上述光截止频率之下。读出信号V1中的直流电平DC主要由相应于子模式70的信号分量来决定。读出信号V1的最大值A1和最小值A2这间的差值仅由相应于子模式71的值来决定。由于写入功率Is的变化对子模式70的作用58和中间区间59的长度之间的比值的影响远大于对子模式71的相应长度之间的比值的影响，所以在图9a所示的方法中的直流电平DC对写入电平的变化更敏感，图8中的读出信号V1的幅值对信息模式中的所有子模式都是一样的。所有这一切都表示根据图9a所示的方式能够更精确地确定最佳写入功率。
除了图9a所示的已被以最佳写入强度记录的信息模式外，类似的已被以太低的和太高的写入电平记录的信息模式分别表示于图9b和图9c，由图9显而易见，最佳写入强度情形中的直流电平DC又基本位于信号V1中的最大信号值（A1）和最小信号值（A2）的中间，而在写入电平太低或太高的情况中，直流电平DC分别位于中点之上或之下，图9所示的信息模式仅是可能的信息模式中的一个，这种信息模式由相对较大数目的包含短的作用和中间区域的子模式和相对较小数目的包含长的作用和中间区域的子模式所组成。相应于满足CD标准的EFM信号的模式也是一种非常合适的子模式，这种模式包含相应于至少3比特（I3作用）和至多11比特（I11作用）的长度的区域，这种EFM模式中所有作用的三分之一是I3作用，而所有作用的仅4%是I11作用。I3作用的大小使得仅这些作用的基波位于光读出系统的光截止频率之下，I11作用的大小使得至少其一次，2次和3次谐波位于光截止频率之下。
图10表示分析电路65的实例，通过该电路可以读出信号V1中获得分析信号Va以便表明直流电平DC偏离相应于最佳写入强度的电平的程度。图1的分析电路10包括一用于确定读出信号V1中的直流电平DC低通滤波器80，该分析电路10还包括一用于确定读出信号V1中的最大值A1的正峰值检测器81和一用于确定读出信号V1中的最小值A2的负峰值检测器82。峰值检测器81和82的输出信号被输入到加法器电路83的非反相输入端，而经两倍放大后的低通滤波器80的输出信号被输入到加法器电路83的反相输入端，因此，加法器电路的构成分析信号Va的输出信号就等于Va＝A1+A2-2DC，由此表示了信号值DC偏离最大信号值A1和最小信号值A2的平均值的程度。
关于其它合适的分析电路的实例请参看LN-A-8901591（PHN12.994）。如果用读出信号中的二次谐波失真作为所使用的模式的质量的量度，分析电路可包括一通用的2次谐波检测器。
需要指出本发明不限于光记录设备而是也可应用于其它记录设备，例如磁记录设备或利用于可重写类型的记录载体，但本发明特别适用于一次写类型的记录载体。

Claims (9)

1、给记录载体提供信息模式的方法，在该方法中对影响形成的信息模式的质量的至少一个与记录载体有关的参量进行调整，其特征在于从许多预定的可允许的校正区域中选择一个校正区域，对不同的参量设置在所选择的校正区域中形成测试模式，在形成的测试模式的基础上根据预定的标准确定参量的最佳设置，在信息模式形成期间将参量调整为上述最佳设备。
2、根据权利要求1的方法，其特征在于对每个校正区域指定一个从属区域，形成从属模式，每当确定最佳设置时就在为用于确定最佳设置的校正区域而指定的从属区域中根据记录在从属区域中的从属模式选择校正区域。
3、根据权利要求2的方法，其特征在于从属区域的尺寸小于校正区域的尺寸。
4、根据权利要求1、2或3的方法，其特征在于已给所用的记录载体提供了地址，通过预定的地址确定测试区域和从属区域。
5、根据权利要求1、2或3的方法，其特征在于选择校正区域时总是选择立即跟随一个还没有被提供测试模式的区域的校正区域。
6、根据权利要求1、2或3的方法，其特征在于所用的记录载体能够利用信息模式记录有限数目的信息信号，校正区域的数目至少等于信息信号的上述数目。
7、一种信息记录设备，用以在记录载体上记录信息，该记录载体的上面有一系列校正区域，所述设备包括：
写入装置用以在记录载体上记录相应于待记录的信息的信息模式，
调整装置用以根据一个控制信号调整该写入装置的参量，该参量影响记录的信息模式的质量，
读出装置用以读出记录在记录载体上的信息模式所代表的信息，该信息记录设备的特征在于，
选择装置用以从那些所述系列的校正区域中选择一个校正区域，那些校正区域以前未曾为用于记录而被选择，
用以控制所述写入装置的控制装置以记录在选择的校正区域中的多个测试信息模式，各在所述记录参量的不同设置，
用以控制所述读出装置的控制装置以读出由记录在选择的校正区域中的多个测试信息模式所代表的测试信息，
分析装置用以从读出的测试信息导出一个分析信号，该分析信号代表记录的信息模式的质量，
确定装置用以根据分析信号确定所述参量的最佳设置且给调整装置提供一个相应的控制信号。
8、根据权利要求7的信息记录设备，其特征在于使在为所选择的校正区域而指定的从属区域中记录从属模式的装置，上述选择装置根据在从属区域中形成的从属模式选择上述校正区域。
9、根据权利要求7或8的信息记录设备，其特征在于选择校正区域的装置选择在还没有被提供测试模式的区域之前的校正区域。
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