JPH03102679A - 情報パターンを具える記録担体を設ける方法及び装置 - Google Patents
情報パターンを具える記録担体を設ける方法及び装置Info
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- JPH03102679A JPH03102679A JP2162976A JP16297690A JPH03102679A JP H03102679 A JPH03102679 A JP H03102679A JP 2162976 A JP2162976 A JP 2162976A JP 16297690 A JP16297690 A JP 16297690A JP H03102679 A JPH03102679 A JP H03102679A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、形成された情報パターンの品質に影響があり
記録担体に依存する少なくとも１つのパラメータが調整
されるような情報パターンを持つ記録担体を設ける方法
に関する。
記録担体に依存する少なくとも１つのパラメータが調整
されるような情報パターンを持つ記録担体を設ける方法
に関する。
本発明はさらに、情報パターンを具えた記録担体を設け
るための書き込み手段と該書き込み手段を調整するため
の手段とを有する情報記録装置に関する。
るための書き込み手段と該書き込み手段を調整するため
の手段とを有する情報記録装置に関する。
このような方法とこのような装置は、とくにヨーロッパ
特許出願第ＥＰ−Ａ−０．２８８． １１４号により既
知である。そこに記載の方法及び装置は記録担体を構築
している間の調整データ、とりわけ書き込み手順及び書
き込み強度、を具備した記録担体を使用している。記録
担体が情報記録装置に挿入された後、調整データは記録
担体から読み出され、書き込み手段はこうして読み出さ
れた調整データに一致するよう調整される。
特許出願第ＥＰ−Ａ−０．２８８． １１４号により既
知である。そこに記載の方法及び装置は記録担体を構築
している間の調整データ、とりわけ書き込み手順及び書
き込み強度、を具備した記録担体を使用している。記録
担体が情報記録装置に挿入された後、調整データは記録
担体から読み出され、書き込み手段はこうして読み出さ
れた調整データに一致するよう調整される。
然るに、従来技術の不都合な点として、調整された結果
としての書・き込み手段は必ずしも最適のものではない
。その結果、記録された情報パターンの大きさには偏り
があり、従って記録された情報は常に信頼をもって読み
出されるとは限らない。
としての書・き込み手段は必ずしも最適のものではない
。その結果、記録された情報パターンの大きさには偏り
があり、従って記録された情報は常に信頼をもって読み
出されるとは限らない。
本発明の目的は最初に述べた情報記録装置の書き込み手
段の調整を改良することである。
段の調整を改良することである。
この目的を達戒するため、方法としては、予め定められ
た較正区域の多数の可能性の内から１つの較正区域が選
定され、該選定された較正区域内で異なるパラメータ設
定に対してテスト・パターンが形成され、パラメータの
最適設定は、上記のように形成されたテスト・パターン
に基づいて予め定められた判定基準に従って定められ、
パラメータは、情報パターンの形成される間に上記最適
設定に一致するよう調整されるのである。
た較正区域の多数の可能性の内から１つの較正区域が選
定され、該選定された較正区域内で異なるパラメータ設
定に対してテスト・パターンが形成され、パラメータの
最適設定は、上記のように形成されたテスト・パターン
に基づいて予め定められた判定基準に従って定められ、
パラメータは、情報パターンの形成される間に上記最適
設定に一致するよう調整されるのである。
また、この目的を達成するため、装置としては、該装置
は、記録担体上の予め定められた多数の較正区域から１
つの較正区域を選定するための選択手段を有し、選定さ
れた較正区域内で異なる書き込み手段の設定に対してテ
スト・パターンが形成されるようにする手段を有し、こ
うして形成されたテスト・パターンに基づいて最適設定
を選択するための手段を有し、また報パターンの形成さ
れる間に選定された最適設定に一致して書き込み手段が
調整されるようにする手段を有するものとする。
は、記録担体上の予め定められた多数の較正区域から１
つの較正区域を選定するための選択手段を有し、選定さ
れた較正区域内で異なる書き込み手段の設定に対してテ
スト・パターンが形成されるようにする手段を有し、こ
うして形成されたテスト・パターンに基づいて最適設定
を選択するための手段を有し、また報パターンの形成さ
れる間に選定された最適設定に一致して書き込み手段が
調整されるようにする手段を有するものとする。
本発明はとりわけ、書き込み手段の最適設定は使用され
る記録担体及び使用される情報記録装置に強く依存して
いるという事実をｍ２することに立脚している。けれど
も、記録担体と記録装置との特定の組合せに対しては、
記録担体の全記録領域に亙って最適設定がほぼ一定なこ
とが判っている。
る記録担体及び使用される情報記録装置に強く依存して
いるという事実をｍ２することに立脚している。けれど
も、記録担体と記録装置との特定の組合せに対しては、
記録担体の全記録領域に亙って最適設定がほぼ一定なこ
とが判っている。
従って、本発明の装置の調整データの決定は、記録担体
の全記録領域に対して最適と考える事ができる。さらに
、多数の較正区域を用いることは、最適設定を数回、例
えば、記録担体が記録装置に搭載される度毎に決定する
ことを可能とする。このことは重ね書きの出来ない同形
式の記録担体が多数の異なる情報記．録装置中に用いら
れる時に特に有利である。そのとき複数の較正区域を用
いることは、各情報記録装置に対して最適設定を決定す
ることを可能とする。原則として、用いようとする較正
区域は、どの記録領域が既にテスト・パターンを具えて
設けられているかを検出することにより選定できる．こ
れの不都合は、設定が最適の間はテスト・パターンが形
成されていないので、テスト・パターンの存在の信頼で
きる検出が保証出来ないことである．さらに、未使用の
較正区域の探索は、較正区域の合計の長さの故に、かな
りの時間を必要とするであろう。
の全記録領域に対して最適と考える事ができる。さらに
、多数の較正区域を用いることは、最適設定を数回、例
えば、記録担体が記録装置に搭載される度毎に決定する
ことを可能とする。このことは重ね書きの出来ない同形
式の記録担体が多数の異なる情報記．録装置中に用いら
れる時に特に有利である。そのとき複数の較正区域を用
いることは、各情報記録装置に対して最適設定を決定す
ることを可能とする。原則として、用いようとする較正
区域は、どの記録領域が既にテスト・パターンを具えて
設けられているかを検出することにより選定できる．こ
れの不都合は、設定が最適の間はテスト・パターンが形
成されていないので、テスト・パターンの存在の信頼で
きる検出が保証出来ないことである．さらに、未使用の
較正区域の探索は、較正区域の合計の長さの故に、かな
りの時間を必要とするであろう。
何個の情報信号が既に記録担体上に記録されているかを
詳記する内容一覧表があるならば、使用されている較正
区域の最大数は、各情報信号を記録するのに対し最適設
定がただ１回だけ決定されているに違いないという前提
の下に、この一覧表の内容から得ることができる．そう
すれば、その数を基礎にして較正区域の不明確ならざる
選定が常に可能である。最後に言及した選択方法は、一
旦最適設定が決定されてしまうと情報信号を記録するこ
とをやめることが許されないという不都合がある。これ
は最適設定の決定過程を信号が記録されるということが
絶対に確定的になるまで遅らせなければならないことを
意味する。これは情報信号の記録に更に余分の遅れをも
たらすであろう。
詳記する内容一覧表があるならば、使用されている較正
区域の最大数は、各情報信号を記録するのに対し最適設
定がただ１回だけ決定されているに違いないという前提
の下に、この一覧表の内容から得ることができる．そう
すれば、その数を基礎にして較正区域の不明確ならざる
選定が常に可能である。最後に言及した選択方法は、一
旦最適設定が決定されてしまうと情報信号を記録するこ
とをやめることが許されないという不都合がある。これ
は最適設定の決定過程を信号が記録されるということが
絶対に確定的になるまで遅らせなければならないことを
意味する。これは情報信号の記録に更に余分の遅れをも
たらすであろう。
上記選択方法の不都合は、各較正区域に１つの補助区域
が割り当てられ、最適設定が定められる度毎に、最適設
定を定めるために用いられる較正区域に割り当てられた
補助区域内に補助パターンが形成され、較正区域は補助
区域内に記録されている補助パターンに基づいて選定さ
れることを特徴とする方法を用いて解消される。
が割り当てられ、最適設定が定められる度毎に、最適設
定を定めるために用いられる較正区域に割り当てられた
補助区域内に補助パターンが形成され、較正区域は補助
区域内に記録されている補助パターンに基づいて選定さ
れることを特徴とする方法を用いて解消される。
補助区域の使用は常に、どの較正区域が既に使われてい
るかを不明確でなく決定することを可能なものとする。
るかを不明確でなく決定することを可能なものとする。
補助区域の大きさは較正区域の大きさよりもかなり小さ
いから、未使用の較正区域の選定は、較正区域それ自身
に基づくよりも補助区域に基づいて進める方が遥かに速
やかに進めることができる。
いから、未使用の較正区域の選定は、較正区域それ自身
に基づくよりも補助区域に基づいて進める方が遥かに速
やかに進めることができる。
較正区域の位置を．決める目的で以前に与えられたアド
レス情報を持っている記録担体が用いられるならば、使
われている較正区域がテスト・パターンを具える区域に
直ぐ続いていると有利である。
レス情報を持っている記録担体が用いられるならば、使
われている較正区域がテスト・パターンを具える区域に
直ぐ続いていると有利である。
実際、テスト・パターンが形成されるとき、アドレス情
報はそれを正確に読み出すことが最早保証されない程度
にまで破壊されるかも知れない。破壊されたアドレス情
報を持つ区域の後すぐ近くに位置する区域を決めること
には問題がある。その較正区域がテスト・パターンを供
給する前もって形成されたサーボ・トラックの一部を形
成する記録担体を用いるときには、該トラックもまた正
確なトラック追跡が保証されない程度にまで破壊される
ようになるかも知れない。
報はそれを正確に読み出すことが最早保証されない程度
にまで破壊されるかも知れない。破壊されたアドレス情
報を持つ区域の後すぐ近くに位置する区域を決めること
には問題がある。その較正区域がテスト・パターンを供
給する前もって形成されたサーボ・トラックの一部を形
成する記録担体を用いるときには、該トラックもまた正
確なトラック追跡が保証されない程度にまで破壊される
ようになるかも知れない。
較正区域の数は、記録担体土に記録できる情報信号の最
大数より大きいか等しいように選択するのが好適である
。（この数はＣＤ信号を記録する場合は１００である。
大数より大きいか等しいように選択するのが好適である
。（この数はＣＤ信号を記録する場合は１００である。
）このことは調整を決定するための較正区域が、記録す
べき各情報信号に対して可能なことを保証する。
べき各情報信号に対して可能なことを保証する。
第１図は本発明の情報記録装置の実施例を実例によって
示す。本実施例は記録装置であって、それを用いて情報
が記録担体１、例えば軸２の周りを回転する光学的記録
担体に記録できる。情報記録装置は回転する記録担体工
に向かい合って配置された普通の読み出し／書き込みヘ
ッド３を有する．例えばモータ４とスピンドル５ａの形
体を採る普通の位置極めシステムを用いて、読み出し／
書き込みヘッド３は、例えばマイクロプロセッサを持つ
普通の制御ユニット５の制御の下に、記録担体１の半径
方向へ移動できる。
示す。本実施例は記録装置であって、それを用いて情報
が記録担体１、例えば軸２の周りを回転する光学的記録
担体に記録できる。情報記録装置は回転する記録担体工
に向かい合って配置された普通の読み出し／書き込みヘ
ッド３を有する．例えばモータ４とスピンドル５ａの形
体を採る普通の位置極めシステムを用いて、読み出し／
書き込みヘッド３は、例えばマイクロプロセッサを持つ
普通の制御ユニット５の制御の下に、記録担体１の半径
方向へ移動できる。
記録されるべき情報信号Ｖｉは入力点６を通って信号処
理回路７に与えられる。信号処理回路７も普通の形式の
もので、与えられた入力信号を、例えばＣＤフォーマッ
トかＲＤＡＴ−フォーマットのような適切な記録フォー
マットの記録信号Ｖｏｐに変換する。記録信号Ｖｏｐは
普通の形式の駆動回路８に与えられ、そこで記録信号Ｖ
ｏｐは、それに対応する情報パターンが記録担体上に記
録されるようなやり方で、読み出し・／書き込みヘッド
３に対ずる駆動信号Ｖｓに変換される。記録された情報
パターンを読み出す目的のために、読み出し／書き込み
ヘッド３は、読み出された情報パターンを表す読み取っ
た信号ｖ１を供給するための出力点を持っている。読み
出された信号ｖ１は該信号により表される情報を復原す
るために読み取り回路９に与えられる。駆動回路８は調
整可能なタイプのもので、記録された情報パターンの品
質がそれによって影響され得るような１つ又はそれ以上
のパラメータを調整することができる。光学的読み出し
／書き込みヘッドが用いられ、それによって輻射線ビー
ムで光学的に検出できる情報パターンが形成されるとき
には、該輻射線ビームの強さが重要なパラメータであっ
て、それが情報パターンの品質を大きく支配する。もし
読み出し／書き込みヘッドが磁気的又は磁気光学的書き
込みヘッドであって、それが磁気効果の形体（領域）で
情報パターンを形成する目的で磁場を生戒するならば、
生戒された磁場の強さは重要な調整パラメータであろう
。
理回路７に与えられる。信号処理回路７も普通の形式の
もので、与えられた入力信号を、例えばＣＤフォーマッ
トかＲＤＡＴ−フォーマットのような適切な記録フォー
マットの記録信号Ｖｏｐに変換する。記録信号Ｖｏｐは
普通の形式の駆動回路８に与えられ、そこで記録信号Ｖ
ｏｐは、それに対応する情報パターンが記録担体上に記
録されるようなやり方で、読み出し・／書き込みヘッド
３に対ずる駆動信号Ｖｓに変換される。記録された情報
パターンを読み出す目的のために、読み出し／書き込み
ヘッド３は、読み出された情報パターンを表す読み取っ
た信号ｖ１を供給するための出力点を持っている。読み
出された信号ｖ１は該信号により表される情報を復原す
るために読み取り回路９に与えられる。駆動回路８は調
整可能なタイプのもので、記録された情報パターンの品
質がそれによって影響され得るような１つ又はそれ以上
のパラメータを調整することができる。光学的読み出し
／書き込みヘッドが用いられ、それによって輻射線ビー
ムで光学的に検出できる情報パターンが形成されるとき
には、該輻射線ビームの強さが重要なパラメータであっ
て、それが情報パターンの品質を大きく支配する。もし
読み出し／書き込みヘッドが磁気的又は磁気光学的書き
込みヘッドであって、それが磁気効果の形体（領域）で
情報パターンを形成する目的で磁場を生戒するならば、
生戒された磁場の強さは重要な調整パラメータであろう
。
もし情報パターンが書き込みパルスを用いて形成される
ならば、パルス幅が重要な調整パラメータであろう。な
お今いった調整パラメータは可能性のある極めて多数の
調整パラメータのほんの二、三の例に過ぎないことに留
意されたい。これについては特にオランダ国特許出願第
９０００１５０号にあるように、調整パラメータは効果
が形成される速度の規準値である。効果を形成している
間は、書き込みビームは調整された規準値で効果が形成
される速度を維持するように制御される。
ならば、パルス幅が重要な調整パラメータであろう。な
お今いった調整パラメータは可能性のある極めて多数の
調整パラメータのほんの二、三の例に過ぎないことに留
意されたい。これについては特にオランダ国特許出願第
９０００１５０号にあるように、調整パラメータは効果
が形成される速度の規準値である。効果を形成している
間は、書き込みビームは調整された規準値で効果が形成
される速度を維持するように制御される。
駆動回路８の最適設定を定めるために、記録装置は解析
回路１０を有し、これが読み取り信号から読み取られた
情報パターンの品質を示す解析信号Ｖａを得る。最適設
定は、記録担体１上の駆動回路の異なる設定に対するテ
スト情報パターンを形成し、次いで解析信号Ｖａに立脚
して該解析信号が最適品質を示した設定を選択すること
による較正過程において定めることができる。原則とし
てテスト情報パターンの書き込みには情報信号Ｖｉが用
いられる。しかしこの目的でテスト信号生或器１ｌを用
いることも可能であって、その場合にはそれは例えば信
号処理回路７に含まれよう。最適設定は、もし制御ユニ
ット１５が存在するならその制御の下に定められ、それ
はこの目的のために解析回路１０、駆動回路８及びテス
ト信号生或器１１に結合しており、かつ該制御ユニット
は適切なプログラムを搭載しているか又は適切なハード
ウェア回路を有している。好適には最適設定は較正過程
において定められ、それは記録担体が情報記録装置に挿
入された後に実行される。
回路１０を有し、これが読み取り信号から読み取られた
情報パターンの品質を示す解析信号Ｖａを得る。最適設
定は、記録担体１上の駆動回路の異なる設定に対するテ
スト情報パターンを形成し、次いで解析信号Ｖａに立脚
して該解析信号が最適品質を示した設定を選択すること
による較正過程において定めることができる。原則とし
てテスト情報パターンの書き込みには情報信号Ｖｉが用
いられる。しかしこの目的でテスト信号生或器１ｌを用
いることも可能であって、その場合にはそれは例えば信
号処理回路７に含まれよう。最適設定は、もし制御ユニ
ット１５が存在するならその制御の下に定められ、それ
はこの目的のために解析回路１０、駆動回路８及びテス
ト信号生或器１１に結合しており、かつ該制御ユニット
は適切なプログラムを搭載しているか又は適切なハード
ウェア回路を有している。好適には最適設定は較正過程
において定められ、それは記録担体が情報記録装置に挿
入された後に実行される。
最適設定を定めるために記録担体は、その上の予め定め
られた位置にある多数の較正区域を設けている。その位
置は例えば情報パターンを記録しようとするサーボ・ト
ラックの始めである。第２図はサーボ・トラック２０を
直線形で図式的に示した説明図である。サーボ・トラッ
ク２０は情報信号を記録しようとする区域ＰＡを持って
いる。区域ＰＡの前にある区域ＴＡに最適調整を定める
目的でテスト・パターンを入れることにする。区域ＴＡ
を較正区域２１ａ．・・・，２１ｄに分割し、その各が
較正過程を実行するのに適した長さとする。較正過程が
始まる時に、較正区域２１のうちの未使用のものが選択
され、次いで異なる調整パラメータの設定をその選択さ
れた較正区域２１に記録する。これらのテスト・パター
ンが読み出されてそのとき生威された解析信号Ｖａに基
づいて最適調整が選択される。較正過程の開始時におい
て未使用の較正区域の選択は多数の異なるやり方で行う
ことができる。例えば較正区域を読み出してそこに情報
パターンがあるかどうかを検索することが可能である。
られた位置にある多数の較正区域を設けている。その位
置は例えば情報パターンを記録しようとするサーボ・ト
ラックの始めである。第２図はサーボ・トラック２０を
直線形で図式的に示した説明図である。サーボ・トラッ
ク２０は情報信号を記録しようとする区域ＰＡを持って
いる。区域ＰＡの前にある区域ＴＡに最適調整を定める
目的でテスト・パターンを入れることにする。区域ＴＡ
を較正区域２１ａ．・・・，２１ｄに分割し、その各が
較正過程を実行するのに適した長さとする。較正過程が
始まる時に、較正区域２１のうちの未使用のものが選択
され、次いで異なる調整パラメータの設定をその選択さ
れた較正区域２１に記録する。これらのテスト・パター
ンが読み出されてそのとき生威された解析信号Ｖａに基
づいて最適調整が選択される。較正過程の開始時におい
て未使用の較正区域の選択は多数の異なるやり方で行う
ことができる。例えば較正区域を読み出してそこに情報
パターンがあるかどうかを検索することが可能である。
較正区域の長さを考えればそれにはかなりの時間が掛か
るかも知れない。さらに、テスト・パターンの読み出し
は、テスト・パターンを入れることによりサーボ・トラ
ックが局所的トラック追跡の最早不可能な程度にまで破
壊されるかも知れないので、問題であろう。既に記録さ
れている情報信号の数がサーボ・トラック２０の一部に
示されている時に、もし各情報信号を記録するのに対し
最適調整の決定に唯ｌつの較正区域しか必要としないな
ら、それによって既に使用されている較正区域の最大数
は判っているだろう。もし較正区域の一連番号が既に記
録されている情報信号の数に１を足した番号の較正区域
を較正過程で選択することにすれば、未使用の較正区域
を見出すことは常に簡単であろう。しかしその場合、情
報信号が毎回最適設定の定められた後で実際に記録され
るということに注意を払わなければならない。これは、
内容の一覧表中で特定された記録されている情報信号の
数に対応する較正区域が実際に未使用であることを保証
するためである。
るかも知れない。さらに、テスト・パターンの読み出し
は、テスト・パターンを入れることによりサーボ・トラ
ックが局所的トラック追跡の最早不可能な程度にまで破
壊されるかも知れないので、問題であろう。既に記録さ
れている情報信号の数がサーボ・トラック２０の一部に
示されている時に、もし各情報信号を記録するのに対し
最適調整の決定に唯ｌつの較正区域しか必要としないな
ら、それによって既に使用されている較正区域の最大数
は判っているだろう。もし較正区域の一連番号が既に記
録されている情報信号の数に１を足した番号の較正区域
を較正過程で選択することにすれば、未使用の較正区域
を見出すことは常に簡単であろう。しかしその場合、情
報信号が毎回最適設定の定められた後で実際に記録され
るということに注意を払わなければならない。これは、
内容の一覧表中で特定された記録されている情報信号の
数に対応する較正区域が実際に未使用であることを保証
するためである。
上記の選択方法の不都合は、その較正区域が未使用であ
る記録担体上の別の区域を指示することによって緩和す
ることができる。これは例えば、各較正過程の後で較正
区域がいくつ既に使用されているかを示す信号を記録す
ることによって可能である。また、各較正区域に補助区
域を割当て、較正区域の使用後にそれに付随する補助区
域内に補助パターンを形成することも可能である。第２
図の区域ＣＡに、較正区域に割当てられた補助区域が引
照番号２２ａ，・・・，２２ｄを付されている。この場
合、補助区域中に補助パターンが存在するかどうかを検
出することにより、未使用の較正区域を選択することが
できる。サーボ・トラック２０内の較正区域２１及び補
助区域２２の位置はアドレスで特定することができ、該
アドレスは例えばサーボ・トラックに記録されている。
る記録担体上の別の区域を指示することによって緩和す
ることができる。これは例えば、各較正過程の後で較正
区域がいくつ既に使用されているかを示す信号を記録す
ることによって可能である。また、各較正区域に補助区
域を割当て、較正区域の使用後にそれに付随する補助区
域内に補助パターンを形成することも可能である。第２
図の区域ＣＡに、較正区域に割当てられた補助区域が引
照番号２２ａ，・・・，２２ｄを付されている。この場
合、補助区域中に補助パターンが存在するかどうかを検
出することにより、未使用の較正区域を選択することが
できる。サーボ・トラック２０内の較正区域２１及び補
助区域２２の位置はアドレスで特定することができ、該
アドレスは例えばサーボ・トラックに記録されている。
だがこれらの区域の位置は別のやり方、例えばディスク
形の記録担体の回転の中心から予め定められた距離にこ
れらの区域を配置する等で特定してもよい。
形の記録担体の回転の中心から予め定められた距離にこ
れらの区域を配置する等で特定してもよい。
較正区域の選択のために、制御ユニットには適切なプロ
グラムが搭載されている。第３図にはそんなプログラム
のフロウ・チャートの一例が示されている．該プログラ
ムは、最適設定が再び決定されるべき時、例えば記録担
体が情報記録装置に搭載される度毎に、格納場所から取
り出される。
グラムが搭載されている。第３図にはそんなプログラム
のフロウ・チャートの一例が示されている．該プログラ
ムは、最適設定が再び決定されるべき時、例えば記録担
体が情報記録装置に搭載される度毎に、格納場所から取
り出される。
該プログラムは、制御ユニット５０制御下に区域ＣＡの
最初の位置を見出すステップＢ１を持ち、区域ＣＡに達
したらステップＢ２で区域ＣＡの読み出しを開始し、区
域ＣＡの内部で読み出された補助区域内に補助パターン
が存在するかどうかをチェックする．補助パターンが記
録．されていない補助区域が検出されたなら、それに付
随する較正区域の最初の位置のアドレスが、検出された
補助区域のアドレスに基づいて、例えば較正区域の最初
のアドレスとそれに割当てられた補助区域のアドレスと
の関係を特定するテーブルを用いて、ステップＢ３で得
られる。続いて、こうして定められたアドレスをもつ較
正区域が制御ユニット５の制御下にステップＢ４で見出
され、ステップＢ５で較正過程が実行される。ステップ
Ｂ５の後で、当該較正区域に割当てられた補助区域内に
補助パターンがステップＢ６で形成される。補助パター
ンを記録するためには、記録装置に与えられたテスト信
号又は情報信号ｖｉを用いることができる。
最初の位置を見出すステップＢ１を持ち、区域ＣＡに達
したらステップＢ２で区域ＣＡの読み出しを開始し、区
域ＣＡの内部で読み出された補助区域内に補助パターン
が存在するかどうかをチェックする．補助パターンが記
録．されていない補助区域が検出されたなら、それに付
随する較正区域の最初の位置のアドレスが、検出された
補助区域のアドレスに基づいて、例えば較正区域の最初
のアドレスとそれに割当てられた補助区域のアドレスと
の関係を特定するテーブルを用いて、ステップＢ３で得
られる。続いて、こうして定められたアドレスをもつ較
正区域が制御ユニット５の制御下にステップＢ４で見出
され、ステップＢ５で較正過程が実行される。ステップ
Ｂ５の後で、当該較正区域に割当てられた補助区域内に
補助パターンがステップＢ６で形成される。補助パター
ンを記録するためには、記録装置に与えられたテスト信
号又は情報信号ｖｉを用いることができる。
較正区域内にテスト・パターンが形成されると、テスト
・パターンに続くアドレス情報が最早信頼できるやり方
で読み出すことができない程度にまで完全さを損なわれ
ることもあると言うことに留意されたい。従って常に、
テスト・パターンが未だ設けられていない区域の後の較
正区域を使うというやり方で、較正区域２１を選択する
のが好適である。それは例えば一番目の較正過程では最
後の較正区域２１ｄを用い、次には較正区域２１内の前
回使った較正区域の直前の区域を毎回用いることにより
簡単に達威される。
・パターンに続くアドレス情報が最早信頼できるやり方
で読み出すことができない程度にまで完全さを損なわれ
ることもあると言うことに留意されたい。従って常に、
テスト・パターンが未だ設けられていない区域の後の較
正区域を使うというやり方で、較正区域２１を選択する
のが好適である。それは例えば一番目の較正過程では最
後の較正区域２１ｄを用い、次には較正区域２１内の前
回使った較正区域の直前の区域を毎回用いることにより
簡単に達威される。
第４図に更に詳細な情報記録装置の実施例を一例として
掲げる。これは標準ＣＯ信号が光学的記録担体１１６上
に光学的に記録できるようなタイプのものである。光学
的記録担体１１６は、輻射線に感応する例えばフェーズ
変化素材すなわち染色（ｄｙｅ）の層を具えたタイプの
ものでもよく、該層に情報パターンを記録したいサーボ
・トラックが設けられている。
掲げる。これは標準ＣＯ信号が光学的記録担体１１６上
に光学的に記録できるようなタイプのものである。光学
的記録担体１１６は、輻射線に感応する例えばフェーズ
変化素材すなわち染色（ｄｙｅ）の層を具えたタイプの
ものでもよく、該層に情報パターンを記録したいサーボ
・トラックが設けられている。
上記のタイプの記録担体は、とりわけオランダ国特許出
願第８８００１５１号、オランダ国特許出願第８９００
７６６号、オランダ国特許出願第８９０１１４５号に包
括的に記載されており、参考資料として益に引用する。
願第８８００１５１号、オランダ国特許出願第８９００
７６６号、オランダ国特許出願第８９０１１４５号に包
括的に記載されており、参考資料として益に引用する。
これらの特許出願に記載の記録担体は千鳥トラック（ｔ
ｒａｃｋ−ｗｏｂｂｌｅ）の形体の変形トラックを持ち
、周波数は絶対時間符号ＡＴＩＰの形体でアドレスを表
すアドレス．信号と一致して変調されている。普通のタ
イプの光学的読み出し／書き込みへッド１０５が回転す
る記録担体１１６に向かい合って配置され、例えばモー
タ１０３とスピンドル１０４の形体を採る位置極めシス
テムを用いて、記録担体１１６の半径方向へ移動できる
。もしそうしたければ、読み出し／書き込みヘッド１０
５は情報パターンを記録するのにも情報パターンを読み
出すのにも用いることができる。この目的で読み出し／
書き込みへッド１０５は輻射線ビーム１０７ａを生或す
る半導体レーザを有し、該輻射線ビーム１０７ａの強さ
は駆動回路１０７を用いて可変であり、このことは例え
ばオランダ国特許出願第８９０１５９１号に詳しく記載
されているので、参考資料として益に引用する。既知の
やり方で輻射線ビーム１０７ａは記録担体１ｌ゛６のサ
ーボ・トラックを指向する。該ビーム１０７ａは記録担
体１１６から一部分反射する、そしてその反射したビー
ムは千鳥トラックと一致して、また情報パターンが存在
するならば情報パターンとも一致して変調される。反射
したビームは輻射線に感応する検出器１０８ａの方へ向
かい、該検出器１０８ａはビーム変調に対応する読み出
し信号Ｖｌを生或する。信号ｖ１は、千鳥トラックによ
り生戒されて名目上の走査速度で約２２ｋＦＩｚという
周波数を持つコンボネントを有する。モータ１００を制
御するためのモータ制御回路１０８を用いて、千鳥トラ
ックによって読み出し信号Ｖｌ内に生成されるコンボネ
ントがほぼ２２ｋＨｚに維持されるように、モータの速
度が制御される。読み出し信号Ｖｌは検出回路１０９に
も与えられ、そこでは千鳥トラックによって読み出し信
号ＶＩ内に生或されるコンボネントからライム符号（ｒ
ｉｍｅ ｃｏｄｅ） ＡＴＴＰを得て、これらの符号を
例えばマイクロコンピュータ１１０を持つ制御ユニット
に与える。さらに読み出し信号Ｖｌは、千鳥トラックに
よって読み出し信号Ｖｌ内に生威された信号コンボネン
トを拒絶するための高城通過特性を持つ増幅回路１１１
に与えられる。こうして低周波コンボネントを除去され
た読み出し信号νＩは、読み出された情報パターンの品
質を示す解析回路６５に与えられる。解析回路の一例を
以下に詳細に説明する。解析．回路６５の出力点にある
解析信号Ｖａもマイクロコンピュータ１１０に与えられ
る。
ｒａｃｋ−ｗｏｂｂｌｅ）の形体の変形トラックを持ち
、周波数は絶対時間符号ＡＴＩＰの形体でアドレスを表
すアドレス．信号と一致して変調されている。普通のタ
イプの光学的読み出し／書き込みへッド１０５が回転す
る記録担体１１６に向かい合って配置され、例えばモー
タ１０３とスピンドル１０４の形体を採る位置極めシス
テムを用いて、記録担体１１６の半径方向へ移動できる
。もしそうしたければ、読み出し／書き込みヘッド１０
５は情報パターンを記録するのにも情報パターンを読み
出すのにも用いることができる。この目的で読み出し／
書き込みへッド１０５は輻射線ビーム１０７ａを生或す
る半導体レーザを有し、該輻射線ビーム１０７ａの強さ
は駆動回路１０７を用いて可変であり、このことは例え
ばオランダ国特許出願第８９０１５９１号に詳しく記載
されているので、参考資料として益に引用する。既知の
やり方で輻射線ビーム１０７ａは記録担体１ｌ゛６のサ
ーボ・トラックを指向する。該ビーム１０７ａは記録担
体１１６から一部分反射する、そしてその反射したビー
ムは千鳥トラックと一致して、また情報パターンが存在
するならば情報パターンとも一致して変調される。反射
したビームは輻射線に感応する検出器１０８ａの方へ向
かい、該検出器１０８ａはビーム変調に対応する読み出
し信号Ｖｌを生或する。信号ｖ１は、千鳥トラックによ
り生戒されて名目上の走査速度で約２２ｋＦＩｚという
周波数を持つコンボネントを有する。モータ１００を制
御するためのモータ制御回路１０８を用いて、千鳥トラ
ックによって読み出し信号Ｖｌ内に生成されるコンボネ
ントがほぼ２２ｋＨｚに維持されるように、モータの速
度が制御される。読み出し信号Ｖｌは検出回路１０９に
も与えられ、そこでは千鳥トラックによって読み出し信
号ＶＩ内に生或されるコンボネントからライム符号（ｒ
ｉｍｅ ｃｏｄｅ） ＡＴＴＰを得て、これらの符号を
例えばマイクロコンピュータ１１０を持つ制御ユニット
に与える。さらに読み出し信号Ｖｌは、千鳥トラックに
よって読み出し信号Ｖｌ内に生威された信号コンボネン
トを拒絶するための高城通過特性を持つ増幅回路１１１
に与えられる。こうして低周波コンボネントを除去され
た読み出し信号νＩは、読み出された情報パターンの品
質を示す解析回路６５に与えられる。解析回路の一例を
以下に詳細に説明する。解析．回路６５の出力点にある
解析信号Ｖａもマイクロコンピュータ１１０に与えられ
る。
記録装置はさらに普通のＣＩＲＣ符号化回路１１２を有
し、記録すべき信号Ｖｉは、マイクロコンピュータ１１
０によって制御されるスイッチ１１５を経由してそれに
与えられる。ＣＩＲＣ符号化回路１１２は在来形のＥＦ
Ｍ変調器１１３に直列に配置される。該ＥＦＭ変調器は
駆動回路１０７に接続される出力点を持っている。駆動
回路１０７は９！通の制御可能なタイプで、記録された
情報パターンの品質に影響することのできるパラメータ
を、それを用いて調整できる。
し、記録すべき信号Ｖｉは、マイクロコンピュータ１１
０によって制御されるスイッチ１１５を経由してそれに
与えられる。ＣＩＲＣ符号化回路１１２は在来形のＥＦ
Ｍ変調器１１３に直列に配置される。該ＥＦＭ変調器は
駆動回路１０７に接続される出力点を持っている。駆動
回路１０７は９！通の制御可能なタイプで、記録された
情報パターンの品質に影響することのできるパラメータ
を、それを用いて調整できる。
そんなパラメータは例えば、情報パターンの形成中の輻
射線ビームの強さである。情報パターンが一定の長さの
輻射線パルスで形成されているときは、この長さは与え
られた情報パターンの品質に影響する重要なパラメータ
であろう。磁気光学的記録の場合は、輻射線ビームによ
って走査された記録担体区域内に生威された磁場の強さ
が重要なパラメータであろう。テスト・パターンを生或
する目的で記録装置ｌはテスト信号生威器１１４を有す
ることができ、それは例えば無作為なディジタル信号を
生或するか又はディジタル信号値０（ディジタル静寂）
に対応する信号を生成する。けれども、情報信号は原則
としてテスト・パターンの形成にも用い得ることに留意
されたい。信号生威器１１４により生戒される信号はス
イッチ１１５を介してＣＩＲＣ符号化回路１１２に与え
られる。スイッチ１１５は普通の形式のもので、制御ユ
ニット１１０から受け取った制御信号に依存して記録す
べき信号Ｖｉか信号生或器１１４の出力信号かを切り換
える。
射線ビームの強さである。情報パターンが一定の長さの
輻射線パルスで形成されているときは、この長さは与え
られた情報パターンの品質に影響する重要なパラメータ
であろう。磁気光学的記録の場合は、輻射線ビームによ
って走査された記録担体区域内に生威された磁場の強さ
が重要なパラメータであろう。テスト・パターンを生或
する目的で記録装置ｌはテスト信号生威器１１４を有す
ることができ、それは例えば無作為なディジタル信号を
生或するか又はディジタル信号値０（ディジタル静寂）
に対応する信号を生成する。けれども、情報信号は原則
としてテスト・パターンの形成にも用い得ることに留意
されたい。信号生威器１１４により生戒される信号はス
イッチ１１５を介してＣＩＲＣ符号化回路１１２に与え
られる。スイッチ１１５は普通の形式のもので、制御ユ
ニット１１０から受け取った制御信号に依存して記録す
べき信号Ｖｉか信号生或器１１４の出力信号かを切り換
える。
上述のように、テスト・パターンは記録担体１１６上の
アドレス可能な位置に記録するのが好適である．もし、
その記録担体上でサーボ・トラックが、内容の一時的テ
ーブル（Ｔｅ鴎ｐｏｒａｒｙ ＴＯＣ）を記録するため
の区域（ＰＭＡ）と内容の決定的なテーブル（ＴＯＣ）
を記憶するための区域（Ｌｅａｄ Ｉｎ Ａｒｅａ）と
プログラム区域（ＰＡ）とにこの順序で分割されている
上記オランダ国特許出願第８９００７６６号と一致して
記録担体１１６が構築されているなら、較正区域をもつ
区域ＰＣＡは内容の一時的テーブルを記録するための区
域（ＰＭＡ）に．先行する区域であることが好適である
。第５図はサーボ・トラック１１７のレイアウトを示す
説明図である。さらに第５図は、分、秒及びフレームで
表された絶対時間符号＾ＴＩＰを用いて示された各種区
域のアドレスをも示している。
アドレス可能な位置に記録するのが好適である．もし、
その記録担体上でサーボ・トラックが、内容の一時的テ
ーブル（Ｔｅ鴎ｐｏｒａｒｙ ＴＯＣ）を記録するため
の区域（ＰＭＡ）と内容の決定的なテーブル（ＴＯＣ）
を記憶するための区域（Ｌｅａｄ Ｉｎ Ａｒｅａ）と
プログラム区域（ＰＡ）とにこの順序で分割されている
上記オランダ国特許出願第８９００７６６号と一致して
記録担体１１６が構築されているなら、較正区域をもつ
区域ＰＣＡは内容の一時的テーブルを記録するための区
域（ＰＭＡ）に．先行する区域であることが好適である
。第５図はサーボ・トラック１１７のレイアウトを示す
説明図である。さらに第５図は、分、秒及びフレームで
表された絶対時間符号＾ＴＩＰを用いて示された各種区
域のアドレスをも示している。
例えば、プログラム区域（ＰＡ）の始めに対する絶対時
間符号ＡＴＩＰはｏ．ｏｏ．ｏｏである， Ｌｅａｄ
Ｉｎ Ａｒｅａの始めに対する絶対時間符号ＡＴＩＰは
ＴＳＬとマークされる．区域１゛Ａの始めにおける絶対
時間符号ＡＴＩＰはＴＬＩＡマイナス０．１３．２５に
等しいが、一方では区域Ｔ＾の始めはＴＬＩＡマイナス
０．３５．６５に等しい絶対時間符号を持っている。各
絶対時間符号ＡＴＩＰは１フレームに対応する長さのサ
ーボ・トラック部分をマークする。各較正区域２工に対
して多数の１５フレームが使用可能であり、各補助区域
２２に対して１フ゛レームが使用可能である。もし記録
担体が標準ＣＤ信号を記録するために用いられるなら、
使用可能な長さは、記録すべき各情報信号に対する較正
サイクルを実行するのに極めて十分である．これは、Ｃ
Ｄ標準に従えば異なる情報信号（トラック）の最大数は
１００だからである。テスト情報パターンが既に記録さ
れている区域内のＡＴＩＰ符号の読み出しが常に保証さ
れている訳ではないから、較正区域２ｌが使われるシー
クエンスは後から前へというのが、すなわち使われるべ
き第１の較正区域２１がＴ＾区域の最後（すなわちＣＡ
区域との境界の近く）に位置するのが、適切である。こ
のやり方で、光学的書き込み強度を定める為に用いられ
る区域よりテスト・パターンが未だ記録されていない比
較的大きい区域が常に先行することが達威される。
間符号ＡＴＩＰはｏ．ｏｏ．ｏｏである， Ｌｅａｄ
Ｉｎ Ａｒｅａの始めに対する絶対時間符号ＡＴＩＰは
ＴＳＬとマークされる．区域１゛Ａの始めにおける絶対
時間符号ＡＴＩＰはＴＬＩＡマイナス０．１３．２５に
等しいが、一方では区域Ｔ＾の始めはＴＬＩＡマイナス
０．３５．６５に等しい絶対時間符号を持っている。各
絶対時間符号ＡＴＩＰは１フレームに対応する長さのサ
ーボ・トラック部分をマークする。各較正区域２工に対
して多数の１５フレームが使用可能であり、各補助区域
２２に対して１フ゛レームが使用可能である。もし記録
担体が標準ＣＤ信号を記録するために用いられるなら、
使用可能な長さは、記録すべき各情報信号に対する較正
サイクルを実行するのに極めて十分である．これは、Ｃ
Ｄ標準に従えば異なる情報信号（トラック）の最大数は
１００だからである。テスト情報パターンが既に記録さ
れている区域内のＡＴＩＰ符号の読み出しが常に保証さ
れている訳ではないから、較正区域２ｌが使われるシー
クエンスは後から前へというのが、すなわち使われるべ
き第１の較正区域２１がＴ＾区域の最後（すなわちＣＡ
区域との境界の近く）に位置するのが、適切である。こ
のやり方で、光学的書き込み強度を定める為に用いられ
る区域よりテスト・パターンが未だ記録されていない比
較的大きい区域が常に先行することが達威される。
テスト・パターンが既に記録されているサーボ・トラッ
ク部分では絶対時間符号ＡＴＩＰが、使われるべき較正
区域２１の始めを決定するのに必要であるにも拘らず、
常に信頼性高く読み出され得る訳ではないのだから、こ
のことは利点である。最適書き込み強度は次のようにし
て定めることができる：新しい情報信号（トラック）が
記録される前にテスト情報パターンを記録するための較
正区域のアドレスが補助区域２２に基づいて得られる。
ク部分では絶対時間符号ＡＴＩＰが、使われるべき較正
区域２１の始めを決定するのに必要であるにも拘らず、
常に信頼性高く読み出され得る訳ではないのだから、こ
のことは利点である。最適書き込み強度は次のようにし
て定めることができる：新しい情報信号（トラック）が
記録される前にテスト情報パターンを記録するための較
正区域のアドレスが補助区域２２に基づいて得られる。
第５図に示す実例では（一連番号１−５を持つ）５つの
較正区域が既に使われており、ハンチングが付けてある
。これは一連番号１−５を持つ補助区域内の補助パター
ンで表されている。これらの補助区域にもハッチングが
付けてある。そうすると一連番号６を持つ較正区域が次
の較正サイクルのために使うことができる、そのことが
補助パターンを持つ５つの補助区域１−５によって示さ
れている．較正区域が選択された後、テスト・パターン
が選定された較正区域内に多数の異なる書き込み強度で
記録される。この後で、記録されたテスト・パターンが
読み出され、較正区域のどの部分においてテスト・パタ
ーンが最適であるかが解析信号Ｖａを用いて決定される
。続いて情報パターンが、最適テスト・パターンが記録
されている書き込み強度に対応する書き込み強度で、付
随する（一連番号６を持つ）補助区域に記録される。
較正区域が既に使われており、ハンチングが付けてある
。これは一連番号１−５を持つ補助区域内の補助パター
ンで表されている。これらの補助区域にもハッチングが
付けてある。そうすると一連番号６を持つ較正区域が次
の較正サイクルのために使うことができる、そのことが
補助パターンを持つ５つの補助区域１−５によって示さ
れている．較正区域が選択された後、テスト・パターン
が選定された較正区域内に多数の異なる書き込み強度で
記録される。この後で、記録されたテスト・パターンが
読み出され、較正区域のどの部分においてテスト・パタ
ーンが最適であるかが解析信号Ｖａを用いて決定される
。続いて情報パターンが、最適テスト・パターンが記録
されている書き込み強度に対応する書き込み強度で、付
随する（一連番号６を持つ）補助区域に記録される。
マイクロコンピュータ１１０には較正サイクルを実行す
るための適切な制御プログラムが搭載されている。第６
図はそんなプログラムの一例のフロウ・チャートである
。このプログラムのステップＳＬで、読み出し／書き込
みヘッド１０５はマイクロコンピュータ１１０の制御の
下に記録担体上のＣＡ区域に向かい合った位置に置かれ
、検出回路１０９により検出される読み出し信号Ｖｌ中
の絶対時間符号ＡＴＩＰを用いてアドレッシングが実行
される。ステップＳ２では、テスト・パターンを記録す
るために使われる較正区域２１のアドレスが、補助区域
２２中に記録されている補助パターンに基づいて決定さ
れる。このことは単に、ビーム１０７ａで補助区域を走
査している間に反射されたビーム１０７ａが高周波変調
をしているかどうかを検出することによって実行できる
。そんな高周波変調は、読み出し信号ｖｌ中に高周波信
号コンボネントの存在を検出することによって検出でき
る。この目的のために、記録装置は読み出し／書き込み
ヘッド１０５とマイクロコンピュータ１１０との間に配
置された高周波検出器１２０を有することができる。読
み出し回路が読み出し信号■１から記録された情報を復
原するために用いられるときには、テスト・パターンの
存在は読み出し回路の出力信号の存在に基づいて検出で
きる。
るための適切な制御プログラムが搭載されている。第６
図はそんなプログラムの一例のフロウ・チャートである
。このプログラムのステップＳＬで、読み出し／書き込
みヘッド１０５はマイクロコンピュータ１１０の制御の
下に記録担体上のＣＡ区域に向かい合った位置に置かれ
、検出回路１０９により検出される読み出し信号Ｖｌ中
の絶対時間符号ＡＴＩＰを用いてアドレッシングが実行
される。ステップＳ２では、テスト・パターンを記録す
るために使われる較正区域２１のアドレスが、補助区域
２２中に記録されている補助パターンに基づいて決定さ
れる。このことは単に、ビーム１０７ａで補助区域を走
査している間に反射されたビーム１０７ａが高周波変調
をしているかどうかを検出することによって実行できる
。そんな高周波変調は、読み出し信号ｖｌ中に高周波信
号コンボネントの存在を検出することによって検出でき
る。この目的のために、記録装置は読み出し／書き込み
ヘッド１０５とマイクロコンピュータ１１０との間に配
置された高周波検出器１２０を有することができる。読
み出し回路が読み出し信号■１から記録された情報を復
原するために用いられるときには、テスト・パターンの
存在は読み出し回路の出力信号の存在に基づいて検出で
きる。
ステップＳ３では、上記アドレスを持つ較正区域２１が
マイクロコンピュータ１１０の制御の下にその場所を見
出される。一旦この区域に到達したら、ステップＳ４で
書き込み強度Ｉｓが初期値Ｉｏに設定される。関連する
記録担体のＩｏの値は記録担体上に、上述のオランダ国
特許出願第８９０１１４５号に記載のやり方で、予め記
録されているのを好適とする。
マイクロコンピュータ１１０の制御の下にその場所を見
出される。一旦この区域に到達したら、ステップＳ４で
書き込み強度Ｉｓが初期値Ｉｏに設定される。関連する
記録担体のＩｏの値は記録担体上に、上述のオランダ国
特許出願第８９０１１４５号に記載のやり方で、予め記
録されているのを好適とする。
そうするとこの値は較正サイクルの前に読み出すことが
できる。さらに、マイクロコンピュータ１１０の制御の
下に、信号生威器１１４が制御可能なスイッチ１１５を
用いてＣＩＲＣ符号化回路１１２接続され、それにより
信号生戒器の出力信号によって定まるＥＦＭ変調テスト
信号が［！ＦＭ変調器１１３によって生或される．最後
にステップＳ５で制御信号Ｓ／ｌ、が、ＥＦＭ変調器１
１３の出力点上のＥＦＭ変調された信号Ｖｅｆｍと一致
して書き込み強度の設定値Ｉｓと強度Ｉ１との間にビー
ム１０７ａの強度が切り換えられるように、駆動回路１
０７を設定し、その結果としてＥＦＭ信号に対応する残
りのパターンが記録される。ステップＳ６では、検出回
路によって検出された絶対時間符号＾ＴＩＰがマイクロ
コンピュータ１１０によって読み出される。ステップＳ
７では、この絶対時間符号が前回読み出したものに関係
して変更されたかどうかを確認する。もし変更されてい
なければステップＳ６を繰り返す。もし変更されていれ
ばステップＳ８で読み出された絶対時間符号が較正区域
の終わりを示しているかどうかをテストする。もし終わ
りを示しているのでなければステップＳ９が実行され、
そこで書き込み強度Ｉｓを小さい幅ΔＩだけ増加させ、
然る後にプログラムはステップＳ６に進む。もしステッ
プＳ８で較正区域２１の終わりに到達していることが判
ったら、ステップＳＩＯが実行され、そこで制御信号Ｓ
／Ｌは駆動回路１０７を、ビーム１０７ａの強度がレベ
ルＩ１で一定に維持されるようなやり方で設定する。ス
テップＳｌｌでは、上記較正区域２１の妬めの場所が見
出され、もう一度読み出される。ステップＳ１２では、
解析信号Ｖａがマイクロコンピュータ１１０によって読
み出される。
できる。さらに、マイクロコンピュータ１１０の制御の
下に、信号生威器１１４が制御可能なスイッチ１１５を
用いてＣＩＲＣ符号化回路１１２接続され、それにより
信号生戒器の出力信号によって定まるＥＦＭ変調テスト
信号が［！ＦＭ変調器１１３によって生或される．最後
にステップＳ５で制御信号Ｓ／ｌ、が、ＥＦＭ変調器１
１３の出力点上のＥＦＭ変調された信号Ｖｅｆｍと一致
して書き込み強度の設定値Ｉｓと強度Ｉ１との間にビー
ム１０７ａの強度が切り換えられるように、駆動回路１
０７を設定し、その結果としてＥＦＭ信号に対応する残
りのパターンが記録される。ステップＳ６では、検出回
路によって検出された絶対時間符号＾ＴＩＰがマイクロ
コンピュータ１１０によって読み出される。ステップＳ
７では、この絶対時間符号が前回読み出したものに関係
して変更されたかどうかを確認する。もし変更されてい
なければステップＳ６を繰り返す。もし変更されていれ
ばステップＳ８で読み出された絶対時間符号が較正区域
の終わりを示しているかどうかをテストする。もし終わ
りを示しているのでなければステップＳ９が実行され、
そこで書き込み強度Ｉｓを小さい幅ΔＩだけ増加させ、
然る後にプログラムはステップＳ６に進む。もしステッ
プＳ８で較正区域２１の終わりに到達していることが判
ったら、ステップＳＩＯが実行され、そこで制御信号Ｓ
／Ｌは駆動回路１０７を、ビーム１０７ａの強度がレベ
ルＩ１で一定に維持されるようなやり方で設定する。ス
テップＳｌｌでは、上記較正区域２１の妬めの場所が見
出され、もう一度読み出される。ステップＳ１２では、
解析信号Ｖａがマイクロコンピュータ１１０によって読
み出される。
ステップＳ１３では、解析信号ＶａＯ値がテスト・パタ
ーンの最適品質に．対応しているかどうかをチェックす
る。もし対応していなければプログラムはステップ５１
２に進む。対応していれば検出回路１０９によって検出
された絶対時間符号がステップ５１４で読み出される。
ーンの最適品質に．対応しているかどうかをチェックす
る。もし対応していなければプログラムはステップ５１
２に進む。対応していれば検出回路１０９によって検出
された絶対時間符号がステップ５１４で読み出される。
続いてステップ５１５において、ステップＳ１４で読み
出された絶対時間符号に対応する最適書き込み強度を計
算する。これは例えば、最後に読み出された絶対時間符
号と較正区域の始めに対応する時間符号との差を決定す
ることによって可能である。それは、この差を用いて、
テスト情報を記録している中で最後に読み出された絶対
時間符号に到達する前に初期値ＴｏはΔＩを幾段階増加
したかにより決定することが可能である。
出された絶対時間符号に対応する最適書き込み強度を計
算する。これは例えば、最後に読み出された絶対時間符
号と較正区域の始めに対応する時間符号との差を決定す
ることによって可能である。それは、この差を用いて、
テスト情報を記録している中で最後に読み出された絶対
時間符号に到達する前に初期値ＴｏはΔＩを幾段階増加
したかにより決定することが可能である。
この段階数及び初期値ｉｏが最適書き込みエネルギーを
確定する。続いてステップＳ１６で書き込み強度Ｉｓは
最適値１ｏｐｔに設定される。
確定する。続いてステップＳ１６で書き込み強度Ｉｓは
最適値１ｏｐｔに設定される。
ステップＳ１７で使われている較正区域に付随する補助
区域２２の場所が見出される。ステップＳ１８では該区
域に到達した上で情報パターンがこの補助区域２２内に
形成される。
区域２２の場所が見出される。ステップＳ１８では該区
域に到達した上で情報パターンがこの補助区域２２内に
形成される。
上述の較正過程におけるテスト・パターンの形成中に、
それは最初は低い書き込み強度で実行し、逐次段階を挙
げて行く。これは較正区域の始めにおけるアドレス情報
が常に読み出し可能なことを保証することができること
を意味する、その理由は、低い書き込み強度で形戊され
たテスト・パターンによってアドレス情報が完全さを損
なわれることはないからである。
それは最初は低い書き込み強度で実行し、逐次段階を挙
げて行く。これは較正区域の始めにおけるアドレス情報
が常に読み出し可能なことを保証することができること
を意味する、その理由は、低い書き込み強度で形戊され
たテスト・パターンによってアドレス情報が完全さを損
なわれることはないからである。
以下に、最適書き込み強度を決定する適切な方法を実例
により説明する。光学的に読み取り可能な記録担体が、
反射には何の変化もない低レベル■１と記録担体の走査
された部分中の反射に変化の生じる高書き込みレベルＩ
ｓとの間をその強度が切り換えられる輻射線ビームで記
録担体を走査することにより、変動する反射特性を持つ
効果を有する情報パターンを具えているものとする。そ
のような強さの変動■の一例と、変化した反射特性を持
つ付随した効果パターン５８及び特性変化のない中間区
域５９とが第７図に示される。効果５８の情報パターン
及び中間区域５９は、光学特性の検出゛可゛能な変化が
不可能な程．に十分低い一定の強度の読み出しビームで
パターンを走査することにより読み出すことができる。
により説明する。光学的に読み取り可能な記録担体が、
反射には何の変化もない低レベル■１と記録担体の走査
された部分中の反射に変化の生じる高書き込みレベルＩ
ｓとの間をその強度が切り換えられる輻射線ビームで記
録担体を走査することにより、変動する反射特性を持つ
効果を有する情報パターンを具えているものとする。そ
のような強さの変動■の一例と、変化した反射特性を持
つ付随した効果パターン５８及び特性変化のない中間区
域５９とが第７図に示される。効果５８の情報パターン
及び中間区域５９は、光学特性の検出゛可゛能な変化が
不可能な程．に十分低い一定の強度の読み出しビームで
パターンを走査することにより読み出すことができる。
走査過程の間は、記録担体から反射した読み出しビーム
は走査された情報パターンと一致して変調される。読み
出しビームの変調は普通のやり方で、ビーム変調を示し
ている読み出し信号ｖ１を生戒する輻射線感応検出器を
用いて検出できる。読み出し信号ｖ１も第７図に示して
ある．読み出し信号ｖ１は該読み出し信号を規準レベル
Ｖｒｅｆと比較することにより２値信号に再度変換され
る．信頼できる変換のためには、読み出し信号Ｖｌが規
準レベルと交差する点が十分確定していることが望まし
い、換言すれば読み出し信号ｖｌ中の「ジッター（ｊｉ
ｔｔｅｒ）Ｊが最小であることが望ましい。よく知られ
ているように、光学的記録における読み出し信号ｖ１の
ジッターは情報パターンが対称であれば、すなわち効果
５８の平均長が中間区域５９の平均長に等しければ最小
になる。葺で生じる問題点は、効果５８の長さが書き込
み強度Ｉｓに強く依存することである．もし書き込み強
度があまりに高ければ効果５８はあまりに長くなろうし
、またもし書き込み強度があまりに低ければ効果５８は
あまりに短くなろう。従って、書き込み強度の正確な調
整が必要である。
は走査された情報パターンと一致して変調される。読み
出しビームの変調は普通のやり方で、ビーム変調を示し
ている読み出し信号ｖ１を生戒する輻射線感応検出器を
用いて検出できる。読み出し信号ｖ１も第７図に示して
ある．読み出し信号ｖ１は該読み出し信号を規準レベル
Ｖｒｅｆと比較することにより２値信号に再度変換され
る．信頼できる変換のためには、読み出し信号Ｖｌが規
準レベルと交差する点が十分確定していることが望まし
い、換言すれば読み出し信号ｖｌ中の「ジッター（ｊｉ
ｔｔｅｒ）Ｊが最小であることが望ましい。よく知られ
ているように、光学的記録における読み出し信号ｖ１の
ジッターは情報パターンが対称であれば、すなわち効果
５８の平均長が中間区域５９の平均長に等しければ最小
になる。葺で生じる問題点は、効果５８の長さが書き込
み強度Ｉｓに強く依存することである．もし書き込み強
度があまりに高ければ効果５８はあまりに長くなろうし
、またもし書き込み強度があまりに低ければ効果５８は
あまりに短くなろう。従って、書き込み強度の正確な調
整が必要である。
最適書き込み強度の実行可能な決定方法においては、テ
スト・パターンが様々な書き込み強度でデューティサイ
クル５０％のパルス型信号の援けをかりて記録されるこ
とができ、然る後に記録されたテスト・パターンは読み
出すことができる。そうすると最適設定というのは、該
設定に対し読み出し信号ｖ１の第２高調波歪が最小とな
るように定めることにより決定できる。
スト・パターンが様々な書き込み強度でデューティサイ
クル５０％のパルス型信号の援けをかりて記録されるこ
とができ、然る後に記録されたテスト・パターンは読み
出すことができる。そうすると最適設定というのは、該
設定に対し読み出し信号ｖ１の第２高調波歪が最小とな
るように定めることにより決定できる。
次に、最適書き込み強度を決定するまた別の方法が第８
図を用いて詳細に説明される。第８ａ図、第８ｂ図、第
８ｃ図には、強度の変化Ｉと、対応する効果５８の情報
パターンと、中間区域５９と、及び書き込み強度が低過
ぎる場合、最適の場合、高過ぎる場合のそれぞれにおけ
る読み出し信号ｖ１が示されている。
図を用いて詳細に説明される。第８ａ図、第８ｂ図、第
８ｃ図には、強度の変化Ｉと、対応する効果５８の情報
パターンと、中間区域５９と、及び書き込み強度が低過
ぎる場合、最適の場合、高過ぎる場合のそれぞれにおけ
る読み出し信号ｖ１が示されている。
第８図では、読み出し信号ｖ１は最高レベルＡｌと最低
レベル＾２との間を変動する。レベルＤＣというのは読
み出し信号ｖｌ中の直流レベルの値を表している。第６
図から明らかになるであろうように、読み出し信号ｖ１
の直流レベルＤＣは、もし書き込み強度が最適値を持っ
ているならば、レベルＡｌとレベル＾２との丁度ほぼ真
中にある。もし書き込み強度が低過ぎるならば、直流レ
ベルＤＣはレベルＡＩとレベルＡ２の真中より上にあり
、書き込み強度が高過ぎるならば直流レベルＤＣはレベ
ルＡＩとレベルＡ２の真中より下にある。従って書き込
み強度の最適設定は、直流レベルＤＣがレベルＡ１とレ
ベルＡ２との丁度ほぼ真中に位置するように書き込み強
度Ｉｓを調整することによって得られる。
レベル＾２との間を変動する。レベルＤＣというのは読
み出し信号ｖｌ中の直流レベルの値を表している。第６
図から明らかになるであろうように、読み出し信号ｖ１
の直流レベルＤＣは、もし書き込み強度が最適値を持っ
ているならば、レベルＡｌとレベル＾２との丁度ほぼ真
中にある。もし書き込み強度が低過ぎるならば、直流レ
ベルＤＣはレベルＡＩとレベルＡ２の真中より上にあり
、書き込み強度が高過ぎるならば直流レベルＤＣはレベ
ルＡＩとレベルＡ２の真中より下にある。従って書き込
み強度の最適設定は、直流レベルＤＣがレベルＡ１とレ
ベルＡ２との丁度ほぼ真中に位置するように書き込み強
度Ｉｓを調整することによって得られる。
次に、最適強度を決定する上記方法を改良したものが第
９ａ図を用いて説明される。この方法によれば、情報パ
ターンが最適強度を決定する目的で記録され、該パター
ンは、その各々が短い効果５８と短い中間区域５９を１
つずつ持ちデューティサイクル５０％の書き込み信号を
用いて記録された多数の副パターン７０を有する．該情
報パターンは更に、比較的長い効果５８と比較的長い中
間区域５９を１つずつ持ち、やはりデューテイサイクル
５０％の書き込み信号の援けをかりて記録された副パタ
ーン７１を有する。副パターン７０の数は副パターン７
ｌの数より相当大きく選定する．第９ａ図は更に、光学
的読み出し部の援けをかりて読み出した場合に得られた
読み出し信号ｖ１も示している。
９ａ図を用いて説明される。この方法によれば、情報パ
ターンが最適強度を決定する目的で記録され、該パター
ンは、その各々が短い効果５８と短い中間区域５９を１
つずつ持ちデューティサイクル５０％の書き込み信号を
用いて記録された多数の副パターン７０を有する．該情
報パターンは更に、比較的長い効果５８と比較的長い中
間区域５９を１つずつ持ち、やはりデューテイサイクル
５０％の書き込み信号の援けをかりて記録された副パタ
ーン７１を有する。副パターン７０の数は副パターン７
ｌの数より相当大きく選定する．第９ａ図は更に、光学
的読み出し部の援けをかりて読み出した場合に得られた
読み出し信号ｖ１も示している。
副パターン７０の大きさは、これらの副パターン７０に
対応する読み出し信号ｖ１の信号コンボネントの振幅が
副パターン７ｌに対応する信号の信号コンボネントの振
幅よりかなり小さくなるようなやり方で選定される。こ
のことは、副パターン７０の大きさをこのパターンの第
ｌ高調波のみが光学的走査部の光学的カットオフ周波数
より下に位置するように選定することにまり達戒できる
．副パターン７ｌの大きさは、このパターンの少なくと
も第１及び第２高調波は上記光学的カットオフ周波数よ
り下に位置するように選定される．読み出し信号ｖｌ中
の直流レベルＤＣは、主として副パターン７０に対応す
る信号コンボネントによって統制される。
対応する読み出し信号ｖ１の信号コンボネントの振幅が
副パターン７ｌに対応する信号の信号コンボネントの振
幅よりかなり小さくなるようなやり方で選定される。こ
のことは、副パターン７０の大きさをこのパターンの第
ｌ高調波のみが光学的走査部の光学的カットオフ周波数
より下に位置するように選定することにまり達戒できる
．副パターン７ｌの大きさは、このパターンの少なくと
も第１及び第２高調波は上記光学的カットオフ周波数よ
り下に位置するように選定される．読み出し信号ｖｌ中
の直流レベルＤＣは、主として副パターン７０に対応す
る信号コンボネントによって統制される。
読み出し信号ｖ１の最大値Ａ１と最小値Ａ２との差は、
専ら副パターン７１に対応する値によって統制される．
書き込みの強さＩ３の変化は、副パターン７０の効果５
８の長さと中間区域５９の長さとの比に対して、副パタ
ーン７１の効果５８の長さと中間区域５９の長さとの比
に対するよりもかなり大きく影響するから、第９ａ図に
示したこの方法の場合の直流レベルＤＣもまた、読み出
し信号ｖｔの振幅が情報パターン中に生起するすべての
副パターンに対し同じである第８図に示した方法の場合
に較べて、書き込みレベルの変動に遥かに影響されやす
いであろう．このことすべてが、第９ａ図に示した方法
を用いることにより最適書き込みの強さが遥かに正確に
決定できることを意味する． 第９ａ図に示した最適書き込み強度で記録されている情
報パターンの他に、低過ぎる書き込みレベルと高過ぎる
書き込みレベルとでそれぞれ記録されている類似の情報
パターンが第９ｂ図、第９Ｃ図に示されている．第９図
から明らかになるであろうように、最適書き込み強度の
場合の直流レベルＤＣもまた、信号ｖｌ中の最大信号値
（Ａ１）と最小信号値（Ａ２）との丁度ほぼ真中にある
のに対し、書き込みレベルが低過ぎる場合又は書き込み
レベルが高過ぎる場合の直流レベルＤＣは、それぞれ中
心より上又は下に位置している．第９図に示す情報パタ
ーンは、短い効果と中間区域とを持つ比較的多数の副パ
ターンや長い効果と中間区域とを持つ比較的少数の副パ
ターンを含む多くの情報パターンの可能性の内のたった
１つに過ぎない。同様に極めて適切な副パターンとして
、ＣＤ標準と一致するＥＦＭ信号に対応するパターンが
ある。そんなパターンは、最小３ビット（１３効果）か
ら最大１１ビット（Ｉ１１効果）までに対応する長さの
区域を有する．そのようなＥＦＭパターンにおけるすべ
ての効果の約１７３はＩ３効果であるのに対し、すべて
の効果の僅か４％がＩｌｌ効果である。Ｉ３効果の大き
さは、これらの効果の基本波のみが光学的読み出しシス
テムの光学的カットオフ周波数より下に位直している類
のものである．Ｉ１１効果については、少なくとも第１
、第２、第３高調波が光学的カットオフ周波数より下に
位置している。
専ら副パターン７１に対応する値によって統制される．
書き込みの強さＩ３の変化は、副パターン７０の効果５
８の長さと中間区域５９の長さとの比に対して、副パタ
ーン７１の効果５８の長さと中間区域５９の長さとの比
に対するよりもかなり大きく影響するから、第９ａ図に
示したこの方法の場合の直流レベルＤＣもまた、読み出
し信号ｖｔの振幅が情報パターン中に生起するすべての
副パターンに対し同じである第８図に示した方法の場合
に較べて、書き込みレベルの変動に遥かに影響されやす
いであろう．このことすべてが、第９ａ図に示した方法
を用いることにより最適書き込みの強さが遥かに正確に
決定できることを意味する． 第９ａ図に示した最適書き込み強度で記録されている情
報パターンの他に、低過ぎる書き込みレベルと高過ぎる
書き込みレベルとでそれぞれ記録されている類似の情報
パターンが第９ｂ図、第９Ｃ図に示されている．第９図
から明らかになるであろうように、最適書き込み強度の
場合の直流レベルＤＣもまた、信号ｖｌ中の最大信号値
（Ａ１）と最小信号値（Ａ２）との丁度ほぼ真中にある
のに対し、書き込みレベルが低過ぎる場合又は書き込み
レベルが高過ぎる場合の直流レベルＤＣは、それぞれ中
心より上又は下に位置している．第９図に示す情報パタ
ーンは、短い効果と中間区域とを持つ比較的多数の副パ
ターンや長い効果と中間区域とを持つ比較的少数の副パ
ターンを含む多くの情報パターンの可能性の内のたった
１つに過ぎない。同様に極めて適切な副パターンとして
、ＣＤ標準と一致するＥＦＭ信号に対応するパターンが
ある。そんなパターンは、最小３ビット（１３効果）か
ら最大１１ビット（Ｉ１１効果）までに対応する長さの
区域を有する．そのようなＥＦＭパターンにおけるすべ
ての効果の約１７３はＩ３効果であるのに対し、すべて
の効果の僅か４％がＩｌｌ効果である。Ｉ３効果の大き
さは、これらの効果の基本波のみが光学的読み出しシス
テムの光学的カットオフ周波数より下に位直している類
のものである．Ｉ１１効果については、少なくとも第１
、第２、第３高調波が光学的カットオフ周波数より下に
位置している。
第１０図は解析回路６５の一例を示し、最適書き込み強
度に対応するレベルから直流レベルＤＣが逸脱する程度
を示すために、これを用いて読み出し信号Ｖｌから解析
信号Ｖａを得ることができる．第８図の解析回路１０は
、読み出し信号ｖｌ中の直流レベルＤＣを定めるために
低域通過フィルタ８０を有する。
度に対応するレベルから直流レベルＤＣが逸脱する程度
を示すために、これを用いて読み出し信号Ｖｌから解析
信号Ｖａを得ることができる．第８図の解析回路１０は
、読み出し信号ｖｌ中の直流レベルＤＣを定めるために
低域通過フィルタ８０を有する。
解析回路ｌＯはさらに、読み出し信号ｖｌ中の最大値Ａ
１を定めるためとの正のピーク検出器８１と読み出し信
号ｖｔ中の最小値Ａ２を定めるためとの負のピーク検出
器８２とを有する．ピーク検出器８１、８２の出力信号
は、加算回路８３の非反転入力点に与えられ、一方、低
域通過フィルタ８０の出力は、その値を２倍に増幅した
後、加算回路８３の反転入力点に与えられ、それによっ
て解析信号Ｖａを構或する加算回路８３の出力信号が Ｖａ−＾１＋＾２−２ＤＣ と書けることになり、その結果として、信号値ＤＣが最
大信号値＾ｌと最小信号値Ａ２の平均値からどの程度逸
脱しているかを示すものとなる。
１を定めるためとの正のピーク検出器８１と読み出し信
号ｖｔ中の最小値Ａ２を定めるためとの負のピーク検出
器８２とを有する．ピーク検出器８１、８２の出力信号
は、加算回路８３の非反転入力点に与えられ、一方、低
域通過フィルタ８０の出力は、その値を２倍に増幅した
後、加算回路８３の反転入力点に与えられ、それによっ
て解析信号Ｖａを構或する加算回路８３の出力信号が Ｖａ−＾１＋＾２−２ＤＣ と書けることになり、その結果として、信号値ＤＣが最
大信号値＾ｌと最小信号値Ａ２の平均値からどの程度逸
脱しているかを示すものとなる。
解析回路のその他の適切な実例については、オランダ国
特許出願第８９０１５９１号の記載を参照されたい。与
えられたパターンの品質の測度として読み出し信号中の
第２高調波歪が用いられるなら、解析回路は普通の第２
高調波検出器を有することができる。
特許出願第８９０１５９１号の記載を参照されたい。与
えられたパターンの品質の測度として読み出し信号中の
第２高調波歪が用いられるなら、解析回路は普通の第２
高調波検出器を有することができる。
本発明は光学的記録装置に限定されるものではな《、そ
の他の記録装置、例えば磁気記録装置、あるいは電子ビ
ームを用いて情報を記録する装置にも使用することがで
きるということに留意されたい。また、本発明は重ね書
きのできる記録担体にも使用できるけれども、一度鹿書
き込めないタイプの記録担体に関して使用するのに特に
適したものである。
の他の記録装置、例えば磁気記録装置、あるいは電子ビ
ームを用いて情報を記録する装置にも使用することがで
きるということに留意されたい。また、本発明は重ね書
きのできる記録担体にも使用できるけれども、一度鹿書
き込めないタイプの記録担体に関して使用するのに特に
適したものである。
第１図は、本発明の情報記録装置の実施例を示し、
第２図は、第ｉ図の装置の記録担体上に較正区域を記録
するための適切な位置を示す説明図であり、 第３図は、第１図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフロウ・チャートであり、第４図は、本
発明の情報記録装置のさらに詳しい実施例を示し、 第５図は、第４図の装置の記録担体上に較正区域を記録
するための適切な位置を示す説明図であり、 第６図は、第４図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフロウ・チャートであり、第７図は、最
適調整を決定する適切な方法を説明する図であり、 第８ａ図、第８ｂ図、第８ｃ図は、最適調整を決定する
別の適切な方法を詳しく説明する図であり、第９ａ図、
第９ｂ図、第９ｃ図は、最適調整を決定するまた別の適
切な方法を詳しく説明する図であり、第１０図は、第４
図の装置に使用する解析回路の一例を示す図である。 １．１１６・・・記録担体 ３，１０５・・・読み出し／書き込みヘッド４， １０
０， １０３・・・モータ ５・・・制御ユニット ７・・・信号処理回路 ８．１０７・・・駆動回路 ９・・・読み取り回路 １０・・・解析回路 １１． １１４・・・テスト信号生戒器６５・・・解析
回路 １０８・・・モータ制御回路 １０９・・・検出回路 １１０・・・マイクロコンピュータ １１１・・・増幅回路 １１２・・・ＣＩＲＣ符号化回路 １１３・・・ＥＦＭ変調器 １１５・・・スイッチ １２０・・・高周波検出器
するための適切な位置を示す説明図であり、 第３図は、第１図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフロウ・チャートであり、第４図は、本
発明の情報記録装置のさらに詳しい実施例を示し、 第５図は、第４図の装置の記録担体上に較正区域を記録
するための適切な位置を示す説明図であり、 第６図は、第４図の装置の制御ユニットにより実行され
るプログラムのフロウ・チャートであり、第７図は、最
適調整を決定する適切な方法を説明する図であり、 第８ａ図、第８ｂ図、第８ｃ図は、最適調整を決定する
別の適切な方法を詳しく説明する図であり、第９ａ図、
第９ｂ図、第９ｃ図は、最適調整を決定するまた別の適
切な方法を詳しく説明する図であり、第１０図は、第４
図の装置に使用する解析回路の一例を示す図である。 １．１１６・・・記録担体 ３，１０５・・・読み出し／書き込みヘッド４， １０
０， １０３・・・モータ ５・・・制御ユニット ７・・・信号処理回路 ８．１０７・・・駆動回路 ９・・・読み取り回路 １０・・・解析回路 １１． １１４・・・テスト信号生戒器６５・・・解析
回路 １０８・・・モータ制御回路 １０９・・・検出回路 １１０・・・マイクロコンピュータ １１１・・・増幅回路 １１２・・・ＣＩＲＣ符号化回路 １１３・・・ＥＦＭ変調器 １１５・・・スイッチ １２０・・・高周波検出器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、形成された情報パターンの品質に影響があり記録担
体に依存する少なくとも１つのパラメータが調整される
ような情報パターンを持つ記録担体を設ける方法におい
て、 予め定められた較正区域の多数の可能性の内から１つの
較正区域が選定され、 該選定された較正区域内で異なるパラメータ設定に対し
てテスト・パターンが形成され、パラメータの最適設定
は、上記のように形成されたテスト・パターンに基づい
て予め定められた判定基準に従って定められ、 パラメータは、情報パターンの形成される間に上記最適
設定に一致するよう調整されることを特徴とする方法。 ２、各較正区域に１つの補助区域が割り当てられ、最適
設定が定められる度毎に、最適設定を定めるために用い
られる較正区域に割り当てられた補助区域内に補助パタ
ーンが形成され、較正区域は補助区域内に記録されてい
る補助パターンに基づいて選定されることを特徴とする
請求項１に記載の方法。 ３、補助区域の大きさは較正区域の大きさより小さいこ
とを特徴とする請求項２に記載の方法。 ４、使用される記録担体はアドレスを具えて設けられて
おり、テスト区域及び補助区域は予め定められたアドレ
スを用いて特定されることを特徴とする請求項１ないし
３のうちのいずれか１項に記載の方法。 ５、較正区域を選定するに当たり、未だテスト・パター
ンを具えて設けられていない区域の直ぐ次の区域が常に
較正区域として選定されることを特徴とする請求項１な
いし４のうちのいずれか１項に記載の方法。 ６、使用される記録担体は、情報パターンを用いて限定
された数の情報信号をその上に記録することができ、較
正区域の数は少なくとも上記情報信号の数に等しいこと
を特徴とする請求項１ないし５のうちのいずれか１項に
記載の方法。 ７、情報パターンを具えた記録担体を設けるための書き
込み手段と該書き込み手段を調整するための手段とを有
する情報記録装置において、 該装置は、記録担体上の予め定められた多数の較正区域
から１つの較正区域を選定するための選択手段を有し、 選定された較正区域内で異なる書き込み手段の設定に対
してテスト・パターンが形成されるようにする手段を有
し、 こうして形成されたテスト・パターンに基づいて最適設
定を選択するための手段を有し、また 情報パターンの形成される間に選定された最適設定に一
致して書き込み手段が調整されるようにする手段を有す
ることを特徴とする情報記録装置。 ８、選定された較正区域に割り当てられた補助区域内に
補助パターンが記録されるようにする手段を有し、選択
手段は補助区域内に形成された補助パターンに基づいて
較正区域を選定するのに適合していることを特徴とする
請求項７に記載の情報記録装置。 ９、較正区域を選定するための手段は、未だテスト・パ
ターンを具えて設けられていない区域の直ぐ後の較正区
域を選定するのに適合していることを特徴とする請求項
７又は８に記載の情報記録装置。
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