JP2002298376A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2002298376A JP2002298376A JP2001102026A JP2001102026A JP2002298376A JP 2002298376 A JP2002298376 A JP 2002298376A JP 2001102026 A JP2001102026 A JP 2001102026A JP 2001102026 A JP2001102026 A JP 2001102026A JP 2002298376 A JP2002298376 A JP 2002298376A
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- optical disk
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- write data
- disk device
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
- G11B7/1267—Power calibration
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0055—Erasing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
Abstract
(57)【要約】
【課題】テストエリアに記録された試し書きデータを確
実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 【解決手段】本発明の光ディスク装置は、試し書きを行
うテストエリアを有する光ディスクを装着して回転させ
る回転駆動機構と、前記光ディスクにレーザ光を照射し
てデータを記録し得る光学ヘッドとを有している。テス
トエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工
程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試
し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。
そして、ＨＦ信号を検出したか否かを判断し（ステップ
Ｓ１０７）、ＨＦ信号を検出した場合、再度ＣＷイレー
ズを行う。
実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 【解決手段】本発明の光ディスク装置は、試し書きを行
うテストエリアを有する光ディスクを装着して回転させ
る回転駆動機構と、前記光ディスクにレーザ光を照射し
てデータを記録し得る光学ヘッドとを有している。テス
トエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工
程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試
し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。
そして、ＨＦ信号を検出したか否かを判断し（ステップ
Ｓ１０７）、ＨＦ信号を検出した場合、再度ＣＷイレー
ズを行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
関するものである。
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ−ＲＷ等の書き換えが可能な光ディ
スクを記録・再生する光ディスク装置が知られている。
スクを記録・再生する光ディスク装置が知られている。
【０００３】この光ディスク装置は、光ディスクを装着
して回転させる回転駆動機構と、前記装着された光ディ
スクに対し、その径方向に移動可能に設けられ、光ディ
スクにレーザ光を照射してデータ（情報）を記録し得る
光学ヘッド（光ピックアップ）と、この光学ヘッドを径
方向に移動させるスレッドモータを備えた光学ヘッド移
動機構とを有している。
して回転させる回転駆動機構と、前記装着された光ディ
スクに対し、その径方向に移動可能に設けられ、光ディ
スクにレーザ光を照射してデータ（情報）を記録し得る
光学ヘッド（光ピックアップ）と、この光学ヘッドを径
方向に移動させるスレッドモータを備えた光学ヘッド移
動機構とを有している。
【０００４】このようなデータの記録機能を持つ光ディ
スク装置では、実際に情報の書き込み（記録）を行う前
に、その光ディスクに固有の特性や環境条件に適した最
適な記録パワー（レーザ光の出力）を求める必要があ
る。
スク装置では、実際に情報の書き込み（記録）を行う前
に、その光ディスクに固有の特性や環境条件に適した最
適な記録パワー（レーザ光の出力）を求める必要があ
る。
【０００５】この最適な記録パワーを求めることをＯＰ
Ｃ（Optimum Power Control）と呼ぶ。ＯＰＣは、光デ
ィスクの最内周部にあるＰＣＡ（Power Calibration Ar
ea）と呼ばれる領域で行われる。ＰＣＡは、テストエリ
ア（Test Area）とカウントエリア（Count Area）の２
つに分割されている。
Ｃ（Optimum Power Control）と呼ぶ。ＯＰＣは、光デ
ィスクの最内周部にあるＰＣＡ（Power Calibration Ar
ea）と呼ばれる領域で行われる。ＰＣＡは、テストエリ
ア（Test Area）とカウントエリア（Count Area）の２
つに分割されている。
【０００６】テストエリアでは、レーザ光の出力を段階
的に変えて試し書きが行われ、カウントエリアには、そ
の試し書きの回数（ＯＰＣの回数）が記録される。
的に変えて試し書きが行われ、カウントエリアには、そ
の試し書きの回数（ＯＰＣの回数）が記録される。
【０００７】また、テストエリアに試し書きを行うスペ
ースがない場合には、光ディスク装置は、テストエリア
に記録された試し書きデータを消去するＣＷイレーズ
（Continuous Wave Erase）を行う。
ースがない場合には、光ディスク装置は、テストエリア
に記録された試し書きデータを消去するＣＷイレーズ
（Continuous Wave Erase）を行う。
【０００８】しかしながら、１回のＣＷイレーズでは、
テストエリアに記録された試し書きデータを完全に消去
できないことがあり、この試し書きデータが残っている
状態で試し書きが行われると、書き込み部分に上書き
（オーバーライト）を行うこととなる。
テストエリアに記録された試し書きデータを完全に消去
できないことがあり、この試し書きデータが残っている
状態で試し書きが行われると、書き込み部分に上書き
（オーバーライト）を行うこととなる。
【０００９】これにより、適正なレーザ光の出力を得る
ことができず、不適正なレーザ光の出力を最適な記録パ
ワーとして決定してしまうことがある。
ことができず、不適正なレーザ光の出力を最適な記録パ
ワーとして決定してしまうことがある。
【００１０】また、決定された不適正なレーザ光の出力
でデータの記録を行うと、例えば、レーザ光の出力が高
い場合には、光ディスクに多大なダメージを与えること
があり、レーザ光の出力が低い場合には、記録が不十分
となり、正確に記録することができないことがある。
でデータの記録を行うと、例えば、レーザ光の出力が高
い場合には、光ディスクに多大なダメージを与えること
があり、レーザ光の出力が低い場合には、記録が不十分
となり、正確に記録することができないことがある。
【００１１】また、その記録された情報を再生したとき
に、良質の信号を得ることができないことがある。
に、良質の信号を得ることができないことがある。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、テス
トエリアに記録された試し書きデータを確実に消去する
ことができる光ディスク装置を提供することにある。
トエリアに記録された試し書きデータを確実に消去する
ことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
（１）〜（１３）の本発明により達成される。
（１）〜（１３）の本発明により達成される。
【００１４】（１） 試し書きを行うテストエリアを有
する光ディスクに対し記録または記録・再生する光ディ
スク装置であって、前記光ディスクを装着して回転させ
る回転駆動機構と、前記光ディスクにレーザ光を照射し
てデータを記録し得る光学ヘッドと、前記テストエリア
に記録された試し書きデータを消去する消去工程におい
て、該試し書きデータが消去されたか否かを確認する確
認手段とを有することを特徴とする光ディスク装置。
する光ディスクに対し記録または記録・再生する光ディ
スク装置であって、前記光ディスクを装着して回転させ
る回転駆動機構と、前記光ディスクにレーザ光を照射し
てデータを記録し得る光学ヘッドと、前記テストエリア
に記録された試し書きデータを消去する消去工程におい
て、該試し書きデータが消去されたか否かを確認する確
認手段とを有することを特徴とする光ディスク装置。
【００１５】（２） 試し書きを行うテストエリアと、
前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカ
ウントエリアとを有する光ディスクに対し記録または記
録・再生する光ディスク装置であって、前記光ディスク
を装着して回転させる回転駆動機構と、前記光ディスク
にレーザ光を照射してデータを記録し得る光学ヘッド
と、前記テストエリアと前記カウントエリアとに記録さ
れた試し書きデータの消去において、該試し書きデータ
が消去されているか否かを確認する確認手段とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカ
ウントエリアとを有する光ディスクに対し記録または記
録・再生する光ディスク装置であって、前記光ディスク
を装着して回転させる回転駆動機構と、前記光ディスク
にレーザ光を照射してデータを記録し得る光学ヘッド
と、前記テストエリアと前記カウントエリアとに記録さ
れた試し書きデータの消去において、該試し書きデータ
が消去されているか否かを確認する確認手段とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【００１６】（３） 前記テストエリアに試し書きを行
った回数が所定回以上の場合、前記試し書きデータを消
去するよう構成されている上記（１）または（２）に記
載の光ディスク装置。
った回数が所定回以上の場合、前記試し書きデータを消
去するよう構成されている上記（１）または（２）に記
載の光ディスク装置。
【００１７】（４） 前記テストエリアに試し書きを行
った回数が９９〜１００回の場合、前記試し書きデータ
を消去するよう構成されている上記（１）または（２）
に記載の光ディスク装置。
った回数が９９〜１００回の場合、前記試し書きデータ
を消去するよう構成されている上記（１）または（２）
に記載の光ディスク装置。
【００１８】（５） 前記消去工程において、前記試し
書きデータの消去を試行した後、前記確認手段により、
前記試し書きデータが消去されていないことが確認され
た場合には、再度前記試し書きデータの消去を試行する
よう構成されている上記（１）ないし（４）のいずれか
に記載の光ディスク装置。
書きデータの消去を試行した後、前記確認手段により、
前記試し書きデータが消去されていないことが確認され
た場合には、再度前記試し書きデータの消去を試行する
よう構成されている上記（１）ないし（４）のいずれか
に記載の光ディスク装置。
【００１９】（６） 前記消去工程において、前記試し
書きデータが消去されるまで、前記試し書きデータの消
去を繰り返し試行するよう構成されている上記（１）な
いし（５）のいずれかに記載の光ディスク装置。
書きデータが消去されるまで、前記試し書きデータの消
去を繰り返し試行するよう構成されている上記（１）な
いし（５）のいずれかに記載の光ディスク装置。
【００２０】（７） 前記確認手段は、前記消去工程に
おいて、前記試し書きデータの再生を試行することによ
り、前記試し書きデータが消去されたか否かを確認する
上記（１）ないし（６）のいずれかに記載の光ディスク
装置。
おいて、前記試し書きデータの再生を試行することによ
り、前記試し書きデータが消去されたか否かを確認する
上記（１）ないし（６）のいずれかに記載の光ディスク
装置。
【００２１】（８） 前記確認手段は、前記試し書きデ
ータの再生を試みたとき、所定の信号が検出された場合
に、前記試し書きデータが消去されていないと判定する
上記（７）に記載の光ディスク装置。
ータの再生を試みたとき、所定の信号が検出された場合
に、前記試し書きデータが消去されていないと判定する
上記（７）に記載の光ディスク装置。
【００２２】（９） 前記所定の信号は、ＨＦ信号であ
る上記（８）に記載の光ディスク装置。
る上記（８）に記載の光ディスク装置。
【００２３】（１０） 前記試し書きデータの消去の際
のレーザ光の出力は、複数段階のレベルに設定し得るよ
う構成されている上記（１）ないし（９）のいずれかに
記載の光ディスク装置。
のレーザ光の出力は、複数段階のレベルに設定し得るよ
う構成されている上記（１）ないし（９）のいずれかに
記載の光ディスク装置。
【００２４】（１１） 前記試し書きデータの消去の際
のレーザ光の出力は、前記試し書きを行う際のレーザ光
の出力により小さい上記（１）ないし（１０）のいずれ
かに記載の光ディスク装置。
のレーザ光の出力は、前記試し書きを行う際のレーザ光
の出力により小さい上記（１）ないし（１０）のいずれ
かに記載の光ディスク装置。
【００２５】（１２） 前記光ディスクは、書き換えが
可能な光ディスクである上記（１）ないし（１１）に記
載の光ディスク装置。
可能な光ディスクである上記（１）ないし（１１）に記
載の光ディスク装置。
【００２６】（１３） 前記光ディスクは、ＣＤ−ＲＷ
である上記（１）ないし（１２）に記載の光ディスク装
置。
である上記（１）ないし（１２）に記載の光ディスク装
置。
【００２７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の光ディスク装置を
添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明す
る。
添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明す
る。
【００２８】図１は、本発明の光ディスク装置の実施形
態を示すブロック図である。同図に示す光ディスク装置
１は、書き換えが可能な光ディスク（ＣＤ−ＲＷ等）２
を記録・再生するドライブ装置である。
態を示すブロック図である。同図に示す光ディスク装置
１は、書き換えが可能な光ディスク（ＣＤ−ＲＷ等）２
を記録・再生するドライブ装置である。
【００２９】光ディスク２には、図示しない螺旋状のプ
リグルーブ（ＷＯＢＢＬＥ：ウォブル）が形成されてい
る。
リグルーブ（ＷＯＢＢＬＥ：ウォブル）が形成されてい
る。
【００３０】このプリグルーブは、所定の周期（１倍速
で２２．０５kHz）で蛇行しているとともに、該プリグ
ルーブには、ＡＴＩＰ（Absolute Time In Pre-Groove
）情報（時間情報）が記録されている。この場合、Ａ
ＴＩＰ情報は、バイフェーズ変調され、さらに、２２．
０５kHzのキャリア周波数でＦＭ変調されて記録されて
いる。
で２２．０５kHz）で蛇行しているとともに、該プリグ
ルーブには、ＡＴＩＰ（Absolute Time In Pre-Groove
）情報（時間情報）が記録されている。この場合、Ａ
ＴＩＰ情報は、バイフェーズ変調され、さらに、２２．
０５kHzのキャリア周波数でＦＭ変調されて記録されて
いる。
【００３１】このプリグルーブは、光ディスク２へのピ
ット／ランド形成（ピット／ランド記録）時の案内溝と
して機能する。また、このプリグルーブは、再生され、
光ディスク２の回転速度制御や、光ディスク２上の記録
位置（絶対時間）の特定等に利用される。
ット／ランド形成（ピット／ランド記録）時の案内溝と
して機能する。また、このプリグルーブは、再生され、
光ディスク２の回転速度制御や、光ディスク２上の記録
位置（絶対時間）の特定等に利用される。
【００３２】光ディスク装置１は、光ディスク２を装着
して回転させる回転駆動機構を有している。この回転駆
動機構は、主に、ターンテーブル回転用のスピンドルモ
ータ１１と、スピンドルモータ１１を駆動するドライバ
２３と、スピンドルモータ１１の回転軸に固定され、光
ディスク２が装着される図示しないターンテーブルとで
構成されている。
して回転させる回転駆動機構を有している。この回転駆
動機構は、主に、ターンテーブル回転用のスピンドルモ
ータ１１と、スピンドルモータ１１を駆動するドライバ
２３と、スピンドルモータ１１の回転軸に固定され、光
ディスク２が装着される図示しないターンテーブルとで
構成されている。
【００３３】また、光ディスク装置１は、前記装着され
た光ディスク２（ターンテーブル）に対し、光ディスク
２の径方向（ターンテーブルの径方向）に移動し得る光
学ヘッド（光ピックアップ）３と、この光学ヘッド３を
前記径方向に移動させる光学ヘッド移動機構と、制御手
段（ＣＰＵ）９と、ＲＦアンプＩＣ４０と、サーボプロ
セッサ（ＤＳＰ）５１と、デコーダ５２と、メモリー
（例えば、ＲＡＭ等）５３と、レーザ制御部５４と、エ
ンコーダ５５とを有している。以下、前記光ディスク２
の径方向を単に「径方向」と言う。
た光ディスク２（ターンテーブル）に対し、光ディスク
２の径方向（ターンテーブルの径方向）に移動し得る光
学ヘッド（光ピックアップ）３と、この光学ヘッド３を
前記径方向に移動させる光学ヘッド移動機構と、制御手
段（ＣＰＵ）９と、ＲＦアンプＩＣ４０と、サーボプロ
セッサ（ＤＳＰ）５１と、デコーダ５２と、メモリー
（例えば、ＲＡＭ等）５３と、レーザ制御部５４と、エ
ンコーダ５５とを有している。以下、前記光ディスク２
の径方向を単に「径方向」と言う。
【００３４】前記光学ヘッド移動機構は、主に、スレッ
ドモータ７と、スレッドモータ７を駆動するドライバ２
２と、スレッドモータ７の回転を減速して伝達し、その
回転運動を光学ヘッド３の直線運動に変換する図示しな
い動力伝達機構とで構成されている。
ドモータ７と、スレッドモータ７を駆動するドライバ２
２と、スレッドモータ７の回転を減速して伝達し、その
回転運動を光学ヘッド３の直線運動に変換する図示しな
い動力伝達機構とで構成されている。
【００３５】光学ヘッド３は、レーザ光を発するレーザ
ダイオード（光源）５および分割フォトダイオード（受
光部）６を備えた図示しない光学ヘッド本体（光ピック
アップベース）と、図示しない対物レンズ（集光レン
ズ）とを有している。このレーザダイオード５の駆動
は、レーザ制御部５４により制御される。
ダイオード（光源）５および分割フォトダイオード（受
光部）６を備えた図示しない光学ヘッド本体（光ピック
アップベース）と、図示しない対物レンズ（集光レン
ズ）とを有している。このレーザダイオード５の駆動
は、レーザ制御部５４により制御される。
【００３６】対物レンズは、光学ヘッド本体に設けられ
た図示しないサスペンジョンバネ（付勢手段）で支持さ
れ、光学ヘッド本体に対し、径方向および対物レンズの
光軸方向（光ディスク２（ターンテーブル）の回転軸方
向）のそれぞれに変位（移動）し得るようになってい
る。以下、前記対物レンズの光軸方向を単に「光軸方
向」と言い、前記光ディスク２の回転軸方向を単に「回
転軸方向」と言う。
た図示しないサスペンジョンバネ（付勢手段）で支持さ
れ、光学ヘッド本体に対し、径方向および対物レンズの
光軸方向（光ディスク２（ターンテーブル）の回転軸方
向）のそれぞれに変位（移動）し得るようになってい
る。以下、前記対物レンズの光軸方向を単に「光軸方
向」と言い、前記光ディスク２の回転軸方向を単に「回
転軸方向」と言う。
【００３７】対物レンズは、光学ヘッド本体に予め設定
されている対物レンズの基準位置（中点）、すなわち中
立位置に配置されている。以下、前記対物レンズの基準
位置を単に「基準位置」と言う。
されている対物レンズの基準位置（中点）、すなわち中
立位置に配置されている。以下、前記対物レンズの基準
位置を単に「基準位置」と言う。
【００３８】対物レンズが基準位置からずれると、その
対物レンズは、サスペンジョンバネの復元力により基準
位置に向って付勢される。
対物レンズは、サスペンジョンバネの復元力により基準
位置に向って付勢される。
【００３９】また、光学ヘッド３は、光学ヘッド本体に
対し、対物レンズを変位（移動）させるアクチュエータ
４を有している。このアクチュエータ４は、光学ヘッド
本体に対し、対物レンズを径方向に変位させるトラッキ
ングアクチュエータ４１と、対物レンズを光軸方向（回
転軸方向）に変位させるフォーカスアクチュエータ４２
とで構成されている。
対し、対物レンズを変位（移動）させるアクチュエータ
４を有している。このアクチュエータ４は、光学ヘッド
本体に対し、対物レンズを径方向に変位させるトラッキ
ングアクチュエータ４１と、対物レンズを光軸方向（回
転軸方向）に変位させるフォーカスアクチュエータ４２
とで構成されている。
【００４０】このアクチュエータ４、すなわち、トラッ
キングアクチュエータ４１およびフォーカスアクチュエ
ータ４２は、それぞれ、ドライバ２１により駆動され
る。
キングアクチュエータ４１およびフォーカスアクチュエ
ータ４２は、それぞれ、ドライバ２１により駆動され
る。
【００４１】制御手段９は、通常、マイクロコンピュー
タ（ＣＰＵ）で構成され、光学ヘッド３（アクチュエー
タ４、レーザダイオード５等）、スレッドモータ７、ス
ピンドルモータ１１、ＲＦアンプＩＣ４０、サーボプロ
セッサ５１、デコーダ５２、メモリー５３、レーザ制御
部５４、エンコーダ５５等、光ディスク装置１全体の制
御を行う。
タ（ＣＰＵ）で構成され、光学ヘッド３（アクチュエー
タ４、レーザダイオード５等）、スレッドモータ７、ス
ピンドルモータ１１、ＲＦアンプＩＣ４０、サーボプロ
セッサ５１、デコーダ５２、メモリー５３、レーザ制御
部５４、エンコーダ５５等、光ディスク装置１全体の制
御を行う。
【００４２】また、前記光学ヘッド３、制御手段９、Ｒ
ＦアンプＩＣ４０、レーザ制御部５４等により、ＰＣＡ
（Power Calibration Area）に記録された試し書きデー
タを消去する消去工程において、試し書きデータが消去
されているか否かを確認する確認手段が構成される。な
お、ＰＣＡについては、後で説明する。
ＦアンプＩＣ４０、レーザ制御部５４等により、ＰＣＡ
（Power Calibration Area）に記録された試し書きデー
タを消去する消去工程において、試し書きデータが消去
されているか否かを確認する確認手段が構成される。な
お、ＰＣＡについては、後で説明する。
【００４３】この光ディスク装置１には、図示しないイ
ンターフェース制御部を介して外部装置（例えば、コン
ピュータ）が着脱自在に接続され、光ディスク装置１と
外部装置との間で通信を行うことができる。
ンターフェース制御部を介して外部装置（例えば、コン
ピュータ）が着脱自在に接続され、光ディスク装置１と
外部装置との間で通信を行うことができる。
【００４４】次に、光ディスク装置１の作用について説
明する。光ディスク装置１は、光学ヘッド３を目的トラ
ック（目的アドレス）に移動し、この目的トラックにお
いて、フォーカス制御、トラッキング制御、スレッド制
御および回転数制御（回転速度制御）等を行いつつ、光
ディスク２への情報（データ）の書き込み（記録）と、
光ディスク２からの情報（データ）の読み出し（再生）
等を行う。
明する。光ディスク装置１は、光学ヘッド３を目的トラ
ック（目的アドレス）に移動し、この目的トラックにお
いて、フォーカス制御、トラッキング制御、スレッド制
御および回転数制御（回転速度制御）等を行いつつ、光
ディスク２への情報（データ）の書き込み（記録）と、
光ディスク２からの情報（データ）の読み出し（再生）
等を行う。
【００４５】光ディスク２にデータ（信号）を記録する
際は、光ディスク２に形成されているプリグルーブが再
生され（読み出され）、この後、このプリグルーブに沿
って、データが記録される。
際は、光ディスク２に形成されているプリグルーブが再
生され（読み出され）、この後、このプリグルーブに沿
って、データが記録される。
【００４６】光ディスク装置１に、図示しないインター
フェース制御部を介して、光ディスク２に記録するデー
タ（信号）が入力されると、そのデータは、エンコーダ
５５に入力される。
フェース制御部を介して、光ディスク２に記録するデー
タ（信号）が入力されると、そのデータは、エンコーダ
５５に入力される。
【００４７】このエンコーダ５５では、前記データが、
エンコードされ、ＥＦＭ（Eight toFourteen Modulatio
n）と呼ばれる変調方式で変調（ＥＦＭ変調）されて、
ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号とされる。
エンコードされ、ＥＦＭ（Eight toFourteen Modulatio
n）と呼ばれる変調方式で変調（ＥＦＭ変調）されて、
ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号とされる。
【００４８】このＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号は、３Ｔ
〜１１Ｔの長さ（周期）のパルスで構成される信号であ
り、エンコーダ５５からレーザ制御部５４に入力され
る。
〜１１Ｔの長さ（周期）のパルスで構成される信号であ
り、エンコーダ５５からレーザ制御部５４に入力され
る。
【００４９】また、アナログ信号であるＷＲＩＴＥパル
ス信号（電圧）が、制御手段９に内蔵される図示しない
Ｄ／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部５４に入力さ
れる。
ス信号（電圧）が、制御手段９に内蔵される図示しない
Ｄ／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部５４に入力さ
れる。
【００５０】レーザ制御部５４は、ＥＮＣＯＲＤＥ Ｅ
ＦＭ信号に基づいて、制御手段９からのＷＲＩＴＥパル
ス信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、イレーズレベル
と、ローレベル（Ｌ）とに切り換えて出力し、これによ
り光学ヘッド３のレーザダイオード５の駆動を制御す
る。
ＦＭ信号に基づいて、制御手段９からのＷＲＩＴＥパル
ス信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、イレーズレベル
と、ローレベル（Ｌ）とに切り換えて出力し、これによ
り光学ヘッド３のレーザダイオード５の駆動を制御す
る。
【００５１】図２は、エンコーダ５５からのＥＮＣＯＲ
ＤＥ ＥＦＭ信号と、レーザ制御部５４からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号とを示すタイミングチャートである。
ＤＥ ＥＦＭ信号と、レーザ制御部５４からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号とを示すタイミングチャートである。
【００５２】図２に示すように、レーザ制御部５４は、
ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル
（Ｈ）の期間、ＷＲＩＴＥパルス信号のレベルをハイレ
ベル（Ｈ）とローレベル（Ｌ）とを交互に切り換えて出
力し、レーザ光の出力を上げる（書き込み出力にす
る）。そして、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルが
ローレベル（Ｌ）の期間、ＷＲＩＴＥパルス信号のレベ
ルをイレーズレベルにして出力し、レーザ光の出力を下
げる。
ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル
（Ｈ）の期間、ＷＲＩＴＥパルス信号のレベルをハイレ
ベル（Ｈ）とローレベル（Ｌ）とを交互に切り換えて出
力し、レーザ光の出力を上げる（書き込み出力にす
る）。そして、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルが
ローレベル（Ｌ）の期間、ＷＲＩＴＥパルス信号のレベ
ルをイレーズレベルにして出力し、レーザ光の出力を下
げる。
【００５３】これにより、光ディスク２には、ＥＮＣＯ
ＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル（Ｈ）のと
き、所定長のピットが書き込まれ、ＥＮＣＯＲＤＥ Ｅ
ＦＭ信号のレベルがローレベル（Ｌ）のとき、所定長の
ランドが書き込まれる。
ＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル（Ｈ）のと
き、所定長のピットが書き込まれ、ＥＮＣＯＲＤＥ Ｅ
ＦＭ信号のレベルがローレベル（Ｌ）のとき、所定長の
ランドが書き込まれる。
【００５４】このようにして、光ディスク２の所定のト
ラックに、データが書き込まれる（記録される）。
ラックに、データが書き込まれる（記録される）。
【００５５】この光ディスク２へのデータの記録は、プ
リグルーブに沿って、内周側から外周側に向って順次な
される。
リグルーブに沿って、内周側から外周側に向って順次な
される。
【００５６】エンコーダ５５では、前述したＥＮＣＯＤ
Ｅ ＥＦＭ信号の他に、所定のＥＮＣＯＤＥ ＥＦＭ信
号（ランダムＥＦＭ信号）が生成される。このランダム
ＥＦＭ信号は、レーザ光の書き込み出力を決定するＯＰ
Ｃ（Optimum Power Control）において、テストエリア
への試し書きの際のレーザの出力調整（パワーコントロ
ール）に用いられる。
Ｅ ＥＦＭ信号の他に、所定のＥＮＣＯＤＥ ＥＦＭ信
号（ランダムＥＦＭ信号）が生成される。このランダム
ＥＦＭ信号は、レーザ光の書き込み出力を決定するＯＰ
Ｃ（Optimum Power Control）において、テストエリア
への試し書きの際のレーザの出力調整（パワーコントロ
ール）に用いられる。
【００５７】ＯＰＣについて、図３および図４に基づき
説明する。光ディスク２には、プログラムエリアの内周
側に、ＡＴＩＰ特殊情報を有するリードインエリア、Ｐ
ＭＡ（Program Memory Area）、ＰＣＡ（Power Calibra
tion Area）が、外周側から内周側に向って、この順序
で順次設定されている（図３参照）。ＰＭＡは、トラッ
クの開始、終了時間等が書き込まれるエリアである。
説明する。光ディスク２には、プログラムエリアの内周
側に、ＡＴＩＰ特殊情報を有するリードインエリア、Ｐ
ＭＡ（Program Memory Area）、ＰＣＡ（Power Calibra
tion Area）が、外周側から内周側に向って、この順序
で順次設定されている（図３参照）。ＰＭＡは、トラッ
クの開始、終了時間等が書き込まれるエリアである。
【００５８】また、ＰＣＡは、さらに試し書きを行うテ
ストエリア（Test Area）と、そのカウント数を記録す
るカウントエリア（Count Area）とに別れている（図３
参照）。テストエリアは、１５ＡＴＩＰフレーム×１０
０のスペースがあり、それに対応して、カウントエリア
は、１ＡＴＩＰフレーム×１００のスペースがある。
ストエリア（Test Area）と、そのカウント数を記録す
るカウントエリア（Count Area）とに別れている（図３
参照）。テストエリアは、１５ＡＴＩＰフレーム×１０
０のスペースがあり、それに対応して、カウントエリア
は、１ＡＴＩＰフレーム×１００のスペースがある。
【００５９】ＯＰＣでは、テストエリアへ試し書きがな
される。テストエリアへの試し書きの際には、前記ラン
ダムＥＦＭ信号が、エンコーダ５５からレーザ制御部５
４に入力される。また、制御手段９では、１５段階のレ
ベルのＷＲＩＴＥパルス信号が生成され、そのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号が、制御手段９に内臓される図示しないＤ
／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部５４に入力され
る。
される。テストエリアへの試し書きの際には、前記ラン
ダムＥＦＭ信号が、エンコーダ５５からレーザ制御部５
４に入力される。また、制御手段９では、１５段階のレ
ベルのＷＲＩＴＥパルス信号が生成され、そのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号が、制御手段９に内臓される図示しないＤ
／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部５４に入力され
る。
【００６０】そして、レーザ制御部５４では、前記ラン
ダムＥＦＭ信号に基づいて、制御手段９からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、イレーズ
レベルと、ローレベル（Ｌ）とに切り換えて出力し、こ
れにより光学ヘッド３のレーザダイオード５の駆動を制
御する。これを１５段階のハイレベル（Ｈ）のＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のそれぞれで行う。
ダムＥＦＭ信号に基づいて、制御手段９からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、イレーズ
レベルと、ローレベル（Ｌ）とに切り換えて出力し、こ
れにより光学ヘッド３のレーザダイオード５の駆動を制
御する。これを１５段階のハイレベル（Ｈ）のＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のそれぞれで行う。
【００６１】このようにして、１５段階の出力のレーザ
光でテストエリアへの試し書きが行われる。この試し書
きは、複数回（例えば、１００回）行うことができる。
試し書きを１回行う毎に、カウントエリアにそのことを
示すフラグを立てる。ＯＰＣでは、レーザ光のパワー
と、ランダムＥＦＭ信号における１１Ｔの信号の変調度
（例えば、最大振幅／基準振幅）との割合の変化率をγ
としたとき、この１５段階のＷＲＩＴＥパルス信号に対
応した１３種のγのうち、予め設定された所定値γ（例
えば、１．６５）に最も近いγに対応するレーザ光の出
力を適正なレーザ光の出力として定める（決定する）。
光でテストエリアへの試し書きが行われる。この試し書
きは、複数回（例えば、１００回）行うことができる。
試し書きを１回行う毎に、カウントエリアにそのことを
示すフラグを立てる。ＯＰＣでは、レーザ光のパワー
と、ランダムＥＦＭ信号における１１Ｔの信号の変調度
（例えば、最大振幅／基準振幅）との割合の変化率をγ
としたとき、この１５段階のＷＲＩＴＥパルス信号に対
応した１３種のγのうち、予め設定された所定値γ（例
えば、１．６５）に最も近いγに対応するレーザ光の出
力を適正なレーザ光の出力として定める（決定する）。
【００６２】なお、図３、図４に示すように、リードイ
ンエリア開始時間Ｔ３、プログラムエリア開始時間（リ
ードインエリア終了時間）Ｔ４およびリードアウトエリ
ア最終可能開始時間Ｔ５は、それぞれ、ＡＴＩＰ情報に
エンコードされている。そして、ＰＭＡ開始時間Ｔ２お
よびＰＣＡ開始時間Ｔ１は、前記Ｔ３を基準にディスク
内周側へ所定時間移動した位置として把握される。ま
た、テストエリアとカウントエリアの境界も同様であ
る。このように、ＯＰＣにおいては、ＡＴＩＰ情報等に
基づいて、テストエリアおよびカウントエリアにおける
書き込み位置を特定することができる。
ンエリア開始時間Ｔ３、プログラムエリア開始時間（リ
ードインエリア終了時間）Ｔ４およびリードアウトエリ
ア最終可能開始時間Ｔ５は、それぞれ、ＡＴＩＰ情報に
エンコードされている。そして、ＰＭＡ開始時間Ｔ２お
よびＰＣＡ開始時間Ｔ１は、前記Ｔ３を基準にディスク
内周側へ所定時間移動した位置として把握される。ま
た、テストエリアとカウントエリアの境界も同様であ
る。このように、ＯＰＣにおいては、ＡＴＩＰ情報等に
基づいて、テストエリアおよびカウントエリアにおける
書き込み位置を特定することができる。
【００６３】ここで、光ディスク装置１では、テストエ
リア内の試し書きを行う全スペースに既に試し書きが行
われている場合や、テストエリア内に１回の試し書きに
要するスペースより少ないスペースしか残っていない場
合、すなわち、テストエリアに試し書きを行うスペース
がない場合や、テストエリア内に残っているスペースが
少ない場合、前記テストエリアに記録された試し書きデ
ータを消去する消去工程が行われる。
リア内の試し書きを行う全スペースに既に試し書きが行
われている場合や、テストエリア内に１回の試し書きに
要するスペースより少ないスペースしか残っていない場
合、すなわち、テストエリアに試し書きを行うスペース
がない場合や、テストエリア内に残っているスペースが
少ない場合、前記テストエリアに記録された試し書きデ
ータを消去する消去工程が行われる。
【００６４】消去工程では、テストエリアへ試し書きを
行う前に、まず、カウントエリアに立っているフラグ、
すなわち、試し書きが行われた回数から、テストエリア
に試し書きを行うスペースが空いているか否かを確認す
る。
行う前に、まず、カウントエリアに立っているフラグ、
すなわち、試し書きが行われた回数から、テストエリア
に試し書きを行うスペースが空いているか否かを確認す
る。
【００６５】そして、テストエリアに試し書きを行った
回数が所定回以上（例えば、９９〜１００回）の場合、
ＰＣＡに記録された試し書きデータ、すなわち、テスト
エリアに記録された試し書きデータとカウントエリアに
記録された試し書きの回数を示すデータ（フラグ）とを
消去するＣＷイレーズ（Continuous Wave Erase）が行
われる。以下、テストエリアに記録された試し書きデー
タとカウントエリアに記録された試し書きの回数を示す
データ（フラグ）とを単に「試し書きデータ」と言う。
回数が所定回以上（例えば、９９〜１００回）の場合、
ＰＣＡに記録された試し書きデータ、すなわち、テスト
エリアに記録された試し書きデータとカウントエリアに
記録された試し書きの回数を示すデータ（フラグ）とを
消去するＣＷイレーズ（Continuous Wave Erase）が行
われる。以下、テストエリアに記録された試し書きデー
タとカウントエリアに記録された試し書きの回数を示す
データ（フラグ）とを単に「試し書きデータ」と言う。
【００６６】このＣＷイレーズを行うことにより、試し
書きデータが消去され、テストエリアに試し書きをする
スペースが空く。これにより、前記試し書きを行うこと
ができる。
書きデータが消去され、テストエリアに試し書きをする
スペースが空く。これにより、前記試し書きを行うこと
ができる。
【００６７】なお、このＣＷイレーズは、ＰＣＡ開始時
間Ｔ１からＰＭＡ開始時間Ｔ２の手前まで行われる。す
なわち、ＣＷイレーズでは、テストエリアの先頭からカ
ウントエリアの終端までに記録された試し書きデータを
順次消去していく。
間Ｔ１からＰＭＡ開始時間Ｔ２の手前まで行われる。す
なわち、ＣＷイレーズでは、テストエリアの先頭からカ
ウントエリアの終端までに記録された試し書きデータを
順次消去していく。
【００６８】また、消去工程では、ＣＷイレーズを行っ
た後、前記確認手段により、試し書きデータが消去され
たか否かが確認される。具体的には、試し書きデータの
再生を試行し、後述するＨＦ信号が検出されたか否かを
確認する。このＨＦ信号が検出された場合には、前記試
し書きデータが消去されていないと判定する。また、Ｈ
Ｆ信号が検出されない場合は、試し書きデータが消去さ
れていると判定し、テストエリアへ試し書きが行われ
る。
た後、前記確認手段により、試し書きデータが消去され
たか否かが確認される。具体的には、試し書きデータの
再生を試行し、後述するＨＦ信号が検出されたか否かを
確認する。このＨＦ信号が検出された場合には、前記試
し書きデータが消去されていないと判定する。また、Ｈ
Ｆ信号が検出されない場合は、試し書きデータが消去さ
れていると判定し、テストエリアへ試し書きが行われ
る。
【００６９】試し書きデータが消去されていない場合
は、再度ＣＷイレーズを行うことで、試し書きデータの
消去を試行する。この試し書きデータの消去は、前記試
し書きデータが消去されるまで、繰り返し試行される。
は、再度ＣＷイレーズを行うことで、試し書きデータの
消去を試行する。この試し書きデータの消去は、前記試
し書きデータが消去されるまで、繰り返し試行される。
【００７０】また、試し書きデータを消去する際、すな
わち、ＣＷイレーズの際は、前記ＷＲＩＴＥパルス信号
をイレーズレベルに設定し、レーザダイオード５を駆動
する。このイレーズレベルによる一定のレーザ光の出力
でＰＣＡに上書き（オーバーライト）を行うと、ＰＣＡ
に記録された試し書きデータは消去される。
わち、ＣＷイレーズの際は、前記ＷＲＩＴＥパルス信号
をイレーズレベルに設定し、レーザダイオード５を駆動
する。このイレーズレベルによる一定のレーザ光の出力
でＰＣＡに上書き（オーバーライト）を行うと、ＰＣＡ
に記録された試し書きデータは消去される。
【００７１】また、このイレーズレベル（一定のレーザ
光の出力）は、複数段階のレベルに設定し得るよう構成
されており、消去工程では、イレーズレベルを変えて各
ＣＷイレーズが行われる。これにより、適正なイレーズ
レベルで試し書きデータの消去を行うことができる。な
お、このイレーズレベルは試し書きを行う際のレーザ光
の出力より小さいレーザ光の出力である。
光の出力）は、複数段階のレベルに設定し得るよう構成
されており、消去工程では、イレーズレベルを変えて各
ＣＷイレーズが行われる。これにより、適正なイレーズ
レベルで試し書きデータの消去を行うことができる。な
お、このイレーズレベルは試し書きを行う際のレーザ光
の出力より小さいレーザ光の出力である。
【００７２】このようにして、光ディスク装置１では、
テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去
することができる。
テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去
することができる。
【００７３】光ディスク２からデータ（信号）を再生す
る（読み出す）際は、レーザ制御部５４からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のレベルは、読み出し出力に対応する一定
のＤＣレベルに保持され、これにより、レーザ光の出力
が、読み出し出力に保持される。読み出し出力は、例え
ば、１．０mW程度とされる。
る（読み出す）際は、レーザ制御部５４からのＷＲＩＴ
Ｅパルス信号のレベルは、読み出し出力に対応する一定
のＤＣレベルに保持され、これにより、レーザ光の出力
が、読み出し出力に保持される。読み出し出力は、例え
ば、１．０mW程度とされる。
【００７４】再生の際は、レーザ光が、光学ヘッド３の
レーザダイオード５から光ディスク２の所定のトラック
に照射される。このレーザ光は、光ディスク２で反射
し、その反射光は、光学ヘッド３の分割フォトダイオー
ド６で受光される。
レーザダイオード５から光ディスク２の所定のトラック
に照射される。このレーザ光は、光ディスク２で反射
し、その反射光は、光学ヘッド３の分割フォトダイオー
ド６で受光される。
【００７５】この分割フォトダイオード６からは、受光
量に応じた電流が出力され、この電流は、図示しないＩ
−Ｖアンプ（電流−電圧変換部）で、電圧に変換され、
光学ヘッド３から出力される。
量に応じた電流が出力され、この電流は、図示しないＩ
−Ｖアンプ（電流−電圧変換部）で、電圧に変換され、
光学ヘッド３から出力される。
【００７６】光学ヘッド３から出力された電圧（検出信
号）は、ＲＦアンプＩＣ４０に入力され、このＲＦアン
プＩＣ４０で、加算や増幅等を行うことにより、ＨＦ
（ＲＦ）信号が生成される。このＨＦ信号は、光ディス
ク２に書き込まれているピットとランドに対応するアナ
ログ信号である。
号）は、ＲＦアンプＩＣ４０に入力され、このＲＦアン
プＩＣ４０で、加算や増幅等を行うことにより、ＨＦ
（ＲＦ）信号が生成される。このＨＦ信号は、光ディス
ク２に書き込まれているピットとランドに対応するアナ
ログ信号である。
【００７７】ＨＦ信号は、サーボプロセッサ５１に入力
され、このサーボプロセッサ５１で、２値化され、ＥＦ
Ｍ（Eight to Fourteen Modulation）復調され、所定形
式のデータ（ＤＡＴＡ信号）にデコード（変換）され
て、デコーダ５２に入力される。
され、このサーボプロセッサ５１で、２値化され、ＥＦ
Ｍ（Eight to Fourteen Modulation）復調され、所定形
式のデータ（ＤＡＴＡ信号）にデコード（変換）され
て、デコーダ５２に入力される。
【００７８】そして、このデータは、デコーダ５２で、
通信（送信）用の所定形式のデータにデコードされ、図
示しないインターフェース制御部を介して、外部装置
（例えば、コンピュータ）に送信される。
通信（送信）用の所定形式のデータにデコードされ、図
示しないインターフェース制御部を介して、外部装置
（例えば、コンピュータ）に送信される。
【００７９】以上のような再生動作におけるトラッキン
グ制御、スレッド制御、フォーカス制御および回転数制
御は、次にようにして行われる。
グ制御、スレッド制御、フォーカス制御および回転数制
御は、次にようにして行われる。
【００８０】前述したように、光学ヘッド３の分割フォ
トダイオード６からの電流−電圧変換後の信号（電圧）
は、ＲＦアンプＩＣ４０に入力される。
トダイオード６からの電流−電圧変換後の信号（電圧）
は、ＲＦアンプＩＣ４０に入力される。
【００８１】ＲＦアンプＩＣ４０は、この分割フォトダ
イオード６からの電流−電圧変換後の信号に基づいて、
トラッキングエラー信号（ＴＥ）（電圧）を生成する。
イオード６からの電流−電圧変換後の信号に基づいて、
トラッキングエラー信号（ＴＥ）（電圧）を生成する。
【００８２】トラッキングエラー信号は、トラックの中
心からの径方向における対物レンズのずれの大きさおよ
びその方向（トラックの中心からのずれ量）を示す信号
である。
心からの径方向における対物レンズのずれの大きさおよ
びその方向（トラックの中心からのずれ量）を示す信号
である。
【００８３】トラッキングエラー信号は、サーボプロセ
ッサ５１に入力される。サーボプロセッサ５１では、こ
のトラッキングエラー信号に対し、位相の反転や増幅等
の所定の信号処理が行われ、これによりトラッキングサ
ーボ信号（電圧）が生成される。このトラッキングサー
ボ信号に基づいて、ドライバ２１を介し、トラッキング
アクチュエータ４１に所定の駆動電圧が印加され、この
トラッキングアクチュエータ４１の駆動により、対物レ
ンズは、トラックの中心に向って移動する。すなわち、
トラッキングサーボがかかる。
ッサ５１に入力される。サーボプロセッサ５１では、こ
のトラッキングエラー信号に対し、位相の反転や増幅等
の所定の信号処理が行われ、これによりトラッキングサ
ーボ信号（電圧）が生成される。このトラッキングサー
ボ信号に基づいて、ドライバ２１を介し、トラッキング
アクチュエータ４１に所定の駆動電圧が印加され、この
トラッキングアクチュエータ４１の駆動により、対物レ
ンズは、トラックの中心に向って移動する。すなわち、
トラッキングサーボがかかる。
【００８４】このトラッキングアクチュエータ４１の駆
動のみでは、対物レンズをトラックに追従させることに
限界があり、これをカバーすべく、ドライバ２２を介
し、スレッドモータ７を駆動して光学ヘッド本体を前記
対物レンズが移動した方向と同方向に移動し、対物レン
ズを中立位置に戻すように制御する（スレッド制御を行
う）。
動のみでは、対物レンズをトラックに追従させることに
限界があり、これをカバーすべく、ドライバ２２を介
し、スレッドモータ７を駆動して光学ヘッド本体を前記
対物レンズが移動した方向と同方向に移動し、対物レン
ズを中立位置に戻すように制御する（スレッド制御を行
う）。
【００８５】また、ＲＦアンプＩＣ４０は、前記分割フ
ォトダイオード６からの電流−電圧変換後の信号に基づ
いて、フォーカスエラー信号（ＦＥ）（電圧）を生成す
る。
ォトダイオード６からの電流−電圧変換後の信号に基づ
いて、フォーカスエラー信号（ＦＥ）（電圧）を生成す
る。
【００８６】フォーカスエラー信号は、合焦位置からの
光軸方向（回転軸方向）における対物レンズのずれの大
きさおよびその方向（合焦位置からの対物レンズの光軸
方向（回転軸方向）のずれ量）を示す信号である。
光軸方向（回転軸方向）における対物レンズのずれの大
きさおよびその方向（合焦位置からの対物レンズの光軸
方向（回転軸方向）のずれ量）を示す信号である。
【００８７】フォーカスエラー信号は、サーボプロセッ
サ５１に入力される。サーボプロセッサ５１では、この
フォーカスエラー信号に対し、位相の反転や増幅等の所
定の信号処理が行われ、これによりフォーカスサーボ信
号（電圧）が生成される。このフォーカスサーボ信号に
基づいて、ドライバ２１を介し、フォーカスアクチュエ
ータ４２に所定の駆動電圧が印加され、このフォーカス
アクチュエータ４２の駆動により、対物レンズは、合焦
位置に向って移動する。すなわち、フォーカスサーボが
かかる。
サ５１に入力される。サーボプロセッサ５１では、この
フォーカスエラー信号に対し、位相の反転や増幅等の所
定の信号処理が行われ、これによりフォーカスサーボ信
号（電圧）が生成される。このフォーカスサーボ信号に
基づいて、ドライバ２１を介し、フォーカスアクチュエ
ータ４２に所定の駆動電圧が印加され、このフォーカス
アクチュエータ４２の駆動により、対物レンズは、合焦
位置に向って移動する。すなわち、フォーカスサーボが
かかる。
【００８８】また、サーボプロセッサ５１では、スピン
ドルモータ１１の回転数（回転速度）を制御するための
制御信号（電圧）、すなわち、スピンドルモータ１１の
回転数を目標値にするための制御信号が生成され、ドラ
イバ２３に入力される。
ドルモータ１１の回転数（回転速度）を制御するための
制御信号（電圧）、すなわち、スピンドルモータ１１の
回転数を目標値にするための制御信号が生成され、ドラ
イバ２３に入力される。
【００８９】ドライバ２３では、前記制御信号に基づい
てスピンドルモータ１１を駆動する駆動信号（電圧）が
生成される。
てスピンドルモータ１１を駆動する駆動信号（電圧）が
生成される。
【００９０】ドライバ２３から出力された前記駆動信号
は、スピンドルモータ１１に入力され、その駆動信号に
基づいてスピンドルモータ１１が駆動し、スピンドルモ
ータ１１の回転数が目標値となるようにスピンドルサー
ボがかかる。
は、スピンドルモータ１１に入力され、その駆動信号に
基づいてスピンドルモータ１１が駆動し、スピンドルモ
ータ１１の回転数が目標値となるようにスピンドルサー
ボがかかる。
【００９１】また、光学ヘッド３（対物レンズ）を光デ
ィスク２上の目的位置、すなわち、目的トラック（目的
アドレス）へ移動させる際、トラックジャンプ制御が行
われる。このトラックジャンプ制御では、スレッドモー
タ７の駆動と、アクチュエータ４の駆動とをそれぞれ制
御し、粗シーク（ラフサーチ）、精密サーチ（ファイン
サーチ）、またはこれらの組み合わせにより、光学ヘッ
ド３（対物レンズ）を目的トラック（目的アドレス）へ
移動させる。
ィスク２上の目的位置、すなわち、目的トラック（目的
アドレス）へ移動させる際、トラックジャンプ制御が行
われる。このトラックジャンプ制御では、スレッドモー
タ７の駆動と、アクチュエータ４の駆動とをそれぞれ制
御し、粗シーク（ラフサーチ）、精密サーチ（ファイン
サーチ）、またはこれらの組み合わせにより、光学ヘッ
ド３（対物レンズ）を目的トラック（目的アドレス）へ
移動させる。
【００９２】次に、試し書きデータを消去する消去工程
の際の制御手段９の制御動作について説明する。
の際の制御手段９の制御動作について説明する。
【００９３】図５は、試し書きデータを消去する消去工
程の際の制御手段９の制御動作を示すフローチャートで
ある。以下、このフローチャートに基づいて説明する。
程の際の制御手段９の制御動作を示すフローチャートで
ある。以下、このフローチャートに基づいて説明する。
【００９４】まず、光ディスク装置１に光ディスク２を
装着し、その光ディスク２のテストエリア内のスペース
に空きがあるか否かを確認する（ステップＳ１０１）。
テストエリア内のスペースに空きがある場合は、この消
去工程を終了し、テストエリアへの試し書きが行われ
る。
装着し、その光ディスク２のテストエリア内のスペース
に空きがあるか否かを確認する（ステップＳ１０１）。
テストエリア内のスペースに空きがある場合は、この消
去工程を終了し、テストエリアへの試し書きが行われ
る。
【００９５】テストエリア内のスペースに空きがない場
合は、レーザ光の出力を所定のイレーズレベルに設定し
（ステップＳ１０２）、光学ヘッド３をテストエリアの
先頭へシークする（ステップＳ１０３）。
合は、レーザ光の出力を所定のイレーズレベルに設定し
（ステップＳ１０２）、光学ヘッド３をテストエリアの
先頭へシークする（ステップＳ１０３）。
【００９６】次に、ステップＳ１０３で設定されたレー
ザ光の出力、すなわち、所定のイレーズレベルにて、Ｃ
Ｗイレーズを行う（ステップＳ１０４）。このＣＷイレ
ーズでは、前述したように、テストエリアの先頭からカ
ウントエリアの終端までに記録された試し書きデータが
順次消去されていく。
ザ光の出力、すなわち、所定のイレーズレベルにて、Ｃ
Ｗイレーズを行う（ステップＳ１０４）。このＣＷイレ
ーズでは、前述したように、テストエリアの先頭からカ
ウントエリアの終端までに記録された試し書きデータが
順次消去されていく。
【００９７】次に、光学ヘッド３をテストエリアの先頭
へシークし（ステップＳ１０５）、試し書きデータの再
生を試行する（ステップＳ１０６）。
へシークし（ステップＳ１０５）、試し書きデータの再
生を試行する（ステップＳ１０６）。
【００９８】この試し書きデータの再生によりＨＦ信号
を検出したか否かを判断し（ステップＳ１０７）、ＨＦ
信号を検出した場合、すなわち、試し書きデータが消去
されていない場合は、ステップＳ１０２に戻り、再度ス
テップＳ１０２以降を実行する。これにより、試し書き
データが消去されるまで、試し書きデータの消去の再試
行が繰り返し行われる。
を検出したか否かを判断し（ステップＳ１０７）、ＨＦ
信号を検出した場合、すなわち、試し書きデータが消去
されていない場合は、ステップＳ１０２に戻り、再度ス
テップＳ１０２以降を実行する。これにより、試し書き
データが消去されるまで、試し書きデータの消去の再試
行が繰り返し行われる。
【００９９】また、ステップＳ１０７において、ＨＦ信
号を検出しない場合、すなわち、試し書きデータが消去
されている場合、この消去工程を終了する。この消去工
程が終了すると、次に、テストエリアへの試し書きが行
われる。これにより、適正なレーザ光の書き込み出力を
決定することができる。
号を検出しない場合、すなわち、試し書きデータが消去
されている場合、この消去工程を終了する。この消去工
程が終了すると、次に、テストエリアへの試し書きが行
われる。これにより、適正なレーザ光の書き込み出力を
決定することができる。
【０１００】以上説明したように、この光ディスク装置
１によれば、確実に試し書きデータを消去することがで
きる。
１によれば、確実に試し書きデータを消去することがで
きる。
【０１０１】これにより、ＯＰＣでは、テストエリアへ
の試し書きが正常に行われ、レーザ光の書き込み出力を
確実に適正値に設定することができる。
の試し書きが正常に行われ、レーザ光の書き込み出力を
確実に適正値に設定することができる。
【０１０２】また、これにより、実際のデータの書き込
みとその書き込みされたデータの読み出しとを良好に行
うことができる。
みとその書き込みされたデータの読み出しとを良好に行
うことができる。
【０１０３】以上、本発明の光ディスク装置を、図示の
実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する
任意の構成のものに置換することができる。
実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する
任意の構成のものに置換することができる。
【０１０４】例えば、本発明の光ディスク装置は、記録
・再生が可能な装置に限らず、記録専用の装置にも適用
することができる。
・再生が可能な装置に限らず、記録専用の装置にも適用
することができる。
【０１０５】また、本発明の光ディスク装置は、複数種
の光ディスクを記録または記録・再生する各種光ディス
ク装置に適用することもできる。
の光ディスクを記録または記録・再生する各種光ディス
ク装置に適用することもできる。
【０１０６】また、本発明の光ディスク装置では、ＣＷ
イレーズを行った後、試し書きデータが消去されていな
い場合には、イレーズレベルを一段階高く設定し、再度
ＣＷイレーズを行うよう構成されていてもよい。
イレーズを行った後、試し書きデータが消去されていな
い場合には、イレーズレベルを一段階高く設定し、再度
ＣＷイレーズを行うよう構成されていてもよい。
【０１０７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
ク装置によれば、テストエリアに記録された試し書きデ
ータを確実に消去することができる。
ク装置によれば、テストエリアに記録された試し書きデ
ータを確実に消去することができる。
【０１０８】これにより、ＯＰＣでは、テストエリアへ
の試し書きが正常に行われ、レーザ光の書き込み出力を
確実に適正値に設定することができる。
の試し書きが正常に行われ、レーザ光の書き込み出力を
確実に適正値に設定することができる。
【図１】本発明の光ディスク装置の実施形態を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】本発明におけるエンコーダからのＥＮＣＯＲＤ
Ｅ ＥＦＭ信号と、レーザ制御部からのＷＲＩＴＥパル
ス信号とを示すタイミングチャートである。
Ｅ ＥＦＭ信号と、レーザ制御部からのＷＲＩＴＥパル
ス信号とを示すタイミングチャートである。
【図３】本発明における光ディスクの情報記録エリアを
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明における光ディスクのＯＰＣに必要なＰ
ＣＡ等を示す図である。
ＣＡ等を示す図である。
【図５】本発明における試し書きデータを消去する消去
工程の際の制御手段の制御動作を示すフローチャートで
ある。
工程の際の制御手段の制御動作を示すフローチャートで
ある。
１ 光ディスク装置 ２ 光ディスク ３ 光学ヘッド ４ アクチュエータ ４１ トラッキングアクチュエータ ４２ フォーカスアクチュエータ ５ レーザダイオード ６ 分割フォトダイオード ７ スレッドモータ ９ 制御手段 １１ スピンドルモータ ２１〜２３ ドライバ ４０ ＲＦアンプＩＣ ５１ サーボプロセッサ ５２ デコーダ ５３ メモリー ５４ レーザ制御部 ５５ エンコーダ Ｓ１０１〜Ｓ１０７ ステップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC02 DD03 DD05 EE06 EE09 FF36 HH01 JJ12 KK03
Claims (13)
- 【請求項１】 試し書きを行うテストエリアを有する光
ディスクに対し記録または記録・再生する光ディスク装
置であって、 前記光ディスクを装着して回転させる回転駆動機構と、 前記光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し得
る光学ヘッドと、 前記テストエリアに記録された試し書きデータを消去す
る消去工程において、 該試し書きデータが消去されたか否かを確認する確認手
段とを有することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 試し書きを行うテストエリアと、前記テ
ストエリアに試し書きを行った回数を記録するカウント
エリアとを有する光ディスクに対し記録または記録・再
生する光ディスク装置であって、 前記光ディスクを装着して回転させる回転駆動機構と、 前記光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し得
る光学ヘッドと、 前記テストエリアと前記カウントエリアとに記録された
試し書きデータの消去において、該試し書きデータが消
去されているか否かを確認する確認手段とを有すること
を特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記テストエリアに試し書きを行った回
数が所定回以上の場合、前記試し書きデータを消去する
よう構成されている請求項１または２に記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項４】 前記テストエリアに試し書きを行った回
数が９９〜１００回の場合、前記試し書きデータを消去
するよう構成されている請求項１または２に記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項５】 前記消去工程において、前記試し書きデ
ータの消去を試行した後、前記確認手段により、前記試
し書きデータが消去されていないことが確認された場合
には、再度前記試し書きデータの消去を試行するよう構
成されている請求項１ないし４のいずれかに記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項６】 前記消去工程において、前記試し書きデ
ータが消去されるまで、前記試し書きデータの消去を繰
り返し試行するよう構成されている請求項１ないし５の
いずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項７】 前記確認手段は、前記消去工程におい
て、前記試し書きデータの再生を試行することにより、
前記試し書きデータが消去されたか否かを確認する請求
項１ないし６のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 前記確認手段は、前記試し書きデータの
再生を試みたとき、所定の信号が検出された場合に、前
記試し書きデータが消去されていないと判定する請求項
７に記載の光ディスク装置。 - 【請求項９】 前記所定の信号は、ＨＦ信号である請求
項８に記載の光ディスク装置。 - 【請求項１０】 前記試し書きデータの消去の際のレー
ザ光の出力は、複数段階のレベルに設定し得るよう構成
されている請求項１ないし９のいずれかに記載の光ディ
スク装置。 - 【請求項１１】 前記試し書きデータの消去の際のレー
ザ光の出力は、前記試し書きを行う際のレーザ光の出力
により小さい請求項１ないし１０のいずれかに記載の光
ディスク装置。 - 【請求項１２】 前記光ディスクは、書き換えが可能な
光ディスクである請求項１ないし１１に記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項１３】 前記光ディスクは、ＣＤ−ＲＷである
請求項１ないし１２に記載の光ディスク装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001102026A JP2002298376A (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 光ディスク装置 |
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ID=18955272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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- 2001-03-30 JP JP2001102026A patent/JP2002298376A/ja active Pending
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- 2002-03-22 CN CNB028008545A patent/CN1224015C/zh not_active Expired - Fee Related
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