JP3135795B2 - ダイナミック型メモリ - Google Patents
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Description
り、特にデータの入出力経路に非常に高速のデータ転送
を要求されるダイナミック型メモリ(DRAM)に関す
る。
モリセルアレイを複数のセルアレイ(サブアレイ)に分
割し、そのうちの幾つかを同時に動作させるセルアレイ
分割動作方式が用いられている。この方式は、ロウ系動
作の消費電流の多くを占めるビット線の充放電電流を低
減するためである。サブアレイの分割数は動作速度とも
大きな関係がある。1つのサブアレイの規模が大きい
と、ワード線の容量が大きくなり過ぎてその立上がり速
度や立下がり速度が遅くなり、ビット線の容量が大きく
なり過ぎてビット線対間の電位差が小さくなり、センス
アンプによるビット線電位の増幅動作が遅くなり、メモ
リチップ全体の動作速度が遅くなる。従って、素子の微
細化に伴ってDRAMの記憶容量が大きくなればなるほ
ど、サブアレイの分割数は増える傾向にある。
されるメモリとしては、低価格で実現可能なDRAMが
要求されている。また、コンピュータの分野では、マイ
クロプロセッサ(MPU)の動作速度のDRAMの動作
速度との乖離は大きくなる一方であり、両者の間のデー
タ転送速度がシステム全体の性能を左右するボトルネッ
クになっている。これを解消するための様々な改良がな
されており、その代表的なものは、MPUのサイクルタ
イムとメインメモリのアクセス時間との差を埋めるため
に両者の間に置かれ、MPUの使用効率の向上を可能と
する高速メモリ(キャッシュメモリ)の採用である。
RAMからも独立したSRAMで構成するもの、MPU
チップ上に搭載されるオンチップ・キャッシュ(あるい
は、エンベデッド・メモリ)と称されるSRAMで構成
するもの(実際は、キャッシュメモリを搭載したMPU
が、さらに、別チップのSRAMキャッシュを持つ場合
もある)、DRAMチップ上に搭載されるSRAMセル
で構成するものものがある。
キャッシュを搭載する点については、1990 Symposium o
n VLSI Circuits,Digest of Technical Papers,pp 79-8
0 "A Circuit Design of Intelligent CDDRAM with Aut
omatic Write back Capability " なる文献に、1トラ
ンジスタ・1キャパシタのセルを用いたDRAMのカラ
ム毎にSRAMセルを付加し、これをキャッシュメモリ
として使用する技術が開示されている。また、この文献
には、読み出したいアドレスがキャッシュメモリにない
(ミスヒット)場合には、その時点でのキャッシュメモ
リの内容を該当するアドレスのDRAMセルに書き戻
し、その後、アクセスしたいアドレスのDRAMセルを
読み出す技術についても言及している。このようなキャ
ッシュ搭載型のDRAMは、キャッシュメモリを搭載し
たMPUと併用することも可能である。
キャッシュメモリとして利用し得る点について本願出願
人の出願に係る特願平3−41316号(特開平4−2
12780号)に述べられており、その具体的な構成例
および制御動作例が本願出願人の出願に係る特願平3−
41315号に述べられている。
−131095号により、DRAMのメモリ領域を複数
のサブアレイに分割して各サブアレイを互いに独立して
動作させ、ビット線センスアンプをキャッシュメモリと
して使うことにより、キャッシュメモリのヒット率を上
昇させ得るDRAMが提案されている。
イ毎に、そのセンスアンプが互いに異なるアドレスに対
応するロウから抽出されたデ−タを保持するので、選択
状態にあるロウへデ−タアクセス要求がくる(ヒット)
確率を上昇させることができ、選択状態にあるロウへデ
−タアクセス要求がこない(ミス)確率と上記ヒットの
確率との平均値により決まるデ−タアクセスタイムの平
均値を小さくできる。
単に説明しておく。いま、DRAMがMPU等からのア
クセスを待機している状態を考える。この時、あるロウ
アドレスのメモリセル群からの読み出しデータをセンス
アンプ群にラッチしておくものとする。
ータがラッチされているロウアドレスと同じロウアドレ
スのアクセスがあった場合(ヒット時)は、ロウ系の動
作を省略してカラム系の動作のみでデータを出力するこ
とができるようになり、ロウ系の動作分のアクセスタイ
ムを低減することができる。
ラッチされていないロウアドレスにアクセスがあった場
合(ミス時)は、センスアンプ群のデータをメモリセル
に書き戻した後(または、単にセンスアンプ群のイコラ
イズ動作後)に、新たなロウアドレスのメモリセル群か
らの読み出しデータをセンスアンプ群にラッチしておく
必要がある。このミスの場合には、キャッシュ方式を用
いない場合よりも、アクセスタイムが余計にかかる。
さいと、システムの平均的なアクセスタイムが長くなる
危険性があり、ヒット率を上昇させることが、システム
の平均的なアクセスタイムを短くする上で重要である。
ために、キャッシュメモリの容量を増大させる方法、キ
ャッシュメモリを幾つかのバンクに分ける方法がある。
上記したようにキャッシュメモリの容量を増大させる方
法をセンスアンプキャッシュ方式に適用する場合、デー
タをラッチした状態でアクセスを待つセンスアンプの数
を増大させることを意味する。一般に、大容量メモリ
は、前述したように各サブアレイのうちの幾つかを同時
に活性化させる部分活性化を行う。その際、ロウ系の動
作をさせないサブアレイに関連したセンスアンプは、デ
ータを保持させないのが一般的である。しかし、上記し
たようなロウ系の動作をさせないサブアレイに関連した
センスアンプにもデータを保持させたままにしておくこ
とにより、アクセスを待機している状態でデータを保持
しているセンスアンプ数を増大させ、キャッシュメモリ
の容量を増大させてそのヒット率を上昇させることがで
きる。
幾つかのバンクに分ける方法をセンスアンプキャッシュ
方式に適用する場合、センスアンプ群を複数のバンクに
分けることを意味する。汎用のDRAMでは、通常、複
数のサブアレイに関連したセンスアンプが同じタイミン
グで、センス・ラッチ・イコライズなどの動作を行って
いる。その際、前記したようにロウ系の動作をさせない
サブアレイに関連したセンスアンプは、データを保持し
たまま待機しているようにすることが可能になる。ここ
で、同時に動作するセンスアンプ群をバンクと呼ぶが、
キャッシュメモリのヒット率を上昇させるためのバンク
分けの仕方には、次に述べるようないくつかの条件があ
る。(1)バンク毎に独立のセンスアンプを持つこと。
(2)各バンクのセンスアンプは、他のバンクのロウア
ドレスに関係なく、自己のバンクのデータを保持できる
こと。つまり、ロウ系の動作をしていないバンクのセン
スアンプは、他のバンクのロウアドレスに関係なく、自
己が属するバンクのデータを保持し続けることができる
こと。(3)各バンクは、全ての入/出力パッドに対す
るデータパスを持つこと、つまり、キャッシュメモリに
対するアクセスはある特定のバンクに対して行われる
が、多ビット構成のDRAMの場合には、上記アクセス
されているバンクから全ての入/出力パッドに同じタイ
ミングでデータを供給する必要があるからである。
めに、図4に示すように、2つのサブアレイ61に挟ま
れた領域にセンスアンプ(センス用NMOSアンプ、リ
ストア用PMOSアンプ)62を配置し、制御信号Xf
er1、Xfer2により転送用トランジスタを制御し
て2つのサブアレイ61を1つのセンスアンプ62に選
択的に接続することにより2つのサブアレイ61で1つ
のセンスアンプ62を時分割的に使用する共有(シェア
ード)センスアンプ方式が知られている。
モリで実際に採用されており、チップ面積の低減化を図
っている。ここで、共有センスアンプ方式における配置
の効率について、図5および図6に模式的に示すような
2つの配置を考えてみる。
ンスアンプ72とが並ぶブロックが交互に繰り返す数が
多い共有センスアンプ構成の方が、図6に示すようにサ
ブアレイ71と共有センスアンプ72とが並ぶブロック
が交互に繰り返す数が少ない共有センスアンプ構成の繰
り返しよりも配置効率が良いことが分かる。
つサブアレイにセンスアンプキャッシュ方式を適用し、
キャッシュメモリの容量を増大させようとすると、図7
に示すような構成になる。つまり、共有センスアンプ構
成を持つサブアレイ71のうちの半分のサブアレイ
(A、B、C)あるいは(a、b、c)を活性化させ、
サブアレイ71の一端側のセンスアンプを除くセンスア
ンプ72群にデータを保持させることにより、データを
ラッチした状態でアクセスを待つセンスアンプの数を増
大させることが可能になる。
共有センスアンプ構成では、バンク分けができないこと
が分かる。即ち、サブアレイAとaとは別のバンクに分
けることができない。その理由は、前記したようなバン
ク分けの条件の(1)を満たさず、バンク毎に独立のセ
ンスアンプを持つことができないからである。また、サ
ブアレイaとBとは別のバンクに分けることができな
い。その理由は、サブアレイaとBとはセンスアンプを
共有しており、やはり、バンク分けの条件の(1)を満
たさない。このことから、帰納的に、図7に示したよう
に共有センスアンプ構成が続いている限り、バンク分け
ができないことが分かる。
る場合に、バンク分けを行うためには、共有センスアン
プ構成を持つサブアレイを途中で分断しなければならな
くなり、これは共有センスアンプ構成の利点である配置
効率の良さに伴うチップ面積の低減効果が小さくなって
しまうことを意味する。
イと共有センスアンプとの配列方向にのみ行う横方向分
割方式のままで、配置効率の良い共有センスアンプ構成
を持つサブアレイを途中で分断して2個のバンクに分け
ようとすると、図8に示すような構成になる。
ト数のデータを入出力するための全ての入出力(I/
O)パッド76をチップのサブアレイ配列方向の一辺に
集め、メモリ実装用の印刷回路基板に垂直状態で表面実
装し得るようにした縦型パッケージ(VSMP)を用い
ることにより、パッケージ内部のリードフレームや回路
基板上の配線を短くしてデータ転送の高速化を図ろうと
する例を示している。
ているデータ線73は、各サブアレイ71に対応して設
けられているデータバッファ(DQバッファ)74に接
続されており、各バンクの各1個のデータバッファ74
に共通にマルチプレクサ(MPX)75が接続されてお
り、このマルチプレクサ75は前記I/Oパッド76と
同数だけ設けられている。
率の良い共有センスアンプ構成を続ければ続けるほどサ
ブアレイ71と共有センスアンプ72との繰り返し数が
大きくなる。このことは、前述したようにDRAMの大
容量化に伴ってサブアレイ数が増大する傾向にあること
を考えると、横方向に分けられた各バンクの各サブアレ
イ71に対応するDQバッファ74とマルチプレクサ7
5とを接続するためのデータパスが長くなり、チップ内
でのデータ転送の高速化を妨げる要因になる。
センスアンプ構成およびセンスアンプキャッシュ方式を
採用する場合に、配置効率の良い共有センスアンプ構成
の下でキャッシュメモリのヒット率を上昇させるために
キャッシュメモリの容量を増大させると共にキャッシュ
メモリを幾つかのバンクに分けようとすると、データパ
スが長くなり、チップ内でのデータ転送の高速化を図る
上で支障が生じるという問題があった。
DRAMは、共有センスアンプ構成およびセンスアンプ
キャッシュ方式を小さな面積で実現しようとする場合
に、キャッシュメモリのヒット率の上昇とチップ内での
データ転送の高速化とを両立させることができず、どち
らかを犠牲にせざるを得なかった。
たもので、共有センスアンプ構成およびセンスアンプキ
ャッシュ方式を小さな面積で実現しようとする場合に、
キャッシュメモリのヒット率を上昇させることができ、
チップ内のデータパスを短くしてデータ転送の高速化を
図ることができ、共有センスアンプ構成およびセンスア
ンプキャッシュ方式の各利点を活かした形で共存させ得
る高性能、低価格のダイナミック型メモリを提供するこ
とを目的とする。
ク型メモリは、第1、第2のバンクに分割されて動作が
制御され、第1のバンクを構成する第1のメモリブロッ
クおよび第2のバンクを構成する第2のメモリブロック
が設けられ、前記第1および第2のメモリブロックは第
1の方向に並んで配置されており、上記第1および第2
の各メモリブロックはそれぞれ、それぞれ行列状に配置
されたダイナミック型のメモリセルのアレイを有し、同
一行のメモリセルに接続された複数のワード線および同
一列のメモリセルに接続された複数のビット線を有する
複数のサブアレイと、上記各サブアレイにおいて選択さ
れた行のメモリセルから読み出された電位をセンス増幅
するために設けられ、各バンク毎にそれぞれ同じタイミ
ングで動作するように制御され、アクセス待機状態のバ
ンクではセンスデータを保持したままの状態とされ、キ
ャッシュメモリとして使用される複数のセンスアンプと
を有し、上記第1および第2の各メモリブロックにおい
て1つのサブアレイと1つのセンスアンプとが上記第1
の方向と直交する第2の方向に交互に繰り返され、その
繰り返し方向の両端にセンスアンプが位置するように配
置され、かつ上記第1及び第2のメモリブロックは2つ
のサブアレイに挟まれたセンスアンプが上記2つのサブ
アレイで時分割的に使用される共有センスアンプ構成を
それぞれ有し、さらに、前記第1の方向に平行に形成さ
れ、前記第1のメモリブロックの前記複数のセンスアン
プに保持されたデータのうち選択された列のデータを転
送するための複数の第1データ線と、前記第1の方向に
平行に形成され、前記第2のメモリブロックの前記複数
のセンスアンプに保持されたデータのうち選択された列
のデータを転送するための複数の第2データ線と、前記
第1データ線又は第2データ線に選択的に接続され、前
記第1データ線又は第2データ線を介して対応するサブ
アレイとの間でデータの入出力が行われる前記第2の方
向に平行に配置された複数のデータ入/出力端子とが設
けられていることを特徴とする。
1の発明のダイナミック型メモリに対して、それぞれ前
記各サブアレイに対応して前記メモリブロックの近傍で
前記データ入/出力端子に近い側に配置され、対応する
サブアレイのデータ線からのデータを増幅する複数のデ
ータバッファ回路と、前記メモリブロックと前記複数の
データ入/出力端子との間に前記第2の方向に平行に配
置して設けられ、それぞれ前記第1、第2バンクにおけ
る各1個のサブアレイに対応するデータバッファ回路に
共通に接続されて上記第1及び第2のバンクからのデー
タを選択的に取り出す複数のマルチプクサが付加されて
いる。
1の発明のダイナミック型メモリに対して、前記メモリ
ブロックとデータ入/出力端子との間の領域で第2の方
向に平行に配置され、それぞれ前記第1、第2のバンク
における各1個のサブアレイに対応する複数のデータ線
に共通に接続され、前記第1、第2のバンクからのデー
タを選択的に増幅する複数のデータバッファ回路・マル
チプクサが付加されている。
が、サブアレイとセンスアンプとの繰り返し方向に垂直
な方向のメモリチップの第2の辺に沿って複数個に分割
されて配置されてバンク分割が行われているので、各サ
ブアレイのセンスアンプ群をキャッシュメモリとして用
いたセンスアンプキャッシュ方式を採用することができ
る。
アレイに対応する複数のデータ線に共通にマルチプクサ
が接続されているので、複数のバンクのデータをマルチ
プクスして各バンク毎のデータを独立に読み出すことが
可能になり、各バンクは全ての入/出力パッド群に対す
るデータパスを持っているので、キャッシュメモリのヒ
ット率を上昇させることが可能になる。
ぞれ同じタイミングで動作(センス・ラッチ・イコライ
ズなど)し、アクセス待機状態のサブアレイのセンスア
ンプがセンスデータを保持したままの状態に制御される
ので、キャッシュメモリの容量を増大させることがで
き、キャッシュメモリのヒット率を上昇させることが可
能になる。
いるデータ線の全てがメモリチップの第2の辺に平行に
形成されており、マルチプクサ群と入/出力パッド群と
がメモリチップの同じ辺(第2の辺に垂直な方向の第1
の辺)に集中している。
入/出力パッド群の配置が工夫されているので、チップ
内のデータパスが短くなり、データ転送の高速化を図る
ことが可能になる。
ンプとが交互に繰り返し、その繰り返し方向の両端にセ
ンスアンプが位置するように配置され、2つのサブアレ
イに挟まれたセンスアンプが上記2つのサブアレイで時
分割的に使用される配置効率の良い共有センスアンプ構
成が採用されているので、小さな面積で実現することが
可能になる。
スアンプキャッシュ方式の各利点を活かした形で共存さ
せた高性能、低価格のDRAMを実現することが可能に
なる。
に説明する。図1は、本発明の第1実施例に係るDRA
Mのチップにおけるサブアレイ、センスアンプ、データ
バッファ、マルチプレクサ、I/Oパッドの配置例を示
している。図2は、図1中の2個のサブアレイ、1個の
センスアンプ、1個のデータバッファを取り出してその
一例を示している。図1、図2において、それぞれ共有
センスアンプ構成を持つ複数のメモリブロック10は、
1つのサブアレイ11と1つのセンスアンプ12とがメ
モリチップ1の第1の辺X(図中では左右方向)に沿っ
て交互に繰り返し、その繰り返し方向の両端にセンスア
ンプ12が位置するように配置され、2つのサブアレイ
11に挟まれた1つのセンスアンプ12が上記2つのサ
ブアレイ11で時分割的に使用される。上記2つのサブ
アレイ11の各列で1つのセンスアンプ12を時分割的
に使用するための共有センスアンプの構成は、例えば図
4を参照して前述した通りである。
前記第1の辺Xに垂直な方向のメモリチップの第2の辺
Y(図中では上下方向)に沿って複数個(本例では2
個)に分割されて配置され、この分割配置により複数
(本例では2個)のバンクに分割されて動作が制御され
る。なお、バンクの指定(選択)は、バンクアドレスが
デコードされた出力により制御される。
に配置されたダイナミック型のメモリセルMCのアレイ
を有し、同一行のメモリセルMCに接続された複数のワ
ード線WLiおよび同一列のメモリセルMCに接続され
た複数のビット線BLiを有する。上記複数のワード線
WLiは、ロウアドレスをデコードするロウデコーダ2
1により選択され、上記複数のビット線BLiは、カラ
ムアドレスをデコードするカラムデコーダ(図示せず)
により選択されるカラム選択回路により選択される。な
お、各サブアレイにおけるメモリセルの指定は、ロウア
ドレスおよびカラムアドレスが順次与えられることによ
り制御される。
レイ11において選択された行のメモリセルから読み出
された電位をセンス増幅するために設けられており、そ
れぞれ同じタイミングで動作するように制御され、アク
セス待機状態のサブアレイ11ではセンスデータを保持
し続ける状態(出力待機状態)に制御され、キャッシュ
メモリとして使用される。
したままの状態に制御するためには、図4に示したよう
なセンスアンプの活性化制御を行うための制御信号/S
AN、SAPを活性状態のままに保持し得るように回路
を構成すればよい。
ブアレイ11に対応して前記メモリチップの第2の辺Y
に平行に形成されており、上記サブアレイ11に対応す
るセンスアンプ12に保持されたデータのうち選択され
た列のデータを転送するためのものである。この場合、
相異なるバンクの各データ線のうち、データ入/出力
(I/O)パッド16から遠い側に位置するサブアレイ
11に対応するデータ線13は、上記I/Oパッド16
に近い側に位置するメモリブロックのセンスアンプ12
上を通過している。
のサブアレイ11に対応して前記メモリチップの第1の
辺Xに平行に配置されており、対応するサブアレイ11
との間でデータ線13を介してデータの入出力が行われ
る。
4は、それぞれ前記各サブアレイ11に対応してその近
傍で前記I/Oパッド16に近い側に配置されており、
対応するサブアレイ11のデータ線13に挿入接続さ
れ、対応するサブアレイ11からのデータを増幅するも
のである。
/Oパッド16よりも前記メモリチップの第1の辺Xか
ら遠い位置で上記第1の辺Xに平行に配置されており、
それぞれ前記複数のバンクにおける各1個のサブアレイ
に対応するデータ線13を介して対応するデータバッフ
ァ14に共通に接続されて上記複数のバンクからのデー
タを選択的に取り出すように制御されるものである。
クの各データ線13との接続に関して、相異なるバンク
の各データ線13同士を接続すると、データ線13の負
荷容量が大きくなってデータ転送の遅延時間が大きくな
るので好ましくない。
ンクの各データ線13にそれぞれ対応してスイッチ素子
(例えばMOSトランジスタ)が直列に挿入接続されて
なる。これにより、相異なるバンクに対して選択的にD
Qバッファ14によるデータの入/出力動作を許可する
ことが可能になる。
する場合には、前述した本願出願人の出願に係る特願平
4−131095号に詳細に開示されている構成と同様
に、図2中に示すように、各サブアレイ毎にロウアドレ
スを保持するレジスタ回路26と、このレジスタ回路2
6に保持されているロウアドレス(選択されたロウに対
応するロウアドレス)と新たに与えられるロウアドレス
とを比較するコンパレータ27が設けられる。
にアクセス要求とアドレスが供給されると、コンパレー
タ27は2つのロウアドレス入力を比較し、互いのロウ
アドレスが一致した場合にはヒットした旨を知らせるヒ
ット信号を出力し、不一致の場合にはミスした旨を知ら
せるミス信号を出力する。ヒット信号が出力した場合に
は、ロウ系が動作することなくカラムアドレスに応じた
カラムのデータが読み出される。ミス信号が出力した場
合には、レジスタ回路26、ワード線WLi、センスア
ンプ24がそれぞれ一旦リセットされた後、新たに与え
られたロウアドレスがレジスタ回路26にセットされ、
レジスタ回路26に新たに保持されたロウアドレスに応
じてロウ系が動作する。そして、再びアクセス要求とア
ドレスが供給され、ヒットの判定が行われ、ロウ系が動
作することなくカラムアドレスに応じたカラムのデータ
が読み出されるようになる。上記したような動作は、ア
クセスの対象となる複数のサブアレイ11に対してアク
セス要求が順次供給されることにより、複数のサブアレ
イ11で順次行われる。この場合、各サブアレイ11に
おいては、ミスとなったロウのみを選択し直すことが可
能であり、ミスが発生する毎に全てのロウを再選択する
必要はない。
数の共有センスアンプ構成のメモリブロック10が、サ
ブアレイ11とセンスアンプ12との繰り返し方向Xに
垂直な方向Yに沿って2個に分割されて配置されて2個
のバンクに分割されているので、各サブアレイ11のセ
ンスアンプ12群をキャッシュメモリとして用いたセン
スアンプキャッシュ方式を採用することができる。
11に対応する2個のデータバッファ14に共通にマル
チプクサ15が接続されているので、複数のバンクのデ
ータをマルチプクスして各バンク毎のデータを独立に読
み出すことが可能になり、各バンクは全てのI/Oパッ
ド16群に対するデータパスを持っているので、キャッ
シュメモリのヒット率を上昇させることが可能になる。
アンプ12はそれぞれ同じタイミングで動作(センス・
ラッチ・イコライズなど)し、アクセス待機状態のサブ
アレイに対応するセンスアンプ12がセンスデータを保
持したままの状態に制御されるので、キャッシュメモリ
の容量を増大させることができ、キャッシュメモリのヒ
ット率を上昇させることが可能になる。
れているデータ線13の全てがメモリチップの第2の辺
Yに平行に形成されており、マルチプクサ15群とI/
Oパッド16群とがメモリチップの第1の辺Xに集中し
ている。
15群、I/Oパッド16群の配置が工夫されているの
で、チップ内のデータパスが短くなり、データ転送の高
速化を図ることが可能になる。
スアンプ12とが交互に繰り返し、その繰り返し方向の
両端にセンスアンプ12が位置するように配置され、2
つのサブアレイ11に挟まれた1つのセンスアンプ12
が上記2つのサブアレイ11で時分割的に使用される配
置効率の良い共有センスアンプ構成が採用されているの
で、小さな面積で実現することが可能になる。
ば、共有センスアンプ構成およびセンスアンプキャッシ
ュ方式の各利点を活かした形で共存させた高性能、低価
格のDRAMを実現することが可能になる。
Mのチップにおけるサブアレイ、センスアンプ、データ
バッファ・マルチプレクサ、I/Oパッドの配置例を示
している。
べて、複数のDQバッファ14およびマルチプクサ15
に代えて、メモリブロック10とI/Oパッド16との
間の領域でメモリチップの第1の辺Xに平行に複数のデ
ータバッファ(DQバッファ)・マルチプクサ31を配
置し、この複数のDQバッファ・マルチプクサ31をそ
れぞれ複数のバンクにおける各1個のサブアレイ11に
対応する複数のデータ線13に共通に接続し、上記複数
のバンクからのデータを選択的に増幅するようにした点
が異なり、その他は同じであるので、図1中と同一符号
を付している。
うち、I/Oパッド16から遠い側に位置するサブアレ
イ11に対応するデータ線13は、上記I/Oパッド1
6に近い側に位置するサブアレイ11に対応するデータ
線13よりも長くなるので、その配線抵抗の増大を抑制
して上記両データ線の配線抵抗をほぼ等しくするため
に、上記I/Oパッド16に近い側に位置するサブアレ
イ11に対応するデータ線13よりも太く形成しておく
ことが望ましい。上記第2実施例のDRAMにおいて
も、前記第1実施例のDRAMと同様に準じた動作が可
能であり、第1実施例のDRAMとほぼ同様の効果が得
られる。
ば、共有センスアンプ構成およびセンスアンプキャッシ
ュ方式を小さな面積で実現しようとする場合に、キャッ
シュメモリのヒット率を上昇させることができ、チップ
内のデータパスを短くしてデータ転送の高速化を図るこ
とができ、共有センスアンプ構成およびセンスアンプキ
ャッシュ方式の各利点を活かした形で共存させることが
可能になる。
おけるサブアレイ、センスアンプ、DQバッファ、マル
チプレクサ、I/Oパッドの配置例を示す図。
プ、1個のDQバッファを取り出してその一例を示す回
路図。
おけるサブアレイ、センスアンプ、DQバッファ、マル
チプレクサ、I/Oパッドの配置例を示す図。
る共有センスアンプに着目して示す模式図。
の一例を示す模式図。
の他の例を示す模式図。
を採用してそのキャッシュメモリの容量を大きくするた
めのサブアレイを活性化する方式を示す模式図。
のままで共有センスアンプ構成を持つメモリブロックを
2個のバンクに等分した場合の構成の一例を示す模式
図。
…メモリブロック、11…サブアレイ、MC…メモリセ
ル、WLi…ワード線、BLi…ビット線、12…セン
スアンプ、13…データ線、14…データバッファ(D
Qバッファ)、15…マルチプクサ、16…I/Oパッ
ド、21…ロウデコーダ、26…レジスタ回路、27…
コンパレータ。
Claims (10)
- 【請求項1】 第1、第2のバンクに分割されて動作が
制御され、第1のバンクを構成する第1のメモリブロッ
クおよび第2のバンクを構成する第2のメモリブロック
が設けられ、前記第1および第2のメモリブロックは第
1の方向に並んで配置されており、 上記第1および第2の各メモリブロックはそれぞれ、 それぞれ行列状に配置されたダイナミック型のメモリセ
ルのアレイを有し、同一行のメモリセルに接続された複
数のワード線および同一列のメモリセルに接続された複
数のビット線を有する複数のサブアレイと、 上記各サブアレイにおいて選択された行のメモリセルか
ら読み出された電位をセンス増幅するために設けられ、
各バンク毎にそれぞれ同じタイミングで動作するように
制御され、アクセス待機状態のバンクではセンスデータ
を保持したままの状態とされ、キャッシュメモリとして
使用される複数のセンスアンプとを有し、上記第1およ
び第2の各メモリブロックにおいて1つのサブアレイと
1つのセンスアンプとが上記第1の方向と直交する第2
の方向に交互に繰り返され、その繰り返し方向の両端に
センスアンプが位置するように配置され、かつ上記第1
及び第2のメモリブロックは2つのサブアレイに挟まれ
たセンスアンプが上記2つのサブアレイで時分割的に使
用される共有センスアンプ構成をそれぞれ有し、 さらに、前記第1の方向に平行に形成され、前記第1の
メモリブロックの前記複数のセンスアンプに保持された
データのうち選択された列のデータを転送するための複
数の第1データ線と、 前記第1の方向に平行に形成され、前記第2のメモリブ
ロックの前記複数のセンスアンプに保持されたデータの
うち選択された列のデータを転送するための複数の第2
データ線と、 前記第1データ線又は第2データ線に選択的に接続さ
れ、前記第1データ線又は第2データ線を介して 対応す
るサブアレイとの間でデータの入出力が行われる前記第
2の方向に平行に配置された複数のデータ入/出力端子
とが設けられていることを特徴とするダイナミック型メ
モリ。 - 【請求項2】 請求項1記載のダイナミック型メモリに
おいて、さらに、それぞれ前記各サブアレイに対応して
前記メモリブロックの近傍で前記データ入/出力端子に
近い側に配置され、対応するサブアレイのデータ線から
のデータを増幅する複数のデータバッファ回路と、 前記メモリブロックと前記複数のデータ入/出力端子と
の間に前記第2の方向に平行に配置して設けられ、それ
ぞれ前記第1、第2バンクにおける各1個のサブアレイ
に対応するデータバッファ回路に共通に接続されて上記
第1及び第2のバンクからのデータを選択的に取り出す
複数のマルチプクサとを具備することを特徴とするダイ
ナミック型メモリ。 - 【請求項3】 請求項1記載のダイナミック型メモリに
おいて、さらに、 前記メモリブロックとデータ入/出力端子との間の領域
で第2の方向に平行に配置され、それぞれ前記第1、第
2のバンクにおける各1個のサブアレイに対応する複数
のデータ線に共通に接続され、前記第1、第2のバンク
からのデータを選択的に増幅する複数のデータバッファ
回路・マルチプクサとを具備することを特徴とするダイ
ナミック型メモリ。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
ダイナミック型メモリにおいて、前記複数のデータ線の
うち、前記データ入/出力端子から遠い側に位置するサ
ブアレイに対応するデータ線は、上記データ入/出力端
子に近い側に位置するメモリブロックのセンスアンプ上
を通過していることを特徴とするダイナミック型メモ
リ。 - 【請求項5】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
ダイナミック型メモリにおいて、前記複数のデータ線の
うち、前記データ入/出力端子から遠い側に位置するサ
ブアレイに対応するデータ線は、上記データ入/出力端
子に近い側に位置するサブアレイに対応するデータ線よ
りも太いことを特徴とするダイナミック型メモリ。 - 【請求項6】 第1、第2のバンクに分割されて動作が
制御され、第1のバンクを構成する第1のメモリブロッ
クおよび第2のバンクを構成する第2のメモリブロック
が設けられ、前記第1および第2のメモリブロックは第
1の方向に並んで配置されており、 上記第1および第2の各メモリブロックはそれぞれ、 それぞれ行列状に配置されたダイナミック型のメモリセ
ルのアレイを有し、同一行のメモリセルに接続された複
数のワード線および同一列のメモリセルに接続された複
数のビット線を有する複数のサブアレイと、 上記各サブアレイにおいて選択された行のメモリセルか
ら読み出された電位をセンス増幅するために設けられ、
各バンク毎にそれぞれ同じタイミングで動作するように
制御される複数のセンスアンプとを有し、上記第1およ
び第2の各メモリブロックにおいて1つのサブアレイと
1つのセンスアンプとが上記第1の方向と直交する第2
の方向に交互に繰り返され、その繰り返し方向の両端に
センスアンプが位置するように配置され、かつ上記第1
及び第2のメモリブロックは2つのサブアレイに挟まれ
たセンスアンプが上記2つのサブアレイで時分割的に使
用される共有センスアンプ構成をそれぞれ有し、 さらに、前記第1の方向に平行に形成され、前記第1の
メモリブロックの前記複数のセンスアンプに保持された
データのうち選択された列のデータを転送するための複
数の第1データ線と、 前記第1の方向に平行に形成され、前記第2のメモリブ
ロックの前記複数のセンスアンプに保持されたデータの
うち選択された列のデータを転送するための複数の第2
データ線と、 前記第1データ線又は第2データ線に選択的に接続さ
れ、前記第1データ線又は第2データ線を介して対応す
る サブアレイとの間でデータの入出力が行われる前記第
2の方向に平行に配置された複数のデータ入/出力端子
とが設けられていることを特徴とするダイナミック型メ
モリ。 - 【請求項7】 請求項6記載のダイナミック型メモリに
おいて、さらに、それぞれ前記各サブアレイに対応して
前記メモリブロックの近傍で前記データ入/出力端子に
近い側に配置され、対応するサブアレイのデータ線から
のデータを増幅する複数のデータバッファ回路と、 前記メモリブロックと前記複数のデータ入/出力端子と
の間に前記第2の方向に平行に配置して設けられ、複数
の前記データバッファ回路に共通に接続されて前記第
1、第2のバンクからのデータを選択的に取り出す複数
のマルチプクサとを具備することを特徴とするダイナミ
ック型メモリ。 - 【請求項8】 請求項6記載のダイナミック型メモリに
おいて、上記複数のデータ入/出力端子は、それぞれ前
記第1、第2のバンクにおける各1個のサブアレイに対
応して配置され、対応するサブアレイとの間でデータの
入出力が行われることを特徴とするダイナミック型メモ
リ。 - 【請求項9】 請求項8記載のダイナミック型メモリに
おいて、さらに、 前記メモリブロックとデータ入/出力端子との間の領域
で第2の方向に平行に配置され、それぞれ前記第1、第
2のバンクにおける各1個のサブアレイに対応する複数
のデータ線に共通に接続され、前記第1、第2のバンク
からのデータを選択的に増幅する複数のデータバッファ
回路・マルチプクサとを具備することを特徴とするダイ
ナミック型メモリ。 - 【請求項10】 請求項6乃至9のいずれか1項に記載
のダイナミック型メモリにおいて、前記センスアンプ
は、アクセス待機状態のバンクではセンスデータを保持
したままの状態に制御され、キャッシュメモリとして使
用されることを特徴とするダイナミック型メモリ。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06227639A JP3135795B2 (ja) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | ダイナミック型メモリ |
US08/528,306 US5586078A (en) | 1994-09-22 | 1995-09-14 | Dynamic type memory |
EP00124224A EP1081711B1 (en) | 1994-09-22 | 1995-09-20 | Dynamic type memory |
DE69536100T DE69536100D1 (de) | 1994-09-22 | 1995-09-20 | Dynamischer Speicher |
DE69521095T DE69521095T2 (de) | 1994-09-22 | 1995-09-20 | Dynamischer Speicher mit geteilten Leseverstärkern |
EP95114797A EP0704847B1 (en) | 1994-09-22 | 1995-09-20 | Dynamic type memory having shared sense amplifiers |
CNB951165518A CN1134016C (zh) | 1994-09-22 | 1995-09-21 | 动态存储器 |
KR1019950031300A KR0184091B1 (ko) | 1994-09-22 | 1995-09-22 | 다이나믹형 메모리 |
TW084111414A TW303522B (ja) | 1994-09-22 | 1995-10-28 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06227639A JP3135795B2 (ja) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | ダイナミック型メモリ |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33169399A Division JP3278646B2 (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0896571A JPH0896571A (ja) | 1996-04-12 |
JP3135795B2 true JP3135795B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=16864038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06227639A Expired - Fee Related JP3135795B2 (ja) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | ダイナミック型メモリ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5586078A (ja) |
EP (2) | EP1081711B1 (ja) |
JP (1) | JP3135795B2 (ja) |
KR (1) | KR0184091B1 (ja) |
CN (1) | CN1134016C (ja) |
DE (2) | DE69521095T2 (ja) |
TW (1) | TW303522B (ja) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1994
- 1994-09-22 JP JP06227639A patent/JP3135795B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-09-14 US US08/528,306 patent/US5586078A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-20 DE DE69521095T patent/DE69521095T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-20 EP EP00124224A patent/EP1081711B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-20 DE DE69536100T patent/DE69536100D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-20 EP EP95114797A patent/EP0704847B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-21 CN CNB951165518A patent/CN1134016C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1995-09-22 KR KR1019950031300A patent/KR0184091B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-10-28 TW TW084111414A patent/TW303522B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1081711A3 (en) | 2008-04-09 |
US5586078A (en) | 1996-12-17 |
DE69521095D1 (de) | 2001-07-05 |
JPH0896571A (ja) | 1996-04-12 |
DE69521095T2 (de) | 2001-10-25 |
DE69536100D1 (de) | 2010-10-14 |
EP0704847A1 (en) | 1996-04-03 |
EP1081711B1 (en) | 2010-09-01 |
EP0704847B1 (en) | 2001-05-30 |
TW303522B (ja) | 1997-04-21 |
KR0184091B1 (ko) | 1999-04-15 |
EP1081711A2 (en) | 2001-03-07 |
CN1134016C (zh) | 2004-01-07 |
KR960012008A (ko) | 1996-04-20 |
CN1142115A (zh) | 1997-02-05 |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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