JP3051473B2 - 透明導電性フィルム - Google Patents
透明導電性フィルムInfo
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- JP3051473B2 JP3051473B2 JP3039526A JP3952691A JP3051473B2 JP 3051473 B2 JP3051473 B2 JP 3051473B2 JP 3039526 A JP3039526 A JP 3039526A JP 3952691 A JP3952691 A JP 3952691A JP 3051473 B2 JP3051473 B2 JP 3051473B2
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- conductive film
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Description
ィルムに関し、更に詳しくは、リターデーション値が1
00〜8000nmの範囲にある芳香族ポリエステルフィ
ルムをベースフィルムとする透明導電性フィルムに関す
る。
プロセッサはますます小型化し、これらのディスプレイ
装置として、軽量・コンパクトという特徴を生かした液
晶ディスプレイが多く用いられるようになってきた。液
晶ディスプレイの駆動方式には単純マトリクス、アクテ
ィブマトリクス方式等があり、最近ではTFT方式によ
るアクティブマトリクス方式の開発が盛んであるが、T
FT形成時の歩留まりが悪くコスト的に非常に高価とな
る欠点がある。単純マトリクス方式のSTNは応答速度
はTFT方式に劣るもののパーソナルコンピュータ、ワ
ードプロセッサ等の静止画像を中心とした用途では充分
使用可能で、低コストであるため多く用いられている。
ためにパネルが着色する(イエローモード、ブルーモー
ド)という欠点があったが、補償用の液晶セル、複屈折
をもったフィルムを組み込むことにより白黒モードの液
晶デバイスが作られており、フルカラー化のためには着
色を抑えることは必須である。
の液晶セルを組み込むと重量が増えコストアップとなる
し、補償用のフィルムを組み込むことは位置合わせが必
要で組立工数も増える。また、現在は透明電極としてガ
ラス基板が用いられているが、軽量化のためにプラスチ
ックフィルムを用いる検討がされている。さらに組立を
できるだけ単純化するために位相差フィルムと透明電極
を一体化する工夫もされているが、現在の位相差フィル
ムの主流であるポリカーボネートに直接透明電極を形成
したものでは、液晶デバイスの組立時に配向膜形成等の
プロセス温度(たとえば150℃)に耐えられないとい
う欠点がある。
ポリエステルをベースフィルムとして、特開昭61−4
1539で透明導電性フィルム、特開平1ー27000
4で複屈折フィルムを示したが、引き続いて鋭意研究の
結果、リターデーション値が100〜8000nmの範囲
にある芳香族ポリエステルフィルムの上に透明導電性層
を形成した透明導電性フィルムが上記欠点を解決するこ
とを見い出し本発明に到った。すなわち、本発明は、テ
レフタル酸とイソフタル酸の混合物、またはイソフタル
酸単独と下記一般式で表される2価のフェノール成分と
からなる、ガラス転移温度(Tg)が160〜240℃
の芳香族ポリエステル樹脂からなり、リターデーション
値が100〜8000nmの範囲にある芳香族ポリエステ
ルフィルムの少なくとも片面に透明導電膜を形成したこ
とを特徴とする透明導電性フィルムを内容とするもので
ある。
キル基、ハロゲン基、ハロゲン化炭化水素基、p、qは
0又は1〜4の整数、Xは直接結合、アルキレン基、ア
ルキリデン基(アルキレン基、アルキリデン基中の水素
原子の1あるいはそれ以上が炭化水素基、ハロゲン基、
ハロゲン化炭化水素基で置換されていてもよい)、−O
−、−S−、−SO−、−SO2 −、−CO−を示
す。〕尚、リターデーションとは、複屈折体に直線偏光
が入射したとき、偏光は互いに直交する速度の異なる2
つの偏光に別れて進む(正常光と異常光)。従って、複
屈折体を出たとき正常光と異常光には位相差が生じる。
この位相差のことをリターデーションという。
しては、原料入手の面からテレフタル酸とイソフタル酸
の混合物、またはイソフタル酸単独と下記一般式で表さ
れる2価フェノール成分からなる芳香族ポリエステルが
望ましい。
キル基、ハロゲン基、ハロゲン化炭化水素基、p、qは
0又は1〜4の整数、Xは直接結合、アルキレン基、ア
ルキリデン基(アルキレン基、アルキリデン基中の水素
原子の1あるいはそれ以上が炭化水素基、ハロゲン基、
ハロゲン化炭化水素基で置換されていてもよい)、−O
−、−S−、−SO−、−SO2 −、−CO−を示
す。〕
例を挙げると、2,2′−ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロパン、4,4′−(α−メチルベンジリデン)
ビスフェノール、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、2,2′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)ブタ
ン、3,3′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)ペンタ
ン、4,4′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)ヘプタ
ン、4,4′−ビス(4−ヒドロキシフェニル)2,5
−ジメチルヘプタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)
メチルフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)ジフェニルメタン、2,2′−ビス(4−ヒドロキ
シフェニル)オクタン、ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)−4−フルオロフェニルメタン、ビス(3,5−ジ
メチル−4ヒドロキシフェニル)メタン、2,2′−ビ
ス(3,5−ジメチル−4ヒドロキシフェニル)プロパ
ン、ビス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニ
ル)フェニルエタン、ビス(3−メチル−4−ヒドロキ
シフェニル)ジフェニルメタン、ビス(3,5−ジメチ
ル−4ヒドロキシフェニル)スルホン等が挙げられ、こ
れらは単独または混合して用いることができるが、これ
らに限定されるものではない。
出成形あるいはポリマーを溶媒に溶解した溶液からのキ
ャスティングによって得られるが、フィルムの厚みむ
ら、表面性が悪いと延伸むらが生じるため、キャスティ
ングによるフィルムが好適である。フィルムの厚みは通
常数μm〜数百μmであり、より好ましくは10〜30
0μmである。
ィルムは、そのリターデーション値が100〜8000
nmの範囲のものである。100nm未満では位相差が小さ
すぎて補償用フィルムとするためには多くの枚数を使う
必要があり実用的でなく、また8000nmを越えても補
償性能は変わらない。リターデーション値が100〜8
000nmの芳香族ポリエステルフィルムは、その原料ポ
リエステル樹脂のTgが160℃以上であることが望ま
しい。Tgが160℃未満ではディスプレイ組立時のプ
ロセス温度、たとえば配向膜処理温度(160℃)に耐
えられない。Tgの上限は余り高くなると延伸により均
一なリターデーションを付与することが困難となるので
240℃程度が好ましい。また延伸温度は160℃以
上、より好ましくは180℃以上、更に好ましくは20
0℃以上である。延伸温度が160℃未満だと、透明導
電膜形成時あるいは液晶デバイス組立時(配向膜塗布乾
燥、セルのシール等)に延伸戻りが起きリターデーショ
ン値が変化するので好ましくない。延伸の均一性を良く
するためには、Tg以上の温度、好ましくはTg〜Tg
より80℃高い温度の範囲で延伸する必要があり、更に
好ましくはTg〜Tgより50℃高い温度の範囲であ
る。延伸方法は、縦延伸、横延伸のどちらでもかまわな
いが、STN液晶デバイスの表示の均一性を確保するた
めには均一に延伸することが必要であり、同一面内のリ
ターデーション値のバラツキは10nm以下にすることが
望ましい。
の範囲にある芳香族ポリエステルフィルムの少なくとも
片面に透明導電膜が形成される。透明導電膜の形成方法
は、真空蒸着法、スパッタ法、イオンプレーティング法
などの物理的堆積法、CVD法、ゾルゲル法等の化学的
堆積法が利用できる。上記の如くして得られる透明導電
フィルムは、必要に応じて、水分、酸素、窒素の透過の
防止、耐溶剤性の改良のためのバリアー膜を設けてもよ
い。バリアー膜を具体的に例示すると、ポリビニルアル
コール、エチレン−ビニルアルコール共重合体、アクリ
ロニトリル、アクリロニトリル−アクリル酸メチル共重
合体、塩化ビニリデン等の有機高分子化合物フィルムを
ラミネートしたもの、あるいは樹脂溶液をコーティング
したもの、SiO2 、SiC、SiAlON、SiN等
の無機材料を蒸着、CVD等の物理的堆積法で積層した
もの、通常の市販されているシリコン系、アクリル系ハ
ードコート等が挙げられる。
的に説明するが、本発明はこれらの実施例のみに限定さ
れるものではない。
0.11g、ビス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシ
フェニル)メタン15.06g、パラ−t−ブチルフェ
ノール0.95g、ハイドロサルファイトナトリウム
0.26g、5N−NaOH水溶液78.2ml、水17
6.8mlを窒素雰囲気中にて300mlナス型フラスコ中
で混合し、5℃に冷却して2価フェノールのアルカリ水
溶液を調製した。一方、テレフタル酸クロライド21.
32g、イソフタル酸クロライド9.14gを塩化メチ
レン255mlに窒素雰囲気下に別の300mlナス型フラ
スコに溶解し、5℃に冷却した。1リットルセパラブル
フラスコ中に水137ml、触媒としてベンジルトリブチ
ルアンモニウムクロライド0.16gを窒素雰囲気下に
仕込んでおき同様に冷却した。これを激しく攪拌しなが
ら、上記の2液を同時に10分間にわたってポンプで連
続的に添加した。添加終了後、2時間後にベンゾイルク
ロライド0.42gを塩化メチレン5mlに溶解し、この
中に添加した後、20分後に攪拌を停止した。水層をデ
カントした後、同量の水を加え攪拌しながら少量の塩酸
で中和した。デカントと水洗による脱塩を繰り返した
後、塩化メチレン300mlを加えて希釈し、この溶液を
40〜50℃に加熱し、塩化メチレンとの共沸脱水によ
りポリマー塩化メチレン中の水を除去しポリマー濃度1
5重量%になるまで塩化メチレンを蒸留した。得られた
ポリマーのTgは215℃で、分子量(還元粘度)はη
sp/c=0.90(32℃、クロロホルム中0.32
g/dl)であった。
をガラス板上に流延し、室温で1時間乾燥した後、ガラ
ス板からフィルムを剥がし、四方を治具で固定して、1
50℃で15分、250℃で10分間熱固定し約100
μm厚のフィルムを得た。このフィルムから10cm×1
0cmのサンプルを作り、250℃で縦方向に1.3倍の
延伸を行い、室温まで冷却した。この一軸延伸フィルム
のリターデーションは、得られた延伸フィルム中心部8
cm×8cmについて1cm間隔での64点で測定した結果、
平均値で400nmでありバラツキRは8nmであった。ま
た全光線透過率は90%、ヘイズ(Haze)は0.2
%(ASTM D 1003)であった。このフィルム
にDCマグネトロンスパッタリング法により酸化錫を5
%含有した酸化インジウムをターゲットとしてAr分圧
3×10-3Torr. 、電力500WにてITO膜を140
0Å形成した。表面抵抗値は20Ω/□、光線透過率
(550nm)は77%であった。このフィルムを190
℃で2時間熱処理したが、上記物性は変わらなかった。
サンプルを作り、250℃で縦方向に1.2倍の延伸を
行い、室温まで冷却した。この一軸延伸フィルムのリタ
ーデーションは、得られた延伸フィルム中心部8cm×8
cmについて1cm間隔での64点で測定した結果、平均値
で200nmでありバラツキRは6nmであった。また全光
線透過率は90%、ヘイズ(Haze)は0.2%(A
STMD 1003)であった。このフィルムにDCマ
グネトロンスパッタリング法により酸化錫を5%含有し
た酸化インジウムをターゲットとしてAr分圧3×10
-3Torr. 、電力500WにてITO膜を1000Å形成
した。表面抵抗値は70Ω/□、光線透過率(550n
m)は80%であった。このフィルムを190℃で2時
間熱処理したが、上記物性は変わらなかった。
サンプルを作り、250℃で縦方向に1.8倍の延伸を
行い、室温まで冷却した。この一軸延伸フィルムのリタ
ーデーションは、得られた延伸フィルム中心部8cm×8
cmについて1cm間隔での64点で測定した結果、平均値
で7000nmでありバラツキRは10nmであった。また
全光線透過率は90%、ヘイズ(Haze)は0.2%
(ASTM D 1003)であった。このフィルムに
DCマグネトロンスパッタリング法により酸化錫を5%
含有した酸化インジウムをターゲットとしてAr分圧3
×10-3Torr. 、電力500WにてITO膜を1000
Å形成した。表面抵抗値は70Ω/□、光線透過率(5
50nm)は80%であった。このフィルムを190℃で
2時間熱処理したが、上記物性は変わらなかった。
30.45g、パラ−t−ブチルフェノール1.58
g、ハイドロサルファイトナトリウム0.53g、5N
−NaOH水溶液153ml、水361mlを窒素雰囲気中
にて1.5リットルセパラブル型フラスコ中で混合し、
5℃に冷却して2価フェノールのアルカリ水溶液を調製
した。一方、テレフタル酸クロライド30.45g、イ
ソフタル酸クロライド30.45gを塩化メチレン50
0mlに窒素雰囲気下に別の1リットルフラスコに溶解
し、5℃に冷却した。1リットルセパラブルフラスコ中
に水200ml、触媒としてベンジルトリブチルアンモニ
ウムクロライド0.31gを窒素雰囲気下に仕込んでお
き同様に冷却した。これを激しく攪拌しながら、上記の
2液を同時に10分間にわたってポンプで連続的に添加
した。添加終了後、2時間後にベンゾイルクロライド
0.42gを塩化メチレン5mlに溶解し、この中に添加
した後、20分後に攪拌を停止した。水層をデカントし
た後、同量の水を加え攪拌しながら少量の塩酸で中和し
た。デカントと水洗による脱塩を繰り返した後、塩化メ
チレン300mlを加えて希釈し、この溶液を40〜50
℃に加熱し、塩化メチレンとの共沸脱水によりポリマー
塩化メチレン中の水を除去しポリマー濃度15重量%に
なるまで塩化メチレンを蒸留した。得られたポリマーの
Tgは240℃で、分子量(還元粘度)はηsp/c=
0.80(32℃、クロロホルム中0.32g/dl)で
あった。
をガラス板上に流延し、室温で1時間乾燥した後、ガラ
ス板からフィルムを剥がし、四方を治具で固定して、1
50℃で15分、250℃で10分間熱固定し約100
μm厚のフィルムを得た。このフィルムから10cm×1
0cmのサンプルを作り270℃で縦方向に1.4倍の延
伸を行い、室温まで冷却した。この一軸延伸フィルムの
リターデーションは、得られた延伸フィルムの中心部8
cm×8cmについて1cm間隔での64点で測定した結果、
平均値で600nmでありバラツキRは6nmであった。ま
た全光線透過率は90%、ヘイズ(Haze)は0.2
%(ASTM D 1003)であった。このフィルム
にDCマグネトロンスパッタリング法により酸化錫を5
%含有した酸化インジウムをターゲットとしてAr分圧
3×10-3Torr. 、電力500WにてITO膜を150
0Å形成した。表面抵抗値は22Ω/□、光線透過率
(550nm)は77%であった。このフィルムを200
℃で2時間熱処理したが、上記物性は変わらなかった。
有し且つ透明導電性で熱安定性に優れ、液晶ディスプレ
イ装置の光学補償用として好適なプラスチックフィルム
を提供することが出来る。
Claims (4)
- 【請求項1】 テレフタル酸とイソフタル酸の混合物と
下記一般式で表される2価のフェノール成分とからな
る、ガラス転移温度(Tg)が160〜240℃の芳香
族ポリエステル樹脂からなり、リターデーション値が1
00〜8000nmの範囲にある芳香族ポリエステルフィ
ルムの少なくとも片面に透明導電膜を形成したことを特
徴とする透明導電性フィルム。 【化1】 〔式中、R1 、R2 は炭素数1〜4のアルキル基、ハロ
ゲン基、ハロゲン化炭化水素基、p、qは0又は1〜4
の整数、Xは直接結合、アルキレン基、アルキリデン基
(アルキレン基、アルキリデン基中の水素原子の1ある
いはそれ以上が炭化水素基、ハロゲン基、ハロゲン化炭
化水素基で置換されていてもよい)、−O−、−S−、
−SO−、−SO2 −、−CO−を示す。〕 - 【請求項2】 芳香族ポリエステルフィルムが160℃
以上の温度で延伸したものである請求項1記載の透明導
電性フィルム。 - 【請求項3】 同一フィルム面内のリターデーション値
のバラツキが10nm以下である請求項1又は2記載の透
明導電性フィルム。 - 【請求項4】 液晶ディスプレイ装置の光学補償用であ
る請求項1〜3のいずれか1項に記載の透明導電性フィ
ルム。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP3039526A JP3051473B2 (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | 透明導電性フィルム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3039526A JP3051473B2 (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | 透明導電性フィルム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH04256922A JPH04256922A (ja) | 1992-09-11 |
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Family
ID=12555491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3039526A Expired - Lifetime JP3051473B2 (ja) | 1991-02-08 | 1991-02-08 | 透明導電性フィルム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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JP2008169384A (ja) * | 2006-12-14 | 2008-07-24 | Kaneka Corp | コーティング用樹脂、光学補償用薄膜、光学補償用積層体、光学補償用偏光板、及び液晶表示装置。 |
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JPH02230215A (ja) * | 1989-03-03 | 1990-09-12 | Seiko Epson Corp | 液晶電気光学素子 |
JPH02292359A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-12-03 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | エポキシ変性樹脂組成物 |
JPH02305852A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 熱可塑性樹脂組成物 |
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-
1991
- 1991-02-08 JP JP3039526A patent/JP3051473B2/ja not_active Expired - Lifetime
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