JP3021527B2 - Ｔｔｌ自動調光カメラ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、被写界を複数の測光領域に分割し各々の領
域からの測光信号に基づいて調光を行うTTL自動調光カ
メラに関する。

B.従来の技術 例えば特開昭60−15626号公報には、次のような自動
調光カメラが開示されている。このカメラは、閃光撮影
時の本発光に先立って予備発光を行い、被写界からの反
射光を分割測光して各領域の測光信号から主要被写体の
位置を判別し、その判別結果によって各領域に対する重
み付け量を決定し、本発光時に重み付けされた各領域の
出力の合計値が予め定められた所定の調光レベルに達す
ると本発光を停止するものである。

C.発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の自動調光カメラで
は、上記本発光の停止を判断する調光レベルが一定値と
されているため、主要被写体が露出オーバまたは露出ア
ンダーになるおそれがあった。

本発明の技術的課題は、常に主要被写体が適正露出と
なるようにすることにある。

D.課題を解決するための手段 クレーム対応図である第１図により説明すると、請求
項１の発明に係るTTL自動調光カメラは、被写界を閃光
撮影するために発光を行う本発光と、本発光前に発光を
行う予備発光とが可能な閃光手段と、被写界を複数領域
に分割して、閃光手段の予備発光および本発光による複
数領域からの各反射光を測光して各測光信号を出力する
測光手段と、予備発光時に得られた各測光信号に基づい
て、分割された各領域が異常反射領域か否かを判定する
判定手段と、異常反射領域と判定された領域を除外して
残りの領域を有効測光領域として抽出する領域抽出手段
と、本発光を停止する調光レベルを有効測光領域の面積
に応じて決定する調光レベル決定手段と、本発光時にお
いて、有効測光領域の各測光信号を累積した出力が調光
レベルに達した時点で本発光を停止する調光手段とを具
備し、これにより上記問題点を解決する。

請求項２の発明は、被写界を閃光撮影するために発光
を行う閃光手段と、被写界を複数領域に分割して、閃光
手段の発光による複数領域からの各反射光を測光して各
測光信号を出力する測光手段と、発光の初期段階に得ら
れた各測光信号に基づいて、分割された各領域が異常反
射領域か否かを判定する判定手段と、異常反射領域と判
定された領域を除外して残りの領域を有効測光領域とし
て抽出する領域抽出手段と、発光を停止する調光レベル
を有効測光領域の面積に応じて決定する調光レベル決定
手段と、発光初期段階以降において、有効測光領域の各
測光信号を累積した出力が前記調光レベルに達した時点
で前記発光を停止する調光手段とを具備する。

請求項3,4の発明に係るTTL自動調光カメラは、有効測
光領域を抽出するにあたり、上記測光信号に加えて撮影
距離情報をも用いるものである。

E.作用 予備発光時あるいは発光（本発光）の初期段階に得ら
れた各分割測光信号に基づいて、分割された各領域が異
常反射領域か否かが判定される。撮影距離情報を加味し
てこの判定を行ってもよい。そして、異常反射領域と判
定された領域を除外した残りの領域が有効測光領域とし
て抽出され、その有効測光領域の面積に応じて調光レベ
ルが決定される。

F.実施例 第２図〜第12図により本発明の一実施例を説明する。

第２図はTTL自動調光カメラの構成を示す図である。
撮影レンズ２を通過した光束（定常光）は、破線で示す
ミラーダウン状態のミラー３で反射され、スクリーン4,
ペンタプリズム５を通過して、一部は接眼レンズ６に導
かれ、他の一部は集光レンズ７を通過して露出演算用測
光素子８に導かれる。また、第５図に示すレリーズ釦32
がレリーズ操作されると、ミラー３が実線で示すアップ
位置に駆動された後、絞り９が絞り込まれ、シャッタ10
が開閉され、これにより撮影レンズ２を通過した被写体
光はフィルムFIに導かれてフィルムFIが露光される。

また閃光撮影時には、シャッタ10の開後に電子閃光装
置11が本発光して被写体を照明し、被写体からの反射光
は撮影レンズ２を介してフィルム面に至り、このフィル
ム面で反射された光束が集光レンズアレイ12を介して調
光用の受光素子13に受光される。さらに本実施例のカメ
ラは、上記本発光の前に被写界の反射率分布を調べるた
めの予備発光が可能であり、この予備発光による被写界
からの反射光は、シャッタ10が開く前にその幕面で反射
されて受光素子13に受光される。

受光素子13は、第３図に示すように、被写界中央部の
円形の測光領域に対応する分割受光素子13aと、被写界
周辺部の矩形を円弧で切り欠いた形状の測光領域に対応
する分割受光素子13b〜13eとが同一平面上に配置されて
成る。すなわち、本実施例では被写界を５つの測光領域
に分割して分割測光を行う。また集光レンズアレイ12
は、上記受光素子13a〜13eの左、中間、右の３ブロック
に対応する３つのレンズ部分12a〜12cを有する光学部材
である。

第４図は、フィルム面の露光領域20と受光素子13、集
光レンズアレイ12の光学的な位置関係を示す図である。
フィルム面の１駒分の露光領域20を被写界と同様に中央
の円形部20aと周辺を４分割した20b〜20eの５領域に分
割すると、第３図に示した受光素子13a〜13eの上記左、
中間、右の３ブロックは、それぞれ破線で示されるよう
に、集光レンズアレイ12の３つのレンズ部分12a〜12cを
経由してフィルム露光領域20の左半分、中央、右半分と
対峙している。さらに、受光素子13の５つの分割受光素
子13a〜13eは、それぞれフィルム露光領域20と形状を一
致させてあるので、５つの領域20a〜20eの明るさをそれ
ぞれ分割して測光する。

第５図は制御系のブロック図を示し、カメラ全体のシ
ーケンスを制御するCPU31には、レリーズ釦32,シャッタ
10が接続されるとともに、撮影レンズ２内の絞り９およ
びレンズ情報出力回路33が接続されている。さらにCPU3
1には、露出制御用測光素子８からの出力に基づいて測
光動作を行う測光回路34と、受光素子13、すなわち分割
受光素子13a〜13eからの出力に基づいて調光動作を行う
調光回路40と、装填されたフィルムFIのISO感度をDXコ
ードから読み取るISO感度検出回路35と、上記電子閃光
装置11の発光制御回路36とが接続されている。

ここで、露出制御用測光素子８も受光素子13と同様
に、被写界の各測光領域に対応する５つの分割測光素子
8a〜8eから成る。またレンズ情報出力回路33は、レンズ
固有の情報（開放絞り値や射出瞳距離）などが格納され
たレンズROMと、撮影レンズ２のフォーカシング位置か
ら撮影距離を検出するレンズエンコーダとから成る。

第６図は上記調光回路40の詳細を示し、この調光回路
40は、各分割受光素子13a〜13eの出力を増幅する増幅器
41a〜41eと、CPU31からの指令に応答して各増幅器41a〜
41eの増幅率をそれぞれ設定するゲイン設定器42a〜42e
とを有し、ゲイン設定器42a〜42eは、上記CPU31からの
デジタル信号をアナログ信号に変換するD/A変換器を含
んでいる。

またCPU31からの指令に応答して上記予備発光時の各
増幅器41a〜41eの出力をそれぞれ時間で積分する積分回
路43a〜43eと、本発光時の各増幅器41a〜41eの出力を加
算する加算回路44と、CPU31からの指令に応答して加算
回路44の加算結果を時間で積分する積分回路45と、CPU3
1によって演算され出力されたアナログ信号としての調
光レベル（後で詳述する）をデジタル信号に変換する変
換回路46と、この変換された調光レベルと上記積分回路
45の出力とを比較し、積分回路45の出力が上記調光レベ
ルに達した時に発光停止信号を出力する比較器47とを有
する。

次に、第７図〜第12図のフローチャートによりCPU31
による閃光撮影動作の制御手順を説明する。

第７図はメインのフローチャートであり、ステップS1
においてレリーズ釦32（第５図）が半押し操作に引き続
いて全押し（レリーズ）操作されるとステップS2以下の
処理が開始される。まずステップS2でISO感度検出回路3
5から、装填されたフィルムのISO感度SVを読み込み、次
いでステップS3〜S5で撮影レンズ２のレンズ情報出力回
路33から開放絞り値F₀,射出瞳距離P₀および撮影距離ｘ
をそれぞれ読み込んでステップS6に進む。撮影距離ｘ
は、レリーズ釦32の半押し操作に伴って駆動されたレン
ズの位置をエンコーダで検出した値である。

ステップS6では定常光での測光を行う。すなわち上述
した５分割の測光素子8a〜8e（第５図）の出力を測光回
路34に取り込み、この測光回路34で対数圧縮された各測
光領域に対応する輝度値EVn（ｎ＝１〜５）を読み込
む。ここで、本実施例におけるｎの値１〜５は、５つの
測光素子8a〜8eまたは分割受光素子13a〜13eにそれぞれ
対応しているものとする。次いでステップS7では、読み
込んだ各輝度値EVnおよびISO感度SVから定常光露出BVを
演算する。この演算方式は、例えば本出願人による特開
平１−285925号公報に開示されているような方式を用い
る。

その後、ステップS8に進み、演算された定常光露出BV
からシャッタ速度TVおよび絞り値AVを決定し、ステップ
S9でミラー３を第２図の破線の状態から実線の状態まで
アップする。次いでステップS10で絞り９をステップS8
で決定された絞り値まで絞り込み、ステップS11では発
光制御回路36に発光信号を出力して電子閃光装置11を所
定の少量のガイドナンバーG_NOで予備発光させる。

この予備発光の光束は被写体で反射され、撮影レンズ
２を透過してシャッタ10の幕面に１次像として結像す
る。この１次像は５つに分割され、その各々は第３図の
集光レンズアレイ12を介して５つの分割受光素子13a〜1
3eにそれぞれ受光される。各分割受光素子13a〜13eは、
それぞれの受光量に応じた信号を逐次上記調光回路40
（第６図）の増幅器41a〜41eに入力する。

増幅器41a〜41eは、入力された信号をゲイン設定器42
a〜42eで設定された増幅率（この予備発光時は増幅率は
全て１である）でそれぞれ増幅して積分回路43a〜43eに
入力する。CPU31はステップS12で積分回路43a〜43eに作
動信号を出力し、積分回路43a〜43eは、この作動信号に
応答して上記増幅された信号をそれぞれ時間で積分して
CPU31に入力する。この入力された信号を以下、分割測
光信号BPn（ｎ＝１〜５）と呼ぶ。

その後、CPU31内ではステップS13〜ステップS17の各
処理が順に行われるが、これらの処理の詳細は第８図〜
第12図のフローチャートに示される。

第８図は上記分割測光信号BPnのレンズ補正および素
子面積補正処理（第７図のステップS13）の詳細を示
し、まずステップS131でｎ＝０とする。次いでステップ
S132でｎを１だけ歩進し、ステップS133で次式に基づい
てレンズの補正係数Ｌ（ｎ）の演算を行う。

Ｌ（１）＝１ Ｌ（２）＝１−（1.2×10^-3）・PO Ｌ（３）＝１−（1.2×10^-3）・PO Ｌ（４）＝１＋（1.7×10^-3）・PO Ｌ（５）＝１＋（1.7×10^-3）・PO ここで、POは撮影レンズ２の射出瞳距離を示してい
る。次にステップS134で予めメモリに格納された素子面
積補正係数Ｓ（ｎ）すなわち、Ｓ（１）＝1,S（２）＝
0.8,S（３）＝0.8,S（４）＝1.3,S（５）＝1.3を読み込
み、ステップS135で、 BPn←BPn・Ｌ（ｎ）/S（ｎ） に基づいて分割測光信号BPnの補正を行う。これらの処
理は、ステップS136でｎ＝５が判定されるまで行われ、
これにより５つの測光領域の分割測定信号BPn全てに対
してレンズおよび素子面積による補正が行われる。

すなわち、撮影レンズ２の射出瞳距離POや受光素子13
a〜13eの面積および位置によって上述の受光素子13a〜1
3eの受光条件は異なる。そこでこの第８図の処理では、
全ての受光素子の測光信号を同一条件で評価するために
上記補正処理が行われるのである。

次にCPU31は、ステップS14（第７図）のHi,Loカット
処理（有効測光領域決定処理）を行う。その詳細を示す
第９図において、まずステップS1401,S1402でＭ＝0,n＝
０とし、次いでステップS1403〜S1410で上記５つの分割
測光信号BPn（ステップS13で補正された値）に対して以
下に示す処理を順に行う。

すなわち、ステップS1404では分割測定信号BPnが、 を満たすか否かを判定する。ここで、G_NOは予備発光時
のガイドナンバー、AVは上記ステップS8で演算された絞
り値（アペックス値）、ｘは撮影距離、K1は定数であ
る。ステップS1404が肯定されるとステップS1405に進
み、その分割測光信号BPnを零にするとともに、ステッ
プS1406でこの測光信号BPnの重み付け量Dnを零としてス
テップS1411に進む。

ここで、上記ステップS1404〜S1406の処理について詳
しく説明する。

例えば被写界中に鏡や金屏風などの高反射率の物体が
存在していた場合や主要被写体の前方に物体がある場合
には、他の被写体と比べてその領域の分割測光信号BPn
は極めて大きく、この測光信号を加味して調光動作を行
うと主要被写体が露出アンダーとなる可能性がある。そ
こで上述したステップS1404〜S1406の処理は、このよう
な高反射率の被写体に対する測光信号を除外して以下の
調光動作を行うための処理である。つまり測光信号BPn
が仮に基準値 よりも大きい場合には、光量過多と判断してその測光信
号BPnを零とするとともに、重み付け量Dnも零とする。
そしてこの基準値は、予備発光時の絞り値AVと撮影距離
ｘとに基づいているので以下のような効果がある。

すなわち、予備発光のガイドナンバーが一定であって
も、そのときの絞り値AVおよび撮影距離ｘによって測光
信号の値は異なり、撮影距離が遠いほど、または絞りが
絞り込まれているほど測光信号は小さな値となる。この
ため、仮に上記光量過多か否かを判定する基準値が一定
値であった場合には、撮影距離が遠く絞り込まれている
状態では除外すべき被写体が除外されないおそれがあ
り、逆に撮影距離が近く絞り開放の状態では除外される
べきでない測光信号が除外されてしまうおそれがある。

そこで、本実施例では上述の式によって基準値を決め
ており、これによれば、撮影距離が近いほど、または絞
り値が開放側にあるほど基準値は高くなるので、上記不
都合は完全に解消される。

一方、ステップS1404が否定された場合にはステップS
1407に進み、測光信号BPnが基準値K2より小さいか否か
を判定する。ステップS1407が肯定されると上記ステッ
プS1405に進み、否定されるとステップS1408に進む。こ
の処理は、上述とは逆に例えば主要被写体の背後に大き
な空間があり、反射光が少なく測光信号BPnが低過ぎる
場合に、主要被写体が露出オーバになることを防止する
ためにその測光信号BPnを除外する処理である。この場
合には、もともと測光信号BPnが小さいので上記絞り値A
Vや撮影距離ｎに応じて基準値を変える必要はなく、定
数でよい。

上記ステップS1404,S1407のいずれにおいても除外さ
れなかった測光信号BPnは、ステップS1408でそのままの
値とされ、次いでステップS1409では、その測光信号BPn
に対応する重み付け量が１とされる。ステップS1410で
は、変数Ｍを１だけ歩進する。ここで、被写界中の５つ
の測光領域のうち上記測光信号BPnが除外されなかった
領域が有効測光領域に相当する。また変数Ｍは、除外さ
れなかった測光信号BPn、すなわち有効測光領域の個数
を表わすものである。

この第９図の処理が終了すると、ステップS15（第７
図）に進み、被写界の各測光領域の反射率分布Rnを求め
る処理を行う。

ステップS15の詳細を示す第10図において、まずステ
ップS151,S152でＱ＝0,n＝０とし、次いでステップS153
〜S155において、各測光信号BPnの総和Ｑを求める（Ｑ
＝Ｑ＋BPn）。ここで、上記光量過多、過少の測光信号
はステップS14の処理で零とされているので、実質的に
は有効測光領域の測光信号のみが加算されることにな
る。次にステップS156でｎ＝０とし、ステップS157〜S1
59において、 Rn＝BPn/Q に基づいて測光信号BPnの反射率の合計を１とした場合
の各測光信号BPnの反射率分布Rnをそれぞれ求める。こ
のときステップS14で除外された測光信号の反射率分布
は当然零となる。

その後、ステップS16（第７図）の調光レベル演算処
理に進む。ここで調光レベルとは、閃光撮影時に電子閃
光装置11の上記本発光を停止すべき測光信号のレベルを
示している。

ステップS16の詳細を示す第11図により説明すると、
まずステップS1601で調光レベルLVを零とし、次いでス
テップS1602でｎ＝０としてステップS1603に進む。ステ
ップS1603〜S1606では、有効測光領域の個数Ｍおよび各
反射率分布に応じて調光レベルLVを求める処理を行う。

すなわちステップS1604では、各測光信号の反射率分
布Rnが1/M（これは、有効測光領域の反射率分布Rnの平
均値に相当する）以上か否かを判定し、肯定された場
合、つまりその測光領域の反射率分布Rnが平均値以上の
場合にはステップS1605に進んで調光レベルLVを0.02だ
け歩進する。またステップS1604が否定された場合、つ
まりその測光領域の反射率分布Rnが平均値未満の場合に
はステップS1606に進み、調光レベルを「0.02×Rn/MAX
（Ｒ）」（ただし、MAX（Ｒ）はR1〜R5の最大値）だけ
歩進する。

以上の処理は、５つの反射率分布Rnが全て等しい場合
に調光レベルLVが0.02×５＝0.1となるようにした場合
の処理であり、この処理により調光レベルLVは、有効測
光領域の個数Ｍおよび各反射率分布Rnに応じて決定され
ることになる。詳しく言えば、各反射率分布Rnのうち、
その平均値より小さいものが多いほど、すなわち他の領
域よりある程度以上反射率分布Rnの高い領域が存在し、
それらの反射率分布の差が大きいほど調光レベルLVは小
さくなる。またこの調光レベルLVは、有効測光領域の個
数Ｍが少ないほど小さくなる。

ここで、各測光信号Bpnは、上述のステップ13におい
てそれぞれの分割受光素子13a〜13eの面積によって補正
がなされてるので、有効測光距離の個数Ｍは有効測光領
域全体の面積に依存している。このことから調光レベル
LVが有効測光領域の大きさに応じて決定されるというこ
とは、有効測光領域の面積に応じて決定される言い換え
てもよいことになる。

次にステップS1608に進み、求められた調光レベルLV
が0.03以上か否かを判定し、肯定されるとステップS161
0に進み、否定されるとステップS1609で調光レベルLVを
0.03としてステップS1610に進む。これは、調光レベルL
Vを0.03以上に制限するものであり、調光レベルLVが低
すぎて露出アンダーとなるのを防止するための措置であ
る。

ステップS1610では、 により調光レベルLVをISO感度（ステップS2で読み込ま
れたもの）SVに対応するように換算する。

その後、ステップS17（第７図）に進み、後に行われ
る本発光時の測光信号を補正するための重み付け量を求
める処理を行う。ステップS17の詳細を示す第12図にお
いて、まずステップS171でｎ＝０とし、次いでステップ
S172〜S174において、各測光信号に対応する重み付け量
Dn（ステップS14で求められたものであり、１または０
である）にＬ（ｎ）/S（ｎ）を乗じて新たな重み付け量
とする。ここで、Ｌ（ｎ）はステップS13で得られたレ
ンズ補正係数であり、Ｓ（ｎ）は面積補正係数である。
すなわち、本実施例では、上記反射率分布Rnに応じて調
光レベルLVを可変としているので重み付け量を反射率分
布に応じて求める必要はなく、したがってここではレン
ズ補正係数Ｌ（ｎ）および面積補正係数Ｓ（ｎ）によっ
てのみ重み付け量を求めている。また、ステップS14で
除外された測光信号に対応する重み付け量は当然零とな
る。

その後、ステップS18（第７図）に進み、シャッタ10
を開くとともに、これが全開すると発光制御回路36を介
して電子閃光装置11を本発光させ、ステップS19ではフ
ィルム面からの反射光を分割測光する。すなわち、本発
光による照明光は被写体で反射され撮影レンズ２を透過
しフィルム面で反射された後、５つの受光素子13a〜13e
に受光され、受光素子13a〜13eの出力信号は、調光回路
40の増幅器41a〜41e（第６図）にそれぞれ入力される。
またCPU31は、ステップS20において、ステップS17で求
められた各重み付け量Dnに応じて調光回路40のゲイン設
定器42a〜42eにより増幅器41a〜41eの増幅率を設定す
る。すなわち、重み付けを行う。

増幅器41a〜41eは、設定された増幅率で各受光素子13
a〜13eの出力信号を増幅して加算回路44に入力し、加算
回路44は入力された増幅信号を加算する。ステップS21
では、積分回路45に積分信号を出力し、これにより積分
回路45は加算回路44の加算結果を時間で積分する。

一方、ステップS16で演算された調光レベルLVは変換
回路46に出力され、変換回路46はこれをアナログ信号に
変換する。この変換回路46および上記積分回路45の出力
（これが所定の調光評価値に相当する）は比較器47に入
力され、比較器47は、積分回路45の出力が上記調光レベ
ルLVに達するとCPU31に発光停止信号を入力する。CPU31
は、この発光停止信号が入力されると、すなわちステッ
プS22が肯定されると、ステップS23で電子閃光装置11の
発光制御回路36を制御して上記本発光を停止させ、その
後、処理を終了させる。

以上の手順によれば、予備発光による測光信号と絞り
値と撮影距離とからステップS14で有効測光領域が抽出
され、ステップS15でその有効測光領域の反射率分布が
求められ、ステップS16でその反射率分布と有効測光領
域の数（面積）に応じて調光レベルが求められる。そし
て本発光時、測光出力の合計値が上記調光レベルに達し
た時点で本発光が停止される。このように有効測光領域
の個数（面積）に応じて調光レベルが変化するので以下
のような効果がある。

すなわち有効測光領域の個数が少ない場合には、多い
場合に比べて本発光時の測光信号の合計値（上記積分回
路45の出力）は相対的に小さくなる。このため有効測光
領域の個数（面積）に拘らず調光レベルを一定値とした
場合には、有効測光領域が少ない場合には主要被写体が
露出オーバになり易く、逆に有効測光領域が多い場合に
は露出アンダーとなり易い。そこで、上述のように有効
測光領域の個数が少ないほど調光レベルを小さくし、そ
の個数の多いほど調光レベルを大きくすれば、どのよう
な場合にも主要被写体が適正露出となる可能性が高くな
る。

また本実施例では、各測光領域の反射率分布に応じて
上記調光レベルが変化し、例えば主要被写体を含む測光
領域の反射率分布が他よりもある程度以上高い場合（こ
のような場合には主要被写体が露出オーバになり易い）
には、それらの差に応じて調光レベルが低くなるので主
要被写体が適正露出となる可能性が更に高くなる。

以上の実施例の構成において、電子閃光装置11が閃光
手段を、受光素子13a〜13eおよび調光回路40が測光手段
102を、CPU31が判定手段，領域抽出手段，調光レベル決
定手段を、CPU31および調光回路40が調光手段をそれぞ
れ構成する。

なお以上では、各測光領域の反射率分布Rnおよび有効
測光領域の個数（面積）Ｍに基づいて調光レベルLVを求
めるようにしたが、反射率分布は考慮に入れず、個数の
みで調光レベルを決定するようにした例を以下に示す。
この場合には、第10図の反射率分布演算処理を省略し、
第11図のステップS1602〜S1608を第13図のように変更す
る。これによれば、調光レベルLVは0.02×Ｍとなり、有
効測光領域の数（面積）のみに応じて調光レベルが決定
されることになる。

また、予備発光時の各測光信号に絞り値と撮影距離を
も加味して有効測光領域を抽出するようにしたが、測光
信号のみに基づいて抽出するようにしてもよい。

なお以上では、調光レベルLVを変化させるようにした
が、これに代えて、積分回路や増幅器のゲインを適宜変
えるようにしても同様の効果を得ることができる。した
がって、本明細書中でいう調光レベルの決定とは、この
ような積分回路や増幅器のゲインを変えるものも含むも
のである。

さらに予備発光を行うカメラにて説明したが、予備発
光を行わないものでも本発明を適用できる。この場合に
は、発光（本発光）の初期段階に得られた各測光信号に
基づいて有効測光領域を抽出し、この有効測光領域の面
積に応じて上述と同様に調光レベルを決定し、発光の初
期段階以降に得られる測光信号に基づいて累積演算され
る調光評価値が上記決定された調光レベルに達した時点
で発光を停止するようにすればよい。

さらにまた以上では、銀塩フィルムを用いるカメラに
て説明したが、例えばフロッピーディスクを用いて撮影
を行う電子スチルカメラにも本発明を同様に適用でき
る。

G.発明の効果 本発明によれば、予備発光時あるいは発光（本発光）
の初期段階に得られた各分割測光信号に基づいて、分割
された各領域が異常反応領域か否かを判定し、異常反射
領域と判定された領域を除外した残りの領域を有効測光
領域として抽出し、その有効測光領域の面積に応じて調
光レベルを決定するようにしたので、異常反射に起因す
る露出アンダーや露出オーバーが防止され、以て良好な
露出が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はクレーム対応図である。 第２図〜第12図は本発明の一実施例を示し、第２図は本
発明に係る自動調光カメラの構成を示す図、第３図は集
光レンズアレイおよび分割受光素子を示す斜視図、第４
図は分割受光素子とフィルム露光領域との位置関係を示
す図、第５図は制御系のブロック図、第６図は調光回路
の構成図、第７図はメインのフローチャート、第８図〜
第12図はサブルーチンを示すフローチャート、第13図は
第11図の変形例を示すフローチャートである。 8:測光素子、9:絞り 10:シャッタ、11:電子閃光装置 12:集光レンズアレイ、13:受光素子 13a〜13e:分割受光素子 31:CPU、32:レリーズ釦 36:発光制御回路、40:調光回路

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被写界を閃光撮影するために発光を行う本
   発光と、該本発光前に発光を行う予備発光とが可能な閃
   光手段と、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の予備
   発光および本発光による該複数領域からの各反射光を測
   光して各測光信号を出力する測光手段と、 前記予備発光時に得られた各測光信号に基づいて、前記
   分割された各領域が異常反射領域か否かを判定する判定
   手段と、 前記異常反射領域と判定された領域を除外して残りの領
   域を有効測光領域として抽出する領域抽出手段と、 前記本発光を停止する調光レベルを前記有効測光領域の
   面積に応じて決定する調光レベル決定手段と、 前記本発光時において、前記有効測光領域の各測光信号
   を累積した出力が前記調光レベルに達した時点で前記本
   発光を停止する調光手段とを具備することを特徴とする
   TTL自動調光カメラ。
2. 【請求項２】被写界を閃光撮影するために発光を行う閃
   光手段と、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の発光
   による該複数領域からの各反射光を測光して各測光信号
   を出力する測光手段と、 前記発光の初期段階に得られた各測光信号に基づいて、
   前記分割された各領域が異常反射領域か否かを判定する
   判定手段と、 前記異常反射領域と判定された領域を除外して残りの領
   域を有効測光領域として抽出する領域抽出手段と、 前記発光を停止する調光レベルを前記有効測光領域の面
   積に応じて決定する調光レベル決定手段と、 前記発光初期段階以降において、前記有効測光領域の各
   測光信号を累積した出力が前記調光レベルに達した時点
   で前記発光を停止する調光手段とを具備することを特徴
   とするTTL自動調光カメラ。
3. 【請求項３】撮影距離情報を出力可能な撮影レンズ鏡筒
   が装着可能なカメラであって、被写界を閃光撮影するた
   めに発光を行う本発光と、該本発光前に発光を行う予備
   発光とが可能な閃光手段と、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の予備
   発光および本発光による該複数領域からの各反射光を測
   光して各測光信号を出力する測光手段と、 前記予備発光時に得られた各測光信号と前記撮影レンズ
   鏡筒から出力された撮影距離情報とに基づいて、前記分
   割された各領域が異常反射領域か否かを判定する判定手
   段と、 前記異常反射領域と判定された領域を取外して残りの領
   域を有効測光領域として抽出する領域抽出手段と、 前記本発光を停止する調光レベルを前記有効測光領域の
   面積に応じて決定する調光レベル決定手段と、 前記本発光時において、前記有効測光領域の各測光信号
   を累積した出力が前記調光レベルに達した時点で前記本
   発光を停止する調光手段とを具備することを特徴とする
   TTL自動調光カメラ。
4. 【請求項４】撮影距離情報を出力可能な撮影レンズ鏡筒
   が装着可能なカメラであって、 被写界を閃光撮影するために発光を行う閃光手段と、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の発光
   による該複数領域からの各反射光を測光して各測光信号
   を出力する測光手段と、 前記発光の初期段階に得られた各測光信号と前記撮影レ
   ンズ鏡筒から出力された撮影距離情報とに基づいて、前
   記分割された各領域が異常反射領域か否かを判定する判
   定手段と、 前記異常反射領域と判定された領域を除外して残りの領
   域を有効測光領域として抽出する領域抽出手段と、 前記発光を停止する調光レベルを前記有効測光領域の面
   積に応じて決定する調光レベル決定手段と、 前記発光初期段階以降において、前記有効測光領域の各
   測光信号を累積した出力が前記調光レベルに達した時点
   で前記発光を停止する調光手段とを具備することを特徴
   とするTTL自動調光カメラ。