JP2906552B2 - 自動調光カメラ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、被写界を複数の測光領域に分割し各々の領
域からの測光信号に基づいて調光を行うTTL自動調光カ
メラに関する。

B.従来の技術 例えば特開昭60−15626号公報には、次のような自動
調光カメラが開示されている。

このカメラのボディ前面には、本発光用のストロボ発
光部と、予備発光用の赤外ストロボ発光部と、これらス
トロボ光を受光する測光部とを備えている。この測光部
は、画面の中央部と周辺部とに分けて被写体からの反射
光を測光するように形成されている。

まず、このカメラは、赤外ストロボ発光部を発光さ
せ、被写体からの反射光を画面の中央と周辺とに分けて
赤外光を測定し、その差から主要被写体が上記２つのエ
リアのいずれに存在するか判定している。この判定に応
じて測光部の測光方式を中央部重点測光、周辺部重点測
光、平均測光のいずれか１つに切換えている。

次に、シャッタ作動に同期して本発明のストロボ発光
部が発光する。この発光中に被写体からの反射光が上記
いずれかの測光方式により分割測光され、この反射光の
積分値が予め定められた値に達するとストロボ発光部は
発光を停止する。

また、特開昭62−90633号公報の自動調光カメラで
は、予備発光を行わず、本発光時に画面を分割して測光
し、そのうちの最大出力値を検出してこの最大出力値に
基づきストロボの発光量を制御している。

C.発明が解決しようとする課題 しかしながら、上述した従来の自動調光カメラでは、
例えば被写体の背後に金屏風や鏡などの高反射率の被写
体が存在する場合や主要被写体の前方に物体が存在する
場合には、これらの物体が存在する領域の測光信号が高
すぎて主要被写体の位置を正しく認識できず、その影響
を受けて主要被写体の露出が不適正になるという問題が
あった。

本発明の技術的課題は、被写界に高反射率のものがあ
った場合や主要被写体の前方に被写体が存在する場合で
も閃光撮影時に常に主要被写体が適正な露出となるよう
にすることにある。

D.課題を解決するための手段 クレーム対応図である第１図により説明すると、請求
項１の発明は、予備発光を行った後に本発光を行う閃光
撮影可能な自動調光カメラに適用される。そして、予備
発光時および本発光時に被写界の分割された複数領域か
らの各反射光を測光して各測光信号を出力する測光手段
202と、予備発光時に得られた各測光信号と予備発光時
点における撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信号とに
基づいて、分割された複数領域から有効測光領域を抽出
する領域抽出手段203と、有効測光領域で得られる測光
信号に応じて本発光を停止する調光手段204とを具備
し、これにより上記問題点を解決する。

請求項７の発明は、発光を行うことにより閃光撮影可
能な自動調光カメラに適用される。そして、発光時に、
被写界の分割された複数領域からの各反射光を測光して
各測光信号を出力する測光手段と、発光初期段階で得ら
れた各測光信号と、発光時の撮影レンズの撮影状態を示
すレンズ信号とに基づいて、分割された複数領域から有
効測光領域を抽出する領域抽出手段と、領域抽出手段で
出力された有効測光領域で得られる測光信号に応じて発
光を停止する調光手段とを具備する。

請求項13の発明は、予備発光を行った後に本発光を行
う閃光撮影可能な自動調光カメラに適用される。そし
て、予備発光時および本発光時に、被写界の分割された
複数領域からの各反射光を測光して各測光信号を出力す
る測光手段と、予備発光時に得られた各測光信号と予備
発光時点における撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信
号とに基づいて、分割された複数領域から有効測光領域
を抽出する領域抽出手段と、領域抽出手段で抽出された
有効測光領域の面積に応じて、本発光を停止するとこと
の、有効測光領域の各測光信号が累積演算された所定の
調光評価値と調光レベルとの関係を決定し、所定の調光
評価値と調光レベルとが上記関係に達した時点で本発光
を停止する調光手段とを具備する。

E.作用 （１）請求項１の発明 領域抽出手段203は、予備発光時に得られた測光手段2
02からの各測光信号と予備発光時点における撮影レンズ
の撮影状態を示すレンズ信号とに基づいて、分割された
複数領域から有効測光領域を抽出する。調光手段204
は、有効測光領域で得られる測光信号に応じて本発光を
停止する。

（２）請求項７の発明 領域抽出手段は、発光初期段階で得られた各測光信号
と、発光時の撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信号と
に基づいて、分割された複数領域から有効測光領域を抽
出し、調光手段は、領域抽出手段で出力された有効測光
領域で得られる測光信号に応じて発光を停止する。

（３）請求項13の発明 領域抽出手段は、予備発光時に得られた各測光信号と
予備発光時点における撮影レンズの撮影状態を示すレン
ズ信号とに基づいて、分割された複数領域から有効測光
領域を抽出する。調光手段は、領域抽出手段で抽出され
た有効測光領域の面積に応じて、本発光を停止するとこ
ろの、有効測光領域の各測光信号が累積演算された所定
の調光評価値と調光レベルとの関係を決定し、所定の調
光評価値と調光レベルとが上記関係に達した時点で本発
光を停止する。

F.実施例 第２図〜第12図により本発明の一実施例を説明する。

第２図はTTL自動調光カメラの構成を示す図である。
撮影レンズ２を通過した光束（定常光）は、破線で示す
ミラーダウン状態のミラー３で反射され、スクリーン4,
ペンタプリズム５を通過して、一部は接眼レンズ６に導
かれ、他の一部は集光レンズ７を通過して露出演算用測
光素子８に導かれる。また、第５図に示すレリーズ釦32
がレリーズ操作されると、ミラー３が実線で示すアップ
位置に駆動された後、絞り９が絞り込まれ、シャッタ10
が開閉され、これにより撮影レンズ２を通過した被写体
光はフィルムFIに導かれてフィルムFIが露光される。

また閃光撮影時には、シャッタ10の開後に電子閃光装
置11が本発光して被写体を照明し、被写体からの反射光
は撮影レンズ２を介してフィルム面に至り、このフィル
ム面で反射された後、集光レンズアレイ12を介して調光
用の受光素子13に受光される。さらに本実施例のカメラ
は、上記本発光の前に被写界の反射率分布を調べるため
の予備発光が可能であり、この予備発光による被写界か
らの反射光は、シャッタ10の開前にその幕面で反射され
て受光素子13に受光される。

なお反射率分布とは、被写界の反射物が同一撮影距離
に置かれていると仮定したときに得られる反射率の分布
であり、本実施例では被写界からの反射光を分割測光す
ることにより被写界の反射光量分布を検出して反射率分
布を求めている。

受光素子13は、第３図に示すように、被写界中央部の
円形の測光領域に対応する分割受光素子13aと、被写界
周辺部の矩形を円弧で切り欠いた形状の測光領域に対応
する分割受光素子13b〜13eとが同一平面上に配置されて
成る。すなわち、本実施例では被写界を５つの測光領域
に分割して分解測光を行う。また集光レンズアレイ12
は、上記受光素子13a〜13eの左、中間、右の３ブロック
に対応する３つのレンズ部分12a〜12cを有する光学部材
である。

第４図は、フィルム面の露光領域20と受光素子13、集
光レンズアレイ12の光学的な位置関係を示す図である。
フィルム面の１駒分の露光領域20を被写界と同様に中央
の円形部20aと周辺を４分割した20b〜20eの５領域に分
割すると、第３図に示した受光素子13a〜13eの上記左、
中間、右の３ブロックは、それぞれ破線で示されるよう
に、集光レンズアレイ12の３つのレンズ部分12a〜12cを
経由してフィルム露光領域20の左半分、中央、右半分と
対峙している。さらに受光素子13の５つの分割受光素子
13a〜13eは、それぞれフィルム露光領域20と形状を一致
させてあるので、５つの領域20a〜20eの明るさをそれぞ
れ分割して測光する。

第５図は制御系のブロック図を示し、カメラ全体のシ
ーケンスを制御するCPU31は、レリーズ釦32,シャッタ10
が接続されるとともに、撮影レンズ２内の絞り９および
レンズ情報出力回路33が接続されている。さらにCPU31
には、露出制御用測光素子８からの出力に基づいて測光
動作を行う測光回路34と、受光素子13、すなわち分割受
光素子13a〜13eからの出力に基づいて調光動作を行う調
光回路40と、装填されたフィルムFIのISO感度をDXコー
ドから読み取るISO感度検出回路35と、上記電子閃光装
置11の発光制御回路36とが接続されている。

ここで、露出制御用測光素子８も受光素子13と同様
に、被写界の各測光領域に対応する５つの分割測光素子
8a〜8eから成る。またレンズ情報出力回路33は、レンズ
固有の情報（開放絞り値や射出瞳距離）などが格納され
たレンズROMと、撮影レンズ２のフォーカシング位置か
ら撮影距離を検出するレンズエンコーダとから成る。

第６図は上記調光回路40の詳細を示し、この調光回路
40は、各分割受光素子13a〜13eの出力を増幅する増幅器
41a〜41eと、CPU31からの指令に応答して各増幅器41a〜
41eの増幅率をそれぞれ設定するゲイン設定器42a〜42e
とを有し、ゲイン設定器42a〜42eは、上記CPU31からの
デジタル信号をアナログ信号に変換するD/A変換器を含
んでいる。

またCPU31からの指令に応答して上記予備発光時の各
増幅器41a〜41eの出力をそれぞれ時間で積分する積分回
路43a〜43eと、本発光時の各増幅器41a〜41eの出力を加
算する加算回路44と、CPU31からの指令に応答して加算
回路44の加算結果を時間で積分する積分回路45と、CPU3
1によって演算され出力されたアナログ信号としての調
光レベル（後で後述する）をデジタル信号に変換する変
換回路46と、この変換された調光レベルと上記積分回路
45の出力とを比較し、積分回路45の出力が上記調光レベ
ルに達した時に発光停止信号を出力する比較器47とを有
する。

次に、第７図〜第12図のフローチャートによりCPU31
による閃光撮影動作の制御手順を説明する。

第７図はメインのフローチャートであり、ステップS1
においてレリーズ釦32（第５図）が半押し操作に引き続
いて全押し（レリーズ）操作されるとステップS2以下の
処理が開始される。まずステップS2でISO感度検出回路3
5から、装填されたフィルムのISO感度SVを読み込み、次
いでステップS3〜S5で撮影レンズ２のレンズ情報出力回
路33から開放絞り値F₀,射出瞳距離P₀および撮影距離ｘ
をそれぞれ読み込んでステップS6に進む。撮影距離ｘ
は、レリーズ釦32の半押し操作に伴って駆動されたレン
ズの位置をエンコーダで検出した値である。

ステップS6では定常光での測光を行う。すなわち上述
した５分割の測光素子8a〜8e（第５図）の出力を測光回
路34に取り込み、この測光回路34で対数圧縮された各測
光領域に対応する輝度値EVn（ｎ＝１〜５）を読み込
む。ここで、本実施例におけるｎの値１〜５は、５つの
測光素子8a〜8eまたは分割受光素子13a〜13eにそれぞれ
対応しているものとする。次いでステップS7では、読み
込んだ各輝度値EVnおよびISO感度SVから定常光露出BVを
演算する。この演算方式は、例えば本出願人による特開
平１−285925号公報に開示されているような方式を用い
る。

その後、ステップS8に進み、演算された定常光露出BV
からシャッタ速度TVおよび絞り値AVを決定し、ステップ
S9でミラー３を第２図の破線の状態から実線の状態まで
アップする。次いでステップS10で絞り９をステップS8
で決定された絞り値まで絞り込み、ステップS11では発
光制御回路36に発光信号を出力して電子閃光装置11を所
定の小量のガイドナンバーG_NOで予備発光させる。

この予備発光の光束は被写体で反射され、撮影レンズ
２を透過してシャッタ10の幕面に１次像として結像す
る。この１次像は５つに分割され、その各々は第３図の
集光レンズアレイ12を介して５つの分割受光素子13a〜1
3eにそれぞれ受光される。各分割受光素子13a〜13eは、
それぞれの受光量に応じた信号を逐次上記調光回路40
（第６図）の増幅器41a〜41eに入力する。

増幅器41a〜41eは、入力された信号をゲイン設定器42
a〜42eで設定された増幅率（この予備発光時は増幅率は
全て１である）でそれぞれ増幅して積分回路43a〜43eに
入力する。CPU31はステップS12で積分回路43a〜43eに作
動信号を出力し、積分回路43a〜43eは、この作動信号に
応答して上記増幅された信号をそれぞれ時間で積分して
CPU31に入力する。この入力された信号を以下、分割測
光信号BPn（ｎ＝１〜５）と呼ぶ。

その後、CPU31内ではステップS13〜ステップS17の各
処理が順に行われるが、これらの処理の詳細は第８図〜
第12図のフローチャートに示される。

第８図は上記分割測光信号BPnのレンズ補正および素
子面積補正処理（第７図のステップS13）の詳細を示
し、まずステップS131でｎ＝０とする。次いでステップ
S132でｎを１だけ歩進し、ステップS133で図示の式に基
づいてレンズの補正係数Ｌ（ｎ）の演算を行う。ここ
で、P₀は撮影レンズ２の射出瞳距離を示している。次に
ステップS134で予めメモリに格納された素子面積補正係
数Ｓ（ｎ）を読み込み、ステップS135で BPn←BPn・Ｌ（ｎ）/S（ｎ） に基づいて分割測定信号BPnの補正を行う。これらの処
理は、ステップS136でｎ＝５が判定されるまで行われ、
これにより５つの測光領域の分割測光信号BPn全てに対
してレンズおよび素子面積による補正が行われる。

すなわち、撮影レンズ２の射出瞳距離Poや受光素子13
a〜13eの面積および位置によって上述の受光素子13a〜1
3eの受光条件は異なる。そこでこの第８図の処理では、
全ての受光素子の測光信号を同一条件で評価するために
上記補正処理が行われるのである。

次にCPU31は、ステップS14（第７図）のHi,Loカット
処理（有効測光領域決定処理）を行う。その詳細を示す
第９図において、まずステップS1401,S1402でＭ＝0,n＝
０とし、次いでステップS1403〜S1410で上記５つの分割
測光信号BPn（ステップS13で補正された値）に対して以
下に示す処理を順に行う。

すなわち、ステップS1404では分割測光信号BPnが、 を満たすか否かを判定する。ここで、G_NOは予備発光時
のガイドナンバー、AVは上記ステップS8で演算された絞
り値（アペックス値）、ｘは撮影距離、K1は定数であ
る。ステップS1404が肯定されるとステップS1405に進
み、その分割測光信号BPnを零とするとともに、ステッ
プS1406でこの測光信号BPnの重み付け量Dnを零としてス
テップS1411に進む。

ここで、上記ステップS1404〜S1406の処理について詳
しく説明する。

例えば被写界中に鏡や金屏風などの高反射率の物体が
存在していた場合や主要被写体の前方に物体がある場合
には、他の被写体と比べてその領域の分割測光信号BPn
は極めて大きく、この測光信号を加味して調光動作を行
うと主要被写体が露出アンダーとなる可能性がある。そ
こで上述したステップS1404〜S1406の処理は、このよう
な高反射率の被写体に対する測光信号を除外して以下の
調光動作を行うための処理である。つまり測光信号BPn
が仮に基準値 よりも大きい場合には、光量過多と判断してその測光信
号BPnを零とするとともに、重み付け量Dnも零とする。
そしてこの基準値は、予備発光時の絞り値AVと撮影距離
ｘとに基づいているので以下のような効果がある。

すなわち、予備発光のガイドナンバーが一定であって
も、そのときの絞り値AVおよび撮影距離ｘによって測光
信号の値はは異なり、撮影距離が遠いほど、または絞り
が絞り込まれているほど測光信号は小さな値となる。こ
のため、仮に上記光量過多か否かを判定する基準値が一
定値であった場合には、撮影距離が遠く絞り込まれてい
る状態では除外すべき被写体が除外されないおそれがあ
り、逆に撮影距離が近く絞り開放の状態では除外される
べきでない測光信号が除外されてしまうおそれがある。

そこで、本実施例では上述の式によって基準値を決め
ており、これによれば、撮影距離が近いほど、または絞
り値が開放側にあるほど基準値は高くなるので、上記不
都合は完全に解消される。

一方、ステップS1404が否定された場合にはステップS
1407に進み、測光信号BPnが基準値K2より小さいか否か
を判定する。ステップS1407が肯定されると上記ステッ
プS1405に進み、否定されるとステップS1408に進む。こ
の処理は、上述とは逆に例えば主要被写体の背後に大き
な空間があり、反射光が少なく測光信号BPnが低過ぎる
場合に、主要被写体が露出オーバになることを防止する
ためにその測光信号BPnを除外する処理である。この場
合には、もともと測光信号BPnが小さいので上記絞り値A
Vや撮影距離ｎに応じて基準値を変える必要はなく、定
数でよい。

上記ステップS1404,S1407のいずれにおいても除外さ
れなかった測光信号BPnは、ステップS1408でそのままの
値とされ、次いでステップS1409では、その測光信号BPn
に対応する重み付け量が１とされる。ステップS1410で
は、変数Ｍを１だけ歩進する。ここで、被写界中の５つ
の測光領域のうち上記測光信号BPnが除外されなかった
領域が有効測光領域に相当する。また変数Ｍは、除外さ
れなかった測光信号BPn、すなわち有効測光領域の個数
を表わすものである。

この第９図の処理が終了すると、ステップS15（第７
図）に進み、被写界の各測光領域の反射率分布Rnを求め
る処理を行う。

ステップS15の詳細を示す第10図において、まずステ
ップS151,S152でＱ＝0,n＝０とし、次いでステップS153
〜S155において、各測光信号BPnの総和Ｑを求める。こ
こで、上記光量過多、過少の測光信号はステップS14の
処理で零とされているので、実質的には有効測光領域の
測光信号のみが加算されることになる。次にステップS1
56でｎ＝０とし、ステップS157〜S159において、図示の
式に基づいて測光信号Bpnの反射率の合計を１とした場
合の各測光信号Bpnの反射率分布Rnをそれぞれ求める。
このときステップS14で除外された速攻信号の反射率分
布は当然零となる。

その後、ステップS16（第７図）の調光レベル演算処
理に進む。ここで調光レベルとは、閃光撮影時に電子閃
光装置11の上記本発光を停止すべき測光信号のレベルを
示している。

ステップS16の詳細を示す第11図により説明すると、
まずステップS1601で調光レベルLVを零とし、次いでス
テップS1602でｎ＝０としてステップS1603に進む。ステ
ップS1603〜S1606では、有効測光領域の個数Ｍおよび各
反射率分布に応じて調光レベルLVを求める処理を行う。

すなわちステップS1604では、各測光信号の反射率分
布Rnが1/M（これは、有効測光領域の反射率分布Rnの平
均値に相当する）以上か否かを判定し、肯定された場
合、つまりその測光領域の反射率分布Rnが平均値以上の
場合にはステップS1605に進んで調光レベルLVを0.02だ
け歩進する。またステップS1604が否定された場合、つ
まりその測光領域の反射率分布Rnが平均値未満の場合に
はステップS1606に進み、調光レベルを「0.02×Rn/MAX
（Ｒ）」（ただし、MAX（Ｒ）はR1〜R5の最大値）だけ
歩進する。

以上の処理は、５つの反射率分布Rnが全て等しい場合
に調光レベルLVが0.02×５＝0.1となるようにした場合
の処理であり、この処理により調光レベルLVは、有効測
光領域の個数（面積）Ｍおよび反射率分布Rnに応じて決
定されることになる。

次にステップS1608に進み、求められた調光レベルLV
が0.03以上か否かを判定し、肯定されるとステップS161
0に進み、否定されるとステップS1609で調光レベルLVを
0.03としてステップS1610に進む。これは、調光レベルL
Vを0.03以上に制限するものであり、調光レベルLVが低
すぎて露出アンダーとなるのを防止するための措置であ
る。

ステップS1610では、調光レベルLVをISO感度（ステッ
プS2で読み込まれたもの）SVに対応するように換算す
る。

その後、ステップS17（第７図）に進み、後に行われ
る本発光時の測光信号を補正するための重み付け量を求
める処理を行う。ステップS17の詳細を示す第12図にお
いて、まずステップS171でｎ＝０とし、次いでステップ
S172〜S174において、各測光信号に対応する重み付け量
Dn（ステップS14で求められたものであり、１または０
である）にＬ（ｎ）/S（ｎ）を乗じて新たな重み付け量
とする。ここで、Ｌ（ｎ）はステップS13で得られたレ
ンズ補正係数であり、Ｓ（ｎ）は面積補正係数である。
すなわち、本実施例では、上記反射率分布Rnに応じて調
光レベルLVを可変としているので重み付け量を反射率分
布に応じて求める必要はなく、したがってここではレン
ズ補正係数Ｌ（ｎ）および面積補正係数Ｓ（ｎ）によっ
てのみ重み付け量を求めている。また、ステップS14で
除外された測光信号に対応する重み付け量は当然零とな
る。

その後、ステップS18（第７図）に進み、シャッタ10
を開くとともに、これが全開すると発光制御回路36を介
して電子閃光装置11を本発光させ、ステップS19ではフ
ィルム面からの反射光を分割測光する。すなわち、本発
光による照明光は被写体で反射され撮影レンズ２を透過
しフィルム面で反射された後、５つの受光素子13a〜13e
に受光され、受光素子13a〜13eの出力信号は、調光回路
40の増幅器41a〜41e（第６図）にそれぞれ入力される。
またCPU31は、ステップS20において、ステップS17で求
められた各重み付け量Dnに応じて調光回路40のゲイン設
定器42a〜42eにより増幅器41a〜41eの増幅率を設定す
る。すなわち、重み付けを行う。

増幅器41a〜41eは、設定された増幅率で各受光素子13
a〜13eの出力信号を増幅して加算回路44に入力し、加算
回路44は入力された増幅信号を加算する。ステップS21
では、積分回路45に積分信号を出力し、これにより積分
回路45は加算回路44の加算結果を時間で積分する。

一方、ステップS16で演算された調光レベルLVは変換
回路46に出力され、変換回路46はこれをアナログ信号に
変換する。この変換回路46および上記積分回路45の出力
は比較器47に入力され、比較器47は、積分回路45の出力
が上記調光レベルLVに達するとCPU31に発光停止信号を
入力する。CPU31は、この発光停止信号が入力される
と、すなわちステップS22が肯定されると、ステップS23
で電子閃光装置11の発光制御回路36を制御して上記本発
光を停止させ、その後、処理を終了させる。

以上の手順によれば、予備発光による測光信号と絞り
値と撮影距離とからステップS14で有効測光領域が抽出
され、ステップS15でその有効測光領域の反射率分布が
求められ、ステップS16でその反射率分布と有効測光領
域の数（面積）に応じて調光レベルが求められる。そし
て本発光時、測光出力の合計値が上記調光レベルに達し
た時点で本発光が停止される。このように予備発光時の
絞り値と撮影距離を加味して有効測光領域が求められる
ので、撮影時の露出条件や主要被写体までの距離に拘ら
ず常に適正な調光レベルを求めることができ、例えば被
写界に高反射率の物体が存在する場合でも主要被写体を
適正露出で閃光撮影することが可能となる。

以上の実施例の構成において、受光素子13a〜13eおよ
び調光回路40が測光手段202を、CPU31が領域抽出手段20
3を、CPU31および調光回路40が調光手段204をそれぞれ
構成する。

なお以上では、有効測光領域の測光信号に応じて調光
レベルを変えるようにしたが、この調光レベルは一定値
とし、本発光時の各測光領域の重み付け量を予備発光時
の有効測光領域の測光信号から求めるようにしても上述
と同様な効果が得られる。また予備発光を行うカメラに
て説明したが、予備発光を行わないものでも本発明を適
用できる。この場合には、本発光の初期段階の測光信号
応に応じて有効測光領域を抽出するとともに、この有効
測光領域の測光信号に応じて調光レベルあるいは重み付
け量を求め、これらと初期段階以降の測光信号に応じて
発光を停止するようにすればよい。

さらに以上では、銀塩フィルムを用いるカメラにて説
明したが、例えばフロッピーディスクを用いて撮影を行
う電子スチルカメラにも本発明を同様に適用できる。

G.発明の効果 請求項１の発明によれば、予備発光を行うカメラにお
いて、予備発光時に得られた各測光信号とレンズ信号と
に基づいて、分割された複数の測光領域から有効測光領
域を抽出し、この有効測光領域で得られる測光信号に応
じて本発光を停止するようにしたので、予備発光時の撮
影レンズの絞り値や撮影距離に拘らず有効測光領域が正
確に抽出でき、例えば高反射率の被写体や主要被写体よ
り近い被写体の測光信号を加味しないで調光が行え、確
実に主要被写体を適正露出とすることが可能となる。

また請求項７の発明によれば、予備発光を行わないカ
メラにおいて、発光の初期段階で得られた各測光信号と
レンズ信号とに基づいて、分割された複数領域から有効
測光領域を抽出し、発光の初期段階以降に得られる各測
光信号と初期段階の有効測光領域の各測光信号とに応じ
て発光を停止するようにしたので、上述と同様な効果が
得られる。

請求項13の発明によれば、予備発光を行うカメラにお
いて、予備発光時に得られた各測光信号とレンズ信号と
に基づいて、分割された複数の測光領域から有効測光領
域を抽出し、この有効測光領域の面積に応じて、本発光
を停止するところの、有効測光領域の各測光信号が累積
演算された所定の調光評価値と調光レベルとの関係を決
定し、所定の調光評価値と調光レベルとが上記関係に達
した時点で本発光を停止するようにしたので、上述と同
様の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はクレーム対応図である。 第２図〜第12図は本発明の一実施例を示し、第２図は本
発明に係る自動調光カメラの構成を示す図、第３図は集
光レンズアレイおよび分割受光素子を示す斜視図、第４
図は分割受光素子とフィルム露光領域との位置関係を示
す図、第５図は制御系のブロック図、第６図は調光回路
の構成図、第７図はメインのフローチャート、第８図〜
第12図はサブルーチンを示すフローチャートである。 8:測光素子、9:絞り 10:シャッタ、11:電子閃光装置 12:集光レンズアレイ、13:受光素子 13a〜13e:分割受光素子 31:CPU、32:レリーズ釦 36:発光制御回路、40:調光回路 202:測光手段、203:領域抽出手段 204:調光手段

Claims (13)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】予備発光を行った後に本発光を行う、閃光
   撮影可能な自動調光カメラにおいて、 前記予備発光時および本発光時に被写界の分割された複
   数領域からの各反射光を測光して各測光信号を出力する
   測光手段と、 前記予備発光時に得られた各測光信号と前記予備発光時
   点における撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信号とに
   基づいて、前記分割された複数領域から有効測光領域を
   抽出する領域抽出手段と、 前記有効測光領域で得られる測光信号に応じて前記本発
   光を停止する測光手段とを具備することを特徴とする自
   動調光カメラ。
2. 【請求項２】前記レンズ信号は撮影レンズの絞り値およ
   び撮影距離を含むことを特徴とする請求項１に記載の自
   動調光カメラ。
3. 【請求項３】前記調光手段は、前記予備発光時に得られ
   た前記有効測光領域の各測光信号に基づいて、前記本発
   光時に得られる前記各測光信号を合成する処理回路のゲ
   インを決定し、前記本発光時には前記処理回路により合
   成された前記各測光信号の合計量が所定調光レベルに達
   したときに前記本発光を停止する請求項１に記載の自動
   調光カメラ。
4. 【請求項４】前記処理回路は、前記各測光信号を増幅す
   る増幅器あるいは前記各測光信号を合成する積分回路で
   あることを特徴とする請求項３に記載の自動調光カメ
   ラ。
5. 【請求項５】前記調光手段は、前記予備発光時に得られ
   た前記有効測光領域の各測光信号に基づいて、前記本発
   光を停止するところの、前記各測光信号の合計値と調光
   レベルとの関係を求めるとともに、前記合計値と前記調
   光レベルとが前記関係に達したときに前記本発光を停止
   することを特徴とする請求項１に記載の自動調光カメ
   ラ。
6. 【請求項６】前記有効測光領域の各測光信号に対して重
   み付けを行う重み付け手段を有し、前記重み付けの量は
   撮影レンズの射出瞳距離に応じた重み付け量を含むこと
   を特徴とする請求項１に記載の自動調光カメラ。
7. 【請求項７】発光を行うことにより閃光撮影可能な自動
   調光カメラにおいて、 前記発光時に、被写界の分割された複数領域からの各反
   射光を測光して各測光信号を出力する測光手段と、 前記発光初期段階で得られた各測光信号と、前記発光時
   の撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信号とに基づい
   て、前記分割された複数領域から有効測光領域を抽出す
   る領域抽出手段と、 前記領域抽出手段で出力された前記有効測光領域で得ら
   れる測光信号に応じて前記発光を停止する調光手段とを
   具備することを特徴とする自動調光カメラ。
8. 【請求項８】前記レンズ信号は撮影レンズの絞り値およ
   び撮影距離を含むことを特徴とする請求項７に記載の自
   動調光カメラ。
9. 【請求項９】前記調光手段は、前記発光初期段階で得ら
   れた前記有効測光領域の各測光信号に基づいて、前記発
   光時に得られる前記各測光信号を合成する処理回路のゲ
   インを決定し、前記発光時には前記処理回路により合成
   された前記各測光信号の合計値が所定調光レベルに達し
   たときに前記発光を停止することを特徴とする請求項７
   に記載の自動調光カメラ。
10. 【請求項１０】前記処理回路は、前記各測光信号を増幅
    する増幅器あるいは前記各測光信号を合成する積分回路
    であることを特徴とする請求項９に記載の自動調光カメ
    ラ。
11. 【請求項１１】前記調光手段は、前記発光初期段階で得
    られた前記有効測光領域の各測光信号に基づいて、前記
    発光を停止する調光レベルを求めるとともに、前記発光
    時の前記各測光信号の合計値が前記調光レベルに達した
    ときに前記発光を停止することを特徴とする請求項７に
    記載の自動調光カメラ。
12. 【請求項１２】前記有効測光領域の各測光信号に対して
    重み付けを行う重み付け手段を有し、前記重み付けの量
    は撮影レンズの射出瞳距離に応じた重み付け量を含むこ
    とを特徴とする請求項７に記載の自動調光カメラ。
13. 【請求項１３】予備発光を行った後に本発光を行う、閃
    光撮影可能な自動調光カメラにおいて、 前記予備発光時および本発光時に、被写界の分割された
    複数領域からの各反射光を測光して各測光信号を出力す
    る測光手段と、 前記予備発光時に得られた各測光信号と前記予備発光時
    点における撮影レンズの撮影状態を示すレンズ信号とに
    基づいて、前記分割された複数領域から有効測光領域を
    抽出する領域抽出手段と、 前記領域抽出手段で抽出された前記有効測光領域の面積
    に応じて、前記本発光を停止するところの、前記有効測
    光領域の各測光信号が累積演算された所定の調光評価値
    と調光レベルとの関係を決定し、前記所定の調光評価値
    と前記調光レベルとが前記関係に達した時点で前記本発
    光を停止する調光手段とを具備することを特徴とする自
    動調光カメラ。