JPH03269420A - 自動調光カメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、被写界を複数の測光領域に分割し各々の領域
からの測光信号に基づいて調光を行うＴＴＬ自動調光カ
メラに関する。

Ｂ、従来の技術 例えば特開昭６０−１５６２６号公報には、次のような
自動調光カメラが開示されている。このカメラは、閃光
撮影時の本発光に先立って予備発光を行い、被写界から
の反射光を分割測光して各領域の測光信号から主要被写
体の位置を判別し、その判別結果によって各領域に対す
る重み付け量を決定し、本発光時に重み付けされた各領
域の出力の合計値が所定値に達すると本発光を停止する
ものである。

また、特開昭６２−９０６３３号公報に開示されている
ように、上記予備発光は行わず、本発光時の測光信号を
分割測光し、そのうちの最大出力領域が支配的になるよ
うに閃光量を制御するものも知られている。

Ｃ０発明が解決しようとする課題 しかしながら、上述した従来の自動調光カメラでは、例
えば被写体の背後に金屏風や鏡などの高反射率の被写体
が存在する場合や主要被写体の前方に物体が存在する場
合には、これらの物体が存在する領域の測光信号が高す
ぎて主要被写体の位置を正しく認識できず、その影響を
受けて主要被写体の露出が不適正になるという問題があ
った。

本発明の技術的課題は、被写界に高反射率のものがあっ
た場合や主要被写体の前方に被写体が存在する場合でも
閃光撮影時に常に主要被写体が適正な露出となるように
することにある。

００課題を解決するための手段 クレーム対応図である第１図により説明すると、請求項
１の発明に係るＴＴＬ自動調光カメラは、被写界を閃光
撮影するために発光を行う本発光と、本発光前に被写界
の反射率分布を予め検出するために発光を行う予備発光
とが可能な閃光手段１０１と、被写界を複数領域に分割
して、閃光手段１０１の予備発光および本発光による上
記複数領域からの各反射光を測光して各測光信号を出力
する測光手段１０２と、予備発光時に得られた各測光信
号と予備発光時の撮影レンズの絞り値と撮影距離とに基
づいて分割された複数領域から有効測光領域を抽出する
領域抽出手段１０３と、領域抽出手段１０３で抽出され
た有効測光領域で得られる測光信号に応じて上記本発光
を停止する調光手段１０４とを具備し、これにより上記
技術的課題を解決する。

また、同様に第１図により説明すると、請求項４の発明
に係るＴＴＬ自動調光カメラは、被写界を閃光撮影する
ために発光を行う閃光手段１０１と、被写界を複数領域
に分割して、閃光手段１０１の発光による複数領域から
の各反射光を測光して各測光信号を出力する測光手段１
０２と、発光の初期段階で得られた各測光信号と発光時
の撮影レンズの絞り値と撮影距離とに基づいて分割され
た複数領域から有効測光領域を抽出する領域抽出手段１
０３と、領域抽出手段２０３で抽出された有効測光領域
で得られる測光信号に応じて発光を停止する調光手段１
０４とを具備し、これにより上記技術的課題を解決する
。

Ｅ０作用 （１）請求項１の発明 領域抽出手段１０３は、閃光手段１０１の予備発光時に
得られた各測光信号と予備発光時の撮影レンズの絞り値
と撮影距離とに基づいて、上記分割された複数領域から
有効測光領域を抽出する。

調光手段１０４は、抽出された有効測光領域で得られる
測光信号に応じて本発光を停止する。これによれば、上
記予備発光を行うカメラにおいて、予備発光時の絞り値
や撮影距離に拘らず適切に測光領域が抽出され１例えば
高反射率の物体が存在する測光領域は有効測光領域から
除外される。そしてこの有効測光領域の測光信号に基づ
いて調光が行われるので、本発光時主要被写体が適正露
出で閃光撮影される。

（２）請求項４の発明 領域抽出手段１０３は、発光の初期段階で得られた各測
光信号と発光時の撮影レンズの絞り値と撮影距離とに基
づいて、上記分割された複数領域から有効測光領域を抽
出する。調光手段１０４は、抽出された有効測光領域で
得られる測光信号に応じて発光を停止する。これにより
予備発光を行わないカメラにおいても上述と同様な効果
が得られる。

Ｆ、実施例 第２図〜第１２図により本発明の一実施例を説明する。

第２図はＴＴＬ自動調光カメラの構成を示す図である。

撮影レンズ２を通過した光束（定常光）は、破線で示す
ミラーダウン状態のミラー３で反射され、スクリーン４
．ペンタプリズム５を通過して、一部は接眼レンズ６に
導かれ、他の一部は集光レンズ７を通過して露出演算用
測光素子８に導かれる。また、第５図に示すレリーズ釦
３２がレリーズ操作されると、ミラー３が実線で示すア
ップ位置に翻動された後、絞り９が絞り込まれ、シャッ
タ１０が開閉され、これにより撮影レンズ２を通過した
被写体光はフィルムＦＩに導かれてフィルムＦＩが露光
される。

また閃光撮影時には、シャッタ１ｏの間抜に電子閃光装
置１１が本発光して被写体を照明し、被写体からの反射
光は撮影レンズ２を介してフィルム面に至り、このフィ
ルム面で反射された後、集光レンズアレイ１２を介して
調光用の受光素子１３に受光される。さらに本実施例の
カメラは、上記本発光の前に被写界の反射率分布を調べ
るための予備発光が可能であり、この予備発光による被
写界からの反射光は、シャッタ１ｏの開館にその幕面で
反射されて受光素子１３に受光される。

受光素子１３は、第３図に示すように、被写界中央部の
円形の測光領域に対応する分割受光素子１３ａと、被写
界周辺部の矩形を円弧で切り欠いた形状の測光領域に対
応する分割受光素子１３ｂ〜１３ｅとが同一平面上に配
置されて成る。すなわち、本実施例では被写界を５つの
測光領域に分割して分割測光を行う。また集光レンズア
レイ１２は、上記受光素子１３ａ〜１３ｅの左、中間、
右の３ブロツクに対応する３つのレンズ部分１２ａ〜１
２ｃを有する光学部材である。

第４図は、フィルム面の露光領域２ｏと受光素子１３、
集光レンズアレイ１２の光学的な位置関係を示す図であ
る。フィルム面の１駒分の露光領域２０を被写界と同様
に中央の円形部２０ａと周辺を４分割した２０ｂ〜２０
ｅの５領域に分割すると、第３図に示した受光素子１３
ａ〜１３ｅの上記左、中間、右の３ブロツクは、それぞ
れ破線で示されるように、集光レンズアレイ１２の３つ
のレンズ部分１２ａ〜１２ｃを経由してフィルム露光領
域２０の左半分、中央、右半分と対峙している。さらに
受光素子１３の５つの分割受光素子１３　ａ　＝　１３
　ｅは、それぞれフィルム露光領域２０と形状を一致さ
せであるので、５つの領域２゜ａ〜２０ｅの明るさをそ
れぞれ分割して測光する。

第５図は制御系のブロック図を示し、カメラ全体のシー
ケンスを制御するＣＰＵ３１には、レリーズ釦３２．シ
ャッタ１ｏが接続されるとともに。

撮影レンズ２内の絞り９およびレンズ情報出力回路３３
が接続されている。さらにＣＰＵ３１には、露出制御用
測光素子８からの出方に基づいて測光動作を行う測光回
路３４と、受光素子１３、すなわち分割受光素子１３ａ
〜１３ｅからの出力に基づいて調光動作を行う調光回路
４ｏと、装填されたフィルムＦＩのＩＳＯ感度をＤＸコ
ードから読み取るＩＳＯ感度検出回路３５と、上記電子
閃光装置１１の発光制御回路３６とが接続されている。

ここで、露出制御用測光素子８も受光素子１３と同様に
、被写界の各測光領域に対応する５つの分割測光素子８
８〜８ｅから成る。またレンズ情輸出力回路３３は、レ
ンズ固有の情報（開放絞り値や射出瞳距離）などが格納
されたレンズＲＯＭと、撮影レンズ２のフォーカシング
位置から撮影距離を検出するレンズエンコーダとから威
る。

第６図は上記調光回路４０の詳細を示し、この調光回路
４０は、各分割受光素子１３ａ〜１３ｅの出力を増幅す
る増幅器４１ａ〜４１ｅと、ＣＰＵ３１からの指令に応
答して各増幅器４１ａ〜４１ｅの増幅率をそれぞれ設定
するゲイン設定器４２ａ〜４２ｅとを有し、ゲイン設定
器４２ａ〜４２ｅは、上記ＣＰＵ３１からのデジタル信
号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器を含んでいる
。

またＣＰＵ３１からの指令に応答して上記予備発光時の
各増幅器４１ａ〜４１ｅの出力をそれぞれ時間で積分す
る積分回路４３ａ〜４３ｅと１本発光時の各増幅器４１
ａ〜４１ｅの出力を加算する加算回路４４と、ＣＰＵ３
１からの指令に応答して加算回路４４の加算結果を時間
で積分する積分回路４５と、ＣＰＵ３１によって演算さ
れ出力されたアナログ信号としての調光レベル（後で詳
述する）をデジタル信号に変換する変換回路４６と、こ
の変換された調光レベルと上記積分回路４５の出力とを
比較し、積分回路４５の出力が上記調光レベルに達した
時に発光停止信号を出力する比較器４７とを有する。

次に、第７図〜第１２図のフローチャートによりＣＰＵ
３１による閃光撮影動作の制御手順を説明する。

第７図はメインのフローチャートであり、ステップＳ１
においてレリーズ釦３２（第５図）が半押し操作に引き
続いて全押しくレリーズ）操作されるとステップ８２以
下の処理が開始される。まずステップＳ２でＩＳＯ感度
検出回路３５から、装填されたフィルムのＩＳＯ感度Ｓ
■を読み込み。

次いでステップ８３〜Ｓ５で撮影レンズ２のレンズ情報
出力回路３３から開放絞り値Ｆ０．射出瞳距離Ｐ０およ
び撮影距離Ｘをそれぞれ読み込んでステップＳ６に進む
。撮影路１１１ｘは、レリーズ釦３２の半押し操作に伴
って駆動されたレンズの位置をエンコーダで検出した値
である。

ステップＳ６では定常光での測光を行う。すなわち上述
した５分割の測光素子８ａ〜８ｅ（第５図）の出力を測
光回路３４に取り込み、この測光回路３４で対数圧縮さ
れた各測光領域に対応する輝度値ＥＶｎ（ｎ＝１〜５）
を読み込む。ここで、本実施例におけるｎの値１〜５は
、５つの測光素子８ａ〜８ｅまたは分割受光素子１３ａ
〜１３ｅにそれぞれ対応しているものとする。次いでス
テップＳ７では、読み込んだ各輝度値ＥＶｎおよびＩＳ
Ｏ感度Ｓｖから定常光露出ＢＶを演算する。

この演算方式は、例えば本出願人による特開平１−２８
５９２５号公報に開示されているような方式を用いる。

その後、ステップＳ８に進み、演算された定常光露出Ｂ
Ｖからシャッタ速度ＴＶおよび絞り値ＡＶを決定し、ス
テップＳ９でミラー３を第２図の破線の状態から実線の
状態までアップする。次いでステップ５１０で絞り９を
ステップＳ８で決定された絞り値まで絞り込み、ステッ
プＳｌｌでは発光制御回路３６に発光信号を出力して電
子閃光装置１１を所定の少量のガイドナンバー〇ＮＯで
予備発光させる。

この予備発光の光束は被写体で反射され、撮影レンズ２
を透過してシャッタ１０の幕面に１次像として結像する
。この１次像は５つに分割され、その各々は第３図の集
光レンズアレイ１２を介して５つの分割受光素子１３ａ
〜１３ｅにそれぞれ受光される。各分割受光素子１３ａ
〜１３ｅは、それぞれの受光量に応じた信号を逐次上記
調光回路４０（第６図）の増幅器４１ａ〜４１ｅに入力
する。

増幅器４１ａ〜４１ｅは、入力された信号をゲイン設定
器４２ａ〜４２ｅで設定された増幅率（この予備発光時
は増幅率は全て１である）でそれぞれ増幅して積分回路
４３ａ〜４３ｅに入力する。ＣＰＵ３１はステップＳ１
２で積分回路４３ａ〜４３・ｅに作動信号を出力し、積
分回路４３ａ〜４３ｅは、この作動信号に応答して上記
増幅された信号をそれぞれ時間で積分してＣＰＵ３１に
入力する。この入力された信号を以下５分割側光信号Ｂ
Ｐｎ（ｎ＝１〜５）と呼ぶ。

その後、ＣＰＵ３１内ではステップ８１３〜ステツプＳ
１７の各処理が順に行われるが、これらの処理の詳細は
第８図〜第１２図のフローチャートに示される。

第８図は上記分割測光信号ＢＰｎのレンズ補正および素
子面積補正処理（第７図のステップ５１３）の詳細を示
し、まずステップ５１３１でｎ＝Ｏとする０次いでステ
ップ５１３２でｎを１だけ歩進し、ステップ５１３３で
図示の式に基づいてレンズの補正係数Ｌ　（ｎ）の演算
を行う。ここで、Ｐｏは撮影レンズ２の射出瞳距離を示
している。

次にステップ５１３４で予めメモリに格納された素子面
積補正係数Ｓ　（ｎ）を読み込み、ステップ５１３５で ＢＰｎ４−ＢＰｎ−Ｌ　（ｎ）／Ｓ　（ｎ）に基づいて
分割測光信号ＢＰｎの補正を行う。これらの処理は、ス
テップ８１３６でｎ＝５が判定されるまで行われ、これ
により５つの測光領域の分割測光信号ＢＰｎ全てに対し
てレンズおよび素子面積による補正が行われる。

すなわち、撮影レンズ２の射出瞳距離Ｐｏや受光素子１
３ａ〜１３ｅの面積および位置によって上述の受光素子
１３ａ〜１３ｅの受光条件は異なる。そこでこの第８図
の処理では、全ての受光素子の測光信号を同一条件で評
価するために上記補正処理が行われるのである。

次にＣＰＵ３１は、ステップ５１４（第７図）のＨｉ、
Ｌｏカット処理（有効測光領域決定処理）を行う。その
詳細を示す第９図において、まずステップ５１４０１，
５１４０２でＭ＝Ｏ，ｎ＝０とし、次いでステップ５１
４０３〜５１４１０で上記５つの分割測光信号ＢＰｎ　
（ステップ８１３で補正された値）に対して以下に示す
処理を順に行う。

すなわち、ステップ５１４０４では分割測光信号ＢＰｎ
が、 を満たすか否かを判定する。ここで、ＧＮＯは予備発光
時のガイドナンバー、ＡＶは上記ステップＳ８で演算さ
れた絞り値（アペックス値）、ｘは撮影距離、Ｋ１は定
数である。ステップ５１４０４が肯定されるとステップ
５１４０５に進み、その分割測光信号ＢＰｎを零とする
とともに、ステップ５１４０６でこの測光信号ＢＰｎの
重み付け量Ｄｎを零としてステップ５１４１１に進む。

ここで、上記ステップ５１４０４〜３１４０６の処理に
ついて詳しく説明する。

例えば被写界中に鏡や金屏風などの高反射率の物体が存
在していた場合や主要被写体の前方に物体がある場合に
は、他の被写体と比べてその領域の分割測光信号ＢＰｎ
は極めて大きく、この測光信号を加味して調光動作を行
うと主要被写体が露出アンダーとなる可能性がある。そ
こで上述したステップ５１４０４〜５１４０６の処理は
、このような高反射率の被写体に対する測光信号を除外
よりも大きい場合には、光量過多と判断してその測光信
号ＢＰｎを零とするとともに、重み付け量Ｄｎも零とす
る。そしてこの基準値は、予備発光時の絞り値ＡＶと撮
影距離Ｘとに基づいているので以下のような効果がある
。

すなわち、予備発光のガイドナンバーが一定であっても
、そのときの絞り値ＡＶおよび撮影距離Ｘによって測光
信号の値はは異なり、撮影距離が遠いほど、または絞り
が絞り込まれているほど測光信号は小さな値となる。こ
のため、仮に上記光量過多か否かを判定する基準値が一
定値であった場合には、撮影距離が遠く絞り込まれてい
る状態では除外すべき被写体が除外されないおそれがあ
り、逆に撮影距離が近く絞り開放の状態では除外される
べきでない測光信号が除外されてしまうおそれがある。

そこで、本実施例では上述の式によって基準値を決めて
おり、これによれば、撮影距離が近いほど、または絞り
値が開放側にあるほど基準値は高くなるので、上記不都
合は完全に解消される。

一方、ステップ８１４０４が否定された場合にはステッ
プ５１４０７に進み、８１！光信号ＢＰｎが基準値に２
より小さいか否かを判定する。ステップ５１４０７が肯
定されると上記ステップ８１４０５に進み、否定される
とステップ８１４０８に進む。この処理は、上述とは逆
に例えば主要被写体の背後に大きな空間があり、反射光
が少なく測光信号ＢＰｎが低過ぎる場合に、主要被写体
が露出オーバになることを防止するためにその測光信号
ＢＰｎを除外する処理である。この場合には、もともと
測光信号ＢＰｎが小さいので上記絞り値ＡＶや撮影距離
ｎに応じて基準値を変える必要はなく、定数でよい。

上記ステップ５１４０４，５１４０７のいずれにおいて
も除外されなかった測光信号ＢＰｎは、ステップ５１４
０８でそのままの値とされ、次いでステップ５１４０９
では、その測光信号ＢＰｎに対応する重み付け量が１と
される。ステップ５１４１０では、変数Ｍを１だけ歩進
する。ここで、被写界中の５つの測光領域のうち上記測
光信号ＢＰｎが除外されなかった領域が有効測光領域に
相当する。また変数Ｍは、除外されなかった測光信号Ｂ
Ｐｎ、すなわち有効測光領域の個数を表わすものである
。

この第９図の処理が終了すると、ステップ５１５（第７
図）に進み、被写界の各測光領域の反射率分布Ｒｎを求
める処理を行う。

ステップＳ１５の詳細を示す第１０図において、まずス
テップ５１５１，５１５２１’Ｑ＝Ｏ，ｎ＝Ｏとし１次
いでステップ８１５３〜５１５５において、各測光信号
ＢＰｎの総和Ｑを求める。ここで、上記光量過多、過少
の測光信号はステップＳ１４の処理で零とされているの
で、実質的には有効測光領域の測光信号のみが加算され
ることになる０次にステップ８１５６でｎ＝ｏとし、ス
テップ８１５７〜５１５９において１図示の式に基づい
て測光信号Ｂｐｎの反射率の合計を１とした場合の各測
光信号Ｂｐｎの反射率分布Ｒｎをそれぞれ求める。この
ときステップＳ１４で除外された測光信号の反射率分布
は当然零となる。

その後、ステップ８１６（第７図）の調光レベル演算処
理に進む、ここで調光レベルとは、閃光撮影時に電子閃
光装置１１の上記本発光を停止すべき測光信号のレベル
を示している。

ステップ８１６の詳細を示す第１１図により説明すると
、まずステップ５１６０１で調光レベルＬＶを零とし１
次いでステップ５１６０２でｎ＝０としてステップ８１
６０３に進む、ステップ５１６０３〜５１６０６では、
有効測光領域の個数Ｍおよび各反射率分布に応じて調光
レベルＬＶを求める処理を行う。

すなわちステップ８１６０４では、各測光信号の反射率
分布Ｒｎが１／Ｍ（これは、有効測光領域の反射率分布
Ｒｎの平均値に相当する）以上か否かを判定し、肯定さ
れた場合、つまりその測光領域の反射率分布Ｒｎが平均
値以上の場合にはステップ８１６０５に進んで調光レベ
ルＬＶを０．０２だけ歩進する。またステップ８１６０
４が否定された場合、つまりその測光領域の反射率分布
Ｒｎが平均値未満の場合にはステップ５１６０６に進み
、調光レベルをｒｏ、０２ＸＲｎ／ＭＡＸ　（Ｒ）Ｊ　
　（ただし、ＭＡＸ　（Ｒ）はＲ１−Ｒ５の最大値）だ
け歩進する。

以上の処理は、５つの反射率分布Ｒｎが全て等しい場合
に調光レベルＬＶが０．０２Ｘ５＝０．１となるように
した場合の処理であり、この処理により調光レベルＬＶ
は、有効測光領域の個数（面積）Ｍおよび反射率分布Ｒ
ｎに応じて決定されることになる。

次にステップ５１６０８に進み、求められた調光レベル
ＬＶが０．０３以上か否かを判定し、肯定されるとステ
ップ５１６１０に進み、否定されるとステップ５１６０
９で調光レベルＬＶを０．０３としてステップ５１６１
０に進む、これは、調光レベルＬＶを０．０３以上に制
限するものであり、調光レベルＬＶが低すぎて露出アン
ダーとなるのを防止するための措置である。

ステップ５１６１０では、調光レベルＬＶをＩＳＯ感度
（ステップＳ２で読み込まれたもの）Ｓ■に対応するよ
うに換算する。

その後、ステップ５１７（第７図）に進み、後に行われ
る本発光時の測光信号を補正するための重み付け量を求
める処理を行う、ステップＳ１７の詳細を示す第１２図
において、まずステップ５１７１でｎ＝ｏとし、次いで
ステップ８１７２〜５１７４において、各測光信号に対
応する重み付け量Ｄｎ（ステップＳ１４で求められたも
のであり、１または０である）にＬ　（ｎ）　／Ｓ　（
ｎ）を乗じて新たな重み付け量とする。ここで、　Ｌ　
（ｎ）はステップＳ１３で得られたレンズ補正係数であ
り、　Ｓ　（ｎ）は面積補正係数である。すなわち、本
実施例では、上記反射率分布Ｒｎに応じて調光レベルＬ
Ｖを可変としているので重み付け量を反射率分布に応じ
て求める必要はなく、したがってここではレンズ補正係
数Ｌ　（ｎ）および面積補正係数Ｓ　（ｎ）によっての
み重み付け量を求めている。また、ステップＳ１４で除
外された測光信号に対応する重み付け量は当然零となる
。

その後、ステップ５１８（第７図）に進み、シャッタ１
０を開くとともに、これが全開すると発光制御回路３６
を介して電子閃光装置１１を本発光させ、ステップＳ１
９ではフィルム面からの反射光を分割測光する。すなわ
ち１本発光による照明光は被写体で反射され撮影レンズ
２を透過しフィルム面で反射された後、５つの受光素子
１３ａ〜１３ｅに受光され、受光素子１３ａ〜１３ｅの
出力信号は、調光回路４０の増幅器４１ａ〜４１ｅ（第
６図）にそれぞれ入力される。またＣＰＵ３１は、ステ
ップＳ２０において、ステップＳ１７で求められた各重
み付け量Ｄｎに応じて調光回路４０のゲイン設定器４２
ａ〜４２ｅにより増幅器４１ａ〜４１ｅの増幅率を設定
する。すなわち、重み付けを行う。

増幅器４１ａ〜４１ｅは、設定された増幅率で各受光素
子１３ａ〜１３ｅの出力信号を増幅して加算回路４４に
入力し、加算回路４４は入力された増幅信号を加算する
。ステップＳ２１では、積分回路４５に積分信号を出力
し、これにより積分回路４５は加算回路４４の加算結果
を時間で積分する。

一方、ステップＳ１６で演算された調光レベルＬＶは変
換回路４６に出力され、変換回路４６はこれをアナログ
信号に変換する。この変換回路４６および上記積分回路
４５の出力は比較器４７に入力され、比較器４７は、積
分回路４５の出力が上記調光レベルＬＶに達するとＣＰ
Ｕ３１に発光停止信号を入力する。ＣＰＵ３１は、この
発光停止信号が入力されると、すなわちステップＳ２２
が肯定されると、ステップＳ２３で電子閃光装置１１の
発光制御回路３６を制御して上記本発光を停止させ、そ
の後、処理を終了させる。

以上の手順によれば、予備発光による測光信号と絞り値
と撮影距離とからステップＳ１４で有効測光領域が抽出
され、ステップ８１５でその有効測光領域の反射率分布
が求められ、ステップ８１６でその反射率分布と有効測
光領域の数（面積）に応じて調光レベルが求められる。

そして本発光時、測光出力の合計値が上記調光レベルに
達した時点で本発光が停止される。このように予備発光
時の絞り値と撮影距離を加味して有効測光領域が求めら
れるので、撮影時の露出条件や主要被写体までの距離に
拘らず常に適正な調光レベルを求めることができ、例え
ば被写界に高反射率の物体が存在する場合でも主要被写
体を適正露出で閃光撮影することが可能となる。

以上の実施例の構成において、電子閃光装置１１が閃光
手段１０１を、受光素子１３ａ〜１３ｅおよび調光回路
４０が測光手段１０２を、ＣＰＵ３１が領域抽出手段１
０３を、ＣＰＵ３１および調光回路４０が調光手段１０
４をそれぞれ構成する。

なお以上では、有効測光領域の測光信号に応じて調光レ
ベルを変えるようにしたが、この調光レベルは一定値と
し、本発光時の各測光領域の重み付け量を予備発光時の
有効測光領域の測光信号から求めるようにしても上述と
同様な効果が得られる。また予備発光を行うカメラにて
説明したが、予備発光を行わないものでも本発明を適用
できる。

この場合には、本発光の初期段階の測光信号に応じて有
効測光領域を抽出するとともに、この有効測光領域の測
光信号に応じて調光レベルあるいは重み付け量を求め、
これらと初期段階以降の測光信号に応じて発光を停止す
るようにすればよい。

さらに以上では、銀塩フィルムを用いるカメラにて説明
したが、例えばフロッピーディスクを用いて撮影を行う
電子スチルカメラにも本発明を同様に適用できる。

Ｇ１発明の効果 請求項１の発明によれば、予備発光を行うカメラにおい
て、予備発光時に得られた各測光信号と予備発光時の撮
影レンズの絞り値と撮影距離とに基づいて、分割された
複数の測光領域から有効測光領域を抽出し、この有効測
光領域で得られる測光信号に応じて本発光を停止するよ
うにしたので、予備発光時の撮影レンズの絞り値や撮影
距離に拘らず有効測光領域が正確に抽出でき１例えば高
反射率の被写体や主要被写体より近い被写体の測光信号
を加味しないで調光が行え、確実に主要被写体を適正露
出とすることが可能となる。

また請求項４の発明によれば、予備発光を行わないカメ
ラにおいて１発光の初期段階で得られた各測光信号と発
光時の撮影レンズの絞り値と撮影距離とに基づいて１分
割された複数領域から有効測光領域を抽出し、発光の初
期段階以降に得られる各測光信号と初期段階の有効測光
領域の各測光信号とに応じて発光を停止するようにした
ので、上述と同様な効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はクレーム対応図である。 第２図〜第１２図は本発明の一実施例を示し、第２図は
本発明に係る自動調光カメラの構成を示す図、第３図は
集光レンズアレイおよび分割受光素子を示す斜視図、第
４図は分割受光素子とフィルム露光領域との位置関係を
示す図、第５図は制御系のブロック図、第６図は調光回
路の構成図、第７図はメインのフローチャート、第８図
〜第１２図はサブルーチンを示すフローチャートである
。 ８：測光素子　　　　　　９：絞り １０：シャッタ　　　　　１１：電子閃光装置１２：集
光レンズアレイ　１３：受光素子１３ａ〜１３ｅ：分割
受光素子 ３１：ＣＰＵ　　　　　　　３２ ３６：発光制御回路　　　４０ １０１：閃光手段　　　　１０２ １０３：領域抽出手段　　１０４ ニレリーズ釦 ：調光回路 ：測光手段 ：調光手段

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被写界を閃光撮影するために発光を行う本発光と、
   該本発光前に被写界の反射率分布を予め検出するために
   発光を行う予備発光とが可能な閃光手段と、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の予備
   発光および本発光による該複数領域からの各反射光を測
   光して各測光信号を出力する測光手段と、 前記予備発光時に得られた各測光信号と該予備発光時の
   撮影レンズの絞り値と撮影距離とに基づいて前記分割さ
   れた複数領域から有効測光領域を抽出する領域抽出手段
   と、 該領域抽出手段で抽出された前記有効測光領域で得られ
   る測光信号に応じて前記本発光を停止する調光手段とを
   具備することを特徴とするＴＴＬ自動調光カメラ。 ２）前記調光手段は、前記予備発光時に得られた前記有
   効測光領域の各測光信号に基づいて、前記本発光を停止
   する調光レベルを求めるとともに、前記本発光時の前記
   各測光信号の合計値が該調光レベルに達したときに前記
   本発光を停止することを特徴とする請求項１に記載のＴ
   ＴＬ自動調光カメラ。 ３）前記調光手段は、前記予備発光時に得られた前記有
   効測光領域の各測光信号に基づいて、前記本発光時に得
   られる前記各測光信号に補正を行う重み付け量を求める
   とともに、該重み付け量に応じて補正された本発光時の
   前記各測光信号の合計値が所定の調光レベルに達したと
   きに前記本発光を停止することを特徴とする請求項１に
   記載のＴＴＬ自動調光カメラ。 ４）被写界を閃光撮影するために発光を行う閃光手段と
   、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の発光
   による該複数領域からの各反射光を測光して各測光信号
   を出力する測光手段と、 前記発光の初期段階で得られた各測光信号と発光時の撮
   影レンズの絞り値と撮影距離とに基づいて前記分割され
   た複数領域から有効測光領域を抽出する領域抽出手段と
   、 該領域抽出手段で抽出された前記有効測光領域で得られ
   る測光信号に応じて前記発光を停止する調光手段とを具
   備することを特徴とするＴＴＬ自動調光カメラ。