JP3020077B2 - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

Info

Publication number
JP3020077B2
JP3020077B2 JP5206372A JP20637293A JP3020077B2 JP 3020077 B2 JP3020077 B2 JP 3020077B2 JP 5206372 A JP5206372 A JP 5206372A JP 20637293 A JP20637293 A JP 20637293A JP 3020077 B2 JP3020077 B2 JP 3020077B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
redundant
selection
unit array
data line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5206372A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06314499A (ja
Inventor
秋山  登
欽哉 光本
隆志 秋岡
正剛 行武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP5206372A priority Critical patent/JP3020077B2/ja
Priority to KR1019940003992A priority patent/KR100311185B1/ko
Priority to US08/205,161 priority patent/US5392246A/en
Publication of JPH06314499A publication Critical patent/JPH06314499A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3020077B2 publication Critical patent/JP3020077B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/80Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
    • G11C29/804Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout to prevent clustered faults
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • G11C29/24Accessing extra cells, e.g. dummy cells or redundant cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/781Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices combined in a redundant decoder
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/80Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
    • G11C29/808Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout using a flexible replacement scheme

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリに係り、特
に、チップ上に複数のブロックに分かれて配置されたメ
モリセル群の他に予備のメモリセルとして冗長メモリセ
ル群を備え、常用メモリセルの一部に不良が生じたとき
に冗長メモリセルを用いるに好適な半導体メモリに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体メモリ、特に大容量、超高
速メモリとしてMOSメモリが用いられている。半導体
メモリとしてMOSメモリを用いて集積度を高めること
が行なわれているが、MOSメモリの製造工程において
欠陥が生じたときには製品の歩留まりの低下が問題とな
る。すなわち、集積度の高いMOSメモリを製造するに
際して、複数のメモリセルの中に1つのメモリセルに不
良が生じても、そのメモリ全体の有用性が損なわれ、メ
モリ容量の増大に伴なって歩留まりが低下することにな
る。
【0003】そこで、メモリの歩留まりの向上を図るた
めに、チップ上に常用のメモリセル群の他に予備の冗長
メモリセルを予め形成し、常用のメモリセルの中に欠陥
が生じたときには、欠陥の生じたメモリセルの代わりに
予備の冗長メモリセルを用いる技術が提案されている。
【0004】例えば、総記憶容量16Mビットの半導体
メモリを構成する場合、複数のメモリセルを8つのメモ
リブロックに分けて配置し、各メモリブロックを16個
のメモリマットに分割し、各メモリマットを8個の救済
単位アレイに分割し、各メモリマットを、分割ワード線
を共有した複数のメモリセル列で構成し、2Mビットの
メモリブロックにそれぞれ冗長ロウアレイと冗長カラム
アレイを配置し、各メモリブロック内のいずれかのメモ
リマットのデータ線に不良が生じたときには、救済単位
アレイの単位で冗長カラムアレイと置き換えるようにし
ている。
【0005】上記技術に関連するものとしては、例えば
特開平3−1627995号公報、特開平2−2088
97号公報などが挙げられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術で
は、1つのブロックにデータ線不良などの欠陥が集中し
た場合、冗長メモリセルアレイの冗長カラムの数が不足
して救済できないことがある。例えば、冗長カラムアレ
イを各ブロックに2個設けた場合、メモリマットのうち
3つの救済単位アレイにデータ線の不良が生じたときに
は、2つの救済単位アレイは冗長カラムアレイで救済す
ることはできるが、残りの1つの救済単位アレイは救済
することができない。
【0007】なお、このようなことを防止するために、
冗長カラムアレイの数を増やすことも考えられるが、こ
のような構成を採用すると、各メモリブロック毎に冗長
カラムアレイの領域が増加し、チップ面積が著しく増大
することになる。
【0008】本発明の目的は、特定のブロックに欠陥が
集中してもこれを救済することができる半導体メモリを
提供することにある。
【0009】本発明の他の目的は、欠陥の発生状況に応
じて1つの冗長救済単位メモリアレイが救済できるメモ
リアレイの範囲を変えることができる半導体メモリを提
供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、カラム救済を考慮したものとして、複数
のメモリセルが複数のメモリブロックに分かれて配置さ
れ、各メモリブロックが複数のメモリマットに分割さ
れ、各メモリマットが複数のカラム救済単位アレイに分
割され、各メモリセルにワード線とデータ線が接続され
ている半導体メモリにおいて、各メモリマットのカラム
救済単位アレイ群の中の指定のカラム救済単位アレイに
欠陥がないときには指令に応じてデータ線からの信号を
出力し欠陥があるときには指令によらずデータ線からの
信号の出力を禁止する第1のデータ選択手段と、冗長デ
ータ線と冗長ワード線に接続された冗長メモリセル群が
カラム救済単位アレイに対応して配列された冗長カラム
救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロックと、
冗長メモリブロックの冗長カラム救済単位アレイ群の中
の冗長カラム救済単位アレイを使用しないときには指令
によらず冗長データ線からの信号の出力を禁止し指定の
冗長カラム救済単位アレイを使用するときには指令に応
じて冗長データ線からの信号を出力する第2のデータ選
択手段と、第1のデータ選択手段により選択された信号
と第2のデータ選択手段により選択されたデータのうち
一方の信号を選択して出力する第3のデータ選択手段と
を備えていることを特徴とする半導体メモリを構成した
ものである。
【0011】さらに、複数のメモリセルが複数のメモリ
ブロックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数
のメモリマットに分割され、各メモリマットが複数のカ
ラム救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード
線とデータ線が接続されている半導体メモリにおいて、
アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
る冗長メモリブロックと、アドレス情報に従って生成さ
れた特定の冗長ワード線選択信号に応答して各冗長カラ
ム救済単位アレイの冗長ワード線群の中の指定の冗長ワ
ード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の冗長ワー
ド線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特定
の冗長データ線選択信号に応答して各冗長カラム救済単
位アレイの冗長データ線群の中の指定の冗長データ線の
信号を出力する複数の冗長データ線選択手段と、アドレ
ス情報に従って生成された信号群を基に冗長メモリブロ
ックの冗長カラム救済単位アレイ群の中から指定のアレ
イを選択するための冗長カラム救済単位アレイ選択信号
を生成する冗長カラム救済単位アレイ選択信号生成手段
と、冗長カラム救済単位アレイ選択信号に応答して指定
の冗長カラム救済単位アレイを使用するときに各冗長デ
ータ線選択手段の選択による信号を冗長データ出力線へ
伝送し指定の冗長カラム救済単位アレイを使用しないと
きには各冗長データ線選択手段の選択による信号の冗長
データ出力線への伝送を阻止する複数の冗長データ線信
号伝送制御手段と、各冗長データ線信号伝送制御手段に
接続された冗長データ出力線をそれぞれ指定の主データ
出力線に接続するデータ出力線選択手段とを備えている
ことを特徴とする半導体メモリを構成したものである。
【0012】また前記半導体メモリにおいて、冗長メモ
リブロックを複数個設けると共に、冗長ワード線選択手
段、冗長データ線選択手段、冗長カラム救済単位アレイ
選択信号生成手段、冗長データ線信号伝送制御手段、デ
ータ出力線選択手段をそれぞれ冗長メモリブロック毎に
設けることもできる。この場合には各冗長メモリブロッ
ク毎にカラム救済を行なうことができる。
【0013】また、複数のメモリセルが複数のメモリブ
ロックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数の
カラム救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワー
ド線とデータ線が接続されている半導体メモリにも適用
することができる。
【0014】前記各半導体メモリにおいて、各データ線
選択手段は、データ線選択信号としてアドレス情報から
生成されたブロック選択信号とカラム選択信号及びマッ
ト選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答
してデータ線起動信号を出力するデータ線選択用デコー
ダと、データ線選択用デコーダからのデータ線起動信号
により指定のデータ線からの信号を出力するカラムスイ
ッチ回路とから構成され、各冗長データ線選択手段は、
冗長データ線選択信号としてアドレス情報から生成され
たブロック選択信号とカラム選択信号及びマット選択信
号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長
データ線起動信号を出力する冗長データ線選択用デコー
ダと、冗長データ線選択用デコーダからの冗長データ線
起動信号により指定の冗長データ線からの信号を出力す
る冗長カラムスイッチ回路とから構成されているものを
用いることができる。
【0015】各カラム救済単位アレイ選択信号生成手段
は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号とマ
ット選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応
答してカラム救済単位アレイ選択信号を生成するアレイ
選択用デコーダから構成され、冗長カラム救済単位アレ
イ選択信号生成手段は、アドレス情報から生成されたブ
ロック選択信号とマット選択信号の組合せによる論理信
号群の信号線に対応づけて設けられた複数のヒューズ
と、アドレス情報から生成されたブロック選択信号とマ
ット選択信号の組合せによる論理信号群のうちいずれか
の論理信号を受けヒューズが遮断されてないときには入
力論理信号をそのまま出力しヒューズが遮断されたとき
には入力論理信号の論理を反転して出力する複数のゲー
ト回路と、各ゲート回路から論理信号を受け論理信号群
の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長カ
ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長アレイ選択
用デコーダから構成されているものを用いることができ
る。
【0016】各ワード線選択手段は、複数のワード線を
同時に選択するための信号としてアドレス情報から生成
されたメインワード選択信号とブロック選択信号の組合
せによる論理のうち特定の論理に応答してメインワード
線選択指令信号を出力するメインワード線選択用デコー
ダと、メインワード線選択指令信号に応答して指定のメ
インワード線にメインワード線駆動信号を出力するメイ
ンドライバ回路と、単一のワード線を選択するための信
号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信号
とマット選択信号及びロウ選択信号の組合せによる論理
のうち特定の論理に応答してサブワード線選択指令信号
を出力するサブワード線選択用デコーダと、メインワー
ド線駆動信号とサブワード線選択指令信号に応答して指
定のワード線群にメモリセル駆動信号を出力するサブド
ライバ回路とから構成され、各冗長ワード線選択手段
は、複数の冗長ワード線を同時に選択するための信号と
してアドレス情報から生成されたメインワード選択信号
とブロック選択信号の組合せによる論理のうち特定の論
理に応答して冗長メインワード線選択指令信号を出力す
る冗長メインワード線選択用デコーダと、冗長メインワ
ード線選択指令信号に応答して指定の冗長メインワード
線に冗長メインワード線駆動信号を出力する冗長メイン
ドライバ回路と、単一の冗長ワード線を選択するための
信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
号とマット選択信号及びロウ選択信号の組合せによる論
理のうち特定の論理に応答して冗長サブワード線選択指
令信号を出力する冗長サブワード線選択用デコーダと、
冗長メインワード線駆動信号と冗長サブワード線選択指
令信号に応答して指定の冗長ワード線群にメモリセル駆
動信号を出力する冗長サブドライバ回路とから構成され
ているものを用いることができる。
【0017】各データ線信号伝送制御手段は、電源に接
続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたときにカラ
ム救済単位アレイに欠陥があることを示す欠陥信号を出
力しヒューズが遮断されてないときにはカラム救済単位
アレイに欠陥がないことを示す無欠陥信号を出力する欠
陥判定回路と、欠陥判定回路から無欠陥信号が発生して
いることを条件にのみカラム救済単位アレイ選択信号に
応答してオン制御信号を出力しそれ以外のときにはオフ
制御信号を出力する制御信号発生回路と、制御信号発生
回路からのオン制御信号に応答してデータ線からの信号
を主データ出力線へ伝送しオフ制御信号に応答してデー
タ線から主データ出力線への信号の伝送を阻止する信号
伝送制御回路とを備え、各冗長データ線信号伝送制御手
段は、電源に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断さ
れたときに冗長カラム救済単位アレイの使用を指令する
ためのアレイ使用指令信号を出力しヒューズが遮断され
てないときには冗長カラム救済単位アレイの使用を禁止
するためのアレイ使用禁止信号を出力するアレイ使用判
定回路と、アレイ使用判定回路からアレイ使用指令信号
が発生していることを条件にのみ冗長カラム救済単位ア
レイ選択信号に応答してオン制御信号を出力しそれ以外
のときにはオフ制御信号を出力する冗長制御信号発生回
路と、冗長制御信号発生回路からのオン制御信号に応答
して冗長データ線からの信号を冗長データ出力線へ伝送
しオフ制御信号に応答して冗長データ線から冗長データ
出力線への信号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回路
とを備えているものを用いることができる。
【0018】次に、ロウ救済を考慮したものとして、複
数のメモリセルが複数のメモリブロックに分かれて配置
され、各メモリブロックが複数のメモリマットに分割さ
れ、各メモリマットが複数のロウ救済単位アレイに分割
され、各メモリセルにワード線とデータ線が接続されて
いる半導体メモリにおいて、各メモリマットのロウ救済
単位アレイ群の中の指定のロウ救済単位アレイに欠陥が
ないときには指令に応じてデータ線からの信号を出力し
欠陥があるときには指令によらずデータ線からの信号の
出力を禁止する第1のデータ選択手段と、冗長データ線
と冗長ワード線に接続された冗長メモリセル群がロウ救
済単位アレイに対応して配列された冗長ロウ救済単位ア
レイを複数個有する冗長メモリブロックと、冗長メモリ
ブロックの冗長ロウ救済単位アレイ群の中の冗長ロウ救
済単位アレイを使用しないときには指令によらす冗長デ
ータ線からの信号の出力を禁止し指定の冗長ロウ救済単
位アレイを使用するときには指令に応じて冗長データ線
からの信号を出力する第2のデータ選択手段と、第1の
データ選択手段により選択された信号と第2のデータ選
択手段により選択されたデータのうち一方の信号を選択
して出力する第3のデータ選択手段とを備えていること
を特徴とする半導体メモリを構成することができる。
【0019】さらに、複数のメモリセルが複数のメモリ
ブロックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数
のメモリマットに分割され、各メモリマットが複数のロ
ウ救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線
とデータ線が接続されている半導体メモリにおいて、ア
ドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信号
に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の指
定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数のワ
ード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特
定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレイ
のデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する複
数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成さ
れた信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレイ
群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単位
アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ選
択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応答
して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各デ
ータ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ伝
送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには各
データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線へ
の伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段と、
冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモリセ
ル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗長ロ
ウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロック
と、アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード
線選択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長
ワード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動
信号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレ
ス情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号
に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長データ線群
の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長
データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
信号群を基に冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位ア
レイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長ロウ
救済単位アレイ選択信号を生成する冗長ロウ救済単位ア
レイ選択信号生成手段と、冗長ロウ救済単位アレイ選択
信号に応答して指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用す
るときに各冗長データ線選択手段の選択による信号を冗
長データ出力線へ伝送し指定の冗長ロウ救済単位アレイ
を使用しないときには各冗長データ線選択手段の選択に
よる信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する複数の
冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ線信号
伝送制御手段に接続された冗長データ出力線をそれぞれ
指定の主データ出力線に接続するデータ出力線選択手段
とを備えていることを特徴とする半導体メモリを構成し
たものである。
【0020】前記ロウ救済用半導体メモリにおいて、冗
長メモリブロックを複数個設けると共に、冗長ワード線
選択手段、冗長データ線選択手段、冗長ロウ救済単位ア
レイ選択信号生成手段、冗長データ線信号伝送制御手
段、データ出力線選択手段をそれぞれ冗長メモリブロッ
ク毎に設けたものを構成することができる。この場合、
各冗長メモリブロック毎にロウ救済を行なうことができ
る。
【0021】またロウ救済用半導体メモリとして、複数
のメモリセルが複数のメモリブロックに分かれて配置さ
れ、各メモリブロックが複数のロウ救済単位アレイに分
割され、各メモリセルにワード線とデータ線が接続され
ているものにも適用することができる。
【0022】また前記ロウ救済用半導体メモリにおい
て、各データ線選択手段は、データ線選択信号としてア
ドレス情報から生成されたブロック選択信号とカラム選
択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して
データ線起動信号を出力するデータ線選択用デコーダ
と、データ線選択用デコーダからのデータ線起動信号に
より指定のデータ線からの信号を出力するカラムスイッ
チ回路とから構成され、各冗長データ線選択手段は、冗
長データ線選択信号としてアドレス情報から生成された
ブロック選択信号とカラム選択信号の組合せによる論理
のうち特定の論理に応答して冗長データ線起動信号を出
力する冗長データ線選択用デコーダと、冗長データ線選
択用デコーダからの冗長データ線起動信号により指定の
冗長データ線からの信号を出力する冗長カラムスイッチ
回路とから構成されているものを用いることができる。
【0023】各ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段
は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と救
済単位選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に
応答してロウ救済単位アレイ選択信号を生成するアレイ
選択用デコーダから構成され、冗長ロウ救済単位アレイ
選択信号生成手段は、アドレス情報から生成されたブロ
ック選択信号と救済選択信号の組合せによる論理信号群
の信号線に対応づけて設けられた複数のヒューズと、ア
ドレス情報から生成されたブロック選択信号と救済選択
信号の組合せによる論理信号群のうちいずれかの論理信
号を受けヒューズが遮断されてないときには入力論理信
号をそのまま出力しヒューズが遮断されたときには入力
論理信号の論理を反転して出力する複数のゲート回路
と、各ゲート回路から論理信号を受け論理信号群の組合
せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長ロウ救済
単位アレイ選択信号を生成する冗長アレイ選択用デコー
ダから構成されているものを用いることができる。
【0024】各ワード線選択手段は、ワード線選択信号
としてアドレス情報から生成されたブロック選択信号と
救済単位選択信号及びロウ選択信号の組合せによる論理
のうち特定の論理に応答してワード線起動信号を出力す
るワード線選択用デコーダと、ワード線起動信号に応答
して指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力するド
ライバ回路とから構成され、各冗長ワード線選択手段
は、冗長ワード線選択信号としてアドレス情報から生成
されたブロック選択信号と救済単位選択信号及びロウ選
択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して
冗長ワード線起動信号を出力する冗長ワード線選択用デ
コーダと、冗長ワード線起動信号に応答して指定の冗長
ワード線にメモリセル駆動信号を出力する冗長ドライバ
回路とから構成されているものを用いることができる。
【0025】各データ線信号伝送制御手段は、電源に接
続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたときにロウ
救済単位アレイに欠陥があることを示す欠陥信号を出力
しヒューズが遮断されてないときにはロウ救済単位アレ
イに欠陥がないことを示す無欠陥信号を出力する欠陥判
定回路と、欠陥判定回路から無欠陥信号が発生している
ことを条件にのみロウ救済単位アレイ選択信号に応答し
てオン制御信号を出力しそれ以外のときにはオフ制御信
号を出力する制御信号発生回路と、制御信号発生回路か
らのオン制御信号に応答してデータ線からの信号を主デ
ータ出力線へ伝送しオフ制御信号に応答してデータ線か
ら主データ出力線への信号の伝送を阻止する信号伝送制
御回路とを備え、各冗長データ線信号伝送制御手段は、
電源に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたと
きに冗長ロウ救済単位アレイの使用を指令するためのア
レイ使用指令信号を出力しヒューズが遮断されてないと
きには冗長ロウ救済単位アレイの使用を禁止するための
アレイ使用禁止信号を出力するアレイ使用判定回路と、
アレイ使用判定回路からアレイ使用指令信号が発生して
いることを条件にのみ冗長ロウ救済単位アレイ選択信号
に応答してオン制御信号を出力しそれ以外のときにはオ
フ制御信号を出力する冗長制御信号発生回路と、冗長制
御信号発生回路からのオン制御信号に応答して冗長デー
タ線からの信号を冗長データ出力線へ伝送しオフ制御信
号に応答して冗長データ線から冗長データ出力線への信
号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回路とを備えてい
るものを用いることができる。
【0026】前記カラム救済用半導体メモリ及びロウ救
済用半導体メモリにおいて、各データ線信号伝送制御手
段は、信号伝送制御回路の出力側にエミッタフォロワ回
路またはコレクタフォロワ回路を構成するバイポーラト
ランジスタを有し、各バイポーラトランジスタのエミッ
タ出力またはコレクタ出力がワイヤード・オアで接続さ
れ、各冗長データ線信号伝送制御手段は、冗長信号伝送
制御回路の出力側にエミッタフォロワ回路またはコレク
タフォロワ回路を構成するバイポーラトランジスタを有
し、各バイポーラトランジスタのエミッタ出力またはコ
レクタ出力がワイヤード・オアで接続されているものを
用いることができる。
【0027】またカラム救済用半導体メモリ及びロウ救
済用半導体メモリにおいて、冗長メモリブロックは他の
メモリブロックよりもデータ出力線選択手段の近傍に配
置されているものを用いることができる。
【0028】さらに、冗長メモリブロックを複数個有
し、メモリが複数の救済エリアに分割されているカラム
救済用半導体メモリとして、複数のメモリセルが複数の
メモリブロックに分かれて配置され、各メモリブロック
が複数のメモリマットに分割され、各メモリマットが複
数のカラム救済単位アレイに分割され、各メモリセルに
ワード線とデータ線が接続されている半導体メモリにお
いて、アドレス情報に従って生成された特定のワード線
選択信号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線
群の中の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力す
る複数のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生
成された特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救
済単位アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号
を出力する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に
従って生成された信号群を基に各メモリマットのカラム
救済単位アレイ群の中から指定のアレイを選択するため
のカラム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラ
ム救済単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位
アレイ選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイ
に欠陥がないときに各データ線選択手段の選択による信
号を主データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレ
イに欠陥があるときには各データ線選択手段の選択によ
る信号の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデー
タ線信号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線
に接続された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイ
に対応して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数
個有する冗長メモリブロック群とを備えていると共に、
アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選
択信号に応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長ワ
ード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信
号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス
情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号に
応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長データ線群
の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長
データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
信号群を基に冗長メモリブロックの冗長カラム救済単位
アレイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長カ
ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長カラム救済
単位アレイ選択信号生成手段と、冗長カラム救済単位ア
レイ選択信号に応答して指定の冗長カラム救済単位アレ
イを使用するときに各冗長データ線選択手段の選択によ
る信号を冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長カラム救
済単位アレイを使用しないときには各冗長データ線選択
手段の選択による信号の冗長データ出力線への伝送を阻
止する複数の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長
データ線信号伝送制御手段に接続された冗長データ出力
線をそれぞれ指定の主データ出力線に接続するデータ出
力線選択手段と、アドレス情報を基に前記冗長メモリブ
ロック群の中の指定の冗長メモリブロックを救済するた
めの救済エリア選択信号を生成する救済エリア選択信号
生成手段と、救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指
定の冗長ワード線選択手段の選択動作を可能としそれ以
外のときには選択動作を強制的に停止させる複数の冗長
ワード線選択動作制御手段と、救済エリア選択信号の発
生を条件にのみ指定の冗長データ線選択手段の選択動作
を可能としそれ以外のときには選択動作を強制的に停止
させる複数の冗長データ線選択動作制御手段と、救済エ
リア選択信号の発生を条件にのみ指定の冗長カラム救済
単位アレイ選択信号生成手段の生成動作を可能としそれ
以外のときには生成動作を強制的に停止させる複数の冗
長カラム救済単位アレイ選択信号生成動作制御手段とを
それぞれ各冗長メモリブロック毎に備えているものを構
成することができる。
【0029】また、冗長メモリブロックを複数個有し、
メモリが複数の救済エリアに分割されているロウ救済用
半導体メモリとして、複数のメモリセルが複数のメモリ
ブロックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数
のメモリマットに分割され、各メモリマットが複数のロ
ウ救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線
とデータ線が接続されている半導体メモリにおいて、ア
ドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信号
に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の指
定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数のワ
ード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特
定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレイ
のデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する複
数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成さ
れた信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレイ
群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単位
アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ選
択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応答
して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各デ
ータ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ伝
送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには各
データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線へ
の伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段と、
冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモリセ
ル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗長ロ
ウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロック群
とを備えていると共に、アドレス情報に従って生成され
た特定の冗長ワード線選択信号に応答して各冗長ロウ救
済単位アレイの冗長ワード線群の中の指定の冗長ワード
線にメモリセル駆動信号を出力する複数の冗長ワード線
選択手段と、アドレス情報に従って生成された特定の冗
長データ線選択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレ
イの冗長データ線群の中の指定の冗長データ線の信号を
出力する複数の冗長データ線選択手段と、アドレス情報
に従って生成された信号群を基に冗長メモリブロックの
冗長ロウ救済単位アレイ群の中から指定のアレイを選択
するための冗長ロウ救済単位アレイ選択信号を生成する
冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段と、冗長ロウ
救済単位アレイ選択信号に応答して指定の冗長ロウ救済
単位アレイを使用するときに各冗長データ線選択手段の
選択による信号を冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長
ロウ救済単位アレイを使用しないときには各冗長データ
線選択手段の選択による信号の冗長データ出力線への伝
送を阻止する複数の冗長データ線信号伝送制御手段と、
各冗長データ線信号伝送制御手段に接続された冗長デー
タ出力線をそれぞれ指定の主データ出力線に接続するデ
ータ出力線選択手段と、アドレス情報を基に前記冗長メ
モリブロック群の中の指定の冗長メモリブロックを救済
するための救済エリア選択信号を生成する救済エリア選
択信号生成手段と、救済エリア選択信号の発生を条件に
のみ指定の冗長ワード線選択手段の選択動作を可能とし
それ以外のときには選択動作を強制的に停止させる複数
の冗長ワード線選択動作制御手段と、救済エリア選択信
号の発生を条件にのみ指定の冗長データ線選択手段の選
択動作を可能としそれ以外のときには選択動作を強制的
に停止させる複数の冗長データ線選択動作制御手段と、
救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指定の冗長ロウ
救済単位アレイ選択信号生成手段の生成動作を可能とし
それ以外のときには生成動作を強制的に停止させる複数
の冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成動作制御手段と
をそれぞれ各冗長メモリブロック毎に備えているものを
構成することができる。
【0030】冗長メモリブロックを複数個有し、メモリ
が複数の救済エリアに分割されているカラム救済用半導
体メモリ及びロウ救済用半導体メモリにおいて、各救済
エリア選択信号生成手段として、電源に接続された複数
のヒューズと、各ヒューズが遮断された否かに応じて異
なる信号を発生する複数の信号発生回路と、各信号発生
回路からの信号とアドレス情報から生成されたブロック
選択信号との組合せによる論理のうち特定の論理に応答
して救済エリア選択信号を発生する救済エリア選択信号
発生回路とから構成されているものを用いることができ
る。
【0031】
【作用】前記した手段によれば、カラム救済単位アレイ
にデータ線不良などの欠陥がないときには、アドレス情
報に従って生成された信号によってメモリブロック群の
中の特定のメモリブロックが特定されると共にメモリマ
ットが特定されると、ワード線選択信号とデータ線選択
信号に従って各カラム救済単位アレイのデータ線群の中
の指定のデータ線の信号が主データ出力線に出力され
る。
【0032】一方、いずれかのカラム救済単位アレイに
データ線不良などの欠陥が生じたときには、欠陥の生じ
たカラム救済単位アレイを選択するためのカラム救済単
位アレイ選択信号を生成すると共に冗長メモリブロック
の冗長カラム救済単位アレイ群の中から指定のアレイを
選択するための冗長カラム救済単位アレイ選択信号を生
成する。更に冗長データ線信号伝送制御手段に接続され
た冗長データ出力線を指定の主データ出力線に接続す
る。このような処理が行なわれたあと、アドレス情報に
従って生成された信号を基に各カラム救済単位アレイが
順次アクセスされる過程で、欠陥の生じたカラム救済単
位アレイがアクセスされると、欠陥の生じたカラム救済
単位アレイのデータ線からの信号が主データ出力線へ出
力されるのが阻止される。一方、このときには、冗長メ
モリブロックの指定の冗長カラム救済単位アレイがアク
セスされ、この冗長カラム救済単位アレイのデータ線の
信号が冗長データ出力線を介して指定の主データ出力線
に出力される。すなわち、いずれかのカラム救済単位ア
レイに欠陥が生じたときには、欠陥の生じたカラム救済
単位アレイからのデータの出力が禁止され、その代わり
に、冗長メモリブロックの中の指定の冗長カラム救済単
位アレイのデータが出力されることになる。更にいずれ
のメモリブロックのカラム救済単位アレイに欠陥が生じ
ても、欠陥の生じたカラム救済単位アレイを指定するた
めのカラム救済単位アレイ選択信号を生成すると共に、
欠陥の生じたカラム救済単位アレイに対応づけて冗長カ
ラム救済単位アレイ選択信号を生成し、この冗長カラム
救済単位アレイに接続された冗長データ出力線をそれぞ
れ指定の主データ出力線に接続するようにしているた
め、特定のメモリブロックにデータ線不良などの欠陥が
集中して発生しても、これを救済することができ、救済
の自由度を増すことができる。
【0033】またロウ救済用半導体メモリにおいて、い
ずれかのメモリブロックのロウ救済単位アレイに欠陥が
生じても、カラム救済用半導体メモリのときと同様に、
欠陥の生じたロウ救済単位アレイに代わって冗長メモリ
ブロックのロウ救済単位アレイを用いることができる。
【0034】カラム救済用半導体メモリ及びロウ救済用
半導体メモリをアクセスする場合、カラム救済単位アレ
イまたはロウ救済単位アレイの欠陥の有無によらず、い
ずれかのメモリブロックのカラム救済単位アレイまたは
ロウ救済単位アレイをアクセスし、欠陥の生じたカラム
救済単位アレイまたはロウ救済単位アレイからのデータ
の出力を禁止し、代わりに冗長メモリブロックの冗長カ
ラム救済単位アレイまたは冗長ロウ救済単位アレイから
のデータを出力するようにしているため、欠陥の生じた
カラム救済単位アレイまたはロウ救済単位アレイの選択
を禁止するためのアドレス情報を生成する必要がなく、
指定のメモリセルからのデータを出力するのに遅延時間
が生じるのを防止することができる。
【0035】冗長メモリブロックを複数個有し、メモリ
が複数の救済エリアに分割されているカラム救済用半導
体メモリ及びロウ救済用半導体メモリにおいては、チッ
プ作成後の欠陥発生状況を調べた後に、ヒューズ等の手
段を用いて冗長メモリブロックが救済を担当する救済エ
リアをプログラムすることにより、1つの冗長メモリブ
ロックが救済を受け持つメモリブロックの数を変えるこ
とができるため、欠陥の発生状況に応じ、集中欠陥ある
いは欠陥の発生が少ない場合には、冗長メモリブロック
の救済エリアを限定することにより、救済時の高速性を
損なうことなく、チップの消費電流を減らすことができ
る。
【0036】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1乃至図4において、半導体メモリはチップ
100を備えており、このチップ100上には複数のメ
モリセルが8個のメモリブロック200に分かれて配置
されていると共に、冗長メモリセルアレイ(予備メモリ
セルアレイ)からなる2個の冗長専用メモリブロック3
10が配置されている。
【0037】各メモリブロック200は、図3に示すよ
うに、メインワード線351を共有した複数のメモリセ
ル列からなるメモリセルアレイで構成され、2Mビット
のメモリ容量を備えている。更に各メモリブロック20
0は16個(#0〜#15)のメモリマット210に分
割されており、各メモリマット210は、図2に示すよ
うに、8個(#a〜#h)のカラム救済単位アレイ21
1に分割されている。各メモリマット210は図3に示
すように、サブワード線356を共有した複数個のメモ
リセル列からなるメモリセルアレイで構成されており、
各メモリマット210には冗長ロウアレイ420が設け
られている。そして1メモリマットは128kビット
(128カラム×1024ロウ)のメモリ容量を備えて
いる。またカラム救済単位アレイ211は16kビット
(16カラム×1024ロウ)のメモリ容量を備えてい
る。
【0038】各冗長専用メモリブロック310は8個
(#a′〜#h′)の冗長カラム救済単位アレイ311
から構成され、128kビット(128カラム×102
4ロウ)のメモリ容量を備えている。そして各冗長カラ
ム救済単位アレイ311は、メモリブロック200のカ
ラム救済単位アレイ211と同じ16カラム×1024
ロウのメモリ容量を備えている。
【0039】各カラム救済単位アレイ211には16k
個(1024×16)のメモリセル340が配列されて
おり、各冗長カラム救済単位アレイ311には16k個
(1024×16)の冗長メモリセル340Rが配列さ
れている。各メモリセル340には一本のサブワード線
361と一対のデータ線341が接続されており、各冗
長メモリセル340Rには一本の冗長サブワード線35
6Rと一対の冗長データ線341Rがそれぞれ接続され
ている。各サブワード線356はサブワードドライバ3
55、メインワード線356を介してメインワードドラ
イバ350に接続され、各冗長サブワード線356Rは
冗長サブワードドライバ355R、冗長メインワード線
351Rを介して冗長メインワードドライバ350Rに
接続されている。メインワード線351と冗長メインワ
ード線351Rはそれぞれ128本設けられており、各
メインワード線351と冗長メインワード線351Rは
それぞれ8個のサブワードドライバ355または冗長サ
ブワードドライバ355Rに接続されている。すなわち
単一のメインワードドライバまたは冗長メインワードド
ライバ350Rからの信号によって8個のサブワードド
ライバ355または355Rが駆動されるようになって
いる。
【0040】また一対のデータ線341はカラムスイッ
チ330を介してプリセンスアンプ220に接続されて
おり、一対の冗長データ線341Rは冗長カラムスイッ
チ330Rを介して冗長プリセンスアンプ220Rに接
続されている。そしてアドレス情報に従っていずれかの
カラムスイッチ330または330Rがオン状態になっ
たときに、8個(#a〜#h、#a′〜#h′)のカラ
ム救済単位アレイ211または冗長カラム救済単位アレ
イ311からそれぞれ1個のデータが各プリセンスアン
プ220または220Rに入力されるようになってい
る。すなわち、各メモリブロック200または冗長専用
メモリブロック310からは8ビットの信号が出力され
るようになっている。そして各メモリブロック200の
救済単位アレイ211が全て正常なときには、各カラム
救済単位アレイ211からのデータがそのままプリセン
スアンプ220を介して出力されるようになっている。
なお、図1では簡単のために8ビット出力の内1ビット
についての構成を示している。
【0041】一方、メモリブロック200内のいずれか
のカラム救済単位アレイ211のデータ線341に欠陥
が生じたとき、例えば#0のメモリマット210のうち
#c、#fのカラム救済単位アレイ211にカラム欠陥
が生じた場合、これらのカラム救済単位アレイ211内
のメモリセル340をアクセスした際に、欠陥の生じた
カラム救済単位アレイ211に接続されたプリセンスア
ンプ220をオフとしてデータの出力を禁止する。そし
て#cと#fのカラム救済単位アレイ211の代わり
に、例えば#a′と#b′の冗長カラム救済単位アレイ
311内の冗長メモリセル340Rをアクセスし、冗長
プリセンスアンプ220Rをオン状態として冗長データ
線341Rからのデータを出力する。
【0042】各メモリブロック200からのデータの出
力を行なうために各メモリブロック200に第1のデー
タ選択手段710が設けられており、各冗長専用メモリ
ブロック310からデータを選択するために各冗長専用
メモリブロック310に第2のデータ選択手段720が
設けられている。更に第1のデータ選択手段710また
は第2のデータ選択手段720によって選択されたデー
タのうちいずれか一方のデータを選択するための第3の
データ選択手段730が設けられており、第3のデータ
選択手段730はメインセンスアンプ600を介して出
力バッファ610に接続されている。なお、図1、図2
では、第1のデータ選択手段710としてプリセンスア
ンプ220、第2のデータ選択手段として冗長プリセン
スアンプ220Rのみを示している。
【0043】以下、第1のデータ選択手段710、第2
のデータ選択手段720及び第3のデータ選択手段73
0の具体的構成について説明する。
【0044】第1のデータ選択手段710は、カラムス
イッチ330、メインワードドライバ350、サブワー
ドドライバ355、プリセンスアンプ220の他に、イ
ンバータ230、NANDゲート240、インバータ2
50、ヒューズプログラム回路400、デコーダ50
0、510、520、530を備えて構成されており、
各デコーダ500〜530がそれぞれ信号線110〜1
18を介してアドレスバッファ150に接続されてい
る。アドレスバッファ150は、信号線110に3ビッ
トのブロック選択信号を出力し、信号線112に4ビッ
トのマット選択信号を出力し、信号線114に3ビット
のロウ選択信号を出力し、信号線116に7ビットのメ
インワード選択信号を出力し、信号線118に4ビット
のカラム選択信号を出力するように構成されている。そ
してデコーダ500にはブロック選択信号とマット選択
信号及びカラム選択信号が入力されており、デコーダ5
10にはブロック選択信号とマット選択信号が入力され
ている。またデコーダ520にはブロック選択信号とマ
ット選択信号及びロウ選択信号が入力されており、デコ
ーダ530にはブロック選択信号とメインワード選択信
号がそれぞれ入力されている。
【0045】デコーダ500は、図5に示すように、カ
ラム選択信号に応答するゲート回路G10を16個、ブ
ロック選択信号とチップ選択信号に応答するゲート回路
G20を8個、マット選択信号に応答するゲート回路G
30を16個それぞれ備えていると共に、NANDゲー
トG40,G50、インバータG60,G62,G6
4,G66を複数個備えて構成されている。そしてデコ
ーダ500は、アドレス情報に従ってワード線選択信号
として生成されたマット選択信号とブロック選択信号及
びカラム選択信号の組み合わせの論理のうち特定の論理
に応答して指定のカラムスイッチ330にオン信号を出
力するようになっている。すなわち、ブロック選択信号
によって自己のブロックが選択され、マット選択信号に
よって自己のメモリマットが選択されたときに、カラム
選択信号に従って指定のカラムスイッチ330にデータ
線起動信号を出力するようになっている。そしてオンに
なったカラムスイッチ330に接続されたデータ線34
1の信号をプリセンスアンプ220へ出力するようにな
っている。すなわち、デコーダ500はデータ線選択用
デコーダとして、カラムスイッチ330はカラムスイッ
チ回路として構成されており、デコーダ500とカラム
スイッチ330によってデータ線選択手段を構成するよ
うになっている。
【0046】デコーダ510はカラム救済単位アレイ毎
に設けられており、アドレスバッファ150からブロッ
ク選択信号とマット選択信号を受け、これらの信号の組
み合わせによる論理のうち特定の論理に応答して指定の
カラム救済単位アレイを選択するためのカラム救済単位
アレイ選択信号を生成するアレイ選択用デコーダとして
構成されている。すなわちデコーダ510はカラム救済
単位アレイ選択信号生成手段として構成されており、カ
ラム救済単位アレイ選択信号をNANDゲート240へ
出力するようになっている。
【0047】NANDゲート240にはヒューズプログ
ラミング回路400からの信号がインバータ250を介
して入力されており、NANDゲート240は各入力信
号の論理に応答した信号をインバータ230を介してプ
リセンスアンプ220へ出力するようになっている。ヒ
ューズプログラミング回路400は、図6に示すよう
に、電源に接続されたヒューズ430、キャパシタ46
0、CMOSインバータ440、NMOSトランジスタ
450を備えており、ヒューズ430が遮断されてない
ときには指定のカラム救済単位アレイに欠陥がないとし
てローレベルの信号を出力し、ヒューズ430が遮断さ
れたときには指定のカラム救済単位アレイに欠陥がある
としてハイレベルの信号を出力するようになっている。
ローレベルの信号はインバータ250で反転されてハイ
レベルの無欠陥信号として出力され、ハイレベルの信号
はインバータ250で反転されてローレベルの欠陥信号
として出力されるようになっている。すなわちインバー
タ250とヒューズプログラミング回路400は欠陥判
定回路として構成されている。NANDゲート240と
インバータ230はインバータ250からハイレベルの
信号(無欠陥信号)が発生しているときに、デコーダ5
10からカラム救済単位アレイ選択信号が入力されたと
きにのみハイレベルのオン制御信号(起動信号)をプリ
センスアンプ220へ出力し、それ以外のとき、デコー
ダ510の出力信号がローレベルとなったときまたはイ
ンバータ250の出力レベルがローレベル(欠陥信号)
となったときにはオフ制御信号を出力する制御信号発生
回路として構成されている。プリセンスアンプ220は
インバータ230からのオン制御信号に応答してデータ
線341からの信号を主データ出力線へ伝送し、オフ制
御信号に応答してデータ線341から主データ出力線へ
の信号の伝送を阻止する信号伝送制御回路として構成さ
れている。
【0048】プリセンスアンプ220は、具体的には、
図7に示すように、バイパーラトランジスタQ1〜Q1
0、MOSトランジスタQ11〜Q25、MOSインバ
ータ26、抵抗R1〜R5を備え、2段のバイポーラ差
動増幅回路とエミッタフォロワ回路を構成するようにな
っている。各プリセンスアンプ220は、その出力側が
エミッタフォロワ回路で構成されており、バイポーラト
ランジスタQ9,Q10のエミッタが他のプリセンスア
ンプ220のトランジスタとワイヤード・オワ接続され
ている。そして、1メモリブロック当り16個のプリセ
ンスアンプ出力がワイヤード・オワ接続された状態で各
エミッタフォロワ回路が負荷駆動回路260に接続され
ている。
【0049】負荷駆動回路260はMOSトランジスタ
Q27〜Q30、バイポーラトランジスタQ31,Q3
2を備え、エミッタフォロワ回路を構成するようになっ
ている。そして8個の負荷駆動回路260の出力と1個
の冗長負荷駆動回路360の計9個の出力が互いにワイ
ヤード・オワ接続された状態で単一のメインセンスアン
プ600に接続されている。メインセンスアンプ600
はバイポーラトランジスタQ33〜Q40、MOSトラ
ンジスタQ41〜Q50、抵抗R6,R7を備え、バイ
ポーラレベルシフト回路、バイポーラ差動増幅回路、エ
ミッタフォロワ回路を構成するようになっている。
【0050】デコーダ530はアドレスバッファ150
からブロック選択信号とメインワード選択信号を受け、
これらの信号の組み合わせによる論理のうち特定の論理
に応答して、指定のメインワードドライバ350にメイ
ンワード線選択指令信号を出力するメインワード線選択
用デコーダとして構成されている。メインワードドライ
バ350は128個設けられており、各メインワードド
ライバ350にはメインワード線351を介して8個の
サブワードドライバ355に接続されている。各メイン
ワードドライバ350はデコーダ530からのメインワ
ード線選択指令信号に応答して指定のメインワード線3
51にメインワード線駆動信号を出力するメインドライ
バー回路として構成されている。そしてメインワードド
ライバ350が駆動されたときには8個のサブワードド
ライバ355に同時にメインワード線駆動信号が出力さ
れることになる。
【0051】デコーダ520は、アドレスバッファ15
0からブロック選択信号とマット選択信号及びロウ選択
信号を受け、これら入力信号の組み合わせによる論理の
うち特定の論理に応答して、指定のサブワードドライバ
355を駆動するためのサブワード線選択指令信号を出
力するサブワード線選択用デコーダとして構成されてい
る。各サブワードドライバ355はサブワード線356
を介してメモリセル340に接続されており、メインワ
ードドライバ350からのメインワード線駆動信号とデ
コーダ520からのサブワード線選択指令信号に応答し
て指定のサブワード線356にメモリセル駆動信号を出
力するサブドライバ回路として構成されている。すなわ
ち、デコーダ520,530からの信号に応答してメイ
ンワードドライバ350とサブワードドライバ355が
駆動されると、各カラム救済単位アレイ211のサブワ
ード線356のうち単一のサブワード線356にメモリ
セル駆動信号が出力され、カラムスイッチ330がオン
になったデータ線341に接続されたメモリセルがアク
セスされるようになっている。すなわち、デーコダ52
0,530、メインワードドライバ350、サブワード
ドライバ355はワード線選択手段として構成されてい
る。
【0052】次に、第2のデータ選択手段720の具体
的構成について説明する。第2のデータ選択手段720
は、図3及び図8に示すように、デコーダ500R,5
10R,520R,530R、カラムスイッチ330
R、プリセンスアンプ220R、インバータ230R、
NANDゲート240R、インバータ250R、ヒュー
ズプログラミング回路400R、メインワードドライバ
350R、サブワードドライバ355Rを備えて構成さ
れている。
【0053】デコーダ500Rはデコーダ500と同様
なデコーダ回路などを備えており、ブロック選択信号と
カラム選択信号及びマット選択信号の組み合わせによる
論理のうち特定の論理に応答して指定の冗長カラムスイ
ッチ330Rに冗長データ線起動信号を出力する冗長デ
ータ線選択用デコーダとして構成されている。各冗長カ
ラムスイッチ330Rは一対の冗長データ線341Rに
接続されており、デコーダ500Rからの冗長データ線
起動信号に応答して指定の冗長データ線341Rからの
信号を冗長プリセンスアンプ220Rへ出力する冗長カ
ラムスイッチ回路として構成されている。すなわちデコ
ーダ500Rと各冗長カラムスイッチ330Rによって
冗長データ線選択手段が構成されている。
【0054】冗長プリセンスアンプ220R、インバー
タ230R、NANDゲート240R、インバータ25
0R、ヒューズプログラミング回路400Rはデータ線
信号伝送制御手段として構成されている。そしてヒュー
ズプログラミング回路400Rは電源に接続されたヒュ
ーズ430R、CMOSインバータ440R、NMOS
トランジスタ450R、キャパシタ460Rを備え、ヒ
ューズ430Rが遮断されてないときに冗長カラム救済
単位アレイ311の使用を禁止するためのアレイ使用禁
止信号としてローレベルの信号を出力し、ヒューズ43
0Rが遮断されたときには冗長カラム救済単位アレイ3
10の中の指定の単位アレイ311の使用を指令するた
めのアレイ使用指令信号としてハイレベルの信号を出力
するアレイ使用判定回路として構成されている。インバ
ータ230R、NANDゲート240Rは、ヒューズ4
30Rが遮断されてヒューズプログラミング回路400
Rからハイレベルのアレイ使用指令信号が発生している
ことを条件にのみデコーダ510Rからの冗長カラム救
済単位アレイ選択信号に応答してオン制御信号(起動信
号)220Rを出力し、それ以外のときにはオフ制御信
号を冗長プリセンスアンプ220Rへ出力する冗長制御
信号発生回路として構成されている。冗長プリセンスア
ンプ220Rは冗長カラム救済単位アレイ311に対応
して8個設けられており、各冗長プリセンスアンプ22
0Rの入力側が冗長カラムスイッチ330Rに接続さ
れ、出力側がI/O選択回路3000に接続されてい
る。そして冗長プリセンアンプ220Rはインバータ2
30Rからのオン制御信号(起動信号)220Rに応答
して冗長データ線341Rからの信号を冗長データ出力
線へ伝送し、インバータ230Rからのオフ制御信号に
応答して冗長データ線341Rから冗長データ出力線へ
の信号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回路として構
成されている。すなわち、冗長プリセンスアンプ220
Rは、ヒューズ430Rが遮断されたときにのみデコー
ダ510Rからの冗長カラム救済単位アレイ選択信号に
応答して指定の冗長データ線341Rからの信号をI/
O選択回路3000へ出力するようになっている。
【0055】デコーダ510Rは冗長カラム救済単位ア
レイ選択信号生成手段として冗長カラム救済単位アレイ
311に対応して8個設けられている。各デコーダ51
0Rは、図9に示すように、8個のヒューズスイッチ回
路551〜557、NANDゲート580〜582、N
ORゲート583を備えており、各ヒューズスイッチ回
路551〜557が信号線110,112に接続され、
NORゲート583がNANDゲート240Rに接続さ
れている。各ヒューズスイッチ回路551〜557は、
ヒューズ561、キャパシタ562、CMOSコンバー
タ563、NMOSトランジスタ564、トランスファ
MOSトランジスタ565、インバータ566,56
7,568、トランスファMOSトランジスタ569を
備えて構成されている。そしてヒューズ561が遮断さ
れてないときにインバータ563の出力がローレベルと
なり、トランジスタ565がオフに、トランジスタ56
9がオンになる。このときインバータ566にハイレベ
ルの信号が入力されたときには、インバータ566で反
転された信号が再びインバータ568で反転されハイレ
ベルの信号がトランジスタ569を介して出力される。
このときインバータ566にローレベルの信号が入力さ
れたときにはローレベルの信号がトランジスタ569を
介して出力されることになる。
【0056】一方、ヒューズ561が遮断されたときに
はインバータ563の出力がハイレベルに反転し、イン
バータ567の出力がローレベルに反転し、トランジス
タ565がオンに、トランジスタ569がオフとなる。
このときインバータ566の入力側にハイレベルの信号
が入力されたときにはインバータ566によって反転さ
れたローレベルの信号がトランジスタ565を介して出
力される。またインバータ566にローレベルの信号が
入力されたときには、その信号が反転され、ハイレベル
の信号がトランジスタ565から出力されることにな
る。すなわち、ヒューズスイッチ回路551〜557
は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号とマ
ット選択信号の組み合わせるよる論理信号群のうちいず
れかの論理信号を受け、ヒューズ561が遮断されてな
いときには入力論理信号をそのまま出力し、ヒューズ5
61が遮断されたときには入力論理信号の論理を反転し
て出力するゲート回路として構成されている。
【0057】NANDゲート580〜582とNORゲ
ート583は各ヒューズスイッチ回路551〜557か
らの論理信号を受け、論理信号群の組み合わせによる論
理のうち特定の論理に応答して冗長カラム救済単位アレ
イ選択信号を生成する冗長アレイ選択用デコーダとして
構成されている。そして、NANDゲート580〜58
2、NORゲート583は、各ヒューズスイッチ回路5
51〜557の出力レベルがハイレベルになったときに
のみNORゲート583からハイレベルの冗長カラム救
済単位アレイ選択信号を出力し、それ以外のときにはロ
ーレベルの信号を出力するようになっている。すなわ
ち、デコーダ510Rは、ヒューズスイッチ回路551
〜557のうちいずれかのヒューズ561が遮断された
ときの論理により、カラム救済単位アレイ211に欠陥
の生じたブロック及びマットと対応付づけることができ
る。
【0058】例えば、マット選択信号の4ビットが
「H」、「L」、「L」、「L」、ブロック選択信号の
3ビットが「L」、「L」、「L」の場合を考える。そ
してこのアドレスによって指定されたブロックのうち特
定のメモリマットのカラム救済単位アレイ211のカラ
ムに欠陥があるとし、カラムに欠陥のあるカラム救済単
位アレイ211として例えば#bとし、これを#a′の
冗長カラム救済単位アレイ311に置き換えることにつ
いて説明する。
【0059】まず、ヒューズスイッチ回路551〜55
7の各ヒューズ561を導通状態にしておくと、#bの
カラム救済単位アレイ211を指定するためのマット選
択信号とブロック選択信号が各ヒューズスイッチ回路5
51〜557に入力されたときに、ヒューズスイッチ回
路551の出力のみがハイレベルとなり、その他のヒュ
ーズスイッチ回路の出力レベルはローレベルとなる。こ
のとき各NANDゲート580〜582の出力は全てハ
イレベルにあり、NORゲート583からはローレベル
の信号が出力されることになる。NORゲート583の
出力レベルがローレベルにあるときには冗長カラム救済
単位アレイ選択信号が出力されず、冗長プリセンスアン
プ220Rはオフ状態にある。
【0060】ここで、起動信号220Rをハイレベルと
して冗長プリセンスアンプ220Rをオン状態にするに
は、NORゲート583の全ての入力レベルをローレベ
ルにする必要がある。すなわち各NANDゲート581
〜582の全ての入力レベルをハイレベルにする必要が
ある。
【0061】そこで、ローレベルのマット選択信号とロ
ーレベルのブロック選択信号が入力されているヒューズ
スイッチ回路552〜557のヒューズ561を全て遮
断する。ヒューズ561が遮断されると、トランジスタ
565がオンに、トランジスタ569がオフとなり、論
理の反転した信号が出力され、各NANDゲート580
〜582の入力には全てハイレベルの信号が入力される
ことになる。
【0062】各NANDゲート580〜582の入力の
レベルが全てハイレベルとなると、NORゲート583
の出力レベルがローレベルからハイレベルに反転し、N
ORゲート583からハイレベルの冗長カラム救済単位
アレイ選択信号が出力され、カラムに欠陥の生じたブロ
ック及びマットと冗長カラム救済単位アレイ311のう
ち#a′のアレイとを対応付づけることができる。な
お、この場合、ヒューズプログラミング回路400Rの
ヒューズ430Rは遮断状態にあることが条件である。
又#bのカラム救済単位アレイと#a’の冗長カラム救
済単位アレイとの対応付けについては、第3のデータ選
択手段730の説明のところで述べる。
【0063】デコーダ530Rはアドレスバッファ15
0からブロック選択信号とメインワード選択信号を受
け、これら入力信号の組み合わせによる論理のうち特定
の論理に応答して指定の冗長メインワードドライバ35
0Rへ冗長メインワード線選択指令信号を出力する冗長
メインワード線選択用デコーダとして構成されている。
各冗長メインワードドライバ350Rは冗長メインワー
ド線351Rを介して冗長サブワードドライバ355R
に接続されている。そして各冗長メインワードドライバ
350Rはデコーダ530Rからの冗長メインワード線
選択指令信号に応答して指定の冗長メインワード線に冗
長メインワード線駆動信号を出力する冗長メインドライ
バ回路として構成されている。
【0064】デコーダ520Rはアドレスバッファ15
0からブロック選択信号とマット選択信号及びロウ選択
信号を受け、これら入力信号の組み合わせによる論理の
うち特定の論理に応答して、指定の冗長サブワードドラ
イバ355Rへ冗長サブワード線選択指令信号を出力す
る冗長サブワード線選択用デコーダとして構成されてい
る。各冗長サブワードトライバ355Rは冗長サブワー
ド線356Rに接続されており、デコーダ520Rから
の冗長サブワード線選択指令信号に応答して指定の冗長
サブワード線356Rにメモリセル駆動信号を出力する
冗長サブドライバ回路として構成されている。そして指
定の冗長サブワード線356Rと冗長データ線341R
が選択されて指定の冗長メモリセルがアクセスされる
と、この冗長メモリセルに接続された冗長データ線34
1Rからの信号が冗長プリセンスアンプ220Rへ伝送
される。そしてこのときデコーダ510R及びヒューズ
スイッチ回路400Rからの信号によって冗長プリセン
スアンプ220Rがオン状態にあるときには冗長データ
線341Rからの信号がI/O線選択回路3000へ出
力されることになる。すなわち、デコーダ520R,5
30R、冗長メインワードドライバ350R、冗長サブ
ワードドライバ355Rは冗長ワード線選択手段として
構成されている。
【0065】次に、第3のデータ選択手段730の具体
的構成について説明する。第3のデータ選択手段730
は冗長メモリブロック310毎にI/O選択回路300
0と複数の冗長負荷駆動回路360を備えて構成されて
おり、各冗長負荷駆動回路360がコモンエミッタ線
(主データ出力線)261に接続されている。そして第
3のデータ選択手段730は、冗長カラム救済単位アレ
イ311の任意の単位アレイ311に接続された冗長デ
ータ出力線341Rをそれぞれ指定のコンモエミッタ線
261に接続するデータ出力線選択手段として構成され
ている。すなわち、第3のデータ選択手段730は、カ
ラム救済単位アレイ211の中の任意の単位アレイ21
1と任意の冗長カラム救済単位アレイ311とを対応付
づけるために設けられている。以下、具体的な回路構成
について説明する。
【0066】I/O線選択回路3000は、図10に示
すように、3個のヒューズプログラム回路3100,3
200,3300、8個の3入力NANDゲート331
0〜3380、8個のI/O線駆動回路3400〜41
00を備えて構成されており、各I/O線駆動回路の入
力側が冗長プリセンスアンプ220Rのコレクタホロワ
回路に接続され、出力側が冗長負荷駆動回路360にそ
れぞれ接続されている。
【0067】各ヒューズプログラム回路3100〜33
00は、電源に接続されたヒューズ3110、NMOS
トランジスタ3111,3112、CMOSインバータ
3113、インバータ3114を備えて構成されてお
り、ヒューズ3110が遮断されてないときに、信号線
3120,3122,3124にハイレベルの信号を出
力し、信号線3121,3123,3125にローレベ
ルの信号を出力するようになっている。またヒューズ3
110が遮断されたときには各信号線に、前述した論理
を反転した信号を出力するようになっている。そして各
ヒューズプログラム回路3100〜3300の出力信号
が3入力NANDゲート3310〜3380を介して各
I/O線駆動回路3400〜4100に入力されてい
る。
【0068】各I/O線駆動回路3400〜4100
は、PMOSトランジスタ3410,3411、インバ
ータ3412、ショート用PMOSトランジスタ341
3,3414、エミッタフロワ回路を構成するバイポー
ラトランジスタ3415,3416、スイッチ用NMO
Sトランジスタ3417,3418、定電流源を構成す
るNMOSトランジスタ3419,3420を備えて構
成されている。トランジスタ3410、3411はゲー
ト電圧がハイレベルにあるときにオフとなり、ゲート電
圧がローレベルになったときにオンとなり、冗長プリセ
ンスアンプ220Rからの信号を各バイポーラトランジ
スタ3415,3416へ出力するようになっている。
トランジスタ3413はゲート電圧がローレベルにある
ときにトランジスタ3415のベースエミッタ間をショ
ートし、ゲート電圧がハイレベルになったときにはオフ
となるように構成されている。またトランジスタ341
4はゲート電圧がローレベルにあるときにトランジスタ
3416のベースエミッタ間をショートし、ゲート電圧
がハイレベルに反転したときにはオフとなる。また各ト
ランジスタ3417,3418は起動信号222Rによ
ってオンとなり、トランジスタ3419,3420はチ
ップがオン状態にあるときに一定電圧VIEによってオ
ンになる。
【0069】次に、#bのカラム救済単位アレイ211
と#a′の冗長カラム救済単位アレイ311との対応付
けについて説明する。
【0070】まず、各ヒューズプログラム回路3100
〜3300のヒューズ3110が全て導通状態にあると
きには、各ヒューズプログラム回路3100〜3300
からは「H」、「L」、「H」、「L」、「H」、
「L」の信号が順次出力されることになる。このため3
入力NANDゲート3310の入力のレベルのみハイレ
ベルとなり、3入力NANDゲート3310の出力のみ
がローレベルとなり、他のNANDゲートの出力はハイ
レベルとなる。NANDゲートの出力レベルがハイレベ
ルとなるとトランジスタ3413,3414がオンとな
り、トランジスタ3410,3411がオフとなるた
め、I/O線駆動回路3400〜4000の信号線は遮
断されることになる。
【0071】一方、NANDゲートの出力がローレベル
となるとトランジスタ3410,3411がオンにな
り、トランジスタ3413、3414がオフとなるた
め、冗長プリセンスアンプ220Rからの信号がI/O
線駆動回路4100を介して出力されることになる。
【0072】しかし、冗長救済する必要のあるカラム救
済単位アレイ211は#bであり、#bのカラム救済単
位アレイ211は現時点ではI/O線駆動回路3500
に接続されているものとする。
【0073】そこで、#a′の冗長カラム救済単位アレ
イ311に接続された冗長プリセンスアンプ220Rの
出力をI/O線駆動回路3500を介して#bのカラム
救済単位アレイ211に接続するために、ヒューズプロ
グラム回路3200,3300のヒューズ3110を遮
断する。
【0074】ヒューズ3110が遮断されると、ヒュー
ズプログラム回路3200,3300の各出力の論理が
反転され、ピューズプログラム回路3100〜3300
からは「H」、「L」、「L」、「H」、「L」、
「H」のレベルの信号が出力されることになる。この結
果NANDゲート3370の出力レベルのみがローレベ
ルとなり、他のNANDゲートの出力レベルがハイレベ
ルとなる。これによりI/O線駆動回路のうちI/O線
駆動回路3500のみがオン状態となり、冗長プリセン
スアンプ220Rからの信号がI/O線駆動回路350
0を介して出力されることになる。
【0075】以上の処理により#a′の冗長カラム救済
単位アレイ311と#bのカラム救済単位アレイ221
との対応付けが実行されたことになる。
【0076】このように、本実施例によれば、あるメモ
リブロック200内のメモリマット210内にカラム欠
陥が生じた場合、例えば#15のメモリマット210内
のカラム救済単位アレイ211のうち#b,#c,#
d,#gにそれぞれカラム欠陥が生じた場合、欠陥カラ
ムの存在するブロック、マットと救済すべきカラム救済
単位アレイ211との対応付けを行なうと共に、欠陥カ
ラムの存在するブロック、マットと冗長カラム救済単位
アレイ311のうち、例えば#a′,#b′,#c′,
#d′とカラム救済単位アレイ211のうち#b,#
c,#d,#gとの対応付けを行なうと、カラム救済単
位アレイ211のb,c,d,gをそれぞれ冗長カラム
救済単位アレイ311のa′,b′,c′,d′に置き
換えることができる。この場合、カラム救済単位アレイ
211のb,c,d,gがアクセスされた際に、これら
の単位アレイからのデータの出力が禁止され、代わり
に、冗長カラム救済単位アレイ311のa′,b′,
c′,d′からのデータが出力されることになる。
【0077】またメモリブロック200のうちいずれの
メモリマット210にデータ線の不良に伴なうカラム欠
陥が生じても、カラム欠陥の生じたカラム救済単位アレ
イ211を任意の冗長カラム救済単位アレイ311に対
応付けることができるため、特定のメモリブロック20
0内にカラム欠陥が集中して発生してもこれを救済する
ことができ、救済の自由度を増すことができる。
【0078】なお、前記実施例では、冗長ロウアレイ4
20に関しては、従来方式と同様に2Mビットのメモリ
ブロック200内で不良ロウに対する救済が図られてい
る。
【0079】メモリマット210内にカラム欠陥が生じ
た場合、カラムの選択論理の中に選択禁止信号を入力す
る方法を採用することもできるが、このような方法を採
用すると、ブロック、マットを選択するための論理の中
にカラム選択禁止信号を入力しなければならず、カラム
の選択のために余分な遅延が生じることになる。そこ
で、本実施例では、欠陥カラムの選択を禁止するための
選択禁止信号を生成する代わりに、冗長救済の際には、
プリセンスアンプ220をオフとし、冗長プリセンスア
ンプ220Rをオンとしているため、カラムの選択のた
めに遅延が生じるのを防止することができる。
【0080】また前記実施例においては、2個の冗長専
用メモリブロック310によって任意のメモリブロック
200内のカラム救済単位アレイ211を救済するもの
について述べたが、他の救済方法を図11乃至図14に
従って説明する。
【0081】図11は、本発明の第2実施例を示すもの
であり、チップ100上には8個のメモリブロック20
0と4個の冗長メモリブロック310が配置されてい
る。本実施例では、チップ100上の領域を左右に2分
割し、上下2個に配置された冗長メモリブロック310
が4個のメモリブロック200内のカラム救済単位アレ
イ211を救済するようにしたものである。
【0082】図12は本発明の第3実施例を示すもので
あり、チップ100上には8個のメモリブロック200
と4個の冗長メモリブロック310が配置されている。
本実施例では、チップ100上のメモリが上下に2分割
されており、上側に配置された2個の冗長メモリブロッ
ク310が上側に配置された4個のメモリブロック20
0内のカラム救済単位アレイ211を救済し、下側に配
置された2個の冗長メモリブロック310が下側に配置
された4個のメモリブロック200内のカラム救済単位
アレイ211を救済するようにしたものである。
【0083】図13は本発明の第4実施例を示すもので
あり、チップ100上には8個のメモリブロック200
と4個の冗長メモリブロック310が配置されている。
そして本実施例では、チップ100上のメモリが4ブロ
ックに分割されている。すなわち各冗長メモリブロック
310が2個のメモリブロック200内のカラム救済単
位アレイ211を救済するようにしたものである。
【0084】図14は本発明の第5実施例を示すもので
あり、チップ100上には8個のメモリブロック200
が配置されていると共に2個の冗長メモリブロック31
0が配置されている。本実施例では、2個の冗長メモリ
ブロック310が任意のメモリブロック200内のカラ
ム救済単位アレイ211を救済すると共に、適当なメモ
リブロック200に冗長カラムアレイ410を設け、メ
モリブロック200毎に冗長カラムアレイ410で救済
するようにしたものである。
【0085】次に、本発明の第6実施例を図15乃至図
17に従って説明する。本実施例は、冗長救済方式とし
てロウ救済方式を適用したものであり、チップ100上
に8個のメモリブロック200と冗長メモリブロック3
10が配置されている。各メモリブロック200は8個
のメモリマット210に分割されている。各メモリマッ
ト210はデータ線341を共有した複数のメモリセル
行から構成されており、各メモリマット210内には1
アドレスに対して同時に活性化されるワード線352が
配線されている。更に各メモリマット210が8個のロ
ウ救済単位アレイ212に分割されている。そして各ロ
ウ救済単位アレイ212毎にプリセンスアンプ220が
設けられており、各プリセンスアンプ220が負荷駆動
回路260に接続されている。
【0086】一方、冗長メモリブロック310にはそれ
ぞれ8個の冗長ロウ救済単位アレイ312が設けられて
おり、各冗長ロウ救済単位アレイ312が冗長プリセン
スアンプ220Rを介してI/O線選択回路3000に
接続されている。
【0087】上記実施例における半導体メモリにおいて
は、第1実施例と同様に、第1のデータ選択手段によっ
てメモリブロック200内のデータが選択され、第2の
データ選択手段によって冗長メモリブロック310内の
データが選択され、第1のデータ選択手段によって選択
されたデータと第2のデータ選択手段によって選択され
たデータのうちいずれか一方のデータが第3のデータ選
択手段によって選択されてメインセンスアンプ600を
介して出力バッファ610へ出力されるようになってい
る。以下、具体的な構成について説明する。
【0088】第1のデータ選択手段は、ワード線選択手
段、データ線選択手段、ロウ救済単位アレイ選択信号生
成手段、データ線信号伝送制御手段を備えて構成されて
いる。ワード線選択手段はデコーダ540とワードドラ
イバ353を備えて構成されている。デコーダ540
は、ワード線選択信号としてアドレス情報から生成され
たブロック選択信号と救済単位選択信号及びロウ選択信
号の組み合わせによる論理のうち特定の論理に応答して
ワード線起動信号を出力するワード線選択用デコーダと
して構成されている。ワードドライバ353は、デコー
ダ540からのワード線起動信号に応答して指定のワー
ド線352にメモリセル駆動信号を出力するドライバ回
路として構成されている。
【0089】データ線選択手段はカラムスイッチ33
0、デコーダ570、デコーダ560を備えて構成され
ており、各カラムスイッチ330がデータ線341に接
続され、各デコーダ570がカラムスイッチ330に接
続されている。デコーダ560は、データ線選択信号と
してアドレス情報から生成されたブロック選択信号とカ
ラム選択信号の組み合わせによる論理のうち特定の論理
に応答して指定のデコーダ570を駆動するようになっ
ている。デコーダ570はデコーダ560からの信号に
応答して指定のカラムスイッチ330にデータ線起動信
号を出力するようになっている。すなわちデコーダ56
0,570はデータ線選択用デコーダとして構成されて
いる。また各カラムスイッチ330はデコーダ570か
らのデータ線起動信号によりオンとなってデータ線34
1からの信号をプリセンスアンプ220へ出力するカラ
ムスイッチ回路として構成されている。
【0090】ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段はデ
コーダ550から構成されている。このデコーダ550
は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と救
済単位選択信号の組み合わせによる論理のうち特定の論
理に応答してロウ救済単位アレイ選択信号を生成するア
レイ選択用デコーダとして構成されている。
【0091】データ線信号伝送制御手段は、第1実施例
と同様に、プリセンスアンプ220、インバータ23
0、NANDゲート240、インバータ250、ヒュー
ズプログラム回路400から構成されている。すなわ
ち、ヒューズプログラム回路400内のヒューズが遮断
されてないときにはロウ救済単位アレイ212に欠陥が
ないとしてロウ救済単位アレイ選択信号に応答してプリ
センスアンプ220がオンとなり、データ線341から
の信号がプリセンスアンプ220を介して出力されるよ
うになっている。またヒューズプログラム回路400内
のヒューズが遮断されたときには、ロウ救済単位アレイ
212に欠陥があるとして、プリセンスアンプ220が
常にオフとなり、指定のデータ線341のカラムスイッ
チ330がオンになってもデータ線301からの信号の
出力が阻止されるようになっている。
【0092】第2のデータ選択手段は冗長ワード線選択
手段、冗長データ線選択手段、冗長ロウ救済単位アレイ
選択信号生成手段、冗長データ線信号伝送制御手段を備
えて構成されている。
【0093】冗長ワード線選択手段はデコーダ540
R、ワードドライバ353Rを備えて構成されている。
デコーダ540Rは、冗長ワード線選択信号としてアド
レス情報から生成されたブロック選択信号と救済単位選
択信号及びロウ選択信号の組み合わせによる論理のうち
特定の論理に応答して指定のワードドライバ353Rを
駆動するための冗長ワード線起動信号を出力する冗長ワ
ード線選択用デコーダとして構成されている。各ワード
ドライバ353Rはデコーダ540Rからの冗長ワード
線起動信号に応答して指定の冗長ワード線352Rにメ
モリセル駆動信号を出力する冗長ドライバ回路として構
成されている。
【0094】冗長データ線選択手段は冗長カラムスイッ
チ330R、デコーダ570R、デコーダ560Rを備
えて構成されており、各冗長カラムスイッチ330Rが
冗長データ線341Rに接続され、各デコーダ570R
が冗長カラムスイッチ330Rに接続されている。デコ
ーダ560Rは、冗長データ線選択信号としてアドレス
情報から生成されたブロック選択信号とカラム選択信号
の組み合わせによる論理のうち特定の論理に応答して指
定のデコーダ570Rを駆動するための信号を出力する
ように構成されている。各デコーダ570Rはデコーダ
560Rからの信号のうち特定の信号に応答して冗長カ
ラムスイッチ330Rに冗長データ線起動信号を出力す
るようになっている。すなわちデコーダ560R、57
0Rは冗長データ線選択用デコーダとして構成されてい
る。また各冗長カラムスイッチ330Rはデコーダ57
0Rからの冗長データ線起動信号に応答してオンとな
り、冗長データ線341Rからの信号を冗長プリセンス
アンプ220Rへ出力する冗長カラムスイッチ回路とし
て構成されている。
【0095】冗長ロウ救済単位アレス選択信号生成手段
はデコーダ550Rから構成されている。このデコーダ
550Rは、アドレス情報から生成されたブロック選択
信号と救済単位選択信号の組み合わせによる論理のうち
特定の論理に応答してロウ救済単位アレイ選択信号を出
力するように構成されている。すなわち、デコーダ55
0Rは、ブロック選択信号と救済選択信号の組み合わせ
による論理信号群の信号線に対応付けて設けられた複数
のヒューズと、ブロック選択信号と救済選択信号の組み
合わせによる論理信号群のうちいずれかの論理信号を受
け、ヒューズが遮断されていないときには入力論理信号
をそのまま出力し、ヒューズが遮断されたときには入力
論理信号の論理を反転して出力する複数のゲート回路
と、各ゲート回路から論理信号を受け、論理信号群の組
み合わせによる論理のうち特定の論理に応答して冗長ロ
ウ救済単位アレイ選択信号としてハイレベルの信号を出
力する冗長アレイ選択用デコーダから構成されている。
【0096】冗長データ線信号伝送制御手段は、第1実
施例と同様に、冗長プリセンスアンプ220R、インバ
ータ230R、NANDゲート240R、インバータ2
50R、ヒューズプログラム回路400Rを備えて構成
されている。すなわち、ヒューズプログラム回路400
R内のヒューズが遮断されてないときには冗長ロウ救済
単位アレイ312の使用を禁止するために、デコーダ5
50Rからロウ救済単位アレイ選択信号が出力されても
冗長プリセンスアンプ220Rを常にオフとし、ヒュー
ズが遮断されたときには、冗長ロウ救済単位アレイ31
2を使用するために、デコーダ550Rからのロウ救済
単位アレイ選択信号に応答して冗長プリセンスアンプ2
20Rをオンとし、冗長データ線341Rからの信号を
I/O線選択回路3000へ出力するように構成されて
いる。この場合ヒューズプログラム回路400Rがアレ
イ使用判定回路を構成し、インバータ230R、NAN
Dゲート240Rが冗長制御信号発生回路を構成し、冗
長プリセンスアンプ220Rが冗長信号伝送制御回路を
構成することになる。
【0097】第3のデータ選択手段は、第1実施例と同
様に、図10に示すI/O線選択回路3000から構成
されており、具体的な内容については前述したため省略
する。
【0098】本実施例においても、第1実施例と同様
に、メモリブロック200のうちいずれかのメモリブロ
ック200内でロウ欠陥が生じても、欠陥の生じたロウ
救済単位アレイ212を冗長ロウ救済単位アレイ312
に置き換えることができ、特定のメモリブロック200
内にロウ欠陥が集中して発生しても、これを救済するこ
とができ、救済の自由度を増すことができる。
【0099】また本実施例においても、図11乃至図1
4に示したような救済方法を適用することができる。
【0100】また前記各実施例における救済方式は、ス
タティックRAMやダイナミックRAM及び各種RA
M、あるいは高集積度のRAMを内蔵した論理LSIな
どにも適用することができる。
【0101】次に、本発明の第7実施例を図18乃至図
21に従って説明する。本実施例は、チップ作成後の欠
陥発生状況を調べた後に、冗長メモリブロックが救済を
担当する救済エリアをピューズ等の手段を用いてプログ
ラムすることにより、1つの冗長メモリブロックが救済
を受け持つメモリブロックの数を変えることができるよ
うにしたものである。
【0102】具体的には、第1実施例から第4実施例に
示したように、チップ100上の救済エリアを複数通り
設け、欠陥発生状況に合わせて救済エリアを選択できる
ようにした。これを実現するために、アドレス情報を基
に冗長メモリブロック群の中の指定の冗長メモリブロッ
クを救済するための救済エリア選択信号を生成する救済
エリア選択信号生成手段と、救済エリア選択信号が発生
したときにのみ指定の冗長メモリブロックを活性化可能
状態とし、救済エリア選択信号が発生しないときには冗
長メモリブロックを非活性状態にする冗長メモリブロッ
ク選択制御手段が設けられている。
【0103】図18において、救済エリア選択信号生成
器1000は救済エリア選択信号生成手段として、電源
に接続された2組のヒューズ1010,1011、キャ
パシタ1020,1021、CMOSインバータ103
0,1031、NMOSトランジスタ1040,104
1、2入力NOR回路1050,1051,1060を
備えて構成されている。
【0104】キャパシタ1020,1021、CMOS
インバータ1030,1031、NMOSトランジスタ
1040,1041は、ヒューズ1010,1011が
遮断(オフ)されたか否かに応じて異なる信号を発生す
る信号発生回路として構成されている。すなわちヒュー
ズ1010,1011がそれぞれ遮断されてないときに
は各CMOSインバータ1030,1031からローレ
ベルの信号が出力され、ヒューズ1010,1011が
それぞれ遮断されたときには各CMOSインバータ10
30,1031からハイレベルの信号を出力するように
なっている。
【0105】一方、2入力NOR回路1050,105
1,1060は、アドレス情報を基に生成されたブロッ
ク選択信号X10B(X10の反転信号)またはX1
0、Y12B(Y12の反転信号)またはY12と各イ
ンバータCMOSインバータ1030,1031から出
力される信号との組み合わせによる論理のうち特定の論
理に応答してハイレベルの救済エリア選択信号RESを
出力する救済エリア選択信号発生回路を構成するように
なっている。そして、このように構成された救済エリア
選択信号生成器1000は各冗長専用メモリブロック3
10毎に設けられる。
【0106】ここで、チップ100上の救済エリアを、
図13に示すように、4ブロックに分割した場合、各ブ
ロックの冗長メモリブロック310にそれぞれ救済エリ
ア選択信号生成器1000が設けられる。そして各冗長
メモリブロック310をそれぞれBLK0,BLK1,
BLK2,BLK3とすると、ブロックBLK0の救済
エリア選択信号生成器1000にはブロック選択信号X
10B、Y12Bが入力され、ブロックBLK1の救済
エリア選択信号生成器1000にはブロック選択信号X
10,Y12Bが入力され、ブロックBLK2の救済エ
リア選択信号生成器1000にはブロック選択信号X1
0B,Y12が入力され、更にブロックBLK3の救済
エリア選択信号生成器1000にはブロック選択信号X
10,Y12がそれぞれ入力される。
【0107】次に、各ブロックの救済エリア選択信号生
成器1000のヒューズ1010,1011を共に導通
(オン)状態とした場合、ブロック選択信号の論理に応
じて4ブロックの中の1ブロックのみを救済することが
できる。すなわち、ヒューズ1010,1011が共に
導通状態にあるときには、インバータ1030,103
1の出力信号F1,F2は共にローレベルとなる。この
ため2入力NOR回路1050,1051の出力は、ブ
ロック選択信号X10B(またはX10)、Y12B
(またはY12)の信号のレベルに依存し、各ブロック
の2入力NOR回路1060からはブロック選択信号の
特定の論理に応答したときにのみハイレベルの救済エリ
ア選択信号RESが出力される。
【0108】すなわち、図19に示すように、ブロック
BLK0は、ブロック選択信号X10B,Y12Bが共
にハイレベルにあるときにのみ救済エリア選択信号RE
Sのレベルがハイレベルとなる。ブロックBLK1はブ
ロック選択信号X10,Y12Bが共にハイレベルにあ
るときにのみ選択信号RESのレベルがハイレベルとな
る。ブロックBLK2は、ブロック選択信号X10Bと
Y12が共にハイレベルになったときにのみ選択信号R
ESのレベルがハイレベルとなる。またブロックBLK
3はブロック選択信号X10,Y12のレベルが共にハ
イレベルになったときにのみ選択信号RESのレベルが
ハイレベルとなる。
【0109】次に、図12に示すように、チップ100
を上下2ブロックに分割し1/2チップエリアを救済す
るときには、ヒューズ1010を遮断し、ヒューズ10
11を導通状態にすることによって上下いずれかのエリ
アに対する救済エリア選択信号を生成することができ
る。
【0110】すなわち、ヒューズ1010を遮断し、ヒ
ューズ1011を導通状態にすると、インバータ103
0の出力信号F1がハイレベルとなりインバータ103
1の出力信号F2の出力信号がローレベルに維持される
ことになる。このため救済エリア選択信号RESはブロ
ック選択信号X10B,X10とは無関係となる。
【0111】ここで、チップ100の上側に配置された
2個の冗長専用メモリブロック310をそれぞれブロッ
クBLK0,BLK1に割り当て、下半分の領域に配置
された2個の冗長専用メモリブロック310をブロック
BLK2,BLK3に割り当てると、各ブロックに設け
られた救済エリア選択信号生成器1000は図20に示
すような論理に応答することになる。
【0112】図20から理解されるように、ブロックB
LK0,BLK1はブロック選択信号Y12Bがハイレ
ベルのときにのみ救済エリア選択信号RESのレベルが
ハイレベルとなる。同様に、ブロックBLK2,BLK
3はブロック選択信号Y12のレベルがハイレベルのと
きにのみ救済エリア選択信号RESのレベルがハイレベ
ルとなる。
【0113】次に、図11に示すように、チップ100
を左右2ブロックに分割し1/2チップエリアを救済す
る必要があるときには、ヒューズ1010を導通状態と
し、ヒューズ1011を遮断することによって左右いず
れかのチップエリアを救済するための救済エリア選択信
号を生成することができる。
【0114】すなわち、ヒューズ1010が導通状態に
あるときに、ヒューズ1011が遮断状態になると、イ
ンバータ1031の出力信号F2がハイレベルとなり、
インバータ1030の出力信号F1のレベルはローレベ
ルに維持されることになる。このため救済エリア選択信
号RESはブロック選択信号Y12B,Y12とは無関
係となる。
【0115】従って、各ブロックBLK0,BLK2に
配置された救済エリア選択信号生成器1000から出力
される救済エリア選択信号RESのレベルはブロック選
択信号X10Bのレベルがハイレベルになったときにの
みハイレベルとなる。同様にして、ブロックBLK1,
BLK3から出力される救済エリア選択信号RESのレ
ベルは、ブロック選択信号X10のレベルがハイレベル
になったときにのみハイレベルとなる。
【0116】このように、ブロック選択信号とインバー
タ1030,1031からの信号の組み合わせによって
任意のブロックを選択するための救済エリア選択信号を
生成することができる。
【0117】なお、ヒューズ1010,1011が共に
遮断されたときには、図1に示す第1実施例と同様に、
全てのエリアに対して救済が可能となる。すなわち、イ
ンバータ1030,1031の出力信号F1,F2が共
にハイレベルになると、救済エリア選択信号RESのレ
ベルは、ブロック選択信号X10B,X10,Y12
B,Y12とは無関係に常にハイレベルとなる。
【0118】次に、冗長メモリブロック選択制御手段の
構成を図21に従って説明する。図21には、メインワ
ード線選択用デコーダ530Rに冗長メモリブロック選
択制御手段の1機能として冗長ワード線選択動作制御手
段を設けたときの実施例が示されている。すなわち、本
実施例では、冗長メインワード線の選択アドレス信号に
応答する3入力NAND回路群5300R、2入力NA
ND回路群5310Rの出力側に、各2入力NOR回路
5320R,5330Rを設け、各2入力NOR回路5
320R,5330Rの一方の入力側にインバータ53
50を介して救済エリア選択信号生成器1000からの
信号を入力するようになっている。
【0119】各2入力NOR回路5320R,5330
Rにはインバータ5350を介して救済エリア選択信号
RESを反転した信号が入力されており、各2入力NO
R回路5320R,5330Rは、救済エリア選択信号
RESのレベルがハイレベルとなりその反転信号RES
Bのレベルがローレベルになり、且つ3入力NAND回
路5300Rまたは2入力NAND回路5310Rのレ
ベルがローレベルになったときにのみハイレベルの信号
を出力するようになっている。そして2入力NAND回
路5320R、5330Rのレベルがハイレベルになっ
たときにのみデコーダ350Rの駆動によって指定の冗
長メインワード線が選択され、選択された冗長メインワ
ード線に接続されたメモリセルが活性化されるようにな
っている。
【0120】すなわち、2入力NAND回路5320
R,5330R、インバータ5350は、救済エリア選
択信号RESのレベルがハイレベルになったことを条件
にのみ冗長メインワード線選択用デコーダ350Rの選
択動作を可能とし、救済エリア選択信号RESのレベル
がローレベルになったときには、デコーダ350Rの選
択動作を強制的に停止させる冗長ワード線選択動作制御
手段を構成することになる。
【0121】このように、本実施例によれば、複数通り
の救済エリアの中から、欠陥の発生状況に応じて最適な
救済エリアをチップ作成後に選択することができる。例
えば、集中欠陥あるいは欠陥発生が少ないときには、第
4実施例に示したような1/4チップ領域を救済エリア
として選択する。これにより、同時に動作する冗長メモ
リブロック数を1つにできるので(第1実施例では最大
4個の冗長メモリブロック、第2及び第3実施例では最
大2個の冗長メモリブロックが同時に動作する。)、チ
ップの消費電流を低減できる。
【0122】また本実施例においては、デコーダ530
Rに適用したものについて述べたが、デコーダ500
R,510R,520Rに同様なものを設けることによ
って冗長データ線の選択動作を制御することができると
共に冗長からの救済単位アレイ選択信号生成動作を制御
することができる。
【0123】この場合、デコーダ500R,510R,
520Rにデコーダ530Rと同じ機能を設ければ最も
消費電流を少なくすることができるが、デコーダ510
R,530Rにのみ冗長メモリブロック選択制御手段と
しての機能を持たせることもできる。すなわち、デコー
ダ500R,520Rに冗長メモリブロック選択制御手
段としての機能を持たせなくても、デコーダ510R,
530Rに冗長メモリブロック選択制御手段としての機
能を持たせると、メインワード線の選択がデコーダ53
0Rによって規制され、データの選択がデコーダ510
Rによって規制されるためである。
【0124】また、チップ100上に4個の冗長専用メ
モリブロック310を配置した場合、ブロックBLK
0,BLK1の冗長メインワードドライバ350を各ブ
ロックで共有することができる。同様に、ブロックBL
K2,BLK3の冗長メインワードドライバ350Rを
各ブロックで共有することができる。すなわちブロック
BLK0,BLK1とブロックBLK2,BLK3にそ
れぞれ図22に示すようにNOR回路370Rを設け、
ブロックBLK0,BLK1(BLK2,BLK3)の
救済エリア選択信号RES0,RES1(RES2,R
ES3)のNOR論理をNOR回路370Rでとり、N
OR回路370Rの出力信号を一方のブロックの冗長メ
インワード線選択用デコーダ350Rに入力すると、各
ブロックがそれぞれ選択されたときに冗長メインワード
ドライバ350Rを駆動することができる。この場合ド
ライバ350Rを共有することができるのでチップ面積
を小さくできると共に消費電流を少なくすることができ
る。
【0125】またデコーダ510Rについては、ヒュー
ズ561の導通遮断によって任意のエリアを選択するこ
とができるため、これをそのまま冗長カラム救済単位ア
レイ選択信号生成動作制御手段として用いることができ
る。更に、デコーダ510Rについては、2入力NAN
D回路582を3入力NAND回路に置き代え、3入力
のうち1つの入力に救済エリア選択信号RESを入力す
るようにすることもできる。
【0126】前記実施例では冗長カラム救済単位アレイ
を救済する場合について述べたが、冗長ロウ救済単位ア
レイを救済する場合でも各冗長専用メモリブロック毎に
救済エリア選択信号生成器1000を設けると共に冗長
メモリブロック選択制御手段として機能するデコーダを
設けることによって、冗長ロウ救済単位アレイについて
も前記実施例と同様に任意のブロックのアレイを救済す
ることができる。
【0127】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
救済単位アレイにロウ欠陥またはカラム欠陥が生じたと
きに、欠陥の生じた救済単位アレイを任意の冗長救済単
位アレイに置き換えて救済単位アレイの欠陥を救済する
ようにしたため、特定のメモリブロック内にロウ欠陥ま
たはカラム欠陥が集中して発生しても、これを救済する
ことができ、救済の自由度を増すことができ、製品の歩
留まりの向上に寄与することができる。更に、1つの冗
長メモリブロックが救済を担当する救済対象ブロック数
を、チップ作成後の欠陥発生状況を調べた後に変えるこ
とできるため、集中欠陥あるいは欠陥発生が少ないとき
には冗長メモリブロックの救済エリアを限定することに
よって、チップの消費電流を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す全体構成図である。
【図2】メモリブロックと冗長メモリブロックとの接続
関係を説明するための図である。
【図3】第1実施例の回路構成図である。
【図4】メモリマットの具体的構成図である。
【図5】カラム系のデコーダの構成図である。
【図6】ヒューズブログラミング回路の具体的構成図で
ある。
【図7】ブリセンスアンプとメインセンスアンプの具体
的回路構成図である。
【図8】冗長カラム救済単位アレイの具体的構成図であ
る。
【図9】冗長カラム救済単位アレイ選択用デコーダの具
体的回路構成図である。
【図10】I/O線選択回路の具体的回路構成図であ
る。
【図11】本発明の第2実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図12】本発明の第3実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図13】本発明の第4実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図14】本発明の第5実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図15】本発明の第6実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図16】ロウ救済単位アレイと冗長ロウ救済単位アレ
イの構成図である。
【図17】本発明の第6実施例の回路構成図である。
【図18】救済エリア選択信号生成器の回路構成図であ
る。
【図19】ヒューズ1010,1011が共にオンのと
きのブロック選択信号の論理構成を説明するための図で
ある。
【図20】ヒューズ1010がオフでヒューズ1011
がオンのときのブロック選択信号の論理構成を説明する
ための図である。
【図21】本発明の第7実施例の回路構成図である。
【図22】NOR回路の回路構成図である。
【符号の説明】
100 チップ 200 メモリブロック 220 プリセンスアンプ 220R 冗長プリセンスアンプ 260 負荷駆動回路 261 コモンエミッタ線 310 冗長メモリブロック 330 カラムスイッチ 330R 冗長カラムスイッチ 341 データ線 341R 冗長データ線 356 サブワード線 356R 冗長サブワード線 400,400R ヒューズプログラム回路 500,510,520,530,500R,510
R,520R,530Rデコーダ 1000 救済エリア選択信号生成器 1010,1011 ヒューズ 1020,1021 キャパシタ 1030,1031 CMOSインバータ 1040,1041 NMOSトランジスタ 1050,1051,1060 2入力NOR回路 5300R 3入力NAND回路 5310R,5320R,5330R 2入力NAND
回路 5350 インバータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 行武 正剛 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株式会社 日立製作所 日立研究所内 (56)参考文献 特開 平3−37899(JP,A) 特開 平2−246100(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11C 29/00 G11C 11/413

Claims (25)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のメモリセルが複数のメモリブロッ
    クに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメモ
    リマットに分割され、各メモリマットが複数のカラム救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 各メモリマットのカラム救済単位アレイ群の中の指定の
    カラム救済単位アレイに欠陥がないときには指令に応じ
    てデータ線からの信号を出力し欠陥があるときには指令
    によらずデータ線からの信号の出力を禁止する第1のデ
    ータ選択手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続さ
    れた冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応し
    て配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有する
    冗長メモリブロックと、冗長メモリブロックの冗長カラ
    ム救済単位アレイ群の中の冗長カラム救済単位アレイを
    使用しないときには指令によらず冗長データ線からの信
    号の出力を禁止し指定の冗長カラム救済単位アレイを使
    用するときには指令に応じて冗長データ線からの信号を
    出力する第2のデータ選択手段と、第1のデータ選択手
    段により選択された信号と第2のデータ選択手段により
    選択されたデータのうち一方の信号を選択して出力する
    第3のデータ選択手段とを備えていることを特徴とする
    半導体メモリ。
  2. 【請求項2】 複数のメモリセルが複数のメモリブロッ
    クに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメモ
    リマットに分割され、各メモリマットが複数のカラム救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
    の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
    のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
    アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
    する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
    生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
    位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
    ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
    選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
    がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
    データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
    陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
    の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
    号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
    された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
    して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
    る冗長メモリブロックと、アドレス情報に従って生成さ
    れた特定の冗長ワード線選択信号に応答して各冗長カラ
    ム救済単位アレイの冗長ワード線群の中の指定の冗長ワ
    ード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の冗長ワー
    ド線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特定
    の冗長データ線選択信号に応答して各冗長カラム救済単
    位アレイの冗長データ線群の中の指定の冗長データ線の
    信号を出力する複数の冗長データ線選択手段と、アドレ
    ス情報に従って生成された信号群を基に冗長メモリブロ
    ックの冗長カラム救済単位アレイ群の中から指定のアレ
    イを選択するための冗長カラム救済単位アレイ選択信号
    を生成する冗長カラム救済単位アレイ選択信号生成手段
    と、冗長カラム救済単位アレイ選択信号に応答して指定
    の冗長カラム救済単位アレイを使用するときに各冗長デ
    ータ線選択手段の選択による信号を冗長データ出力線へ
    伝送し指定の冗長カラム救済単位アレイを使用しないと
    きには各冗長データ線選択手段の選択による信号の冗長
    データ出力線への伝送を阻止する複数の冗長データ線信
    号伝送制御手段と、各冗長データ線信号伝送制御手段に
    接続された冗長データ出力線をそれぞれ指定の主データ
    出力線に接続するデータ出力線選択手段とを備えている
    ことを特徴とする半導体メモリ。
  3. 【請求項3】 複数のメモリセルが複数のメモリブロッ
    クに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメモ
    リマットに分割され、各メモリマットが複数のカラム救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
    の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
    のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
    アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
    する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
    生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
    位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
    ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
    選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
    がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
    データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
    陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
    の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
    号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
    された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
    して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
    る冗長メモリブロック群とを備えていると共に、アドレ
    ス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選択信号
    に応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長ワード線
    群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信号を出
    力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス情報に
    従って生成された特定の冗長データ線選択信号に応答し
    て各冗長カラム救済単位アレイの冗長データ線群の中の
    指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長データ
    線選択手段と、アドレス情報に従って生成された信号群
    を基に冗長メモリブロックの冗長カラム救済単位アレイ
    群の中から指定のアレイを選択するための冗長カラム救
    済単位アレイ選択信号を生成する冗長カラム救済単位ア
    レイ選択信号生成手段と、冗長カラム救済単位アレイ選
    択信号に応答して指定の冗長カラム救済単位アレイを使
    用するときに各冗長データ線選択手段の選択による信号
    を冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長カラム救済単位
    アレイを使用しないときには各冗長データ線選択手段の
    選択による信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する
    複数の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ
    線信号伝送制御手段に接続された冗長データ出力線をそ
    れぞれ指定の主データ出力線に接続するデータ出力線選
    択手段とを各冗長メモリブロック毎に備えていることを
    特徴とする半導体メモリ。
  4. 【請求項4】 複数のメモリセルが複数のメモリブロッ
    クに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のカラ
    ム救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線
    とデータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
    の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
    のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
    アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
    する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
    生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
    位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
    ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
    選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
    がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
    データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
    陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
    の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
    号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
    された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
    して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
    る冗長メモリブロックと、アドレス情報に従って生成さ
    れた特定の冗長ワード線選択信号に応答して各冗長カラ
    ム救済単位アレイの冗長ワード線群の中の指定の冗長ワ
    ード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の冗長ワー
    ド線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特定
    の冗長データ線選択信号に応答して各冗長カラム救済単
    位アレイの冗長データ線群の中の指定の冗長データ線の
    信号を出力する複数の冗長データ線選択手段と、アドレ
    ス情報に従って生成された信号群を基に冗長メモリブロ
    ックの冗長カラム救済単位アレイ群の中から指定のアレ
    イを選択するための冗長カラム救済単位アレイ選択信号
    を生成する冗長カラム救済単位アレイ選択信号生成手段
    と、冗長カラム救済単位アレイ選択信号に応答して指定
    の冗長カラム救済単位アレイを使用するときに各冗長デ
    ータ線選択手段の選択による信号を冗長データ出力線へ
    伝送し指定の冗長カラム救済単位アレイを使用しないと
    きには各冗長データ線選択手段の選択による信号の冗長
    データ出力線への伝送を阻止する複数の冗長データ線信
    号伝送制御手段と、各冗長データ線信号伝送制御手段に
    接続された冗長データ出力線をそれぞれ指定の主データ
    出力線に接続するデータ出力線選択手段とを備えている
    ことを特徴とする半導体メモリ。
  5. 【請求項5】 各データ線選択手段は、データ線選択信
    号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信号
    とカラム選択信号及びマット選択信号の組合せによる論
    理のうち特定の論理に応答してデータ線起動信号を出力
    するデータ線選択用デコーダと、データ線選択用デコー
    ダからのデータ線起動信号により指定のデータ線からの
    信号を出力するカラムスイッチ回路とから構成され、各
    冗長データ線選択手段は、冗長データ線選択信号として
    アドレス情報から生成されたブロック選択信号とカラム
    選択信号及びマット選択信号の組合せによる論理のうち
    特定の論理に応答して冗長データ線起動信号を出力する
    冗長データ線選択用デコーダと、冗長データ線選択用デ
    コーダからの冗長データ線起動信号により指定の冗長デ
    ータ線からの信号を出力する冗長カラムスイッチ回路と
    から構成されていることを特徴とする請求項2、3また
    は4記載の半導体メモリ。
  6. 【請求項6】 各カラム救済単位アレイ選択信号生成手
    段は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と
    マット選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に
    応答してカラム救済単位アレイ選択信号を生成するアレ
    イ選択用デコーダから構成され、冗長カラム救済単位ア
    レイ選択信号生成手段は、アドレス情報から生成された
    ブロック選択信号とマット選択信号の組合せによる論理
    信号群の信号線に対応づけて設けられた複数のヒューズ
    と、アドレス情報から生成されたブロック選択信号とマ
    ット選択信号の組合せによる論理信号群のうちいずれか
    の論理信号を受けヒューズが遮断されてないときには入
    力論理信号をそのまま出力しヒューズが遮断されたとき
    には入力論理信号の論理を反転して出力する複数のゲー
    ト回路と、各ゲート回路から論理信号を受け論理信号群
    の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長カ
    ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長アレイ選択
    用デコーダから構成されていることを特徴とする請求項
    2、3または4記載の半導体メモリ。
  7. 【請求項7】 各ワード線選択手段は、複数のワード線
    を同時に選択するための信号としてアドレス情報から生
    成されたメインワード選択信号とブロック選択信号の組
    合せによる論理のうち特定の論理に応答してメインワー
    ド線選択指令信号を出力するメインワード線選択用デコ
    ーダと、メインワード線選択指令信号に応答して指定の
    メインワード線にメインワード線駆動信号を出力するメ
    インドライバ回路と、単一のワード線を選択するための
    信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
    号とマット選択信号及びロウ選択信号の組合せによる論
    理のうち特定の論理に応答してサブワード線選択指令信
    号を出力するサブワード線選択用デコーダと、メインワ
    ード線駆動信号とサブワード線選択指令信号に応答して
    指定のワード線群にメモリセル駆動信号を出力するサブ
    ドライバ回路とから構成され、各冗長ワード線選択手段
    は、複数の冗長ワード線を同時に選択するための信号と
    してアドレス情報から生成されたメインワード選択信号
    とブロック選択信号の組合せによる論理のうち特定の論
    理に応答して冗長メインワード線選択指令信号を出力す
    る冗長メインワード線選択用デコーダと、冗長メインワ
    ード線選択指令信号に応答して指定の冗長メインワード
    線に冗長メインワード線駆動信号を出力する冗長メイン
    ドライバ回路と、単一の冗長ワード線を選択するための
    信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
    号とマット選択信号及びロウ選択信号の組合せによる論
    理のうち特定の論理に応答して冗長サブワード線選択指
    令信号を出力する冗長サブワード線選択用デコーダと、
    冗長メインワード線駆動信号と冗長サブワード線選択指
    令信号に応答して指定の冗長ワード線群にメモリセル駆
    動信号を出力する冗長サブドライバ回路とから構成され
    ていることを特徴とする請求項2、3または4記載の半
    導体メモリ。
  8. 【請求項8】 各データ線信号伝送制御手段は、電源に
    接続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたときにカ
    ラム救済単位アレイに欠陥があることを示す欠陥信号を
    出力しヒューズが遮断されてないときにはカラム救済単
    位アレイに欠陥がないことを示す無欠陥信号を出力する
    欠陥判定回路と、欠陥判定回路から無欠陥信号が発生し
    ていることを条件にのみカラム救済単位アレイ選択信号
    に応答してオン制御信号を出力しそれ以外のときにはオ
    フ制御信号を出力する制御信号発生回路と、制御信号発
    生回路からのオン制御信号に応答してデータ線からの信
    号を主データ出力線へ伝送しオフ制御信号に応答してデ
    ータ線から主データ出力線への信号の伝送を阻止する信
    号伝送制御回路とを備え、各冗長データ線信号伝送制御
    手段は、電源に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断
    されたときに冗長カラム救済単位アレイの使用を指令す
    るためのアレイ使用指令信号を出力しヒューズが遮断さ
    れてないときには冗長カラム救済単位アレイの使用を禁
    止するためのアレイ使用禁止信号を出力するアレイ使用
    判定回路と、アレイ使用判定回路からアレイ使用指令信
    号が発生していることを条件にのみ冗長カラム救済単位
    アレイ選択信号に応答してオン制御信号を出力しそれ以
    外のときにはオフ制御信号を出力する冗長制御信号発生
    回路と、冗長制御信号発生回路からのオン制御信号に応
    答して冗長データ線からの信号を冗長データ出力線へ伝
    送しオフ制御信号に応答して冗長データ線から冗長デー
    タ出力線への信号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回
    路とを備えていることを特徴とする請求項2、3または
    4記載の半導体メモリ。
  9. 【請求項9】 各データ線選択手段は、データ線選択信
    号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信号
    とカラム選択信号及びマット選択信号の組合せによる論
    理のうち特定の論理に応答してデータ線起動信号を出力
    するデータ線選択用デコーダと、データ線選択用デコー
    ダからのデータ線起動信号により指定のデータ線からの
    信号を出力するカラムスイッチ回路とから構成され、各
    冗長データ線選択手段は、冗長データ線選択信号として
    アドレス情報から生成されたブロック選択信号とカラム
    選択信号及びマット選択信号の組合せによる論理のうち
    特定の論理に応答して冗長データ線起動信号を出力する
    冗長データ線選択用デコーダと、冗長データ線選択用デ
    コーダからの冗長データ線起動信号により指定の冗長デ
    ータ線からの信号を出力する冗長カラムスイッチ回路と
    から構成され、各カラム救済単位アレイ選択信号生成手
    段は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と
    マット選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に
    応答してカラム救済単位アレイ選択信号を生成するアレ
    イ選択用デコーダから構成され、冗長カラム救済単位ア
    レイ選択信号生成手段は、アドレス情報から生成された
    ブロック選択信号とマット選択信号の組合せによる論理
    信号群の信号線に対応づけて設けられた複数のヒューズ
    と、アドレス情報から生成されたブロック選択信号とマ
    ット選択信号の組合せによる論理信号群のうちいずれか
    の論理信号を受けヒューズが遮断されてないときには入
    力論理信号をそのまま出力しヒューズが遮断されたとき
    には入力論理信号の論理を反転して出力する複数のゲー
    ト回路と、各ゲート回路から論理信号を受け論理信号群
    の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長カ
    ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長アレイ選択
    用デコーダから構成され、 各ワード線選択手段は、複数のワード線を同時に選択す
    るための信号としてアドレス情報から生成されたメイン
    ワード選択信号とブロック選択信号の組合せによる論理
    のうち特定の論理に応答してメインワード線選択指令信
    号を出力するメインワード線選択用デコーダと、メイン
    ワード線選択指令信号に応答して指定のメインワード線
    にメインワード線駆動信号を出力するメインドライバ回
    路と、単一のワード線を選択するための信号としてアド
    レス情報から生成されたブロック選択信号とマット選択
    信号及びロウ選択信号の組合せによる論理のうち特定の
    論理に応答してサブワード線選択指令信号を出力するサ
    ブワード線選択用デコーダと、メインワード線駆動信号
    とサブワード線選択指令信号に応答して指定のワード線
    群にメモリセル駆動信号を出力するサブドライバ回路と
    から構成され、各冗長ワード線選択手段は、複数の冗長
    ワード線を同時に選択するための信号としてアドレス情
    報から生成されたメインワード選択信号とブロック選択
    信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答して冗
    長メインワード線選択指令信号を出力する冗長メインワ
    ード線選択用デコーダと、冗長メインワード線選択指令
    信号に応答して指定の冗長メインワード線に冗長メイン
    ワード線駆動信号を出力する冗長メインドライバ回路
    と、単一の冗長ワード線を選択するための信号としてア
    ドレス情報から生成されたブロック選択信号とマット選
    択信号及びロウ選択信号の組合せによる論理のうち特定
    の論理に応答して冗長サブワード線選択指令信号を出力
    する冗長サブワード線選択用デコーダと、冗長メインワ
    ード線駆動信号と冗長サブワード線選択指令信号に応答
    して指定の冗長ワード線群にメモリセル駆動信号を出力
    する冗長サブドライバ回路とから構成され、 各データ線信号伝送制御手段は、電源に接続されたヒュ
    ーズと、ヒューズが遮断されたときにカラム救済単位ア
    レイに欠陥があることを示す欠陥信号を出力しヒューズ
    が遮断されてないときにはカラム救済単位アレイに欠陥
    がないことを示す無欠陥信号を出力する欠陥判定回路
    と、欠陥判定回路から無欠陥信号が発生していることを
    条件にのみカラム救済単位アレイ選択信号に応答してオ
    ン制御信号を出力しそれ以外のときにはオフ制御信号を
    出力する制御信号発生回路と、制御信号発生回路からの
    オン制御信号に応答してデータ線からの信号を主データ
    出力線へ伝送しオフ制御信号に応答してデータ線から主
    データ出力線への信号の伝送を阻止する信号伝送制御回
    路とを備え、各冗長データ線信号伝送制御手段は、電源
    に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたときに
    冗長カラム救済単位アレイの使用を指令するためのアレ
    イ使用指令信号を出力しヒューズが遮断されてないとき
    には冗長カラム救済単位アレイの使用を禁止するための
    アレイ使用禁止信号を出力するアレイ使用判定回路と、
    アレイ使用判定回路からアレイ使用指令信号が発生して
    いることを条件にのみ冗長カラム救済単位アレイ選択信
    号に応答してオン制御信号を出力しそれ以外のときには
    オフ制御信号を出力する冗長制御信号発生回路と、冗長
    制御信号発生回路からのオン制御信号に応答して冗長デ
    ータ線からの信号を冗長データ出力線へ伝送しオフ制御
    信号に応答して冗長データ線から冗長データ出力線への
    信号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回路とを備えて
    いることを特徴とする請求項2、3または4記載の半導
    体メモリ。
  10. 【請求項10】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のロウ救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 各メモリマットのロウ救済単位アレイ群の中の指定のロ
    ウ救済単位アレイに欠陥がないときには指令に応じてデ
    ータ線からの信号を出力し欠陥があるときには指令によ
    らずデータ線からの信号の出力を禁止する第1のデータ
    選択手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された
    冗長メモリセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列
    された冗長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモ
    リブロックと、冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位
    アレイ群の中の冗長ロウ救済単位アレイを使用しないと
    きには指令によらす冗長データ線からの信号の出力を禁
    止し指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用するときには
    指令に応じて冗長データ線からの信号を出力する第2の
    データ選択手段と、第1のデータ選択手段により選択さ
    れた信号と第2のデータ選択手段により選択されたデー
    タのうち一方の信号を選択して出力する第3のデータ選
    択手段とを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
  11. 【請求項11】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のロウ救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の
    指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の
    ワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    特定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレ
    イのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する
    複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成
    された信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレ
    イ群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単
    位アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各
    データ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ
    伝送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには
    各データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線
    への伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段
    と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモ
    リセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗
    長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロッ
    クと、アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワー
    ド線選択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗
    長ワード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆
    動信号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アド
    レス情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信
    号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長データ線
    群の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗
    長データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た信号群を基に冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位
    アレイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長ロ
    ウ救済単位アレイ選択信号を生成する冗長ロウ救済単位
    アレイ選択信号生成手段と、冗長ロウ救済単位アレイ選
    択信号に応答して指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用
    するときに各冗長データ線選択手段の選択による信号を
    冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長ロウ救済単位アレ
    イを使用しないときには各冗長データ線選択手段の選択
    による信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する複数
    の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ線信
    号伝送制御手段に接続された冗長データ出力線をそれぞ
    れ指定の主データ出力線に接続するデータ出力線選択手
    段とを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
  12. 【請求項12】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のロウ救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の
    指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の
    ワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    特定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレ
    イのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する
    複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成
    された信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレ
    イ群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単
    位アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各
    データ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ
    伝送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには
    各データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線
    への伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段
    と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモ
    リセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗
    長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロッ
    ク群とを備えていると共に、アドレス情報に従って生成
    された特定の冗長ワード線選択信号に応答して各冗長ロ
    ウ救済単位アレイの冗長ワード線群の中の指定の冗長ワ
    ード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の冗長ワー
    ド線選択手段と、アドレス情報に従って生成された特定
    の冗長データ線選択信号に応答して各冗長ロウ救済単位
    アレイの冗長データ線群の中の指定の冗長データ線の信
    号を出力する複数の冗長データ線選択手段と、アドレス
    情報に従って生成された信号群を基に冗長メモリブロッ
    クの冗長ロウ救済単位アレイ群の中から指定のアレイを
    選択するための冗長ロウ救済単位アレイ選択信号を生成
    する冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段と、冗長
    ロウ救済単位アレイ選択信号に応答して指定の冗長ロウ
    救済単位アレイを使用するときに各冗長データ線選択手
    段の選択による信号を冗長データ出力線へ伝送し指定の
    冗長ロウ救済単位アレイを使用しないときには各冗長デ
    ータ線選択手段の選択による信号の冗長データ出力線へ
    の伝送を阻止する複数の冗長データ線信号伝送制御手段
    と、各冗長データ線信号伝送制御手段に接続された冗長
    データ出力線をそれぞれ指定の主データ出力線に接続す
    るデータ出力線選択手段とを冗長メモリブロック毎に備
    えていることを特徴とする半導体メモリ。
  13. 【請求項13】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のロ
    ウ救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線
    とデータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の
    指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の
    ワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    特定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレ
    イのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する
    複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成
    された信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレ
    イ群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単
    位アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各
    データ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ
    伝送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには
    各データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線
    への伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段
    と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモ
    リセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗
    長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロッ
    クと、アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワー
    ド線選択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗
    長ワード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆
    動信号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アド
    レス情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信
    号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長データ線
    群の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗
    長データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た信号群を基に冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位
    アレイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長ロ
    ウ救済単位アレイ選択信号を生成する冗長ロウ救済単位
    アレイ選択信号生成手段と、冗長ロウ救済単位アレイ選
    択信号に応答して指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用
    するときに各冗長データ線選択手段の選択による信号を
    冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長ロウ救済単位アレ
    イを使用しないときには各冗長データ線選択手段の選択
    による信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する複数
    の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ線信
    号伝送制御手段に接続された冗長データ出力線をそれぞ
    れ指定の主データ出力線に接続するデータ出力線選択手
    段とを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
  14. 【請求項14】 各データ線選択手段は、データ線選択
    信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
    号とカラム選択信号の組合せによる論理のうち特定の論
    理に応答してデータ線起動信号を出力するデータ線選択
    用デコーダと、データ線選択用デコーダからのデータ線
    起動信号により指定のデータ線からの信号を出力するカ
    ラムスイッチ回路とから構成され、各冗長データ線選択
    手段は、冗長データ線選択信号としてアドレス情報から
    生成されたブロック選択信号とカラム選択信号の組合せ
    による論理のうち特定の論理に応答して冗長データ線起
    動信号を出力する冗長データ線選択用デコーダと、冗長
    データ線選択用デコーダからの冗長データ線起動信号に
    より指定の冗長データ線からの信号を出力する冗長カラ
    ムスイッチ回路とから構成されていることを特徴とする
    請求項11、12または13記載の半導体メモリ。
  15. 【請求項15】 各ロウ救済単位アレイ選択信号生成手
    段は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と
    救済単位選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理
    に応答してロウ救済単位アレイ選択信号を生成するアレ
    イ選択用デコーダから構成され、冗長ロウ救済単位アレ
    イ選択信号生成手段は、アドレス情報から生成されたブ
    ロック選択信号と救済選択信号の組合せによる論理信号
    群の信号線に対応づけて設けられた複数のヒューズと、
    アドレス情報から生成されたブロック選択信号と救済選
    択信号の組合せによる論理信号群のうちいずれかの論理
    信号を受けヒューズが遮断されてないときには入力論理
    信号をそのまま出力しヒューズが遮断されたときには入
    力論理信号の論理を反転して出力する複数のゲート回路
    と、各ゲート回路から論理信号を受け論理信号群の組合
    せによる論理のうち特定の論理に応答して冗長ロウ救済
    単位アレイ選択信号を生成する冗長アレイ選択用デコー
    ダから構成されていることを特徴とする請求項11、1
    2または13記載の半導体メモリ。
  16. 【請求項16】 各ワード線選択手段は、ワード線選択
    信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
    号と救済単位選択信号及びロウ選択信号の組合せによる
    論理のうち特定の論理に応答してワード線起動信号を出
    力するワード線選択用デコーダと、ワード線起動信号に
    応答して指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力す
    るドライバ回路とから構成され、各冗長ワード線選択手
    段は、冗長ワード線選択信号としてアドレス情報から生
    成されたブロック選択信号と救済単位選択信号及びロウ
    選択信号の組合せによる論理のうち特定の論理に応答し
    て冗長ワード線起動信号を出力する冗長ワード線選択用
    デコーダと、冗長ワード線起動信号に応答して指定の冗
    長ワード線にメモリセル駆動信号を出力する冗長ドライ
    バ回路とから構成されていることを特徴とする請求項1
    1、12または13記載の半導体メモリ。
  17. 【請求項17】 各データ線信号伝送制御手段は、電源
    に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断されたときに
    ロウ救済単位アレイに欠陥があることを示す欠陥信号を
    出力しヒューズが遮断されてないときにはロウ救済単位
    アレイに欠陥がないことを示す無欠陥信号を出力する欠
    陥判定回路と、欠陥判定回路から無欠陥信号が発生して
    いることを条件にのみロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答してオン制御信号を出力しそれ以外のときにはオフ制
    御信号を出力する制御信号発生回路と、制御信号発生回
    路からのオン制御信号に応答してデータ線からの信号を
    主データ出力線へ伝送しオフ制御信号に応答してデータ
    線から主データ出力線への信号の伝送を阻止する信号伝
    送制御回路とを備え、各冗長データ線信号伝送制御手段
    は、電源に接続されたヒューズと、ヒューズが遮断され
    たときに冗長ロウ救済単位アレイの使用を指令するため
    のアレイ使用指令信号を出力しヒューズが遮断されてな
    いときには冗長ロウ救済単位アレイの使用を禁止するた
    めのアレイ使用禁止信号を出力するアレイ使用判定回路
    と、アレイ使用判定回路からアレイ使用指令信号が発生
    していることを条件にのみ冗長ロウ救済単位アレイ選択
    信号に応答してオン制御信号を出力しそれ以外のときに
    はオフ制御信号を出力する冗長制御信号発生回路と、冗
    長制御信号発生回路からのオン制御信号に応答して冗長
    データ線からの信号を冗長データ出力線へ伝送しオフ制
    御信号に応答して冗長データ線から冗長データ出力線へ
    の信号の伝送を阻止する冗長信号伝送制御回路とを備え
    ていることを特徴とする請求項11、12または13記
    載の半導体メモリ。
  18. 【請求項18】 各データ線選択手段は、データ線選択
    信号としてアドレス情報から生成されたブロック選択信
    号とカラム選択信号の組合せによる論理のうち特定の論
    理に応答してデータ線起動信号を出力するデータ線選択
    用デコーダと、データ線選択用デコーダからのデータ線
    起動信号により指定のデータ線からの信号を出力するカ
    ラムスイッチ回路とから構成され、各冗長データ線選択
    手段は、冗長データ線選択信号としてアドレス情報から
    生成されたブロック選択信号とカラム選択信号の組合せ
    による論理のうち特定の論理に応答して冗長データ線起
    動信号を出力する冗長データ線選択用デコーダと、冗長
    データ線選択用デコーダからの冗長データ線起動信号に
    より指定の冗長データ線からの信号を出力する冗長カラ
    ムスイッチ回路とから構成され、 各ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段は、アドレス情
    報から生成されたブロック選択信号と救済単位選択信号
    の組合せによる論理のうち特定の論理に応答してロウ救
    済単位アレイ選択信号を生成するアレイ選択用デコーダ
    から構成され、冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成手
    段は、アドレス情報から生成されたブロック選択信号と
    救済単位選択信号の組合せによる論理信号群の信号線に
    対応づけて設けられた複数のヒューズと、アドレス情報
    から生成されたブロック選択信号と救済単位選択信号の
    組合せによる論理信号群のうちいずれかの論理信号を受
    けヒューズが遮断されてないときには入力論理信号をそ
    のまま出力しヒューズが遮断されたときには入力論理信
    号の論理を反転して出力する複数のゲート回路と、各ゲ
    ート回路から論理信号を受け論理信号群の組合せによる
    論理のうち特定の論理に応答して冗長ロウ救済単位アレ
    イ選択信号を生成する冗長アレイ選択用デコーダから構
    成され、 各ワード線選択手段は、ワード線選択信号としてアドレ
    ス情報から生成されたブロック選択信号と救済単位選択
    信号及びロウ選択信号の組合せによる論理のうち特定の
    論理に応答してワード線起動信号を出力するワード線選
    択用デコーダと、ワード線起動信号に応答して指定のワ
    ード線にメモリセル駆動信号を出力するドライバ回路と
    から構成され、各冗長ワード線選択手段は、冗長ワード
    線選択信号としてアドレス情報から生成されたブロック
    選択信号と救済単位選択信号及びロウ選択信号の組合せ
    による論理のうち特定の論理に応答して冗長ワード線起
    動信号を出力する冗長ワード線選択用デコーダと、冗長
    ワード線起動信号に応答して指定の冗長ワード線にメモ
    リセル駆動信号を出力する冗長ドライバ回路とから構成
    され、 各データ線信号伝送制御手段は、電源に接続されたヒュ
    ーズと、ヒューズが遮断されたときにロウ救済単位アレ
    イに欠陥があることを示す欠陥信号を出力しヒューズが
    遮断されてないときにはロウ救済単位アレイに欠陥がな
    いことを示す無欠陥信号を出力する欠陥判定回路と、欠
    陥判定回路から無欠陥信号が発生していることを条件に
    のみロウ救済単位アレイ選択信号に応答してオン制御信
    号を出力しそれ以外のときにはオフ制御信号を出力する
    制御信号発生回路と、制御信号発生回路からのオン制御
    信号に応答してデータ線からの信号を主データ出力線へ
    伝送しオフ制御信号に応答してデータ線から主データ出
    力線への信号の伝送を阻止する信号伝送制御回路とを備
    え、各冗長データ線信号伝送制御手段は、電源に接続さ
    れたヒューズと、ヒューズが遮断されたときに冗長ロウ
    救済単位アレイの使用を指令するためのアレイ使用指令
    信号を出力しヒューズが遮断されてないときには冗長ロ
    ウ救済単位アレイの使用を禁止するためのアレイ使用禁
    止信号を出力するアレイ使用判定回路と、アレイ使用判
    定回路からアレイ使用指令信号が発生していることを条
    件にのみ冗長ロウ救済単位アレイ選択信号に応答してオ
    ン制御信号を出力しそれ以外のときにはオフ制御信号を
    出力する冗長制御信号発生回路と、冗長制御信号発生回
    路からのオン制御信号に応答して冗長データ線からの信
    号を冗長データ出力線へ伝送しオフ制御信号に応答して
    冗長データ線から冗長データ出力線への信号の伝送を阻
    止する冗長信号伝送制御回路とを備えていることを特徴
    とする請求項11、12または13記載の半導体メモ
    リ。
  19. 【請求項19】 各データ線信号伝送制御手段は、信号
    伝送制御回路の出力側にエミッタフォロワ回路またはコ
    レクタフォロワ回路を構成するバイポーラトランジスタ
    を有し、各バイポーラトランジスタのエミッタ出力また
    はコレクタ出力がワイヤード・オアで接続され、各冗長
    データ線信号伝送制御手段は、冗長信号伝送制御回路の
    出力側にエミッタフォロワ回路またはコレクタフォロワ
    回路を構成するバイポーラトランジスタを有し、各バイ
    ポーラトランジスタのエミッタ出力またはコレクタ出力
    がワイヤード・オアで接続されていることを特徴とする
    請求項8、9、17または18記載の半導体メモリ。
  20. 【請求項20】 冗長メモリブロックは他のメモリブロ
    ックよりもデータ出力線選択手段の近傍に配置されてい
    ることを特徴とする請求項1、2、3、4、10、1
    1、12または13記載の半導体メモリ。
  21. 【請求項21】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のカラム
    救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線と
    データ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
    の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
    のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
    アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
    する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
    生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
    位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
    ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
    選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
    がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
    データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
    陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
    の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
    号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
    された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
    して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
    る冗長メモリブロック群とを備えていると共に、 アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選
    択信号に応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長ワ
    ード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信
    号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス
    情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号に
    応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長データ線群
    の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長
    データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    信号群を基に冗長メモリブロックの冗長カラム救済単位
    アレイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長カ
    ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長カラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、冗長カラム救済単位ア
    レイ選択信号に応答して指定の冗長カラム救済単位アレ
    イを使用するときに各冗長データ線選択手段の選択によ
    る信号を冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長カラム救
    済単位アレイを使用しないときには各冗長データ線選択
    手段の選択による信号の冗長データ出力線への伝送を阻
    止する複数の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長
    データ線信号伝送制御手段に接続された冗長データ出力
    線をそれぞれ指定の主データ出力線に接続するデータ出
    力線選択手段と、アドレス情報を基に前記冗長メモリブ
    ロック群の中の指定の冗長メモリブロックを救済するた
    めの救済エリア選択信号を生成する救済エリア選択信号
    生成手段と、救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指
    定の冗長ワード線選択手段の選択動作を可能としそれ以
    外のときには選択動作を強制的に停止させる複数の冗長
    ワード線選択動作制御手段と、救済エリア選択信号の発
    生を条件にのみ指定の冗長データ線選択手段の選択動作
    を可能としそれ以外のときには選択動作を強制的に停止
    させる複数の冗長データ線選択動作制御手段と、救済エ
    リア選択信号の発生を条件にのみ指定の冗長カラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段の生成動作を可能としそれ
    以外のときには生成動作を強制的に停止させる複数の冗
    長カラム救済単位アレイ選択信号生成動作制御手段とを
    それぞれ各冗長メモリブロック毎に備えていることを特
    徴とする半導体メモリ。
  22. 【請求項22】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のカラム
    救済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線と
    データ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各カラム救済単位アレイのワード線群の中
    の指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数
    のワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成され
    た特定のデータ線選択信号に応答して各カラム救済単位
    アレイのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力
    する複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って
    生成された信号群を基に各メモリマットのカラム救済単
    位アレイ群の中から指定のアレイを選択するためのカラ
    ム救済単位アレイ選択信号を生成する複数のカラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、カラム救済単位アレイ
    選択信号に応答して指定のカラム救済単位アレイに欠陥
    がないときに各データ線選択手段の選択による信号を主
    データ出力線へ伝送し指定のカラム救済単位アレイに欠
    陥があるときには各データ線選択手段の選択による信号
    の主データ出力線への伝送を阻止する複数のデータ線信
    号伝送制御手段と、冗長データ線と冗長ワード線に接続
    された冗長メモリセル群がカラム救済単位アレイに対応
    して配列された冗長カラム救済単位アレイを複数個有す
    る冗長メモリブロック群とを備えていると共に、 アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選
    択信号に応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長ワ
    ード線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信
    号を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス
    情報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号に
    応答して各冗長カラム救済単位アレイの冗長データ線群
    の中の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長
    データ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    信号群を基に冗長メモリブロックの冗長カラム救済単位
    アレイ群の中から指定のアレイを選択するための冗長カ
    ラム救済単位アレイ選択信号を生成する冗長カラム救済
    単位アレイ選択信号生成手段と、冗長カラム救済単位ア
    レイ選択信号に応答して指定の冗長カラム救済単位アレ
    イを使用するときに各冗長データ線選択手段の選択によ
    る信号を冗長データ出力線へ伝送し指定の冗長カラム救
    済単位アレイを使用しないときには各冗長データ線選択
    手段の選択による信号の冗長データ出力線への伝送を阻
    止する複数の冗長データ線信号伝送制御手段と、各冗長
    データ線信号伝送制御手段に接続された冗長データ出力
    線をそれぞれ指定の主データ出力線に接続するデータ出
    力線選択手段と、アドレス情報を基に前記冗長メモリブ
    ロック群の中の指定の冗長メモリブロックを救済するた
    めの救済エリア選択信号を生成する救済エリア選択信号
    生成手段と、救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指
    定の冗長ワード線選択手段の選択動作を可能としそれ以
    外のときには選択動作を強制的に停止させる複数の冗長
    ワード線選択動作制御手段と、救済エリア選択信号の発
    生を条件にのみ指定の冗長カラム救済単位アレイ選択信
    号生成手段の生成動作を可能としそれ以外のときには生
    成動作を強制的に停止させる複数の冗長カラム救済単位
    アレイ選択信号生成動作制御手段とをそれぞれ各冗長メ
    モリブロック毎に備えていることを特徴とする半導体メ
    モリ。
  23. 【請求項23】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のロウ救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の
    指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の
    ワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    特定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレ
    イのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する
    複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成
    された信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレ
    イ群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単
    位アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各
    データ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ
    伝送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには
    各データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線
    への伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段
    と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモ
    リセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗
    長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロッ
    ク群とを備えていると共に、 アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選
    択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長ワー
    ド線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信号
    を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス情
    報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号に応
    答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長データ線群の中
    の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長デー
    タ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された信号
    群を基に冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位アレイ
    群の中から指定のアレイを選択するための冗長ロウ救済
    単位アレイ選択信号を生成する冗長ロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、冗長ロウ救済単位アレイ選択信号
    に応答して指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用すると
    きに各冗長データ線選択手段の選択による信号を冗長デ
    ータ出力線へ伝送し指定の冗長ロウ救済単位アレイを使
    用しないときには各冗長データ線選択手段の選択による
    信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する複数の冗長
    データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ線信号伝送
    制御手段に接続された冗長データ出力線をそれぞれ指定
    の主データ出力線に接続するデータ出力線選択手段と、
    アドレス情報を基に前記冗長メモリブロック群の中の指
    定の冗長メモリブロックを救済するための救済エリア選
    択信号を生成する救済エリア選択信号生成手段と、救済
    エリア選択信号の発生を条件にのみ指定の冗長ワード線
    選択手段の選択動作を可能としそれ以外のときには選択
    動作を強制的に停止させる複数の冗長ワード線選択動作
    制御手段と、救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指
    定の冗長データ線選択手段の選択動作を可能としそれ以
    外のときには選択動作を強制的に停止させる複数の冗長
    データ線選択動作制御手段と、救済エリア選択信号の発
    生を条件にのみ指定の冗長ロウ救済単位アレイ選択信号
    生成手段の生成動作を可能としそれ以外のときには生成
    動作を強制的に停止させる複数の冗長ロウ救済単位アレ
    イ選択信号生成動作制御手段とをそれぞれ各冗長メモリ
    ブロック毎に備えていることを特徴とする半導体メモ
    リ。
  24. 【請求項24】 複数のメモリセルが複数のメモリブロ
    ックに分かれて配置され、各メモリブロックが複数のメ
    モリマットに分割され、各メモリマットが複数のロウ救
    済単位アレイに分割され、各メモリセルにワード線とデ
    ータ線が接続されている半導体メモリにおいて、 アドレス情報に従って生成された特定のワード線選択信
    号に応答して各ロウ救済単位アレイのワード線群の中の
    指定のワード線にメモリセル駆動信号を出力する複数の
    ワード線選択手段と、アドレス情報に従って生成された
    特定のデータ線選択信号に応答して各ロウ救済単位アレ
    イのデータ線群の中の指定のデータ線の信号を出力する
    複数のデータ線選択手段と、アドレス情報に従って生成
    された信号群を基に各メモリマットのロウ救済単位アレ
    イ群の中から指定のアレイを選択するためのロウ救済単
    位アレイ選択信号を生成する複数のロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、ロウ救済単位アレイ選択信号に応
    答して指定のロウ救済単位アレイに欠陥がないときに各
    データ線選択手段の選択による信号を主データ出力線へ
    伝送し指定のロウ救済単位アレイに欠陥があるときには
    各データ線選択手段の選択による信号の主データ出力線
    への伝送を阻止する複数のデータ線信号伝送制御手段
    と、冗長データ線と冗長ワード線に接続された冗長メモ
    リセル群がロウ救済単位アレイに対応して配列された冗
    長ロウ救済単位アレイを複数個有する冗長メモリブロッ
    ク群とを備えていると共に、 アドレス情報に従って生成された特定の冗長ワード線選
    択信号に応答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長ワー
    ド線群の中の指定の冗長ワード線にメモリセル駆動信号
    を出力する複数の冗長ワード線選択手段と、アドレス情
    報に従って生成された特定の冗長データ線選択信号に応
    答して各冗長ロウ救済単位アレイの冗長データ線群の中
    の指定の冗長データ線の信号を出力する複数の冗長デー
    タ線選択手段と、アドレス情報に従って生成された信号
    群を基に冗長メモリブロックの冗長ロウ救済単位アレイ
    群の中から指定のアレイを選択するための冗長ロウ救済
    単位アレイ選択信号を生成する冗長ロウ救済単位アレイ
    選択信号生成手段と、冗長ロウ救済単位アレイ選択信号
    に応答して指定の冗長ロウ救済単位アレイを使用すると
    きに各冗長データ線選択手段の選択による信号を冗長デ
    ータ出力線へ伝送し指定の冗長ロウ救済単位アレイを使
    用しないときには各冗長データ線選択手段の選択による
    信号の冗長データ出力線への伝送を阻止する複数の冗長
    データ線信号伝送制御手段と、各冗長データ線信号伝送
    制御手段に接続された冗長データ出力線をそれぞれ指定
    の主データ出力線に接続するデータ出力線選択手段と、
    アドレス情報を基に前記冗長メモリブロック群の中の指
    定の冗長メモリブロックを救済するための救済エリア選
    択信号を生成する救済エリア選択信号生成手段と、救済
    エリア選択信号の発生を条件にのみ指定の冗長ワード線
    選択手段の選択動作を可能としそれ以外のときには選択
    動作を強制的に停止させる複数の冗長ワード線選択動作
    制御手段と、救済エリア選択信号の発生を条件にのみ指
    定の冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成手段の生成動
    作を可能としそれ以外のときには生成動作を強制的に停
    止させる複数の冗長ロウ救済単位アレイ選択信号生成動
    作制御手段とをそれぞれ各冗長メモリブロック毎に備え
    ていることを特徴とする半導体メモリ。
  25. 【請求項25】 各救済エリア選択信号生成手段は、電
    源に接続された複数のヒューズと、各ヒューズが遮断さ
    れた否かに応じて異なる信号を発生する複数の信号発生
    回路と、各信号発生回路からの信号とアドレス情報から
    生成されたブロック選択信号との組合せによる論理のう
    ち特定の論理に応答して救済エリア選択信号を発生する
    救済エリア選択信号発生回路とから構成されている請求
    項21、22、23または24記載の半導体メモリ。
JP5206372A 1993-03-03 1993-08-20 半導体メモリ Expired - Fee Related JP3020077B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5206372A JP3020077B2 (ja) 1993-03-03 1993-08-20 半導体メモリ
KR1019940003992A KR100311185B1 (ko) 1993-03-03 1994-03-02 반도체메모리
US08/205,161 US5392246A (en) 1993-03-03 1994-03-03 Semiconductor memory with multiple sets & redundant cells

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5-42362 1993-03-03
JP4236293 1993-03-03
JP5206372A JP3020077B2 (ja) 1993-03-03 1993-08-20 半導体メモリ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06314499A JPH06314499A (ja) 1994-11-08
JP3020077B2 true JP3020077B2 (ja) 2000-03-15

Family

ID=26382027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5206372A Expired - Fee Related JP3020077B2 (ja) 1993-03-03 1993-08-20 半導体メモリ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5392246A (ja)
JP (1) JP3020077B2 (ja)
KR (1) KR100311185B1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0119888B1 (ko) * 1994-04-11 1997-10-30 윤종용 반도체 메모리장치의 결함구제방법 및 그 회로
JPH08180698A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP4766961B2 (ja) * 1995-05-12 2011-09-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP3557019B2 (ja) * 1995-11-17 2004-08-25 株式会社東芝 半導体記憶装置
US5781717A (en) * 1996-09-19 1998-07-14 I-Cube, Inc. Dynamic spare column replacement memory system
US5996096A (en) * 1996-11-15 1999-11-30 International Business Machines Corporation Dynamic redundancy for random access memory assemblies
US6367030B1 (en) * 1997-10-09 2002-04-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Address conversion circuit and address conversion system with redundancy decision circuitry
US6011733A (en) * 1998-02-26 2000-01-04 Lucent Technologies Inc. Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus
US5970013A (en) * 1998-02-26 1999-10-19 Lucent Technologies Inc. Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus with broadcast write
US6438672B1 (en) 1999-06-03 2002-08-20 Agere Systems Guardian Corp. Memory aliasing method and apparatus
JP3544929B2 (ja) * 2000-09-27 2004-07-21 Necマイクロシステム株式会社 半導体記憶装置およびそのリダンダンシ回路置換方法
JP4111486B2 (ja) * 2002-01-31 2008-07-02 シャープ株式会社 半導体記憶装置および電子情報機器
CN1823392A (zh) 2003-07-15 2006-08-23 尔必达存储器株式会社 半导体存储器件
JP4235122B2 (ja) * 2004-02-06 2009-03-11 シャープ株式会社 半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法
US7405989B2 (en) * 2005-03-07 2008-07-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Electrical fuses with redundancy
JP4607685B2 (ja) * 2005-06-30 2011-01-05 富士通セミコンダクター株式会社 半導体メモリ
JP4552803B2 (ja) * 2005-08-10 2010-09-29 ソニー株式会社 半導体集積回路
US7626845B2 (en) * 2006-12-13 2009-12-01 Agere Systems Inc. Voltage programming switch for one-time-programmable (OTP) memories
US7512028B2 (en) * 2007-04-17 2009-03-31 Agere Systems Inc. Integrated circuit feature definition using one-time-programmable (OTP) memory
KR101889362B1 (ko) * 2012-02-06 2018-09-20 에스케이하이닉스 주식회사 비휘발성 메모리 장치 및 그 동작 방법, 이를 이용하는 데이터 처리 시스템
JP6221762B2 (ja) * 2014-01-16 2017-11-01 富士通株式会社 記憶装置、記憶方法及び制御装置
ITUB20152089A1 (it) 2015-07-10 2017-01-10 St Microelectronics Srl Cella di memoria e dispositivo corrispondente

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03104097A (ja) * 1989-09-18 1991-05-01 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5278839A (en) * 1990-04-18 1994-01-11 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit having self-check and self-repair capabilities

Also Published As

Publication number Publication date
US5392246A (en) 1995-02-21
JPH06314499A (ja) 1994-11-08
KR100311185B1 (ko) 2001-12-15
KR940022848A (ko) 1994-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3020077B2 (ja) 半導体メモリ
US5243570A (en) Semiconductor memory device having redundant memory cell columns concurrently accessible together with regular memory cell arrays
EP0579366B1 (en) Redundancy circuits for semiconductor memory devices
JP3780580B2 (ja) 半導体記憶装置及びそれを用いた電子機器
JP3597501B2 (ja) 半導体集積回路
EP0655687B1 (en) Semiconductor memory device having shifting circuit connected between data bus lines and buffer circuits for changing connections therebetween
US8693270B2 (en) Semiconductor apparatus
JPH07192491A (ja) 半導体メモリ装置のロー冗長方法及びそのための回路
JPH10162599A (ja) 行冗長ブロック・アーキテクチャ
US5841961A (en) Semiconductor memory device including a tag memory
US5841708A (en) Semiconductor memory device having small chip size and redundancy access time
US6141268A (en) Column redundancy in semiconductor memories
JP3112018B2 (ja) 冗長メモリを有する半導体記憶装置
JPH06131896A (ja) 半導体記憶装置
US7177209B2 (en) Semiconductor memory device and method of driving the same
US6167540A (en) Semiconductor memory device and redundant address selection method therefor
JP3751810B2 (ja) 半導体メモリ装置
US6618299B2 (en) Semiconductor memory device with redundancy
US5757716A (en) Integrated circuit memory devices and methods including programmable block disabling and programmable block selection
US6785171B2 (en) Semiconductor memory device
US20040233698A1 (en) Semiconductor memory device with standby current failure judging function and method for judging standby current failure
JP2000076885A (ja) 半導体メモリ装置
JP2509343B2 (ja) 半導体メモリ装置
JP3060959B2 (ja) リダンダンシ判定回路
JPH06139796A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees