JP2991126B2 - 樹脂封止型半導体装置の製造装置及びその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造装置及びその製造方法

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JP2991126B2
JP2991126B2 JP8241485A JP24148596A JP2991126B2 JP 2991126 B2 JP2991126 B2 JP 2991126B2 JP 8241485 A JP8241485 A JP 8241485A JP 24148596 A JP24148596 A JP 24148596A JP 2991126 B2 JP2991126 B2 JP 2991126B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂封止型半導体
装置の製造装置及び樹脂封止型半導体の製造方法に関す
るものであり、更に詳しくは、外観形状の欠点がなく、
効率的に半導体装置を製造しえる樹脂封止型半導体装置
の製造装置及び樹脂封止型半導体装置の製造方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、半導体装置の製造装置に関し
ては多くの技術が開示されて来ている。その中で、特に
問題とされて来ているのは、樹脂封止金型内に設けられ
ているキャビティー部内に、均一に樹脂材料を注入する
かにあり、その為、該キャビティー部内に残存する空気
を如何に処理するかが焦点となっていた。
【0003】係る従来に於ける代表的な樹脂封止型半導
装置の製造装置の例を図4を参照しながら説明する
と、図4に示す様に、従来の半導体装置の樹脂封入装置
の封入金型は、上金型1と下金型2とから構成されてお
り、被封入物を樹脂封入するキャビティー部3と樹脂材
料を注入するゲート部8と該キャビティー部3内部の空
気抜きをするエアベント部9が主に設けられていた。
【0004】係る封入金型において樹脂封入する際に先
ず上金型1か下金型2の何れか一方が開いた後、被樹脂
封入物である半導体チップ5は、リードフレーム4の上
に接着剤(図示せず)等で搭載され、半導体チップの導
電パッド(図示せず)とリードフレーム4の内部リード
の間を金線6にて電気的にそれぞれ接続されている。次
に、上金型1か下金型2のどちらか一方を閉じて型締め
を行い、図示されていない部分から樹脂7を加熱圧入
し、図の左側からゲート8を通してキャビティー部3に
樹脂7を注入する。
【0005】この際に、キャビティー部3内部に残存し
ていた空気は、樹脂7の圧力によって、該上金型1とリ
ードフレーム4の間、並びに下金型2とリードフレーム
4の間に設けられたエアベント部9を通過して、封入金
型外へ放出される。然しながら、樹脂封入時に樹脂が完
全に充填されない充填不良は樹脂欠け、えぐれ等が発生
する事がある。
【0006】この理由としては、該エアベント部に樹脂
が詰まったり、堆積する事により所定の開口度が得られ
ず、空気が残ってしまうためである。かかる問題を解決
する一つの方法として、特開平1−292834号公報
に記載された技術が知られている。係る技術の概要を図
5を参照しながら説明するならば、図5に示す様に、キ
ャビティー部3、可動コマと称されている可動ピン1
0、樹脂注入ゲート11を有する封入金型を用い、半導
体ペレット5を搭載したリードフレーム4をこの封入金
型内にセットして使用する。
【0007】係る従来例に於いては、樹脂注入の初期状
態において、図5Aに示す様に、可動ピン10は、該キ
ャビティー部3内のbで示された部分への樹脂の流入を
規制しうる様に位置し、該樹脂注入ゲート11から注入
された樹脂はキャビティー部3内のaで示された部分を
経て矢印Fの様に該キャビティー部内に充填される。次
いで、図5Bに示す様に、該樹脂の注入中に、該可動ピ
ン10を後退させてb部の流路を開いて、その流路抵抗
を小さく設定する。
【0008】この結果、該キャビティー部3内のb部へ
の樹脂の流入が容易となり、樹脂は主としてb部への樹
脂の流れが容易となり、樹脂は主としてb部を経て矢印
Gの様に該キャビティー部3内に充填される。つまり、
上記の従来例に於いては、該キャビティー部内での樹脂
の流入経路の抵抗を可動ピン10の移動により樹脂注入
中に変化させることにより、キャビティー部内での樹脂
が最後に充填される場合、即ち、残留空気による気泡の
発生の多い場所を任意に設定でき、該キャビティー部内
のエアベント部に最後に充填される様に、該可動ピンを
調整する事によって、残留空気の排出を容易に行う事が
出来る。
【0009】つまり、上記の従来例では、可動ピン10
は該キャビティー部3内に貫入する構造になっており、
後退した位置でキャビティー部表面を形成する様に設定
されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、上記した
従来技術に於いては、樹脂封入される樹脂材料の供給を
制限するものではあるが、当該キャビティー部内に存在
する空気を効率的に外部に排出する為の解決策は示され
ておらず、上記した従来の問題が依然として残ってい
る。
【0011】本発明の目的は、上記した従来技術の欠点
を改良し、半導体装置の製造過程において、樹脂封入時
の金型内の樹脂流入状態に応じて、キャビティー部内に
残存する空気の排出状態をコントロールする事によっ
て、半導体装置に於ける樹脂ボイド、えぐれ、或いは充
填不良の発生を抑制し、高信頼性の半導体装置を提供す
ると共に、高生産性を有する半導体装置の製造方法を提
供し、それによって、高生産性を有する半導体装置の
み立てプロセスを構築する事にある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は上記した目的を
達成するため、基本的には、以下に記載されたような技
術構成を採用するものである。即ち、本発明に於ける第
1の態様は、被樹脂封止物を樹脂封止する半導体装置の
製造装置に於いて、該半導体装置の製造装置は、該被樹
脂封止物を内部に保持するキャビティー部を含んでいる
と共に、当該被樹脂封止物を樹脂封止する樹脂材料を当
該キャビティー部内に導入する為に、該キャビティー部
の1部に設けられた樹脂供給路及び該キャビティー部内
部の空気を排出する為に該キャビティー部の1部に設け
られたエアベント部とを更に含んで構成されており、且
つ当該エアベント部に当該エアベント部の開口度を調節
しうる開口度調整手段が設けられている樹脂封止型半導
装置の製造装置であり、又本発明に於ける第2の態様
としては、被樹脂封止物を樹脂封止する半導体装置の
造装置であって、該半導体装置の製造装置は、該被樹脂
封止物を内部に保持するキャビティー部を含んでいると
共に、当該被樹脂封止物を樹脂封止する樹脂材料を当該
キャビティー部内に導入する為に、該キャビティー部の
1部に設けられた樹脂供給路及び該キャビティー部内部
の空気を排出する為に該キャビティー部の1部に設けら
れたエアベント部とを更に含んで構成されている樹脂封
止型半導体装置の製造装置に於いて、当該エアベント部
から排出される空気の量を変化させながら、当該キャビ
ティー部内に当該樹脂材料を注入する樹脂封止型半導体
装置の製造方法である。
【0013】
【実施の形態】本発明に係る樹脂封止型半導体装置の製
造装置及びその製造方法に於いては、上記した開口度調
整手段として使用される例えば可動ピンによって、当該
キャビティー部から、当該キャビティー部内に残存する
空気を排出する為のエアベント部の開口度を可変しえる
様に構成しておき、当該キャビティー部内に樹脂が注入
されて、空気のみが当該エアベント部から排出される場
合には、当該エアベント部の開口度を最大となる様に設
定し、当該注入樹脂が当該エアベント部に接近してきた
状態以降は、当該エアベント部の開口度を徐々に低下さ
せ、当該樹脂の注入操作の最終段階に於いては、当該開
口度が最小となる様に設定しながら半導体装置を製造す
るものである。
【0014】
【実施例】以下に、本発明に係る樹脂封止型半導体装置
の製造装置及びその製造方法の具体例を図1乃至図3を
参照しながら詳細に説明する。図1は、本発明に係る樹
脂封止型半導体装置の製造装置の1具体例の構成の概要
を説明する断面図である。
【0015】即ち、図1には、被樹脂封止物120を樹
脂封止する半導体装置の製造装置100に於いて、該半
導体装置の製造装置100は、該被樹脂封止物120を
内部に保持するキャビティー部103を含んでいると共
に、当該被樹脂封止物120を樹脂封止する樹脂材料1
07を当該キャビティー部103内に導入する為に、該
キャビティー部103の1部に設けられた樹脂供給路1
21及び該キャビティー部103内部の空気を排出する
為に該キャビティー部103の1部に設けられたエアベ
ント部109とを更に含んで構成されており、且つ当該
エアベント部109に当該エアベント部109の開口度
を調節しうる開口度調整手段130が設けられている樹
脂封止型半導体装置の製造装置100が示されている。
【0016】即ち、本発明に係る樹脂封止型半導体装置
の製造装置100に於いては、図5に示されている上記
した従来例の様に、可動ピンを当該キャビティー部の内
部に嵌入させて、該キャビティー部内部に注入された樹
脂材料の流れそのものを規制する方法とは異なり、当該
キャビティー部103内に残存する空気そのものを有効
に排出する為に、エアベント部の開口度を調整する開口
度調整手段を該キャビティー部103の端部であるエア
ベント部の入口部に設けたものである。
【0017】その結果、本発明に於いては、樹脂注入操
作の初期から中期に於いて、当該エアベント部の開口度
が最大となる様に設定し、空気抜き操作が容易になる様
に構成すると共に、当該樹脂注入操作の終期には、当該
エアベント部の開口度を最小とする様に設定されている
開口度調整手段が設けられたものである。従って、本発
明に係る樹脂封止型半導体装置の製造装置100に於い
ては、当該キャビティー部内部に樹脂注入操作が実行さ
れている間、空気抜き操作が継続しつつも樹脂材料その
ものが漏出しない様に構成されたものである。
【0018】更には、本発明に於ける樹脂封止型半導体
装置の製造装置100に於いては、仮にエアベント部1
09内部に、前回の樹脂封入操作に於いて樹脂が詰まっ
た場合、或いは、キャビティー部103内部に樹脂材料
が残存している場合でも、当該エアベント部109の空
気通路が最大に形成され、内部に存在する空気が確実に
且つ急速にキャビティー部103の外部に排出されるの
で、従来の様な半導体装置の整形不良を発生する事がな
い。
【0019】本発明に於いて使用される被樹脂封止物1
20は、例えば半導体ペレット或いは、半導体チップ1
05とリードフレーム104が主として含まれるもので
ある。又、本発明に於いて、樹脂封入に使用される樹脂
材料107は特に限定されるものではなく、従来一般的
に使用されている樹脂材料が使用されるものである。
【0020】次に、本発明に於いて使用される該開口度
調整手段130は、上記した様に、樹脂封止型半導体
の製造装置のキャビティー部103の端部に設けられ
ているエアベント部109と該キャビティー部103と
の接合位置に配置される事が望ましく、又図6に示す様
に、当該樹脂封止型半導体装置の製造装置100の、例
えば下金型102の平面図で見た場合、キャビティー部
103の一角部に設けられた当該樹脂材料107の樹脂
供給路121を除く、他の3つの角部に設けられたエア
ベント部109−1から109−3に配置される事が望
ましい。
【0021】特に好ましくは、当該開口度調整手段13
0は、図6のエアベント部109−2に配置される事が
好ましい。更に、本発明に於いて使用される該開口度調
整手段130は、上記した様に、該エアベント部109
に於ける開口度、つまり空気通路の断面積を任意に変更
可能である事が必要で、係る機能を有する手段であれ
ば、その構成は特に限定されるものではない。
【0022】本発明に於ける該開口度調整手段130の
一具体例は、図1に示す様に、例えば該樹脂封止型半導
装置の製造装置100の主体部、例えば、上金型10
1又は下金型102の何れかを貫通して摺動する部材1
10、例えば可動ピン等により構成されているものであ
る。該開口度調整手段130の可動摺動部材110は、
該エアベント部109の内部にその先端部が嵌入する様
に構成されており、該キャビティー部103内部に注入
される該樹脂107の注入状態に応じて該エアベント部
109の開口度を調節するものである事が望ましい。
【0023】従って、図1に示す本発明の樹脂封止型半
導体装置の製造装置100の具体例に於いては、該可動
摺動部材110は、可動ピンで構成され、当該可動ピン
110は、適宜の制御回路113により、当該上金型1
01内を所定のストロークにより上下動して、当該エア
ベント部109に於ける空気通路の断面積を調整するも
のである。
【0024】該可動ピン110の材質は特に限定される
ものではないが、当該金型101又102と摩擦摺動す
ることから、特に超硬合金で構成されている事が望まし
い。更に、本発明に於いては、該可動ピンの構成は、そ
の先端部の一部が、図1に示されている様に、該可動ピ
ン110が、最降下した時点に於いて、該キャビティー
部103の側壁部と一致した形状を有している事が望ま
しい。
【0025】該可動ピン110の上下動は、前記した様
に、当該キャビティー部103の内部に注入される樹脂
材料107の注入状態、例えば注入量、注入圧力、或い
は当該樹脂材料107を注入するプランジャーの動作位
置等に応答して、操作されるものである事が望ましい。
又、該可動ピンの断面形状は、特に限定されるものでは
ないが、円形、或いは四角形等適宜の断面形状を採用す
る事が可能である。
【0026】好ましくは、当該キャビティー部と該エア
ベント部との接合部の形状に応じた断面形状を選択する
のが望ましい。当該可動ピン110の上下動手段として
は、例えば油圧シリンダ、電動サーボ手段、ソレノイド
等公知の手段を使用する事が可能となる。又、本発明に
係る樹脂封止型半導体装置の製造装置100に於いて
は、当該キャビティー部103内に所定の樹脂材料10
7を注入する際に、該樹脂供給路121に適宜のゲート
108を設け、当該樹脂供給路108により、当該キャ
ビティー部103内への樹脂材料107の注入量を調整
する事も可能であり、その為のゲート調整手段122と
その制御回路123を更に設ける事も可能である。
【0027】更には、係るゲート調整手段122と上記
した開口度調整手段130とを連動してより精密な樹脂
注入処理を実行する事も可能である。以下に本発明に係
る樹脂封止型半導体装置の製造装置100の具体例に付
いて図1乃至図3を参照して詳細に説明する。図1は、
本発明に係る樹脂封止型半導体装置の製造装置100の
一具体例の構成を示すものであり、従来の金型にエアベ
ント部109を可動ピン110で置換した構成を示して
いる。
【0028】そして、空気抜きの効果を確保する為に、
該キャビティー部103の一部を含む領域迄当該可動ピ
ン110で構成されるものである。更に該エアベント部
109に設けられた可動ピン110を駆動させる為に、
油圧シリンダを含む駆動機構111、当該駆動機構11
1の動作を制御する制御回路113及び位置センサ11
2とが設けられている。
【0029】係る制御回路113は、油圧シリンダ11
1に継がる電磁弁(図示せず)の開閉、順逆切り替えを
直接コントロールし、該位置センサ112により当該可
動ピン110の動作位置を感知する。又、一方、該制御
回路113は、成型機本体の成型制御回路と同期し、金
型の開閉、樹脂の射出動作のタイミングを取る様に組み
込まれている。
【0030】尚、該可動ピン110の材質自体は上記し
た様に、特に限定されるものではないが、上金型101
の材質がステンレス鋼にクロム等を用いて表面処理をし
たものであれば、それとの耐磨耗性を考慮して超硬合金
を使用する事が望ましい。以下に、本発明に係る上記具
体例の樹脂封止型半導体装置の製造装置100の動作に
図2及び図3を参照して説明する。
【0031】図3は、図2に於ける上金型101と下金
型102の型締/型開け動作、樹脂材料107を射出す
る射出プランジャー(図示せず)の動作、並びに該可動
ピン110の動作を示すタイムチャートである。図3に
示す様に、マスタ型締開始時刻T1から射出開始時刻T
2との間に、該上金型101と該下金型102との型締
操作が実行される。
【0032】次いで、該射出開始時刻T2から射出プラ
ンジャーが上昇(下降)し、樹脂材料107の射出が開
始されると同時に可動ピン110が上昇し、該エアベン
ト部109が最大開口部に設定される。(図2Aの状態
参照)この状態では、該キャビティー部103内部に存
在する空気は、容易に且つ効率的に該エアベント部10
9からキャビティー部103外部に排出される。
【0033】次いで、該射出プランジャーが上昇を続
け、樹脂材料107をキャビティー部103内に相当量
充填した段階で、射出変換点T3に到達する。この間、
上金型101と下金型102の型締/型開け動作に於い
て、当該上金型101若しくは下金型102の何れかの
合体速度が時刻T1とT2の間で変化しているのは、両
金型101と102を合体して型締めするに際し、その
速度を一定の高速度で行うと、該両金型101と102
間に異物が存在する場合には、当該金型そのものが損傷
を受ける事になるので、当該合体処理の中間に於いて、
該合体速度を低下せしめる事が望ましい。
【0034】又、射出変換点T3に到達すると、この時
点で該射出プランジャーは、その上昇速度が低下せしめ
られ、遅上昇速度に切り換わり、同じタイミングで可動
ピン110は下降を開始する。当該射出プランジャー
が、最上部に達した時、即ち該キャビティー部103に
最大の射出圧力が加わる付近において、図2Bに示す様
に、該可動ピン110は所定の最小開口度に設定され、
空気抜きが出来、且つ樹脂漏れを起こさない位置を保つ
事になる。
【0035】この場合、該可動ピン110の動作は、図
3のAのグラフを描く事になり、当該可動ピン110
は、その下降動作でオーバーシュート状を示すことがあ
る。係るオーバーシュート状の下降挙動を行わせる理由
は、実際に必要な最小開口度が10μmから100μm
の間と狭く、エアベント部109の樹脂付着状態によっ
て間隔が影響を受ける為、一端当該可動ピン110を動
作範囲の最下点に達するまで下降させた後に必要な位置
にまで回復させる方が、正確な位置決めを行う事が可能
であるからである。
【0036】つまり、本具体例に於いては、当該可動ピ
ン110を一端設定位置を越えて下降させ、再上昇させ
る様に制御調整する事が望ましい。又、本発明に於いて
は、該射出下降開始時刻T4から、該射出プランジャー
の下降が開始され、時刻T5で型開き操作が開始される
迄に、該射出プランジャーては、図2Aで示す様に、該
可動ピン110が上昇し、最大開口度となったときの間
隔は、例えば、該下金型102のエアベント部109の
上面から該可動ピン110の下面迄の間隔の値から、リ
ードフレーム104の厚さ分を差し引いた値で表すと例
えば1mm〜2mmである。
【0039】又、該最小開口度となった場合の間隔は、
同じディメンジョンで表すと0.04mm〜0.1mm
となる。上記最大開口度の下限値と上限値はそれぞれ該
キャビティー部103内の空気の体積を排出する際の最
適スピードとキャビティー部103の高さから設定され
る。
【0040】又、最小開口度の下限値と上限値は、使用
する樹脂の流動特性、特にバリ流出長さ等から設定され
る。次に、本発明に係る樹脂封止型半導体装置の製造装
置100の他の具体例に付いて説明するならば、図3の
可動ピン110の動作に於いて、グラフAとは異なるグ
ラフBで示す動作を行う場合がある。
【0041】係る例に於いては、当該可動ピン110は
最小開口度に達する途中でその動作を一時停止し、その
後一定の時間経過後に、前記具体例を同一の動作を再開
する様にしたものである。係る動作によれば、該可動ピ
ン110が最後まで閉まっていない為、樹脂材料107
が該キャビティー部103から外に漏れ出すことにな
り、所定の時間後当該樹脂材料107の流失が止まり、
通常の成形状態に戻る。
【0042】つまり、係る操作を採用する事によって、
複数個のキャビティー部103が存在した場合に、それ
ぞれのキャビティー部103内に於ける樹脂の注入状態
や内部に存在する空気の量の相違等から、全てのキャビ
ティー部103に於いて、均一な処理状態が形成される
ものではなく、同一時期に同期させて全てのキャビティ
ー部103内に於ける樹脂封入操作を完結させる為、一
部のキャビティー部103に於ける当該樹脂封入操作を
一定の時間遅延させる様にしたり、或いは、当該キャビ
ティー部103内に注入された樹脂材料107の内でそ
の流動先端部分は、微小な空気を多く含んでいるので、
その部分を故意にキャビティー部103の外部に排出す
る様にする事も出来、更には高度なキャビティー部10
3内の充填コントロールを必要とする場合に有利とな
る。
【0043】上記した様に、本発明に於ける第2の態様
である樹脂封止型半導体装置の製造方法としては、例え
ば、被樹脂封止物を樹脂封止する半導体装置の製造装置
であって、該半導体装置の製造装置は、該被樹脂封止物
を内部に保持するキャビティー部を含んでいると共に、
当該被樹脂封止物を樹脂封止する樹脂材料を当該キャビ
ティー部内に導入する為に、該キャビティー部の1部に
設けられた樹脂供給路及び該キャビティー部内部の空気
を排出する為に該キャビティー部の1部に設けられたエ
アベント部とを更に含んで構成されている樹脂封止型半
導体装置の製造装置に於いて、当該エアベント部から排
出される空気の量を変化させながら、当該キャビティー
部内に当該樹脂材料を注入する樹脂封止型半導体装置
製造方法であり、又、上記構成に於いて、当該エアベン
ト部内に当該エアベント部の開口度を調整する手段が設
けられており、当該キャビティー部内部に当該樹脂材料
が注入される初期の段階においては、当該開口度を最大
に設定し、当該樹脂材料の注入操作完了時直前の段階に
於いては、当該開口度を最小に設定する様に調整しなが
ら当該樹脂材料の注入操作を行う樹脂封止型半導体装置
の製造方法である。
【0044】更に、本発明に係る樹脂封止型半導体装置
の製造方法の具体例を示すならば、被樹脂封止物を樹脂
封止する半導体装置の製造方法に於いて、上金型と下金
型を合体して型締めを行うに際し、当該上金型と下金型
を合体させる場合に少なくとも一方の金型の移動速度を
当該型締め操作の一工程の途中に於いて変化させる樹脂
封止型半導体の製造方法であり、又、当該キャビティー
部内に所定の樹脂材料を注入する射出プランジャーが設
けられており、当該射出プランジャーを所定の一端部か
ら所定の他の端部まで移動押し出しを実行せるに際し、
当該射出プランジャーの上記一工程の途中でその移動速
度を変化させる様に制御が行われる樹脂封止型半導体
の製造方法である。
【0045】又、その他の具体例としては、当該開口度
調整手段は、一旦エアベント部の開口度を最大とした
後、当該開口度を最小にする所定に位置に下降せしめる
に際して、一旦当該所定の下降位置を越えて、下降さ
せ、次いで当該所定の下降位置まで上昇させる様に制御
する様に構成されても良く、更には当該開口度調整手段
は、一旦エアベント部の開口度を最大とした後、当該開
口度を最小にする所定に位置に下降せしめるに際して、
一旦当該所定の下降位置に到達しない位置で静止させ、
その位置で所定の時間が経過した後、一旦当該所定の下
降位置を越えて、下降させ、次いで当該所定の下降位置
まで上昇させる様に制御する様にしても良い。
【0046】その他の具体例としては、例えば、当該キ
ャビティー部内部に所定の樹脂材料の注入処理が完了し
た場合、当該射出プランジャーはその最大突出位置より
後退を開始すると同時に、該開口度調整手段は再度上昇
し、当該開口度調整手段が再度当該開口度を最大とする
位置に到達した後、該射出プランジャーも再度、前記最
大突出位置に向けて移動を開始し、合体された上金型と
下金型の型開き操作の開始時点以降、当該樹脂封入操作
サイクル完了時点迄、該開口度調整手段及び該射出プラ
ンジャーが共に、当初の位置に復帰する様に操作される
様に制御系を構成する様にする事も出来る。
【0047】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明に係る樹脂封
止型半導体装置の製造装置及びその製造方法に於いて
は、該可動ピン110の上昇、下降動作によって、空気
抜きを容易にする最大開口度と樹脂漏れを抑える最小開
口度を設定出来る様にしたので、半導体ペレット或いは
半導体チップ等を樹脂封入する際の樹脂ボイド、えぐ
れ、欠け等の充填不良の発生を防止する事が可能とな
る。
【0048】更には、当該可動ピン110で一定時間、
樹脂材料を流出させることによって空気を多く含む先端
部の樹脂部分を意図的に排出させることが出来、更にキ
ャビティー部内の充填が安定するまで当該射出完了を遅
らせる事が出来るので、樹脂ボイドを従来よりも低く抑
え、高度な成形コントロールを可能にする。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係る樹脂封止型半導体装置
製造装置の1具体例の構成を示す断面図である。
【図2】図2(A)〜(B)は、本発明に係る樹脂封止
型半導体装置の製造装置に於ける可動ピンの動作を説明
する断面図である。
【図3】図3は、樹脂封止型半導体装置の製造装置に於
ける金型の型締め/型開き動作、射出プランジャー、及
び可動ピンの動作を示す波形図である。
【図4】図4は、従来の樹脂封止型半導体装置の製造装
置の構成の一例を示す断面図である。
【図5】図5は、従来の樹脂封止型半導体装置の製造装
置の他の具体例に於ける構成示す断面図である。
【図6】図6は、本発明に係る樹脂封止型半導体装置
製造装置に於ける可動ピンの配置位置を示す平面図であ
る。
【符号の説明】
1、101…上金型 2、102…下金型 3…キャビティー部 4、104…リードフレーム 5、105…半導体ペレット、半導体チップ 6、106…金線 7、107…樹脂材料 8、108…ゲート部 9、109…エアベント部 10、110…可動ピン、可動コマ 113…制御回路 120…被樹脂封止物 121…樹脂供給路 122…ゲート調整手段 123…制御回路 130…開口度調整手段

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 キャビティー部の一部にエアベント部が
    設けられた樹脂封止型半導体装置の製造装置において、 該エアベント部の開口度を調節する開口度調整手段が設
    けられていることを特徴とする樹脂封止型半導体装置の
    製造装置。
  2. 【請求項2】 該開口度調整手段は、該エアベント部に
    於ける空気通路の断面積を可変にする手段である事を特
    徴とする請求項1記載の樹脂封止型半導体装置の製造装
    置。
  3. 【請求項3】 当該開口度調整手段は、当該キャビティ
    ー部と接する該エアベント部に設けられている事を特徴
    とする請求項1又は2に記載の樹脂封止型半導体装置
    製造装置。
  4. 【請求項4】 該開口度調整手段は、該樹脂封止型半導
    装置の製造装置の主体部を貫通して摺動する部材によ
    り構成されている事を特徴とする請求項1乃至3の何れ
    かに記載の樹脂封止型半導体装置の製造装置。
  5. 【請求項5】 当該開口度調整手段は、該キャビティー
    部内部に注入される該樹脂の注入状態に応じて該エアベ
    ント部の開口度を調節するものである事を特徴とする請
    求項1乃至4の何れかに記載の樹脂封止型半導体装置
    製造装置。
  6. 【請求項6】 キャビティー部の一部にエアベント部が
    設けられ、このエアベント部の開口度を開口度調節手段
    で調節することで樹脂封止型半導体装置を製造する樹脂
    封止型半導体装置の製造方法であって、 該開口度調節手段の開口部は、前記キャビティー部内部
    に前記樹脂材料が注入される初期段階で該開口部の開口
    度を最大に設定し、前記樹脂材料の注入操作完了時直前
    の段階では開口度を最小に設定するように調整しながら
    前記樹脂材料の注入操作を行うことを特徴とする樹脂封
    止型半導体装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 上金型と下金型を合体して型締めを行う
    に際し、当該上金型と下金型を合体させる場合に少なく
    とも一方の金型の移動速度を当該型締め操作の一工程の
    途中に於いて変化させる事を特徴とする請求項6記載の
    樹脂封止型半 導体装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 当該キャビティー部内に所定の樹脂材料
    を注入する射出プランジャーが設けられており、当該射
    出プランジャーを所定の一端部から所定の他の端部まで
    移動押し出しを実行させるに際し、当該射出プランジャ
    ーの上記一工程の途中でその移動速度を変化させる事を
    特徴とする請求項6記載の樹脂封止型半導体装置の製造
    方法。
  9. 【請求項9】 当該開口度調整手段は、一旦エアベント
    部の開口度を最大とした後、当該開口度を最小にする所
    定に位置に下降せしめるに際して、一旦当該所定の下降
    位置を越えて、下降させ、次いで当該所定の下降位置ま
    で上昇させる様に制御する事を特徴とする請求項6記載
    の樹脂封止型半導体装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 当該開口度調整手段は、一旦エアベン
    ト部の開口度を最大とした後、当該開口度を最小にする
    所定の位置に下降せしめるに際して、一旦当該所定の下
    降位置に到達しない位置で静止させ、その位置で所定の
    時間が経過した後、一旦当該所定の下降位置を越えて、
    下降させ、次いで当該所定の下降位置まで上昇させる様
    に制御する事を特徴とする請求項6記載の樹脂封止型半
    導体装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 当該キャビティー部内部に所定の樹脂
    材料の注入処理が完了した場合、当該射出プランジャー
    はその最大突出位置より後退を開始すると同時に、該開
    口度調整手段は再度上昇し、当該開口度調整手段が再度
    当該開口度を最大とする位置に到達した後、該射出プラ
    ンジャーも再度、前記最大突出位置に向けて移動を開始
    し、合体された上金型と下金型の型開き操作の開始時点
    以降、当該樹脂封入操作サイクル完了時点迄、該開口度
    調整手段及び該射出プランジャーが共に、当初の位置に
    復帰する様に操作される事を特徴とする請求項6記載の
    樹脂封止型半導体装置の製造方法。
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