JP2788843B2 - 基準電圧発生器 - Google Patents

基準電圧発生器

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は基準電圧発生器に関し、特に集積
回路に搭載して用いる広範囲の低電圧用MOS温度補償
型基準電圧発生器に関する。
【0002】
【背景技術】電子デバイスの多くは設計の際に基準電圧
を必要とする。基準電圧は電子デバイスを制御するため
に使われたり、例えば他の電圧と比較されたりする。こ
れらの用途において基準電圧は安定であることが必要と
なる。温度変化や電源(電圧)などの変化にも拘らず電
圧を安定に供給する基準電圧発生器を提供することが課
題となっている。
【0003】バンドギャップ回路は基準電圧を発生する
ために使われる装置の一つである。バンドギャップ回路
は本来バイポーラ用に開発されたものであるが、CMO
Sとともに用いられるように改良されている。バンドギ
ャップ回路を改良して用いる素子の中には、ダイオード
としてバイアスされたトランジスタがある。この種のバ
イアスでは、トランジスタのPN接合を順方向にバイア
スする必要がある。しかしながら、基板電流の発生によ
ってバンドギャップ回路がラッチアップされることがあ
るので、CMOS用にはこの種のバイアスは不適であ
る。よって、電流を集めるために半導体の製造時に特別
にアイソレートしたウェルを用いてこの問題を回避して
いる。
【0004】図5に示すように、他の基準電圧発生器で
は、装置に使われたトランジスタのしきい値電圧間の差
によって基準電圧が決められている。図5によれば、ト
ランジスタ40のしきい値電圧VT1は、トランジスタ4
2のしきい値電圧VT2よりも小さい。VREF は次に示す
式(1)によって算出される。 VREF =VT2−VT1 (1) 例えば、VT1が−1.6V、VT2が−0.6Vであれ
ば、VREF は+1.0Vとなる。この場合、トランジス
タは両方ともPチャネル型であり、それぞれ異なるしき
い値電圧を有する。
【0005】しかしながら、たいていのCMOS技術
は、一様で単一の電圧VT のチップ上にPチャネルMO
Sトランジスタを提供する。他のVT のPチャネルトラ
ンジスタを形成するためには、マスキングやインプラン
トなどの別のプロセス工程が必要となる。これらの別の
工程によって、このデバイスとその回路との組立にかな
りの費用がかかることとなる。
【0006】本発明の目的は、上記問題点を鑑み、標準
的なCMOSやMOSのプロセスの使用を可能として、
余分なあるいはコストの要するプロセス工程を避けるこ
とである。本発明の第2の目的は、広範囲の電圧変化に
も拘らず低電圧で動作する基準電圧発生器を提供するこ
とである。
【0007】本発明の第3の目的は、消費電力が小さい
基準電圧発生器を提供することである。本発明の第4の
目的は、正、負、またはほぼ零となる温度係数を有する
ように設計することができる基準電圧発生器を提供する
ことである。
【0008】
【発明の概要】安定した基準電圧を提供するに際し、本
発明の実施例は、定電流源とMOS型Pチャネルトラン
ジスタとを含む。定電流源は広範囲のVCCにわたって定
電流を出力するように設計されている。定電流源の出力
は飽和してバイアスされたPチャネルトランジスタに供
給される。実施例は、Vccが変化しても定電流源の電流
は一定となるように構成されている。このVccによっ
て、Pチャネルトランジスタの電圧降下は一定になるの
で、安定した基準電圧を出力する。
【0009】電圧を制御するために、0℃でのVDS(ド
レイン・ソース電圧)が例えば温度90℃までのVDS
ほぼ同一となるバイアス領域に相当する定電流をPチャ
ネルトランジスタに供給することにより温度補償が行わ
れる。このバイアス領域でPチャネルトランジスタが動
作している間は、トランジスタの抵抗は温度変化に対し
てほぼ一定となる。抵抗及び電流がほぼ一定であれば、
オームの法則によりV REF はほぼ一定となることが判
る。
【0010】このような基準電圧発生器の動作の新規で
重要な点は、バイアスされて飽和したPチャネルトラン
ジスタと、VDS(ドレイン・ソース間電圧)がある温度
範囲にわたってほぼ同一となるトランジスタのバイアス
領域に相当する定電流と、定電流源にて使用される抵抗
器の温度係数の利用と、を備えていることである。さら
に、本発明は基準電圧を発生させる方法を有し、この方
法は、第1接続点から第1トランジスタを制御する行程
と、第2接続点から第2トランジスタを制御する行程
と、第3トランジスタのドレイン電極と制御電極とを連
結することにより第3トランジスタを制御する行程と、
一定の電圧降下が生じる第3トランジスタへ第2トラン
ジスタから定電流を供給することにより安定した基準電
圧を発生させる行程と、を有する。
【0011】
【実施例】本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。図1に本発明を適用した回路10を示す。定
電流源2に第1電源電圧Vccが印加されるように接続さ
れて、トランジスタ6に定電流Iを供給する。接続点4
と接続点8との間(トランジスタ6の両端)の電圧降下
によって接続点4で基準電圧VREF が発生する。接続点
8は第2電源電圧、例えばVSSが印加されるように接続
される。この回路10は、必ずしも集積回路の一部とし
て組み込まれる必要性はない。
【0012】図2に回路10の適宜の実施例の詳細な構
成図を示す。第1接続点12と抵抗器14の一端子14
aとは電圧Vccに接続されている。図2において、第1
接続点12と抵抗器14の一端子14aとは配線15に
て互いに接続されているが、一配線で接続点12をVcc
に接続し、別の配線で抵抗器14の一端子14aをV cc
に接続することもできる。PチャネルMOSFET16
のソース電極も第1接続点12に接続されている。抵抗
器14の他端子と、トランジスタ16のゲート電極と、
PチャネルMOSFET18のソース電極とは第2接続
点20に接続されている。トランジスタ16のドレイン
電極とトランジスタ18のゲート電極とは、第3接続点
22に接続されている。第2抵抗器24の一端子24a
が第3接続点22に接続され、抵抗器24の他端子24
bが第2電源電圧(例えば接地面)に接続されている。
第4接続点26にはトランジスタ18のドレイン電極と
MOSFET28のソース電極とが接続されている。V
REF は第4接続点26から出力される。トランジスタ2
8のゲート電極及びドレイン電極は第5接続点30に接
続され、第5接続点は第2電源電圧(例えば接地面)に
接続されている。
【0013】従って、Vccから接地面までの電流路は、
FET16のソース・ドレイン間及び抵抗器24を通過
する電流路と、抵抗器14及びFET18,28のソー
ス・ドレイン間を順次通過する電流路との2つがある。
抵抗値が100〜500kΩの抵抗器14,24を使用
することによって、回路を流れる電流量が低減される。
よって、消費電力も低減される。さらに、トランジスタ
16は、トランジスタ18,28よりも、大きなチャネ
ル長対チャネル幅比を有することが望ましい。例えば、
トランジスタ16は、200:1のチャネル長対チャネ
ル幅比を有し、トランジスタ18は4:10のチャネル
長対チャネル幅比、及びトランジスタ28は2.2:1
0のチャネル長対チャネル幅比を有し、抵抗器14,2
4の抵抗値は500kΩとなっている。
【0014】次に、図2に示す回路の動作を説明する。
他の出願に開示された同様な構成として、1992年7
月28日に発行されたモブレー(Mobley)とイートンジュ
ニア(Eaton,Jr.) による米国特許第5,134,310
号の「集積回路の高容量負荷を駆動する電流源装置」を
参照するが、上記特許ではFET28と配線36とがな
い(以下に説明する)。図2に示す回路は、Vccが変化
しても接続点20と22の間の電位差が変化しないよう
に構成されている。Vccは接続点20,22間の電圧変
化よりも早い速度で変化する。トランジスタ16,1
8,28はバイアスされて飽和しているので、トランジ
スタ16,18,28のソース・ドレイン間の電流は次
に示す式によって与えられる。
【0015】 IDS=βW/L(VGS−VT2 (2) ただし、βは酸化膜容量に飽和トランジスタの電流キャ
リアの移動度を掛けた値に等しい定数、Wはトランジス
タのチャネル幅、Lはトランジスタのチャネル長、VGS
はトランジスタのゲート・ソース間との電位差、VT
トランジスタのしきい値電圧である。
【0016】Vccが増大すると、接続点12,20間の
電位差(トランジスタ16のVGS)が増大するような形
に接続点20の電圧が上昇するので、式(2)にて算出
されるようにトランジスタ16のソース・ドレイン電流
16が増大する。電流I16が増加することによって、接
続点22の電圧が接続点20の電圧と同時に増大する。
これによって、接続点20と22との間の電位差(トラ
ンジスタ18のVGS)をほぼ同一に維持される。したが
って、電流I18は式(2)にて算出されるようにほとん
ど変化しない。
【0017】逆に、Vccが減少すると、接続点12と2
0の間の電位差が減少するような形に接続点20の電圧
が降下するので、電流I16は減少する。電流I16の減少
によって、接続点22の電圧は接続点20の電圧と共に
降下する。トランジスタ18の接続点20,22間の電
位差は同一に保持され、これによって、電流I18は式
(2)にて算出されるようにほとんど変化しない。
【0018】定電流I18は、ゲート電極とドレイン電極
とを互いに接続してバイアスされているトランジスタ2
8を流れる。これによって、トランジスタ28は飽和状
態に保持される。トランジスタ28が飽和していると、
その抵抗値は一定に保持される。故に、飽和したトラン
ジスタ28を流れる定電流によって、一定の電圧降下が
生じ、接続点26の電圧はVREF に安定する。
【0019】図3にVccが変化する際の基準電圧VREF
の値の変化を示す。図3の正の勾配の部分は、トランジ
スタ28が線形状態にあることを示している。勾配がほ
ぼゼロの領域(すなわち、トランジスタ28が飽和して
いる状態)は、Vccがおよそ2.5から6.0ボルトに
変化した時に、VREF はほとんど一定値を保持している
ことを示している。また、図3に、温度が変化してもV
REF がほぼ一定に保たれていることを、温度0℃(実
線)と温度90℃(点線)との場合を例に示す。
【0020】Vccが2.3ボルトよりも低くなると、ト
ランジスタ28は飽和状態から外れて線形状態に入る。
トランジスタ28が線形状態にある間は、Vccが変動す
るとトランジスタ28の抵抗値も変化し、VREF も変化
する。回路中の他の部品の変動の他に、トランジスタの
タイプや寸法によって、この回路が生成する安定なV
REF の電圧範囲も変化する。
【0021】図4にトランジスタ28のI−V特性を示
す。図4の2本の線は、2つの温度(25℃及び90
℃)に関するトランジスタ28の抵抗の逆数(1/R)
を示す。これらの線の交点は、ドレイン・ソース電圧V
DSが所定の温度範囲においてほぼ一定となるトランジス
タ28のバイアス領域である。このバイアス領域は、ト
ランジスタに供給された定電流によるトランジスタの電
圧降下が温度によって変化しないトランジスタの抵抗値
に相当する。図4のIで示す電流がトランジスタ28に
流れると、25から90℃までの温度範囲内及びその近
傍の温度変化にも拘らずVREF はほぼ安定に一定値に保
持される。トランジスタ28に供給される電流が増加し
た場合、図4に点線で示すように、25℃の線と90℃
の線とは、互いに異なるVREF の値で交差する。したが
って、温度による変化を避けるために、定電流を適宜の
範囲内でバイアスする必要がある。
【0022】式(2)において、所定温度におけるキャ
リアの移動度をμ及びゲート酸化膜の容量をCOXとする
μCOXにβを置換し、VGS=−VREF とする。キャリ
アの移動度は温度の上昇に伴い減少する。しきい値電圧
T もまた温度の上昇に伴い減少する。式(2)の括弧
内の値は、VT が減少すると増加する。したがって、I
−V曲線T25,T90は指数関数的な特性を呈する。
【0023】図4に示すように、温度に依存しないほぼ
一定のVREF を発生するトランジスタ28に電流を供給
することが重要である。このような電流が存在すること
を示すために、次に示す式が必要となる。 IDS25=μ25OX(W/L)(VGS−VT252 (3) IDS90=μ90OX(W/L)(VGS−VT902 (4) 但し、μ25,μ90は、それぞれ温度25℃,90℃にお
ける移動度、VT25 ,VT90 は、それぞれ温度25℃,
90℃におけるしきい値電圧、IDS25とIDS90は、それ
ぞれ温度25℃,90℃におけるソース・ドレイン間電
流である。
【0024】IDS25=IDS90(電流I18は任意の温度に
対してほぼ一定)とすると、次に示す式が導かれる。 (μ25−μ90)(VGS2 +(−μ252VT25 +μ902VT90 )VGS −μ90(VT902 +μ25(VT252 =0 (5) 式(5)は2次式なので、定電流をほぼ一定とするVGS
の値がみつかる。他の温度にて計算されるVGSの値はほ
とんど同じである。したがって、対応する定電流I18
トランジスタ28に供給することによって、温度が変化
してもほぼ一定レベルのVREF が生成される。
【0025】キャリヤの移動度μ及びVT は、温度が変
化すると、互いの変化を補償し合うので、T25とT90
の線が交差する。この自己補償作用によって、他の温度
の線(図示せず)においてもT25とT90との線が交差す
る点とほぼ同じ点で交差する。したがって、トランジス
タ28に定電流を供給することによって、キャリアの移
動度μ及びVT の相互の自己補償作用によって温度変化
にも拘らずほぼ一定のVREF が発生する。
【0026】さらに温度変化を補償するために、実施例
において使用した抵抗器の温度係数を利用することもで
きる。例えば、負の温度係数を有する(温度の上昇に伴
い抵抗値が減少する)抵抗器によって、温度が上昇する
と抵抗値が下がるためにさらに多くの電流を流すことが
できる。よって、トランジスタ28にはより多くの電流
が流れてVREF はさらに大きくなる。図3に示すよう
に、温度が例えば90℃に上昇してVREF が大きくなる
と、0℃を示す線に点線が近接する。
【0027】トランジスタ16,18,28の基板は、
図2の配線36で示すように、トランジスタのソース電
圧に等しい電圧でバイアスされている。これはボディ効
果を排除するために行われる。ボディ効果とは、ソース
から基板へのバイアス差から生じるしきい値電圧の特徴
的なシフトのことである。ボディ効果が強ければしきい
値電圧は増大し、ボディ効果が小さければしきい値電圧
は減少する。ソース電極の電圧と同じ電圧で基板をバイ
アスすることによって、しきい値電圧を変化させるボデ
ィ効果を排除できる。
【0028】VREF が印加される回路に応じて、VT
移動度などのプロセスパラメータの変動を補償するため
にVREF を所望の値に調整する必要がある。VREF を調
整するためには、図2に示す回路の接続点26と接地面
(VSS)との間に、1つのトランジスタ28ではなく、
図6に示すように複数のトランジスタを組み込むと良
い。この場合、必要なVREF を生成するトランジスタが
選択されてトランジスタ28として動作する。その他の
トランジスタは動作しないように構成される。
【0029】図6において、Pチャネル調整用トランジ
スタ50,52,54,56のソース電極は接続点26
に接続される。調整用トランジスタ50,52,54,
56のゲート電極及びドレイン電極は、それぞれNチャ
ネルトランジスタ58,60,62,64のドレイン電
極に接続されている。トランジスタ58,60,62,
64のゲート電極は、それぞれ外部信号源(図示せず)
から供給される信号A,B,C,Dが入力するように接
続されている。トランジスタ58,60,62,64の
ソース電極は第2電源電圧に接続されるのが良い。トラ
ンジスタ50,52,54,56のソース電極も、図6
に配線66で示すように基板に接続されている。
【0030】調整用トランジスタ50,52,54,5
6は次に示す式によって決まるチャネル長対チャネル幅
比を有すると良い。 Wn /Ln =Kn-1 (W1 /L1 ) (6) 但し、nは調整用トランジスタの数、Wn はトランジス
タnのチャネル幅、L n はトランジスタnのチャネル
長、Kは調整用トランジスタ間のチャネル長対チャネル
幅比の最小差を設定する定数、W1 /L1 は、他のチャ
ネル長対チャネル幅比を決める基準として使用されるト
ランジスタのチャネル長対チャネル幅比である。Kが大
きいとVREF の変化範囲を広くカバーするが、VREF
小刻みに増やすことができないので調整はかなり粗くな
る。故に、Kはできるだけ小さく、しかしVREF の最悪
の変化をカバーするために十分な大きさを有するように
選択しなければならない。
【0031】VREF の調整を図6に基づいて説明する。
この場合、トランジスタ58,60,62,64にそれ
ぞれ信号A,B,C,Dが入力されると、各トランジス
タはONになる。一旦ONとなると、トランジスタ5
8,60,62,64は、接続点26から各トランジス
タ50,52,54,56を介して第2電源電圧(VS
S)に至る電流路を形成する。信号A,B,C,Dの様
々な組合せによって起動される調整用トランジスタ5
0,52,54,56によって、接続点26での種々な
電圧降下が生じ、所望レベルのVREF が生成される。
【0032】信号A,B,C,Dの組合せを選択する
と、選択された信号A,B,C,Dの組合せを保持する
ために適宜のヒューズ回路がチップ上に構成される。他
のタイプの回路を使って、選択された組合せを恒久的に
導通状態とすることもできる。当業者においては、図6
で使用したPチャネルまたはNチャネルトランジスタを
他のタイプのトランジスタに容易に置換できる。図6で
使用された調整用トランジスタの数は一例であって、使
用される調整用トランジスタの数は、VREF の調整に必
要とされる精度や、VT やその他のプロセスパラメータ
の変化から予測されるVREF の変化範囲に依存する。
【0033】また、当業者においては、抵抗器14,2
4を、抵抗として機能する他の部品に置換することもで
きる。トランジスタは一例である。上記説明は本発明の
適宜の実施例に関するものであり、本発明においては、
請求項に示す範囲から逸脱することなく数々の変形例や
適用例が導出される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す回路構成図である。
【図2】図1に示す回路の詳細図である。
【図3】図1に示す回路のVCCの変化に対する基準電圧
の安定性を示すグラフである。
【図4】適宜にバイアスされVDS(ソース・ドレイン間
電圧)がある温度範囲に亘ってほぼ同一となる図1に示
すPチャネルトランジスタのバイアス領域を示すグラフ
である。
【図5】従来の基準電圧発生器の構成図である。
【図6】図2に示すトランジスタのVREF の調整回路の
構成図である。
【符号の説明】
2 定電流源 4 接続点 6 トランジスタ 8 接続点 12 第1接続点 14 第1抵抗素子 16 第1トランジスタ 18 第2トランジスタ 20 第2接続点 22 第3接続点 24 第2抵抗素子 26 第4接続点 28 第3トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル ブイ. コードバ アメリカ合衆国 コロラド州 80906 コロラドスプリングス #337 クアイ ル レイク ロード 3388 (72)発明者 キム シー. ハーディー アメリカ合衆国 コロラド州 80920 コロラドスプリングス キット カーソ ン レーン 9760 (72)発明者 ダクラス ビー. バトラー アメリカ合衆国 コロラド州 80919 コロラドスプリングス デルモニコ ド ライブ 7335 (56)参考文献 特開 昭52−81548(JP,A) 特開 平2−103611(JP,A) 特開 昭56−143022(JP,A) 特開 昭57−206939(JP,A) 特開 平6−132739(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G05F 3/00 H01L 27/04 G11C 11/34

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1電源電圧が印加される第1接続点
    と、 前記第1電源電圧が印加される第1電極と第2接続点に
    接続された第2電極とを有する第1抵抗素子と、 前記第1接続点に接続された第1電極と第3接続点に接
    続された第2電極と前記第2接続点に接続された制御電
    極とを有する第1トランジスタと、 前記第2接続点に接続された第1電極と第4接続点に接
    続された第2電極と前記第3接続点に接続された制御電
    極とを有する第2トランジスタと、 前記第3接続点に接続された第1電極と第2電源電圧に
    接続された第2電極とを有する第2抵抗素子と、 前記第4接続点に接続された第1電極と前記第2電源
    電圧に接続された第2電極及び制御電極とを有し、飽和
    状態で動作する第3トランジスタとを有し、 基準電圧が前記第4接続点から出力されることを特徴と
    する基準電圧発生器。
  2. 【請求項2】 前記第1、第2、及び第3トランジスタ
    はPチャネル電界効果型トランジスタであることを特徴
    とする請求項1記載の基準電圧発生器。
  3. 【請求項3】 前記第1、第2及び第3トランジスタの
    前記第1電極の各々と各基板とは等電位であることを特
    徴とする請求項1記載の基準電圧発生器。
  4. 【請求項4】 前記第1及び第2抵抗素子は負の温度係
    数を有していることを特徴とする請求項1記載の基準電
    圧発生器。
  5. 【請求項5】 前記第1、第2及び第3トランジスタの
    各々はチャネルを有し、前記第1トランジスタの前記チ
    ャネルは、前記第2及び第3トランジスタの前記チャネ
    ルよりも大きいチャネル長対チャネル幅比を有すること
    を特徴とする請求項1記載の基準電圧発生器。
  6. 【請求項6】 前記第3トランジスタは、前記第4接続
    点に並列に接続された複数のトランジスタから選択され
    ることを特徴とする請求項1記載の基準電圧発生器。
  7. 【請求項7】 第1電源電圧及び第2電源電圧に各々が
    接続された第1及び第2電流路と、 前記第2電流路に接続された出力部とを有し、 前記第1電流路は、直列に接続された第1接続点、第1
    トランジスタのソース・ドレイン間の電流路、第3接続
    点、及び第2抵抗を含み、 前記第2電流路は、直列に接続された第1抵抗、第2接
    続点、第2トランジスタのソース・ドレイン間の電流
    路、第4接続点、及び第3トランジスタのソース・ドレ
    イン間の電流路を含み、 前記第1トランジスタのゲート電極は前記第2接続点に
    接続され、 前記第2トランジスタのゲート電極は前記第3接続点に
    接続され、 前記出力部が前記第4接続点に接続されていることを特
    徴とする集積回路用基準電圧発生器。
  8. 【請求項8】 前記トランジスタはPチャネルFETを
    含むことを特徴とする請求項7記載の集積回路用基準電
    圧発生器。
  9. 【請求項9】 前記トランジスタのすべてがPチャネル
    FETであることを特徴とする請求項7記載の集積回路
    用基準電圧発生器。
  10. 【請求項10】 前記Pチャネルトランジスタの各々
    は、基板または前記トランジスタを含む領域に接続され
    たソース電極を有することを特徴とする請求項9記載の
    集積回路用基準電圧発生器。
  11. 【請求項11】 前記第3トランジスタはゲート電極と
    ドレイン電極とを有し、前記電極同士は共に短絡されて
    いることを特徴とする請求項7記載の集積回路用基準電
    圧発生器。
  12. 【請求項12】 前記第3トランジスタは、キャリヤの
    移動度及びしきい値電圧が自己補償されで前記基準電圧
    が温度変化によって殆ど変化しない領域にて動作される
    ことを特徴とする請求項7記載の集積回路用基準電圧発
    生器
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102662427A (zh) * 2012-05-25 2012-09-12 中国科学院微电子研究所 一种电压源电路

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2799535B2 (ja) * 1992-10-16 1998-09-17 三菱電機株式会社 基準電流発生回路
US5345195A (en) * 1992-10-22 1994-09-06 United Memories, Inc. Low power Vcc and temperature independent oscillator
US5614815A (en) * 1994-03-10 1997-03-25 Fujitsu Limited Constant voltage supplying circuit
US5892249A (en) * 1996-02-23 1999-04-06 National Semiconductor Corporation Integrated circuit having reprogramming cell
US5877616A (en) * 1996-09-11 1999-03-02 Macronix International Co., Ltd. Low voltage supply circuit for integrated circuit
WO1998011660A1 (en) * 1996-09-11 1998-03-19 Macronix International Co., Ltd. Low voltage supply circuit
US5889394A (en) * 1997-06-02 1999-03-30 Motorola Inc. Temperature independent current reference
US5977832A (en) * 1997-12-18 1999-11-02 Philips Electronics North America Corporation Method of biasing an MOS IC to operate at the zero temperature coefficient point
JP3244057B2 (ja) 1998-07-16 2002-01-07 日本電気株式会社 基準電圧源回路
JP2000155620A (ja) * 1998-11-20 2000-06-06 Mitsubishi Electric Corp 基準電圧発生回路
US6612737B1 (en) * 1999-12-29 2003-09-02 Affymetrix, Inc. System and method for self-calibrating measurement
JP3575453B2 (ja) * 2001-09-14 2004-10-13 ソニー株式会社 基準電圧発生回路
EP1315063A1 (en) 2001-11-14 2003-05-28 Dialog Semiconductor GmbH A threshold voltage-independent MOS current reference
JP2004318235A (ja) * 2003-04-11 2004-11-11 Renesas Technology Corp 基準電圧発生回路
US7042205B2 (en) * 2003-06-27 2006-05-09 Macronix International Co., Ltd. Reference voltage generator with supply voltage and temperature immunity
US6982883B2 (en) 2004-03-22 2006-01-03 Summer Steven E Radiation tolerant electrical component with non-radiation hardened FET
DE102005043376B4 (de) 2005-09-12 2013-08-01 Austriamicrosystems Ag Oszillatoranordnung und Verfahren zum Erzeugen eines periodischen Signals
KR100738957B1 (ko) * 2005-09-13 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 집적회로의 내부전압 발생장치
US7679352B2 (en) * 2007-05-30 2010-03-16 Faraday Technology Corp. Bandgap reference circuits
US7990128B2 (en) * 2008-04-25 2011-08-02 Infineon Technologies Ag Circuit and method for pulling a potential at a node towards a feed potential
EP2256578A1 (fr) * 2009-05-15 2010-12-01 STMicroelectronics (Grenoble 2) SAS Régulateur de tension à faible tension de dechet et faible courant de repos
US8669808B2 (en) * 2009-09-14 2014-03-11 Mediatek Inc. Bias circuit and phase-locked loop circuit using the same
US8878511B2 (en) * 2010-02-04 2014-11-04 Semiconductor Components Industries, Llc Current-mode programmable reference circuits and methods therefor
US8188785B2 (en) 2010-02-04 2012-05-29 Semiconductor Components Industries, Llc Mixed-mode circuits and methods of producing a reference current and a reference voltage
US8680840B2 (en) * 2010-02-11 2014-03-25 Semiconductor Components Industries, Llc Circuits and methods of producing a reference current or voltage
TW201217934A (en) * 2010-10-29 2012-05-01 Nat Univ Chung Cheng Programmable low dropout linear regulator
US8351291B2 (en) * 2011-05-06 2013-01-08 Freescale Semiconductor, Inc Electrically programmable fuse module in semiconductor device
US8866536B1 (en) 2013-11-14 2014-10-21 United Microelectronics Corp. Process monitoring circuit and method
CN106782333B (zh) * 2017-02-23 2018-12-11 京东方科技集团股份有限公司 Oled像素的补偿方法和补偿装置、显示装置
CN109582076B (zh) * 2019-01-09 2023-10-24 上海晟矽微电子股份有限公司 基准电流源
CN114253342A (zh) * 2022-01-26 2022-03-29 北京信息科技大学 稳压电路和放大电路

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1131497A (en) * 1965-11-04 1968-10-23 Hawker Siddeley Dynamics Ltd Improvements relating to reference voltage circuits
US3828241A (en) * 1971-07-30 1974-08-06 Sony Corp Regulated voltage supply circuit which compensates for temperature and input voltage variations
FR2315811A1 (fr) * 1975-06-27 1977-01-21 Labo Cent Telecommunicat Dipole electronique pour le bouclage d'une ligne telephonique
US4009432A (en) * 1975-09-04 1977-02-22 Rca Corporation Constant current supply
JPS61103223A (ja) * 1984-10-26 1986-05-21 Mitsubishi Electric Corp 定電圧発生回路
JPS62188255A (ja) * 1986-02-13 1987-08-17 Toshiba Corp 基準電圧発生回路
US4686449A (en) * 1986-04-07 1987-08-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy JFET current source with high power supply rejection
JP2809768B2 (ja) * 1989-11-30 1998-10-15 株式会社東芝 基準電位発生回路
US5121049A (en) * 1990-03-30 1992-06-09 Texas Instruments Incorporated Voltage reference having steep temperature coefficient and method of operation
US5117177A (en) * 1991-01-23 1992-05-26 Ramtron Corporation Reference generator for an integrated circuit
US5134310A (en) * 1991-01-23 1992-07-28 Ramtron Corporation Current supply circuit for driving high capacitance load in an integrated circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102662427A (zh) * 2012-05-25 2012-09-12 中国科学院微电子研究所 一种电压源电路

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