JP2715920B2 - 多層配線基板およびその製造方法 - Google Patents

多層配線基板およびその製造方法

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JP2715920B2
JP2715920B2 JP6172539A JP17253994A JP2715920B2 JP 2715920 B2 JP2715920 B2 JP 2715920B2 JP 6172539 A JP6172539 A JP 6172539A JP 17253994 A JP17253994 A JP 17253994A JP 2715920 B2 JP2715920 B2 JP 2715920B2
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圭一 岡田
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NEC Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は多層配線基板およびその
製造方法に関し、特に上層の配線と下層の配線との接続
部分を設定した多層配線基板およびその製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】上層の配線と下層の配線とを接続する技
術の一例が特開平2−128448号公報に開示されて
いる。この公報記載の配線形成方法では、所定の位置に
下層の配線接続のためのビアホールを有する絶縁膜上全
面に形成された金属薄膜全面にポジ型液状感光性レジス
トが塗布・乾燥される。次に、所定のマスクを通して露
光・現像され上層の配線部分のレジストが除去される。
さらに、所定のマスクを通して上層の配線部分が露光・
現像され、ポジ型レジストが除去されて金属薄膜が露出
される。露出された金属薄膜上に電解めっきにより配線
導体が形成される。次に、ネガ型レジストが除去されて
金属薄膜が露出される。さらに、露出された金属薄膜が
エッチングにより除去される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の配線形成方
法における下層配線と上層配線との接続は、接続層に形
成されたビアホールを介して行なわれる。
【0004】このビアホールの底の一辺を分母にし深さ
を分子にした縦横(アスペクト)比が高くなると、ビア
ホールの内壁に上層配線が付着しにくくなる。またビア
ホールの縦横(アスペクト)比が高くなると、フォトレ
ジストがビアホールの底に残り、このため上層配線と下
層配線との接続状態が悪化する。この結果、配線の断線
等が発生しやすく電気的接続信頼性が低下するという問
題点がある。
【0005】本発明の目的は、配線の電気的接続信頼性
を向上するようにした多層配線基板およびその製造方法
を提供することにある。
【0006】本発明の他の目的はビアホールのアスペク
ト比を小さくするようにした多層配線基板およびその製
造方法を提供することにある。
【0007】本発明の他の目的は上層配線層のビアホー
ルの内壁および下層配線層に対する接着状態を良好にす
るようにした多層配線基板およびその製造方法を提供す
ることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の多層配線
基板は、基板と、この基板上に形成されたパッドと、こ
のパッドを覆うように前記基板上に形成された第1の
線層と、この第1の配線層に積層されるとともに該第1
の配線層の前記パッドを覆う部分にビアホール形成さ
れた絶縁層と、この絶縁層のビアホールに前記第1の
線層と電気的に接続するように形成された第2の配線層
とを含む。
【0009】本発明の第2の多層配線基板は、第1の多
層配線基板において前記上層配線層および前記上層配線
層の上に形成されるべき配線層の電気的接続の得られる
部分の下でかつ前記絶縁層と前記上層配線層との間にパ
ッドを形成することを特徴とする。
【0010】本発明の第1の多層基板の製造方法は、下
層配線層と上層配線層との電気的接続部分の下に担当す
る基板上の位置にパッドを形成する第1の工程と、この
第1の工程でパッドを形成した基板の上に前記パッドを
覆うように前記下層配線層を形成する第2の工程とを含
む。
【0011】本発明の第2の多層配線基板の製造方法
は、第1の多層配線基板の製造方法における前記第2の
工程で形成された下層配線層のうち前記パッドを覆う部
分をビアホールとする絶縁層を形成する第3の工程と、
この第3の工程で形成された絶縁層の前記ビアホールに
前記下層配線層と電気的に接続するように前記上層配線
層を形成する第4の工程とを含む。
【0012】本発明の第3の多層配線基板の製造方法
は、第1の多層配線基板の製造方法における前記2の工
程で形成された下層配線層のうち前記パッドを覆う部分
をビアホールとする絶縁層を形成する第3の工程と、前
記上層配線層と前記上層配線層の上に形成されるべき配
線層との電気的接続部分の下に相当する、前記第3の工
程で形成された前記絶縁層の上にパッドを形成する第4
の工程と、この第4の工程で形成されたパッドの上に前
記上層配線層を形成する第5の工程とを含む。
【0013】
【実施例】次に本発明の一実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。
【0014】まず、本発明の第1の実施例について図面
を参照して詳細に説明する。
【0015】図1を参照すると、本発明の第1の実施例
は、導体層および絶縁層を交互に積層した多層配線基板
1と、上層配線層6と下層配線層3との接着場所の下に
絶縁ペーストや絶縁樹脂のような絶縁材料または導体ペ
ーストのような導体材料で形成された凸状のパッド2,
このパッド2を覆うように導体材料で形成された下層配
線層3,上層配線層6との接着場所を除いた下層配線層
3上の面に絶縁樹脂のような絶縁材料で形成された絶縁
層4,およびビアホール5を形成する位置に下層配線層
3と電気的接続が十分得られるように下層配線層3およ
び絶縁層4上の所定の位置に導体材料で形成された上層
配線層6を含む。
【0016】次に本発明の第1の実施例の製造方法につ
いて図面を参照して詳細に説明する。
【0017】図2(A)を参照すると、多層配線基板1
上の、上層配線層6と下層配線層3との接着場所の下に
相当する位置に、絶縁ペーストで凸状の絶縁パッド2が
形成される。このパッド2は、絶縁樹脂や導体ペースト
で形成されてもよい。
【0018】図2(B)を参照すると、絶縁パッド2を
形成した基板1上にスパッタリング法等により金属薄膜
が形成されたあと、フォトレジストが塗布され乾燥され
る。所定のマスクが使用されて露光,現像されたあと、
電解めっきにより下層配線3が形成される。図2(B)
には、フォトレジストの剥離後,金属薄膜のエッチング
で除去された状態が示されている。
【0019】絶縁パッド2があるため、絶縁パッド2の
ある部分の下層配線層3の膜厚が絶縁パッド2の厚さの
分だけ高くなる。
【0020】図2(C)を参照すると、図2(B)に示
された状態の基板1の上に絶縁樹脂が塗布され、乾燥さ
れ絶縁膜4が形成される。ビアホール5を形成する位置
に相当する部分の下層配線層3が高くなっているため、
その部分の絶縁膜4の厚さは、他の部分の絶縁膜4の厚
さに比較して薄くなっている。この結果、本発明の第1
の実施例はアスペクト比の小さいビアホールを形成する
ことができる。
【0021】図2(D)を参照すると、図2(C)に示
された状態の基板1上にスパッタリング法等により金属
薄膜が形成されたあと、フォトレジストが塗布され乾燥
される。所定のマスクが使用されて露光,現像されたあ
と、電解めっきにより上層配線層6が形成される。図2
(D)には、フォトレジストの剥離後,金属薄膜のエッ
チングで除去された状態が示されている。
【0022】次に本発明の第2の実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
【0023】図3を参照すると、本発明の第1の実施例
に対する第2の実施例の特徴は、基板1上に形成された
第1の凸状のパッド2の他、絶縁層4上に第2の凸状の
パッド7を設けたことにある。この第2の凸状のパッド
7の絶縁層4上の形成位置は、上層配線層6とさらにこ
の層6の上に電気的接続をもつさらなる上層配線層(図
示せず)との電気的接続部分の下に相当する。
【0024】本発明の第2の実施例は、下層配線層3,
絶縁層4および第2の凸状のパッド7の上に上層配線層
6が形成される。
【0025】次に本発明の第2の実施例の製造方法につ
いて図面を参照して詳細に説明する。
【0026】図4(A)を参照すると、多層配線基板1
上の、上層配線層6と下層配線層3との接着場所の下に
相当する位置に、絶縁ペーストで凸状の絶縁パッド2が
形成される。このパッド2は絶縁樹脂や導体ペーストで
形成されてもよい。
【0027】図4(B)を参照すると、絶縁パッド2を
形成した基板1上にスパッタリング法等により金属薄膜
が形成されたあと、フォトレジストが塗布され乾燥され
る。所定のマスクが使用されて露光,現像されたあと、
電解めっきにより下層配線3が形成される。図4(B)
には、フォトレジストの剥離後、金属薄膜のエッチング
で除去された状態が示されている。
【0028】絶縁パッド2があるため、絶縁パッド2の
ある部分の下層配線層3の膜厚が絶縁パッド2の厚さの
分だけ高くなる。
【0029】図4(C)を参照すると、図4(B)に示
された状態の基板1の上に絶縁樹脂が塗布され、乾燥さ
れ絶縁膜4が形成される。ビアホール5を形成する位置
に相当する部分の下層配線層3が高くなっているため、
その部分の絶縁膜4の厚さは、他の部分の絶縁膜4の厚
さに比較して薄くなっている。この結果、本発明の第1
の実施例はアスペクト比の小さいビアホールを形成する
ことができる。
【0030】図4(D)を参照すると、本発明の第2の
実施例の特徴であるステップが示されている。すなわ
ち、上層配線層6を形成する前に、上層配線層6とさら
にこの層6の上に電気的接続をもつさらなる上層配線層
(図示せず)との電気的接続部分の下に相当する絶縁層
4上の位置に凸状の絶縁パッド2が再び形成される。
【0031】図4(E)を参照すると、図4(D)に示
された状態の基板1上にスパッタリング法等により金属
薄膜が形成されたあと、フォトレジストが塗布され、乾
燥される。所定のマスクが使用されて露光,現像された
あと、電解めっきにより上層配線層6が形成される。図
4(D)にはフォトレジストの剥離後、金属薄膜のエッ
チングで除去された状態が示されている。
【0032】
【発明の効果】本発明は、上層配線層6と下層配線層3
との電気的接続部分の下に絶縁パッド2を基板1上に形
成するため、ビアホール5を形成する位置に相当する部
分の下層配線層3が高くなる。
【0033】このため、その部分の絶縁膜4の厚さは、
他の部分の絶縁膜4の厚さに比較して薄くなる。
【0034】この結果、本発明は、アスベクト比の小さ
なビアホールを形成することができる。
【0035】本発明は、ビアホールのアスペクト比を小
さくできるため、上層配線層6をビアホール5の内壁お
よび下層配線層3に接続しやすくすることができる。
【0036】この結果、本発明は、配線の電気的接続信
頼性を向上できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】(A)〜(D)は、本発明の第1の実施例の製
造方法を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例を示す図である。
【図4】(A)〜(E)は、本発明の第2の実施例の製
造方法を示す図である。
【符号の説明】
1 多層配線基板 2 凸状のパッド 3 下層配線層 4 絶縁層 5 ビアホール 6 上層配線層 7 凸状のパッド

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、 この基板上に形成されたパッドと、 このパッドを覆うように前記基板上に形成された第1の
    配線層と、 この第1の配線層に積層されるとともに該第1の配線層
    前記パッドを覆う部分にビアホール形成された絶縁
    層と、 この絶縁層のビアホールに前記第1の配線層と電気的に
    接続するように形成された第2の配線層とを含むことを
    特徴とする多層配線基板。
  2. 【請求項2】 前記基板上に形成されたパッドを第1の
    パッドとし、 前記第2の配線層と前記第2の配線層の上に形成される
    べき配線層の電気的接続部分の下でかつ前記絶縁層と前
    第2の配線層との間に第2のパッドを形成することを
    特徴とする請求項1記載の多層配線基板。
  3. 【請求項3】 下層配線層と上層配線層との電気的接続
    部分の下に相当する基板上の位置にパッドを形成する第
    1の工程と、 この第1の工程でパッドを形成した前記基板の上に前記
    パッドを覆うように前記下層配線層を形成する第2の工
    程とを含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法。
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