JPS6359535B2 - - Google Patents
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- JPS6359535B2 JPS6359535B2 JP55090129A JP9012980A JPS6359535B2 JP S6359535 B2 JPS6359535 B2 JP S6359535B2 JP 55090129 A JP55090129 A JP 55090129A JP 9012980 A JP9012980 A JP 9012980A JP S6359535 B2 JPS6359535 B2 JP S6359535B2
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- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 16
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 238000012407 engineering method Methods 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910015363 Au—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000010019 resist printing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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-
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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-
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- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、IC,LSI等の電子部品を、厚膜、薄
膜導体及び絶縁層から成る金属板をベースとした
配線基板上に1個又は複数個搭載してなる部品搭
載基板に関するものである。
膜導体及び絶縁層から成る金属板をベースとした
配線基板上に1個又は複数個搭載してなる部品搭
載基板に関するものである。
従来、放熱性の向上を企図して使用されている
金属板をベースとした部品搭載基板においては、
金属板上の絶縁層にデバイスを取り付け、ワイヤ
ーボンド等によりその絶縁層上の配線と通電回路
を形成しているのが一般的である。第1図にこの
1例を示す。第1図の構造は金属板11上に絶縁
層12を層設し、この絶縁層12上に配線パター
ン13とデバイス14を配設し、デバイス14と
配線パターン13をワイヤーで接続したものであ
る。この構造に於いては、金属板を用いていると
いえども絶縁物上にデバイス14を取り付ける
為、絶縁物の熱抵抗が大きく放熱性の低下をきた
すとともに部品搭載基板全体の厚さは主に金属板
11の厚さとデバイス14の厚さの和によつて決
定され、薄膜等の材料厚を薄くしても飛躍的に部
品搭載基板全体の薄型化を図ることは困難であ
る。
金属板をベースとした部品搭載基板においては、
金属板上の絶縁層にデバイスを取り付け、ワイヤ
ーボンド等によりその絶縁層上の配線と通電回路
を形成しているのが一般的である。第1図にこの
1例を示す。第1図の構造は金属板11上に絶縁
層12を層設し、この絶縁層12上に配線パター
ン13とデバイス14を配設し、デバイス14と
配線パターン13をワイヤーで接続したものであ
る。この構造に於いては、金属板を用いていると
いえども絶縁物上にデバイス14を取り付ける
為、絶縁物の熱抵抗が大きく放熱性の低下をきた
すとともに部品搭載基板全体の厚さは主に金属板
11の厚さとデバイス14の厚さの和によつて決
定され、薄膜等の材料厚を薄くしても飛躍的に部
品搭載基板全体の薄型化を図ることは困難であ
る。
本発明は上記問題点に鑑み、放熱性を向上させ
るとともに薄型化を可能とし、しかも金属板と接
続用リードのシヨート防止を達成した新規有用な
部品搭載基板を提供することを目的とするもので
ある。
るとともに薄型化を可能とし、しかも金属板と接
続用リードのシヨート防止を達成した新規有用な
部品搭載基板を提供することを目的とするもので
ある。
以下、本発明を実施例に従つて図面を参照しな
がら詳細に説明する。
がら詳細に説明する。
第2図は本発明の1実施例を示す部品搭載基板
の構成図である。第3図は第2図に示す部品搭載
基板の製造工程図である。以下、製造工程手順に
従つて本実施例を説明する。
の構成図である。第3図は第2図に示す部品搭載
基板の製造工程図である。以下、製造工程手順に
従つて本実施例を説明する。
第3図aに示す如く、洗浄されたAl,Cu等か
ら成る金属ベース板33上に、予めパンチング、
エツチング等によりデバイスホール部34を刳り
貫いた高絶縁性接着シート35(たとえば接着力
を有するポリアミドイミド、接着剤を塗布したポ
リイミドフイルム等)を配し第3図bに示す如
く、接着シート35上面(即ち後述する下部配線
形成面)を保護するために保護シート36を載置
し、弾性耐熱ゴム37を使用して、上下両側から
矢印の方向に加圧保温する。尚、高絶縁性接着シ
ート35の代わりに、液状若しくはペースト状の
絶縁性接着剤を印刷、ロールコータ等の手法で塗
布しても良い。この場合デバイスホール部34の
接着剤はとりのぞいておく。以上の工程を経て第
3図cに示す如く、金属ベース板33上の一主面
にデバイスホール部34を有する接着シート35
が固着される。接着シート35は絶縁層として機
能し、そのフラツトネスは下部配線形成に有効で
ある。
ら成る金属ベース板33上に、予めパンチング、
エツチング等によりデバイスホール部34を刳り
貫いた高絶縁性接着シート35(たとえば接着力
を有するポリアミドイミド、接着剤を塗布したポ
リイミドフイルム等)を配し第3図bに示す如
く、接着シート35上面(即ち後述する下部配線
形成面)を保護するために保護シート36を載置
し、弾性耐熱ゴム37を使用して、上下両側から
矢印の方向に加圧保温する。尚、高絶縁性接着シ
ート35の代わりに、液状若しくはペースト状の
絶縁性接着剤を印刷、ロールコータ等の手法で塗
布しても良い。この場合デバイスホール部34の
接着剤はとりのぞいておく。以上の工程を経て第
3図cに示す如く、金属ベース板33上の一主面
にデバイスホール部34を有する接着シート35
が固着される。接着シート35は絶縁層として機
能し、そのフラツトネスは下部配線形成に有効で
ある。
その後この接着シート35をマスクとしてデバ
イスホール部34の金属板33をエツチングしデ
バイスホール34を形成する。この状態を第3図
dに示す。この状態は高絶縁性接着シート35を
マスクにしてデバイスホール34のエツチングを
行うと同時に、エツチング時に生じるデバイスホ
ール内のエーバーエツチにより、上記絶縁物35
が、残ることを利用し第3図d′の如く金属基板
(デバイスホールエツジ)と接続用リード40
(ワイヤーボンドも含む)のシヨート防止が可能
となる。
イスホール部34の金属板33をエツチングしデ
バイスホール34を形成する。この状態を第3図
dに示す。この状態は高絶縁性接着シート35を
マスクにしてデバイスホール34のエツチングを
行うと同時に、エツチング時に生じるデバイスホ
ール内のエーバーエツチにより、上記絶縁物35
が、残ることを利用し第3図d′の如く金属基板
(デバイスホールエツジ)と接続用リード40
(ワイヤーボンドも含む)のシヨート防止が可能
となる。
次に、接着シート35上にイオン工学的手法
(蒸着法、スパツタリング法から成る下部配線3
8を形成する。この下部配線38の配線パターン
形成法としては次の(1),(2),(3)に示す方法が実施
に供される。
(蒸着法、スパツタリング法から成る下部配線3
8を形成する。この下部配線38の配線パターン
形成法としては次の(1),(2),(3)に示す方法が実施
に供される。
(1) 下部配線材料を全面デポジシヨン後、レジス
ト塗布し、フオトエツチングを行なつて下部配
線38をパターン形成する方法。
ト塗布し、フオトエツチングを行なつて下部配
線38をパターン形成する方法。
(2) 最初にレジスト塗布し、フオトエツチングに
より下部配線38のパターンを形成した後、上
方より下部配線材料をデポジシヨンし、レジス
トを剥離するいわゆるリフト・オフ法。
より下部配線38のパターンを形成した後、上
方より下部配線材料をデポジシヨンし、レジス
トを剥離するいわゆるリフト・オフ法。
(3) 下部配線材料を全面デポジシヨン後配線の必
要な部分のみをレジスト印刷で被い、エツチン
グを行つて下部配線38をパターン形成する方
法。
要な部分のみをレジスト印刷で被い、エツチン
グを行つて下部配線38をパターン形成する方
法。
(1),(2)または(3)の方法によつて形成された下部
配線38の状態を第3図eに示す。
配線38の状態を第3図eに示す。
尚、イオン工学的手法によらず、金属箔を接着
シート35に付着させ、上記(1)又は(3)の方法にて
下部配線38を形成することも可能である。
シート35に付着させ、上記(1)又は(3)の方法にて
下部配線38を形成することも可能である。
次に本実施例では第3図fで示す如く、デバイ
スと基板の接続法としてテープキヤリヤデバイス
による半田付を採用しているため、接続部分に印
刷による半田を形成する。
スと基板の接続法としてテープキヤリヤデバイス
による半田付を採用しているため、接続部分に印
刷による半田を形成する。
本実施例ではデバイスホール38にフオーミン
グを行つていないフオーミングレステープキヤリ
ヤデバイス39をデバイス表面が基板上に現われ
ない状態に埋設し配線にフオーミングレスアウタ
ーリードボンデイングを行ない通電回路を構成す
る。この場合の接続法としては、熱圧着方式、
Au−Sn共晶方式等を採用しても良いが、これら
の場合にはリード材料と配線材料の組み合せを変
えれば良い。また、良好な放熱性を得たいならば
導電ペースト等でデバイスのダイボンドを行なつ
ても良い。デバイストしては、ワイヤーボンド、
ビームリードチツプ等を用いても良くデバイス数
は1個以上多数個であつても、まつたく同様であ
る。
グを行つていないフオーミングレステープキヤリ
ヤデバイス39をデバイス表面が基板上に現われ
ない状態に埋設し配線にフオーミングレスアウタ
ーリードボンデイングを行ない通電回路を構成す
る。この場合の接続法としては、熱圧着方式、
Au−Sn共晶方式等を採用しても良いが、これら
の場合にはリード材料と配線材料の組み合せを変
えれば良い。また、良好な放熱性を得たいならば
導電ペースト等でデバイスのダイボンドを行なつ
ても良い。デバイストしては、ワイヤーボンド、
ビームリードチツプ等を用いても良くデバイス数
は1個以上多数個であつても、まつたく同様であ
る。
以上の内容は、単層配線だけについて述べてい
るが上下に多層化された配線を含む多層配線構造
のものについても本発明は実施可能である。
るが上下に多層化された配線を含む多層配線構造
のものについても本発明は実施可能である。
以上詳説した如く本発明は、高絶縁性接着シー
トをマスクとして金属板上のデバイスホールのエ
ツチングを行なうと共に、そのエツチング時に生
じるデバイスホール内のオーバエツチにより絶縁
物(高絶縁性接着シート)が残り、高絶縁性接着
シートのマスクとしてのホールパターンがデバイ
スホールより小さくなることを利用して金属基板
と接続用リードのシヨートを防止することを利点
とする部品搭載用基板である。
トをマスクとして金属板上のデバイスホールのエ
ツチングを行なうと共に、そのエツチング時に生
じるデバイスホール内のオーバエツチにより絶縁
物(高絶縁性接着シート)が残り、高絶縁性接着
シートのマスクとしてのホールパターンがデバイ
スホールより小さくなることを利用して金属基板
と接続用リードのシヨートを防止することを利点
とする部品搭載用基板である。
また、本発明は、従来の形成方法と比較して放
熱性の向上、薄型化を可能にし、しかも工程の簡
略化が図れ、コスト面でも優れている。
熱性の向上、薄型化を可能にし、しかも工程の簡
略化が図れ、コスト面でも優れている。
第1図は従来の部品搭載用基板の構成図であ
る。第2図は本発明の基調となる部品搭載用基板
の構成図である。第3図a,b,c,d,e,f
は第2図に示す部品搭載用基板の製造工程図であ
る。 33:銭属板、34:デバイスホール、35:
高絶縁性接着シート、38:下部配線、39:デ
バイス、40:接続用リード。
る。第2図は本発明の基調となる部品搭載用基板
の構成図である。第3図a,b,c,d,e,f
は第2図に示す部品搭載用基板の製造工程図であ
る。 33:銭属板、34:デバイスホール、35:
高絶縁性接着シート、38:下部配線、39:デ
バイス、40:接続用リード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 放熱機能を有する金属基板と、 該金属基板の一主面上に形成された部品埋設用
の凹部と、 前記金属基板の主面上に形成され、前記凹部の
端部に延出された絶縁層と、 該絶縁層上に選択的に形成された配線層と、 前記凹部内に固着され、前記配線層との間で電
気的に接続された部品と、を備えてなることを特
徴とする部品搭載基板。 2 金属基板の一主面上に部品搭載部を刳り貫い
た絶縁層を配し、該絶縁層をマスクとして前記金
属基板に部品搭載用の凹部を形成する工程と、前
記絶縁層上に配線層をパターン形成する工程と、
前記凹部に部品を埋設し、前記配線層と電気的に
接続する工程と、を具備して成る部品搭載基板の
製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9012980A JPS5715447A (en) | 1980-06-30 | 1980-06-30 | Production of substrate for carrying components |
US06/277,807 US4544989A (en) | 1980-06-30 | 1981-06-26 | Thin assembly for wiring substrate |
DE3125518A DE3125518C2 (de) | 1980-06-30 | 1981-06-29 | Verfahren zur Herstellung einer dünnen Verdrahtungsanordnung |
FR8112887A FR2485866B1 (fr) | 1980-06-30 | 1981-06-30 | Substrat de cablage mince |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9012980A JPS5715447A (en) | 1980-06-30 | 1980-06-30 | Production of substrate for carrying components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5715447A JPS5715447A (en) | 1982-01-26 |
JPS6359535B2 true JPS6359535B2 (ja) | 1988-11-21 |
Family
ID=13989893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9012980A Granted JPS5715447A (en) | 1980-06-30 | 1980-06-30 | Production of substrate for carrying components |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5715447A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3032071U (ja) * | 1996-06-05 | 1996-12-13 | スケーター株式会社 | 多目的な化粧用品収納テーブル |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61287129A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 電子素子用チツプキヤリア |
JPS61287128A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 電子素子用チツプキヤリア |
JPS6215882A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | 松下電工株式会社 | 電子素子用チツプキヤリア |
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