JP2692068B2 - 実装基板検査結果出力装置 - Google Patents

実装基板検査結果出力装置

Info

Publication number
JP2692068B2
JP2692068B2 JP62005273A JP527387A JP2692068B2 JP 2692068 B2 JP2692068 B2 JP 2692068B2 JP 62005273 A JP62005273 A JP 62005273A JP 527387 A JP527387 A JP 527387A JP 2692068 B2 JP2692068 B2 JP 2692068B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
control unit
processing
inspection
component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62005273A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63173488A (ja
Inventor
茂樹 小林
輝久 四ツ谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Priority to JP62005273A priority Critical patent/JP2692068B2/ja
Priority to US07/143,084 priority patent/US5093797A/en
Priority to DE3850889T priority patent/DE3850889T2/de
Priority to AT88100397T priority patent/ATE109571T1/de
Priority to EP88100397A priority patent/EP0277502B1/en
Publication of JPS63173488A publication Critical patent/JPS63173488A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2692068B2 publication Critical patent/JP2692068B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は、実装基板検査装置において被検査実装基板
上の実装部品の実装状態を検査した場合、その検査結果
を出力する実装基板検査結果出力装置に関する。 《従来の技術》 マウンタ等を用いて作成された実装基板を検査する実
装基板検査装置としては、従来、第17図に示すものが知
られている。 この図に示す実装基板検査装置は、部品1bが実装され
た被検査実装基板2bや、部品1aが実装された基準実装基
板2aを撮像するTVカメラ3と、このTVカメラ3によつて
得られた前記基準実装基板2aの画像(基準画像)から部
品1aの形状、位置、色などを抽出して、これを特徴デー
タとして記憶する特徴データ抽出・記憶部4と、この特
徴データ抽出・記憶部4に記憶されている特徴データに
基づいて前記TVカメラ3から供給される前記被検査実装
基板2bの画像(被検査画像)を検査して前記被検査実装
基板2b上に部品1bが全て有るかどうか、またこれらの部
品1bが位置ずれ等を起こしていないかどうかを判定する
判定部5と、この判定部5の判定結果を表示したり、プ
リントしたりするモニタ6とを備えて構成されている。 《発明が解決しようとする問題点》 ところでこのような従来の実装基板検査装置において
は、被検査実装基板2bの検査結果データをモニタ6によ
つて表示またはプリントアウトして実装不良部分を検査
・修正担当者に知らせ、実装不良箇所の点検および修正
を行なわせている。 しかしながら従来においては、部品識別番号(通し番
号、または部品種別ごとの番号)により実装不良箇所を
表示またはプリントアウトしていたので、数百個の部品
を搭載しているような基板を検査したり修正したりする
場合には、部品識別番号から直ちに実装不良箇所を見出
して点検・修正を行なうことが難しく、また時間も多く
必要であつた。 また1つの部品に対する部品識別番号と、この部品の
基板上の実装位置とを正しく関連づけて記憶することは
容易ではなく、記憶を完全なものとするためには、長時
間を要する上、記憶違いや、忘却による作業信頼性の低
下の危惧を常に伴つていた。 本発明は上記問題点に鑑み、検査・修理の担当者に部
品識別番号と、当該部品実装位置とを関連づけて記憶さ
せることなく、不良部品の位置を担当者に知らせること
ができる実装基板検査結果出力装置を提供ることを目的
としている。 《問題点を解決するための手段》 上記問題点を解決するために本発明による実装基板検
査結果出力装置は、被検査実装基板上の実装部品の実装
状態の検査結果を出力する実装基板検査結果出力装置に
おいて、前記基板上に実装される各部品の基板上におけ
る位置とその部品の形状とが2次元平面上に視覚的に判
別できるグラフィックイメージに関するデータを記憶す
るグラフィックイメージ記憶手段と、前記検査結果を記
憶する検査結果記憶手段と、前記グラフィックイメージ
記憶手段に記憶されているグラフィックイメージに関す
るデータと前記検査結果記憶手段に記憶されている検査
結果とから、実装不良として判定された部品が前記グラ
フィックイメージ上のどの部品であるのかを視覚的に識
別できるようイメージ出力する出力手段とを有すること
を特徴とする。 《実施例》 第1図は本発明の一実施例を採用した実装基板検査装
置を示すブロツク図である。 この図に示す実装基板検査装置は、X−Yテーブル部
18と、照明部19と、撮像部20と、処理部21とを備えてお
り、テイーチング基板(部品27a部分が白く、それ以外
の部分が黒く塗装された実装基板)23と、基準実装基板
24と、未実装基板25とを撮像し、これによつて得られた
画像から検査データフアイルを作成する。この後、この
検査データフアイルに基づいて被検査実装基板26を撮像
して得られた画像を検査し、この被検査実装基板26上に
部品27dが正しく実装されているかどうか判定する。 照明部19は、前記処理部21からの制御信号に基づいて
オン/オフ制御(または、調光制御)されるリング状の
白色光源22を備えており、前記処理部21から照明オン信
号を供給されたときに点灯して、前記処理部21から照明
オフ信号を供給されるまで前記X−Yテーブル部18の上
面側を照明する。 X−Yテーブル部18は、第2図に示す如く基台63と、
この基台63上に設けられるX−Yテーブル機構64と、こ
のX−Yテーブル機構64の一端側に設けられるローダ65
と、前記X−Yテーブル機構64の他端側に設けられるア
ンローダ66とを備えており、ローダ65の導入端側から各
基板23〜26が差し込まれたとき、これらを取り込むとと
もに、これら各基板23〜26をX−Y方向にステツプ移動
させながら撮像部20によつてこれらの各基板23〜26を必
要回数だけ撮像させた後、次段の装置(図示略)側に供
給する。 この場合、ロータ65は、第3図(A)、(B)に示す
如く等間隔で切れ目が入れられたガイド部85を有する無
端ベルト(材質は、ポリウレタンなど)86およびこの無
端ベルト86を案内するガイド部87を備えた搬送ベルト機
構73と、前記処理部21からの制御信号に基づいて搬送ベ
ルト機構73を駆動する可逆転モータ74とを備えており、
その導入端側から差し込まれた各基板23〜26をX−Yテ
ーブル機構64に供給したり、このX−Yテーブル機構64
から戻された各基板23〜26を一時的にストツクしたりす
る。 またX−Yテーブル機構64は、前記基台63上に設けら
れるX位置決め部80と、このX位置決め部80上に設けら
れるY位置決め部81と、このY位置決め部81上に設けら
れる搬送部82とを備えている。 X位置決め部80は、前記基台63上に配置される2本の
ガイドレール67と、これらのガイドレール67によつてX
方向に移動自在に支持されるXテーブル68と、前記処理
部21からの制御信号に基づいてこのXテーブル68を駆動
するXパルスモータ31aとを備えている。 またY位置決め部81は、前記Xテーブル68上に配置さ
れる2本のガイドレール69と、これらのガイドレール69
によってY方向に移動自在に指示されるYテーブル70
と、前記処理部21からの制御信号に基づいてこのYテー
ブル70を駆動するYパルスモータ31bを備えている。 また搬送部82は、前記ローダ65の搬送ベルト機構73と
同様に構成される搬送ベルト機構71と、前記処理部21か
らの制御信号に基づいてこの搬送ベルト機構71を駆動す
る可逆転モータ72と、前記搬送ベルト機構71によつて取
り込まれた各基板23〜26を所定位置で停止させたりする
出没自在なストツパ機構77と、前記搬送ベルト機構71に
よつて各基板23〜26が取り込まれたときに、これを検知
するセンサ78と、前記搬送ベルト機構71によって取り込
まれた各基板23〜26を固定する出没自在な位置決めピン
機構79とを備えている。 そして、前記ローダ65やアンローダ66から各基板23〜
26を供給されたとき、これを搬送ベルト機構71によつて
受取り、この後各パルスモータ31a、31bによつてこれら
の各基板23〜26を撮像部20の下方まで移動させて、撮像
させる。そしてこの撮像動作が終了すれば、搬送ベルト
機構71を元の位置に戻して、各基板23〜26をローダ65や
アンローダ66に移動させる。 アンローダ66は、前記ローダ65の搬送ベルト機構73と
同様に構成される搬送ベルト機構75と、前記処理部21か
らの制御信号に基づいてこの搬送ベルト機構75を駆動す
る可逆転モータ76とを備えており、前記X−Yテーブル
機構64から供給された各基板23〜26を一時的にストツク
した後、これを前記X−Yテーブル機構64へ戻したり、
導出端側から搬出したりする。 また撮像部20は、前記照明部19の情報に設けられるカ
ラーTVカメラ34を備えており、前記各基板23〜26の光学
像は、このカラーTVカメラ34によつて電気画像(R、
G、Bカラー信号)に変換されて処理部21へ供給され
る。 処理部21は、A/D変換部36と、メモリ37と、テーブル3
8と、画像処理部39と、2つのモニタ40、43と、X−Y
ステージコントローラ41と、撮像コントローラ42と、プ
リンタ44と、キーボード45と、制御部(CPU)46とを備
えており、テイーチング時においては、前記撮像部20か
ら供給される各基板23〜25のR、G、Bカラー信号を処
理して、被検査実装基板26を検査するときの検査データ
フアイルを作成する。そして、検査時においては、前記
検査データフアイルに基づいて前記撮像部20から供給さ
れる被検査実装基板26のR、G、Bカラー信号を処理
し、この被検査実装基板26上に形成されているランド28
dと、部品27dとの相対的な位置が許容される範囲内にあ
るかどうかを判定して、この判定結果を表示したり、プ
リントしたり、フアイルしたりする。 A/D変換部36は、前記撮像部20から画像信号(R、
G、Bカラー信号)を供給されたときに、これをA/D変
換(アナログ・デジタル変換)したカラー画像データを
作成し、これを制御部46やモニタ40へ供給する。 またメモリ37は、半導体RAM(ランダム・アクセス・
メモリ)や、ハードデイスク等を備えて構成されえてお
り、前記制御部46の作業エリアとして使われて、被検査
実装基板26等の上に実装される各部品の基板上における
位置とその部品の形状とが2次元平面上に視覚的に判別
できるグラフィックイメージに関するデータを記憶する
グラフィックイメージ記憶手段と、実装基板検査装置に
よって得られた検査結果を記憶する検査結果記憶手段を
構成している。 また画像処理部39は、前記制御部46を介してカラー画
像データを供給されたとき、このカラー画像データを2
値化して部品の位置、形状データを抽出したり、前記カ
ラー画像データから必要なカラー画像を切り出したり、
この切り出したカラー画像を色相明度変換したり、この
色相明度変換結果を予め決められた閾値で2値化して、
ランドパターンの位置、形状等を抽出したりするように
構成されており、ここで得られた各データは前記制御部
46に供給される。 またテーブル38は、フロツピーデイスク装置等を備え
ており、前記制御部46から検査データフアイル等を供給
されたときに、これを記憶し、前記制御部46から転送要
求が出力したとき、この要求に応じて検査データフアイ
ル等を読み出して、これを前記制御部46に供給したりす
る。 また撮像コントローラ42は、前記制御部46と、前記照
明部19や撮像部20とを接続するインターフエース等を備
えており、前記制御部46の出力に基づいて前記照明部19
や撮像部20を制御する。 またX−Yステージコントローラ41は、前記制御部46
と、前記X−Yテーブル部18とを接続するインターフエ
ース等を備えており、前記制御部46の出力に基づいて前
記X−Yテーブル部18を制御する。 また一方のモニタ40は、ブラウン管(CRT)等を備え
ており、前記A/D変換部36から各基板23〜26のカラー画
像データを供給されたとき、これを画面上に表示させる
とともに、この状態で前記制御部46から部品輪郭枠デー
タ(画像処理枠データ)やペイント指令等を供給された
とき、第5図(B)に示す如くこの部品輪郭枠データに
よつて示される部品輪郭枠57を画面上に重ねて表示した
り、第5図(C)に示す如くペイント指令によつて指定
された部分(この場合、ランド28b部分)を指定された
色でペイントしたりする。 また他方のモニタ43は、第6図(A)に示す如く、そ
の画面が、基板全体の処理状況をグラフイツク表示する
グラフイツク表示エリア52と、オペレータに操作手順等
のメツセージを表示する操作手順指示エリア53と、基板
に関する各種のデータを表示する諸元表示エリア54と、
各種のエラーメツセージ等を表示するエラーメツセージ
エリア55とに分割されたブラウン管などを備えており、
前記制御部46からグラフイツク画像データ、操作手順指
示データ、諸元データ、判定結果、エラーデータ等を供
給されたとき、これを画面上の対応するエリアに表示さ
せる。 またプリンタ44は、前記制御部46から判定結果等を供
給されたとき、これを予め決められた書式(フォーマッ
ト)でプリントアウトする。 従って、このプリンタ44および前記モニタ40、43によ
り、制御部46から供給される判定結果に基づいて実装不
良として判定された部品がグラフィックイメージ上のど
の部品であるのかを視覚的に識別できるようイメージ出
力するようになっている。 またキーボード45は、操作情報や前記被検査実装基板
26の名称、基板サイズ等に関するデータ、この被検査実
装基板26上にある部品27dに関するデータなどを入力す
るのに必要な各種キーを備えており、このキーボード45
から入力された情報やデータ等は制御部46に供給され
る。 制御部46は、マイクロプロセツサ等を備えており、次
に述べるように動作する。 まず、新たな被検査実装基板26を検査するときには、
制御部46は第4図(A)に示すテイーチングフローチヤ
ートのステツプST1でモニタ43上の操作手順指示エリア5
3に基板名称(例えば基板の識別番号)と、基板サイズ
とを要求するメツセージを表示する。 そして、キーボード45からこれら基板名称と、基板サ
イズとが入力されれば、この後、制御部46はX−Yテー
ブル部18を正転させて搬送ベルト機構71上にテイーチン
グ基板23が載せられるまで待つ。そして、このテイーチ
ング基板23が載せられれば、制御部46はステツプST2で
X−Yテーブル部18を制御してカラーTVカメラ34の下方
にテイーチング基板23の第1処理エリアを配置させると
ともに、モニタ43上のグラフイツク表示エリア52に第6
図(A)に示す如く現在処理しているエリア(この場
合、第1処理エリア)の位置、形状等を示す処理枠56を
表示させる。 次いで制御部46は、カラーTVカメラ34にテイーチング
基板23の第1処理エリアを撮像させるとともに、これに
よつて得られたR、G、Bカラー画像信号をA/D変換部3
6でA/D変換させた後、このA/D変換結果(テイーチング
基板23のカラー画像データ)をメモリ37にリアルタイム
で記憶させる。 またこのとき、このA/D変換部36で得られたテイーチ
ング基板23のカラー画像データは、モニタ40に供給され
第5図(A)に示す如く表示される。 次いで制御部46は、ステツプST3で前記メモリ37に記
憶されているカラー画像データのR画素(または、G、
B画素)を順次読み出して、これを画素処理部39で2値
化させ、前記テイーチング基板23の白く塗られている部
分(部品27a部分)を抽出させた後、この抽出動作によ
つて得られた各部品27の位置データと、形状データとを
メモリ37に記憶させる。 この後、制御部46は、ステツプST4で前記メモリ37に
記憶されている各部品27aの位置データと、形状データ
とに基づいてモニタ43上のグラフイツク表示エリア52に
第6図(A)に示す如く部品27aの位置と、形状とを示
す部品輪郭枠57を表示させる。この結果、部品輪郭枠57
は、実装される部品の位置とティーチング基板23上にお
ける2次元平面の位置とが視覚的に対応づけられたレイ
アウト情報となる。 そして、第1処理エリア内にある部品27aの全てにつ
いて部品輪郭枠57の作成、表示動作を終了すれば、制御
部46はステツプST5を介して前記ステツプST2に戻り、残
りの処理エリアについて上述した処理を繰り返し実行す
る。 なおこの場合、各処理エリアは、互いに少し重なるよ
うに設定されているので、今回の処理枠56内に完全に納
まつていない部品27aは、次回以後の処理エリアで処理
される。 この後、第6図(B)に示す如く全処理エリアの部品
27aについて部品輪郭枠57が得られたとき、制御部46は
この処理ループから抜け出し、X−Yテーブル部18を正
転させてテイーチング用の基板23が外されて、基準実装
基板24が載せられるまで待つ。 そして、このX−Yテーブル部18上の搬送ベルト機構
71に基準実装基板24がセツトされれば、制御部46はステ
ツプST6でX−Yテーブル部18を制御してカラーTVカメ
ラ34の下方に基準実装基板24の第1処理エリアを位置さ
せるとともに、モニタ43上のグラフイツク表示エリア52
に第6図(B)に示す如く現在の処理エリア(この場
合、第1処理エリア)を示す処理枠56と、各部品輪郭枠
57とを表示させる。 この後、制御部46はカラーTVカメラ34に基準実装基板
24の第1処理エリアを撮像させるとともに、これによつ
て得られたR、G、Bカラー画像信号をA/D変換させた
後、このA/D変換結果(基準実装基板24のカラー画像デ
ータ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させる。 またこのとき、このA/D変換部36で得られた基準実際
基板24のカラー画像データは、モニタ40に供給されて、
その画面上に表示される。 次いで、制御部46は、ステツプST7でメモリ37からこ
の処理エリア内の部品27cに関する1つの目の部品輪郭
枠データを読み出し、これをモニタ40に供給してその画
面上に第5図(B)に示す如く部品輪郭枠57を重ねて表
示させるとともに、前記部品輪郭枠データをモニタ43に
供給して第6図(C)に示す如くこの部品輪郭枠データ
に対応する部品輪郭枠57内を緑色でペイントさせる。 この後、制御部46は、ステツプST8でモニタ43の操作
手順指示エリア53上にメツセージを表示し緑色で表示さ
れた部品輪郭枠57に対応する部品27cが抵抗以外の部品
(例えば、トランジスタ、コンデンサ、ダイオード、フ
ラツトパツケージICなど)かどうか、またその電極方向
が正しいかどうか、さらに部品輪郭枠57の位置、形状な
どを変更する必要があるかどうかを聞く。 ここで、この部品27cが抵抗以外の部品であつたり、
モニタ40上にビデオ表示された部品27cの輪郭と、グラ
フイツク表示された部品輪郭枠57とが許容できる程度に
重なつておらず、この画面を見た操作員がこの部品27c
の種類、電極方向、およびこの部品27cに関する部品輪
郭枠57の位置、形状を変更する必要があると判断して、
キーボード45の修正要求キーを押せば、制御部46は、こ
のステツプST8からステツプST9に分岐する。 そして、このステツプST9において、操作員が種類変
更キー、方向変更キー等を用いてこの部品27cの種類や
電極方向を変更したり、拡大キー、縮小キー、平行移動
キー等を用いてモニタ40上にビデオ表示された部品27c
の輪郭と、グラフイツク表示された部品輪郭枠57とが重
なるように部品輪郭枠57の位置、形状を変更すれば、制
御部46は、これに応じてメモリ37に記憶されているこの
部品27cに関する種類データ、方向データ、位置デー
タ、形状データを修正した後、前記ステツプST7に戻
り、この部品27cに対して上述した動作を再度実行す
る。 またこの部品27cが抵抗であつて、かつその電極方向
が正しく、さらにモニタ40上にビデオ表示された部品27
cの輪郭と、グラフイツク表示された部品輪郭枠57とが
許容できる程度に重なつており、この画面を見た操作員
がこの部品27cの種類、電極方向、およびこの部品27cに
関する部品輪郭枠57の位置、形状などを変更する必要が
ないと判断して、キーボード45の“OK"キーを押せば、
制御部46は、この部品27cの種類、電極方向、およびそ
の部品輪郭枠57の位置、形状等に応じてランドが存在す
べき領域(ランド抽出領域48)を求める。 この場合、部品27cが抵抗やダイオード等のような2
電極部品であれば、第7図(A)に示す如く部品27cの
両端に形成された電極47cを含み、かつこの部品27cの外
側に広がるようなランド抽出領域48が求められる。この
後、制御部46は、第8図(A)に示す如くこれらの各ラ
ンド抽出領域48を広げ、これによつて得られたランド抽
出領域49をメモリ37に記憶させる。 また、部品27cがトランジスタのような3電極部品で
あれば、第7図(B)に示す如く部品27cの各電極47cを
含み、かつこの部品27cの外側に広がるようなランド抽
出領域48が求められる。この後、制御部46は、第8図
(B)に示す如くこれらの各ランド抽出領域48を広げ、
これによつて得られたランド抽出領域49をメモリ37に記
憶させる。 この後、制御部46は、ステツプST10でこの部品27cに
関る部品輪郭枠57の位置、形状に基づいて、第9図
(A)、(B)に示す如く、部品27cの中央部分を切り
出すときに用いられる部品ボデー検査領域51を算出し、
これをメモリ37に記憶させる。 次いで、制御部46はメモリ37に記憶されている基準実
装基板24のカラー画像データと、前記部品ボデー検査領
域51とを画像処理部39に供給して、このカラー画像デー
タから部品ボデー検査領域51のカラー画像(部品ボデー
検査領域51内のカラー画像)を切り出させる。 次いで、制御部46は、この画像処理部39に色相明度変
換指令を供給して、前記部品ボデー検査領域51内のカラ
ー画像を構成する各画素を色相明度変換させる。 この場合の色相明度変換式としては、例えば次に示す
式が用いられる。 BRT(ij)=R(ij)+G(ij)+B(ij) ……(1) Rc (ij)=α・R(ij)/BRT(ij) ……(2) Gc (ij)=α・G(ij)/BRT(ij) ……(3) Bc (ij)=α・B(ij)/BRT(ij) ……(4) ただしこの場合、 R(ij):i行目のj列目にある画素(画素(ij))のR
信号強度 G(ij):i行目のj列目にある画素(画素(ij))のG
信号強度 B(ij):i行目のj列目にある画素(画素(ij))のB
信号強度 BRT(ij):画素(ij)の明るさ α:係数 Rc(ij):画素(ij)の赤色相 Gc(ij):画素(ij)の緑色相 Bc(ij):画素(ij)の青色相 そして、前記部品ボデー検査領域51内の全画素につい
て、上述した色相明度変換が終了すれば、制御部46は、
この色相明度変換結果に基づいて各部品ボデー検査領域
51内にある画素の色を判定させた後、この判定結果(ボ
デー色)をメモリ37に記憶させる。 この後、制御部46は、ステツプST11でこの処理エリア
内にある部品27cの全てについて上述した処理が終了し
たかどうかをチエツクし、まだ処理が終了していない部
品が残つていれば、このステツプST11から前記ステツプ
ST7に戻り、残りの部品に対して上述した処理を実行す
る。 そして、この処理エリア内にある部分27cの全てにつ
いてランド抽出領域49の作成動作およびボデー色の抽出
動作が終了すれば、制御部46はステツプST11からステツ
プST12に分岐し、ここで全ての処理エリアについて上述
した処理を終了したかどうかをチエツクし、まだ処理を
終了していない処理エリアが残つていれば、このステツ
プST12から前記ステツプST6に戻り、残りの処理エリア
に対して上述した処理を繰り返し実行する。 そして、全処理エリアの部品27cについてランド抽出
領域49の作成動作およびボデー色の抽出動作が終了した
とき、制御部46はこの処理ループから抜け出す。この
後、制御部46はX−Yテーブル部18を正転させて基準実
装基板24をアンローダ66側に送るとともに、ローダ65側
から搬送ベルト機構71に未実装基板25を供給させる。 この後、制御部46はステツプST13でX−Yテーブル部
18を制御してカラーTVカメラ34の下方に未実装基板25の
第1処理エリアを位置させるとともに、モニタ43上のグ
ラフイツク表示エリア52に現在の処理エリアを示す処理
枠56と、各部品輪郭枠57とを表示させる。 この後、制御部46はカラーTVカメラ34に未実装基板25
の第1処理エリアを撮像させ、これによつて得られた
R、G、Bカラー画像信号をA/D変換させるとともに、
このA/D変換結果(未実装基板25のカラー画像データ)
をメモリ37にリアルタイムで記憶させる。 またこのとき、A/D変換部36で得られた未実装基板25
のカラー画像データは、モニタ40に供給されて、その画
面上に表示される。 次いで、制御部46は、ステツプST14でメモリ37から1
つ目の部品輪郭枠データ読み出すとともに、これをモニ
タ43に供給して第6図(c)に示す如くこの部品輪郭枠
データに対応する部品輪郭枠57を緑色で表示させる。 次いで、制御部46は、メモリ37からこの部品輪郭枠デ
ータに対応する部品27cの拡大されたランド抽出領域49
と、未実装基板25のカラー画像データとを読み出すとと
もに、これらを画像処理部39に供給して、このカラー画
像データからランド抽出領域49内のカラー画像を切り出
させる。 次いで、制御部46は、この画像処理部39に色相明度変
換指令を供給して、前記ランド抽出領域49内のカラー画
像を構成する各画素を色相明度変換させ、ランド抽出領
域49内の各画素(ij)に対する赤色相Rc(ij)が予め入
力されたランド抽出基準値C(例えばC=0.4・α)以
上かどうかをチエツクする。 この後、制御部46は、ステツプST15で各画素の赤色相
Rc(ij)のうちランド抽出基準値Cを越えている画素が
あれば、この画素部分をランド28bと判定して、このス
テツプST15からステツプST16に分岐し、ここでのこのラ
ンド28bに関するデータ(ランドデータ)をモニタ40に
供給して第5図(C)に示す如くその画面上にあるラン
ド28bを茶色で表示させた後、第10図(A)、(B)に
示す如くこのランド28bを広げ、これによつて得られた
ランド検査領域50をメモリ37に記憶させる。 また前記ステツプST15において、各画素の赤色相Rc
(ij)がランド抽出基準値Cを越えていなければ、制御
部46は、ランド28bが存在しないと判断して、このステ
ツプST15からステツプST17に分岐し、ここでのこの部分
に関する部品輪郭枠データをモニタ43に供給して第6図
(D)に示す如くこの部品輪郭枠データに対応する部品
輪郭枠57内に赤色にペイントした後、ランド抽出領域49
をランド検査領域50としてメモリ37に記憶させる。 次いで、制御部46はステツプST18でメモリ37に記憶さ
れている未実装基板25のカラー画像データと、前記部品
ボデー検査領域51とを画像処理部39に供給して、このカ
ラー画像データから部品ボデー検査領域51内のカラー画
像を切り出させる。 次いで、制御部46は、この画像処理部39に色相明度変
化指令を供給して、前記部品ボデー検査領域51内のカラ
ー画像を構成する各画素を色相明度変換させて、部品ボ
デー検査領域51内にある画素の色を判定させた後、この
判定結果(未実装時の色)をメモリ37に記憶させる。 この後、制御部46は、ステツプST19でこの処理エリア
内にある部品輪郭枠データの全てについて上述した処理
が終了したかどうかをチエツクし、まだ処理が終了して
いない部品輪郭枠データが残つていれば、このステツプ
ST19から前記ステツプST14に戻り残りの部品輪郭データ
に対して上述した処理を実行する。 そして、この処理エリア内にある部品輪郭枠データの
全てについてランド28bの検出処理および未実装時の色
検出処理が終了すれば、制御部46はステツプST19からス
テツプST20に分岐し、ここで全ての処理エリアについて
上述した処理を終了したかどうかをチエツクし、まだ処
理を終了していない処理エリアが残つていれば、このス
テツプST20から前記ステツプST13に戻り、残りの処理エ
リアについて上述した処理を繰り返し実行する。 そして、全処理エリアにある部品輪郭枠データの全て
についてランド28bの検出処理および未実装時の色検出
処理が終了したとき、制御部46はこのステツプST20から
ステツプST21へ分岐し、ここでメモリ37に記憶されてい
る各ランド検査領域50、ボデー検査領域51、ボデー色、
ランド28bの形状、未実装時の色などの各データを部品
毎に整理して検査データフアイルを作成し、これをテー
ブル38に記憶させた後、このテーチング動作を終了す
る。 またこのテーチング動作が終了してテストランニング
モードにされれば、制御部46は、X−Yテーブル部18を
逆転させて未実装基板25をローダ65側に戻すとともに、
アンローダ66側から搬送ベルト機構71に基準実装基板24
を戻させる。 この後、制御部46は第4図(B)に示すテストランニ
ングフローチヤートのステツプST30でX−Yテーブル部
18を制御してカラーTVカメラ34の下方に基準実装基板24
の第1処理エリアを配置させるとともに、モニタ43上の
グラフイツク表示エリア52に現在の処理エリア(この場
合、第1処理エリア)を示す処理枠56と、各部品輪郭枠
57とを表示させる。 次いで制御部46は、カラーTVカメラ34に基準実装基板
24の第1処理エリアを撮像させ、これによって得られた
R、G、Bカラー画像信号をA/D変換部36でA/D変換させ
るとともに、このA/D変換結果(基準実装基板24のカラ
ー画像データ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させ
る。 またこのとき、このA/D変換部36で得られた基準実装
基板24のカラー画像データは、モニタ40に供給されて第
5図(D)に示す如く表示される。 次いで制御部46は、ステツプST31で第4図(C)に示
す検査ルーチン60を呼出し、この検査ルーチン60のステ
ツプST32でテーブル38からこの処理エリア内にある1つ
目の部品ボデー検査領域51を読み出し、これをモニタ43
に供給して第6図(C)に示す如くこの部品ボデー検査
領域51に対応する部品輪郭枠57内を緑色で表示させた
後、前記部品ボデー検査領域51と、メモリ37に記憶され
ている基準実装基板24のカラー画像データとを画像処理
部39に供給して、このカラー画像データから部品ボデー
検査領域51内のカラー画像を切り出させる。 次いで、制御部46は、この画像処理部39に色相明度変
換指令を供給して、前記部品ボデー検査領域51によつて
切り出したカラー画像を構成する各画素を色相明度変換
させてた後、前記部品ボデー検査領域51内にある画素の
色を判定させる。 この後、制御部46は、ステツプST33で前記部品ボデー
検査領域51内にある画像の色が部品ボデーの色か、未実
装時の色か判定し、前記部品ボデー検査領域51内にある
画像の色が部品ボデーの色と一致していれば、このステ
ツプST33からステツプST34に分岐し、ここでこの部品ボ
デー検査領域51に対する部品の検査アルゴリズムをチエ
ツクする。 この場合、テストランニングモードにおいてこの部品
の検査アルゴリズムが変更されていないから制御部46
は、このステツプST34からステツプST35に分岐し、ここ
でテーブル38から前記部品ボデー検査領域51に対応する
ランド検査領域50を読み出して、これを画像処理部39に
供給するとともに、メモリ37に記憶されている基準実装
基板24のカラー画像データを画像処理部39に供給して、
このカラー画像データからランド検査領域50内の画像を
切り出させる。 次いで、制御部46は、この画像処理部39に色相明度変
換指令を供給して、前記ランド検査領域50内の画像を構
成する各画素を色相明度変換させる。 そして、前記ランド検査領域50内の全画素について、
上述した色相明度変換が終了すれば、制御部46はステツ
プST36でランド検査領域50内の各画素(ij)に対する赤
色相Rc(ij)が予め入力されたランド抽出基準値C(例
えば、C=0.4・α)以上かどうかをチエツクして、ラ
ンド検査領域50内にあるランド28cのうち部品27cのボデ
ーや電極47cで隠されていない部分(ランド領域)を抽
出する。 この後、制御部46はステツプST37でランド検査領域50
内の各画素(ij)に対するBRT(ij)が予め入力された
電極抽出基準値D以上かどうかをチエツクして、ランド
検査領域50内にある電極47cを抽出する。 次いで、制御部46はステツプST38で前記ランド領域の
位置および形状と、テーブル38に記憶されている未実装
基板25のランド28bの位置および形状と比較してランド2
8cのうち部品27cのボデーや電極47cで隠されている部分
を算出(推定)する。 この後、制御部46はステツプST39でこの算出結果から
第11図(A)、(B)に示す如くこれらランド28cと、
部品27cとの位置関係を示すかぶり面積データ(ランド2
8cの部品27cのボデーや電極47cで隠されている部分の面
積データ)、幅データ、奥行きデータを求めるととも
に、これらの各データの値が充分かどうかをチエツクす
る。 この場合、部品27cがトランジスタであれば、その長
さ方向(第12図(A)におけるX方向)に対しては、電
極47がcがランド28cからはみだしておらず、かつその
幅方向(第12図(A)におけるY方向)に対して、電極
47cとランド28cとがある程度、重なつていれば、十分に
接合させていると判定されるので、部品27cと、ランド2
8cとが第12図(A)に示すような位置関係にあれば、十
分に接合されていると判定され、また、第12図(B)、
(C)に示すような位置関係にあれば、十分に接合され
ていないと判定される。 また、部品27cが抵抗であれば、その長さ方向(第13
図(A)におけるX方向)に対しては、電極47cがラン
ド28cからはみだしておらず、かつその幅方向(第13図
(A)におけるX方向)に対しては、電極い47cとラン
ド28cとが2/3以上、重なつていれば、十分に接合されて
いると判定されるので、部品27cと、ランド28cとが、第
13図(A)、(B)に示すような位置関係にあれば、十
分に接合されていると判定され、また第13図(C)、
(D)に示すような位置関係にあれば、十分に接合され
ていないと判定される。 そして、この部品27cが十分に接合されていれば、制
御部46はこのステツプST39からステツプST40に分岐し、
ここでこの部品27cが良好に実装されていると判定し
て、この判定結果をメモリ37に記憶させる。 また前記各ステツプST33、ST39において、部品ボデー
検査領域51内にある画像の色が未実装時の色と一致して
いたり、ランド28cと、部品27cとの接合が十分でなけれ
ば、制御部46はこれら各ステツプST33、ST39からステツ
プST41へ分岐し、ここでこの部品27cが実装不良である
と判定して、この判定結果をメモリ37に記憶させる。 なお、この検査ルーチン60のステツプST42〜ST46の動
作については、後で詳述する。 この後、制御部46はこ検査ルーチン60を終了して前記
テストランニングフローチヤートのステツプST50に戻
り、ここでメモリ37からこの部品27cに関するマウント
状態の判定結果を読み出し、この部品27cが実装不良で
あれば、このステツプST50からステツプST51に分岐す
る。 そしてこのステツプST51において、制御部46はこの部
品27cに関する部品輪郭枠データをモニタ43に供給して
第6図(D)に示す如くこの部品輪郭枠57内を赤色で表
示させた後、ステツプST52で、モニタ43の操作手順指示
エリア53上にメツセージを表示して、赤色で表示された
部品輪郭枠57に対応する部品27cから修正可能な部品か
どうかを聞く。 ここで、モニタ40の画面上にビデオ表示されたた部品
27cの画像と、グラフイツク表示された部品輪郭枠57と
を見ながら修正可能な部品かどうか、つまりこの部品27
cがその種類や電極方向を間違つて登録されていたり、
テイーチング基板23によつて入力された部品輪郭枠57
と、基準実装基板24上にある部品27cの輪郭とがずれて
いると操作員が判断してキーボード45の修正要求キーを
押せば、制御部46は、このステツプST52からステツプST
53に分岐し、ここで入力待ちの状態になる。 そして、操作員がこの基準実装基板24に代えて、部品
27cが正しく実装された他の基準実装基板をX−Yテー
ブル部18上にセツトしたり、種類変更キーや方向変更キ
ー等を用いてこの部品27aの種類や方向を変更したり、
拡大キー、縮小キー、平行移動キー等を用いてモニタ40
上に表示された部品27cの画像と、部品輪郭枠57とが重
なるように部品輪郭枠57の位置、形状を変更したりした
後、修正終了キーを押せば、これに応じて制御部60は、
テーブル38に記憶されているこの部品27aに関する種類
データ、方向データ、位置データ、形状データ、ランド
検査領域データ等を修正した後、前記ステツプST31に戻
り、この部品27aに対して上述したマウント状態の良否
検査を再度、実行する。 また前記ステツプST52において、モニタ43のグラフイ
ツク表示エリア52上に赤色で表示された部品輪郭枠57に
対応する部品27cがランド注目アルゴリズムでは検査不
能な部品であると判断して操作員が修正不能キーを押せ
ば、制御部46は、このステツプST52からステツプST62に
分岐する。 そしてこのステツプST62において、制御部46は、モニ
タ43の操作手順指示エリア53上にランド検出モードから
レジスト検出モードに切り換わつたというメツセージ
と、レジスト検査領域や閾値等をマニアルで設定してく
ださいというメツセージとを表示して操作員にレジスト
検査領域等の入力を要求する。 ここで、モニタ40の画面上に、ビデオ表示された部品
27cの画像と、グラフイツク表示された部品輪郭枠57と
を見ながら拡大キー、縮小キー、平行移動キー等を用い
て操作員が第14図(A)、(B)に示す如くレジスト検
査領域58を設定すれば、制御部46は、このレジスト検査
領域58をテーブル38に記憶させた後、ステツプST63でX
−Yテーブル部18上に基準実装基板24がセツトされてい
るかどうかをチエツクする。 この場合、X−Yテーブル部18上には、既に基準実装
基板24がセツトされているから制御部46は、次の動作で
第4図(D)に示す特徴抽出ルーチン61を呼出し、この
特徴抽出ルーチン61のステツプST64でX−Yテーブル部
18を制御してカラーTVカメラ34の下方にこのレジスト検
査領域58が設定された部品27aを含む処理エリア(この
場合、第1処理エリア)を配置させるとともに、モニタ
43上のグラフイツク表示エリア52に現在の処理エリアを
示す処理枠56を表示させる。 次いで制御部46は、カラーTVカメラ34に基準実装基板
24の当該処理エリアを撮像させ、これによつて得られた
R、G、Bカラー画像信号をA/D変換部36でA/D変換させ
るとともに、このA/D変換結果(基準実装基板24のカラ
ー画像データ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させ
る。 またこのとき、このA/D変換部36で得られた基準実装
基板24のカラー画像データは、モニタ40に供給されて表
示される。 次いで制御部46は、ステツプST65でテーブル38に記憶
されている部品27cに関するレジスト検査領域58と、メ
モリ37に記憶されている基準実装基板24のカラー画像デ
ータとを画像処理部39に転送させて、このカラー画像デ
ータからレジスト検査領域58のカラー画像を切り出させ
る。 次いで、制御部46は、ステツプST66でこの画像処理部
39に色相明度変換指令を供給して、前記レジスト検査領
域58によつて切り出したカラー画像を構成する各画素を
色相明度変換させ、この後ステツプST67でこの色相明度
変換結果に基づいてレジスト検査領域58内にある各画素
の色を判定するとともに、この判定結果から部品実装時
におけるレジスト検査領域58内にあるレジスト部分の色
(レジスト色)と、形状とを求め、これをテーブル38に
記憶させる。 この後、制御部46は、前記テストランニングフローチ
ヤートのステツプST68に戻り、X−Yテーブル部18を正
転させて基準実装基板24をアンローダ66側に送るととも
に、ローダ65側から搬送ベルト機構71に未実装基板25を
供給させる。 この後、制御部46は、前記特徴抽出ルーチン61を再
度、実行して、部品を実装していないときにおけるレジ
スト検査領域58内のレジスト部分の色と、形状とを求
め、これをテーブル38に記憶させた後、前記ステツプST
30に戻る。 そしてこのステツプST30において、制御部46は、X−
Yテーブル32上に基準実装基板24が載せられるまで待
ち、これが載せられたときに、X−Yテーブル部18と、
カラーTVカメラ34とを制御してこのレジスト検査領域58
が設定された部品27cを含む処理エリア(この場合、第
1処理エリア)を撮像させて、この処理エリアのカラー
画像データをメモリ37にリアルタイムで記憶させる。 またこのとき得られた処理エリアのカラー画像は、モ
ニタ40に供給されて表示される。 次いで制御部46は、ステツプST31で前記検査ルーチン
60を実行するが、この部品27cに関しては、レジスト検
査モードが設定されているから、部品ボデー検査領域51
内にある画像の色と、テイーチング時に得られた部品ボ
デーの色が一致していれば、この検査ルーチン60のステ
ツプST34を実行したときに、検査アルゴリズムが変更さ
れていると判定されて、このステツプST34からステツプ
ST42に分岐する。 そして、このステツプST42において、制御部46は、テ
ーブル38から前記部品ボデー検査領域51に対応するレジ
スト検査領域58を読み出して、これを画像処理部39に供
給するとともに、メモリ37に記憶されている基準実装基
板24のカラー画像データを画像処理部39に供給して、こ
のカラー画像データからレジスト検査領域58のカラー画
像を切り出させる。 次いで、制御部46は、ステツプST43でこの画像処理部
39に色相明度変換指令を供給して、前記レジスト検査領
域58の画像を構成する各画素を色相明度変換させた後、
この色相明度変換後における各画素(ij)のうち、レジ
スト色と一致する部分をレジスト部分として抽出する。 次いで、制御部46は、ステツプST44でこのレジスト部
分の形状と、テーブル38に記憶されている未部品実装時
におけるレジスト形状とを比較してレジスト部分のう
ち、部品27aのボデーや電極47cなどによつて隠されてい
ない部分の形状(レジスト形状)を求めた後、ステツプ
ST45でこのレジスト形状と、テーブル38に記憶されてい
る部品実装時におけるレジスト形状とを比較して、これ
らの差が許容できる範囲内にあるかどうかをチエツクす
る。 そして、これらの差が許容できる範囲内にあれば、制
御部46は、このステツプST45からステツプST40に分岐
し、ここでこのレジスト検査領域58に対応する部品27c
が良好にマウントされていると判定して、この判定結果
をメモリ37に記憶させる。 また、前記レジスト形状と、テーブル38に記憶されて
いる部品実装時におけるレジスト形状との差が許容でき
る範囲内になければ、制御部46は、前記ステツプST45か
らステツプST46に分岐し、ここで前記レジスト検査領域
58に対応する部品27cが良好にマウントされていないと
判定して、この判定結果をメモリ37に記憶させる。 この後、制御部46はこの検査ルーチン60を終了して前
記テストランニングフローチヤートのステツプST50に戻
り、ここでメモリ37からこの部品27cに関するマウント
状態の判定結果を読み出し、この部品27cがマウント不
良であれば、このステツプST50からステツプST51、ST52
を順次介してステツプST62に分岐し、ここで上述した動
作を再度、実行してレジスト検査領域58などを再設定さ
せた後、上述した動作を繰り返してこのレジスト検査領
域58の良否を判定する。 また前記ステツプST50において、部品27cが正しく実
装されていると判定されれば、制御部46はこのステツプ
ST50からステツプST54に分岐し、ここでこの第1処理エ
リア内にある全ての部品27cに対して上述した処理が終
了したかどうかをチエツクし、もし処理が終了していな
い部品がのこつていれば、前記ステツプST31に戻り、残
りの部品27cについて上述した処理を実行する。 そして、第1処理エリア内にある残りの部品27cの全
てについて上述した処理が終了すれば、制御部46は前記
ステツプST54からステツプST55に分岐し、ここで全処理
エリアに対して上述した処理が終了したかどうかをチエ
ツクし、もし処理が終了していない処理エリアが残つて
いれば、前記ステツプST30に戻り、残り処理エリアにつ
いて上述した処理を実行する。 そして、全処理エリアの部品27cについて上述した処
理が終了して第4図(E)に示す如くモニタ43のグラフ
イツク表示エリア52に表示された全ての部品輪郭枠57が
赤色でペイントされていなければ、制御部46はこのルー
プを抜け出し、X−Yテーブル部18を正転させて基準実
装基板24をアンローダ66側に送るとともにローダ65側か
ら搬送ベルト機構71に未実装基板25を供給させる。 この後、制御部46はステツプST56でX−Yテーブル部
18を制御してカラーTVカメラ34の下方に未実装基板25の
第1処理エリアを配置させるとともに、モニタ43上のグ
ラフイツク表示エリア52に現在の処理エリア(この場
合、第1処理エリア)を示す処理枠56を表示させる。 次いで制御部46は、カラーTVカメラ34に未実装基板25
の第1処理エリアを撮像させ、これによって得られた
R、G、Bカラー画像信号をA/D変換部36でA/D変換させ
るとともに、このA/D変換結果(未実装基板25のカラー
画像データ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させる。 またこのとき、このA/D変換部36で得られた未実装基
板25のカラー画像データは、モニタ40に供給されて第5
図(E)に示す如く表示される。 次いで制御部40は、ステツプST57で前記検査ルーチン
60で実行して、第1処理エリア内の1つ目の部品につい
てその実装状態を判定させた後、ステツプST58でこの部
品がマウント不良かどうかをチエツクする。 そして、この部品が正しく実装されていると判定され
ていれば、制御部46は、この部品に関する検査アルゴリ
ズムが正しくないと判断して、このステツプST58からス
テツプST61に分岐し、ここでこの部品に関する部品輪郭
枠データをモニタ43に供給してこの部品に対応する部品
輪郭枠57内を赤色で表示させる。 この後、制御部46は、ステツプST62〜ST68を実行して
この部品に対して最適なレジスト検査領域58や閾値等を
設定させるとともに、このレジスト検査領域58に対する
部品実装時のレジスト形状およびその色と、未部品実装
時のレジスト形状およびその色とを抽出させて、これら
をテーブル38に記憶させた後、前記ステツプST30に戻
る。 そして、このステツプST30〜ST55において、制御部46
は、基準実装基板24上にある部品27cのうち、このレジ
スト検査領域58に対応る部品が実装良好と判定されるか
どうかをチエツクする。 そして、この部品27cが実装良好と判定されれば、制
御部46は、ステツプST56およびステツプST57で未実装基
板25に対して前記レジスト検査領域58に対応する部品の
実装状態を検査させた後、ステツプST58でこの部品が実
装不良と判定されたかどうかをチエツクする。 ここで、この部品が正しく実装されていると判定され
れば、制御部46はこのステツプST58からステツプST61を
介してステツプST62に分岐し、このステツプST62で上述
した動作を再度、実行してレジスト検査領域58や閾値な
どを再設定させた後、上述した動作を繰り返してこのレ
ジスト検査領域58の良否を判定する。 また前記ステツプST58において、前記レジスト検査領
域58に対応する部品が実装不良と判定されれば、制御部
46はこのステツプST58からステツプST59に分岐し、ここ
でこの第1処理エリア内の全ての部品に対して上述した
処理が終了したかどうかをチエツクし、もし処理が終了
していない部品がのこつていれば、前記ステツプST57に
戻り、残りの部品について上述した処理を実行する。 そして、第6図(F)に示す如く第1処理エリア内に
ある残りの部品の全てについて上述した処理が終了すれ
ば、制御部46は前記ステツプST59からステツプST60に分
岐し、全ての処理エリアに対して上述した処理が終了し
たかどうかをチエツクし、もし処理が終了していない処
理エリアがのこつていれば、前記ステツプST56に戻り、
残りの処理エリアについて上述した処理を実行する。 そして、全処理エリアの全部品について上述した処理
が終了してモニタ43のグラフイツク表示エリア52上に表
示された全ての部品輪郭枠57内が赤くペイントされてい
れば、制御部46はこのテストランニング動作を終了す
る。 またこのテイーチング動作が終了して検査モードにさ
れれば、制御部46は、第4図(E)に示す検査フローチ
ヤートのステツプST70でモニタ43上に被検査実装基板26
の基板名称を要求するメツセージを表示させる。 そして、キーボード45からこの基板名称が入力されれ
ば、制御部46はX−Yテーブル部18上に被検査実装基板
26が載せられるまで待つ。 この後、X−Yテーブル部18上に被検査実装基板26が
載せられれば、制御部46はステツプST71でX−Yテーブ
ル部18を制御してカラーTVカメラ34の下方に被検査実装
基板26の第1処理エリアを配置させるとともに、モニタ
43上のグラフイツク表示エリア52に現在の処理エリア
(この場合、第1処理エリア)を示す処理枠56、各部品
輪郭枠57とを表示させる。 次いで制御部46は、カラーTVカメラ34に被検査実装基
板26の第1処理エリアを撮像させ、これによつて得られ
たR、G、Bカラー画像信号をA/D変換部36でA/D変換さ
せるとともに、このA/D変換結果(被検査実装基板26の
カラー画像データ)をメモリ37にリアルタイムで記憶さ
せる。 次いで制御部46は、ステツプST72で前記検査ルーチン
60を実行して、第1処理エリア内の1つ目の部品27dに
ついてその実装状態を判定させた後、ステツプST73でこ
の部品27dが正しく実装されているかどうかチエツク
し、これが実装不良であれば、このステツプST73からス
テツプST74に分岐して、この部品27dが実装不良である
ことをテーブル38に記憶させたり、モニタ43上に表示さ
れているこの部品の部品輪郭枠57を赤色で表示させたり
する。 また前記ステツプST73において、部品27dが正しく実
装されていると判定されれば、制御部46は、前記ステツ
プST74をステツプする。 この後、制御部46は、ステツプST75でこの第1処理エ
リア内の全ての部品27dに対して上述した処理が終了し
たがどうかチエツクし、もし処理が終了していない部品
がのこつていれば、前記ステツプST72に戻り、残りの部
品27dについて上述した処理を実行する。 そして、第1処理エリア内にある残りの部品27dの全
てについて上述した処理が終了すれば、制御部46は前記
ステツプST75からステツプST76に分岐し、全ての処理エ
リアに対して上述した処理が終了したかどうかをチエツ
クし、もし処理が終了していない処理エリアがのこつて
いれば、前記ステツプST71に戻り、残りの処理エリアに
ついて上述した処理を実行する。 そして、全処理エリアの全部品について上述した処理
が終了したとき、制御部46は前記ステツプST76からステ
ツプST77に分岐し、ここでモニタ43のグラフイツク表示
エリア52上に表示されている画像をそのままの状態で保
持させるとともに、プリンタ44から第15図に示すように
各部品27dの部品輪郭枠57と、これらの各部品輪郭枠57
のうち実装不良部品に対応した部品輪郭枠57を囲むよう
に設けられる“0"記号とが印字された紙を出力させた
後、この検査動作を終了する。 このようにこの実施例においては、各部品27dの部品
輪郭枠57と、不良部品の位置を示す赤色(または、“0"
記号)とを重ねて表示したり、印字したりしているの
で、操作者当に不良部品の位置を直感的に認識させるこ
とができる。 また上述した実施例においては、各部品27dの部品輪
郭枠57と、これら各部品輪郭枠57のうち実装不良部品に
対応した部品輪郭枠57を囲むように設けられる“0"記号
とが印字された紙を出力させるようにしているが、第16
図に示すように不良部品の番号を表示したり、印字した
りするようにしても良い。 また上述した実施例においては、被検査実装基板26の
ランド28dが基板毎に異なつていても、ランド28d上の許
容できる範囲内に部品が実装されていれば、実装良好と
判定することができるので、基板の加工誤差に起因する
誤判定を防止することができるとともに、各部品に対し
て最適な位置ずれ許容量を自動的に設定することができ
る。 また上述した実施例においては、テイーチングのと
き、部品の種類を手動で入力するようにしているが、基
準実装基板等を用いて入力された画像から部品に接続可
能なランドを検出し、このランドからこの部品の種類を
自動で入力するようにしても良い。 《発明の効果》 以上説明したように本発明によれば、被検査実装基板
上の実装部品の実装状態の検査結果を出力する実装基板
検査結果出力装置において、前記基板上に実装される各
部品の基板上における位置とその部品の形状とが2次元
平面上に視覚的に判別できるグラフィックイメージに関
するデータを記憶するグラフィックイメージ記憶手段
と、前記検査結果を記憶する検査結果記憶手段と、前記
グラフィックイメージ記憶手段に記憶されているグラフ
ィックイメージに関するデータと前記検査結果記憶手段
に記憶されている検査結果とから、実装不良として判定
された他が前記グラフィックイメージ上のどの部品であ
るかを視覚的に識別できるようイメージ出力する出力手
段とを有することを特徴とする実装基板検査結果出力装
置であることから、基板上に検査対象である部品のう
ち、実装不良として判定された部品がグラフィックイメ
ージ上のどの部品であるのかを視覚的に識別できること
となり、操作者等に不良部品の位置を直観的に認識させ
ることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明による実装基板検査装置の一実施例を示
すブロツク図、第2図は同実施例のX−Yテーブル部の
平面図、第3図(A)は第2図の搬送ベルト機構を説明
するための断面図、第3図(B)は第2図の搬送ベルト
機構を説明するための斜視図、第4図(A)〜(E)は
各々同実施例の動作例を示すフローチヤート、第5図
(A)〜(E)は各々同実施例における一方のモニタの
表示例を示す模式図、第6図(A)〜(F)は各々同実
施例における他方のモニタの表示例を示す模式図、第7
図(A)、(B)は各々同実施例の各部品に対くるラン
ド抽出領域例を示す模式図、第8図(A)、(B)は各
々同実施例の各部品に対する拡大されたランド抽出領域
の一例を示す模式図、第9図(A)、(B)は各々同実
施例の各部品に対する部品ボデー検査領域の一例を示す
模式図、第10図(A)、(B)は各々同実施例の各部品
に対するランド検査領域の一例を示す模式図、第11図
(A)、(B)は各々同実施例における部品と、ランド
との位置関係に対する判定動作を説明するための模式
図、第12図(A)〜(C)は各々同実施例の判定例を説
明するための模式図、第13図(A)〜(D)は各々同実
施例の判定例を説明するための模式図、第14図(A)、
(B)は各々同実施例の各部品に対するリジスト検査領
域の一例を示す模式図、第15図は同実施例の印字例を示
す模式図、第16図は同実施例で用いられる他の印字例を
示す模式図、第17図は従来の実装基板検査装置の一例を
示すブロツク図である。 20……撮像部、26……実装基板(被検査実装基板)、27
d……部品、43……出力部(モニタ)、44……目視化部
(プリンタ)、46……判定部(制御部)。

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.被検査実装基板上の実装部品の実装状態の検査結果
    を出力する実装基板検査結果出力装置において、 前記基板上に実装される各部品の基板上における位置と
    その部品の形状とが2次元平面上に視覚的に判別できる
    グラフィックイメージに関するデータを記憶するグラフ
    ィックイメージ記憶手段と、 前記検査結果を記憶する検査結果記憶手段と、 前記グラフィックイメージ記憶手段に記憶されているグ
    ラフィックイメージに関するデータと前記検査結果記憶
    手段に記憶されている検査結果とから、実装不良として
    判定された部品が前記グラフィックイメージ上のどの部
    品であるのかを視覚的に識別できるようイメージ出力す
    る出力手段と、 を有することを特徴とする実装基板検査結果出力装置。
JP62005273A 1987-01-13 1987-01-13 実装基板検査結果出力装置 Expired - Lifetime JP2692068B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62005273A JP2692068B2 (ja) 1987-01-13 1987-01-13 実装基板検査結果出力装置
US07/143,084 US5093797A (en) 1987-01-13 1988-01-12 Apparatus for inspecting packaged electronic device
DE3850889T DE3850889T2 (de) 1987-01-13 1988-01-13 Apparat zum Untersuchen einer bestückten elektronischen Vorrichtung.
AT88100397T ATE109571T1 (de) 1987-01-13 1988-01-13 Apparat zum untersuchen einer bestückten elektronischen vorrichtung.
EP88100397A EP0277502B1 (en) 1987-01-13 1988-01-13 Apparatus for inspecting packaged electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62005273A JP2692068B2 (ja) 1987-01-13 1987-01-13 実装基板検査結果出力装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9149927A Division JP2917970B2 (ja) 1997-05-26 1997-05-26 実装基板検査結果出力方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63173488A JPS63173488A (ja) 1988-07-18
JP2692068B2 true JP2692068B2 (ja) 1997-12-17

Family

ID=11606624

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62005273A Expired - Lifetime JP2692068B2 (ja) 1987-01-13 1987-01-13 実装基板検査結果出力装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2692068B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1050423C (zh) 1993-04-21 2000-03-15 欧姆龙株式会社 目视检查辅助装置及基板检查装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0697788B2 (ja) * 1984-03-15 1994-11-30 株式会社明電舍 位置合せ補助装置
FR2570913B1 (fr) * 1984-09-24 1988-06-10 Aerospatiale Procede et dispositif d'aide au positionnement de pieces par superposition d'images
JPS61202145A (ja) * 1985-03-06 1986-09-06 Victor Co Of Japan Ltd 回路基板検査装置
JPS61243304A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Hitachi Denshi Ltd 実装基板の外観検査方式

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63173488A (ja) 1988-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5027295A (en) Apparatus for inspecting packaged electronic device
US5093797A (en) Apparatus for inspecting packaged electronic device
JP2692068B2 (ja) 実装基板検査結果出力装置
JP2917970B2 (ja) 実装基板検査結果出力方法
JPH07122901B2 (ja) 実装基板検査装置
JP2000004079A (ja) はんだ検査装置
JP2664141B2 (ja) 実装基板検査装置
JPH07120421B2 (ja) 実装基板検査装置
JPS62215855A (ja) 基板検査装置
JP2638792B2 (ja) 実装基板を検査するためのティーチング装置
JPS62180251A (ja) 基板自動検査装置におけるティーチング方法および装置
JPS63148152A (ja) 基板検査装置
JP2971809B2 (ja) 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置
JPS6390707A (ja) 実装基板検査装置
JP2790557B2 (ja) 検査データ教示方法およびこの方法を用いた実装基板検査装置
JPH06174446A (ja) 実装部品検査装置
JPH07107510B2 (ja) 基板検査装置および基板検査方法
JP2576815B2 (ja) 実装基板検査装置
JPH0274848A (ja) 基板検査装置における教示方法
JPH07120420B2 (ja) 実装基板検査装置
JP2745476B2 (ja) プリント基板検査装置
JPH01206243A (ja) 基板の検査方法
JPH06201340A (ja) 実装部品検査装置
JP2000019123A (ja) はんだ検査装置
JPH01206245A (ja) 基板の検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term