JPS61202145A - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、回路基板検査装置に係り、特にプリント基゛
板や、印刷基板上の回路パターンの不良を検査する回路
基板検査装置に関する。

従来の技術 従来、エツチングを施すことにより、プリント基板上に
回路パターンが形成されるが、このエツチング不良のた
め、別個の回路パターンが接続されたり（以下「ショー
ト」と称す）、あるいはエツチング過剰のため同一回路
パターンの一部が切断されたり（以下「オープン」と称
す）するという不良が発生していた。また、セラミック
基板の場合は印刷にて回路パターンを形成するのが通常
であるが、その回路パターンの印刷不良により上記と同
様の不良が発生していた。上記ショート及びオープン不
良を検査するため、従来より回路基板検査装置が使用さ
れていた。この回路基板検査装置は、大別づると、プロ
ーブビンを回路基板上の必要な個所に接触させて、回路
パターン情報を検出する検出部と、その検出した情報を
ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）やリード・オン
リ・メモリ（’ＲＯＭ　）に格納されたデータに基づい
て中央処理装置（ＣＰＵ）で処理する処理部と、その処
理した結果を表示する表示部とより構成されている。

第３図は、従来の回路基板検査装置の一例のブロック系
統図を示す。同図中、被検査基板１上に印刷された回路
パターン２．３上の互いに離れた部分２ａ、２ｂ、３ａ
、３ｂには夫々プローブビン４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄが
接触されている。ここで、回路基板検査の作業内容はＲ
ＡＭ５又はＲＯＭ６に記憶されており、ＣＰｔＪ７の命
令により入出力（Ｉｌｏ）インタフェース８を介してプ
ローブビン４ａ〜４ｄの役割を電圧印加側にしたり、Ｃ
ＰＵ７への電圧入力側にしたりして、その役割を決めて
検査作業を行なう。例えばプローブビン４ａ側を電圧印
加側として、ハイレベルにすると、部分２ａはプローブ
ビン４ａによりハイレベルとなっているので、回路パタ
ーン２を介して部分２ｂがハイレベルとなり、プローブ
ビン４ｂの入力もハイレベルとなる。プローブビン４ｂ
のハイレベルの入力信号は、Ｉ１０インタフェース８を
介してＣＰＵ７へ供給されて、ＣＰＵ７は回路パターン
２が正常な回路パターンであると判断する。

しかし、例えば回路パターン３上の部分３Ｃにて欠損が
ある場合、ＣＰＵ７からの命令によりプローブビン４Ｃ
をハイレベルとしても、欠損部分３Ｃによりプローブビ
ン４ｄの入力がハイレベルとならないので、ＣＰＬＪ７
は回路パターン３にオーブン不良が発生していると判断
して、画像処理装置（ＶＤＰ）９を介してモニタ表示装
置１０に例えばｒＮＧ　　０ＰＥＮ　　４ｃビン−４ｄ
ビン」と表示する（ここで、ｒＮＧＪは「不良」を示す
）。

以上の如く、被検査基板１上の回路パターンを順次検査
してゆき、不良があれば、その都度モニタ表示装置１０
に上記の様な表示を行なう。ここで、同一回路パターン
が正常なパターンかどうか（互いに離れた部分、例えば
２ａと２ｂにおいては、導通していれば「正常」で、導
通していないと「オープン不良」）と、異なる回路パタ
ーン２と３とが電気的に結合されていないかどうか（異
なる回路パターン上の部分、例えば２ａと３ｂにおいて
は、導通していれば「ショート不良」で、導通していな
いと１正常」である）とが同様な手順で検査できる。

発明が解決しようとする問題点 しかるに、不良が検出された際に、モニタにて「オープ
ン」か「ショート」かの不良の区別及び、プローブビン
番号が表示されるが、その番号が被検査基板上の具体的
にどの場所を示すかは即座に分らず、例えば別のテキス
ト等に記載されたパターン図上を、作業者が捜す必要が
あり、また作業者がモニタに表示されているプローブビ
ン番号等を見誤る可能性があり作業性が悪いという欠点
があった。

上記欠点を除去するために、パターン図の情報を別個の
メモリに記憶させて、モニタの画面上に上記パターン図
と不良個所を重ねて表示することが可能であるが、その
ためには多くのメモリ容量が必要であり、処理時間も長
くなり、設備費が例えば数千万円〜数億円と大きく、採
算が合わず、通常の回路基板検査装置には不適当である
等の問題点があった。

そこで、本発明はビデオカメラによる被検査基板の画像
に上記不良個所を表示するマーカを重ねてスーパーイン
ポーズ表示することにより、上記問題点を解決した回路
基板検査装置を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 本発明になる回路基板検査装置は記憶部と、検出部と、
不良データ判別手段と、表示マーカ信号発生手段と、第
１の映像信号発生手段と、合成手段と、表示部とより構
成される。記憶部は回路基板上の検査個所の座標値を予
め記憶する。検出部は、回路基板の記憶部に記憶されて
いる座標値の検査個所から順次回路パターン情報データ
を検出する。不良データ判別手段は、検出部よりの回路
パターン情報データが供給され、そのうち不良デ−タを
少なくとも２以上の種別毎に区分する。表示マーカ信号
発生手段は、２以上の種別毎に区分された不良データを
種別毎に異なる表示マーカ信号を発生する。第１の映像
信号発生手段は、表示マーカ信号を記憶部よりの不良デ
ータに対応する座標値と共に送出して第１の映像信号に
変換する。

合成手段は、回路基板を撮像して得た第２の映像信号と
上記第１の映像信号とを夫々合成する。表示部は、合成
手段よりの合成映像信号を表示する。

作用 表示部において、回路基板の回路パターンを第２の映像
信号により画面表示されると共に、上記第１の映像信号
によりその回路パターン上の不良が存在する部分に不良
種別に対応した色、形状。

文字等の表示マーカが重ねて表示される。作業者は、こ
の表示部の表示画像を見るだけで、−目で、不良検出状
況及びその種別を把握できる。

実施例 第１図は本発明になる回路基板検査装置の一実施例のブ
ロック系統図を示す。同図中、第３図と同一構成部分に
は同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。ＣＰＵ
７は被検査基板１上の回路パターンに夫々一端を接触さ
れ、かつ、他端が保持ユニット４により保持されたプロ
ーブビン４８〜４ｄからＩ１０インタフェース８を介し
て入来する電圧信号の有無により上記被検査基板１の回
路パターンの正常又は不良を検査して、不良が検出され
ると、そのプローブピン番号と不良の状態（オープンか
ショートか）をＲＡＭ１１に記憶する。

ここで、被検査基板１は上記プローブビン４８〜４ｄを
接触される前に、予めビデオカメラ１２により撮像され
、それにより得られた映像信号がフレームメモリ装置１
３に供給されて記憶される。

更に、記憶された映像信号が合成回路（ＭＩＸ）１４を
介してモニタ表示装置１０に供給され、ここで被検査基
板１の画像が表示される。作業者は、モニタ表示装置１
０に表示されたこの被検査基板１の回路パターンを見な
がらプローブビンにて接触させる不良検出部分（測定ポ
イント）のＸ−Ｙ座標を例えばライトペン１５等の外部
入力装置によりライトペンのインタフェース１６及びＣ
ＰＵ７を介して順次入力してＲＡＭ１１又はＲＯＭ１７
に記憶させる。

次に、回路基板検査時のＣＰＵ７の動作を第２図に示す
フローチャートと共に説明する。上記Ｘ−Ｙ座標のデー
タ入力完了後、ＣＰＬＪ７は前述の如く、被検査基板１
上の回路パターンを検査して、そのＮＧデータをＲＡＭ
１１に記憶するが、これを順次ＲＡＭ１１から読み出す
（第２図中、ステップ１８）。次に、予めＲＡＭ１１又
はＲＯＭ１７により記憶されているプローブビン番号の
データとそれに対応した被検査基板１の回路パターン上
の座標データとを読み出す（ステップ１９）。

しかる後に、読み出された回路パターンのデータが、オ
ープン不良であるかショート不良であるか判定して、夫
々の不良種別に応じて、ＣＰｔＪ　７は下記に示す色マ
ーカ信号を発生する。すなわち、ステップ１８にて読み
出されたＮＧデータをステップ２０にてオープン不良か
否かを判定して、上記ＮＧデータがオープン不良である
場合、次にステップ２１にてオープン不良のＮＧデータ
が、ショート不良か否かを判定する。ここで、もしオー
プン不良のＮＧデータがさらにショート不良である場合
ＣＰＵ７は黄マーカ信号を発生する（ステップ２７）。

しかし、オープン不良のＮＧデータがショート不良でな
い場合はＣＰＬＪ７は白マーカ信号を発生する（ステッ
プ２３）。一方、ステップ２０にて、読み出されたＮＧ
データがオープン不良でない場合、次にステップ２４に
てこのＮＧデータがショート不良か否かを判定する。こ
こで、もしＮＧデータがショート不良であればＣＰＬＪ
　７は赤マーカ信号を発生するが（ステップ２５）、Ｎ
Ｇデータがショート不良でない場合、ＣＰＵ　７は色マ
ーカ信号を発生せず、再びステップ１８に戻る（ステッ
プ２６）。その後、ＣＰＵ７は上記色マーカ信号とその
不良が発生した部分を示す座標値とを共にＶＤＰ９へ送
出する（ステップ２１）。

以下、上記と同様の動作を繰り返す。

ＶＤＰ９より映像信号の形態で取り出された色マーカ信
号は合成回路１４へ供給され、ここでフレームメモリ装
置１３よりの回路パターンの映像信号と混合された後、
モニタ表示装置１０に供給され、ここで回路パターンの
画像上の不良部分に黄、白又は赤で表示を順次行なう。

なお、表示マーカ色と不良内容とをまとめると、次表に
示す如くなる。

表 これにより、作業者はモニタ表示装置１０にて表示され
た回路パターン上の表示位置と表示されたマーカの色に
より一目で不良部分及び不良内容を把握することができ
る。

なお、上記フレームメモリ装置１３は必ずしも必要では
なく、直接ビデオカメラ１２からの映像信号を使用して
もよい。また、表示マーカは色マーカに限らず、例えば
丸、四角、三角又は星印等の形状パターンや、ＳＴ（シ
ョート）、ＯＰ（オープン）、及びＳ、Ｏ（ショートム
オープン）等の文字で表示することも可能である。

発明の効果 上述の如く、本発明によれば、ビデオカメラ及び表示部
等は、例えば家庭用ビデオカメラとスーパーインポーズ
付パソコンの組合せによりハード構成が可能であるため
、極めて低コスト（例えば２０万円程度）で構成でき、
さらに作業者が被検査基板の不良部分及び不良内容を、
別に作成したテキストを見ながら不良場所を探すことな
く、表示部に表示された回路パターンの画像中の表示マ
ーカの表示位置及びその色、形状又は文字により一目で
、かつ、具体的に把握でき、しかも不良データの読み誤
りなどを防止でき回路基板検査の作業性が向上する等の
特長を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になる回路基板検査装置の一実施例を示
すブロック系統図、第２図は第１図図示ブロック系統中
のＣＰＵの動作説明用フローチャート、第３図は従来の
回路基板検査装置の一例を示すブロック系統図である。 １・・・被検査基板、２，３・・・回路パターン、４・
・・保持ユニット、４ａ〜４ｄ・・・プローブビン、５
゜１１・・・ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、
６．１７・・・リード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）、７
・・・中央処理装置（ＣＰＵ）、８・・・入出力（Ｉｌ
ｏ）インタフェース、９・・・画像処理装置（ＶＤＰ）
、１０・・・モニタ表示装置、１２・・・ビデオカメラ
、１３・・・フレームメモリ装置、１４川合成回路（Ｍ
ＩＸ）、１５・・・ライトペン、１６・・・ライトペン
のインタフェース。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 回路基板上の検査個所の座標値を予め記憶する記憶部と
   、該回路基板の該記憶部に記憶されている座標値の検査
   個所から順次回路パターン情報データを検出する検出部
   と、該検出部よりの該回路パターン情報データが供給さ
   れ、そのうち不良データを少なくとも２以上の種別毎に
   区分する不良データ判別手段と、該２以上の種別毎に区
   分された不良データを該種別毎に異なる表示マーカ信号
   を発生する表示マーカ信号発生手段と、該表示マーカ信
   号を該記憶部よりの該不良データに対応する座標値と共
   に送出して第１の映像信号に変換する第１の映像信号発
   生手段と、該回路基板を撮像して得た第２の映像信号と
   該第１の映像信号とを夫々合成する合成手段と、該合成
   手段よりの合成映像信号を表示する表示部とよりなるこ
   とを特徴とする回路基板検査装置。