JP2640035B2 - 情報記録装置 - Google Patents
情報記録装置Info
- Publication number
- JP2640035B2 JP2640035B2 JP2317105A JP31710590A JP2640035B2 JP 2640035 B2 JP2640035 B2 JP 2640035B2 JP 2317105 A JP2317105 A JP 2317105A JP 31710590 A JP31710590 A JP 31710590A JP 2640035 B2 JP2640035 B2 JP 2640035B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- cartridge
- temperature
- information
- detection sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明はレーザ光線等の光学的手段を用いて、情報信
号を高密度かつ高速に記録する情報記録装置に関し、特
にその最適記録条件設定に関する。
号を高密度かつ高速に記録する情報記録装置に関し、特
にその最適記録条件設定に関する。
（ロ）従来の技術 記録膜面へのレーザ光線による情報の記録方法は現在
一般的には、レーザ光線の照射によって記録薄膜を昇温
させるという過程をとる。例えば光磁気ディスクでは、
膜面に一軸磁気異方性を持つ強磁性体薄膜を用い外部磁
場を印加しながらレーザ光を照射し、記録膜面の温度を
摂氏200度〜摂氏400度に上昇させ、磁化方向を外部磁場
の向きに向かせて信号を記録する。一方記録エリア内の
磁化方向として記録された情報の読み出しには、記録時
より弱いレーザ光を照射し、磁気カー効果を利用する。
この場合温度上昇は起こらない。
一般的には、レーザ光線の照射によって記録薄膜を昇温
させるという過程をとる。例えば光磁気ディスクでは、
膜面に一軸磁気異方性を持つ強磁性体薄膜を用い外部磁
場を印加しながらレーザ光を照射し、記録膜面の温度を
摂氏200度〜摂氏400度に上昇させ、磁化方向を外部磁場
の向きに向かせて信号を記録する。一方記録エリア内の
磁化方向として記録された情報の読み出しには、記録時
より弱いレーザ光を照射し、磁気カー効果を利用する。
この場合温度上昇は起こらない。
又光ディスクの記録方式には２通りの方式が用いられ
る。一方は記録マークのマーク位置に情報を持つもので
あり、他方は記録マークの長さに情報を持つものであ
る。ここでこの記録マークの構成状態は情報記録上大変
重要である。即ちレーザ光のパワーやパルス幅を最適に
コントロールする必要がある。このコントロールが充分
に行われないと、記録マークの長さが必要以上に長くな
ったり短くなったり、マーク位置がずれたりする。その
為読み出し時に誤りが増加することが予想される。以上
の点を考慮し一般的にはディスク上の一部エリアをテス
トエリアとして用い、テスト記録を行うことによりレー
ザ照射の最適条件をさがした上で情報の記録を行う。そ
の最適条件を見つける一つの方法として特開平１−2294
26号公報に見られるような方法がある。
る。一方は記録マークのマーク位置に情報を持つもので
あり、他方は記録マークの長さに情報を持つものであ
る。ここでこの記録マークの構成状態は情報記録上大変
重要である。即ちレーザ光のパワーやパルス幅を最適に
コントロールする必要がある。このコントロールが充分
に行われないと、記録マークの長さが必要以上に長くな
ったり短くなったり、マーク位置がずれたりする。その
為読み出し時に誤りが増加することが予想される。以上
の点を考慮し一般的にはディスク上の一部エリアをテス
トエリアとして用い、テスト記録を行うことによりレー
ザ照射の最適条件をさがした上で情報の記録を行う。そ
の最適条件を見つける一つの方法として特開平１−2294
26号公報に見られるような方法がある。
（ハ）発明が解決しようとする課題 前述の様に情報の記録にはレーザ光のパワーやパルス
幅のコントロールが大変重要であるが、一旦最適記録条
件を決定しても装置内の温度上昇により、光ディスクの
記録膜の温度が上昇し、記録条件が最適でなくなるとい
う問題があった。これを解決するためには、記録をする
前に毎回テストエリアで記録パワーの最適化を行わなけ
ればならず、情報処理速度が遅くなるという問題点があ
った。一方ディスクの温度が分かればおのずと最適記録
パワーを求めることができる為、ディスクの温度を温度
センサにより求めることが最も簡単であるが、回転中の
光ディスクの温度を測定することはコスト上の問題や、
装置が大型になる問題があり実現が難しい。
幅のコントロールが大変重要であるが、一旦最適記録条
件を決定しても装置内の温度上昇により、光ディスクの
記録膜の温度が上昇し、記録条件が最適でなくなるとい
う問題があった。これを解決するためには、記録をする
前に毎回テストエリアで記録パワーの最適化を行わなけ
ればならず、情報処理速度が遅くなるという問題点があ
った。一方ディスクの温度が分かればおのずと最適記録
パワーを求めることができる為、ディスクの温度を温度
センサにより求めることが最も簡単であるが、回転中の
光ディスクの温度を測定することはコスト上の問題や、
装置が大型になる問題があり実現が難しい。
（ニ）課題を解決するための手段 本発明ではスピンドルモータの回転動作開始時にその
回転の立ち上がり時間を計測して光ディスクの回転モー
メントを測定する手段、カートリッジの温度を測定する
手段、装置内の温度を測定する手段により解決する。
回転の立ち上がり時間を計測して光ディスクの回転モー
メントを測定する手段、カートリッジの温度を測定する
手段、装置内の温度を測定する手段により解決する。
（ホ）作用 光ディスクの回転モーメントを測定する手段により、
光ディスクの基板の材質即ち具体的にはガラスとポリカ
ーボネイト樹脂を識別し、この基板の比熱を判断し、該
比熱、カートリッジの温度、装置内の温度により光ディ
スクの温度の推定を行い、この光ディスクの温度情報に
より最適レーザ照射パワー値を得る。
光ディスクの基板の材質即ち具体的にはガラスとポリカ
ーボネイト樹脂を識別し、この基板の比熱を判断し、該
比熱、カートリッジの温度、装置内の温度により光ディ
スクの温度の推定を行い、この光ディスクの温度情報に
より最適レーザ照射パワー値を得る。
（ヘ）実施例 本発明の実施例を図面と共に説明する。第１図は光デ
ィスクの温度を推定する情報記録装置の回路構成図、第
２図はデータテーブルによる光ディスク温度推定の動作
図の一例を示す回路図であり、第３図は光ディスクの温
度と最適記録パワーの関係の一例をグラフに示したもの
である。
ィスクの温度を推定する情報記録装置の回路構成図、第
２図はデータテーブルによる光ディスク温度推定の動作
図の一例を示す回路図であり、第３図は光ディスクの温
度と最適記録パワーの関係の一例をグラフに示したもの
である。
第３図に示す通り最適記録パワー値は光ディスクの温
度上昇と共に小さくなる。
度上昇と共に小さくなる。
次に第１図に基づいて情報記録装置の構成並びにその
動作を説明する。（１）はカートリッジ、（２）はカー
トリッジ（１）内に収納された光ディスク、（３）は光
ディスク（２）を回転させるスピンドルモータ、（４）
はスピンドルモータ（３）に取り付けられた回転周期信
号発生器、（５）は記録再生に用いる光学ヘッド、
（６）はレーザ光、（７）はカートリッジ検出スイッ
チ、（８）はレーザパワーコントロール回路、（９）は
スピンドルモータ制御回路、（10）は回転数検出回路、
（11）はカートリッジ温度検出センサ、（12）は装置内
温度検出センサ、（13），（14）はA/D変換器、（15）
は制御回路、（16）はROM、（17）はカートリッジ
（１）を装置に挿入してからの時間を計測するタイマで
ある。
動作を説明する。（１）はカートリッジ、（２）はカー
トリッジ（１）内に収納された光ディスク、（３）は光
ディスク（２）を回転させるスピンドルモータ、（４）
はスピンドルモータ（３）に取り付けられた回転周期信
号発生器、（５）は記録再生に用いる光学ヘッド、
（６）はレーザ光、（７）はカートリッジ検出スイッ
チ、（８）はレーザパワーコントロール回路、（９）は
スピンドルモータ制御回路、（10）は回転数検出回路、
（11）はカートリッジ温度検出センサ、（12）は装置内
温度検出センサ、（13），（14）はA/D変換器、（15）
は制御回路、（16）はROM、（17）はカートリッジ
（１）を装置に挿入してからの時間を計測するタイマで
ある。
装置内にカートリッジ（１）が装着されたことをディ
スクカートリッジ検出スイッチ（７）が検出すると、制
御回路（15）がスピンドルモータ制御回路（９）にスピ
ンルモータ回転命令を出力し、スピンドルモータ（３）
が動作を開始する。一方スピンドルモータ（３）の回転
に応じて回転周期信号発生器（４）から得られる回転同
期信号は、回転数検出回路（10）に入力され、スピンド
ルモータ（３）の回転数がある定められた回転数に達す
ると、これを示す信号を制御回路（15）に対して出力す
る。制御回路（15）は前記スピンドルモータ回転命令を
出力した時点から回転数検出回路（10）の信号が得られ
るまでの時間を測定する。光ディスク基板は一般にガラ
ス又はポリカーボネイト樹脂が用いられているが、ガラ
スの場合はディスクの慣性モーメントが大きく、回転の
立ち上がり時間が長くなり、ポリカーボネイト樹脂の場
合は光ディスクの慣性モーメントが小さく、回転の立ち
上がり時間が短くなることから、光ディスク基板の材質
を判断することができ、その比熱が判る。一方カートリ
ッジ（１）の温度はカートリッジ温度検出センサ（11）
で、装置の温度は装置内温度検出センサ（12）でそれぞ
れ検出され、A/D変換器（13），（14）でディジタル信
号に変換され、それぞれの温度情報が制御回路（15）に
入力される。
スクカートリッジ検出スイッチ（７）が検出すると、制
御回路（15）がスピンドルモータ制御回路（９）にスピ
ンルモータ回転命令を出力し、スピンドルモータ（３）
が動作を開始する。一方スピンドルモータ（３）の回転
に応じて回転周期信号発生器（４）から得られる回転同
期信号は、回転数検出回路（10）に入力され、スピンド
ルモータ（３）の回転数がある定められた回転数に達す
ると、これを示す信号を制御回路（15）に対して出力す
る。制御回路（15）は前記スピンドルモータ回転命令を
出力した時点から回転数検出回路（10）の信号が得られ
るまでの時間を測定する。光ディスク基板は一般にガラ
ス又はポリカーボネイト樹脂が用いられているが、ガラ
スの場合はディスクの慣性モーメントが大きく、回転の
立ち上がり時間が長くなり、ポリカーボネイト樹脂の場
合は光ディスクの慣性モーメントが小さく、回転の立ち
上がり時間が短くなることから、光ディスク基板の材質
を判断することができ、その比熱が判る。一方カートリ
ッジ（１）の温度はカートリッジ温度検出センサ（11）
で、装置の温度は装置内温度検出センサ（12）でそれぞ
れ検出され、A/D変換器（13），（14）でディジタル信
号に変換され、それぞれの温度情報が制御回路（15）に
入力される。
続いて第２図に基づいてデータテーブルによる光ディ
スク温度推定動作について説明を行う。（21）は前記カ
ートリッジ温度検出センサ（11）と前記A/D変換器（1
3）とから成り、カートリッジ温度を８種類のランクに
分けて、それぞれ３ビットで表現して出力するカートリ
ッジ温度検出回路、（22）は前記装置内温度検出センサ
（12）と前記A/D変換器（14）とから成り、装置内温度
を８種類のランクに分けて、それぞれ３ビットで表現し
て出力する装置内温度検出回路、（23）は前記カートリ
ッジ（１）を装置内に挿入した後の時間の計測を行う前
記タイマ（17）から成り、経過時間を８種類のランクに
分けて、それぞれ３ビットで表現して出力する経過時間
タイマ、（24）は装置の電源を入れた後の温度の変化に
起因する前記装置内温度検出センサ（12）情報の微分値
から成り、装置内温度の変化率を８種類のランクに分け
て、それぞれ３ビットで表現して出力する装置内温度変
化算出回路、（15−１）は前記制御回路（15）がスピン
ドルモータ回転命令を出力した時点から前記回転数検出
回路（10）の信号が得られるまでの時間を測定する基板
材質検出回路、（16）はレーザパワー最適値を16種類の
ランクに分け、それぞれ４ビットで表現した4096［２の
（３×４乗）］通りのデータを有するデータテーブルの
ROMである。カートリッジ温度検出回路（21）、装置内
温度検出回路（22）、装置内温度変化算出回路（24）及
び経過時間タイマ（23）から得られる情報はそれぞれ３
ビットづつの合計12ビットの情報を持ち、制御回路（1
5）で処理され、これらの情報に応じ、ROM（16）中の40
96個のアドレスデータから例えばレーザパワー最適値16
ランク中の８と言うレベルの出力を得て、１つの最適記
録条件を読み出す。又このデータテーブルは図に示す様
に光ディスクの材質に応じたものをそれぞれ用意してお
き、基板材質検出回路（15−１）の情報に従い切り替え
て使用する。この結果により制御回路（15）は第１図に
示す前記レーザパワーコントロール回路（８）を通じ記
録パワーを設定する。尚本説明では制御回路（15）への
入力情報として経過時間タイマ（23）、装置内温度変化
算出回路（24）を含めて説明したが、これを含めない即
ちカートリッジ温度検出回路（21）と装置内温度検出回
路（22）の入力情報だけでも光ディスクの温度の検出は
可能である。唯より正確なデータ算出の為には経過時間
タイマ（23）と装置内温度変化算出回路（24）を含めた
方が良い。
スク温度推定動作について説明を行う。（21）は前記カ
ートリッジ温度検出センサ（11）と前記A/D変換器（1
3）とから成り、カートリッジ温度を８種類のランクに
分けて、それぞれ３ビットで表現して出力するカートリ
ッジ温度検出回路、（22）は前記装置内温度検出センサ
（12）と前記A/D変換器（14）とから成り、装置内温度
を８種類のランクに分けて、それぞれ３ビットで表現し
て出力する装置内温度検出回路、（23）は前記カートリ
ッジ（１）を装置内に挿入した後の時間の計測を行う前
記タイマ（17）から成り、経過時間を８種類のランクに
分けて、それぞれ３ビットで表現して出力する経過時間
タイマ、（24）は装置の電源を入れた後の温度の変化に
起因する前記装置内温度検出センサ（12）情報の微分値
から成り、装置内温度の変化率を８種類のランクに分け
て、それぞれ３ビットで表現して出力する装置内温度変
化算出回路、（15−１）は前記制御回路（15）がスピン
ドルモータ回転命令を出力した時点から前記回転数検出
回路（10）の信号が得られるまでの時間を測定する基板
材質検出回路、（16）はレーザパワー最適値を16種類の
ランクに分け、それぞれ４ビットで表現した4096［２の
（３×４乗）］通りのデータを有するデータテーブルの
ROMである。カートリッジ温度検出回路（21）、装置内
温度検出回路（22）、装置内温度変化算出回路（24）及
び経過時間タイマ（23）から得られる情報はそれぞれ３
ビットづつの合計12ビットの情報を持ち、制御回路（1
5）で処理され、これらの情報に応じ、ROM（16）中の40
96個のアドレスデータから例えばレーザパワー最適値16
ランク中の８と言うレベルの出力を得て、１つの最適記
録条件を読み出す。又このデータテーブルは図に示す様
に光ディスクの材質に応じたものをそれぞれ用意してお
き、基板材質検出回路（15−１）の情報に従い切り替え
て使用する。この結果により制御回路（15）は第１図に
示す前記レーザパワーコントロール回路（８）を通じ記
録パワーを設定する。尚本説明では制御回路（15）への
入力情報として経過時間タイマ（23）、装置内温度変化
算出回路（24）を含めて説明したが、これを含めない即
ちカートリッジ温度検出回路（21）と装置内温度検出回
路（22）の入力情報だけでも光ディスクの温度の検出は
可能である。唯より正確なデータ算出の為には経過時間
タイマ（23）と装置内温度変化算出回路（24）を含めた
方が良い。
（ト）発明の効果 本発明によれば、装置の使用中でも光ディスクの温度
が推定でき、且つ光ディスク基板の材質が違っても光デ
ィスクの温度を推定することが可能となり、常に最適条
件のレーザ照射状態で情報の記録を行うことができる。
その結果高速に精度良く光ディスク上に情報を記録する
ことが可能となる。
が推定でき、且つ光ディスク基板の材質が違っても光デ
ィスクの温度を推定することが可能となり、常に最適条
件のレーザ照射状態で情報の記録を行うことができる。
その結果高速に精度良く光ディスク上に情報を記録する
ことが可能となる。
第１図は本発明の情報記録装置の回路構成図、第２図は
本発明のデータテーブルによる光ディスク温度推定動作
の一例を示す回路図、第３図は光ディスクの温度と最適
記録パワーとの関係を示すグラフである。 （１）……カートリッジ、（２）……光ディスク、
（３）……スピンドルモータ、（４）……回転周期信号
発生器、（９）……スピンドルモータ制御回路、（10）
……回転数検出回路、（11）……カートリッジ温度検出
センサ、（12）……装置内温度検出センサ、（15）……
制御回路。
本発明のデータテーブルによる光ディスク温度推定動作
の一例を示す回路図、第３図は光ディスクの温度と最適
記録パワーとの関係を示すグラフである。 （１）……カートリッジ、（２）……光ディスク、
（３）……スピンドルモータ、（４）……回転周期信号
発生器、（９）……スピンドルモータ制御回路、（10）
……回転数検出回路、（11）……カートリッジ温度検出
センサ、（12）……装置内温度検出センサ、（15）……
制御回路。
Claims (1)
- 【請求項１】レーザ光線等の照射によって光学的に識別
が可能な２つの状態をとる記録膜を有する光ディスクに
信号を記録する情報記録装置であり、 該情報記録装置は光ディスクと、 情報記録装置に脱着可能な構造で、光ディスクを覆うカ
ートリッジと、 カートリッジに取り付けたカートリッジ温度検出センサ
と、 装置内の温度検出センサと、 光ディスクを回転せしめるスピンドルモータの回転数が
所定の回転数に達するまでの時間を計数し、該計数した
時間に基づいて光ディスクの基板材質を検出する基板材
質検出回路と、 前記基板材質検出回路により検出された情報に基づい
て、その基板の比熱を判断する制御回路とを備え、 前記制御回路により判断された比熱及び前記カートリッ
ジ温度検出センサ、前記装置内温度検出センサの出力情
報に応じて光ディスクへの照射レーザパワーを変えるこ
とを特徴とする情報記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2317105A JP2640035B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 情報記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2317105A JP2640035B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 情報記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04184716A JPH04184716A (ja) | 1992-07-01 |
| JP2640035B2 true JP2640035B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=18084499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2317105A Expired - Lifetime JP2640035B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 情報記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2640035B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6413255A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-18 | Pioneer Electronic Corp | Disk discriminating method |
| JPH01179224A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-17 | Sony Corp | 記録装置 |
| JPH01191328A (ja) * | 1988-01-25 | 1989-08-01 | Canon Inc | カートリツジ及びそれを用いた光学的情報処理装置 |
-
1990
- 1990-11-20 JP JP2317105A patent/JP2640035B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04184716A (ja) | 1992-07-01 |
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