JP2572581B2 - セクタマ−ク信号作成装置 - Google Patents
セクタマ−ク信号作成装置Info
- Publication number
- JP2572581B2 JP2572581B2 JP61261966A JP26196686A JP2572581B2 JP 2572581 B2 JP2572581 B2 JP 2572581B2 JP 61261966 A JP61261966 A JP 61261966A JP 26196686 A JP26196686 A JP 26196686A JP 2572581 B2 JP2572581 B2 JP 2572581B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sector
- sector mark
- signal
- read
- mark
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Indexing, Searching, Synchronizing, And The Amount Of Synchronization Travel Of Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスク又は光磁気ディスクの各セク
タのセクタマークを示す信号を得るための装置に関す
る。
タのセクタマークを示す信号を得るための装置に関す
る。
プリフォーマット付きの光ディスク及び光磁気ディス
クの各セクタの先頭位置には、周知の通り、セクタマー
クが記録されている。
クの各セクタの先頭位置には、周知の通り、セクタマー
クが記録されている。
光ディスク又は光磁気ディスクの検査では、このセク
タマークを示す信号（セクタマーク信号と呼ぶこととす
る）を得ることが、当該セクタマークの記録されたセク
タに対する検査を行なう前提として必要とされることが
ある。従来のこの検査では、各セクタからセクタマーク
を読取り、それによって得た読取り信号をそのままセク
タマーク信号として用いるようにしていた。
タマークを示す信号（セクタマーク信号と呼ぶこととす
る）を得ることが、当該セクタマークの記録されたセク
タに対する検査を行なう前提として必要とされることが
ある。従来のこの検査では、各セクタからセクタマーク
を読取り、それによって得た読取り信号をそのままセク
タマーク信号として用いるようにしていた。
しかし、このような方法では、ディスク面のキズ，デ
ィスクの回転変動，読取りミス，若しくはセクタマーク
自体の記録漏れ等を原因として或るセクタからセクタマ
ークを読取れなかった場合、該セクタについてはセクタ
マーク信号を得ることができない。したがって、かかる
場合には、該セクタに対する検査を行なうことが不可能
になるという問題があった。
ィスクの回転変動，読取りミス，若しくはセクタマーク
自体の記録漏れ等を原因として或るセクタからセクタマ
ークを読取れなかった場合、該セクタについてはセクタ
マーク信号を得ることができない。したがって、かかる
場合には、該セクタに対する検査を行なうことが不可能
になるという問題があった。
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、セクタ
マークが読取られなかったセクタについてもセクタマー
ク信号を得ることのできる装置を提供し、これにより該
セクタに対しても検査を可能ならしめようとするもので
ある。
マークが読取られなかったセクタについてもセクタマー
ク信号を得ることのできる装置を提供し、これにより該
セクタに対しても検査を可能ならしめようとするもので
ある。
この発明に係るセクタマーク信号作成装置は、ディス
ク記録媒体の各セクタに予めフォーマットされたセクタ
マークを、該ディスクから読取る読取り手段と、前記読
取り手段から出力されるセクタマーク読取り信号を基に
して該セクタの終わりに対応してエンドフラグを生成す
るエンドフラグ生成手段と、前記エンドフラグの生成時
点から所定時間内に次のセクタマーク読取り信号が得ら
れたか否かを判定することにより、セクタマークが前記
読取り手段により読取られなかったセクタを検出する検
出手段と、セクタマークが読取られなかったことが前記
検出手段により検出されたセクタに対応して、セクタマ
ークを示す擬似信号を発生する擬似信号発生手段と、前
記読取り手段によるセクタマーク読取り信号及び前記擬
似信号発生手段から発生した擬似信号の両方を、セクタ
マーク信号として出力する出力手段と、擬似信号発生手
段から発生した擬似信号に基づき、セクタマークが読取
られなかったことを表示する表示手段とを具えたことを
特徴とする。
ク記録媒体の各セクタに予めフォーマットされたセクタ
マークを、該ディスクから読取る読取り手段と、前記読
取り手段から出力されるセクタマーク読取り信号を基に
して該セクタの終わりに対応してエンドフラグを生成す
るエンドフラグ生成手段と、前記エンドフラグの生成時
点から所定時間内に次のセクタマーク読取り信号が得ら
れたか否かを判定することにより、セクタマークが前記
読取り手段により読取られなかったセクタを検出する検
出手段と、セクタマークが読取られなかったことが前記
検出手段により検出されたセクタに対応して、セクタマ
ークを示す擬似信号を発生する擬似信号発生手段と、前
記読取り手段によるセクタマーク読取り信号及び前記擬
似信号発生手段から発生した擬似信号の両方を、セクタ
マーク信号として出力する出力手段と、擬似信号発生手
段から発生した擬似信号に基づき、セクタマークが読取
られなかったことを表示する表示手段とを具えたことを
特徴とする。
読取り手段が各セクタからセクタマークを読取ると、
検出手段は、セクタマークが読取られなかったセクタを
検出する。擬似信号発生手段は、検出されたこのセクタ
に対応して、セクタマークを示す擬似信号を発生する。
出力手段は、読取り手段によるセクタマーク読取り信号
及び前記擬似信号の両方を、セクタマーク信号として出
力する。
検出手段は、セクタマークが読取られなかったセクタを
検出する。擬似信号発生手段は、検出されたこのセクタ
に対応して、セクタマークを示す擬似信号を発生する。
出力手段は、読取り手段によるセクタマーク読取り信号
及び前記擬似信号の両方を、セクタマーク信号として出
力する。
このように、読取り手段によりセクタマークが読取ら
れたセクタについては、セクタマーク読取り信号がその
ままセクタマーク信号となり、他方、セクタマークが読
取られなかったセクタについては、擬似信号発生手段か
ら発生した擬似信号がセクタマーク信号となる。したが
って、セクタマークが読取られなかったセクタについて
もセクタマーク信号を得ることができるようになる。
れたセクタについては、セクタマーク読取り信号がその
ままセクタマーク信号となり、他方、セクタマークが読
取られなかったセクタについては、擬似信号発生手段か
ら発生した擬似信号がセクタマーク信号となる。したが
って、セクタマークが読取られなかったセクタについて
もセクタマーク信号を得ることができるようになる。
以下、添付図面を参照してこの発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第１図は、この発明に係るセクタマーク信号作成装置
の一実施例を示す。この装置１において、読取りヘッド
２は、検査対象であるディスク（光ディスク又は光磁気
ディスク）３の各セクタSi（ｉ＝1,2,3…）から、セク
タマークを読取る。ヘッド２によるセクタマーク読取り
信号の一例を示すと、第２図（ａ）の通りである。この
セクタマーク読取り信号ａは、エンドフラグ生成回路4,
セクタマーク有無検出回路5,オア回路６に与えられる。
の一実施例を示す。この装置１において、読取りヘッド
２は、検査対象であるディスク（光ディスク又は光磁気
ディスク）３の各セクタSi（ｉ＝1,2,3…）から、セク
タマークを読取る。ヘッド２によるセクタマーク読取り
信号の一例を示すと、第２図（ａ）の通りである。この
セクタマーク読取り信号ａは、エンドフラグ生成回路4,
セクタマーク有無検出回路5,オア回路６に与えられる。
クロックパルス発生回路７からは、クロックパルスCL
Kが、エンドフラグ生成回路4,ゲート生成回路8,擬似セ
クタマーク発生回路９に与えられている。
Kが、エンドフラグ生成回路4,ゲート生成回路8,擬似セ
クタマーク発生回路９に与えられている。
エンドフラグ生成回路４は、各セクタSiについて、セ
クタマーク読取り信号ａが与えられたことに基づきクロ
ックパルスCLKを所定数カウントした時点で、該セクタS
iの終了を示すエンドフラグ信号ｂを生成する（第２図
（ｂ））。信号ｂは、セクタマーク有無検出回路5,ゲー
ト生成回路８に与えられる。
クタマーク読取り信号ａが与えられたことに基づきクロ
ックパルスCLKを所定数カウントした時点で、該セクタS
iの終了を示すエンドフラグ信号ｂを生成する（第２図
（ｂ））。信号ｂは、セクタマーク有無検出回路5,ゲー
ト生成回路８に与えられる。
セクタマーク有無検出回路５は、各セクタSiについて
のエンドフラグ信号ｂが与えられた時点から、該セクタ
Siの次のセクタSi＋１についてのセクタマーク読取り信
号ａが与えられた時点までの時間T1にわたり、該セクタ
Ti＋１についてのセクタマーク有無信号ｄを出力する
（第２図（ｄ））。他方、セクタマーク読取り信号ａが
与えられなかったセクタSi＋１（即ち、ヘッド２により
セクタマークが読取られなかったセクタマークSi＋１）
（第２図では、セクタS3がこれに該当する）について
は、前記セクタSiについてのエンドフラグ信号ｂが与え
られた時点から時間T2（但しT2＞T1）にわたり、セクタ
マーク有無信号ｄを出力する（第２図（ｄ））。このよ
うにして、回路５は、セクタマークが読取られなかった
セクタを、該セクタについての信号ｄの時間長の形で検
出する。信号ｄは、擬似セクタマーク発生回路９に与え
られる。
のエンドフラグ信号ｂが与えられた時点から、該セクタ
Siの次のセクタSi＋１についてのセクタマーク読取り信
号ａが与えられた時点までの時間T1にわたり、該セクタ
Ti＋１についてのセクタマーク有無信号ｄを出力する
（第２図（ｄ））。他方、セクタマーク読取り信号ａが
与えられなかったセクタSi＋１（即ち、ヘッド２により
セクタマークが読取られなかったセクタマークSi＋１）
（第２図では、セクタS3がこれに該当する）について
は、前記セクタSiについてのエンドフラグ信号ｂが与え
られた時点から時間T2（但しT2＞T1）にわたり、セクタ
マーク有無信号ｄを出力する（第２図（ｄ））。このよ
うにして、回路５は、セクタマークが読取られなかった
セクタを、該セクタについての信号ｄの時間長の形で検
出する。信号ｄは、擬似セクタマーク発生回路９に与え
られる。
他方、ゲート生成回路８は、各セクタSi＋１につい
て、該セクタSi＋１の前のセクタSiについてのエンドフ
ラグ信号ｂが与えられたことに基づき時間T3（但しT1＜
T3＜T2）にわたりゲート信号Ｃを生成する（第２図
（ｃ））。信号Ｃは、擬似セクタマーク発生回路９に与
えられる。
て、該セクタSi＋１の前のセクタSiについてのエンドフ
ラグ信号ｂが与えられたことに基づき時間T3（但しT1＜
T3＜T2）にわたりゲート信号Ｃを生成する（第２図
（ｃ））。信号Ｃは、擬似セクタマーク発生回路９に与
えられる。
擬似セクタマーク発生回路９は、各セクタSi＋１につ
いて、ゲート信号Ｃの時間長T3とセクタマーク有無信号
ｄの時間長（T1又はT2）とを比較する。そして、後者の
ほうが大きいセクタSi＋１（即ち、ヘッド２によりセク
タマークが読取られなかったことが、セクタマーク有無
検出回路５により信号ｄの時間長T2として検出されたセ
クタSi＋１）のみに対応して、擬似セクタマーク信号ｅ
を発生する（第２図（ｅ））。つまり、時間長T3のゲー
ト信号Ｃの立下がり時にセクタマーク有無信号ｄがなお
も発生している（ｄの時間長がT2である）ことを条件に
擬似セクタマーク信号ｅを発生する。信号ｅは、オア回
路６に与えられるとともに、前記セクタSi＋１からセク
タマークが読取られなかったことを検査者に対して表示
するための信号として、図示しない表示装置に与えられ
る。
いて、ゲート信号Ｃの時間長T3とセクタマーク有無信号
ｄの時間長（T1又はT2）とを比較する。そして、後者の
ほうが大きいセクタSi＋１（即ち、ヘッド２によりセク
タマークが読取られなかったことが、セクタマーク有無
検出回路５により信号ｄの時間長T2として検出されたセ
クタSi＋１）のみに対応して、擬似セクタマーク信号ｅ
を発生する（第２図（ｅ））。つまり、時間長T3のゲー
ト信号Ｃの立下がり時にセクタマーク有無信号ｄがなお
も発生している（ｄの時間長がT2である）ことを条件に
擬似セクタマーク信号ｅを発生する。信号ｅは、オア回
路６に与えられるとともに、前記セクタSi＋１からセク
タマークが読取られなかったことを検査者に対して表示
するための信号として、図示しない表示装置に与えられ
る。
オア回路６の出力信号ｆ（即ち、ヘッド２からのセク
タマーク読取り信号ａ及び擬似セクタマーク発生回路９
からの擬似セクタマーク信号ｅ）は、ディスク３の各セ
クタのセクタマークを示すセクタマーク信号として、図
示しないディスク検査装置に与えられる。
タマーク読取り信号ａ及び擬似セクタマーク発生回路９
からの擬似セクタマーク信号ｅ）は、ディスク３の各セ
クタのセクタマークを示すセクタマーク信号として、図
示しないディスク検査装置に与えられる。
このように、この装置１からは、ディスク３の各セク
タのうち、ヘッド２によりセクタマークが読取られたセ
クタについては、セクタマーク読取り信号ａがそのまま
セクタマーク信号として前記検査装置に与えられる。他
方、ディスク３の各セクタのうち、ヘッド２によりセク
タマークが読取られなかったセクタについては、擬似セ
クタマーク発生回路９から発生した擬似セクタマーク信
号ｅがセクタマーク信号として前記検査装置に与えられ
る。
タのうち、ヘッド２によりセクタマークが読取られたセ
クタについては、セクタマーク読取り信号ａがそのまま
セクタマーク信号として前記検査装置に与えられる。他
方、ディスク３の各セクタのうち、ヘッド２によりセク
タマークが読取られなかったセクタについては、擬似セ
クタマーク発生回路９から発生した擬似セクタマーク信
号ｅがセクタマーク信号として前記検査装置に与えられ
る。
検査装置では、このセクタマーク信号に基づき、ディ
スク３の各セクタに対する検査が行なわれる。
スク３の各セクタに対する検査が行なわれる。
〔発明の効果〕 以上の通り、この発明に係るセクタマーク信号作成装
置によれば、光ディスク又は光磁気ディスクの各セクタ
からセクタマークを読取った際にディスク面のキズ，デ
ィスクの回転変動，読取りミス，若しくはセクタマーク
自体の記録漏れ等を原因としてセクタマークが読取られ
なかったセクタについも、セクタマーク信号を得ること
ができる。したがって、各セクタに対する検査を行なう
前提として該セクタのセクタマーク信号を得ることが必
要とされる光ディスク又は光磁気ディスク検査において
この装置を採用すれば、セクタマークが読取られなかっ
たセクタに対しても検査を行なうことができるようにな
り、検査を中断することなく効率的に行なうことができ
る。
置によれば、光ディスク又は光磁気ディスクの各セクタ
からセクタマークを読取った際にディスク面のキズ，デ
ィスクの回転変動，読取りミス，若しくはセクタマーク
自体の記録漏れ等を原因としてセクタマークが読取られ
なかったセクタについも、セクタマーク信号を得ること
ができる。したがって、各セクタに対する検査を行なう
前提として該セクタのセクタマーク信号を得ることが必
要とされる光ディスク又は光磁気ディスク検査において
この装置を採用すれば、セクタマークが読取られなかっ
たセクタに対しても検査を行なうことができるようにな
り、検査を中断することなく効率的に行なうことができ
る。
しかも、擬似信号に基づきセクタマークが読取られな
かったことを表示するようにしたので、読取りに異常が
あったことを即座に知らせることができる。
かったことを表示するようにしたので、読取りに異常が
あったことを即座に知らせることができる。
第１図はこの発明に係るセクタマーク信号作成装置の一
実施例を示すブロック図、第２図は第１図のセクタマー
ク信号作成装置の各部の出力信号の一例を示す図であ
る。 １……セクタマーク信号作成装置,2……読取りヘッド,3
……ディスク,4……エンドフラグ生成回路,5……セクタ
マーク有無検出回路,6……オア回路,7……クロックパル
ス発生回路,8……ゲート生成回路,9……擬似セクタマー
ク発生回路
実施例を示すブロック図、第２図は第１図のセクタマー
ク信号作成装置の各部の出力信号の一例を示す図であ
る。 １……セクタマーク信号作成装置,2……読取りヘッド,3
……ディスク,4……エンドフラグ生成回路,5……セクタ
マーク有無検出回路,6……オア回路,7……クロックパル
ス発生回路,8……ゲート生成回路,9……擬似セクタマー
ク発生回路
Claims (1)
- 【請求項１】ディスク型記録媒体の各セクタに予めフォ
ーマットされたセクタマークを、該ディスクから読取る
読取り手段と、 前記読取り手段から出力されるセクタマーク読取り信号
を基にして該セクタの終わりに対応してエンドフラグを
生成するエンドフラグ生成手段と、 前記エンドフラグの生成時点から所定時間内に次のセク
タマーク読取り信号が得られたか否かを判定することに
より、セクタマークが前記読取り手段により読取られな
かったセクタを検出する検出手段と、 セクタマークが読取られなかったことが前記検出手段に
より検出されたセクタに対応して、セクタマークを示す
擬似信号を発生する擬似信号発生手段と、 前記読取り手段によるセクタマーク読取り信号及び前記
擬似信号発生手段から発生した擬似信号の両方を、セク
タマーク信号として出力する出力手段と、 擬似信号発生手段から発生した擬似信号に基づき、セク
タマークが読取られなかったことを表示する表示手段と を具えたことを特徴とするセクタマーク信号作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261966A JP2572581B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | セクタマ−ク信号作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261966A JP2572581B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | セクタマ−ク信号作成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117385A JPS63117385A (ja) | 1988-05-21 |
| JP2572581B2 true JP2572581B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=17369129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61261966A Expired - Lifetime JP2572581B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | セクタマ−ク信号作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2572581B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60164980A (ja) * | 1984-02-06 | 1985-08-28 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスク制御装置 |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP61261966A patent/JP2572581B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63117385A (ja) | 1988-05-21 |
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