JPH0273178A - 磁気媒体の欠陥検出方式 - Google Patents
磁気媒体の欠陥検出方式Info
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- JPH0273178A JPH0273178A JP22521688A JP22521688A JPH0273178A JP H0273178 A JPH0273178 A JP H0273178A JP 22521688 A JP22521688 A JP 22521688A JP 22521688 A JP22521688 A JP 22521688A JP H0273178 A JPH0273178 A JP H0273178A
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- Japan
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- wave height
- magnetic medium
- memory
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 5
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気媒体の欠陥の検出、特に磁気媒体の波高
値の均一性を定量的に評価する磁気媒体の欠陥検出方式
に関する。
値の均一性を定量的に評価する磁気媒体の欠陥検出方式
に関する。
最近、磁気記録再生装置に使用される磁気媒体は、トラ
ック密度を高め、記録密度を高めている。そのため、磁
気媒体面からの再生信号の波高値の面内の均一性につい
て極力変動の少ないものが要求されるようになってきた
。
ック密度を高め、記録密度を高めている。そのため、磁
気媒体面からの再生信号の波高値の面内の均一性につい
て極力変動の少ないものが要求されるようになってきた
。
従来、この特性を測定するために、面内の毎回生信号の
波高値を加算し、その平均値（ＴＡＡ ニドラック平均
出力）とＴＡＡに対して８０％から１２０％のスライス
レベルを設定し、ある所定の時間内の平均出力値（ＴＡ
ＡＩ、ＴＡＡ２．・・・・・・ＴＡＡｎ）を比較し、こ
のスライスレベルを越えあるいは下廻っているときにモ
ジュレーションエラーとして検出している。
波高値を加算し、その平均値（ＴＡＡ ニドラック平均
出力）とＴＡＡに対して８０％から１２０％のスライス
レベルを設定し、ある所定の時間内の平均出力値（ＴＡ
ＡＩ、ＴＡＡ２．・・・・・・ＴＡＡｎ）を比較し、こ
のスライスレベルを越えあるいは下廻っているときにモ
ジュレーションエラーとして検出している。
上述した従来の検査方式では、磁気媒体からの再生信号
の均一性を定量的に測定するには、毎回スライスレベル
を変更する必要があるので、測定回数が増加する。また
、その都度信号を再書き込み再読み出しするため、測定
精度が悪く、磁気媒体の面の均一性を定量的に測定する
には困難であった。
の均一性を定量的に測定するには、毎回スライスレベル
を変更する必要があるので、測定回数が増加する。また
、その都度信号を再書き込み再読み出しするため、測定
精度が悪く、磁気媒体の面の均一性を定量的に測定する
には困難であった。
したがって、本発明の目的は、磁気媒体の面内の再生信
号の均一性の細かいレベルで検出できる磁気媒体の欠陥
検出方法を提供することである。
号の均一性の細かいレベルで検出できる磁気媒体の欠陥
検出方法を提供することである。
本発明によれば、一定振幅の信号が記録された磁気媒体
を再生する再生回路と、前記再生信号の波高値検出回路
と、前記波高値をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器
と、前記ディジタル値となった波高値と対応するアドレ
スにその波高値の出現数を加算する回路とを有すること
を特徴とする磁気媒体の欠陥検出方式が得られる。
を再生する再生回路と、前記再生信号の波高値検出回路
と、前記波高値をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器
と、前記ディジタル値となった波高値と対応するアドレ
スにその波高値の出現数を加算する回路とを有すること
を特徴とする磁気媒体の欠陥検出方式が得られる。
次に、本発明の一実施例を示した図面を参照して、本発
明をより詳細に説明する。
明をより詳細に説明する。
第１図を参照すると、本発明の一実施例において、磁気
媒体１上の一定振幅の信号を磁気ヘッド２によって読み
込み、再生増幅器３にて増幅する。その後、波高値検出
回路４にて検波整流を行なう。第２図に示すように、波
高値り、、Ｄ２゜Ｄ、が検波される。各波高値はＡ−Ｄ
変換器５によりディジタル値に変換された後、タイミン
グ発生回′＃！７の同期により波高値に対応したメモリ
６に書き込まれる。すなわち、波高値Ｄ Ｉ ＋ Ｄ２
。
媒体１上の一定振幅の信号を磁気ヘッド２によって読み
込み、再生増幅器３にて増幅する。その後、波高値検出
回路４にて検波整流を行なう。第２図に示すように、波
高値り、、Ｄ２゜Ｄ、が検波される。各波高値はＡ−Ｄ
変換器５によりディジタル値に変換された後、タイミン
グ発生回′＃！７の同期により波高値に対応したメモリ
６に書き込まれる。すなわち、波高値Ｄ Ｉ ＋ Ｄ２
。
Ｄ、・・・・・・が与えられると、メモリ６に対して与
えられた波高値をアドレスとして指定する。例えは、波
高値Ｄ１が与えれれば、メモリ６のアドレスｄ１が指定
され、波高値Ｄ２が与えられれば、メモリ６のアドレス
ｄ２が指定される。メモリ６は初期状態ですべての内容
が「０」となっている。この状態で例えばアドレスｄｉ
が指定されると、直ちにアドレスｄ１のデータ「０」が
読み出され、このデータ「０」は＋１加算器２０に加え
られて「１」が加算される。この加算出力「１」はメモ
リ６のアドレスｄ１に「１」として書き込まれる。同様
に波高値Ｄ２が与えられるとアドレスｄ２の内容が「０
」から「１」になる。このようＧ、、′、波高値が与え
られる毎に、その波高値のアドレスの内容に「１」が加
算されていく。以上のようにして、磁気媒体１の再生が
終了すると、メモリ６にはこの媒体の再生開始から終了
までに得られる再生信号のすべてについて、各波高値別
にその発生回数が記憶されることになる。
えられた波高値をアドレスとして指定する。例えは、波
高値Ｄ１が与えれれば、メモリ６のアドレスｄ１が指定
され、波高値Ｄ２が与えられれば、メモリ６のアドレス
ｄ２が指定される。メモリ６は初期状態ですべての内容
が「０」となっている。この状態で例えばアドレスｄｉ
が指定されると、直ちにアドレスｄ１のデータ「０」が
読み出され、このデータ「０」は＋１加算器２０に加え
られて「１」が加算される。この加算出力「１」はメモ
リ６のアドレスｄ１に「１」として書き込まれる。同様
に波高値Ｄ２が与えられるとアドレスｄ２の内容が「０
」から「１」になる。このようＧ、、′、波高値が与え
られる毎に、その波高値のアドレスの内容に「１」が加
算されていく。以上のようにして、磁気媒体１の再生が
終了すると、メモリ６にはこの媒体の再生開始から終了
までに得られる再生信号のすべてについて、各波高値別
にその発生回数が記憶されることになる。
データが記憶されたメモリ６は、次にアドレス順に読み
出しが行なわれる。読み出されたデータをプロッタ等に
表示することにより、波高値の発生回数分布を表示する
ことができる。
出しが行なわれる。読み出されたデータをプロッタ等に
表示することにより、波高値の発生回数分布を表示する
ことができる。
このようにして振幅ヒストグラムを求めることにより、
次のようなことを知ることができる。
次のようなことを知ることができる。
■アドレス番地に対応した波高値りいと発生回数Ｍ、と
を各波高値毎に掛け、合算したものを発生回数の総合計
（Ｍ、＋Ｍ２＋・・・・・・十Ｍ、）で割ると、従来の
信号振幅の平均値（ＴＡＡ）となる。
を各波高値毎に掛け、合算したものを発生回数の総合計
（Ｍ、＋Ｍ２＋・・・・・・十Ｍ、）で割ると、従来の
信号振幅の平均値（ＴＡＡ）となる。
■そのＴＡＡに対する割合（ｖＩ）を定めれば、ドロッ
プアウトの発生回数（Ｙ）を知ることになる（第３図の
斜線部分の総数）。
プアウトの発生回数（Ｙ）を知ることになる（第３図の
斜線部分の総数）。
０分布が第３図のようになれば、その幅（Ｗ）は従来の
モジレーションを示すことになる。
モジレーションを示すことになる。
以上説明したように、本発明によれば、一定振幅の信号
が記録された磁気媒体を再生し、この再生信号の波高値
を検出して各波高値を識別し、各波高値毎に各々検出回
数を加算することにより、磁気の面の均一性を再生信号
の波高値の細かい変化として高い精度にて知ることがで
きる。
が記録された磁気媒体を再生し、この再生信号の波高値
を検出して各波高値を識別し、各波高値毎に各々検出回
数を加算することにより、磁気の面の均一性を再生信号
の波高値の細かい変化として高い精度にて知ることがで
きる。
第１図は本発明の一実施例の回路系統図、第２図は要部
の出力波形図、第３図は振幅ヒストグラムを示す図であ
る。 １・・・磁気媒体、２・・・再生ヘッド、３・・・再生
増幅器、４・・・波高値検出回路、５・・・Ａ−Ｄ変換
器、６・・・メモリ、７・・・タイミング発生回路、２
０・・・加算器。 代理人 弁理士 内 原 晋
の出力波形図、第３図は振幅ヒストグラムを示す図であ
る。 １・・・磁気媒体、２・・・再生ヘッド、３・・・再生
増幅器、４・・・波高値検出回路、５・・・Ａ−Ｄ変換
器、６・・・メモリ、７・・・タイミング発生回路、２
０・・・加算器。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (1)
- 一定振幅の信号が記録された磁気媒体を再生する再生
回路と、前記再生信号の波高値検出回路と、前記波高値
をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記ディジ
タル値となった波高値と対応するアドレスにその波高値
の出現数を加算する回路とを有することを特徴とする磁
気媒体の欠陥検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22521688A JPH0273178A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 磁気媒体の欠陥検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22521688A JPH0273178A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 磁気媒体の欠陥検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0273178A true JPH0273178A (ja) | 1990-03-13 |
Family
ID=16825806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22521688A Pending JPH0273178A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 磁気媒体の欠陥検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0273178A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007149333A (ja) * | 2007-01-09 | 2007-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置 |
-
1988
- 1988-09-07 JP JP22521688A patent/JPH0273178A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007149333A (ja) * | 2007-01-09 | 2007-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置 |
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