JP2578897B2 - 物品の表面欠陥の検出方法及びその装置 - Google Patents
物品の表面欠陥の検出方法及びその装置Info
- Publication number
- JP2578897B2 JP2578897B2 JP63091233A JP9123388A JP2578897B2 JP 2578897 B2 JP2578897 B2 JP 2578897B2 JP 63091233 A JP63091233 A JP 63091233A JP 9123388 A JP9123388 A JP 9123388A JP 2578897 B2 JP2578897 B2 JP 2578897B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- article
- light emitting
- detecting
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/245—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
- G01N2021/8427—Coatings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/102—Video camera
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、物品の表面の欠陥、例えば、乗用車にお
ける塗装加工が施された車体表面又は工業製品の表面の
欠陥の検出をなす方法に関し、この方法では、光源シス
テムによって上記表面に光の帯が生起され、この光の帯
は、光源システムと上記表面との間の相対移動によっ
て、表面上を移動される。更に、この発明は、上述の方
法を実施する装置に関する。
ける塗装加工が施された車体表面又は工業製品の表面の
欠陥の検出をなす方法に関し、この方法では、光源シス
テムによって上記表面に光の帯が生起され、この光の帯
は、光源システムと上記表面との間の相対移動によっ
て、表面上を移動される。更に、この発明は、上述の方
法を実施する装置に関する。
「従来技術とその問題点」 この種の方法及び装置は、例えば、西独特許第341831
7号から公知である。これら公知の方法及び装置には、
表面欠陥によって影響を受ける反射光の解析中、コント
ラストが小さいことに起因して、ある表面の欠陥、特
に、小さな欠陥を検出することが困難となる。これは、
検査されるべき表面の光沢が最適でない場合である。
7号から公知である。これら公知の方法及び装置には、
表面欠陥によって影響を受ける反射光の解析中、コント
ラストが小さいことに起因して、ある表面の欠陥、特
に、小さな欠陥を検出することが困難となる。これは、
検査されるべき表面の光沢が最適でない場合である。
上記西独特許第3418317号によれば、上述の方法を実
施するため、互いに近接した光のいくつかの列を設ける
ことが既に提案されている。試験されるべき表面と光源
システムとの間の相対移動中、この表面に互いに間隔を
存していくつかの光の帯を生起することにより、表面欠
陥は、いくつかの光の帯を連続的に通過し、連続する光
の帯内の反射の微候によって、表面欠陥を視覚的に検出
することが容易となる。しかしながら、この方法は、試
験員に最大の注意を連続して払わせることとなり、それ
故、欠陥の完全な検出を十分に保証することなく、長時
間の検出作業で、非常に疲れさせるものとなり、欠陥の
検出が困難となる。
施するため、互いに近接した光のいくつかの列を設ける
ことが既に提案されている。試験されるべき表面と光源
システムとの間の相対移動中、この表面に互いに間隔を
存していくつかの光の帯を生起することにより、表面欠
陥は、いくつかの光の帯を連続的に通過し、連続する光
の帯内の反射の微候によって、表面欠陥を視覚的に検出
することが容易となる。しかしながら、この方法は、試
験員に最大の注意を連続して払わせることとなり、それ
故、欠陥の完全な検出を十分に保証することなく、長時
間の検出作業で、非常に疲れさせるものとなり、欠陥の
検出が困難となる。
米国特許第4629319号によれば、欠陥の検出の為の表
面の面照明において、いわゆる反射フィルムを使用する
ことによって、反射された試験光のコントラストを増加
させることが既に提案されている。反射フィルムは、反
射光のビームの経路内に配置されており、ある散乱特性
を有したフィルムに入射する光を反射する。これに対
し、試験されるべき表面での繰り返される反射の後、上
記光は、ビデオカメラに入る。しかしながら、この方法
は、試験光の入射角度を大きくとる必要があり、大きな
入射角度は、試験装置全体の設置スペースを増大させ
る。これにより、試験スタンドでの制限された空間条件
での実際の使用は、問題となる。更に、湾曲面を検査す
るとき、試験光の大きな入射角度の結果としての位相の
変化は、急激で且つ大きな歪みを生起し、この歪みは、
欠陥検出の信頼性を損うことになる。
面の面照明において、いわゆる反射フィルムを使用する
ことによって、反射された試験光のコントラストを増加
させることが既に提案されている。反射フィルムは、反
射光のビームの経路内に配置されており、ある散乱特性
を有したフィルムに入射する光を反射する。これに対
し、試験されるべき表面での繰り返される反射の後、上
記光は、ビデオカメラに入る。しかしながら、この方法
は、試験光の入射角度を大きくとる必要があり、大きな
入射角度は、試験装置全体の設置スペースを増大させ
る。これにより、試験スタンドでの制限された空間条件
での実際の使用は、問題となる。更に、湾曲面を検査す
るとき、試験光の大きな入射角度の結果としての位相の
変化は、急激で且つ大きな歪みを生起し、この歪みは、
欠陥検出の信頼性を損うことになる。
「発明の目的」 この発明の目的は、乗用車又は他の物品の表面におい
て、たとえ、この表面が乗用車の車体の下塗りのよう
に、つやけしであり、反射光の散乱を大きく引き起こし
ても、欠陥の検出を確実になすことができる物品の表面
欠陥の検出方法及びその装置を提供することにある。し
かも、設置スペースの節約をできて汎用性があり、生産
コストを主として電子部品とし、この電子部品におい
て、生産コストを明瞭に減少できることを期待出来る装
置を提供することにある。更に、取扱いを容易にでき、
試験員のストレスを大幅に軽減することができる装置を
提供することにある。
て、たとえ、この表面が乗用車の車体の下塗りのよう
に、つやけしであり、反射光の散乱を大きく引き起こし
ても、欠陥の検出を確実になすことができる物品の表面
欠陥の検出方法及びその装置を提供することにある。し
かも、設置スペースの節約をできて汎用性があり、生産
コストを主として電子部品とし、この電子部品におい
て、生産コストを明瞭に減少できることを期待出来る装
置を提供することにある。更に、取扱いを容易にでき、
試験員のストレスを大幅に軽減することができる装置を
提供することにある。
「発明の概要」 第1の発明によれば、光源システムにより、物品の表
面上に光の帯を形成し、光源システムと表面との間の相
対移動により、上記光の帯を上記表面上で移動させてな
る物品の表面欠陥を検出方法において、上記光の帯の領
域毎に、物品の表面における帯状部を段階的に記録し、
連続した段階的な記録の大きさを、上記光の帯よりも小
さくした物品の表面欠陥の検出方法が提供される。
面上に光の帯を形成し、光源システムと表面との間の相
対移動により、上記光の帯を上記表面上で移動させてな
る物品の表面欠陥を検出方法において、上記光の帯の領
域毎に、物品の表面における帯状部を段階的に記録し、
連続した段階的な記録の大きさを、上記光の帯よりも小
さくした物品の表面欠陥の検出方法が提供される。
第2の発明によれば、光源システムにより、物品の表
面上に光の帯を形成し、光源システムと表面との間の相
対移動により、上記光の帯を上記表面上で移動させて、
記録システムにより、表面を段階的に記録してなる物品
の表面欠陥の検出装置において、上記光源システムが光
出口窓を有した少なくとも1個の光源ユニットを備え、
一方、記録システムが光入口窓を有した少なくとも1個
のセンサユニットを備えており、光出口窓と光入口窓と
を近接して配置してなる物品の表面欠陥の検出装置が提
供される。
面上に光の帯を形成し、光源システムと表面との間の相
対移動により、上記光の帯を上記表面上で移動させて、
記録システムにより、表面を段階的に記録してなる物品
の表面欠陥の検出装置において、上記光源システムが光
出口窓を有した少なくとも1個の光源ユニットを備え、
一方、記録システムが光入口窓を有した少なくとも1個
のセンサユニットを備えており、光出口窓と光入口窓と
を近接して配置してなる物品の表面欠陥の検出装置が提
供される。
「実施例」 第1図及び第2図は、試験スタンドを示しており、こ
の試験スタンドは、フレーム1を備えている。このフレ
ーム1は、例えば、管等の部材をボルトにより結合して
形成されている。フレーム1の内部には、円弧形の門2
が形成されており、この門2に沿って、いくつかの光源
ユニット3及びセンサユニット4が夫々配置されてい
る。これら光源ユニット3及びセンサユニット4は、こ
れらユニット3,4が門2の円弧形に沿って配置されるよ
うに、フレーム1に対し図示しないブラケットを介して
取付けられている。光源ユニット3は、光源システムを
構成しており、一方、センサユニット4は、以下に詳述
する記録システムを構成している。
の試験スタンドは、フレーム1を備えている。このフレ
ーム1は、例えば、管等の部材をボルトにより結合して
形成されている。フレーム1の内部には、円弧形の門2
が形成されており、この門2に沿って、いくつかの光源
ユニット3及びセンサユニット4が夫々配置されてい
る。これら光源ユニット3及びセンサユニット4は、こ
れらユニット3,4が門2の円弧形に沿って配置されるよ
うに、フレーム1に対し図示しないブラケットを介して
取付けられている。光源ユニット3は、光源システムを
構成しており、一方、センサユニット4は、以下に詳述
する記録システムを構成している。
門2の寸法は、第1図及び第2図の紙面と直交する方
向に門2を潜って、キャリッジ5上の乗用車の車体6が
通過できるようになっている。車体6は、その側面部及
び天井部が門2の対応する部位からほぼ等距離を存し
て、門2を通過する。第1図及び第2図において、乗用
車の車体6は、その正面を左半分に示し、その後面を右
半分に示している。車輪を有していないキャリッジ5上
には、図示しない取付け手段が配置されている。キャリ
ッジ5は、その上に取付けられた車体6とともに、緩や
かにして、且つ、レール(図示しない)上を可能な限り
平静にして、門2を通過するように移動可能となってい
る。上記レールは、図面の紙面と直交する方向に延びて
いる。キャリッジ5の移動をなすため、図示しないチェ
ーン駆動機構が設けられている。
向に門2を潜って、キャリッジ5上の乗用車の車体6が
通過できるようになっている。車体6は、その側面部及
び天井部が門2の対応する部位からほぼ等距離を存し
て、門2を通過する。第1図及び第2図において、乗用
車の車体6は、その正面を左半分に示し、その後面を右
半分に示している。車輪を有していないキャリッジ5上
には、図示しない取付け手段が配置されている。キャリ
ッジ5は、その上に取付けられた車体6とともに、緩や
かにして、且つ、レール(図示しない)上を可能な限り
平静にして、門2を通過するように移動可能となってい
る。上記レールは、図面の紙面と直交する方向に延びて
いる。キャリッジ5の移動をなすため、図示しないチェ
ーン駆動機構が設けられている。
門2の円弧形に沿い、同一の構造を有した約30個の光
源ユニット3が配置されている。これら光源ユニット3
の1つは、第3図及び第4図に詳図されている。
源ユニット3が配置されている。これら光源ユニット3
の1つは、第3図及び第4図に詳図されている。
光源ユニット3は、軸状をなしたハウジング7を備
え、このハウジング7の表面は、つや消しの黒色塗料が
塗られている。更に、光源ユニット3は、ハウジング7
内に、ハロゲンランプ8を備えている。このハロゲンラ
ンプ8は、コールドメタライズ(cold−metallised)さ
れ、約+/−20゜の円錐形光を出射する。ハロゲンラン
プ8からの光は、特別な反射体9を照射する。この反射
体9は、ハロゲンランプ8の光軸に対して約45゜の角度
で傾斜されており、ハロゲンランプ8からのを光出口窓
10に向かって案内する。この光出口窓10は、ハウジング
7に配置されており、反射体9により導かれた光は、光
出口窓10を通じて、乗車用における車体6の表面に案内
される。反射体9は、第3図の紙面と平行なビーム光成
分のためのミラーとして、また、第3図の紙面と直交す
るビーム光成分のための錯乱体として機能する。
え、このハウジング7の表面は、つや消しの黒色塗料が
塗られている。更に、光源ユニット3は、ハウジング7
内に、ハロゲンランプ8を備えている。このハロゲンラ
ンプ8は、コールドメタライズ(cold−metallised)さ
れ、約+/−20゜の円錐形光を出射する。ハロゲンラン
プ8からの光は、特別な反射体9を照射する。この反射
体9は、ハロゲンランプ8の光軸に対して約45゜の角度
で傾斜されており、ハロゲンランプ8からのを光出口窓
10に向かって案内する。この光出口窓10は、ハウジング
7に配置されており、反射体9により導かれた光は、光
出口窓10を通じて、乗車用における車体6の表面に案内
される。反射体9は、第3図の紙面と平行なビーム光成
分のためのミラーとして、また、第3図の紙面と直交す
るビーム光成分のための錯乱体として機能する。
車体6が門2を通過して移動する方向は、第3図及び
第4図において、矢印11で記されている。光出口窓10
は、矢印11と平行な方向には比較的狭く、一方、矢印11
と直交する方向には、比較的大きなものとなっている。
第4図において、矢印11で記されている。光出口窓10
は、矢印11と平行な方向には比較的狭く、一方、矢印11
と直交する方向には、比較的大きなものとなっている。
光源ユニット3は、隣接する光源ユニット3の出口窓
10がその縁でもって互いに当接するように、門2上に配
置されており、これにより、門2のラインに沿って、連
続した狭い光源バンドが形成されることになる。この光
源バンドは、門2における多角形のラインの沿ったもの
となる。車体6が門2を通過してキャリッジ5上を案内
されると、門2の下方に位置付けられた車体6は、狭い
連続した光バンドでもって一様に照明される。この光バ
ンドは、車体6の上部を形作る表面12の狭い領域に延び
ており、この狭い領域は、車体6の移動方向と直交する
方向に、車体6における一方の側面の下縁からルーフ又
はボンネットを越えて車体6の他方の側面の下縁に亙っ
ている。車体6の表面12に生起された光バンドは、50mm
乃至100mmの幅である。門2を通過して搬送される際、
車体6は、上記光バンドの下方を通過し、光バンドによ
って帯状に照明される。
10がその縁でもって互いに当接するように、門2上に配
置されており、これにより、門2のラインに沿って、連
続した狭い光源バンドが形成されることになる。この光
源バンドは、門2における多角形のラインの沿ったもの
となる。車体6が門2を通過してキャリッジ5上を案内
されると、門2の下方に位置付けられた車体6は、狭い
連続した光バンドでもって一様に照明される。この光バ
ンドは、車体6の上部を形作る表面12の狭い領域に延び
ており、この狭い領域は、車体6の移動方向と直交する
方向に、車体6における一方の側面の下縁からルーフ又
はボンネットを越えて車体6の他方の側面の下縁に亙っ
ている。車体6の表面12に生起された光バンドは、50mm
乃至100mmの幅である。門2を通過して搬送される際、
車体6は、上記光バンドの下方を通過し、光バンドによ
って帯状に照明される。
更に、門2には、光源ユニット3に近接して、26個の
センサユニット4が配置されている。これらセンサユニ
ット4は、車体6における表面12において、光源ユニッ
ト3により照明される帯部の像を光学的に走査し、記録
するために使用されている。センサユニット4は、その
記録角度を有しているとともに、これらセンサユニット
4の全てが車体6における輪郭の全ての部位を、その記
録角度でもってカバーできるように、門2の円弧に沿っ
て分配されている。ここで、センサユニットL1乃至L6及
びR1乃至R6は、車体6の左側表面及び右側表面を夫々カ
バーするために使用されている。一方、センサユニット
D1乃至D7及びH1乃至H7は、上方に面した車体6のルーフ
及ボンネットをカバーするために使用されている。これ
らセンサユニット4は、本質的に同一の構造となってい
る。これらセンサユニット4は、センサユニット4の内
臓されたカメラの焦点合せに関してのみ異なる。カメラ
に関しては、車体6のボンネット及びトランクの蓋の領
域がルーフ及び側面領域より、円弧形の門2から更に離
れるという事実を許容するため、センサユニット4によ
ってカバーされる車体6の領域の距離の差に基づき、以
下に詳述する。
センサユニット4が配置されている。これらセンサユニ
ット4は、車体6における表面12において、光源ユニッ
ト3により照明される帯部の像を光学的に走査し、記録
するために使用されている。センサユニット4は、その
記録角度を有しているとともに、これらセンサユニット
4の全てが車体6における輪郭の全ての部位を、その記
録角度でもってカバーできるように、門2の円弧に沿っ
て分配されている。ここで、センサユニットL1乃至L6及
びR1乃至R6は、車体6の左側表面及び右側表面を夫々カ
バーするために使用されている。一方、センサユニット
D1乃至D7及びH1乃至H7は、上方に面した車体6のルーフ
及ボンネットをカバーするために使用されている。これ
らセンサユニット4は、本質的に同一の構造となってい
る。これらセンサユニット4は、センサユニット4の内
臓されたカメラの焦点合せに関してのみ異なる。カメラ
に関しては、車体6のボンネット及びトランクの蓋の領
域がルーフ及び側面領域より、円弧形の門2から更に離
れるという事実を許容するため、センサユニット4によ
ってカバーされる車体6の領域の距離の差に基づき、以
下に詳述する。
センサユニット4の1個は、また、第3図及び第4図
に詳図されている。このセンサユニット4は、組立てプ
レート13を備えており、この組立てプレート13上には、
ビデオカメラ14が配置されている。このビデオカメラ14
は、マトリックスCCD、撮像レンズ15及びスキャナ16を
備えている。このスキャナ16は、走査ミラーを有してお
り、この走査ミラー18は、軸線17の回りを回転可能とな
っている。ビデオカメラ14におけるマトリックス状に配
置されたCCD要素は、オプトエレクトロニクストランス
デューサを構成しており、このトランスデューサは、入
射したアナログの光信号をデジタルの電気信号にビデオ
変換する。更に、組立てプレート13は、非反射の光入口
窓19を支持しており、この光入口窓19の後側に、スキャ
ナ16の走査ミラー18が配置されている。走査ミラー18
は、ハロゲンランプ8から出射して車体6の表面12で反
射され、光入口窓19を通過した光を偏向させて、ビデオ
カメラ14の撮像レンズ15に入射させる。
に詳図されている。このセンサユニット4は、組立てプ
レート13を備えており、この組立てプレート13上には、
ビデオカメラ14が配置されている。このビデオカメラ14
は、マトリックスCCD、撮像レンズ15及びスキャナ16を
備えている。このスキャナ16は、走査ミラーを有してお
り、この走査ミラー18は、軸線17の回りを回転可能とな
っている。ビデオカメラ14におけるマトリックス状に配
置されたCCD要素は、オプトエレクトロニクストランス
デューサを構成しており、このトランスデューサは、入
射したアナログの光信号をデジタルの電気信号にビデオ
変換する。更に、組立てプレート13は、非反射の光入口
窓19を支持しており、この光入口窓19の後側に、スキャ
ナ16の走査ミラー18が配置されている。走査ミラー18
は、ハロゲンランプ8から出射して車体6の表面12で反
射され、光入口窓19を通過した光を偏向させて、ビデオ
カメラ14の撮像レンズ15に入射させる。
スキャナ16の走査ミラー18は、詳細には図示しない駆
動システムにより、コンピュータ制御でもって駆動され
る。走査ミラー18の角速度は、約毎分0.5回転である。
走査ミラー18は、車体6における表面12の撮影中、キャ
リッジ5によって搬送される際、車体6の移動により生
じる撮影のぶれを補償する。更に、車体6の移動がぎご
ちないとき、キャリッジ5における前進率が不規則とな
っても、この不規則は、速度変動が例えば、回転数発生
器によって記録されるならば、走査ミラー18の動きを規
則する付加的な手段によって補償することができる。上
記回転数発生器は、この技術分野において公知のもので
あって図示されていないが、キャリッジ5を駆動するチ
ェーンのピニオンと組合わされている。そして、回転数
発生器で検出した信号は、全てのセンサユニット4の走
査制御システムに供給される。
動システムにより、コンピュータ制御でもって駆動され
る。走査ミラー18の角速度は、約毎分0.5回転である。
走査ミラー18は、車体6における表面12の撮影中、キャ
リッジ5によって搬送される際、車体6の移動により生
じる撮影のぶれを補償する。更に、車体6の移動がぎご
ちないとき、キャリッジ5における前進率が不規則とな
っても、この不規則は、速度変動が例えば、回転数発生
器によって記録されるならば、走査ミラー18の動きを規
則する付加的な手段によって補償することができる。上
記回転数発生器は、この技術分野において公知のもので
あって図示されていないが、キャリッジ5を駆動するチ
ェーンのピニオンと組合わされている。そして、回転数
発生器で検出した信号は、全てのセンサユニット4の走
査制御システムに供給される。
門2を車体6が通過して搬送される際、車体6の湾曲
面領域において、光源ユニット3からの走査光の入射角
が変化するならば、車体6の生起される光バンドの像
は、ビデオカメラ14に接続されたモニタのイメージセン
サに調節されなければならいないが、このイメージセン
サから外れることになる。これを防止する為、センサユ
ニット4のスキャナ16は、走査ミラー18を適切に制御す
ることにより、モニタのイメージセンサから光バンドの
像が外れるのを防止する機能をも有している。
面領域において、光源ユニット3からの走査光の入射角
が変化するならば、車体6の生起される光バンドの像
は、ビデオカメラ14に接続されたモニタのイメージセン
サに調節されなければならいないが、このイメージセン
サから外れることになる。これを防止する為、センサユ
ニット4のスキャナ16は、走査ミラー18を適切に制御す
ることにより、モニタのイメージセンサから光バンドの
像が外れるのを防止する機能をも有している。
組立プレート13は、キャリアプレート20に脱着可能に
して取付けられている。キャリアプレート20は、アング
ルブラケット21に対し、固定手段を介して調整可能に取
付けられている。この固定手段は、公知であるので図示
しない。次に、アングルブラケット21は、取付け具22に
配置されており、この取付け具22によって、センサユニ
ット4は、門2に取付けられている。
して取付けられている。キャリアプレート20は、アング
ルブラケット21に対し、固定手段を介して調整可能に取
付けられている。この固定手段は、公知であるので図示
しない。次に、アングルブラケット21は、取付け具22に
配置されており、この取付け具22によって、センサユニ
ット4は、門2に取付けられている。
センサユニット4は、キャリアプレート20に取付けら
れる前に調整されており、この後、アングルブラケット
21に対するキャリアプレート20の調節によって、最終的
に調整される。この最終的な調整は、検査すべき乗用車
の各型式とは無関係である。最終的な調整が実施される
と、キャリアプレート20は、接着、ボルト結合又はピン
止めにより、アングルブラケット21に対して導くことが
できない。このことは、センサユニット4全体のアセン
ブリの調整を損うことなく、故障してセンサユニット4
キャリアプレート20から取外し、そして、同様なプリセ
ットされた新たなセンサユニットに交換できる利点があ
る。
れる前に調整されており、この後、アングルブラケット
21に対するキャリアプレート20の調節によって、最終的
に調整される。この最終的な調整は、検査すべき乗用車
の各型式とは無関係である。最終的な調整が実施される
と、キャリアプレート20は、接着、ボルト結合又はピン
止めにより、アングルブラケット21に対して導くことが
できない。このことは、センサユニット4全体のアセン
ブリの調整を損うことなく、故障してセンサユニット4
キャリアプレート20から取外し、そして、同様なプリセ
ットされた新たなセンサユニットに交換できる利点があ
る。
各センサユニット4からなるアセンブリ全体の調整
は、隣接するセンサユニットのビデオカメラ14における
記録領域が第2図に示されるように、車体6の表面12上
でオーバラップするように、実施される。この結果、以
下に詳述する塗装作業での車体表面の欠陥の検査中、こ
の車体表面の全てを検査可能となる。更に、調整中、カ
バーする表面領域の向きが車体6の横断面輪郭と直交し
ているとき、車体6の表面に生起される光バンドの像が
モニタのイメージセンタにほぼ一致するように注意しな
ければならない。湾曲面領域の場合でのイメージセンタ
からの光バンドの外れは、前述したように、スキャナ16
のコンピュータ制御により防止される。
は、隣接するセンサユニットのビデオカメラ14における
記録領域が第2図に示されるように、車体6の表面12上
でオーバラップするように、実施される。この結果、以
下に詳述する塗装作業での車体表面の欠陥の検査中、こ
の車体表面の全てを検査可能となる。更に、調整中、カ
バーする表面領域の向きが車体6の横断面輪郭と直交し
ているとき、車体6の表面に生起される光バンドの像が
モニタのイメージセンタにほぼ一致するように注意しな
ければならない。湾曲面領域の場合でのイメージセンタ
からの光バンドの外れは、前述したように、スキャナ16
のコンピュータ制御により防止される。
第3図及び第4図から明らかなように、光源ユニット
3及びセンサユニット4は、門2に互いに近接して配置
されており、これにより、センサユニット4の光入口窓
19は、同一の平面図において、光源ユニット3の光出口
窓10に近接して位置付けられている。従って、光源ユニ
ット3から出射した光は、車体6の表面12において非常
に小さな反射角で反射されて、センサユニット4に至
る。この結果、車体6における凹凸面での歪みは、小さ
く抑えられる。
3及びセンサユニット4は、門2に互いに近接して配置
されており、これにより、センサユニット4の光入口窓
19は、同一の平面図において、光源ユニット3の光出口
窓10に近接して位置付けられている。従って、光源ユニ
ット3から出射した光は、車体6の表面12において非常
に小さな反射角で反射されて、センサユニット4に至
る。この結果、車体6における凹凸面での歪みは、小さ
く抑えられる。
各センサユニット4の各ビデオカメラ14は、分離した
カメラコンピュータに接続されている。これらカメラコ
ンピュータは、市販のコンピュータであり、第1図から
明らかなように、第1キャビネット23に収容されてい
る。しかしながら、26個のセンサユニット4を備えた第
2図の実施例において、車体6のルーフ面を走査するの
に使用されるセンサユニットD1乃至D7のカメラのコンピ
ュータが車体6のボンネット面を走査するのに使用され
るセンサユニットH1乃至H7のカメラに接続されているな
らば、カメラコンピュータの数は、26個から19個に減少
することができる。このことは、車体6のルーフ及びボ
ンネットの面が平面図において重なり合うことがなく、
それ故、センサユニットD1乃至D7及びセンサユニットH1
乃至H7が同時に作動するのではなく、常に、交互に作動
することから、可能となる。カメラのコンピュータは、
センサユニット4のスキャナ16を制御し、そして、ビデ
オカメラ14によって発生されたイメージ信号を解析す
る。
カメラコンピュータに接続されている。これらカメラコ
ンピュータは、市販のコンピュータであり、第1図から
明らかなように、第1キャビネット23に収容されてい
る。しかしながら、26個のセンサユニット4を備えた第
2図の実施例において、車体6のルーフ面を走査するの
に使用されるセンサユニットD1乃至D7のカメラのコンピ
ュータが車体6のボンネット面を走査するのに使用され
るセンサユニットH1乃至H7のカメラに接続されているな
らば、カメラコンピュータの数は、26個から19個に減少
することができる。このことは、車体6のルーフ及びボ
ンネットの面が平面図において重なり合うことがなく、
それ故、センサユニットD1乃至D7及びセンサユニットH1
乃至H7が同時に作動するのではなく、常に、交互に作動
することから、可能となる。カメラのコンピュータは、
センサユニット4のスキャナ16を制御し、そして、ビデ
オカメラ14によって発生されたイメージ信号を解析す
る。
第1キャビネット23に取付けられたカメラコンピュー
タの出力信号は、メインフレームコンピュータ25に伝達
される前に、中間コンピュータを通過する。この中間コ
ンピュータは、第1図に示される第2キャビネット24内
に収容されており、中間コンピュータは、センサグルー
プL1乃至L6、R1乃至R6及びD1/H1乃至D7/H7からのデータ
を処理する。第2キャビネット24内に組込まれたモニタ
は、オリジナルな像をモニタするため、センサユニット
4の全てに対して交互に切換えることができる。
タの出力信号は、メインフレームコンピュータ25に伝達
される前に、中間コンピュータを通過する。この中間コ
ンピュータは、第1図に示される第2キャビネット24内
に収容されており、中間コンピュータは、センサグルー
プL1乃至L6、R1乃至R6及びD1/H1乃至D7/H7からのデータ
を処理する。第2キャビネット24内に組込まれたモニタ
は、オリジナルな像をモニタするため、センサユニット
4の全てに対して交互に切換えることができる。
メインフレームコンピュータ25において、全ての測定
データは、編集される。メインフレームコンピュータ25
は、データ出力ステーションを備えており、このデータ
出力ステーションは、表面12の検出した欠陥の情報をプ
リントアウトする。塗装作業において、欠陥の検査がさ
れる乗用車の車体6は、門2の外側で、キャリッジ5上
に配置されている。このキャリッジ5は、適切な距離、
好ましくは、その正面が門2に向って移動することがで
きる。そして、光源ユニット3、センサユニット4及び
キャリッジ5の駆動システムが作動され、このキャリッ
ジ5上に位置して車体6は、キャリッジ5の前進速度で
もって、門2内に移動し、この門2を通過する。上述し
た実施例において、キャリッジ5の前進の速度は、約50
mm/sec乃至100mm/secである。
データは、編集される。メインフレームコンピュータ25
は、データ出力ステーションを備えており、このデータ
出力ステーションは、表面12の検出した欠陥の情報をプ
リントアウトする。塗装作業において、欠陥の検査がさ
れる乗用車の車体6は、門2の外側で、キャリッジ5上
に配置されている。このキャリッジ5は、適切な距離、
好ましくは、その正面が門2に向って移動することがで
きる。そして、光源ユニット3、センサユニット4及び
キャリッジ5の駆動システムが作動され、このキャリッ
ジ5上に位置して車体6は、キャリッジ5の前進速度で
もって、門2内に移動し、この門2を通過する。上述し
た実施例において、キャリッジ5の前進の速度は、約50
mm/sec乃至100mm/secである。
光源ユニット3によって生起される狭い光バンドは、
車体6の表面12上を移動し、車体6の横断面輪郭におい
て、50mm乃至100mmの狭い帯領域を照明する。光バンド
で照明された車体6における表面12の部位は、センサユ
ニット4のビデオカメラ14によってカバーされる。
車体6の表面12上を移動し、車体6の横断面輪郭におい
て、50mm乃至100mmの狭い帯領域を照明する。光バンド
で照明された車体6における表面12の部位は、センサユ
ニット4のビデオカメラ14によってカバーされる。
第1キャビネット23に取付けられたカメラコンピュー
タは、これらと組をなすビデオカメラで、車体6が10mm
毎に前進して門2を通過すると同時に、所定の時間カバ
ーされる車体表面の部位を自動的に記録する。上述した
範囲の前進速度(50mm/sec乃至100mm/sec)では、約毎
秒5枚の像が得られる。車体6が4mの通常の長さを有し
ているならば、車体6が門2を間欠的に通過する間、各
ビデオカメラは、合計400の像を送信する。即ち、車体
6の正面と後面との間で、400個の横断面輪郭が走査さ
れて記録される。これらの記録は、10mm毎に行われ、そ
して、走査する車体表面12に生起される光バンドは、50
mm乃至100mmの幅を有しているので、光バンドの幅より
小さな記録シーケンスのステップサイズを考慮すると、
車体6における表面12の全域をカバーすることができ
る。これに対し、時間的に互いに連続する表面部位の像
は、各々の場合、約70%の像がオーバラップすることに
なる。
タは、これらと組をなすビデオカメラで、車体6が10mm
毎に前進して門2を通過すると同時に、所定の時間カバ
ーされる車体表面の部位を自動的に記録する。上述した
範囲の前進速度(50mm/sec乃至100mm/sec)では、約毎
秒5枚の像が得られる。車体6が4mの通常の長さを有し
ているならば、車体6が門2を間欠的に通過する間、各
ビデオカメラは、合計400の像を送信する。即ち、車体
6の正面と後面との間で、400個の横断面輪郭が走査さ
れて記録される。これらの記録は、10mm毎に行われ、そ
して、走査する車体表面12に生起される光バンドは、50
mm乃至100mmの幅を有しているので、光バンドの幅より
小さな記録シーケンスのステップサイズを考慮すると、
車体6における表面12の全域をカバーすることができ
る。これに対し、時間的に互いに連続する表面部位の像
は、各々の場合、約70%の像がオーバラップすることに
なる。
センサユニット3におけるビデオカメラ14の撮像レン
ズ15において、露出制御の手間を避けるため、全ての光
源ユニット3のハロゲンランプ8は、出射される光の強
さ及び車体6の表面で反射される光の強さが車体の塗装
作業での色の明暗に適合するように、制御されている。
この結果、ビデオカメラ14への入射光の強さは、全ての
場合、ほぼ一定に維持されることになる。
ズ15において、露出制御の手間を避けるため、全ての光
源ユニット3のハロゲンランプ8は、出射される光の強
さ及び車体6の表面で反射される光の強さが車体の塗装
作業での色の明暗に適合するように、制御されている。
この結果、ビデオカメラ14への入射光の強さは、全ての
場合、ほぼ一定に維持されることになる。
センサユニット4のビデオカメラ14に接続可能なモニ
タにおいて、車体6における表面12の欠陥は、車体6に
生起された光バンドの光イメージにおいて暗部として、
又は、光バンドにおける像の輪郭変化として現われる。
第7図は、このようなモニタ像の記録を示している。こ
こで、光バンドの像は、符号26で記されており、塗装作
業の傷は、暗部27として現われている。
タにおいて、車体6における表面12の欠陥は、車体6に
生起された光バンドの光イメージにおいて暗部として、
又は、光バンドにおける像の輪郭変化として現われる。
第7図は、このようなモニタ像の記録を示している。こ
こで、光バンドの像は、符号26で記されており、塗装作
業の傷は、暗部27として現われている。
センサユニット4のビデオカメラ14によって同意に記
録され、所定の時間にカバーされる横断面輪郭の個々の
表面部の部分像のデータ、及び、光バンドの下を連続的
に通過する車体6の横断面輪郭の検出されたデータは、
コンピュータ内で更に処理され、全体像として編集され
る。この全体像は、メインフレームコンピュータ25のデ
ータ出力ステーションにより、例えば、ハードコピーと
して出力される。出力された全体像は、車体6における
全表面の欠陥及びこの欠陥の座標の情報を与える。欠陥
の視認検査が因難ならば、この情報の助けをかりて、検
査される車体表面上に、上記システムにより検出された
欠陥は、容易にして見付けることができ、そして、欠陥
の除去を人手によりなすことができる。
録され、所定の時間にカバーされる横断面輪郭の個々の
表面部の部分像のデータ、及び、光バンドの下を連続的
に通過する車体6の横断面輪郭の検出されたデータは、
コンピュータ内で更に処理され、全体像として編集され
る。この全体像は、メインフレームコンピュータ25のデ
ータ出力ステーションにより、例えば、ハードコピーと
して出力される。出力された全体像は、車体6における
全表面の欠陥及びこの欠陥の座標の情報を与える。欠陥
の視認検査が因難ならば、この情報の助けをかりて、検
査される車体表面上に、上記システムにより検出された
欠陥は、容易にして見付けることができ、そして、欠陥
の除去を人手によりなすことができる。
車体6の表面に生じた欠陥が2個の隣接したセンサユ
ニット4のオーバラップ領域で、上述のシステムによ
り、2度検出されることがないように、以下の方法を用
いることが出来る。
ニット4のオーバラップ領域で、上述のシステムによ
り、2度検出されることがないように、以下の方法を用
いることが出来る。
連続的に検査されるべき所定の型式の乗用車の車体に
おける、その表面の欠陥を検出する本発明の装置を作動
させる前に、先ず、車体の色に対する光調整をなすた
め、門2に、乗用車のサンプル車体の、例えば、4箇所
(前部領域、ドア領域、後部領域)が位置するように連
続的に配置し、そして、各々の場合おいて、サンプル車
体を光源ユニット3によって生起された光バンドで照明
する。これら4個所において、先ず、隣接したセンサユ
ニット4の2つのモニタ像が夫々観察され、これによ
り、サンプル車体のオーバラップ領域内に、例えば、黒
色のフェルトペンで印が付けられる。この印は、モニタ
像上に示されて観察される。このようにして、門2にお
ける全てのセンサユニットL1/L2乃至R2/R1のオーバラッ
プ領域は、サンプル車体に印付けられる。同様な印付け
作業は、サンプル車体の次の第2番目乃至第4番目の箇
所で繰返される。従って、サンプル車体の各側部パネル
に、例えば、20個所の印が得られ、これら印は、5つの
線上に配置されている。そして、各線上における4個の
印は、各々の場合、手作業によって結合されて、前部か
ら後部への連続した黒色が形成される。このために、特
別な注意を払う必要はない。従って、サンプル車体の全
ての表面は、2個の側面、ルーフ面及びボンネット面に
おいて、前部から後部に延びる合計16個の印線で、カバ
ーされる。このようにして印付けされたサンプル車体
は、ここで、門2から外に出され、そして、再び門2内
に導かれて、上述した正規の試験操作でもって門2を通
過する。
おける、その表面の欠陥を検出する本発明の装置を作動
させる前に、先ず、車体の色に対する光調整をなすた
め、門2に、乗用車のサンプル車体の、例えば、4箇所
(前部領域、ドア領域、後部領域)が位置するように連
続的に配置し、そして、各々の場合おいて、サンプル車
体を光源ユニット3によって生起された光バンドで照明
する。これら4個所において、先ず、隣接したセンサユ
ニット4の2つのモニタ像が夫々観察され、これによ
り、サンプル車体のオーバラップ領域内に、例えば、黒
色のフェルトペンで印が付けられる。この印は、モニタ
像上に示されて観察される。このようにして、門2にお
ける全てのセンサユニットL1/L2乃至R2/R1のオーバラッ
プ領域は、サンプル車体に印付けられる。同様な印付け
作業は、サンプル車体の次の第2番目乃至第4番目の箇
所で繰返される。従って、サンプル車体の各側部パネル
に、例えば、20個所の印が得られ、これら印は、5つの
線上に配置されている。そして、各線上における4個の
印は、各々の場合、手作業によって結合されて、前部か
ら後部への連続した黒色が形成される。このために、特
別な注意を払う必要はない。従って、サンプル車体の全
ての表面は、2個の側面、ルーフ面及びボンネット面に
おいて、前部から後部に延びる合計16個の印線で、カバ
ーされる。このようにして印付けされたサンプル車体
は、ここで、門2から外に出され、そして、再び門2内
に導かれて、上述した正規の試験操作でもって門2を通
過する。
コンピュータの特別な開始プログラムは、センサユニ
ット4によって生起された各像において、最大2個の印
線を検査し、各々場合において、印付けされたサンプル
車体によって提供された乗用車の車体表面の各点で、各
センサユニット4の測定領域を正確に決定する。
ット4によって生起された各像において、最大2個の印
線を検査し、各々場合において、印付けされたサンプル
車体によって提供された乗用車の車体表面の各点で、各
センサユニット4の測定領域を正確に決定する。
従って、隣接した2個のセンサユニット4のビデオカ
メラ14の記録領域は、このような開始プログラムで制限
され、一方のビデオカメラの記録領域は、印線の下側に
維持され、他方のビデオカメラの記録領域は、同一の印
線の上側に維持される。
メラ14の記録領域は、このような開始プログラムで制限
され、一方のビデオカメラの記録領域は、印線の下側に
維持され、他方のビデオカメラの記録領域は、同一の印
線の上側に維持される。
この開始プログラムの後、組立てラインから連続して
導かれて来る各乗用車における車体の正規の検査は、上
述したようにして記録することができる。サンプル車体
によって実施されたビデオカメラの記録領域のオーバラ
ップを制限することにより、この提案された装置で連続
して検査されるべき車体に印付けを行なうことなく、欠
陥の検出が2度行われるのを防止することができる。
導かれて来る各乗用車における車体の正規の検査は、上
述したようにして記録することができる。サンプル車体
によって実施されたビデオカメラの記録領域のオーバラ
ップを制限することにより、この提案された装置で連続
して検査されるべき車体に印付けを行なうことなく、欠
陥の検出が2度行われるのを防止することができる。
従って、上述した方法によって印付けられたサンプル
車体は、このシステムを検査するのに役立ち、次の再調
整を可能とするために保管される。
車体は、このシステムを検査するのに役立ち、次の再調
整を可能とするために保管される。
その車体のデザインが異なる各タイプの乗用車におい
て、サンプル車体を別に設け、各サンプル車体に応じ
て、各開始プログラムのソフトウエアを調整する必要が
あるのは勿論である。
て、サンプル車体を別に設け、各サンプル車体に応じ
て、各開始プログラムのソフトウエアを調整する必要が
あるのは勿論である。
車体6を備えた可動なキャリッジ5が門2を通過する
代わりに、車体6を固定して保持し、レール手段を設け
た後、車体6の上方を門2が移動できるようにしてもよ
い。車体6と、光源ユニット3及びセンサユニット4を
備えた門2との間に相対移動が生じることのみが本質的
なことである。
代わりに、車体6を固定して保持し、レール手段を設け
た後、車体6の上方を門2が移動できるようにしてもよ
い。車体6と、光源ユニット3及びセンサユニット4を
備えた門2との間に相対移動が生じることのみが本質的
なことである。
この発明の装置では、門2の前後に、付加的で且つ適
切に配置されたセンサユニットが車体の前部及び後部に
設けられているならば、車体の前部及び後部において
も、その表面の欠陥を検査することができる。
切に配置されたセンサユニットが車体の前部及び後部に
設けられているならば、車体の前部及び後部において
も、その表面の欠陥を検査することができる。
最後に、この発明の方法及び装置は、例えば、平坦又
は中空のガラス、セラミックス、プラスチック等からな
る物品、台所用品及び買手又はユーザが完全な表面を期
待する商品等の工場製品における表面の欠陥を検査にも
適用するものである。
は中空のガラス、セラミックス、プラスチック等からな
る物品、台所用品及び買手又はユーザが完全な表面を期
待する商品等の工場製品における表面の欠陥を検査にも
適用するものである。
第1図は、試験スタンドの概略的立面図、第2図は、第
1図の試験スタンドの拡大図、第3図は、光源ユニット
及びセンサユニットの詳細図、第4図は、第3図の光源
ユニット及びセンサユニットの下面図、第5図は、第3
図のセンサユニットの拡大図、第6図は、第5図のセン
サユニットの上面図、第7図は、センサユニットのモニ
タに現われる試験された走査像を示す図である。 2……門、3……光源ユニット、4……センサユニッ
ト、5……キャリッジ、6……車体、7……ハウジン
グ、8……ハロゲンランプ、9……反射体、10……光出
口窓、13……取付けプレート、14……ビデオカメラ、15
……撮像レンズ、16……スキャナ、18……走査ミラー、
19……光入口窓、20……支持プレート、21……ブラケッ
ト。
1図の試験スタンドの拡大図、第3図は、光源ユニット
及びセンサユニットの詳細図、第4図は、第3図の光源
ユニット及びセンサユニットの下面図、第5図は、第3
図のセンサユニットの拡大図、第6図は、第5図のセン
サユニットの上面図、第7図は、センサユニットのモニ
タに現われる試験された走査像を示す図である。 2……門、3……光源ユニット、4……センサユニッ
ト、5……キャリッジ、6……車体、7……ハウジン
グ、8……ハロゲンランプ、9……反射体、10……光出
口窓、13……取付けプレート、14……ビデオカメラ、15
……撮像レンズ、16……スキャナ、18……走査ミラー、
19……光入口窓、20……支持プレート、21……ブラケッ
ト。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ゲルハルト・ユーネマン ドイツ連邦共和国、7250 レオンベルク 7,コルベルガーシュトラーセ 5 (56)参考文献 特開 昭62−8045(JP,A) 特開 昭50−75483(JP,A)
Claims (15)
- 【請求項1】物品の表面の欠陥を検出する方法であっ
て、 前記物品と発光手段との間で相対的な移動を与え、 前記発光手段から放散された光で、前記物品の表面に相
対始動する方向を横切る光の帯を形成し、 検出している前記物品の表面の像を生じさせるように、
前記表面からの反射光を前記発光手段に隣接して設けら
れたオプトエレクトニックビデオカメラに導くように
し、 前記導く反射光から、移動可能な反射手段によって、検
出している前記物品の表面の像のシリーズを形成し、こ
れにより、連続する像間での移動の増加量を前記光の帯
の幅よりも小さくして、像のオーバーラップが得られる
ようにし、 そして、前記オプトエレクトニックビデオカメラによる
ビデオ信号を、表面欠陥を示す変動量として評価するこ
と、を特徴とする物品の表面の欠陥を検出する方法。 - 【請求項2】前記移動可能な反射手段によって反射され
た光は、前記物体と発光手段との相対的な移動と同期し
た前記移動可能な反射手段の移動によって、前記像のぶ
れが防止されうることを特徴とする、請求の範囲第1項
に記載の物品の表面の欠陥を検出する方法。 - 【請求項3】前記相対移動の方向と直交した前記照射さ
れる光の帯に沿った両エッジ間で鮮明なコントラストを
もたらすと共に、コンピュータによって、ビデオイメー
ジ中に無歪性の分断が成されるように前記の各像のエッ
ジを評価をすることを特徴とする請求の範囲第1項に記
載の物品の表面の欠陥を検出する方法。 - 【請求項4】前記相対移動の方向に直交して互いに隣接
して多数の発光手段を、前記物体の表面上に連続した光
の帯がもたらされるようにアーチ形状に沿って配設する
と共に、連続した帯の像が同時に与えられるように前記
発光手段に隣接して多数のモニタ手段を設けたことを特
徴とする、請求の範囲第1項に記載の物品の表面の欠陥
を検出する方法。 - 【請求項5】物品の表面の欠陥を検出する装置であり、 検査される物体の表面に略垂直に放散される光を照射す
る発光手段と、 前記表面からの反射光を受光するように、前記発光手段
に隣接して設けられたセンサ手段と、 前記発光手段と関連させて前記物体を移動させる搬送手
段とを備え、 前記発光手段は、前記物体と発光手段との間で相対移動
を方向を横切る狭い光の帯を与える手段を有しており、 前記センサ手段は、前記発光手段に隣接固定された光電
ビデオカメラと、前記表面から反射された光を前記カメ
ラに向けて反射させる移動可能な反射手段と、表面の静
止した像の連続的なシリーズを得るように、前記物体と
発光手段との間で前記相対移動と連続的に同期して前記
移動可能な反射手段を移動する手段とを有しており、 検査される物体の表面上で測定される連続的に引き起こ
る像の間隔は、前記相対移動方向の像の幅よりも狭く、
これにより前記像は互いにオーバーラップし、そして、
表面傷の程度を示すように、前記オーバーラップした像
のオンライン評価を行うコンピュータが前記カメラに接
続されること、を特徴とする物品の表面の欠陥を検出す
る装置。 - 【請求項6】前記物品の表面は、塗装された自動車の表
面であることを特徴とする、請求の範囲第5項に記載の
物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項7】前記発光手段は、ランプと、一方向にはミ
ラーとして機能し、他方向には偏向体として機能する反
射体とを有していることを特徴とする、請求の範囲第5
項に記載の物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項8】前記発光手段は、前記物品の表面に連続す
る光の帯を形成するように、相対移動の方向と直交する
方向に、互いに接近して設けられる複数のランプと反射
体の結合体を有していることを特徴とする、請求の範囲
第5項に記載の物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項9】前記連続する光の帯は、少なくとも部分的
に前記物品を取り囲むことを特徴とする、請求の範囲第
8項に記載の物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項10】前記連続する光の帯は、少なくとも前記
物品の断面外形に略適合することを特徴とする、請求の
範囲第8項に記載の物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項11】前記複数のランプと反射体の結合体は、
アーチ形状を成しており、検査する物品の間隔に適合す
ることを特徴とする、請求の範囲第8項に記載の物品の
表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項12】前記複数のランプは、それらのランプか
ら発せられる光の強度を共に制御する制御手段を有する
ことを特徴とする、請求の範囲第8項に記載の物品の表
面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項13】前記移動可能な反射手段は、前記カメラ
と物品との間に回動するように設けられるミラーである
ことを特徴とする、請求の範囲第5項に記載の物品の表
面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項14】前記センサ手段は、複数のユニットから
なり、これらのユニットは、それぞれ、前記カメラと移
動可能な反射手段とを具備すると共に、物品の表面の領
域をモニタするように適合されており、これらの領域は
互いに関連することを特徴とする、請求の範囲第5項に
記載の物品の表面の欠陥を検出する装置。 - 【請求項15】前記センサ手段と協働する計算手段を設
け、個々のカメラ内で記録された個々の像から総合的な
像を形成することを特徴とする、請求の範囲第14項に記
載の物品の表面の欠陥を検出する装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873712513 DE3712513A1 (de) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Verfahren und vorrichtung zur erkennung von oberflaechenfehlern |
DE3712513.3 | 1987-04-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6438638A JPS6438638A (en) | 1989-02-08 |
JP2578897B2 true JP2578897B2 (ja) | 1997-02-05 |
Family
ID=6325542
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63091233A Expired - Lifetime JP2578897B2 (ja) | 1987-04-13 | 1988-04-13 | 物品の表面欠陥の検出方法及びその装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4918321A (ja) |
EP (1) | EP0286994B1 (ja) |
JP (1) | JP2578897B2 (ja) |
CA (1) | CA1285331C (ja) |
DE (1) | DE3712513A1 (ja) |
ES (1) | ES2059421T3 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012514186A (ja) * | 2008-12-29 | 2012-06-21 | カール ツァイス オーアイエム ゲーエムベーハー | 少なくとも一部が反射性を呈する物体表面の光学的検査装置 |
KR20160074251A (ko) * | 2014-12-18 | 2016-06-28 | 대보정보통신 주식회사 | 통행권발행기 카세트용 통행권 가압장치 |
KR101845104B1 (ko) * | 2010-10-04 | 2018-04-03 | 더 보잉 컴파니 | 자동 시각 검사 시스템 |
Families Citing this family (65)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0502930B1 (de) * | 1989-12-05 | 1994-08-03 | The Broken Hill Proprietary Company Limited | Verfahren und anordnung zur optoelektronischen vermessung von gegenständen |
US5041726A (en) * | 1990-06-11 | 1991-08-20 | Hughes Aircraft Company | Infrared holographic defect detector |
DE4206868A1 (de) * | 1992-03-05 | 1993-09-09 | Hermann Dr Ing Tropf | Verfahren und vorrichtung zur aufnahme bewegter objekte mit einer kamera |
US5414518A (en) * | 1992-08-10 | 1995-05-09 | Chrysler Corporation | Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces |
US5471307A (en) * | 1992-09-21 | 1995-11-28 | Phase Shift Technology, Inc. | Sheet flatness measurement system and method |
JP3172287B2 (ja) * | 1992-11-09 | 2001-06-04 | マツダ株式会社 | 塗膜欠陥検出装置 |
JPH08184567A (ja) * | 1994-10-05 | 1996-07-16 | Musco Corp | 鏡面反射性又は半鏡面反射性表面を点検するための装置及び方法 |
IL113428A0 (en) * | 1995-04-20 | 1995-07-31 | Yissum Res Dev Co | Glossmeter |
DE19544481A1 (de) * | 1995-11-29 | 1997-06-05 | Laser Sorter Gmbh | Beleuchtungseinrichtung mit Halogen-Metalldampflampen |
JP2976869B2 (ja) * | 1995-12-28 | 1999-11-10 | 日産自動車株式会社 | 表面欠陥検査装置 |
US5686987A (en) * | 1995-12-29 | 1997-11-11 | Orfield Associates, Inc. | Methods for assessing visual tasks to establish desirable lighting and viewing conditions for performance of tasks; apparatus; and, applications |
US6462813B1 (en) * | 1996-04-12 | 2002-10-08 | Perceptron, Inc. | Surface defect inspection system and method |
DE59706984D1 (de) | 1996-08-22 | 2002-05-16 | Willing Gmbh Dr Ing | Vorrichtung zur visuellen inspektion der oberflächenbeschaffenheit von abmusterungsflächen grösserer abmessung |
US6033503A (en) * | 1997-05-05 | 2000-03-07 | Steven K. Radowicz | Adhesive sensing assembly for end jointed beam |
DE19730885A1 (de) | 1997-07-18 | 1999-01-21 | Audi Ag | Verfahren zur automatischen Erkennung von Oberflächenfehlern an Rohkarosserien und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE19754549A1 (de) * | 1997-12-09 | 1999-06-10 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zum Prüfen von matten, mit hellen Füllern versehenen Rohkarosserien auf Fehler |
DE19754547B4 (de) * | 1997-12-09 | 2007-04-12 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur Bestimmung des Deckvermögens einer Lackierung |
DE19816992A1 (de) * | 1998-04-17 | 1999-11-04 | Daimler Chrysler Ag | Verfahren zur Markierung wenigstens eines Punktes auf einem Gegenstand |
DE19842112B4 (de) * | 1998-09-07 | 2006-12-14 | Braun, Uwe Peter, Dipl.-Ing. | Einrichtung zur Einstellung und Steuerung der Beleuchtungsstärke von Kontrolleuchten |
DE19855478B4 (de) * | 1998-12-01 | 2006-01-12 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Erfassung einer Kontrastlinie |
GB9826802D0 (en) * | 1998-12-04 | 1999-01-27 | Vdrs Limited | Vehicle inspection system |
JP2001004347A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | 欠陥検査装置 |
DE19930688A1 (de) * | 1999-07-02 | 2001-01-04 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
US6266138B1 (en) | 1999-10-12 | 2001-07-24 | Perceptron, Inc. | System and method for detecting defects in a surface of a workpiece |
FI19992761A (fi) * | 1999-12-22 | 2001-06-23 | Visy Oy | Menetelmä kuljetusvälineen kunnon valvomiseksi |
DE10110994B4 (de) * | 2000-03-09 | 2012-11-29 | Isra Vision Systems Ag | Vorrichtung zur Bildabtastung eines Objektes |
DE10242620B3 (de) | 2002-09-13 | 2004-04-15 | Dr.Ing.H.C. F. Porsche Ag | Verfahren und Vorrichtung zum visuellen Erkennen von Farbglanzabweichungen |
DE10261865A1 (de) * | 2002-12-20 | 2004-07-15 | Uwe Braun Sonnenlichtleitsysteme Lichtsysteme Gmbh | Verfahren, Vorrichtung und Computerprogramm zur optischen Oberflächenerfassung |
KR100742003B1 (ko) * | 2003-10-21 | 2007-07-23 | 다이하츠고교 가부시키가이샤 | 표면 결함 검사 방법 및 장치 |
DE102004007829B4 (de) * | 2004-02-18 | 2007-04-05 | Isra Vision Systems Ag | Verfahren zur Bestimmung von zu inspizierenden Bereichen |
DE102004007828B4 (de) * | 2004-02-18 | 2006-05-11 | Isra Vision Systems Ag | Verfahren und System zur Inspektion von Oberflächen |
JP2006305426A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Suzuki Motor Corp | 塗布状態検査方法、装置、及びコンピュータプログラム |
DE102007013883A1 (de) * | 2007-03-20 | 2008-10-30 | Beulenzentrum Jentgens Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung und Auswertung von Hagelschäden |
WO2008125702A1 (es) * | 2007-04-16 | 2008-10-23 | Josep Maria Tornero Montserrat | Sistema de detección de defectos en superficies por fusión de imágenes mediante barrido de iluminación |
DE102007034689B4 (de) * | 2007-07-12 | 2009-06-10 | Carl Zeiss Ag | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer Oberfläche an einem Gegenstand |
SG157977A1 (en) * | 2008-06-23 | 2010-01-29 | Semiconductor Tech & Instr Inc | System and method for inspection of semiconductor packages |
US9541505B2 (en) | 2009-02-17 | 2017-01-10 | The Boeing Company | Automated postflight troubleshooting sensor array |
US9418496B2 (en) * | 2009-02-17 | 2016-08-16 | The Boeing Company | Automated postflight troubleshooting |
US8812154B2 (en) * | 2009-03-16 | 2014-08-19 | The Boeing Company | Autonomous inspection and maintenance |
DE102009021733A1 (de) | 2009-05-12 | 2010-12-30 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes |
US9046892B2 (en) * | 2009-06-05 | 2015-06-02 | The Boeing Company | Supervision and control of heterogeneous autonomous operations |
US8773289B2 (en) | 2010-03-24 | 2014-07-08 | The Boeing Company | Runway condition monitoring |
US8712634B2 (en) | 2010-08-11 | 2014-04-29 | The Boeing Company | System and method to assess and report the health of landing gear related components |
US8599044B2 (en) | 2010-08-11 | 2013-12-03 | The Boeing Company | System and method to assess and report a health of a tire |
US20130204798A1 (en) * | 2010-08-13 | 2013-08-08 | Arwe Service Gmbh | Method for vehicle conditioning and provision |
JP2012098181A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 検出装置及び検出方法 |
DE102011082178A1 (de) * | 2011-09-06 | 2013-03-07 | Hauni Maschinenbau Ag | Optische Inspektion von stabförmigen Artikeln der Tabak verarbeitenden Industrie |
US9117185B2 (en) | 2012-09-19 | 2015-08-25 | The Boeing Company | Forestry management system |
EP2770322B1 (en) * | 2013-02-26 | 2019-01-16 | C.R.F. Società Consortile per Azioni | Method and system for detecting defects in painting of components, in particular of motor-vehicle bodies |
DE102013109915B4 (de) * | 2013-09-10 | 2015-04-02 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung eines Inspektionssystems zur Erkennung von Oberflächendefekten |
ES2907258T3 (es) | 2013-10-24 | 2022-04-22 | Signify Holding Bv | Sistema y método de detección de defectos |
US10063758B2 (en) * | 2014-10-03 | 2018-08-28 | Davo Scheich | Vehicle photographic tunnel |
DE102015008409A1 (de) * | 2015-07-02 | 2017-01-05 | Eisenmann Se | Anlage zur optischen Überprüfung von Oberflächenbereichen von Gegenständen |
ES2630736B1 (es) * | 2015-12-07 | 2018-07-04 | Universidad De Zaragoza | Sistema y método de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares mediante proyección fotogramétrica |
DE102016111544A1 (de) * | 2016-06-23 | 2017-12-28 | Hochschule Düsseldorf | Laser-Scan-System |
AU2017373956A1 (en) | 2016-12-07 | 2019-06-27 | Ovad Custom Stages, Llc | Vehicle photographic chamber |
DE102017108770A1 (de) * | 2017-04-25 | 2018-10-25 | Eisenmann Se | Anlage zur optischen Überprüfung von Oberflächenbereichen von Gegenständen |
CZ307838B6 (cs) * | 2018-02-05 | 2019-06-12 | Christoph Vávra | 3D analytický měřicí přístroj optických dat |
DE102018118602B3 (de) | 2018-07-31 | 2019-11-28 | Sarma Aryasomayajula | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung und Analyse von Oberflächenfehlern dreidimensionaler Objekte mit einer reflektierenden Oberfläche, insbesondere von Kraftfahrzeugkarosserien |
US11412135B2 (en) | 2018-12-05 | 2022-08-09 | Ovad Custom Stages, Llc | Bowl-shaped photographic stage |
US12061411B2 (en) | 2019-06-06 | 2024-08-13 | Carvana, LLC | Vehicle photographic system for identification of surface imperfections |
HUE065281T2 (hu) * | 2019-09-11 | 2024-05-28 | Proov Station | Gépjármû karosszériáján lévõ hibák detektálására szolgáló berendezés |
CN113030100A (zh) * | 2021-03-02 | 2021-06-25 | 成都小淞科技有限公司 | 涂层瑕疵在线自动检测系统 |
US12126774B2 (en) | 2021-03-19 | 2024-10-22 | Carvana, LLC | Mobile photobooth |
DE102021107115A1 (de) | 2021-03-23 | 2022-09-29 | B+M Surface Systems Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung einer Oberfläche eines Bauteils |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3577039A (en) * | 1969-01-28 | 1971-05-04 | Bendix Corp | Optical apparatus for flaw detection |
GB1379593A (en) * | 1971-05-21 | 1975-01-02 | Agfa Gevaert | Device for sensing a moving sheet material for imperfections |
JPS5075483A (ja) * | 1973-11-06 | 1975-06-20 | ||
US4008606A (en) * | 1975-10-20 | 1977-02-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Ship's bottom inspection apparatus |
GB1592511A (en) * | 1977-05-18 | 1981-07-08 | Ferranti Ltd | Surface inspection apparatus |
JPS5520123A (en) * | 1978-07-17 | 1980-02-13 | Nippon Pirooburotsuku Seizou K | Crack detector for bottle head |
US4260899A (en) * | 1979-06-14 | 1981-04-07 | Intec Corporation | Wide web laser scanner flaw detection method and apparatus |
US4345274A (en) * | 1980-10-08 | 1982-08-17 | Servo Corporation Of America | Object identification system utilizing closed circuit television |
DE3111728A1 (de) * | 1981-03-25 | 1982-10-07 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | "pruefverfahren fuer werkstuecke" |
JPS5867093A (ja) * | 1981-10-19 | 1983-04-21 | 株式会社東芝 | 印刷回路基板検査方法及びその装置 |
JPS58190707A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-07 | Toyoda Gosei Co Ltd | 表面検査方法 |
US4563095A (en) * | 1982-12-20 | 1986-01-07 | Essex Group, Inc. | Method and apparatus for monitoring the surface of elongated objects |
JPS59114445A (ja) * | 1982-12-21 | 1984-07-02 | Yamamura Glass Kk | 透明体の欠陥検出装置 |
US4528455A (en) * | 1983-05-13 | 1985-07-09 | Magnaflux Corporation | Non-destructive testing system with dual scanning |
US4629319A (en) * | 1984-02-14 | 1986-12-16 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
DE3411578A1 (de) * | 1984-03-29 | 1985-10-10 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur ermittlung von lackfehlern und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
GB2159271B (en) * | 1984-04-27 | 1988-05-18 | Nissan Motor | Surface flaw detecting method and apparatus |
DE3418317C1 (de) * | 1984-05-17 | 1985-01-31 | Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart | Prüfraum zur Überprüfung der Oberfläche von Fahrzeugkarosserien |
JPS628045A (ja) * | 1985-07-04 | 1987-01-16 | Nireko:Kk | 欠陥検出装置 |
GB8517834D0 (en) * | 1985-07-15 | 1985-08-21 | Sira Ltd | Inspection apparatus |
DE3534019A1 (de) * | 1985-09-24 | 1987-04-02 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische bahnueberwachungsvorrichtung |
-
1987
- 1987-04-13 DE DE19873712513 patent/DE3712513A1/de active Granted
-
1988
- 1988-04-08 EP EP88105660A patent/EP0286994B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-08 ES ES88105660T patent/ES2059421T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-13 JP JP63091233A patent/JP2578897B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-13 US US07/180,936 patent/US4918321A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-13 CA CA000564075A patent/CA1285331C/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012514186A (ja) * | 2008-12-29 | 2012-06-21 | カール ツァイス オーアイエム ゲーエムベーハー | 少なくとも一部が反射性を呈する物体表面の光学的検査装置 |
KR101845104B1 (ko) * | 2010-10-04 | 2018-04-03 | 더 보잉 컴파니 | 자동 시각 검사 시스템 |
KR20160074251A (ko) * | 2014-12-18 | 2016-06-28 | 대보정보통신 주식회사 | 통행권발행기 카세트용 통행권 가압장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0286994A3 (en) | 1990-03-14 |
EP0286994B1 (de) | 1994-07-20 |
ES2059421T3 (es) | 1994-11-16 |
US4918321A (en) | 1990-04-17 |
EP0286994A2 (de) | 1988-10-19 |
CA1285331C (en) | 1991-06-25 |
DE3712513A1 (de) | 1988-11-03 |
JPS6438638A (en) | 1989-02-08 |
DE3712513C2 (ja) | 1993-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2578897B2 (ja) | 物品の表面欠陥の検出方法及びその装置 | |
US4972494A (en) | Package inspection system | |
US4301373A (en) | Scanning of workpieces such as lumber cants | |
KR100267665B1 (ko) | 표면검사장치 | |
US5136157A (en) | Apparatus for the three-dimensional inspection of hollow bodies with plural mirror for generating plural partial images | |
US5132791A (en) | Optical sheet inspection system | |
EP0330495A2 (en) | Package inspection system | |
JP3430780B2 (ja) | 物体表面の形状検出方法 | |
JP2000055829A (ja) | 単一領域のアレイセンサと交互のストロボ光源を使用する容器の検査装置及びその方法 | |
JP2896962B2 (ja) | 半透明容器の検査 | |
RU95105174A (ru) | Устройство для обнаружения поверхностных дефектов | |
JPS5849819B2 (ja) | ソウサシキケンサソウチ | |
NL8800866A (nl) | Inspektie-inrichting. | |
JP3863221B2 (ja) | 曲げ板ガラスの曲げ率測定方法 | |
JP3514107B2 (ja) | 塗装欠陥検査装置 | |
JPS61262641A (ja) | 透明製品の内壁欠陥検出装置 | |
US4937451A (en) | Computed tomograph | |
JPH109841A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JPH04506411A (ja) | 平面状および立体状検査材料の無接触検査方法および装置 | |
EP0338442B1 (en) | A method and apparatus for the inspection of specularly reflective surfaces | |
JP2008008689A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
GB2032616A (en) | Method and apparatus for detercting surfaces defects in a workpiece | |
KR20180119212A (ko) | 사이드미러의 도장층 외면 검사장치 | |
JP3822567B2 (ja) | 移動するストリップの自動表面検査装置 | |
JP3668318B2 (ja) | 反射面を有するワークの検査方法およびその装置 |