JP2566191Y2 - Ｖ溝とｖ基準を使用する平行度測定機 - Google Patents

Ｖ溝とｖ基準を使用する平行度測定機

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JP2566191Y2
JP2566191Y2 JP3833792U JP3833792U JP2566191Y2 JP 2566191 Y2 JP2566191 Y2 JP 2566191Y2 JP 3833792 U JP3833792 U JP 3833792U JP 3833792 U JP3833792 U JP 3833792U JP 2566191 Y2 JP2566191 Y2 JP 2566191Y2
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JP
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groove
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parallelism measuring
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JP3833792U
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JPH0592611U (ja
Inventor
武史 松本
Original Assignee
安藤電気株式会社
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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、Ｖ溝とＶ基準を使用
する平行度測定機についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による平行度測定機の構
成を図３により説明する。図３の１Ａ〜１Ｃは接触子、
２Ａ〜２Ｃはタッチレバー、３は直線エッジ、７はボー
ルねじ、８は検出ブロック、９Ａと９Ｂは検出ブロック
８の案内、１０は被測定物である。検出ブロック８には
変位量検出器が組み込まれる。
【０００３】接触子１Ａは被測定物１０の第１の側面に
接触し、接触子１Ｂは第１の側面と反対側の被測定物１
０の第２の側面に接触する。接触子１Ａ・１Ｂの変位は
タッチレバー２Ａ・２Ｂから検出ブロック８に伝えられ
る。また、接触子１Ｃは直線エッジ３に接触し、接触子
１Ｃの変位はタッチレバー２Ｃから検出ブロック８に伝
えられる。接触子１Ｃの変位は被測定物１０の姿勢によ
る測定誤差を補正する。図３では、ボールねじ７を回転
させ、検出ブロック８を移動させて直線エッジ３に対す
る被測定物１０の平行度を測定する。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】図３では、検出ブロッ
ク８と案内９Ａ・９Ｂの間に隙間があるため測定精度が
悪くなる。このため、案内として空気スライドを用いて
真直度を上げるが、測定機が高価になる。この考案は、
検出ブロックにＶ溝を設け、段部を形成し、検出ブロッ
クをＶ基準と受けで保持し、空気スライドを不要とした
平行度測定機の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この考案では、被測定物１０の第１の側面に接触す
る接触子１Ａと、第１の側面と反対側の被測定物１０の
第２の端部に接触する接触子１Ｂと、接触子１Ａの変位
を検出ブロック４に伝えるタッチレバー２Ａと、接触子
１Ｂの変位を検出ブロック４に伝えるタッチレバー２Ｂ
と、直線エッジ３と接触する接触子１Ｃと、接触子１Ｃ
の変位を検出ブロック４に伝えるタッチレバー２Ｃと、
Ｖ溝４Ａをもち、段部４Ｂが形成される検出ブロック４
と、検出ブロック４のＶ溝に入り、検出ブロック４の位
置決めをするＶ基準５と、検出ブロック４の段部４Ｂを
保持する受け６とを備える。
【０００６】
【作用】次に、この考案による平行度測定機の構成を図
１により説明する。図１の４は検出ブロック、５はＶ基
準、６はＶ基準５とともに検出ブロック４を支持する受
けであり、その他は図３と同じである。すなわち、図１
は図３の検出ブロック８と案内９Ａ・９Ｂを取り除き、
その代わりに検出ブロック４と、Ｖ基準５と受け６を採
用したものである。検出ブロック４は測定時にはＶ基準
５と受け６に密着して支持される。
【０００７】次に、図１の検出ポイントを変えるために
検出ブロック４を移動中の状態図を図２により説明す
る。図２では、検出ブロック４をＶ基準５と受け６から
浮かせて移動する。連続したデータが必要な場合は、図
１の状態でボールねじ７を駆動して検出ブロック４を移
動させて測定することもできる。また、平行度だけでな
く被測定物１０の外径測定をすることもできる。
【０００８】
【考案の効果】この考案によれば、検出ブロックにＶ溝
を設け、段部を形成し、検出ブロックをＶ基準と受けで
保持するので、空気スライドがなくても、精度のよい平
行度測定機を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案によるＶ溝とＶ基準を使用する平行度
測定機の構成図である。
【図２】図１の検出ポイントを変えるために検出ブロッ
ク４を移動中の状態図である。
【図３】従来技術による平行度測定機の構成図である。
【符号の説明】
１Ａ〜１Ｃ 接触子 ２Ａ〜２Ｃ タッチレバー ３ 直線エッジ ４ 検出ブロック ５ Ｖ基準 ６ 受け ７ ボールねじ １０ 被測定物

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被測定物(10)の第１の側面に接触する第
    １の接触子(1A)と、 第１の側面と反対側の被測定物(10)の第２の側面に接触
    する第２の接触子(1B)と、 第１の接触子(1A)の変位を検出ブロック(4) に伝える第
    １のタッチレバー(2A)と、 第２の接触子(1B)の変位を検出ブロック(4) に伝える第
    ２のタッチレバー(2B)と、 直線エッジ(3) と接触する第３の接触子(1C)と、 第３の接触子(1C)の変位を検出ブロック(4) に伝える第
    ３のタッチレバー(2C)と、 Ｖ溝(4A)をもち、段部(4B)が形成される検出ブロック
    (4) と、 検出ブロック(4) のＶ溝に入り、検出ブロック(4) の位
    置決めをするＶ基準(5) と、 検出ブロック(4) の段部(4B)を保持する受け(6) とを備
    えることを特徴とする平行度測定機。
JP3833792U 1992-05-13 1992-05-13 Ｖ溝とｖ基準を使用する平行度測定機 Expired - Lifetime JP2566191Y2 (ja)

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JPH0592611U JPH0592611U (ja) 1993-12-17
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103512475A (zh) * 2012-06-26 2014-01-15 日立电梯（中国）有限公司 在用垂直电梯导轨校正工具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103512475A (zh) * 2012-06-26 2014-01-15 日立电梯（中国）有限公司 在用垂直电梯导轨校正工具

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JPH0592611U (ja) 1993-12-17

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