JPH0127044Y2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0127044Y2
JPH0127044Y2 JP3847683U JP3847683U JPH0127044Y2 JP H0127044 Y2 JPH0127044 Y2 JP H0127044Y2 JP 3847683 U JP3847683 U JP 3847683U JP 3847683 U JP3847683 U JP 3847683U JP H0127044 Y2 JPH0127044 Y2 JP H0127044Y2
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JP
Japan
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displacement
rotating shaft
contact
sensor
mark
Prior art date
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JP3847683U
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JPS59144510U (ja
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は工作機械の主軸等の回転軸変形を測定
する装置に関するものである。回転軸の変形は軸
芯に沿つた伸びの他は軸の倒れとして出現するこ
とが知られている。例えば工作機械の主軸が、主
軸用に使用されるベアリング、モータ等の発熱に
より複雑に変形(以下熱変位を総称する)するこ
とがある。
従来、工作機械の熱変位測定は第1図に示すよ
うにダイヤルインジケータを使用して測定されて
いる。1は工作機械のコラムで、ベツド1aの上
に固定されている。2は主軸スピンドル18に取
付けられたテストバーで、主軸スピンドル18が
回転すると一緒に回転する。19はコラム1に対
向して設けられた台1b(加工台又はワーク)の
上に載置されたダイヤルインジケータである。主
軸の回転中はダイヤルインジケータ19の接触子
はテストバー2から離しておく。一定時間毎に主
軸の回転を止めて、テストバーの回転位置を初期
に測定したポイントに位置を合せダイヤルインジ
ケータ19の接触子をテストバー2に接触させて
変位を検査員が目視にて読んで記録する。従来の
測定装置においては、検査員が所定の時間毎に作
業を余儀なくされること、および作業に際して、
ダイヤルインジケータ19を接触させたり戻した
りするので、ダイヤルインジケータ接触子の戻り
誤差を発生するため正確な測定はできない。更
に、測定の為に主軸の回転を停止するので、経時
変化をみる為の連続運転中の熱変位を正確に測定
することはできないということがあつた。
とくに、回転軸を連続して長時間回転させる場
合には、ベアリング、モータ等の発熱は数時間に
わたり徐々に増加し、その結果回転軸及びその支
持構造物が温度上昇するので種々の変形を発生す
る。
本考案は、回転軸の経時的変位等の原因で発生
する振れ、例えば工作機械の熱変位を精度良く、
機械を止めることなく、自動的に測定する変位測
定装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本考案は回転軸に
対向して非接触変位計を配置し、回転軸に付けた
マークを非接触にて検出し、この検出信号をトリ
ガ入力にして非接触変位計から出力される変位信
号をサンプルホールド回路に取り込むことによつ
て回転軸の経時変位分を取り出すよう変位測定装
置である。
以下本考案の測定装置を図面を用いて詳細に説
明する。第2図は本考案の測定装置により工作機
械の主軸の熱変位を測定する例を示す図、第3図
は本考案の一実施例を示すブロツク図である。同
図において第1図と同一符号は同一部分を示す。
6は光学的センサ(以下フオトセンサと称す)で
第4図に示す如くテストバー2に近接して台1b
の上に配置される。17は光学的センサ6に対応
した位置すなわち、テストバー2が回転した時に
フオトセンサ6が検出可能な位置に取付けられる
マークで、具体的には反射鏡、接着テープ等であ
る。3aは非接触変位計の検出マーク又は非検出
体でテストバー2に取付けられる、第5図に第4
図の向つて左方から見たテストバー2、非接触変
位計3、光学的センサ6の配置を示す。4は測定
装置の検出回路で、非接触変位計アンプ7、ゲイ
ン調整アンプ8、フイルタ9、サンプルボールド
回路10、フオトセンサ6出力の波形整形回路1
1により構成される。
次にその動作を第6図を用いて説明する。第6
図aは非接触変位計3の出力波形、bはフイルタ
9の出力波形、cはサンプルホールド回路10の
出力信号を示す。テストバー2を回転した時の非
接触変位計3の出力信号13はフイルタ9により
高周波成分を除去した波形15となる。フオトセ
ンサー6からのテストバー2の1回転毎のパルス
信号15のトリガ信号12とサンプルホールド回
路10によりサンプルホールドを行い測定時刻毎
に階段状の連続した熱変位の信号16を得る。出
力信号16はテストバー2にマーク17を取付け
た回転位置においてサンプリングされるので、同
じ回転位置におけるテストバー2の変位を計測し
ていることになる。したがつて、テストバー2の
取付けによる振れやスピンドル18の振れに影響
を受けないで測定時刻毎の経時的変位のドリフト
−熱変位を測定することができる。尚、本装置は
工作機械運転中の熱変位のインプロセスセンサー
の回路にも応用できる。
本考案の一実施例で使用している非接触センサ
は光学的なものであつたが、これに限らず渦電
流、静電容量等でもよく、要するに非接触にて変
位を検出できるものであればよい。第6図cの変
位出力16はペン書きレコーダ等の記録機器、デ
イジタル信号化の後記憶装置5等により記録をす
ることができる。尚、端子12には工作機械の変
位補償装置等の制御装置を接続することにより更
に機能を拡大することができる。
以上述べた如く本考案は、回転軸と、この回転
軸に対向配置された非接触変位計と、上記回転軸
に取付けたマークと、このマークと対向配置され
且つこのマークの有無を検出するセンサーと、こ
のセンサーからの出力信号に同期して上記非接触
変位計からの出力信号を取り込むサンプルホール
ド回路とを有する回転軸の変位測定装置であるか
ら、測定周期毎に検査員が検査する必要が無い、
自動的に工作機械の熱変位形等の回転軸の変形を
検出できる。尚、非接触式の計測であるので、計
測のために回転軸の回転を止める必要がなく、連
続運転中の熱変位を正確に測定できる。また、従
来技術のように検出部を人が操作する必要がない
ので、測定誤差も防止できるという効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の回転軸測定装置を説明する為の
説明図、第2図は本考案の他一実施を示す説明、
第3図は検出回路を示すブロツク図、第4図は第
2図の部分拡大図、第5図は第4図の左側面図、
第6図は第3図の各部波形図である。 2……テストバー、3……非接触変位計、4…
…検出回路、6……非接触センサ、10……サン
プルホールド回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 回転軸と、この回転軸に対向配置された非接触
    変位計と、上記回転軸に取付けたマークと、この
    マークと対向配置され且つこのマークの有無を検
    出するセンサーと、このセンサーからの出力信号
    に同期して上記非接触変位計からの出力を取り込
    むサンプルホールド回路とを有することを特徴と
    する回転軸の変位測定装置。
JP3847683U 1983-03-18 1983-03-18 回転軸の変位測定装置 Granted JPS59144510U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3847683U JPS59144510U (ja) 1983-03-18 1983-03-18 回転軸の変位測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3847683U JPS59144510U (ja) 1983-03-18 1983-03-18 回転軸の変位測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59144510U JPS59144510U (ja) 1984-09-27
JPH0127044Y2 true JPH0127044Y2 (ja) 1989-08-14

Family

ID=30169145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3847683U Granted JPS59144510U (ja) 1983-03-18 1983-03-18 回転軸の変位測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59144510U (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59144510U (ja) 1984-09-27

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