JPH01136011A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH01136011A
JPH01136011A JP29482987A JP29482987A JPH01136011A JP H01136011 A JPH01136011 A JP H01136011A JP 29482987 A JP29482987 A JP 29482987A JP 29482987 A JP29482987 A JP 29482987A JP H01136011 A JPH01136011 A JP H01136011A
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distance sensor
distance
sensor
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Yoshikazu Fujiwara
義和 藤原
Jiyunjirou Katou
純次郎 加藤
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Aisin Takaoka Co Ltd
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Aisin Takaoka Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、検査すべき測定面をもつ被検査物、(たとえ
ば自動車のv1動装置の部品であるディスクローター)
の測定面の形状(たとえば平坦度)を検査する検査装置
に関する。
[従来の技術1 従来、自171mの制動装置の部品であるディスクロー
ターでは所定の加エエ稈を終えた後で加工した面の形状
歪の検査を実施していた。このディスクローターはフラ
ンジ部とボス部とを同心円的に一体化した形状をもち、
ボス部の一端面が組付基準面となり、7ランジ部の円形
の一端面およびこれと背向する反対側の円形の他端面と
をもつものである。そして互いに平行なボス部の一端面
と7ランジ部の一端面間の距離や、互いに平行な7ラン
ジ部の一端面および他端面の凹凸や、7ランジ部の一端
面および他端面のフレなどの形状歪を検査していた。こ
の形状歪検査工程において、作業者番卒定盤の」二にこ
のディスクローターのボス部の一端面が当接するように
載せる工程、ディスクローターを回転しつつフランジ部
の他端面をダイアルゲージで測定する工程、ディスクロ
ーターを定盤からとり取りはずす工程、を順次実行し、
形状歪を測定していた。
また、本出願人によって出願された実開昭62−s i
 oos号公報には、ディスクローターを駆ailによ
り回転させつつ、ディスクローターのたとえばフランジ
部の一端面にタッチセンサを当接させ、前記一端面の凹
凸を全周にわたって測定する技術が開示されている。
[発明の解決しようとする問題点] 上記した従来の技術ではダイアルゲージによるディスク
ローターの目視測定作業が含まれる。この作業は神経の
集中が必要であるので、作業者が疲労して作業能率およ
び作業精度が低下する可能性があった。
また、前記従来の自動的に測定する技術は、実験の結果
前記駆動装置の振動のために測定データにノイズが混入
し、検査精度が悪くなることがわかった。なお前記振動
の原因としては、駆動R置の機械的精度や速度むら、ま
たは前記駆動装置や被検査物の回転にとらなう検査台の
振動、または検査台の振動にともなう測定装置(特にタ
ッチセンサ)の振動などが考えられる。
本発明は前記問題に鑑み、高能率かつ高精度に被検査物
の測定面の形状を測定する装置を提供フることを目的と
する。
E問題点を解決するための手段] 本発明の検査装置は、測定面をもつ被検査物を載置する
載置面と前記載置面に対して所定距離隔てて位置する基
準面をもつ検査台と、前記被検査物の前記測定面と自己
との間の距離を測定づる検査用距離センサと前記検査用
距離センサと一体的に固定され前記基準面と自己との間
の距離を測定する補償用距離センサとを有するセンサv
装置と、前記測定面および前記基準面にそって前記セン
サ装置を移動させる駆動装置と、前記検査用距離センサ
及び前記補償用距離センサの出力信円を処理して前記被
検査物の前記測定面の形状の良否を判定する制御部と、
を備えるように構成されている。
被検査物は、形状を測定すべき表面(測定面という)を
もつ部材である。代表的な被検査物としては自動中の制
動装置の部品であるハツト形状のディスクローターを挙
げることができる。このディスクローターは前記説明し
たように7ランク部とボス部とを同心的に一体化した形
状をもつ。
検査台は、被検査物を載置する載置面と、前記載置面と
所定距離を隔てて位置する基準面とをもつ固定台である
。載置面と基準面とはそれぞれ平坦面であることが好ま
しく、更に載置面と基準面とは平行であることが好まし
い。載置面としては、少くとも3点の載置点があればよ
い。
補償用距離センサおよび検査用センサは、タッチセンサ
や光学距離センサなと、基準面と自己と距離および被検
査物の測定面の小領域と自己との距離を測定するもので
ある。
駆動装置は、センサ装置を前記測定面および前記基準面
にそって直線的にまたは回転的に移動させる装置である
。なお検査用距離センサと補償用iT+MLンVとはで
きるだけ近接するように一体的に設置されることが好ま
しい。
制御部は、距Mセンサの出力信号を処理して被検査物の
測定面の形状を判定する装置6であり、検査用距離セン
サおよび補償用距離センサから1!1られる測定データ
から、被検査物の測定面の形状の良不良を判別する機能
をbつ。
(作用1 本発明の検査装置におい°【、まず検査すべき測定面が
検査用距離センサに対向するように被検査物を検査台の
戟1fiilii上に載置する。そして駆動装置は検査
用距離上ンljと補償用距離セン号とを測定面および基
準面にぞって移動させる。検査用距離センサは被検査物
の測定面と自己との距離を測定し、得られた。測定デー
タをuJ t;181部に伝送する。
補償用距離センサは検査台の基準面と自己との距離を測
定し、得られた測定データを制御部に伝送づ゛る。制御
部は検査用距離センサと補償用距離センυとから受取っ
た各測定データを処理して、被検査物の測定面の形状の
良否を判定する。
ある第1図に示し、その八−A′線矢視断面因を第5図
に承り。
本実施例の検査装置は、被検査物としてのディスクロー
ター100をその@画面11に載置する検査台1と、デ
ィスクローター100の測定面104と自己との距離を
測定する検査用距離センサ21と、ディスク【l−ター
100の測定面105ど自己との距離を測定するセンサ
装置としての検査用距!!11I?ンサ22と、検査台
1の基準面12と自己との距離を測定するセンサ装置と
しての補償用距離センサ23と、載置面11と直角な軸
芯Xを回転中心として検査用距離センサ21と検査用部
fIiヒンサ22と補償用距離センサ23とを回転させ
る駆動装W3と、検査用距離センサ21と検査用外#l
t?ンサ22と補償用距離センサ23との出力信号を処
理してディスクローター100の測定面104.105
の形状の良否を判定する制御部4と、からなる。
ディスクローター100は、フランジ部101とボス部
102とを同心円的に一体化した形状をもも、7ラン2
部の一端面である測定面104およびフランジ部の他端
面である測定面105をもつものである。
検査台1は、ディスクローター100を載置する台であ
り、基準面12は載置面11の延長線上に伸びている。
検査用距離はンサ21,22は、(炙で説明される駆動
装置3に回転可能に支持されている。これらの検査用外
mbンサ21.22および補償用路11IItt=ンサ
23はそれぞれレーザダイオード(LD)とレンズ系と
からなる送光系(図示せず)と、半導体装置検出素子<
pso>とレンズ系とからなる受光系(図示せず)とか
らなる光学式距離センサである。なお、検査用距離セン
サ21.22および補償用距離センサ23の各前記レー
ザーダイオード(図示せず)はそれぞれ軸芯Xと平行な
仮想直線Y上において測定面104.105および基準
面12にレーザー光を発射するものである。
検査用距離センサ21.22および補償用距離センサ2
3の各前記PSD(図示せず)はそれぞれ測定面104
.105および基準面12から反射するレーザー光によ
り測定面104.105および基準面12と各自己との
間の距離を測定するものである。
駆動装置3は、検査台1に固定されたステッピングモー
タ31と、ステッピングモーター31の回転軸32に取
りつけられた鋼製の腕部33と、からなる。腕部33は
3字形状をもち、その長い方の片部の端部34が回転軸
32に固定されている。そして仮想直線Yと交差する位
置において腕部33の片部331に検査用距離センサ2
1が取付けられる。また仮想直線Yと交差する位置にお
いて腕部33の片部332に検査用距離センサ22と補
償用距離センサ23とが互いに背向するように取付けら
れている。
制御部4は、検査用距離センサ21.22および補償用
距離センサ23の出力信号を並列にデジタル信号に変換
する入力回路部41と、入力回路部41から出力される
前記デジタル信号などを受取り後で説明す゛る各種制御
4(r号や判別信号などを出力する制御回路部42と、
からなる。入力回路部41は、検査用距離センサ21.
22および補償用距離センサー23の出力信号を所定の
大きさにそれぞれ増幅するセンスアンプ411.411
′、411′−と、センスアンプ411.411=、4
11−−の出力信号を後で説明する所定のタイミングで
サンプルホールドするサンプルホールド回路412.4
12−1412″と、サンプルホールド回路412.4
12′、412−′から出力されるサンプルホールド信
号をそれぞれA/D変換するA/Dコンバーター413
.413′、413−”と、からなる。
制御回路部42はI10インターフェイスを内蔵するマ
イクロコンピュータであり、その出力端子の一つは出力
信号線424を介してステッピングモータ31に接続さ
れ、他の出力端子は出力信9線421を介してサンプル
ホールド回路412.412′、412−一に接続され
て′いる。
この検査装置の動作を第3図および第4図のフローチャ
ートに基づいて説明する。
まず、検査台1の載置面11にディスクローター100
を検査台100上に載置する。なお、ディスクローター
100の軸芯が駆動装置3の軸芯Xとできるだけ一直線
となるように載置する。
次に、図示しない起動スイッチが投入されるとルーチン
が開始されステップ101に進む。
5101では、レジスタやメモリなどを初期設定して、
5102に進む。
$102では、制御回路部42がステッピングモータ3
1に第2図に示す一連の駆動パルスパルス信@S1を送
ってステッピングモータ31を約30m5ecだGプ回
転させ、検査用゛距離センサー21.22および補償用
距離センサ23を約回転角5度だけ回転ざその後停止さ
せる。そしてその後で8103に進む。駆動パルス信号
S1は簡略に図示されているが実際には4相パルス信号
であり、回転期間T1の間だけステッピングモータ31
を回転させる。検査用距離センサ21,22および補償
用距11it=ンサ23はステッピングモータ31の1
回の回転期間T1に約回転角5度だにノ回転するように
3Q41されている。
5103は、停止期間T2を規定するタイマーを制御す
るサブルーチンである。なお、このタイマーはi、IJ
 11回路部42に内蔵されている。
このサブルーチンでは第4図に示すように、まず311
0でタイマーをスタートさせて5111に進む。なお、
制御回路部42は停止期間T2には駆動パルス信号S1
を発生しない。なお、本実施例では回転期間T1は約3
Qmsec、停止期間T2は7 Qms e cに設定
している。
5111では、タイマーが70m5ecになったかどう
かを検出し、タイマーが70m5ecに達していれば5
104に進み、そうでなければ5111に再び戻る。本
タイマーによるルーチンの遅延はステッピングモータ3
1の停止後の回転軸32および腕木33の慣性運動を減
衰させるためになされる。
5104では、検査用距離センサ21.22および補償
用距離センサ23はそれぞれ測定面104.105およ
び基準面12と各自己との距離(Y方向の)を検出して
、それに応じた出力信号を入力回路部41にそれぞれ伝
送する。入力回路部41は各前記出力信号をセンスアン
プ411.411−1411″で所定の大きさに増幅し
、増幅された信号をサンプルホールド回路412.41
2′、41.2−′に送る。そして、第2図のタイミン
グでサンプリングパルスS2をサンプルホールド回路4
12.412′、412−′に送り、この時点のセンス
アンプ411.411′、411″の出力信号電圧をザ
ンプルホールドする。なお、制御回路部42はサンプリ
ング信号S2を停止期間T2の終了する1m5ec前に
出力する。サンプルホールド回路412から出力される
サンプルホールド信号S3とサンプルホールド回路41
2″、かう出力されるサンプルホールド信号S3−とサ
ンプルホールド回路’112−−から出力されるサンプ
ルホールド信号83″とはそれぞれA/Dコンバーク4
13.413−1413″でデジタル信号に変換された
後でυ1111回路部42に送られる。
なお、A/Dコンバータ/113から出力される前記デ
ジタル信号はディスクローター100の測定面104上
の一測定点と検査用距離センサ21との間の距離を表す
測定データである。また、A/Dコンバータ413−か
ら出力される前記デジタル信号はディスクローター10
0の測定面105上の一測定点と検査用距離センサ22
との間の距離を表す測定データである。また、A/Dコ
ンバータ413”から出力される前記デジタル信号は検
査台1の基準面上の一測定点と補償用距離センサ23と
の間の距離を表す測定データである。
5105では、検査用距離センサ21.22 、f5よ
び補償用距離センサ23の回転角度が360度に達した
かどうかを判定する。なお、検査用距離センサ21.2
2および補償用距離センサ23はそれぞれ1回の回転に
より約回転角5度だけ回転するので、サンプリングパル
ス信号S2をカウントし、サンプリングパルス信号S2
が72になった時に、前記回転角度が360度に達した
ものとする。そして回転角度が360 II以j二であ
れば(サンプリングパルスが73以上であれば)、81
06に進み、そうでなければ再び8102に戻って次の
測定データ採取を実行する。
このようにしてディスクローター100の測定面104
.105の各72個の測定データM1M′および基準面
12の測定データM″を制御回路部42のメモリに記憶
した後で、8106に進む。
8106では、測定データMと測定データM′′との差
から測定面104の補正された測定データMxを求める
。この補正された測定データMXは検査用距離センサ2
1のY方向の変動を補正した後での測定面104のY方
向への変位を表すデータである。そして測定データM′
と測定データM″との差から測定面105の補正された
測定データMYを求める。この補正された測定データM
Yは検査用距離センサ22のY方向への変動を補正した
後での測定面105のY方向への変位を表すデータであ
る。
5107では、測定データMXと予め記憶している所定
の標準値m1とを比較しその差の絶対値1Mx−m11
を求める。更に測定データMyと予め記憶している所定
の標準値m2とを比較しその差の絶対値I My−m2
 lを求める。そして差IMx−m1 lおよびl M
y−m2 +が予め設定された所定の範囲内にあれば8
108に進み、そうでなければ8109に進む。なお、
差IMx−m11は測定面104の凹凸を検査するもの
であり、差1My−m21は測定面105の凹凸を検査
するものである。
8108では、ディスクローター100の測定面104
.105および7ランジ部101の厚さが良であること
を表す信号を制御部42からCR丁デイスプレィ(図示
せず)に出力してこのルーチンを終了する。
5109では、ディスクローター100が不良であるこ
とを表す信号を制御部42から前記CRTデイプレイに
出力してルーチンを終了する。
前記説明により、ディスクローター100の7ランジ部
101の測定面104.105が検査された。
なお8106において、他のデータ処理を実行すること
は当然可能である。たとえば、測定面104上で互いに
180度の位置にある2個の測定T−夕の差を求めれば
、前記差により測定面104の傾斜(フレ)が検出でき
る。そして5107でこのフレが予め設定する所定角度
以内にあるかどうかを判定しても良い。
また、検査用距離センサ21.22および補償用距離セ
ンサ23として、光学距離センサの他に接触型や作動ト
ランス型や可変容置型や超音波型のものも使用できる。
またサンプリング回路412.412−141:2”を
制御回路部42側に配置しても良い。更に、ディスクロ
ーター100を裏返して測定面104と測定面105゛
とを順次測定すれば、検査用距離センサ21.22はど
ちらか片方でも良い。また検査用距離センサ21.22
はY方向の仮想直線上に配置する必要は無い。
ただし、光学距離センサ21.22をY方向の仮想直線
上に配置することにより、A/Dコンバータ413.4
13′から出力される2種類のデジタル信号の差を検出
するだけで、7ランジ部101の厚さを直接検出するこ
とができ、どちらかの信号の遅延操作を省略することが
できる。
本実施例の検査装置は検査用距離センサ21.22J5
よび補償用距離センサ23を一体的に回転させ、更に補
償用距離センサ23が基準面12と自己との距離を測定
するように構成している。
従って、検査用距離センサ21または検査用距離センサ
22の検出距離(測定データ)と補償用距離センサ23
の検出距離(測定データ)との差を検出すれば、検査用
距離センサ21.22のY方向の変動を補償することが
できる。前記変動は回転HMの回転軸のフレや振動など
により発生するものである。
なお、検査用路lI!lセンサ21または検査用距離セ
ンサ22と補償用距離センサ23とはなるべく近接して
一体化することが好ましい・。両者を近接させることに
より、検査用距離センサ21または検査用距離センサ2
2の前記変動と補償用距離センサ23の前記変動とはほ
とんど等しくできる。
更に本実施例の検査装置は駆動装M3が停止ししかも前
記停止した優の所定時間経過後に各距離センサのデータ
をサンプルホールドしている。従って、検査用距離セン
サ21.22および補償用距離センサ23の前記変動自
体を大幅に減らすことができる。なお、本実施例では駆
動装置!?3を間欠運転しているが、駆動装置3を連続
運転することも当然可能である。
[実施例21 この実施例の検査装置を第6図に示1′。この検査装置
は、補償用距離センサ230と基準面120の位置の他
は実施例1の検査装置と同じである。
この検査装置において、補償用距離センサ230は検査
用距離センサ21と背向するように片部331に取付け
られている。基準面120をもつ円盤13は載置面11
に平行となるように、ステッピングモータ31に取付(
プられている。そして円盤13の基準面120は載置面
11と平行な平坦面である。ステッピングモータ31は
検査台1に固定されている。
本実施例の検査装置の作用効果は実施例1の検査装置の
それと同じであるが、検査台1の水平面積を広くできな
い場合などに好適である。
[実施例31 この実施例の検査装置を第7図に示す。この検査装置は
、ディスクロータ900を載置する検査台19と、補償
用距離センサ239と、検査用距1lllIt=ンサ2
19の他は、実施例1の検査装置と同じである。この検
査装置において、補償用距離センサ239は検査用距離
センサ219と軸芯Xとを結ぶ仮想直線にの延長線」−
において、検査用距離センサ219と一体に固定されて
いる。
この検査weIにおいて、駆動装置の軸芯Xが変位後の
軸芯X′の方向に変位すると仮定する。この時、前記仮
想直線には変位後の仮想直線に′の方向に変位する。そ
の結果、補償用距l111?ンサ239は距離りだけY
方向に変位する。
その結果、検査用距1Iil#センサ219のY方向の
変位D′はDXL2/L1になる。従って本実施例の検
査装置は、補償用距離・センナ239を検査用距離セン
サ219と離れて設置されていても検査用距離センサ2
19の変位を補償できる利点がある。
[発明の効果〕 以上説明したように本発明の検査装置は、被検査物の測
定面を測定する検査用距離センサと、検査台の基準面を
測定づる補償用距#II?ンサと、前記検査用距離セン
サと前記補償用距離センサとからなるセンサ装置を移動
させる駆動装置と、を具備しているので、検査用距離セ
ンサの測定方向への変位を補償することができ、精密に
かつ高能率に被検査物の測定而の形状、たとえば測定而
のフレや測定面の粗さなど、を測定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の検査装置の一実施例を表す模式図であ
る。第2図は第1図の装置の各部の信号波形図である。 第3図は第1図の装置の制御回路部42の動作を示すフ
【]−チャートである。第4図は第3図のステップ51
03のサブルーチンの70−ブヤートである。第5図は
第1図の装置のA−A−線矢視の断面図である。第6図
および第7図はそれぞれは本発明の他の実施例を表1模
式%式% 21.22・・・検査用距離セン1f 23・・・補償用距離はンサ 3・・・駆動装置 4・・・制御部 特許出願人   アイシン高丘株式会社代理人    
弁理士 大川 宏 第2図 53−「−一一一一−1−一一一一一一一一一一第4図 第6図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定面をもつ被検査物を載置する載置面と前記載
    置面に対して所定距離隔てて位置する基準面とをもつ検
    査台と、 前記被検査物の前記測定面と自己との間の距離を測定す
    る検査用距離センサと前記検査用距離センサと一体的に
    固定され前記基準面と自己との間の距離を測定する補償
    用距離センサとを有するセンサ装置と、 前記測定面および前記基準面にそって前記センサ装置を
    移動させる駆動装置と、 前記検査用距離センサ及び前記補償用距離センサの出力
    信号を処理して前記被検査物の前記測定面の形状の良否
    を判定する制御部と、からなることを特徴とする検査装
    置。
  2. (2)前記検査台の基準面は、前記載置面と略平行であ
    る特許請求の範囲第1項記載の検査装置。
JP29482987A 1987-11-20 1987-11-20 検査装置 Pending JPH01136011A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007046946A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定装置及び基板の両面形状測定方法
JP2007057502A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定システム
JP2007147289A (ja) * 2005-11-24 2007-06-14 Kobe Steel Ltd 形状測定装置、形状測定方法
JP2007286072A (ja) * 2007-08-06 2007-11-01 Kobe Steel Ltd 平坦度測定方法及びその装置
JP2011107143A (ja) * 1998-06-04 2011-06-02 Performance Friction Corp 一体化したターニング・センタを有する非接触検査システム
JP2014010001A (ja) * 2012-06-28 2014-01-20 Ohbayashi Corp 表面粗さ計測装置及び計測方法
WO2019001605A1 (de) * 2017-06-28 2019-01-03 Ferquest Gmbh Verfahren und vorrichtung zur ermittlung einer lageabweichung einer bremsscheibe

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011107143A (ja) * 1998-06-04 2011-06-02 Performance Friction Corp 一体化したターニング・センタを有する非接触検査システム
JP2007046946A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定装置及び基板の両面形状測定方法
JP2007057502A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定システム
JP2007147289A (ja) * 2005-11-24 2007-06-14 Kobe Steel Ltd 形状測定装置、形状測定方法
JP2007286072A (ja) * 2007-08-06 2007-11-01 Kobe Steel Ltd 平坦度測定方法及びその装置
JP2014010001A (ja) * 2012-06-28 2014-01-20 Ohbayashi Corp 表面粗さ計測装置及び計測方法
WO2019001605A1 (de) * 2017-06-28 2019-01-03 Ferquest Gmbh Verfahren und vorrichtung zur ermittlung einer lageabweichung einer bremsscheibe
CN110799395A (zh) * 2017-06-28 2020-02-14 弗克斯特有限公司 用于确定制动盘的位置偏差的方法和装置
CN110799396A (zh) * 2017-06-28 2020-02-14 弗克斯特有限公司 用于确定旋转体的位置偏差的方法和装置
US11466738B2 (en) * 2017-06-28 2022-10-11 Ferquest Gmbh Method and device for ascertaining a positional deviation of a brake disc

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