JPH0194208A - 円盤状物品の形状歪検査装置 - Google Patents

円盤状物品の形状歪検査装置

Info

Publication number
JPH0194208A
JPH0194208A JP25181987A JP25181987A JPH0194208A JP H0194208 A JPH0194208 A JP H0194208A JP 25181987 A JP25181987 A JP 25181987A JP 25181987 A JP25181987 A JP 25181987A JP H0194208 A JPH0194208 A JP H0194208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disc
shaped article
disc rotor
disk
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25181987A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikazu Fujiwara
義和 藤原
Jiyunjirou Katou
純次郎 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aisin Takaoka Co Ltd
Original Assignee
Aisin Takaoka Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aisin Takaoka Co Ltd filed Critical Aisin Takaoka Co Ltd
Priority to JP25181987A priority Critical patent/JPH0194208A/ja
Publication of JPH0194208A publication Critical patent/JPH0194208A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、円盤状物品、たとえば自動車の制動装置の部
品であるディスクローターなどを検査する形状歪検査装
置に関する。
[従来の技術] 従来、自動車の制動装置の部品であるディスクローター
は所定の加工工程を終えた後で加工した形状の歪の検査
を実施していた。なお、このディスクローターはフラン
ジ部とボス部とを同心円的に一体化した形状をもち、ボ
ス部の一端面が組付基準面となり、フランジ部の円形の
一端面およびこれと背向する反対側の円形の他端面とを
もつものである。そしてこの検査では、互いに平行なボ
ス部の一端面と7ランジ部の一端面間の距離や、互いに
平行なフランジ部の一端面および他端面の凹凸や、フラ
ンジ部の一端面おにび他端面のフレなどを検査していた
。この形状歪検査工程において、作業者は定盤の上にこ
のディスクローターをたとえばボス部の一端面が当接す
るように載せる工程、ディスクローターを回転しつつフ
ランジ部の他端面をダイアルゲージで測定する工程、デ
ィスクローターを定盤からとり取りばずず■稈、を順次
実行しなければならなかった。
また、本出願人によって出願された実開昭62−810
08号公報は、ディスクローターを駆動装置により回転
させつつ、ディスクローターのたとえばフランジ部の一
端面にタッチセンサを当接させ、前記一端面の凹凸を全
周にわたって測定する技術を提案している。
[発明の解決しようとする問題点] ところが、これら各工程の作業は繰り返し作業であり特
に前記ダイアルゲージによるディスクローターの目視測
定作業は神経の集中が必要であるので、作業者が疲労し
て作業能率および作業精度が低下する可能性があった。
ディスクローターを駆動装置により回転させ、ディスク
ローターの測定すべき面(以下測定面という)を全周に
わたって自動的に測定する前記従来技術は、実験の結果
前記駆動装置の振動のために測定データにノイズが混入
し、検査精度が大幅に悪くなることがわかつl〔。なお
前記振動の原因としては、駆動装置の機械的精度や速度
むら、または前記駆動装置や円盤状物品の回転にともな
う検査台の振動、または検査台の振動にともなう測定装
置(特にその検出部(センサ)の振動などが考えられる
本発明は前記問題に鑑み、高能率かつ高精度に円盤状物
品の形状歪を測定する装置を提供することを目的とする
[問題点を解決するだめの手段] 本発明の形状歪検査装置は、円盤状物品の軸芯を回転中
心として回転可能に支持する検査台と、前記検査台に保
持された前記円盤状物品を間欠的に回転させる駆動装置
と、前記検査台に保持された前記円盤状物品の一端面と
前記検査台の基準面との面間距離を測定する距離セン4
ノーと、前記駆動装置の停止後に前記距離センサによっ
て測定された前記円盤状物品の前記一端面の全周にわた
る複数個の測定データにより前記測定データ間のバラツ
キを求める制御部とを備えるように構成されている。
前記円盤状物品は、互いに平行な複数の端面をもつ部材
でありたとえば自動車の制動装置の部品であるハツト形
状のディスクローターである、このディスクローターは
前記説明したように7ランジ部とボス部とを同心的に一
体化した形状をもつ。
検査台は、前記複数端面と直角な軸芯を回転中心として
円盤状物品を回転可能に支持する基台であれば良い。た
とえば円盤状物品を摺動可能に支持する箔接面をもつ基
台が可能である。ただし前記当接面は平滑かつ耐摩耗性
をもつことが好ましく、セラミックス材料の採用が好適
である。また検査台に複数のローラーやボールなどを設
置し、前記ローラーやボールの上に円盤状物品を回転可
能に保持しても良い。この場合前記ローラーやボールが
円盤状物品と当接する複数の線または点を含む仮想の当
接面が前記検査台の当接面となる。
更に、検査台自体が円盤状物品を保持して回転する回転
部をもつようにすることも可能である。この場合にも前
記回転部の所定の面たとえば円盤状物品との当接面が前
記検査台の当接面となる。
駆動装置は、円盤状物品を間欠的に回転させる装置であ
る。たとえば本駆動装置は検査台に固定されたモーター
と、モーターの軸に設置され円盤状物品の円周側面と当
接して円盤状物品を回転させる駆動ローラーとを備える
。また、検査台が円盤状物品を保持して回転する前記回
転部をもつ場合には、駆動装置は前記回転部を間欠的に
回転させるものである。なおこの前記円盤状物品は測定
する前記端面(以下、測定面ともいう)の全周にわたっ
て高精度に測定するために所定の微小角度ずつ間欠的に
回転させられることが好ましいので、駆動装置のモータ
ーとしては一定の回転角度を簡単に円盤状物品に与える
ことができるステッピングモーターが好適である。
距離センサは、タッチセンサや光学位置センサなど、円
盤状物品の測定面の小領域の位置、特に円盤状物品の前
記測定面の軸芯と平行な方向の変位を検出できるもので
あれば良い。
制御部は、駆動装置の停止後に前記距離センサから得ら
れる複数個の測定データを処理し、少なくとも前記各デ
ータ間のバラツキを検出する機能をもてば良い。更にこ
の制御装置は得られた各デ−タ間のバラツキによって円
盤状物品の良不良を判別する機能をもつことが好ましい
。また駆動装置の回転により距離センサに混入するノイ
ズをより低減するために、駆動装置の停止した後の一定
期間経過後に即ち検査台などの振動などが十分減衰した
後で前記距離センサからの測定データをサンプリングす
ることが好ましい。
[作用) この円盤状物品の形状歪検査装置において、駆動装置は
検査台にセットされた円盤状物品をたとえば微小角度ず
つ間欠的に回転させる。距離センサは円盤状物品の測定
面と検査台の基準面との面間距離をその全周にわたって
測定し、制御部は駆動装置の停止期間に距離センサから
得られる測定データを処理して各測定データ間のバラツ
キを検出する。
[実施例] 以下、本発明の円盤状部品の形状歪検査装置を具体的な
実施例に基づいて説明する。
本実施例の形状検査装置は、円盤状物品であるディスク
ローター100を回転可能に支持する検査台1と、検査
台1に保持されディスクローター100を間欠的に回転
させる駆動装置2と、検査台1に固定され駆動装置1の
停止時にディスクローター100の形状歪を測定する距
離センサ3と、距離センサ3の出力信号を処理してディ
スクローター100の良否を判別する制御部4と、から
なる。
ディスクローター100は、フランジ部101とボス部
102とを同心円的に一体化した形状をもち、ボス部1
02の円形の一端面103、フランジ部の円形の一端面
104およびフランジ部の輪状の他端面105をもつも
のである。
検査台1は、ディスクローター100の軸芯Xをほぼ回
転中心としてディスクローター100を回転可能に支持
する基台であり、ディスクローター100の一端面10
3と摺接してディスクローター100を回転可能に支持
する当接面11をもつ。
駆動装@2は、検査台1に固定されたステラピングモー
タ21と、ステッピングモーター21の回転軸22に取
りつけられたウレタン製の駆動ローラー23と、検査台
1に固定され回転自在な案内ローラー(図示せず)とか
らなる。駆動ローラー23の回転軸22の軸芯と前記案
内ローラー(図示せず)の軸芯はディスクローター10
0の軸芯Xと平行となるように、検査台1の当接面11
から突出して取付けられている。駆動ローラー23の外
周側面24はディスクローター100の外周側面106
に接している。同様に、前記案内ローラー(図示せず)
の外周側面も駆動ローラー23と異なる位置でディスク
ローター100の外周側面106に接している。
距離センサ3は、接触子31をもつタッチセンサ32と
、タッチセンサ32を保持する腕木33と、腕木33を
ビン34を中心として回転自在に支持する支柱35と、
検査台1に固定され支柱35を支持する保持具36と、
からなる。タッチセンサ32は接触子31の先端をディ
スクローター100のフランジ部101の一端面〈測定
面)104に摺接させて、測定面104の軸芯Xと平行
な方向の変位を測定する距離センサであり、ここではス
l〜レンゲージ型のものを使用している。
制御部4は、タッチセンサ32の出力信号をデジタル信
号に変換する入力回路部41と、入力回路部41から出
力される前記デジタル信号などを受取り、後で説明する
各種制御信号や判別信号などを出力する制御回路部42
と、からなる。入力回路部41は、タッチセンサ32の
出力信号を所定の大きさに増幅するセンスアンプ411
と、センスアンプ411の出力信号を後で説明する所定
のタイミングでサンプルホールドづるサンプルホールド
回路412と、サンプルホールド回路412から出力さ
れるサンプルホールド信号をA/D変換する△/Dコン
バーター413と、からなる。
制御回路部42はI10インターフェイスを内蔵するマ
イクロコンピュータであり、その出力端子の一つは出力
信号線424を介してステッピングモータ21に接続さ
れ、他の出力端子は出力信号線421を介してサンプル
ホールド回路412− 10  = に接続されている。
この形状歪検査装置の基本的な動作を第1図の模式図お
よび第2図のタイミングチャートにより以下に説明し、
次いでその詳細な動作を第3図および第4図のフローチ
ャートに基づいて説明する。
まず、制御回路部42は第2図に示す駆動パルス信号S
1をステッピングモーター21に供給しステッピングモ
ータ21を間欠的に駆動する。駆動パルス信号S1は簡
略に図示されているが実際には周知の4相パルス信号で
あり、回転期間T1の間だけステッピングモータ21を
回転させる。
そして制御回路部42は停止期間T2には駆動パルス信
号S1を発生しない。なお、本実施例では回転期間T1
は約30m5ec、停止期間T2は7Qmsecに設定
している。ディスクローター100は検査台1の当接面
11と前記案内ローラー(図示せず)と駆動ローラー2
4とにより軸芯Xを回転中心として回転自在に保持され
ており、駆動ローラ24の1回の回転期間T1に回転角
2度だけ回転するように設計されている。タッチセンサ
32はディスクローター100のフランジ部101の一
端面(測定面)104の軸芯Xと平行な方向の変位を検
出して、それに応じた変位信号を入力回路部41に伝送
する。入力回路部41は前記変位信号をセンスアンプ4
11で所定の大きさに増幅し、増幅された信号をサンプ
ルボールド回路412に出力する。サンプルホールド回
路412は制御回路部42から出力されるサンプリング
信号S2により指定されるタイミングで入力信号をサン
プルホールドする。なお、制御回路部42はサンプリン
グ信号S2を停止期間T2の終了する1m5ec前に出
力する。サンプルホールド回路412から出力されるサ
ンプルホールド信号$3はΔ/Dコンバータ413でデ
ジタル信号に変換された後で制御回路部42に送られる
。制御回路部42はこのデジタル信号を処理してディス
クローター100の良否を判別する。
マイクロコンビコータである制御回路部42が実行する
動作を第3図のフローチャートに従って説明する。
まず、図示しない起動スイッチが投入されるとルーチン
が開始されステップ101に進む。
5101では、レジスタやメモリなどを初期設定して、
8102に進む。
$102では、制御回路部42がステッピングモータ2
1に一連の駆動パルスを送ってステッピングモータ21
を約30m5ecだけ回転させ、ディスクローター10
0を回転角2度だけ回転さその後停止させる。そしてそ
の後で8103に進む。
3103は、停止期間T2を規定するタイマを制御する
ザブルーチンである。
このザブルーチンでは第4図に示すように、まず811
0でタイマをスタートさせて5111に進む。
5111では、タイマが70m5ecになったかどうか
を検出し、タイマXが7Qmsecに達していれば51
04に進み、そうでなければ5111に再び戻る。本タ
イマによるルーチンの遅延はディスクローター100等
の振動の影響を低減するためである。
S1’04では、第2図のタイミングでサンプリングパ
ルス$2を4ノ一ンプルホールド回路412に送り、こ
の時点のセンスアンプの出力信号型LLをサンプルホー
ルドする。更に前記サンプルホールドが終了した後でA
/Dコンバータ413のデジタル信号をマイクロコンピ
ュータの内部データメモリに記憶し、その後で8105
に進む。
なお、1)fI記デジタル信号はディスクローター10
0の測定面104の一測定点の軸芯Xと平行な方向の距
離を表す測定データである。なお、前記距離はディスク
ローター100のボス部102の一端面103からフラ
ンジ部101の一端面104までの距離として設定する
。ディスクローター100のボス部102の一端面10
3は検査台1の当接面11に当接し、タッチセンザ31
は検査台1に固定されているので、距離センサ32によ
りディスクローター100のフランジ部101の一端面
104を測定すれば、一端面103と一端面104間の
距離(ディスクローター100の厚さ)を測定すること
ができる。
5105では、ディスクローター100の回転角度が3
60度に達したかどうかを判定する。、なd3、ディス
クローター100は1回の回転により回転角2度回転す
るので、サンプリングパルス信号S2をカウントし、サ
ンプリングパルス信号S2が72になった時に、前記回
転角度が360度に達したものとする。そして回転角度
が360度以上であれば(サンプリングパルスが73以
上であれば)、$106に進み、そうでなければ再び8
102に戻って次の測定データ採取を実行する。
このようにしてディスクローター100の測定面の72
個の測定データを制御回路部42のメモリに記憶した後
で、8106に進む。
3106は、得られた72個の測定データを処理して後
で説明する平均値M1および平均値M2を得るザブルー
チン(フローヂi・−トは省略する)である。
このザブルーチンでは、まず72個の全測定データの平
均値M1と、互いに隣接する複数個(ここでは3個)の
測定データの平均値M2を求めるて8107に進む。
5107では、平均値M1と予め記憶している基準の平
均値m1とを比較する。次に平均値M2と前記平均値M
1とを比較する。そして、データのバラツキの絶対値1
M1−m11が予め設定された所定の範囲内にあり、か
つ、データのバラツキの絶対値IM2−IV111が予
め設定された所定の範囲内にあれば8108に進み、そ
うでな【プれば5109に進む。なお、前記データのバ
ラツキの絶対値1M1−m11はディスクローター10
0の平均厚さを検査するものであり、前記データのバラ
ツキの絶対値IM2−M11は測定面104の粗さを検
査するものである。
5108では、ディスクローター100の測定面104
が良であることを表す信号をCRTデイスプレィ(図示
せず)に出力してこのルーチンを終了する。
8109では、ディスクローター100の測定面104
が不良であることを表す信号を前記CRTデイプレイに
出ノjしてルーチンを終了する。
前記説明により、ディスクローター100の7ランジ部
101の一端面104が検査された。その後でディスク
ローター100を一端面104が検査台1に当接するよ
うに載置し、フランジ部101の他端面105の検査を
前記一端面104の測定の場合とまったく同様に実施す
る。
なお8106において、他のデータ処理を実行すること
は当然可能である。たとえば、測定面104上で互いに
180度の位置にある2個の測定データの差を求めれば
、前記差により測定面104のフレが検出できる。そし
て5107でこのフレが予め設定する所定角度以内にあ
るかどうかを判定しても良い。
また、タッチセンサ32としてはたとえば作動トランス
型費可変容量型のものも使用できる。また、タッチセン
サのかわりに測定面に半導体レーザーのレーザー光を照
射し、その反射光を半導体装置検出素子(PSD)やC
CDラインセンセン検出すれば、測定面の凹凸やフレを
三角測量法に=  17  = より検出することができる。更にこの場合、測定面上に
レーザー光の焦点を合わせないことにより微細な凹凸の
影響を除去できる。
更に、サンプリング回路412を制御回路部42側に配
置しても良い。
以」:説明したように本実施例によれば、ステッピング
モーター21が停止した後更に所定時間経過後にタッチ
センサ32の出力信号をサンプリングしデータ処理に使
用しているので、検査台1やディスクローター100の
振動の影響を減らすことができ、大幅に測定精度を向上
することができる。特に自動車用制動部品であるディス
クローター100は重量が大ぎいため、従来技術では、
振動の振幅および減衰時間が大きい欠点があったが、本
実施例によれば、かなりの測定精度の改善を図ることか
できる。また、本検査装置の機械的割竹をそれほど確保
しなでもよいので装置の小型軽量化を図ることができる
[発明の効果] 以上説明したように本発明の円盤状物品の形状歪み測定
装置は、駆動装置を間欠的に駆動しかつ駆動装置の停止
時に円盤状物品を測定するので、以下の効果を秦するこ
とができる。
(1)円盤状物品の測定面の厚さおよびフレなどの測定
を自動化でき、検査能率と検査品質とを従来の入手によ
る作業に比較して大幅に改善することができる。
(2)円盤状物品を駆動装置により回転してセンサによ
り連続的に測定する従来技術に比較して、駆動装置およ
び円盤状物品の回転により発生する振動を低減でき、測
定装置に混入する前記振動に起因するノイズを除去する
ことができる。
(3)駆動装置および円盤状物品の周期的な停止期間に
前記測定を実施するので、駆動装置や検査台などの機械
的剛性を減らし、装置を小型軽量化しても測定精度を確
保することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の形状歪検査装置の一実施例模式図であ
る。第2図は第1図の装置の各部の信号波形図である。 第3図は第1図の装置の制御回路部42の動作を示すフ
ローチャーl〜である。第4図は第3図のステップ51
03のサブルーチンのフローチャートである。 1・・・検査台       2・・・駆動装置3・・
・距lI#レンサ     4・・・制御部特許出願人
   アイシン高丘株式会社代理人    弁理士 大
川 宏 −2〇    − 手続補正内(自発)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 円盤状物品の軸芯を回転中心として回転可能に支持する
    検査台と、 前記検査台に保持された前記円盤状物品を間欠的に回転
    させる駆動装置と、 前記検査台に保持された前記円盤状物品の一端面と前記
    検査台の基準面との面間距離を測定する距離センサと、 前記駆動装置の停止時に前記距離センサによって測定さ
    れた前記円盤状物品の前記一端面の全周にわたる複数個
    の測定データによりデータ間のバラツキを求める制御部
    とからなることを特徴とする円盤状物品の形状歪検査装
    置。
JP25181987A 1987-10-06 1987-10-06 円盤状物品の形状歪検査装置 Pending JPH0194208A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25181987A JPH0194208A (ja) 1987-10-06 1987-10-06 円盤状物品の形状歪検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25181987A JPH0194208A (ja) 1987-10-06 1987-10-06 円盤状物品の形状歪検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0194208A true JPH0194208A (ja) 1989-04-12

Family

ID=17228389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25181987A Pending JPH0194208A (ja) 1987-10-06 1987-10-06 円盤状物品の形状歪検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0194208A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3259989A (en) Method and apparatus for automatic centering system
US6067857A (en) Braking element processing system
JPH0194208A (ja) 円盤状物品の形状歪検査装置
JPH08197381A (ja) 切削工具の自動計測装置
JPH01136011A (ja) 検査装置
JPH01112103A (ja) 円盤状物品の形状歪検査装置
JPH05126628A (ja) 振動測定装置
JP2002255128A (ja) 缶の巻締め部寸法測定装置
KR200248436Y1 (ko) 차량 브레이크 디스크/드럼의 디티브이 자동측정 시스템
JPH0222674Y2 (ja)
US7026637B2 (en) Method and system for measuring runout of a rotating tool
JPH0610272Y2 (ja) 動釣合試験機
US5088206A (en) Apparatus and method for checking mechanical parts
JPH0330845Y2 (ja)
JPH0875420A (ja) 自動車用ホイールのディスク寸法計測装置
SU815610A1 (ru) Способ определени параметровТРАЕКТОРии ВРАщЕНи СКАНиРующЕгОуСТРОйСТВА
JP2752476B2 (ja) ワークピースの振れ測定方法および装置
JP2000186927A (ja) 検出器の評価方法
JPH06759Y2 (ja) 硬度計の試料台
JPS593364Y2 (ja) 磁気デイスクジヤケツトの記録検査装置
JP2521563B2 (ja) 回転体のパラメ―タをつりあい試験機の評価手段に入力する方法および装置
JP2530993Y2 (ja) 加工装置の主軸振れ検出機構
JPH0127044Y2 (ja)
JPS62134514A (ja) 磁気デイスク等の板厚・平坦度測定装置
JPS59200911A (ja) デイスク寸法測定装置