JP2561828B2 - 眼底面検査装置 - Google Patents
眼底面検査装置Info
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- JP2561828B2 JP2561828B2 JP62015758A JP1575887A JP2561828B2 JP 2561828 B2 JP2561828 B2 JP 2561828B2 JP 62015758 A JP62015758 A JP 62015758A JP 1575887 A JP1575887 A JP 1575887A JP 2561828 B2 JP2561828 B2 JP 2561828B2
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/13—Ophthalmic microscopes
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、眼底を平面及び深さ情報を含めて捉えるこ
とができ、例えば緑内障等の眼科検査に用いることがで
きる眼底面検査装置に関するものである。
とができ、例えば緑内障等の眼科検査に用いることがで
きる眼底面検査装置に関するものである。
［従来の技術］ 例えば、従来から知られている眼科検査装置におい
て、被検眼の情報特に眼底情報を取り出す手段として眼
底カメラが広く用いられている。眼底の凹凸状態を捉え
る方法としては、眼底をステレオ撮影する方法と眼底に
縞模様を投影する方法が行われている。しかし、前者の
方法ではその深さの数値化が困難であり、また後者の方
法では新たに縞模様を重ねて投影しなければならず、例
えば緑内障の判定材料となる乳頭部カッピングの様子を
調べる場合等において、眼底像観察のための照明光によ
ってかき消され、計測不能になったり、縞間隔に応じた
計測のため不連続性が生ずる等の欠点を有している。
て、被検眼の情報特に眼底情報を取り出す手段として眼
底カメラが広く用いられている。眼底の凹凸状態を捉え
る方法としては、眼底をステレオ撮影する方法と眼底に
縞模様を投影する方法が行われている。しかし、前者の
方法ではその深さの数値化が困難であり、また後者の方
法では新たに縞模様を重ねて投影しなければならず、例
えば緑内障の判定材料となる乳頭部カッピングの様子を
調べる場合等において、眼底像観察のための照明光によ
ってかき消され、計測不能になったり、縞間隔に応じた
計測のため不連続性が生ずる等の欠点を有している。
［発明の目的］ 本発明の目的は、眼底面を光束走査して、例えば緑内
障検査の重要な手法である乳頭部の計測や観測等に利用
できるように、深さ情報が得られる眼底面検査装置を提
供することにある。
障検査の重要な手法である乳頭部の計測や観測等に利用
できるように、深さ情報が得られる眼底面検査装置を提
供することにある。
［発明の概要］ 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、眼底に
向けて光束を投影走査する手段と、眼底上からの前記光
束の反射光を受光する受光手段と、該受光手段からの信
号に基づいて眼底の走査位置における深さを計測する深
さ計測手段と、眼底の走査位置からの光情報を得るため
に前記反射光を受光して光量を検出する光量検出手段
と、該光量検出手段による検出に基づいて画像を表示す
る画像表示手段とを備えたことを特徴とする眼底面検査
装置である。
向けて光束を投影走査する手段と、眼底上からの前記光
束の反射光を受光する受光手段と、該受光手段からの信
号に基づいて眼底の走査位置における深さを計測する深
さ計測手段と、眼底の走査位置からの光情報を得るため
に前記反射光を受光して光量を検出する光量検出手段
と、該光量検出手段による検出に基づいて画像を表示す
る画像表示手段とを備えたことを特徴とする眼底面検査
装置である。
［発明の実施例］ 本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図において、１は輝点から成る走査可能の点光源
であり、この点光源１と被検眼Ｅを結ぶ光軸上には、点
光源１側から投影レンズ２、開口絞り３を中央の孔部に
有し斜設された孔あきミラー４、対物レンズ５が配置さ
れている。対物レンズ５の方向からの光束を反射する孔
あきミラー４の反射側には、液晶体６と２つの絞り開口
7a、7bを有する受光マスク７とを組合わせた受光絞り
８、ビームスプリッタ９、撮影レンズ10、二次元CCD等
から成る平面撮像素子11が配置されている。また、ビー
ムスプリッタ９の反射方向に撮影レンズ12、受光素子13
が設けられ、平面撮像素子11、受光素子13の出力は電気
処理部14に接続され、この電気処理部14の出力は点光源
１、液晶体６、ブラウン管等から成る画像表示手段15に
接続されている。
であり、この点光源１と被検眼Ｅを結ぶ光軸上には、点
光源１側から投影レンズ２、開口絞り３を中央の孔部に
有し斜設された孔あきミラー４、対物レンズ５が配置さ
れている。対物レンズ５の方向からの光束を反射する孔
あきミラー４の反射側には、液晶体６と２つの絞り開口
7a、7bを有する受光マスク７とを組合わせた受光絞り
８、ビームスプリッタ９、撮影レンズ10、二次元CCD等
から成る平面撮像素子11が配置されている。また、ビー
ムスプリッタ９の反射方向に撮影レンズ12、受光素子13
が設けられ、平面撮像素子11、受光素子13の出力は電気
処理部14に接続され、この電気処理部14の出力は点光源
１、液晶体６、ブラウン管等から成る画像表示手段15に
接続されている。
点光源１からの光束は、投影レンズ２、孔あきミラー
４の孔の近くに配置された開口絞り３、対物レンズ５を
通って被検眼Ｅの内部に入射し、眼底Ef上の点を照射す
る。眼底Efで反射された光は再び対物レンズ５を通り、
孔あきミラー４のミラー部で反射された後に、第２図に
示すように液晶体６と受光マスク７を組合わせた受光用
絞り８を経てビームスプリッタ９を通過し、投影レンズ
10によって平面撮像素子11に投影される。
４の孔の近くに配置された開口絞り３、対物レンズ５を
通って被検眼Ｅの内部に入射し、眼底Ef上の点を照射す
る。眼底Efで反射された光は再び対物レンズ５を通り、
孔あきミラー４のミラー部で反射された後に、第２図に
示すように液晶体６と受光マスク７を組合わせた受光用
絞り８を経てビームスプリッタ９を通過し、投影レンズ
10によって平面撮像素子11に投影される。
受光用絞り８は深さ情報を取り出すためのものであ
り、例えば第２図に示すように光軸に対して点対称に設
けられた２個の絞り開口7a、7bを有する受光マスク７
と、これらの各絞り開口7a、7bを独立的に覆う２つの液
晶板6a、6bから成る液晶体６とを組合わせて構成され、
２つの液晶板6a、6bにより絞り開口7a、7bを交互に遮光
するようになっている。従って、平面撮像素子11に投影
される光束は、ピントが外れている場合には各絞り開口
7a、7bを通る光がP1とP2で示すように互いに分離した光
点となり、ピントが合っている場合にはP0で示すように
光点が一致する。更に、ピント面が平面撮像素子11の前
後何れ側にあるかによって、交互に投影される光点の座
標が入れ換わることになるから、その情報も捉えること
が可能になる。
り、例えば第２図に示すように光軸に対して点対称に設
けられた２個の絞り開口7a、7bを有する受光マスク７
と、これらの各絞り開口7a、7bを独立的に覆う２つの液
晶板6a、6bから成る液晶体６とを組合わせて構成され、
２つの液晶板6a、6bにより絞り開口7a、7bを交互に遮光
するようになっている。従って、平面撮像素子11に投影
される光束は、ピントが外れている場合には各絞り開口
7a、7bを通る光がP1とP2で示すように互いに分離した光
点となり、ピントが合っている場合にはP0で示すように
光点が一致する。更に、ピント面が平面撮像素子11の前
後何れ側にあるかによって、交互に投影される光点の座
標が入れ換わることになるから、その情報も捉えること
が可能になる。
第３図はこの様子を示し、ｘ、ｙ座標上での光点の位
置を表している。ここで、２つの光点P1、P2の座標はそ
れぞれ（x1,y1）、（x2,y2）｛ただし、y1＝y2＝y0｝で
あり、その中心の座標は（x0,y0）である。このことか
ら、眼底Ef上の光点は平面撮像素子11上において座標
（x0,y0）であり、その深さは（x1−x2）の関数として
計算により算出することができる。一方、画像情報とし
ては眼底Efからの反射光束を分離して計測することにな
るが、そのために孔あきミラー４で反射して受光用絞り
８を通過した光束をビームスプリッタ９によって分割
し、この分割した光束を投影レンズ12により受光素子13
上に投影するようになっている。この場合に、受光用絞
り８が受光素子13上に結像するように配置しておけば、
瞳の大きさが変化することが無く計測上便利である。受
光素子13の出力信号によって、座標（x0,y0）の光点の
濃度を決定できるから、点光源１を眼底Efの領域で走査
すれば眼底面のマップとその深さ方向の情報が得られ
る。点光源１の位置、絞り開口7a、7b、受光素子13及び
平面撮像素子11のそれぞれの情報は、電気処理部14を経
て画像表示手段15に映出される。
置を表している。ここで、２つの光点P1、P2の座標はそ
れぞれ（x1,y1）、（x2,y2）｛ただし、y1＝y2＝y0｝で
あり、その中心の座標は（x0,y0）である。このことか
ら、眼底Ef上の光点は平面撮像素子11上において座標
（x0,y0）であり、その深さは（x1−x2）の関数として
計算により算出することができる。一方、画像情報とし
ては眼底Efからの反射光束を分離して計測することにな
るが、そのために孔あきミラー４で反射して受光用絞り
８を通過した光束をビームスプリッタ９によって分割
し、この分割した光束を投影レンズ12により受光素子13
上に投影するようになっている。この場合に、受光用絞
り８が受光素子13上に結像するように配置しておけば、
瞳の大きさが変化することが無く計測上便利である。受
光素子13の出力信号によって、座標（x0,y0）の光点の
濃度を決定できるから、点光源１を眼底Efの領域で走査
すれば眼底面のマップとその深さ方向の情報が得られ
る。点光源１の位置、絞り開口7a、7b、受光素子13及び
平面撮像素子11のそれぞれの情報は、電気処理部14を経
て画像表示手段15に映出される。
この画像表示手段15に映出される画像の形態として
は、例えば第１図に示すように眼底像Ｆと任意の切断面
Ｓにおける陥凹図Ｄ等が考えられ、この場合に切断面は
任意に選択できるようにし、かつ深さ情報は画像情報の
どの部分に相当するかを併せて表示することができる。
更に別の表示方法として、眼底像とそれに重ねた等高線
図や陥凹に応じた白黒又はカラーの濃度図等を描くこと
も考えられる。また、実質軸外の２つの絞り開口7a、7b
を通る光束に応じて、第４図に示すようにそれぞれの眼
底像F1、F2を画像表示手段15の同一画面に並べて描くこ
ともでき、これによってステレオ観察も可能になる。
は、例えば第１図に示すように眼底像Ｆと任意の切断面
Ｓにおける陥凹図Ｄ等が考えられ、この場合に切断面は
任意に選択できるようにし、かつ深さ情報は画像情報の
どの部分に相当するかを併せて表示することができる。
更に別の表示方法として、眼底像とそれに重ねた等高線
図や陥凹に応じた白黒又はカラーの濃度図等を描くこと
も考えられる。また、実質軸外の２つの絞り開口7a、7b
を通る光束に応じて、第４図に示すようにそれぞれの眼
底像F1、F2を画像表示手段15の同一画面に並べて描くこ
ともでき、これによってステレオ観察も可能になる。
なお上述の実施例では、絞り開口7a、7bを固定的に設
けた場合を示したが、第５図に示すように１個の軸外絞
り開口7cを有する受光マスク７′を光軸を中心に回転さ
せ、光軸に対称な２点で光点像を計測してもよい。ま
た、陥凹の情報を得るに際しては、回転のとき各回転角
度に応じた複数の情報から計算によって算出することも
できる。
けた場合を示したが、第５図に示すように１個の軸外絞
り開口7cを有する受光マスク７′を光軸を中心に回転さ
せ、光軸に対称な２点で光点像を計測してもよい。ま
た、陥凹の情報を得るに際しては、回転のとき各回転角
度に応じた複数の情報から計算によって算出することも
できる。
更に上述の実施例では、投影側と受光側の形態、即ち
開口絞りの位置を逆にすることも可能であることは云う
までもない。また、画像の座標については受像側で決定
する代りに、投影側の座標で決定することも可能であ
る。
開口絞りの位置を逆にすることも可能であることは云う
までもない。また、画像の座標については受像側で決定
する代りに、投影側の座標で決定することも可能であ
る。
また上述の説明では、画像のXY座標と濃度は別の受光
手段を用いたが、平面撮像素子の出力から濃度を決定す
ることもできる。そして、このとき濃度が光量レベルで
計測されるとなると、深さの違いにより受光レベルが変
化するので、濃度レベル即ち光量レベルは深さ情報に基
づいて補正をすることができる。
手段を用いたが、平面撮像素子の出力から濃度を決定す
ることもできる。そして、このとき濃度が光量レベルで
計測されるとなると、深さの違いにより受光レベルが変
化するので、濃度レベル即ち光量レベルは深さ情報に基
づいて補正をすることができる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る眼底面検査装置は、
眼底映像信号を得るために走査する光束の受光信号に基
づいて深さを計測するようにして、簡単な構成で深さ情
報を得ることができる。
眼底映像信号を得るために走査する光束の受光信号に基
づいて深さを計測するようにして、簡単な構成で深さ情
報を得ることができる。
図面は本発明に係る眼底面検査装置の実施例を示すもの
であり、第１図は全体的な構成図、第２図は受光用絞り
の斜視図、第３図は平面撮像素子上に投影される光点の
位置の説明図、第４図は立体画像の説明図、第５図は受
光マスクの正面図である。 符号１は点光源、２は投影レンズ、３は開口絞り、４は
孔あきミラー、５は対物レンズ、６は液晶体、７、７′
は受光マスク、7a、7b、7cは絞り開口、８は受光用絞
り、９はビームスプリッタ、10、12は投影レンズ、11は
平面撮像素子、13は受光素子、14は電気処理部、15は画
像表示手段である。
であり、第１図は全体的な構成図、第２図は受光用絞り
の斜視図、第３図は平面撮像素子上に投影される光点の
位置の説明図、第４図は立体画像の説明図、第５図は受
光マスクの正面図である。 符号１は点光源、２は投影レンズ、３は開口絞り、４は
孔あきミラー、５は対物レンズ、６は液晶体、７、７′
は受光マスク、7a、7b、7cは絞り開口、８は受光用絞
り、９はビームスプリッタ、10、12は投影レンズ、11は
平面撮像素子、13は受光素子、14は電気処理部、15は画
像表示手段である。
Claims (6)
- 【請求項１】眼底に向けて光束を投影走査する手段と、
眼底上からの前記光束の反射光を受光する受光手段と、
該受光手段からの信号に基づいて眼底の走査位置におけ
る深さを計測する深さ計測手段と、眼底の走査位置から
の光情報を得るために前記反射光を受光して光量を検出
する光量検出手段と、該光量検出手段による検出に基づ
いて画像を表示する画像表示手段とを備えたことを特徴
とする眼底面検査装置。 - 【請求項２】前記光束の走査位置の情報を、前記光束を
投影走査する側の情報又は前記反射光を受光する側の情
報により決定する特許請求の範囲第１項に記載の眼底面
検査装置。 - 【請求項３】前記画像表示手段は前記深さ計測手段から
の深さ計測情報と画像情報とを同一画面内に表示し、前
記深さ計測情報と前記画像情報との関係を併せて表示す
るようにした特許請求の範囲第１項に記載の眼底面検査
装置。 - 【請求項４】前記深さ計測手段による計測情報を任意の
基準位置からの相対値として演算及び表示するようにし
た特許請求の範囲第１項に記載の眼底面検査装置。 - 【請求項５】前記受光手段と前記光量検出手段は同一光
検出素子を有する特許請求の範囲第１項に記載の眼底面
検査装置。 - 【請求項６】前記受光手段は光路中に軸外絞り開口を備
えた特許請求の範囲第１項に記載の眼底面検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62015758A JP2561828B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 眼底面検査装置 |
| US07/146,702 US4867554A (en) | 1987-01-26 | 1988-01-21 | Surface examining apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62015758A JP2561828B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 眼底面検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63183041A JPS63183041A (ja) | 1988-07-28 |
| JP2561828B2 true JP2561828B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=11897682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62015758A Expired - Fee Related JP2561828B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 眼底面検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4867554A (ja) |
| JP (1) | JP2561828B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5159361A (en) * | 1989-03-09 | 1992-10-27 | Par Technology Corporation | Method and apparatus for obtaining the topography of an object |
| US5396303A (en) * | 1990-08-17 | 1995-03-07 | American Cyanamid Company | System and method for projecting an image (such as an ERG pattern) onto the retina |
| US5233373A (en) * | 1990-08-17 | 1993-08-03 | Peters Daniel R | System and method for projecting an image (such as an ERG pattern) significantly anterior to the posterior retina |
| US5220360A (en) * | 1990-10-24 | 1993-06-15 | Ophthalmic Imaging Systems, Inc. | Apparatus and method for topographical analysis of the retina |
| JP3035336B2 (ja) * | 1990-11-27 | 2000-04-24 | 興和株式会社 | 血流測定装置 |
| US5214455A (en) * | 1991-04-01 | 1993-05-25 | General Electric Company | Objective eye alignment measurement method and system |
| JPH10165372A (ja) * | 1996-12-10 | 1998-06-23 | Canon Inc | 立体映像装置 |
| US6637882B1 (en) | 1998-11-24 | 2003-10-28 | Welch Allyn, Inc. | Eye viewing device for retinal viewing through undilated pupil |
| JP3905312B2 (ja) | 1998-11-24 | 2007-04-18 | ウェルチ・アリン・インコーポレーテッド | 未拡張瞳孔を通した網膜視用目視装置 |
| US6801913B2 (en) | 2000-10-20 | 2004-10-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Medical instrument control system |
| US6702441B2 (en) | 2001-10-17 | 2004-03-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmic measuring device |
| EP1694195B1 (en) | 2003-10-28 | 2009-04-08 | Welch Allyn, Inc. | Digital documenting ophthalmoscope |
| JP4699064B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2011-06-08 | 株式会社ニデック | 立体眼底画像処理方法及び処理装置 |
| JP4904102B2 (ja) * | 2006-07-13 | 2012-03-28 | 興和株式会社 | 眼底撮影装置 |
| WO2009059761A1 (de) * | 2007-11-07 | 2009-05-14 | Carl Zeiss Meditec Ag | Applikator für ein ophthalmologisches behandlungsgerät |
| JP5754878B2 (ja) * | 2009-07-10 | 2015-07-29 | キヤノン株式会社 | 眼科装置及びその作動方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3639041A (en) * | 1970-09-21 | 1972-02-01 | Stanford Research Inst | System and method for scanning the depth of the optic fundus |
| US4019813A (en) * | 1976-01-19 | 1977-04-26 | Baylor College Of Medicine | Optical apparatus for obtaining measurements of portions of the eye |
| JPS52123592A (en) * | 1976-04-09 | 1977-10-17 | Canon Kk | Fundus camera |
| US4213678A (en) * | 1977-09-29 | 1980-07-22 | Retina Foundation | Scanning ophthalmoscope for examining the fundus of the eye |
| JPS5616103A (en) * | 1979-07-19 | 1981-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Photo branch coupler |
| JPS56116687U (ja) * | 1980-02-06 | 1981-09-07 | ||
| JPH0239020B2 (ja) * | 1981-09-04 | 1990-09-03 | Hitachi Ltd | Hikarideisukunojohokakikomihoshiki |
| EP0122961A3 (en) * | 1982-10-12 | 1986-02-19 | Optische Werke G. Rodenstock | Ocular fundus analyzer |
| US4620318A (en) * | 1983-04-18 | 1986-10-28 | Eye-D Development Ii Ltd. | Fovea-centered eye fundus scanner |
-
1987
- 1987-01-26 JP JP62015758A patent/JP2561828B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-01-21 US US07/146,702 patent/US4867554A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63183041A (ja) | 1988-07-28 |
| US4867554A (en) | 1989-09-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |