JP2547288Y2 - 粉体プレス成形装置 - Google Patents

粉体プレス成形装置

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JP2547288Y2
JP2547288Y2 JP7890391U JP7890391U JP2547288Y2 JP 2547288 Y2 JP2547288 Y2 JP 2547288Y2 JP 7890391 U JP7890391 U JP 7890391U JP 7890391 U JP7890391 U JP 7890391U JP 2547288 Y2 JP2547288 Y2 JP 2547288Y2
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新一 内田
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、セラミックスなどの粉
体のプレス成形装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、プレス成形は、安価に大量生
産できることから、例えば半導体パッケージ用基板など
の比較的単純な形状のセラミック製品の製造工程に広く
使用されている。
【0003】この時のプレス成形装置の構造は、例えば
図4(A)に示すように、成形孔21aを有するダイス
21と、この成形孔21aの下部に、成形孔21aに合
致した形状の第1下パンチ23、第2下パンチ24、お
よびコアロッド25を備え、さらに上部に上パンチ22
を備えていた。そして、上記成形孔21a中に原料粉末
26を充填し、上パンチ22を下降させることによっ
て、図4(B)に示すように、原料粉末26を所定形状
にプレス成形することができるようになっていた。
【0004】また、半導体パッケージ用のセラミック基
板において、その主平面周囲に部分的にC面を形成し
て、位置決めを行うことが行われていた。例えば、図6
(A)(B)にJリ−ド型の半導体パッケ−ジのを示す
ように、このキャップをなすセラミック基板30は、ダ
イアタッチ面を有しプレス成形時に下パンチ側となる下
面31、上パンチ側となる上面32、および外周の角部
の1つに方向を示すC面カット33と、これに接する1
つの稜部には微小な段差と、深さ0.5〜1.2mm程
度の大きなC面34が形成されている。
【0005】このようなC面34を形成するためには、
図4(A)(B)に示すように、上パンチ22のプレス
面周辺部に上記C面34に対応する突起22aを形成し
ておいて、プレス成形することによって、プレス成形の
みで容易に形成することができた。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
に上パンチ22に突起22aを有するプレス成形装置の
場合、図5にプレス成形時の拡大断面図を示すように、
突起22aによって加圧された部分が、他の部分に比べ
て原料粉末26の詰まり量が大きくなり、全体として生
密度が不均一となるため、焼成後の寸法が部分的に変化
して寸法不良の原因となっていた。特に、製品全体の厚
みTと上記突起22aの高さCとの比C/Tが1/4以
上の場合は、上記生密度の不均一が大きく、高精度に成
形することが困難であった。
【0007】また、上パンチ22の突起22a部分の成
形圧力が高くなるため、使用中に上パンチ22を破損さ
せる恐れもあった。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで本考案は、粉体プ
レス成形装置において、上パンチのプレス面周辺部に突
起を備えるとともに、ダイス上面における上記突起に対
応する位置に、成形孔に連続した原料逃げ部を形成した
ものである。
【0009】
【作用】本考案によれば、ダイス上面における上パンチ
の突起に対応した位置に原料逃げ部があるため、プレス
成形時に上パンチが下降すると、上記突起部分の原料粉
末の一部が成形孔の外部へ逃げ出すようになる。そのた
め、突起部分のみ原料粉末の詰まり量が大きくなること
を防止し、成形体の生密度を均一にすることができる。
【0010】
【実施例】以下本考案の実施例を説明する。
【0011】図1に示すように、本考案のプレス成形装
置は、成形孔11aを有するダイス11と、この成形孔
11aの下部に第1下パンチ13、第2下パンチ14お
よびコアロッド15を配置し、さらに成形孔11aの上
部に上パンチ12を備えてなるものである。また、図2
に拡大図を示すように、上パンチ12のプレス面周辺部
には突起12aが形成してあり、この突起12aに対応
するダイス11の上面には、成形孔11aに連続した原
料逃げ部11bを形成している。
【0012】次にこのプレス成形装置の作動を説明す
る。図1に示すように、ダイス11の成形孔11aの下
方に第1下パンチ13、第2下パンチ14を位置させ、
成形孔11aに原料粉末16を充填し、ダイス11上面
の粉体を払い除いた後、第1、第2下パンチ13、14
と上パンチ12とにより原料粉末16を加圧して成形す
る。即ち、成形孔11a内を第1、第2下パンチ13、
14が上昇すると共に上パンチ12も下降して原料粉末
16を加圧成形する。
【0013】この時、図2に示すように、上パンチ12
がダイス11の成形孔11aに入る際に、上パンチ12
の突起12a先端が原料粉末16を加圧し始めると、こ
の部分の原料粉末16の一部が原料逃げ部11bを通過
して成形孔11aの外部へ逃げ出すようになる。そのた
め、突起12a部分のみ原料粉末16の詰まり量が大き
くなることを防止し、成形体の生密度を均一にすること
ができる。
【0014】また、この後上パンチ12が下死点に至
り、上昇して得られた成形体を第1、第2下パンチ1
3、14によりダイス11の成形孔11aより押し出す
ようになる。このようにして粉体のプレス成形工程を繰
り返す。
【0015】なお、上記原料逃げ部11bの形状は、図
2に示すような角型形状に限らず、図3に示すような斜
面形状などさまざまなものとすることができるが、いず
れにしても、その深さHが重要である。即ち、深さHが
小さいと原料粉末16の逃げ量が少なくなり、突起12
a部分の詰まり量が大きくなってしまい、逆に深さHが
大きいと原料粉末16の逃げ量が多くなり、突起12a
部分の詰まり量が小さくなってしまう。そこで、この深
さの最適値を求める実験を行った。
【0016】実験例 本考案のプレス成形装置は、前記したようにダイス11
の上面に成形孔11bに連続して形成した原料逃げ部1
1bの深さHが非常に重要な問題となってくる。そこで
図1、図2に示すプレス成形装置を用いて、原料逃げ部
11bの深さHをさまざまに変化させたものを試作し、
プレス成形したときの成形体の変形量について調べた。
【0017】セラミック原料として、Al2 3 を主成
分とし、SiO2 、MgO、CaOを含むアルミナセラ
ミックスを用い、図6(A)(B)に示すJリ−ド型半
導体パッケ−ジのキャップをなすセラミック基板30を
成形した。また、成形体での全体の厚みは1.4mm、
C面34の深さは0.9mmとした。したがって、プレ
ス成形装置における上パンチ12の突起12aの高さC
も0.9mmとなり、またこの突起12aの先端に、幅
0.05〜0.25mmの平坦部を形成した。さらに、
原料逃げ部11bの幅Dは2.0mmとした。
【0018】まず、原料逃げ部11bの深さHを1.0
〜2.0mmの範囲で変化させた金型を試作し、これら
の金型によって得られた成形体を焼成した後、セラミッ
ク基板30の両端部における長辺の長さを測定し、これ
らの差を変形量とした。結果は図7に示すように、原料
逃げ部11bの深さHを変化させることによって変形量
も変化し、上記深さHが1.5〜2.0mmの間で変形
量が0となることがわかった。
【0019】そこで、原料逃げ部11bの深さHを1.
5〜2.0mmの間で変化させ、上記と同様の実験を行
ったところ、結果は図8に示すように、深さHが1.8
mmのときに変形量が0となった。また、実際の製品と
して許容できる変形量は±0.1mmであることから、
原料逃げ部11bの深さHは1.7〜1.9mmとすれ
ばよいことがわかった。
【0020】次に、上パンチ12の突起12aの高さC
を変化させて、上記と同様の実験を行い、それぞれ原料
逃げ部11bの深さHの最適値を求める実験を行った。
その結果は図9に示すように、突起12aの高さCに比
例して原料逃げ部11bの深さHの最適値も変化するこ
とがわかる。そして、実際の製品として許容できる変形
量とするためには、原料逃げ部11bの深さHが、突起
12aの高さCの1.9〜2.1倍の範囲内となるよう
にすればよいことがわかった。
【0021】
【考案の効果】このように本考案によれば、粉体プレス
成形装置において、上パンチのプレス面周辺部に突起を
備えるとともに、ダイス上面における上記突起に対応す
る位置に、成形孔に連続した原料逃げ部を形成したこと
によって、突起部分のみ原料粉末の詰まりが大きくなる
ことを防止し、成形体の生密度を均一にすることができ
る。したがって、主面の一部に大きなC面を有するよう
なセラミック製品であっても、高い寸法精度で容易に製
造することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の粉体プレス成形装置を示す断面図であ
る。
【図2】図1中A部の拡大断面図である。
【図3】図2に相当する他の実施例の拡大断面図であ
る。
【図4】(A)(B)は従来の粉体プレス成形装置を示
す断面図である。
【図5】図4(B)中のB部の拡大断面図である。
【図6】(A)は半導体パッケージを示す分解斜視図、
(B)はX−X線断面図である。
【図7】原料逃げ部の深さHと、得られた成形体の変形
量の関係を示すグラフである。
【図8】原料逃げ部の深さHと、得られた成形体の変形
量の関係を示すグラフである。
【図9】上パンチの突起の高さCと、最適な原料逃げ部
の深さHとの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
11・・・ダイス 11a・・成形孔 11b・・原料逃げ部 12・・・上パンチ 12a・・突起 13・・・第1下パンチ 14・・・第2下パンチ 15・・・コアロッド 16・・・原料粉末

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】原料粉末を充填し成形するための成形孔を
    有するダイスと、この成形孔に合致した形状の上下パン
    チを備えてなる粉体プレス成形装置において、上記上パ
    ンチのプレス面周辺部に突起を備えるとともに、上記ダ
    イス上面における上記突起に対応した位置に、成形孔に
    連続した原料逃げ部を形成したことを特徴とする粉体プ
    レス成形装置。
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