JP2022515882A - ディスプレイパネル及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ディスプレイのために組み立てされる単位基板としてマイクロLEDが実装されるディスプレイパネル及びそのパネルを製造するための方法の提供。【解決手段】マイクロLEDディスプレイのためのディスプレイパネルの製造方法は、基板、基板の上面に形成された複数のマイクロLED、基板の上面に形成されてマイクロLEDを制御するスイチング回路、スイチング回路の端部に対応して基板の上面一側に形成された複数の上部電極、基板の底面に形成された駆動回路部、及び駆動回路部に対応して基板の底面一側に形成された複数の下部電極を提供する段階、上部電極と下部電極を連結する連結スリットが形成された第1マスクを基板の上面、側面及び底面を経由するように形成する段階、第1マスクが形成された基板の外面に金属薄膜を形成する段階、及び第1マスクをとり除いて上部電極と下部電極を引き継ぐ金属連結パターンを基板に形成する段階、を含む。【選択図】 図1

Description

本発明は、ディスプレイに関するものであり、より詳細には、ディスプレイのために組み立てされる単位基板としてマイクロLEDが実装されることができるディスプレイパネル及びそのパネルを製造するための方法に関するものである。
マイクロLEDを利用したディスプレイは、既存のLEDの1/10水準である100μm以下の大きさを有するマイクロLEDを基板に実装したディスプレイを意味する。参照で、既存のLCDは白色のLEDをバックライト光源で利用し、画素はLCD液晶の制御とカラーフィルターを利用して具現するものならば、マイクロLEDディスプレイはマイクロLEDが直接赤色(R)、緑(G)及び青色(B)画素として独立駆動して自発光するものであると言える。
‘自発光'という側面でマイクロLEDディスプレイはOLEDディスプレイと似ていると言えるが、LEDチップ自体を画素で活用することができるためフレキシブル(flexible)であったりローラブル(rollable)なディスプレイを具現するのに好適であって、色再現性や電力消耗量、応答速度の面で長所を有している。
LEDは一般にサファイア基板に製作され、シリコン(Silicon)基板でも製作されたりして、TVや電光板のような大型LEDディスプレイを製造するためには一般に複数個のマイクロLEDが実装されたディスプレイパネルまたはディスプレイモジュールを製造した後、これらディスプレイパネルを組立てて大型ディスプレイを具現することができる。
特許文献1は、マイクロLEDディスプレイ画素組立体及びこれの製造方法に関するものであり、TFTバックプレーンなしに一般基板で動作するマイクロLEDディスプレイを開示する。
韓国公開特許第10-2018-0053864号
本発明は、マイクロLEDを実装する技術の問題点を解決するためのものであり、基板の上面に装着されたマイクロLEDと底面に配置された駆動回路を電気的に連結するためのディスプレイパネル及びその製造方法を提供する。
本発明の例示的な一実施例によれば、マイクロLEDディスプレイのためのディスプレイパネルの製造方法は、基板、基板の上面に形成された複数のマイクロLED、基板の上面に形成されてマイクロLEDを制御するスイチング回路、スイチング回路の端部に対応して基板の上面一側に形成された複数の上部電極、基板の底面に形成された駆動回路部、及び駆動回路部に対応して基板の底面一側に形成された複数の下部電極を提供する段階と、上部電極と下部電極を連結する連結スリットが形成された第1マスクを基板の上面、側面及び底面を経由するように形成する段階と、第1マスクが形成された基板の外面に金属薄膜を形成する段階と、及び第1マスクをとり除いて上部電極と下部電極を引き継ぐ金属連結パターンを基板に形成する段階と、を含む。
金属薄膜はスパッタリング、化学気相蒸着、パルスレーザー蒸着(PLD;Pulsed Laser Deposition)、電子ビーム蒸着(E-beam evaporation)、熱蒸着(Thermal evaporation)、MOMBE(Metal-Organic Molecular Beam Epitaxy)などの方法を通じて形成することができるし、連結スリットでは基板上に接着層が居残らないためきれいに金属連結パターンを形成することができる。
金属薄膜を形成する段階以前に、基板のうちで第1マスクに対応する領域以外の領域をカバーする第2マスクを追加で形成する段階をさらに含むことができる。上で金属薄膜を形成する方法のうちでスパッタリングなどの方法は低気圧の状態で基板に全面的に金属薄膜を形成することができるため複数のマイクロLED、スイチング回路、駆動回路部などを保護するために第2マスクがさらに形成されることができる。
しかし、スパッタリングではない選択的に金属薄膜を形成することができる方法を利用する場合、例えばインクジェット印刷やスタンピングなどを利用して連結スリットの間で金属連結パターンを形成する場合には必ず第2マスクを形成しなければならないものではない。
しかし、第2マスクを形成したら、第2マスクは第1マスクを形成する前、形成すると共にまたは形成した以後に形成されることができる。
第1マスクはDFR(Dry Film Photoresist)フィルムのように感光性フィルムを利用して形成されることができる。感光性フィルムを利用する場合、第1マスクを形成する段階は、パターニング及びフィルム付着の手順によって次のように区分されることができる。
一例で、第1マスクを形成する段階で、先ず連結スリットに対応するように感光性フィルムをポジティブまたはネガティブに露光し、感光性フィルムから連結スリットに対応する部分をとり除いて連結スリットを形成し、連結スリットが形成された感光性フィルムを基板の上面、側面及び底面を経由するように付着して第1マスクを形成することができる。
他の例で、第1マスクを形成する段階で、感光性フィルムを基板の上面、側面及び底面を経由するように先ず付着し、連結スリットに対応するように感光性フィルムをポジティブまたはネガティブで露光し、感光性フィルムから連結スリットに対応する部分をとり除いて連結スリットを形成することもできる。
感光性フィルムは、おおよそ5~100μmの厚さを有するものを利用することができるし、感光性フィルムをとり除いて金属連結パターンを形成した後、基板の上面、側面及び底面を同時に覆う保護フィルムをさらに付着することもできる。
本発明の例示的な一実施例によれば、マイクロLEDを利用したディスプレイパネルは基板、基板の上面に形成された複数のマイクロLED、基板の上面に形成されてマイクロLEDを制御するスイチング回路、スイチング回路の端部に対応して基板の上面一側に形成された複数の上部電極、基板の底面に形成された駆動回路部、及び駆動回路部に対応して基板の底面一側に形成された複数の下部電極を含んで、これに基板の側面を経由して上部電極と下部電極を引き継ぐ複数の金属連結パターンを含むが、それぞれの金属連結パターンは上部電極それぞれに対応する第1端部及び下部電極それぞれに対応する第2端部を含んで、第1端部は上部電極の上面を覆って、第2端部は下部電極の底面を覆うことを特徴とする。
ここで金属連結パターンは蒸着などを通じて金属薄膜を形成する過程を通じて形成されるため、金属連結パターンの第1端部及び上部電極の間及び第2端部及び下部電極の間に接着層が存在しないで、直接電気的に接触を維持することができる。
また、前述したように、金属連結パターンはスパッタリング、化学気相蒸着、パルスレーザー蒸着(PLD;Pulsed Laser Deposition)、電子ビーム蒸着(E-beam evaporation)、熱蒸着(Thermal evaporation)またはMOMBE(Metal-Organic Molecular Beam Epitaxy)によって形成されることができるし、基板はTFTガラス基板として基板にビアホール(via hole)が直接形成されないで、上面、側面、底面を経由するように形成されることができる。
本発明のマイクロLEDディスプレイパネルは数千万個のマイクロLEDを実装する技術の問題点を解決することができるし、基板の上面に装着されたマイクロLEDと底面に配置された駆動回路部を蒸着過程によって形成される金属連結パターンにより連結してバイパスするが、これらが基板に微細な厚さで密着されて形成され、作業の精密度を向上させることができるし、相対的に面抵抗が非常に低くて安定的な電気的連結を形成することができる。
ディスプレイパネルで上部電極と下部電極は金属連結パターンを通じて電気的に連結されるが、金属連結パターンが基板の上面、側面及び底面を経由して基板の外面にほとんど突き出されないで密着されることができる。よって、パネルの上下を電気的に連結するために基板に直接ホールを形成する必要がないし、金属連結パターンが複数形成されることができることはもちろん、最小限の厚さで密着して基板上に直接形成されるためディスプレイパネル間に相互密着させても浮き立つ隙間を無くすことができる。
本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイ及びその組み立てに利用されるディスプレイパネルを説明するための図面である。 図1のマイクロLEDディスプレイパネルの断面を説明するための図面である。 本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイパネルを製造のために使用される第1マスクを説明するための図面である。 図3の第1マスクを形成する過程を説明するための図面である。 図3の第1マスクを利用して本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイパネルを製造する過程を説明するための図面である。
以下、添付された図面らを参照して本発明の望ましい実施例を詳細に説明するが、本発明が実施例によって制限されるか、または限定されるものではない。参照で、本説明で同一な番号は実質的に等しい要素を指称し、このような規則下で他の図面に記載された内容を引用して説明することができるし、当業者に自明であると判断されるか、または繰り返される内容は省略されることができる。
図1は、本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイ及びその組み立てに利用されるディスプレイパネルを説明するための図面であり、図2は図1のマイクロLEDディスプレイパネルの断面を説明するための図面であり、図3は本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイパネルの製造のために使用される第1マスクを説明するための図面であり、図4は図3の第1マスクを形成する過程を説明するための図面であり、図5は図3の第1マスクを利用して本発明の一実施例によるマイクロLEDディスプレイパネルを製造する過程を説明するための図面である。
図1乃至図5を参照すれば、本発明の一実施例によるディスプレイパネル100はマイクロLEDディスプレイ10に適用されることができる。一般に、UHDまたは4K級ディスプレイは、おおよそ2400万個のLEDを実装することができる。しかし、2400万個のLEDを一つの基板に実装するということは無理があり、これらをディスプレイパネルでモジュールを分けて、ディスプレイパネル100を一つずつ組立てて一つのディスプレイを作る方法を使用することができる。
一例で、100インチのUHDディスプレイを製作するとした時、LEDが実装された10cm*10cmの大きさのディスプレイパネルをおおよそ260余個利用して組立てることができる。また、各ディスプレイパネル100にはおおよそ93,000余個のマイクロLEDが装着されるとできる。
図2を参照すれば、マイクロLEDディスプレイ10のためのディスプレイパネル100は、基板110、基板110の上面に形成された複数のマイクロLED120、基板110の上面に形成されてマイクロLED120を制御するスイチング回路130、スイチング回路130の端部に対応して基板110の上面一側に形成された複数の上部電極140、基板110の底面に形成された駆動回路部150、駆動回路部150に対応して基板110の底面一側に形成された複数の下部電極160、基板110の一側に密着するように接着されて上部電極140と下部電極160を電気的に連結する金属連結パターン170を含むことができる。
基板110はガラス基板としてTFTが形成されたスイチング回路130と共に形成されることができるし、基板110上にアモルファスシリコン、ポリシリコン、IGZOなどを利用して回路を形成することができる。このようなスイチング回路130にマイクロLED120はソルダリングなどの工法を通じて電気的に装着されることができる。
また、基板110に形成される上部電極140または下部電極160はシルバーペースト、二硫化モリブデン(MoS)、メタルメッシュまたはシルバーナノワイヤを利用して形成されることができるし、OMO(Oxide-Metal-Oxide)などの素材を利用しても形成されることができる。
基板110の底面には駆動回路部150が提供されることができる。駆動回路部150はパネルに装着されたマイクロLED120を制御するためのものであり、マイクロLEDディスプレイの中央処理部から映像信号の伝達を受けて、該当ディスプレイパネル100に装着されたマイクロLED120に伝達することができる。
ディスプレイパネル100で上部電極140と下部電極160は、金属連結パターン170によって電気的に一対一で連結されるが、金属連結パターン170は基板110の一側で上面、側面及び底面を経由して基板110の外面に直接形成されて非常に薄い厚さで密着された状態を維持することができる。よって、パネルの上下を電気的に連結するためにビアホールを形成する必要がないし、金属連結パターン170が基板110に正しく形成されて最大限密着して接着されるためディスプレイパネル100の間に相互密着させても浮き立つ隙間を無くすか、または最小で減らすことができる。
また、金属連結パターン170は後述するように蒸着、スパッタリングなどの方法を通じて直接形成されるため接着層が電極と連結パターンとの間に存在しないで、接着層による面抵抗で電気的連結が心細い心配もない。
そして、金属連結パターン170は上部電極140それぞれに対応する第1端部172及び下部電極160それぞれに対応する第2端部174を含んで、金属連結パターン170はこれらを形成するための第1マスク210によって基板110に直接形成されることができる。
図3及び図4を参照すれば、基板110に金属連結パターン170を形成するための第1マスク210は金属連結パターン170に対応する連結スリット212を含むことができる。
第1マスク210はDFR(Dry Film Photoresist)フィルムのような感光性フィルム200を利用して形成されることができる。感光性フィルムは露光による選択的に連結スリットに対応するパターンを形成することができるし、露光された部分と露光されない部分を利用して選択的に連結スリットに対応するパターンをとり除いて第1マスク210を形成することができる。
第1マスク210は基板110の一側面に対応する長さで形成されることができるし、上部電極140と下部電極160を一対一で連結できるように微細に設計された連結スリット212を含むことができる。本実施例で連結スリット212は第1マスク210を基板110に付着する以前にあらかじめ形成されることができるが、感光性フィルムを先に基板に付着した後露光工程を通じて連結スリットに対応する部分をとり除くことも可能である。
図4を見れば、先ず感光性フィルム200を提供する(a)。感光性フィルム200でDFRフィルムが利用されることができるし、おおよそ5~100μmの厚さを有するフィルムを利用することができる。その次に連結スリットに対応するように感光性フィルム200をポジティブまたはネガティブに露光して(b)、感光性フィルム200から連結スリット212に対応する部分をとり除いて連結スリット212を形成することで第1マスク210に対応するフィルムを形成することができる。
図5を見れば、連結スリット212が形成された第1マスク210を提供して(a)、第1マスク210を基板110の上面、側面及び底面を経由するように付着する(b)。この時、連結スリット212が上部電極140及び下部電極160に対応するようにアラインメントを遂行することができるし、第1マスク210で上部電極140及び下部電極160、そして、これら電極を連結する基板110の一部が露出することができる。
第1マスク210は基板110の一側でおおよそコの字型に付着された状態を維持することができるし(c)、このためにフィルムラミネイティングのための従来または代替可能な技術が使用されることができる。
そして、第1マスク210でマスキングすることができなかった残りの部分を第2マスク220でマスキングすることができる。これは前述した複数のマイクロLED120、スイチング回路130、駆動回路部150などを保護するためのものであり、全体的にフィルムをラミネイティングするか、またはマスキングインクで全面を塗布して形成することができる。
第1マスク210及び第2マスク220が形成された状況で、基板110は蒸着装備内でスパッタリングなどの過程を経ることができる。その結果、基板110の外面で金属薄膜172が形成されることができる(e)。
金属薄膜が形成された状態でアセトンなどの薬品を利用して第1マスク210及び第2マスク220などをとり除くか、またははがすことができる(f)。第1マスク210及び第2マスク220が除去された後に、金属薄膜の一部が基板110に残って金属連結パターン170を形成することができるし、金属連結パターン170は上部電極140と下部電極160を電気的に連結する良質のワイヤパターンとして機能をすることができる。
本実施例によれば、金属連結パターン170を形成する過程で電極と金属連結パターン170の間に接着層が残らないため低い抵抗を維持することができるし、クリーンで堅固な電気的連結を形成することができる。
本実施例で金属薄膜はスパッタリング、化学気相蒸着、パルスレーザー蒸着(PLD;Pulsed Laser Deposition)、電子ビーム蒸着(E-beam evaporation)、熱蒸着(Thermal evaporation)、MOMBE(Metal-Organic Molecular Beam Epitaxy)などの方法を通じて形成することができる。
図示されなかったが、金属連結パターン170を形成した以後に、保護フィルムを追加で付着して金属連結パターン170を保護することもできる。保護フィルムはポリウレタンのように弾性を有した素材を利用することができるし、ラミネイティング、塗布など多様な方法で形成されることができる。保護フィルムは弾性によってフィルムと基板との間に気泡が生ずることを防止することができるし、金属連結パターン170が外部衝撃などによって損傷されるか、または断線されることを防止することができる。
前述したように、本発明の望ましい実施例を参照して説明したが、該当技術分野の熟練された当業者なら下記の請求範囲に記載された本発明の思想及び領域から脱しない範囲内で本発明を多様に修正及び変更させることができることを理解することができるであろう。
10 マイクロLEDディスプレイ
100 ディスプレイパネル
110 基板
120 マイクロLED
130 スイチング回路
140 上部電極
150 駆動回路部
160 下部電極
170 金属連結パターン

Claims (16)

  1. マイクロLEDディスプレイのためのディスプレイパネルの製造方法において、
    基板、前記基板の上面に形成された複数のマイクロLED、前記基板の上面に形成されて前記マイクロLEDを制御するスイチング回路、前記スイチング回路の端部に対応して前記基板の上面一側に形成された複数の上部電極、前記基板の底面に形成された駆動回路部、及び前記駆動回路部に対応して前記基板の底面一側に形成された複数の下部電極を提供する段階と、
    前記上部電極と前記下部電極を連結する連結スリットが形成された第1マスクを前記基板の上面、側面及び底面を経由するように形成する段階と、
    前記第1マスクが形成された前記基板の外面に金属薄膜を形成する段階と、及び
    前記第1マスクをとり除いて前記上部電極と前記下部電極を引き継ぐ金属連結パターンを前記基板に形成する段階と、を含むディスプレイパネルの製造方法。
  2. 前記金属薄膜を形成する段階以前に、前記基板のうちで前記第1マスクに対応する領域以外の領域をカバーする第2マスクを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  3. 前記第2マスクは前記第1マスクを形成する前、形成すると同時、または形成した以後に形成されることを特徴とする請求項2に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  4. 前記第1マスクは感光性フィルムを利用して形成されることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  5. 前記感光性フィルムはDFR(Dry Film Photoresist)フィルムであることを特徴とする請求項4に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  6. 前記第1マスクを形成する段階は、前記連結スリットに対応するように前記感光性フィルムをポジティブまたはネガティブで露光し、前記感光性フィルムから前記連結スリットに対応する部分をとり除いて前記連結スリットを形成し、前記連結スリットが形成された前記感光性フィルムを前記基板の上面、側面及び底面を経由するように付着することを特徴とする請求項4に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  7. 前記第1マスクを形成する段階は、前記感光性フィルムを前記基板の上面、側面及び底面を経由するように付着し、前記連結スリットに対応するように前記感光性フィルムをポジティブまたはネガティブで露光し、前記感光性フィルムから前記連結スリットに対応する部分をとり除いて前記連結スリットを形成することを特徴とする請求項4に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  8. 前記感光性フィルムは5~100μmの厚さで形成されることを特徴とする請求項4に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  9. 前記金属薄膜はスパッタリング、化学気相蒸着、パルスレーザー蒸着(PLD;Pulsed Laser Deposition)、電子ビーム蒸着(E-beam evaporation)、熱蒸着(Thermal evaporation)、またはMOMBE(Metal-Organic Molecular Beam Epitaxy)によって形成されることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  10. 前記金属連結パターンに対応して前記基板の上面、側面及び底面を同時に覆う保護フィルムを付着する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  11. 前記上部電極または前記下部電極のうちで少なくとも一つは、シルバーペースト、二硫化モリブデン(MoS)、メタルメッシュまたはシルバーナノワイヤを利用して形成されることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネルの製造方法。
  12. 基板、前記基板の上面に形成された複数のマイクロLED、前記基板の上面に形成されて前記マイクロLEDを制御するスイチング回路、前記スイチング回路の端部に対応して前記基板の上面一側に形成された複数の上部電極、前記基板の底面に形成された駆動回路部、及び前記駆動回路部に対応して前記基板の底面一側に形成された複数の下部電極を含むディスプレイパネルにおいて、
    前記基板の側面を経由して前記上部電極と前記下部電極を引き継ぐ複数の金属連結パターンを含んで、
    それぞれの前記金属連結パターンは前記上部電極それぞれに対応する第1端部及び前記下部電極それぞれに対応する第2端部を含むが、前記第1端部は前記上部電極の上面を覆って、前記第2端部は前記下部電極の底面を覆うことを特徴とするディスプレイパネル。
  13. 前記金属連結パターンの前記第1端部及び前記上部電極の間及び前記第2端部及び前記下部電極の間に接着層が存在しないことを特徴とする請求項12に記載のディスプレイパネル。
  14. 前記金属連結パターンはスパッタリング、化学気相蒸着、パルスレーザー蒸着(PLD;Pulsed Laser Deposition)、電子ビーム蒸着(E-beam evaporation)、熱蒸着(Thermal evaporation)またはMOMBE(Metal-Organic Molecular Beam Epitaxy)によって形成されることを特徴とする請求項12に記載のディスプレイパネル。
  15. 前記上部電極または前記下部電極のうちで少なくとも一つは、シルバーペースト、二硫化モリブデン(MoS)、メタルメッシュまたはシルバーナノワイヤを利用して形成されることを特徴とする請求項12に記載のディスプレイパネル。
  16. 前記基板はTFTガラス基板であることを特徴とする請求項12に記載のディスプレイパネル。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN207938613U (zh) * 2018-03-30 2018-10-02 纳晶科技股份有限公司 一种显示器件及其电子设备
KR20190003198A (ko) * 2017-06-30 2019-01-09 엘지디스플레이 주식회사 발광 표시 장치

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63287022A (ja) * 1987-05-19 1988-11-24 Mitsubishi Electric Corp 電極パタ−ンの形成方法
JP2000353825A (ja) * 1999-06-09 2000-12-19 Sony Corp Ledモジュール実装用基台の製造方法
JP2003287904A (ja) * 2002-03-27 2003-10-10 Nec Kagoshima Ltd パターン形成方法およびそれを用いたフラットディスプレイパネルの製造方法
KR100978263B1 (ko) * 2006-05-12 2010-08-26 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
JP2007311576A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Rohm Co Ltd 半導体チップ及びこの半導体チップにおける引出配線の形成方法
KR101610326B1 (ko) * 2009-05-06 2016-04-07 엘지이노텍 주식회사 플립 칩 마이크로 범프 제조방법
US8794501B2 (en) * 2011-11-18 2014-08-05 LuxVue Technology Corporation Method of transferring a light emitting diode
KR101476687B1 (ko) * 2013-10-24 2014-12-26 엘지전자 주식회사 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치
CN103762199B (zh) * 2013-12-31 2016-05-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶显示器的阵列基板的制造方法
EP3158583B1 (en) * 2014-06-18 2022-01-26 X Display Company Technology Limited Micro assembled led displays
KR101661603B1 (ko) * 2014-08-25 2016-09-30 주식회사 에스피테크 열방출이 용이한 cob형 led 및 그 제조방법
EP3203557B1 (en) * 2016-02-08 2018-12-05 Karlsruher Institut für Technologie High performance organic electrodes for secondary batteries
KR20180053864A (ko) 2016-11-14 2018-05-24 한국광기술원 마이크로 led 디스플레이 화소 조립체 및 이의 제조방법
EP3422827B1 (en) * 2017-06-30 2024-04-24 LG Display Co., Ltd. Display device and method for fabricating the same
KR101942393B1 (ko) * 2018-01-08 2019-01-29 주식회사 엔앤비 투명 led 디스플레이 및 그 제조 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190003198A (ko) * 2017-06-30 2019-01-09 엘지디스플레이 주식회사 발광 표시 장치
CN207938613U (zh) * 2018-03-30 2018-10-02 纳晶科技股份有限公司 一种显示器件及其电子设备

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