JP2022109287A - 表示装置 - Google Patents
表示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022109287A JP2022109287A JP2022075574A JP2022075574A JP2022109287A JP 2022109287 A JP2022109287 A JP 2022109287A JP 2022075574 A JP2022075574 A JP 2022075574A JP 2022075574 A JP2022075574 A JP 2022075574A JP 2022109287 A JP2022109287 A JP 2022109287A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive layer
- layer
- conductive
- touch panel
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 97
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 170
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 628
- 239000010408 film Substances 0.000 description 112
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 73
- 239000000463 material Substances 0.000 description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 description 40
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 33
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 32
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 32
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 32
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 31
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 31
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 31
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 28
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 26
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 26
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 20
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 16
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 15
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 13
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 11
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 11
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 10
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 10
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 6
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 6
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 5
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 5
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 5
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 5
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- UWCWUCKPEYNDNV-LBPRGKRZSA-N 2,6-dimethyl-n-[[(2s)-pyrrolidin-2-yl]methyl]aniline Chemical compound CC1=CC=CC(C)=C1NC[C@H]1NCCC1 UWCWUCKPEYNDNV-LBPRGKRZSA-N 0.000 description 3
- VUFNLQXQSDUXKB-DOFZRALJSA-N 2-[4-[4-[bis(2-chloroethyl)amino]phenyl]butanoyloxy]ethyl (5z,8z,11z,14z)-icosa-5,8,11,14-tetraenoate Chemical compound CCCCC\C=C/C\C=C/C\C=C/C\C=C/CCCC(=O)OCCOC(=O)CCCC1=CC=C(N(CCCl)CCCl)C=C1 VUFNLQXQSDUXKB-DOFZRALJSA-N 0.000 description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004983 Polymer Dispersed Liquid Crystal Substances 0.000 description 3
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000005262 ferroelectric liquid crystals (FLCs) Substances 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 3
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018137 Al-Zn Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018573 Al—Zn Inorganic materials 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052800 carbon group element Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003098 cholesteric effect Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000005341 toughened glass Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910001233 yttria-stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910018120 Al-Ga-Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004986 Cholesteric liquid crystals (ChLC) Substances 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005264 High molar mass liquid crystal Substances 0.000 description 1
- 229910052689 Holmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 1
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004990 Smectic liquid crystal Substances 0.000 description 1
- 229910020833 Sn-Al-Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020994 Sn-Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910009069 Sn—Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004974 Thermotropic liquid crystal Substances 0.000 description 1
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 1
- GPBUGPUPKAGMDK-UHFFFAOYSA-N azanylidynemolybdenum Chemical compound [Mo]#N GPBUGPUPKAGMDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N dysprosium atom Chemical compound [Dy] KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJZYNXUDTRRSPN-UHFFFAOYSA-N holmium atom Chemical compound [Ho] KJZYNXUDTRRSPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N lutetium atom Chemical compound [Lu] OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N magnesium silver Chemical compound [Mg].[Ag] SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920006350 polyacrylonitrile resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N praseodymium atom Chemical compound [Pr] PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 1
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/13338—Input devices, e.g. touch panels
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/04166—Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0443—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0448—Details of the electrode shape, e.g. for enhancing the detection of touches, for generating specific electric field shapes, for enhancing display quality
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/7869—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film having a semiconductor body comprising an oxide semiconductor material, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide, cadmium stannate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/121—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
- H10K59/1213—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/40—OLEDs integrated with touch screens
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
- G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
- G06F2203/04107—Shielding in digitiser, i.e. guard or shielding arrangements, mostly for capacitive touchscreens, e.g. driven shields, driven grounds
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
- G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
- G06F2203/04111—Cross over in capacitive digitiser, i.e. details of structures for connecting electrodes of the sensing pattern where the connections cross each other, e.g. bridge structures comprising an insulating layer, or vias through substrate
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
- G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
- G06F2203/04112—Electrode mesh in capacitive digitiser: electrode for touch sensing is formed of a mesh of very fine, normally metallic, interconnected lines that are almost invisible to see. This provides a quite large but transparent electrode surface, without need for ITO or similar transparent conductive material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Geometry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)
- Position Input By Displaying (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
Description
の一態様は、入出力装置に関する。本発明の一態様は、タッチパネルに関する。
明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置
、電子機器、照明装置、入力装置、入出力装置、それらの駆動方法、又は、それらの製造
方法、を一例として挙げることができる。
装置全般を指す。トランジスタなどの半導体素子をはじめ、半導体回路、演算装置、記憶
装置は、半導体装置の一態様である。撮像装置、表示装置、液晶表示装置、発光装置、入
力装置、入出力装置、電気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含
む)、及び電子機器は、半導体装置を有している場合がある。
チセンサを搭載した表示装置は、タッチパネル、またはタッチスクリーンなどと呼ばれて
いる(以下、これを単に「タッチパネル」とも呼ぶ)。例えば、タッチパネルを備える携
帯情報端末としては、スマートフォン、タブレット端末などがある。
トリクス状に配置し、画素電極の各々に接続するスイッチング素子としてトランジスタを
用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置が注目を集めている。
成領域とするトランジスタを用いるアクティブマトリクス型液晶表示装置が知られている
(特許文献1及び特許文献2)。
の光学変調作用を利用して、バックライトからの光が液晶を透過して液晶表示装置外部に
出力される状態と、出力されない状態とを選択し、明と暗の表示を行わせ、さらにそれら
を組み合わせることで、画像表示を行うものである。
画素電極で反射して装置外部に出力される状態と、入射光が装置外部に出力されない状態
とを選択し、明と暗の表示を行わせ、さらにそれらを組み合わせることで、画像表示を行
うものである。
で入力する機能を付加したタッチパネルが望まれている。
め、タッチパネル自体の薄型化、軽量化が求められている。
成とすることができる。
ッチパネルでは、表示パネルを構成する画素や配線と、タッチセンサを構成する電極や配
線との間の距離が小さくなると、タッチセンサが表示パネルを駆動した時に生じるノイズ
の影響を受けやすくなり、その結果としてタッチパネルの検出感度が低下してしまう場合
がある。
、視認性の高いタッチパネルを提供することを課題の一とする。または、軽量なタッチパ
ネルを提供することを課題の一とする。または、消費電力が低減されたタッチパネルを提
供することを課題の一とする。
を提供することを課題の一とする。
、第4の導電層と、第5の導電層と、絶縁層と、表示素子と、を有するタッチパネルであ
る。第1の導電層、第2の導電層、及び第3の導電層は、同一面上に離間して設けられ、
平面視において、第1の導電層と第3の導電層との間に、第2の導電層が位置し、第1の
導電層と第4の導電層とは電気的に接続され、第3の導電層と第4の導電層とは電気的に
接続され、第2の導電層と第4の導電層とは、絶縁層を介して重なる部分を有し、第1の
導電層は、複数の開口を有するメッシュ状の形状を有し、開口と表示素子、第5の導電層
とは、互いに重なる領域を有し、第1の導電層と表示素子との間に、第5の導電層が位置
し、第5の導電層は、可視光を透過する機能を有する。
れていることが好ましい。
層とは、互いに重なる部分を有することが好ましい。
いることが好ましい。
2の導電層、第3の導電層、第4の導電層、及び第5の導電層は、当該第2の基板に形成
されていることが好ましい。
は、半導体層を有し、半導体層と、第5の導電層とは、同一の金属元素を含む酸化物を有
することが好ましい。このとき、当該トランジスタは、第1のゲート電極及び第2のゲー
ト電極を有し、半導体層は、第1のゲート電極及び第2のゲート電極の間に位置し、第1
のゲート電極または第2のゲート電極の一方は、上記金属元素を含む酸化物を含むことが
好ましい。
タは、半導体層を有し、半導体層と、第5の導電層とは、同一の酸化物半導体を含むこと
が好ましい。このとき、当該トランジスタは、第1のゲート電極及び第2のゲート電極を
有し、半導体層は、第1のゲート電極及び第2のゲート電極の間に位置し、第1のゲート
電極または第2のゲート電極の一方は、酸化物半導体を含むことが好ましい。
いタッチパネルを提供できる。または、軽量なタッチパネルを提供できる。または、消費
電力が低減されたタッチパネルを提供できる。
されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更
し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態
の記載内容に限定して解釈されるものではない。
同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様
の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。
明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されな
い。
ために付すものであり、数的に限定するものではない。
る場合がある。例えば、「導電層」という用語を、「導電膜」という用語に変更すること
や、「絶縁膜」という用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能な場合がある
。
本実施の形態では、本発明の一態様の入力装置(タッチセンサ)の構成例、及び本発明
の一態様の入力装置と表示装置(表示パネル)を備える入出力装置(タッチパネル)の構
成例について、図面を参照して説明する。
した場合について説明する。
、表示面に指やスタイラスなどの被検知体が触れる、または接近することを検出するタッ
チセンサとしての機能と、を有する。したがってタッチパネルは入出力装置の一態様であ
る。
rint Circuit)もしくはTCP(Tape Carrier Packag
e)などのコネクターが取り付けられたもの、または基板にCOG(Chip On G
lass)方式によりIC(集積回路)が実装されたものを、タッチパネルモジュール、
または単にタッチパネルと呼ぶ場合がある。
一対の導電層間には容量が形成されている。一対の導電層に被検知体が触れる、または接
近することにより一対の導電層間の容量の大きさが変化することを利用して、検出を行う
ことができる。
電容量方式としては、自己容量方式、相互容量方式などがある。相互容量方式を用いると
、同時多点検出が可能となるため好ましい。
より好ましくは、複数の開口を有するメッシュ状の形状を有することが好ましい。そして
当該開口と、表示素子とが互いに重なるように配置する構成とすることが好ましい。こう
することで、表示素子からの光が当該開口を介して外部に射出されるため、タッチセンサ
を構成する一対の導電層は、透光性を有する必要がなくなる。すなわち、タッチセンサを
構成する一対の導電層の材料として、透光性導電性材料よりも低抵抗な金属や合金などの
材料を適用することが可能となる。したがって検知信号の遅延などの影響が低減され、タ
ッチパネルの検出感度を高めることができる。さらに、このような構成は、携帯型の機器
だけでなくテレビジョン等の大型の表示装置にも好適に適用することができる。
を有する遮光層を設けることが好ましい。こうすることで、タッチセンサを構成する導電
層として金属などの可視光を反射する材料を用いた場合であっても、当該導電層によって
外光が反射され、視認性が低下してしまうことを抑制できる。
の領域と重ねて配置することが好ましい。このとき、タッチセンサを構成する一対の導電
層が、表示素子からの光の光路を避けて配置されているため、原理的にモアレが生じない
という効果を奏する。ここでモアレとは、2以上の周期性を有するパターンを重ねたとき
に生じる干渉縞のことをいう。そのため、極めて表示品位の高いタッチパネルを実現する
ことができる。
(Micro Electro Mechanical System)を利用した光学
素子、有機EL(Electro Luminescence)素子や発光ダイオード(
LED:Light Emitting Diode)等の発光素子、電気泳動素子など
、様々な表示素子を用いることができる。
表示装置を適用することが好ましい。
内側に配置することが好ましい。この時特に、タッチセンサを構成する導電層として複数
の開口を有する形状とすること好ましい。このような導電層はその表面積を小さくするこ
とができる。そのため例えば、タッチセンサを構成する導電層に開口を有さない透光性を
有する導電膜を用いた場合に比べて、表示素子を駆動させる際の電気的なノイズが当該導
電層へ伝わりにくい構成とすることができる。すなわち、一対の基板の間に表示素子とタ
ッチセンサを構成する導電膜の両方を挟持しても、高い検出感度を実現することができる
。その結果、薄い厚さと、高い検出感度が両立されたタッチパネルを実現することができ
る。
定電位を供給可能な導電層を設けることがより好ましい。このような導電層は、シールド
層として機能させることができる。具体的には、当該導電層により、表示素子を駆動する
回路からのノイズがタッチセンサに伝わることを防ぐことができる。さらに、当該導電層
により、タッチセンサを駆動した時のノイズが、表示素子や表示素子を駆動する回路、ま
たは当該回路を構成する配線などに伝わることを防ぐこともできる。そのため、例えば表
示素子を駆動させるタイミングと、タッチセンサを駆動させるタイミングとをずらすこと
によりノイズの影響を抑制するなどといった対策を講じることなく、表示素子とタッチセ
ンサの両方を同時に駆動させる(同期した駆動をさせる)ことや、これらの駆動のタイミ
ングを同期させずに駆動することなどが可能となる。したがって、例えば表示素子の駆動
周波数(フレームレートともいう)を高めることで滑らかな動画表示を行うことができる
。また例えばタッチセンサの駆動周波数を高めることで、より検知精度を高めることが可
能となる。また表示素子の駆動周波数と、タッチセンサの駆動周波数とをそれぞれ個別に
自由に設定することができる。例えば、状況によりいずれか一方、または両方の駆動周波
数を低く設定する期間を設けることで、消費電力の低減を図ることも可能となる。
膜を加工して形成することが好ましい。例えば、一対の導電層の交差部に配置されるブリ
ッジのための導電層と、当該シールド層として用いる導電層とを同一の導電膜を加工して
形成する。
ことが好ましい。または、低抵抗化された酸化物半導体を用いることが好ましい。例えば
、導電性金属酸化物を用いることができる。このような材料を用いることで、金属を用い
たときに生じる酸化の影響を排除でき、信頼性の高いタッチパネルを実現できる。
図1(A)は、本発明の一態様のタッチパネルモジュール10の斜視概略図である。ま
た、図1(B)は、タッチパネルモジュール10の一対の基板を分離した斜視概略図であ
る。タッチパネルモジュール10は、基板31と、基板21とが貼り合わされた構成を有
する。タッチセンサ22は、基板21側に設けられている。
チセンサ22を有する。タッチセンサ22は、導電層23、導電層24、導電層25等を
有する。またこれら導電層とFPC41とを電気的に接続する配線29を有する。FPC
41は、タッチセンサ22に外部からの信号を供給する機能を有する。または、FPC4
1は、タッチセンサ22からの信号を外部に出力する機能を有する。なお、FPC41を
備えない形態を、単にタッチパネルと呼ぶことがある。
ッチセンサモジュールとして用いることもできる。例えば、このような基板を、表示パネ
ルの表示面側に貼り付けることで、タッチパネルを形成することもできる。
有する。導電層23は、一方向に延伸した形状を有する。また複数の導電層23はその延
伸方向と交差する方向に並べて配置されている。複数の導電層24は、隣接する2つの導
電層23の間に位置するように設けられている。導電層25は、導電層23の延伸方向と
交差する方向に沿って隣接する2つの導電層24を電気的に接続する。すなわち複数の導
電層24のうち、導電層23の延伸方向と交差する方向に沿って配置されているいくつか
の導電層24は、導電層25によって電気的に接続されている。
電層25との間には絶縁層が設けられている。
容量方式の駆動方法を用いる場合には、導電層23と導電層24のうち一方を送信側の電
極として、他方を受信側の電極として用いることができる。
、導電層24を導電層23と同様に一方向に延伸した形状とし、導電層23と導電層24
との間に絶縁層を有する構成とすることで、導電層25を設けない構成としてもよい。こ
のとき、導電層23と導電層24の互いの一部が重なる。
成する配線や電極に用いることのできる材料として、例えば、抵抗率が低いものが望まし
い。一例として、銀、銅、アルミニウムなどの金属を用いてもよい。さらに、非常に細く
した(例えば、直径が数ナノメートル)多数の導電体を用いて構成されるような金属ナノ
ワイヤを用いてもよい。一例としては、Agナノワイヤ、Cuナノワイヤ、Alナノワイ
ヤなどを用いてもよい。Agナノワイヤの場合、例えば光透過率は89%以上、シート抵
抗値は40Ω/□以上100Ω/□以下を実現することができる。なお、このような金属
ナノワイヤは透過率が高いため、表示素子に用いる電極、例えば、画素電極や共通電極に
、当該金属ナノワイヤを用いてもよい。
れた複数の画素33を有する。画素33は、複数の副画素回路を備えていることが好まし
い。副画素回路は、それぞれ表示素子と電気的に接続する。また基板31上には、表示部
32内の画素33と電気的に接続する回路34を備えることが好ましい。回路34は、例
えばゲート駆動回路として機能する回路を適用することができる。FPC42は、表示部
32または回路34の少なくとも一に、外部からの信号を供給する機能を有する。なお、
基板31、またはFPC42に、ソース駆動回路として機能するICを実装することが好
ましい。ICは、COG方式により基板31に実装してもよいし、ICが実装されたFP
C42、またはTAB、TCP等を取り付けることもできる。
われた際の容量の変化に基づき、位置情報を出力することができる。また表示部32によ
り、画像を表示することができる。
以下では、タッチパネルモジュール10の断面構成の例について、図面を参照して説明
する。以下で例示するタッチパネルモジュール10は、表示素子として横電界方式の液晶
素子を適用したものである。
けるFPC42を含む領域、回路34を含む領域、表示部32を含む領域、FPC41を
含む領域などの断面を示している。
、基板31、及び接着層141に囲まれた領域に、液晶152が封止されている。
接続部101、配線29、表示素子60、トランジスタ201、トランジスタ202、容
量素子203、接続部204、配線35等が設けられている。
層が設けられている。絶縁層211は、その一部が各トランジスタのゲート絶縁層として
機能し、また他の一部は容量素子203の誘電体としての機能を有する。絶縁層212、
絶縁層213、及び絶縁層214は、各トランジスタや容量素子203等を覆って設けら
れている。絶縁層214は、平坦化層としての機能を有する。なお、ここではトランジス
タ等を覆う絶縁層として、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214の3層を有する場
合を示しているが、これに限られず4層以上であってもいいし、単層、または2層であっ
てもよい。また平坦化層として機能する絶縁層214は、不要であれば設けなくてもよい
。
、導電層151等が設けられている。ここでは、同一の導電膜を加工して得られる複数の
層に同じ符号を付して説明する場合がある。
は配線などに用いることができる。導電層222は、各トランジスタのソース電極または
ドレイン電極、容量素子203のもう一方の電極、若しくは配線などに用いることができ
る。導電層223は、各トランジスタのもう一つのゲート電極や、配線などに用いること
ができる。半導体層231は、トランジスタの半導体層などに用いることができる。
は赤色を呈する副画素、緑色を呈する副画素、青色を呈する副画素のいずれかとすること
で、フルカラーの表示を行うことができる。例えば図2に示す副画素は、トランジスタ2
02と、容量素子203と、表示素子60と、着色層131Rと、を有する。ここで、ト
ランジスタ202、容量素子203、及び配線等により副画素回路が構成されている。
れる半導体層231を2つのゲート電極(導電層221、導電層223)で挟持する構成
を適用した例を示している。このようなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界
効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、
高速動作が可能な回路を作製することができる。さらには回路部の占有面積を縮小するこ
とが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示パネルまたはタ
ッチパネルを大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線にお
ける信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することが可能である。
2や容量素子203等が配置されている例を示している。反射型の液晶表示装置の場合に
は、このようにトランジスタや容量素子、または回路を構成する配線などと表示素子60
と重ねて配置することで、開口率を高めることができる。また透過型の液晶表示装置の場
合には、表示素子60よりも下側には透光性の材料を含む層を配置し、トランジスタ20
2や容量素子203等は配置しない構成とすることが好ましい。
ジスタ202の半導体層231と重ねて配置すると、副画素の開口率を高めることができ
るため好ましい。このとき、導電層151と半導体層231との間に導電層223を設け
ることが好ましい。導電層223により、導電層151の電界の影響が半導体層231に
伝わることがなく、誤動作が抑制される。なお、導電層223を設けない場合は、例えば
図3に示すように、半導体層231と導電層151とが重畳しないようにそれぞれを配置
することが好ましい。
造であってもよい。また回路34が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であって
もよいし、異なる構造のトランジスタを組み合わせて用いてもよい。また、表示部32が
有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよいし、異なる構造のトランジス
タを組み合せて用いてもよい。
などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。すなわち、絶縁層212また
は絶縁層213はバリア膜として機能させることができる。このような構成とすることで
、トランジスタに対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能と
なり、信頼性の高いタッチパネルを実現できる。
モードが適用された液晶素子を用いた場合の例を示している。表示素子60は、導電層1
51、液晶152、及び導電層153を有する。導電層151と導電層153との間に生
じる電界により、液晶の配向を制御することができる。
215が設けられ、絶縁層215上に導電層151が設けられている。導電層151は、
絶縁層215、絶縁層214、絶縁層213、絶縁層212に設けられた開口を介してト
ランジスタ202のソース又はドレインの一方と電気的に接続されている。
ともいう)を有する。また、導電層153は導電層151と重ねて配置されている。また
着色層131R等と重なる領域において、導電層153上に導電層151が配置されてい
ない部分を有する。
する。なお、上層に設けられ、櫛歯状またはスリット状の上面形状を有する導電層151
を共通電極とし、下層に設けられる導電層153を画素電極として用いることもできる。
その場合には、導電層153をトランジスタ202のソース又はドレインの一方と電気的
に接続すればよい。
23、導電層24、導電層25、配線29、絶縁層121、絶縁層123、スペーサ12
4、着色層131R、着色層131B等が設けられている。
24とは同一面上に設けられている。導電層25と、導電層23及び導電層24との間に
は絶縁層121が設けられている。導電層25の一部は導電層23と重なっている。導電
層23を挟む2つの導電層24は、絶縁層121に設けられた開口を介して導電層25と
電気的に接続している。
等を覆って絶縁層123が設けられている。
置する液晶152により構成されている。
2の配向を制御するための配向膜が設けられていてもよい。
を示している。言い換えると、導電層23が有する開口と、表示素子60とが重なるよう
に、導電層23が配置されている。または、導電層23は隣接する2つの副画素が有する
、2つの導電層151の間の領域と重なるように配置されているとも言い換えることがで
きる。なお、ここでは導電層23の例を示しているが、導電層24や導電層25も同様に
、表示素子60と重ならないように配置されていることが好ましい。
3のいずれか、または両方に、可視光を反射する材料を用いることができる。これらの両
方に可視光を反射する材料を用いると開口率を高めることができる。また、導電層153
に可視光を反射する材料を用い、導電層151に可視光を透過する材料を用いてもよい。
このような構成により、表示素子60を反射型の液晶素子とすることができる。
3のいずれか、または両方に、可視光を透過する材料を用いることができる。これらの両
方に可視光を透過する材料を用いると開口率を高めることができる。また、導電層153
に可視光を透過する材料を用い、導電層151に可視光を遮光する材料を用いてもよい。
うに2つ配置する。偏光板よりも外側に配置されたバックライトからの光は偏光板を介し
て入射される。このとき、導電層151と導電層153の間に与える電圧によって液晶1
52の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、偏光板を介して
射出される光の強度を制御することができる。また入射光は着色層131Rによって特定
の波長領域以外の光が吸収されることにより、射出される光は例えば赤色を呈する光とな
る。
ば直線偏光板と1/4波長位相差板を積層したものを用いることができる。円偏光板によ
り、視野角依存を低減することができる。
方向に一対の電極を配置し、液晶152に対して厚さ方向に概略垂直な方向に電界をかけ
る方式を示している。なお電極の配置方法としてはこれに限られず、厚さ方向に電界をか
ける方式を適用してもよい。
いることができる。例えばVA(Vertical Alignment)モード、TN
(Twisted Nematic)モード、IPS(In-Plane-Switch
ing)モード、FFS(Fringe Field Switching)モード、A
SM(Axially Symmetric aligned Micro-cell)
モード、OCB(Optically Compensated Birefringe
nce)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal
)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Cryst
al)モード等が適用された液晶素子を用いることができる。
直配向(VA)モードを採用した透過型の液晶表示装置を適用してもよい。垂直配向モー
ドとしては、MVA(Multi-Domain Vertical Alignmen
t)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モ
ード、ASVモードなどを用いることができる。
である。なお、液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電
界又は斜め方向の電界を含む)によって制御される。なお、液晶素子に用いる液晶として
は、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:P
olymer Dispersed Liquid Crystal)、強誘電性液晶、
反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリ
ック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。
、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。
い。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリ
ック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発
現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組
成物を液晶層に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速
度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組
成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよい
のでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防
止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。
ている。
ていることが好ましい。
含んで構成される。例えば、後述する透光性を有する導電性材料のうち、金属酸化物を用
いることができる。
金属酸化物を用いることが好ましい。特に、タッチパネルモジュール10が有するトラン
ジスタの半導体層に酸化物半導体を用いた場合、これに含まれる金属元素を含む導電性酸
化物を適用することが好ましい。
、信頼性の高いタッチパネルモジュール10を実現できる。
のため、導電層27に共通電位、接地電位、またはそれ以外の任意の定電位を与えること
により、導電層23、導電層24を駆動させたときに、基板31側に発せられる電気的な
ノイズを遮蔽することができる。また同時に、基板31側に設けられた副画素回路を駆動
させたときに、基板21側に発せられる電気的なノイズを遮蔽することができる。
よい。例えば接地電位、共通電位、または任意の定電位を用いることができる。また例え
ば、導電層27と導電層153とを同電位としてもよい。
間に生じる電界の向き(電気力線の向き)のうち、厚さ方向の成分を低減し、より効果的
に厚さに対して概略垂直な方向(横方向)に電界が向くようにすることができる。こうす
ることで、液晶152の配向欠陥を抑制し、光漏れなどの不具合が生じることを防ぐこと
ができる。
続層242を介してFPC42と電気的に接続されている。図2では、配線35の一部と
、導電層223を積層することで接続部204を構成している例を示している。また基板
21の端部に近い領域には、接続部101が設けられている。接続部101は、接続層2
41を介してFPC41と電気的に接続されている。図2に示す構成では、配線29の一
部と、導電層25と同一の導電膜を加工して得られた導電層とを積層して接続部101を
構成している例を示している。
電層222との交差部の断面構造を示している。例えば、導電層221を走査線として機
能する配線、および容量線として機能する配線の一方または両方として用い、導電層22
2を信号線として機能する配線として用いることができる。
を設けてもよい。またこのとき、基板21と当該基板との間に偏光板または円偏光板を設
けることが好ましい。その場合、当該基板上に保護層(セラミックコート等)を設けるこ
とが好ましい。保護層は、例えば酸化シリコン、酸化アルミニウム、酸化イットリウム、
イットリア安定化ジルコニア(YSZ)などの無機絶縁材料を用いることができる。また
、当該基板に強化ガラスを用いてもよい。強化ガラスは、イオン交換法や風冷強化法等に
より物理的、または化学的な処理が施され、その表面に圧縮応力を加えたものを用いるこ
とができる。
ることを防ぐオーバーコートとしての機能を有する。
上近づくことを防ぐ機能を有する。図2ではスペーサ124と基板31側の構造物(例え
ば導電層151や絶縁層214等)とが接触していない例を示すが、これらが接していて
もよい。またここではスペーサ124が基板21側に設けられている例を示したが、基板
31側に設けてもよい。例えば、隣接する2つの副画素が有する、2つの導電層151の
間に配置すればよい。または、スペーサ124として粒状のスペーサを用いてもよい。粒
状のスペーサとしては、シリカなどの材料を用いることもできるが、有機樹脂やゴムなど
の弾性を有する材料を用いることが好ましい。このとき、粒状のスペーサは上下方向に潰
れた形状となる場合がある。
5)と重ねて配置することが好ましい。こうすることで、表示素子60が配置される部分
にはスペーサ124が配置されないため、スペーサ124によって光が吸収、屈折または
散乱などされることがないため、光の取り出し効率を向上させることができる。
も基板21側に、隣接する副画素間の混色を抑制する遮光層115が設けられている。し
たがって、遮光層115により導電層23や導電層24が外光を反射することにより視認
性が低下してしまうことを抑制することができる。そのため、導電層23、導電層24と
して、可視光を反射する材料を用いることができる。または、可視光を透過する材料を用
いた場合であっても、導電層23や導電層24が配置されている部分と、そうでない部分
の境界が視認されることがないため、視認性を向上することができる。
着色層131R等を透過した光は、導電層27を透過して外部に射出される。
、絶縁層123を無くす構成としてもよい。そうすることで、タッチパネルモジュール1
0を作製する際に必要なフォトマスク、及びパターニング工程を省略することができる。
たが、これらが重ねて配置されていればよく、この構成に限られない。
1側に配置した場合の例を示している。
基板31側に配置した場合の例を示している。
位置及びその近傍を含んで、絶縁層123に開口が形成されている。
ように、絶縁層123が加工されている場合を示している。このとき、導電層25と導電
層24とは、絶縁層121と絶縁層123に設けられた開口を介して電気的に接続してい
る。
。また図6に示す構成では、着色層131Rを覆って絶縁層127が設けられている。絶
縁層127によって、着色層131R等の段差を被覆することで、導電層23や導電層2
4等の被形成面の平坦性が高まり、検出感度の均一性を高めることができる。
以下では、上記とは一部の構成が異なる断面構成例について説明する。具体的には、導
電層25及び導電層27に、酸化物半導体を用いた場合の断面構成の一例について説明す
る。
主に相違している。
とが好ましい。特に、タッチパネルモジュール10が有するトランジスタの半導体層に酸
化物半導体を用いた場合、これよりも抵抗率の低い酸化物半導体を適用することが好まし
い。
ることができる。
む絶縁層を用いることが好ましい。特に絶縁層122は、窒化シリコンを含む絶縁膜を含
むことが好ましい。
とにより、その表面の酸化が抑制され、信頼性の高いタッチパネルモジュール10を実現
できる。
122を追加した場合の例を示している。図8乃至図11において、導電層25及び導電
層27はそれぞれ、トランジスタの半導体層及び導電層223と同一の金属を含む酸化物
半導体を含んで構成されている。
以下では、本発明の一態様のタッチパネルが有するトランジスタの構造がトップゲート
型のトランジスタの例を図12及び図13に示す。
301、302の構造が主に相違している。トランジスタの構造以外は図2に示す構成と
ほぼ同一であるため、同一の箇所には同一の符号を用い、共通の部分の詳細な説明は省略
することとする。
のトランジスタを適用した場合の例を示している。
合の例を示している。表示素子60は、導電層151、液晶152、及び導電層153を
有する。
て機能する絶縁層と、ゲート絶縁層を介して半導体層と重なるゲート電極として機能する
導電層と、ゲート電極として機能する導電層を覆う絶縁層と、ソース電極として機能する
導電層と、ドレイン電極として機能する導電層と、を有する。また、ゲート電極と重なら
ない半導体層の領域はゲート電極と重なるチャネル形成領域よりも低抵抗な領域とするこ
とが好ましい。
領域よりも低抵抗な領域とするため、ゲート電極と重ならない半導体層に不純物元素(希
ガスや、窒素や、リンや、ボロンや、水素など)を添加することが好ましい。希ガスとし
てはヘリウム、アルゴンなどを用いることができる。また、不純物の添加方法としては、
プラズマを用いる方法やイオン注入法などを用いることができる。イオン注入法を用いる
と、ゲート電極をマスクとして自己整合的に不純物元素を添加して酸化物半導体層の一部
を低抵抗化させることができ、好ましい。
極として機能する導電層と、それらの間に配置される絶縁層を誘電体として形成される。
また、接続部204は、配線35の一部と、導電層223を積層することで構成している
。導電層223としては、スパッタリング法を用い、酸素ガスを含む雰囲気にて成膜する
ことで、導電層223の被形成面となる、絶縁層212に酸素または過剰酸素を添加する
。また、過剰酸素によりトランジスタ301、302の酸化物半導体層中の酸素欠損が補
填され、信頼性の高いトランジスタを実現することができる。また、絶縁層212及び/
または酸化物半導体層中に過剰の酸素を供給する場合において、絶縁層213は、酸素の
透過を抑制することができる材料を用いることが好ましい。
300として用いる金属酸化物としては、アルミニウム、インジウム、ガリウム、亜鉛な
どを一種または複数種有する酸化物を用いる。また、バッファ層300は水や水素などの
不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。すなわち、バッファ層300はバリ
ア膜として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタ301
、302に対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能となり、
信頼性の高いタッチパネルを実現できる。
以下では、上記に示す各構成要素について説明する。
タッチパネルが有する基板には、平坦面を有する材料を用いることができる。表示素子
からの光を取り出す側の基板には、該光を透過する材料を用いる。例えば、ガラス、石英
、セラミック、サファイヤ、有機樹脂などの材料を用いることができる。
さらに、可撓性を有する程度の厚さの基板を用いることで、可撓性を有するタッチパネル
を実現できる。
ウケイ酸ガラス等を用いることができる。
の厚さのガラスや、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート
(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメ
チルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PE
S)樹脂、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミ
ド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂等が挙げら
れる。特に、熱膨張係数の低い材料を用いることが好ましく、例えば、ポリアミドイミド
樹脂、ポリイミド樹脂、PET等を好適に用いることができる。また、ガラス繊維に有機
樹脂を含浸した基板や、無機フィラーを有機樹脂に混ぜて熱膨張係数を下げた基板を使用
することもできる。このような材料を用いた基板は、重量が軽いため、該基板を用いたタ
ッチパネルも軽量にすることができる。
げた基板の他に、金属基板、セラミック基板、または半導体基板等を用いることもできる
。金属材料や合金材料は熱伝導性が高く、封止基板全体に熱を容易に伝導できるため、タ
ッチパネルの局所的な温度上昇を抑制することができ、好ましい。可撓性や曲げ性を得る
ためには、金属基板の厚さは、10μm以上200μm以下が好ましく、20μm以上5
0μm以下であることがより好ましい。
ッケル等の金属、もしくはアルミニウム合金またはステンレス等の合金などを好適に用い
ることができる。
が施された基板を用いてもよい。例えば、スピンコート法やディップ法などの塗布法、電
着法、蒸着法、又はスパッタリング法などを用いて絶縁膜を形成してもよいし、酸素雰囲
気で放置する又は加熱するほか、陽極酸化法などによって、基板の表面に酸化膜を形成し
てもよい。
えば、窒化シリコン層など)や、押圧を分散可能な材質の層(例えば、アラミド樹脂層な
ど)等と積層されて構成されていてもよい。また、水分等による表示素子の寿命の低下等
を抑制するために、可撓性を有する基板に透水性の低い絶縁膜が積層されていてもよい。
例えば、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム等の無
機絶縁材料を用いることができる。
と、水や酸素に対するバリア性を向上させ、信頼性の高いタッチパネルとすることができ
る。
いることができる。当該ガラス層の厚さとしては20μm以上200μm以下、好ましく
は25μm以上100μm以下とする。このような厚さのガラス層は、水や酸素に対する
高いバリア性と可撓性を同時に実現できる。また、有機樹脂層の厚さとしては、10μm
以上200μm以下、好ましくは20μm以上50μm以下とする。このような有機樹脂
層を設けることにより、ガラス層の割れやクラックを抑制し、機械的強度を向上させるこ
とができる。このようなガラス材料と有機樹脂の複合材料を基板に適用することにより、
極めて信頼性が高いフレキシブルなタッチパネルとすることができる。
トランジスタは、ゲート電極として機能する導電層と、半導体層と、ソース電極として
機能する導電層と、ドレイン電極として機能する導電層と、ゲート絶縁層として機能する
絶縁層と、を有する。上記では、ボトムゲート構造のトランジスタを適用した場合を示し
ている。
。例えば、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしても
よい。また、トップゲート型又はボトムゲート型のいずれのトランジスタ構造としてもよ
い。トランジスタに用いる半導体材料は特に限定されず、例えば、酸化物半導体、シリコ
ン、ゲルマニウム等が挙げられる。
結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、単結晶半導体、又は一部に結晶領
域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。結晶性を有する半導体を用いると、トラン
ジスタ特性の劣化を抑制できるため好ましい。
導体又は酸化物半導体を半導体層に用いることができる。代表的には、シリコンを含む半
導体、ガリウムヒ素を含む半導体又はインジウムを含む酸化物半導体などを適用できる。
シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると
、トランジスタのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。
)を含むことが好ましい。より好ましくは、In-M-Zn酸化物(MはAl、Ti、G
a、Ge、Y、Zr、Sn、La、Ce、HfまたはNd等の金属)で表記される酸化物
を含む。
、または半導体層の上面に対し概略垂直に配向し、且つ隣接する結晶部間には粒界が確認
できない酸化物半導体膜を用いることが好ましい。
応力によって酸化物半導体膜にクラックが生じてしまうことが抑制される。したがって、
可撓性を有し、湾曲させて用いるタッチパネルなどに、このような酸化物半導体を好適に
用いることができる。
の変動が抑制され、信頼性の高いトランジスタを実現できる。
その低いオフ電流により、トランジスタと直列に接続された容量に蓄積した電荷を長期間
に亘って保持することが可能である。このようなトランジスタを画素に適用することで、
各画素の階調を維持しつつ、駆動回路を停止することも可能となる。その結果、極めて消
費電力の低減された表示装置を実現できる。
、La、Ce、SnまたはHf等の金属)を含むIn-M-Zn酸化物で表記される膜を
含むことが好ましい。また、該酸化物半導体を用いたトランジスタの電気特性のばらつき
を減らすため、それらと共に、スタビライザーを含むことが好ましい。
ニウム、アルミニウム、またはジルコニウム等がある。また、他のスタビライザーとして
は、ランタノイドである、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、サマリウム、
ユウロピウム、ガドリニウム、テルビウム、ジスプロシウム、ホルミウム、エルビウム、
ツリウム、イッテルビウム、ルテチウム等がある。
Al-Zn系酸化物、In-Sn-Zn系酸化物、In-Hf-Zn系酸化物、In-L
a-Zn系酸化物、In-Ce-Zn系酸化物、In-Pr-Zn系酸化物、In-Nd
-Zn系酸化物、In-Sm-Zn系酸化物、In-Eu-Zn系酸化物、In-Gd-
Zn系酸化物、In-Tb-Zn系酸化物、In-Dy-Zn系酸化物、In-Ho-Z
n系酸化物、In-Er-Zn系酸化物、In-Tm-Zn系酸化物、In-Yb-Zn
系酸化物、In-Lu-Zn系酸化物、In-Sn-Ga-Zn系酸化物、In-Hf-
Ga-Zn系酸化物、In-Al-Ga-Zn系酸化物、In-Sn-Al-Zn系酸化
物、In-Sn-Hf-Zn系酸化物、In-Hf-Al-Zn系酸化物を用いることが
できる。
る酸化物という意味であり、InとGaとZnの比率は問わない。また、InとGaとZ
n以外の金属元素が入っていてもよい。
。半導体層と、導電層を同一の金属元素とすることで、製造コストを低減させることがで
きる。例えば、同一の金属組成の金属酸化物ターゲットを用いることで製造コストを低減
させることができる。また半導体層と導電層を加工する際のエッチングガスまたはエッチ
ング液を共通して用いることができる。ただし、半導体層と、導電層は、同一の金属元素
を有していても、組成が異なる場合がある。例えば、トランジスタ及び容量素子の作製工
程中に、膜中の金属元素が脱離し、異なる金属組成となる場合がある。
の原子数比率は、InおよびMの和を100atomic%としたとき、好ましくはIn
が25atomic%より高く、Mが75atomic%未満、さらに好ましくはInが
34atomic%より高く、Mが66atomic%未満とする。
しくは3eV以上である。このように、エネルギーギャップの広い酸化物半導体を用いる
ことで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。
、さらに好ましくは3nm以上50nm以下とする。
a、Ce、HfまたはNd)の場合、In-M-Zn酸化物を成膜するために用いるスパ
ッタリングターゲットの金属元素の原子数比は、In≧M、Zn≧Mを満たすことが好ま
しい。このようなスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比として、In:M:Z
n=1:1:1、In:M:Zn=1:1:1.2、In:M:Zn=3:1:2が好ま
しい。なお、成膜される半導体層の原子数比はそれぞれ、誤差として上記のスパッタリン
グターゲットに含まれる金属元素の原子数比のプラスマイナス40%の変動を含む。
、キャリア密度が1×1017個/cm3以下、好ましくは1×1015個/cm3以下
、さらに好ましくは1×1013個/cm3以下、より好ましくは1×1011個/cm
3以下、さらに好ましくは1×1010個/cm3未満であり、1×10-9個/cm3
以上のキャリア密度の酸化物半導体を用いることができる。そのような酸化物半導体を、
高純度真性または実質的に高純度真性な酸化物半導体と呼ぶ。これにより不純物濃度が低
く、欠陥準位密度が低いため、安定な特性を有する酸化物半導体であるといえる。
果移動度、しきい値電圧等)に応じて適切な組成のものを用いればよい。また、必要とす
るトランジスタの半導体特性を得るために、半導体層のキャリア密度や不純物濃度、欠陥
密度、金属元素と酸素の原子数比、原子間距離、密度等を適切なものとすることが好まし
い。
において酸素欠損が増加し、n型化してしまう。このため、半導体層におけるシリコンや
炭素の濃度(二次イオン質量分析法(SIMS:Secondary Ion Mass
Spectrometry)により得られる濃度)を、2×1018atoms/cm
3以下、好ましくは2×1017atoms/cm3以下とする。
成する場合があり、トランジスタのオフ電流が増大してしまうことがある。このため、半
導体層において、二次イオン質量分析法により得られるアルカリ金属またはアルカリ土類
金属の濃度を、1×1018atoms/cm3以下、好ましくは2×1016atom
s/cm3以下にする。
増加し、n型化しやすい。この結果、窒素が含まれている酸化物半導体を用いたトランジ
スタはノーマリーオン特性となりやすい。このため例えば、二次イオン質量分析法により
得られる窒素濃度は、5×1018atoms/cm3以下にすることが好ましい。
-OS(C Axis Aligned-Crystalline Oxide Sem
iconductor)、多結晶構造、微結晶構造、または非晶質構造を含む。非単結晶
構造において、非晶質構造は最も欠陥準位密度が高く、CAAC-OSは最も欠陥準位密
度が低い。
子配列が無秩序であり、結晶成分を有さない。または、非晶質構造の酸化物膜は、例えば
、完全な非晶質構造であり、結晶部を有さない。
C-OSの領域、単結晶構造の領域のいずれか二種以上を有する混合膜であってもよい。
混合膜は、例えば、非晶質構造の領域、微結晶構造の領域、多結晶構造の領域、CAAC
-OSの領域、単結晶構造の領域のいずれか二種以上の領域を有する場合がある。また、
混合膜は、例えば、非晶質構造の領域、微結晶構造の領域、多結晶構造の領域、CAAC
-OSの領域、単結晶構造の領域のいずれか二種以上の領域の積層構造を有する場合があ
る。
しい。シリコンとしてアモルファスシリコンを用いてもよいが、特に結晶性を有するシリ
コンを用いることが好ましい。例えば、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコ
ンなどを用いることが好ましい。特に、多結晶シリコンは、単結晶シリコンに比べて低温
で形成でき、且つアモルファスシリコンに比べて高い電界効果移動度と高い信頼性を備え
る。このような多結晶半導体を画素に適用することで画素の開口率を向上させることがで
きる。また表示パネルが極めて高精細な場合であっても、ゲート駆動回路とソース駆動回
路を画素と同一基板上に形成することが可能となり、電子機器を構成する部品数を低減す
ることができる。
トランジスタのゲート、ソースおよびドレインのほか、タッチパネルを構成する各種配
線および電極などの導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、
クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、また
はタングステンなどの金属、またはこれを主成分とする合金などが挙げられる。またこれ
らの材料を含む膜を単層で、または積層構造として用いることができる。例えば、シリコ
ンを含むアルミニウム膜の単層構造、チタン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、
タングステン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、銅-マグネシウム-アルミニウ
ム合金膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜上に銅膜を積層する二層構造、タングス
テン膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜または窒化チタン膜と、その上に重ねてア
ルミニウム膜または銅膜を積層し、さらにその上にチタン膜または窒化チタン膜を形成す
る三層構造、モリブデン膜または窒化モリブデン膜と、その上に重ねてアルミニウム膜ま
たは銅膜を積層し、さらにその上にモリブデン膜または窒化モリブデン膜を形成する三層
構造等がある。なお、酸化インジウム、酸化錫または酸化亜鉛等の酸化物を用いてもよい
。また、マンガンを含む銅を用いると、エッチングによる形状の制御性が高まるため好ま
しい。
ンジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などの導電性酸化物または
グラフェンを用いることができる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タ
ングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、またはチタンなどの
金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。または、該金属材料の窒
化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそ
れらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材
料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とイン
ジウムスズ酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。
とき導電層が、半導体層のチャネルが形成される領域よりも低い電気抵抗を呈するように
、形成されていることが好ましい。
極として機能する導電層223などに適用することができる。または、透光性を有する他
の導電層にも適用することができる。
半導体層及び導電層に用いることのできる酸化物半導体膜は、膜中の酸素欠損及び/又
は膜中の水素、水等の不純物濃度によって、抵抗率を制御することができる半導体材料で
ある。そのため、半導体層及び導電層へ酸素欠損及び/又は不純物濃度が増加する処理、
または酸素欠損及び/又は不純物濃度が低減する処理を選択することによって、それぞれ
の酸化物半導体膜の抵抗率を制御することができる。
膜中の酸素欠損を増加させる、および/または酸化物半導体の膜中の水素、水等の不純物
を増加させることによって、キャリア密度が高く、抵抗率が低い酸化物半導体膜とするこ
とができる。また、酸化物半導体膜に水素を含む絶縁膜を接して形成し、該水素を含む絶
縁膜から酸化物半導体膜に水素を拡散させることによって、キャリア密度が高く、抵抗率
が低い酸化物半導体膜とすることができる。
しない構成とする。半導体層と接する絶縁膜の少なくとも一つに酸素を含む絶縁膜、別言
すると、酸素を放出することが可能な絶縁膜を適用することで、半導体層に酸素を供給す
ることができる。酸素が供給された半導体層は、膜中または界面の酸素欠損が補填され抵
抗率が高い酸化物半導体膜となる。なお、酸素を放出することが可能な絶縁膜としては、
例えば、酸化シリコン膜、または酸化窒化シリコン膜を用いることができる。
、プラズマイマージョンイオンインプランテーション法などを用いて、水素、ボロン、リ
ン、または窒素を酸化物半導体膜に注入してもよい。
行ってもよい。例えば、該プラズマ処理としては、代表的には、希ガス(He、Ne、A
r、Kr、Xe)、水素、及び窒素の中から選ばれた一種以上を含むガスを用いたプラズ
マ処理が挙げられる。より具体的には、Ar雰囲気下でのプラズマ処理、Arと水素の混
合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、アンモニア雰囲気下でのプラズマ処理、Arとアンモ
ニアの混合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、または窒素雰囲気下でのプラズマ処理などが
挙げられる。
離した部分)に酸素欠損を形成する。該酸素欠損は、キャリアを発生する要因になる場合
がある。また、酸化物半導体膜の近傍、より具体的には、酸化物半導体膜の下側または上
側に接する絶縁膜から水素が供給されると、上記酸素欠損と水素が結合することで、キャ
リアである電子を生成する場合がある。
又は実質的に高純度真性化された酸化物半導体膜といえる。ここで、実質的に真性とは、
酸化物半導体膜のキャリア密度が、8×1011個/cm3未満、好ましくは1×101
1/cm3未満、さらに好ましくは1×1010個/cm3未満であることを指す。高純
度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜は、キャリア発生源が少ないため
、キャリア密度を低くすることができる。また、高純度真性または実質的に高純度真性で
ある酸化物半導体膜は、欠陥準位密度が低いため、トラップ準位密度を低減することがで
きる。
く小さく、チャネル幅が1×106μmでチャネル長が10μmの素子であっても、ソー
ス電極とドレイン電極間の電圧(ドレイン電圧)が1Vから10Vの範囲において、オフ
電流が、半導体パラメータアナライザの測定限界以下、すなわち1×10-13A以下と
いう特性を得ることができる。したがって、上述した高純度真性または実質的に高純度真
性である酸化物半導体膜を用いる半導体層をチャネル領域に用いるトランジスタは、電気
特性の変動が小さく、信頼性の高いトランジスタとなる。
、別言すると水素を放出することが可能な絶縁膜、代表的には窒化シリコン膜を用いるこ
とで、導電層に水素を供給することができる。水素を放出することが可能な絶縁膜として
は、膜中の含有水素濃度が1×1022atoms/cm3以上であると好ましい。この
ような絶縁膜を導電層に接して形成することで、導電層に効果的に水素を含有させること
ができる。このように、半導体層及び導電層に接する絶縁膜の構成を変えることによって
、酸化物半導体膜の抵抗率を制御することができる。
、酸素が脱離した格子(または酸素が脱離した部分)に酸素欠損を形成する。該酸素欠損
に水素が入ることで、キャリアである電子が生成される場合がある。また、水素の一部が
金属原子と結合する酸素と結合することで、キャリアである電子を生成する場合がある。
したがって、水素が含まれている絶縁膜と接して設けられた導電層は、半導体層よりもキ
ャリア密度の高い酸化物半導体膜となる。
ることが好ましい。具体的には、半導体層において、二次イオン質量分析法により得られ
る水素濃度を、2×1020atoms/cm3以下、好ましくは5×1019atom
s/cm3以下、より好ましくは1×1019atoms/cm3以下、5×1018a
toms/cm3未満、好ましくは1×1018atoms/cm3以下、より好ましく
は5×1017atoms/cm3以下、さらに好ましくは1×1016atoms/c
m3以下とする。
酸化物半導体膜である。導電層に含まれる水素濃度は、8×1019atoms/cm3
以上、好ましくは1×1020atoms/cm3以上、より好ましくは5×1020a
toms/cm3以上である。また、半導体層と比較して、導電層に含まれる水素濃度は
2倍以上、好ましくは10倍以上である。また、導電層の抵抗率が、半導体層の抵抗率の
1×10-8倍以上1×10-1倍未満であることが好ましく、代表的には1×10-3
Ωcm以上1×104Ωcm未満、さらに好ましくは、抵抗率が1×10-3Ωcm以上
1×10-1Ωcm未満であるとよい。
各絶縁層、オーバーコート、スペーサ等に用いることのできる絶縁材料としては、例え
ば、アクリル、エポキシなどの樹脂、シロキサン結合を有する樹脂の他、酸化シリコン、
酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁
材料を用いることもできる。
接着層としては、熱硬化樹脂や光硬化樹脂、2液混合型の硬化性樹脂などの硬化性樹脂
を用いることができる。例えば、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、またはシ
リコーンなどのシロキサン結合を有する樹脂などを用いることができる。
接続層としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Condu
ctive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic C
onductive Paste)などを用いることができる。
着色層に用いることのできる材料としては、金属材料、樹脂材料、顔料または染料が含
まれた樹脂材料などが挙げられる。
続いて、本発明の一態様のタッチパネルモジュール10に適用することのできるタッチ
センサ22の構成の例について、図面を参照して説明する。
た図14(B)は、図14(A)中の一点鎖線で囲った領域を拡大した上面概略図である
。
さくなるようにくびれた形状を有することが好ましい。こうすることで、容量素子11の
容量値を小さくすることが可能となる。例えば自己容量方式のタッチセンサの場合には、
容量素子11の容量値は小さいほど検出感度を向上させることができる。
層26を有していてもよい。導電層26を有することにより、タッチセンサ22の厚さの
薄い部分が形成されてしまうことを抑制できる。例えば導電層23と導電層24とを同一
面上に形成する場合には、同様に形成された導電層26を設けることにより、これら導電
層の形成工程よりも後に形成する薄膜の被覆性を高め、表面を平坦化することができる。
また、タッチセンサ22の厚さが均一化されることで、これを透過する画素からの光の輝
度ムラが低減され、表示品位の高められたタッチパネルを実現することができる。
25を設けない場合について示している。このとき、導電層26は導電層23または導電
層24のいずれか一方と同一平面上に形成してもよいし、異なる平面上に形成してもよい
。なお、導電層26を設ける必要のない場合には、設けなくてもよい。
略図である。
幅が導電層24の幅よりも大きくなっている。
に配置した場合、導電層23の抵抗値の増大を防ぐために、図15に示すように導電層2
3の幅を導電層24よりも大きくすることは特に効果的である。
ように、導電層25によりブリッジする構成とした場合、導電層23と導電層25の間の
接触抵抗が、検出感度に影響する場合がある。そのため、ブリッジ構造を有する導電層側
の幅を大きくすることは特に効果的である。なお、このとき、導電層23は表示部の短辺
方向に平行に配置される導電層であってもよい。
路図の一例を示している。図16(A)では、簡単のために6本の導電層23と、6本の
導電層24とを有する構成を示しているが、その数に限られない。
る。したがって、容量素子11がマトリクス状に配置されている。
るように与えられ、その時に自己に流れる電流の値を検知する。被検知体が近づいた場合
には当該電流の大きさが変化するため、この差を検知することで被検知体の位置情報を取
得することができる。また投影型相互容量方式の場合には、導電層23または導電層24
のいずれか一方にパルス電圧を走査するように与えられ、他方に流れる電流を検知するこ
とにより、被検知体の位置情報を取得する。
シュ状)の形状を有することが好ましい。図16(B)には、導電層23の一部の上面形
状の例を示している。
状の形状を有する。図16(B)では、間隔P1と間隔P2とが同程度である場合を示し
ているが、これらは異なる間隔で配置されていてもよい。例えば、図16(C)に示すよ
うに横方向の間隔P1よりも縦方向の間隔P2を大きくしてもよいし、その逆としてもよ
い。なお導電層24についても同様である。
層24の開口面積の割合)が、例えば20%以上100%未満、好ましくは30%以上1
00%未満、より好ましくは50%以上100%未満である領域を有することが好ましい
。
きる。または、図16(B)に示す周期単位の領域Rにおいて、領域Rの面積と、領域R
に含まれる導電層23の面積の比によって、開口率を算出することができる。ここで領域
Rは、周期性を有する導電層23のパターンの周期単位となる領域であり、これを縦及び
横方向に周期的に配列させることで導電層23のパターンを形成することができる。
以上100μm以下、好ましくは1μm以上50μm以下、より好ましくは1μm以上2
0μm以下とすることが好ましい、このように、格子を構成するパターン幅を小さくする
ことで、後述するように開口と画素とを重ねる場合に、画素の間隔を狭めることが可能と
なるため、より高い精細度と高い開口率を有するタッチパネルを実現できる。
る。
を有していることが好ましい。すなわち、導電層23及び導電層24は、それぞれ複数の
開口(開口23a及び開口24a)を有する形状とすることが好ましい。後述するように
、当該開口と画素とが重なるように設けることにより、画素が有する表示素子からの光を
導電層23及び導電層24によって遮光される、若しくは導電層23及び導電層24を透
過して輝度が低下してしまうことがない。その結果、画素の開口率や光取り出し効率を犠
牲にすることなく、タッチパネルにタッチセンサ22を適用することができる。また同様
に導電層25も画素と重ならないような形状とすることが好ましい。
4の一部とに囲まれた開口22aが形成されるような形状としてもよい。このような構成
とすることで、導電層23と導電層24との距離を限りなく小さくすることが可能で、こ
れらの容量を大きくすることができる。特に、相互容量方式を採用する際には、2つの導
電層の距離を小さくし、これらの間の容量を高めることが好ましい。
では隣接する2つの導電層24を導電層25によって電気的に接続した例を示している。
導電層23及び導電層24と、導電層25との間には、図示しない絶縁層121が設けら
れている。また、導電層24と導電層25とは、当該絶縁層121に設けられた開口を介
して電気的に接続している。導電層23と導電層25とは、当該絶縁層121を介して互
いに重なる領域を有する。
)は、このときの導電層27及び導電層25を破線で示した図である。
部に導電層25が位置している構成とすることができる。こうすることで、導電層27と
導電層25とを同一の導電膜を加工して形成することができる。
27と導電層25とが重なっていてもよい。
23と、導電層24の交差部近傍の上面概略図を示している。導電層24は導電層25に
よりブリッジされている。また、図19(B)は、導電層25及び導電層27を破線で示
した図である。
る例を示している。複数の導電層27は、表示部の外周部(例えば回路34と重なる部分
など)でそれぞれ電気的に接続され、同じ電位を供給可能な構成とすることが好ましい。
導電層27は、表示素子と重なる部分は幅が太く、導電層23と重なる部分は幅が細くな
るように、くびれた形状を有している。導電層27と導電層23の重なる面積を小さくす
ることで、導電層23の寄生容量を低減できる。
図20の各図は、表示面側から見たときの画素及び画素に含まれる副画素と、導電層2
3の位置関係を示す概略図である。なお、ここでは導電層23を例に挙げて説明するが、
導電層24及び導電層25についても、同様の構成とすることができる。
副画素から構成されている例を示している。例えば、副画素33Rは赤色を表示し、副画
素33Gは緑色を表示し、副画素33Bは青色を表示する機能を有していればよい。なお
、画素33が有する副画素の数、及び副画素の色の種類はこれに限られない。
上述した液晶素子を用いることができる。そのほかにも、例えば有機EL素子などの発光
素子、透過型、半透過型または反射型の液晶素子、電気泳動方式や電子粉流体(登録商標
)方式などにより表示を行う表示素子(電子インクともいう)、シャッター方式のMEM
S表示素子、光干渉方式のMEMS表示素子等が挙げられる。また副画素は、当該表示素
子に加えて、トランジスタや容量素子、及びこれらを電気的に接続する配線などを有して
いてもよい。
副画素33G及び副画素33Bの3つの副画素のいずれかと互いに重なるように配置され
ている。このように、導電層23の開口は、一つの副画素と重なるように配置されている
ことが好ましい。
する構成を示している。図20(B)に示すように、隣接する同じ色を呈する2つの副画
素の間では混色の問題が生じないため、ここに導電層23が設けられていない部分を有す
る構成としてもよい。
らに副画素33Yを有している場合の例を示している。副画素33Yは、例えば黄色を表
示することができる画素を適用することができる。なお、副画素33Yに代えて、白色を
表示することのできる画素を適用することもできる。このように3色よりも多くの副画素
を備える画素33とすることで、消費電力を低減できる。
例えば図20(E)に示すように、一方向に2色の副画素が交互に配置される構成として
もよい。
の副画素で異なっていてもよい。例えば視感度の比較的低い青を示す副画素を大きく、ま
た視感度の比較的高い緑または赤を示す副画素を小さくすることもできる。
画素33Bの大きさを、他の副画素よりも大きくした場合の例を示している。ここでは副
画素33Rと副画素33Gとが交互に配列する例を示しているが、図20(A)等に示す
ように3つの副画素のそれぞれをストライプ状に配置し、各々の大きさを異ならせた構成
とすることもできる。
電層24及び導電層25についても同様である。すなわち、本発明の一態様のタッチパネ
ルは、導電層23の開口23aと、1以上の副画素とが互いに重なる領域を有し、且つ、
導電層24の開口24aと、他の1以上の副画素とが互いに重なる領域を有する。また上
述のように各副画素は表示素子を有しているため、開口23a及び開口24aは、それぞ
れ一以上の表示素子と互いに重なる領域を有するともいえる。
み合わせて実施することができる。
本実施の形態では、本発明の一態様の入力装置、または入出力装置の駆動方法の例につ
いて、図面を参照して説明する。
図21(A)は、相互容量方式のタッチセンサの構成を示すブロック図である。図21
(A)では、パルス電圧出力回路601、電流検知回路602を示している。なお図21
(A)では、パルス電圧が与えられる電極621、電流の変化を検知する電極622をそ
れぞれ、X1-X6、Y1-Y6のそれぞれ6本の配線として示している。また図21(
A)は、電極621および電極622が重畳することで形成される容量603を図示して
いる。なお、電極621と電極622とはその機能を互いに置き換えてもよい。
路である。X1-X6の配線にパルス電圧が印加されることで、容量603を形成する電
極621および電極622は電界が生じる。この電極間に生じる電界が遮蔽等により容量
603の容量に変化を生じさせることを利用して、被検知体の接近、または接触を検出す
ることができる。
の変化を検知するための回路である。Y1-Y6の配線では、被検知体の接近、または接
触がないと検知される電流値に変化はないが、検出する被検知体の接近、または接触によ
り容量が減少する場合には電流値が減少する変化を検知する。なお電流の検知は、積分回
路等を用いて行えばよい。
出力波形のタイミングチャートを示す。図21(B)では、1フレーム期間で各行列での
被検知体の検出を行うものとする。また図21(B)では、被検知体を検出しない場合(
非タッチ)と被検知体を検出する場合(タッチ)との2つの場合について示している。な
おY1-Y6の配線については、検知される電流値に対応する電圧値とした波形を示して
いる。
Y6の配線での波形が変化する。被検知体の接近または接触がない場合には、X1-X6
の配線の電圧の変化に応じてY1-Y6の波形が一様に変化する。一方、被検知体が接近
または接触する箇所では、電流値が減少するため、これに対応する電圧値の波形も変化す
る。
ことができる。
態でタッチパネルに実装される、若しくは電子機器の筐体内の基板に実装されることが好
ましい。また可撓性を有するタッチパネルとする場合には、曲げた部分では寄生容量が増
大し、ノイズの影響が大きくなってしまう恐れがあるため、ノイズの影響を受けにくい駆
動方法が適用されたICを用いることが好ましい。例えばシグナル-ノイズ比(S/N比
)を高める駆動方法が適用されたICを用いることが好ましい。
ッシブマトリクス型のタッチセンサの構成を示したが、トランジスタと容量とを備えたア
クティブマトリクス型のタッチセンサとしてもよい。図22にアクティブマトリクス型の
タッチセンサに含まれる一つのセンサ回路の例を示している。
スタ613とを有する。トランジスタ613はゲートに信号G2が与えられ、ソース又は
ドレインの一方に電圧VRESが与えられ、他方が容量603の一方の電極およびトラン
ジスタ611のゲートと電気的に接続する。トランジスタ611はソース又はドレインの
一方がトランジスタ612のソース又はドレインの一方と電気的に接続し、他方に電圧V
SSが与えられる。トランジスタ612はゲートに信号G1が与えられ、ソース又はドレ
インの他方が配線MLと電気的に接続する。容量603の他方の電極には電圧VSSが与
えられる。
をオン状態とする電位が与えられることで、トランジスタ611のゲートが接続されるノ
ードnに電圧VRESに対応した電位が与えられる。次いで信号G2としてトランジスタ
613をオフ状態とする電位が与えられることで、ノードnの電位が保持される。
伴い、ノードnの電位がVRESから変化する。
ドnの電位に応じてトランジスタ611に流れる電流、すなわち配線MLに流れる電流が
変化する。この電流を検知することにより、被検知体の接近または接触を検出することが
できる。
形成される半導体層に酸化物半導体を適用したトランジスタを用いることが好ましい。特
にトランジスタ613にこのようなトランジスタを適用することにより、ノードnの電位
を長期間に亘って保持することが可能となり、ノードnにVRESを供給しなおす動作(
リフレッシュ動作)の頻度を減らすことができる。
上記では、タッチセンサを構成する電極を、表示素子等が設けられる基板とは異なる基
板上に形成した場合を示したが、表示素子等が設けられる基板上に、タッチセンサを構成
する一対の電極のいずれか一方、または両方を設ける構成としてもよい。
例について説明する。ここでは、画素に設けられる表示素子として、液晶素子を適用した
例を示す。
部における等価回路図である。
ンジスタ3503のゲートに配線3501が、ソースまたはドレインの一方には配線35
02が、それぞれ電気的に接続されている。
_2)と、Y方向に延在する複数の配線(例えば、配線3511)を有し、これらは互い
に交差して設けられ、その間に容量が形成される。
けられる液晶素子の一方の電極が電気的に接続され、一つのブロックを形成する。当該ブ
ロックは、島状のブロック(例えば、ブロック3515_1、ブロック3515_2)と
、Y方向に延在するライン状のブロック(例えば、ブロック3516)の、2種類に分類
される。なお、図23では、画素回路の一部のみを示しているが、実際にはこれら2種類
のブロックがX方向及びY方向に繰り返し配置される。
5_1(またはブロック3515_2)と電気的に接続される。なお、図示しないが、X
方向に延在する配線3510_1は、ライン状のブロックを介してX方向に沿って不連続
に配置される複数の島状のブロック3515_1を電気的に接続する。また、Y方向に延
在する配線3511は、ライン状のブロック3516と電気的に接続される。
線3511の接続構成を示した等価回路図である。X方向に延在する配線3510の各々
には、入力電圧または共通電位を入力することができる。また、Y方向に延在する配線3
511の各々には接地電位を入力する、または配線3511と検知回路と電気的に接続す
ることができる。
への画像データの書き込みを行う期間であり、図23(A)で示した配線3501(ゲー
ト線、または走査線ともいう)が順次選択される。一方、検知期間は、タッチセンサによ
るセンシングを行う期間であり、X方向に延在する配線3510が順次選択され、入力電
圧が入力される。
に延在する配線3510と、Y方向に延在する配線3511の両方に、共通電位が入力さ
れる。
向に延在する配線3511の各々は、検知回路と電気的に接続する。また、X方向に延在
する配線3510のうち、選択されたものには入力電圧が入力され、それ以外のものには
共通電位が入力される。
ルにも適用することができ、上記駆動方法例で示した方法と組み合わせて用いることがで
きる。
立して設けることが好ましい。これにより、画素の書き込み時のノイズに起因するタッチ
センサの感度の低下を抑制することができる。
み合わせて実施することができる。
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置、または表示システムを有する表示モジ
ュール及び電子機器について、図25及び図26を用いて説明を行う。
の間に、FPC8003に接続されたタッチパネル8004、フレーム8009、プリン
ト基板8010、バッテリ8011を有する。
ことができる。
せて、形状や寸法を適宜変更することができる。
に重畳して用いることができる。また、タッチパネル8004の対向基板(封止基板)に
、タッチパネル機能を持たせるようにすることも可能である。また、タッチパネル800
4の各画素内に光センサを設け、光学式のタッチパネルとすることも可能である。
を設けてもよい。バックライト8007は、光源8008を有する。なお、図25におい
て、バックライト8007上に光源8008を配置する構成について例示したが、これに
限定さない。例えば、バックライト8007の端部に光源8008を配置し、さらに光拡
散板を用いる構成としてもよい。なお、有機EL素子等の自発光型の発光素子を用いる場
合、または反射型パネル等の場合においては、バックライト8007を設けない構成とし
てもよい。
作により発生する電磁波を遮断するための電磁シールドとしての機能を有する。またフレ
ーム8009は、放熱板としての機能を有していてもよい。
号処理回路を有する。電源回路に電力を供給する電源としては、外部の商用電源であって
も良いし、別途設けたバッテリ8011による電源であってもよい。バッテリ8011は
、商用電源を用いる場合には、省略可能である。
して設けてもよい。
体5000、表示部5001、スピーカ5003、LEDランプ5004、操作キー50
05(電源スイッチ、又は操作スイッチを含む)、接続端子5006、センサ5007(
力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質
、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、にお
い又は赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン5008、等を有することが
できる。
、赤外線ポート5010、等を有することができる。図26(B)は記録媒体を備えた携
帯型の画像再生装置(たとえば、DVD再生装置)であり、上述したものの他に、第2表
示部5002、記録媒体読込部5011、等を有することができる。図26(C)はゴー
グル型ディスプレイであり、上述したものの他に、第2表示部5002、支持部5012
、イヤホン5013、等を有することができる。図26(D)は携帯型遊技機であり、上
述したものの他に、記録媒体読込部5011、等を有することができる。図26(E)は
テレビ受像機能付きデジタルカメラであり、上述したものの他に、アンテナ5014、シ
ャッターボタン5015、撮像部5016、等を有することができる。図26(F)は携
帯型遊技機であり、上述したものの他に、第2表示部5002、記録媒体読込部5011
、等を有することができる。図26(G)は持ち運び型テレビ受像器であり、上述したも
のの他に、信号の送受信が可能な充電器5017、等を有することができる。図26(H
)は腕時計型情報端末であり、上述したもののほかに、バンド5018、留め金5019
、等を有することができる。ベゼル部分を兼ねる筐体5000に搭載された表示部500
1は、非矩形状の表示領域を有している。表示部5001は、時刻を表すアイコン502
0、その他のアイコン5021等を表示することができる。
例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッ
チパネル機能、カレンダー、日付又は時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プ
ログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコ
ンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信又は
受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラム又はデータを読み出して表示部に
表示する機能、等を有することができる。さらに、複数の表示部を有する電子機器におい
ては、一つの表示部を主として画像情報を表示し、別の一つの表示部を主として文字情報
を表示する機能、または、複数の表示部に視差を考慮した画像を表示することで立体的な
画像を表示する機能、等を有することができる。さらに、撮像部を有する電子機器におい
ては、静止画を撮影する機能、動画を撮影する機能、撮影した画像を自動または手動で補
正する機能、撮影した画像を記録媒体(外部又はカメラに内蔵)に保存する機能、撮影し
た画像を表示部に表示する機能、等を有することができる。なお、図26(A)乃至図2
6(H)に示す電子機器が有することのできる機能はこれらに限定されず、様々な機能を
有することができる。
ることを特徴とする。該表示部に、上記実施の形態で示した表示装置を適用することがで
きる。
み合わせて実施することができる。
11 容量素子
21 基板
22 タッチセンサ
22a 開口
23a 開口
24a 開口
23 導電層
24 導電層
25 導電層
26 導電層
27 導電層
29 配線
31 基板
32 表示部
33 画素
33B 副画素
33G 副画素
33R 副画素
33Y 副画素
34 回路
35 配線
41 FPC
42 FPC
60 表示素子
101 接続部
115 遮光層
121 絶縁層
122 絶縁層
123 絶縁層
124 スペーサ
126 絶縁層
127 絶縁層
131B 着色層
131R 着色層
141 接着層
151 導電層
152 液晶
153 導電層
201 トランジスタ
202 トランジスタ
203 容量素子
204 接続部
211 絶縁層
212 絶縁層
213 絶縁層
214 絶縁層
215 絶縁層
221 導電層
222 導電層
223 導電層
231 半導体層
241 接続層
242 接続層
300 バッファ層
301 トランジスタ
302 トランジスタ
601 パルス電圧出力回路
602 電流検知回路
603 容量
611 トランジスタ
612 トランジスタ
613 トランジスタ
621 電極
622 電極
3501 配線
3502 配線
3503 トランジスタ
3504 液晶素子
3510 配線
3510_1 配線
3510_2 配線
3511 配線
3515_1 ブロック
3515_2 ブロック
3516 ブロック
5000 筐体
5001 表示部
5002 表示部
5003 スピーカ
5004 LEDランプ
5005 操作キー
5006 接続端子
5007 センサ
5008 マイクロフォン
5009 スイッチ
5010 赤外線ポート
5011 記録媒体読込部
5012 支持部
5013 イヤホン
5014 アンテナ
5015 シャッターボタン
5016 撮像部
5017 充電器
5018 バンド
5019 留め金
5020 アイコン
5021 アイコン
8000 表示モジュール
8001 上部カバー
8002 下部カバー
8003 FPC
8004 タッチパネル
8006 表示パネル
8007 バックライト
8008 光源
8009 フレーム
8010 プリント基板
8011 バッテリ
Claims (4)
- 第1の基板と、
前記第1の基板と対向する第2の基板と、
前記第2の基板の前記第1の基板と対向する面側に設けられた、第1の導電層と、第2の導電層と、第3の導電層と、第4の導電層と、第5の導電層と、第6の導電層と、第7の導電層と、第8の導電層と、第9の導電層と、絶縁層と、
前記第1の基板の前記第2の基板と対向する面側に設けられた、表示素子を駆動するトランジスタと、
を有するタッチパネル機能を有する表示装置であって、
前記トランジスタは酸化物半導体層にチャネル形成領域を有し、
前記第1の導電層、前記第2の導電層、前記第3の導電層、前記第6の導電層、前記第7の導電層、前記第8の導電層、及び、前記第9の導電層は、同一の絶縁表面上に接して設けられ、
平面視において、前記第1の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第2の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間に、前記第6の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間に、前記第7の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第8の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第9の導電層が位置し、
前記第1の導電層と前記第4の導電層とは電気的に接続され、
前記第3の導電層と前記第4の導電層とは電気的に接続され、
前記第2の導電層は、前記絶縁層を介して前記第4の導電層と重なる領域を有し、
前記第6の導電層は、前記第1の導電層と電気的に絶縁され、
前記第6の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第7の導電層は、前記第1の導電層と電気的に絶縁され、
前記第7の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第8の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第8の導電層は、前記第3の導電層と電気的に絶縁され、
前記第9の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第9の導電層は、前記第3の導電層と電気的に絶縁され、
前記第1の導電層は、複数の開口を有するメッシュ状の形状を有し、
前記開口と前記表示素子、前記第5の導電層とは、互いに重なる領域を有し、
前記第1の導電層と前記表示素子との間に、前記第5の導電層が位置し、
前記第5の導電層は、可視光を透過する機能を有する、表示装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板と対向する第2の基板と、
前記第2の基板の前記第1の基板と対向する面側に設けられた、第1の導電層と、第2の導電層と、第3の導電層と、第4の導電層と、第5の導電層と、第6の導電層と、第7の導電層と、第8の導電層と、絶縁層と、
前記第1の基板の前記第2の基板と対向する面側に設けられた、表示素子を駆動するトランジスタと、
を有するタッチパネル機能を有する表示装置であって、
前記トランジスタは酸化物半導体層にチャネル形成領域を有し、
前記第1の導電層、前記第2の導電層、前記第3の導電層、前記第5の導電層、前記第6の導電層、前記第7の導電層、及び、前記第8の導電層は、同一の絶縁表面上に接して設けられ、
平面視において、前記第1の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第2の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間に、前記第5の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間に、前記第6の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第7の導電層が位置し、
平面視において、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間に、前記第8の導電層が位置し、
前記第1の導電層と前記第4の導電層とは電気的に接続され、
前記第3の導電層と前記第4の導電層とは電気的に接続され、
前記第2の導電層は、前記絶縁層を介して前記第4の導電層と重なる領域を有し、
前記第5の導電層は、前記第1の導電層と電気的に絶縁され、
前記第5の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第6の導電層は、前記第1の導電層と電気的に絶縁され、
前記第6の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第7の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第7の導電層は、前記第3の導電層と電気的に絶縁され、
前記第8の導電層は、前記第2の導電層と電気的に絶縁され、
前記第8の導電層は、前記第3の導電層と電気的に絶縁される、表示装置。 - 請求項1において、
平面視において、前記第6の導電層は、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第7の導電層は、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第8の導電層は、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第9の導電層は、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間隙を埋めるように配置される、表示装置。 - 請求項2において、
平面視において、前記第5の導電層は、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第6の導電層は、前記第2の導電層と前記第1の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第7の導電層は、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間隙を埋めるように配置され、
平面視において、前記第8の導電層は、前記第2の導電層と前記第3の導電層との間隙を埋めるように配置される、表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023171927A JP2023181186A (ja) | 2015-03-17 | 2023-10-03 | タッチパネル |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015053661 | 2015-03-17 | ||
JP2015053765 | 2015-03-17 | ||
JP2015053661 | 2015-03-17 | ||
JP2015053765 | 2015-03-17 | ||
JP2020188512A JP2021028838A (ja) | 2015-03-17 | 2020-11-12 | 表示装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020188512A Division JP2021028838A (ja) | 2015-03-17 | 2020-11-12 | 表示装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023171927A Division JP2023181186A (ja) | 2015-03-17 | 2023-10-03 | タッチパネル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022109287A true JP2022109287A (ja) | 2022-07-27 |
Family
ID=56918435
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016046738A Active JP6795312B2 (ja) | 2015-03-17 | 2016-03-10 | 表示装置 |
JP2020188512A Withdrawn JP2021028838A (ja) | 2015-03-17 | 2020-11-12 | 表示装置 |
JP2022075574A Withdrawn JP2022109287A (ja) | 2015-03-17 | 2022-04-29 | 表示装置 |
JP2023171927A Pending JP2023181186A (ja) | 2015-03-17 | 2023-10-03 | タッチパネル |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016046738A Active JP6795312B2 (ja) | 2015-03-17 | 2016-03-10 | 表示装置 |
JP2020188512A Withdrawn JP2021028838A (ja) | 2015-03-17 | 2020-11-12 | 表示装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023171927A Pending JP2023181186A (ja) | 2015-03-17 | 2023-10-03 | タッチパネル |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10168809B2 (ja) |
JP (4) | JP6795312B2 (ja) |
KR (1) | KR102560862B1 (ja) |
CN (2) | CN107430461B (ja) |
TW (1) | TWI735430B (ja) |
WO (1) | WO2016147074A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6765199B2 (ja) | 2015-03-17 | 2020-10-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | タッチパネル |
KR20160114510A (ko) * | 2015-03-24 | 2016-10-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 터치 패널 |
DE102016206922A1 (de) | 2015-05-08 | 2016-11-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Touchscreen |
US10684500B2 (en) | 2015-05-27 | 2020-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Touch panel |
KR20180012285A (ko) | 2015-05-28 | 2018-02-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 터치 패널 |
US10133428B2 (en) * | 2015-05-29 | 2018-11-20 | Samsung Display Co., Ltd. | Flexible display device including a flexible substrate having a bending part and a conductive pattern at least partially disposed on the bending part |
KR102619052B1 (ko) | 2015-06-15 | 2023-12-29 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 |
KR102412096B1 (ko) * | 2015-08-20 | 2022-06-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 터치 패널, 이를 포함하는 표시 장치, 및 터치 패널 제조 방법 |
US9852926B2 (en) | 2015-10-20 | 2017-12-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method for semiconductor device |
US10268884B2 (en) * | 2016-01-29 | 2019-04-23 | Synaptics Incorporated | Optical fingerprint sensor under a display |
TWI792916B (zh) | 2016-06-24 | 2023-02-11 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 顯示裝置、電子裝置 |
KR102365490B1 (ko) | 2016-07-13 | 2022-02-18 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 입출력 패널, 입출력 장치, 반도체 장치 |
KR102608954B1 (ko) * | 2016-09-30 | 2023-12-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
JP2018060096A (ja) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
CN107919092A (zh) * | 2016-10-10 | 2018-04-17 | 群创光电股份有限公司 | 显示装置 |
US10692312B1 (en) * | 2016-11-10 | 2020-06-23 | Amazon Technologies, Inc. | User authentication with portable device and smart floor |
JP6785627B2 (ja) * | 2016-11-29 | 2020-11-18 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
TWI748063B (zh) * | 2017-03-06 | 2021-12-01 | 南韓商東友精細化工有限公司 | 電極連接結構、觸控感測器和影像顯示裝置 |
JP2019040407A (ja) * | 2017-08-25 | 2019-03-14 | ホシデン株式会社 | 樹脂積層体およびこれを備えたタッチ入力装置 |
CN107783699B (zh) * | 2017-10-16 | 2021-05-04 | 业成科技(成都)有限公司 | 触控面板结构与其制造方法 |
KR102573313B1 (ko) * | 2018-12-28 | 2023-08-31 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액츄에이터 및 이를 포함하는 햅틱 표시장치 |
CN109728049B (zh) * | 2019-01-02 | 2020-12-22 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
US11681327B2 (en) | 2020-06-11 | 2023-06-20 | Apple Inc. | Electronic device |
CN111708458A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-09-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示面板及显示装置 |
CN113872412B (zh) * | 2021-09-27 | 2022-10-18 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板和显示装置 |
CN114442858B (zh) * | 2022-02-25 | 2024-04-05 | 武汉天马微电子有限公司 | 一种触控显示面板和触控显示装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013018591A1 (ja) * | 2011-07-29 | 2013-02-07 | シャープ株式会社 | タッチパネル基板および電気光学装置 |
JP2013222202A (ja) * | 2012-04-12 | 2013-10-28 | Samsung Display Co Ltd | 表示装置及びその製造方法 |
JP2014209204A (ja) * | 2013-03-22 | 2014-11-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
JP2015032104A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサ、タッチパネルモジュールおよびタッチパネルセンサの製造方法 |
JP2016046738A (ja) * | 2014-08-25 | 2016-04-04 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、および撮像方法 |
Family Cites Families (141)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60198861A (ja) | 1984-03-23 | 1985-10-08 | Fujitsu Ltd | 薄膜トランジスタ |
JPH0244256B2 (ja) | 1987-01-28 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn2o5deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPS63210023A (ja) | 1987-02-24 | 1988-08-31 | Natl Inst For Res In Inorg Mater | InGaZn↓4O↓7で示される六方晶系の層状構造を有する化合物およびその製造法 |
JPH0244258B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn3o6deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244260B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn5o8deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244262B2 (ja) | 1987-02-27 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn6o9deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244263B2 (ja) | 1987-04-22 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn7o10deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH05251705A (ja) | 1992-03-04 | 1993-09-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP3479375B2 (ja) | 1995-03-27 | 2003-12-15 | 科学技術振興事業団 | 亜酸化銅等の金属酸化物半導体による薄膜トランジスタとpn接合を形成した金属酸化物半導体装置およびそれらの製造方法 |
WO1997006554A2 (en) | 1995-08-03 | 1997-02-20 | Philips Electronics N.V. | Semiconductor device provided with transparent switching element |
JP3625598B2 (ja) | 1995-12-30 | 2005-03-02 | 三星電子株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
JP4170454B2 (ja) | 1998-07-24 | 2008-10-22 | Hoya株式会社 | 透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法 |
JP2000150861A (ja) | 1998-11-16 | 2000-05-30 | Tdk Corp | 酸化物薄膜 |
JP3276930B2 (ja) | 1998-11-17 | 2002-04-22 | 科学技術振興事業団 | トランジスタ及び半導体装置 |
TW460731B (en) | 1999-09-03 | 2001-10-21 | Ind Tech Res Inst | Electrode structure and production method of wide viewing angle LCD |
JP4089858B2 (ja) | 2000-09-01 | 2008-05-28 | 国立大学法人東北大学 | 半導体デバイス |
KR20020038482A (ko) | 2000-11-15 | 2002-05-23 | 모리시타 요이찌 | 박막 트랜지스터 어레이, 그 제조방법 및 그것을 이용한표시패널 |
JP3997731B2 (ja) | 2001-03-19 | 2007-10-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 基材上に結晶性半導体薄膜を形成する方法 |
JP2002289859A (ja) | 2001-03-23 | 2002-10-04 | Minolta Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP3925839B2 (ja) | 2001-09-10 | 2007-06-06 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置およびその試験方法 |
JP4090716B2 (ja) | 2001-09-10 | 2008-05-28 | 雅司 川崎 | 薄膜トランジスタおよびマトリクス表示装置 |
US7061014B2 (en) | 2001-11-05 | 2006-06-13 | Japan Science And Technology Agency | Natural-superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film |
JP4164562B2 (ja) | 2002-09-11 | 2008-10-15 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ホモロガス薄膜を活性層として用いる透明薄膜電界効果型トランジスタ |
JP4083486B2 (ja) | 2002-02-21 | 2008-04-30 | 独立行政法人科学技術振興機構 | LnCuO(S,Se,Te)単結晶薄膜の製造方法 |
CN1445821A (zh) | 2002-03-15 | 2003-10-01 | 三洋电机株式会社 | ZnO膜和ZnO半导体层的形成方法、半导体元件及其制造方法 |
JP3933591B2 (ja) | 2002-03-26 | 2007-06-20 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
US7339187B2 (en) | 2002-05-21 | 2008-03-04 | State Of Oregon Acting By And Through The Oregon State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University | Transistor structures |
JP2004022625A (ja) | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Murata Mfg Co Ltd | 半導体デバイス及び該半導体デバイスの製造方法 |
US7105868B2 (en) | 2002-06-24 | 2006-09-12 | Cermet, Inc. | High-electron mobility transistor with zinc oxide |
US7067843B2 (en) | 2002-10-11 | 2006-06-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Transparent oxide semiconductor thin film transistors |
JP4166105B2 (ja) | 2003-03-06 | 2008-10-15 | シャープ株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2004273732A (ja) | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板およびその製造方法 |
JP4108633B2 (ja) | 2003-06-20 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス |
US7262463B2 (en) | 2003-07-25 | 2007-08-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Transistor including a deposited channel region having a doped portion |
US7145174B2 (en) | 2004-03-12 | 2006-12-05 | Hewlett-Packard Development Company, Lp. | Semiconductor device |
US7297977B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-11-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Semiconductor device |
US7282782B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-10-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Combined binary oxide semiconductor device |
JP4620046B2 (ja) | 2004-03-12 | 2011-01-26 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
US7211825B2 (en) | 2004-06-14 | 2007-05-01 | Yi-Chi Shih | Indium oxide-based thin film transistors and circuits |
JP2006100760A (ja) | 2004-09-02 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US7285501B2 (en) | 2004-09-17 | 2007-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a solution processed device |
US7298084B2 (en) | 2004-11-02 | 2007-11-20 | 3M Innovative Properties Company | Methods and displays utilizing integrated zinc oxide row and column drivers in conjunction with organic light emitting diodes |
AU2005302963B2 (en) | 2004-11-10 | 2009-07-02 | Cannon Kabushiki Kaisha | Light-emitting device |
US7863611B2 (en) | 2004-11-10 | 2011-01-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Integrated circuits utilizing amorphous oxides |
US7829444B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor manufacturing method |
CA2708335A1 (en) | 2004-11-10 | 2006-05-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Amorphous oxide and field effect transistor |
WO2006051995A1 (en) | 2004-11-10 | 2006-05-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor employing an amorphous oxide |
US7791072B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-09-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Display |
US7453065B2 (en) | 2004-11-10 | 2008-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor and image pickup device |
KR20060067292A (ko) * | 2004-12-14 | 2006-06-20 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 수리 방법 |
US7579224B2 (en) | 2005-01-21 | 2009-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a thin film semiconductor device |
US7608531B2 (en) | 2005-01-28 | 2009-10-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device |
TWI562380B (en) | 2005-01-28 | 2016-12-11 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device |
US7858451B2 (en) | 2005-02-03 | 2010-12-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof |
US7948171B2 (en) | 2005-02-18 | 2011-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US20060197092A1 (en) | 2005-03-03 | 2006-09-07 | Randy Hoffman | System and method for forming conductive material on a substrate |
US8681077B2 (en) | 2005-03-18 | 2014-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device, driving method and electronic apparatus thereof |
WO2006105077A2 (en) | 2005-03-28 | 2006-10-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Low voltage thin film transistor with high-k dielectric material |
US7645478B2 (en) | 2005-03-31 | 2010-01-12 | 3M Innovative Properties Company | Methods of making displays |
US8300031B2 (en) | 2005-04-20 | 2012-10-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device comprising transistor having gate and drain connected through a current-voltage conversion element |
JP2006344849A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
US7402506B2 (en) | 2005-06-16 | 2008-07-22 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7691666B2 (en) | 2005-06-16 | 2010-04-06 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7507618B2 (en) | 2005-06-27 | 2009-03-24 | 3M Innovative Properties Company | Method for making electronic devices using metal oxide nanoparticles |
KR100711890B1 (ko) | 2005-07-28 | 2007-04-25 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광표시장치 및 그의 제조방법 |
JP2007059128A (ja) | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Canon Inc | 有機el表示装置およびその製造方法 |
JP2007073705A (ja) | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Canon Inc | 酸化物半導体チャネル薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP4280736B2 (ja) | 2005-09-06 | 2009-06-17 | キヤノン株式会社 | 半導体素子 |
JP5116225B2 (ja) | 2005-09-06 | 2013-01-09 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体デバイスの製造方法 |
JP4850457B2 (ja) | 2005-09-06 | 2012-01-11 | キヤノン株式会社 | 薄膜トランジスタ及び薄膜ダイオード |
JP5078246B2 (ja) | 2005-09-29 | 2012-11-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、及び半導体装置の作製方法 |
EP3614442A3 (en) | 2005-09-29 | 2020-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufactoring method thereof |
JP5064747B2 (ja) | 2005-09-29 | 2012-10-31 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、電気泳動表示装置、表示モジュール、電子機器、及び半導体装置の作製方法 |
JP5037808B2 (ja) | 2005-10-20 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置 |
KR101117948B1 (ko) | 2005-11-15 | 2012-02-15 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 액정 디스플레이 장치 제조 방법 |
TWI292281B (en) | 2005-12-29 | 2008-01-01 | Ind Tech Res Inst | Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same |
US7867636B2 (en) | 2006-01-11 | 2011-01-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Transparent conductive film and method for manufacturing the same |
JP4977478B2 (ja) | 2006-01-21 | 2012-07-18 | 三星電子株式会社 | ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法 |
US7576394B2 (en) | 2006-02-02 | 2009-08-18 | Kochi Industrial Promotion Center | Thin film transistor including low resistance conductive thin films and manufacturing method thereof |
US7977169B2 (en) | 2006-02-15 | 2011-07-12 | Kochi Industrial Promotion Center | Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof |
KR20070101595A (ko) | 2006-04-11 | 2007-10-17 | 삼성전자주식회사 | ZnO TFT |
US20070252928A1 (en) | 2006-04-28 | 2007-11-01 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure, transmission type liquid crystal display, reflection type display and manufacturing method thereof |
US20080006833A1 (en) * | 2006-06-02 | 2008-01-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Lighting device and liquid crystal display device |
US8552989B2 (en) | 2006-06-09 | 2013-10-08 | Apple Inc. | Integrated display and touch screen |
JP5028033B2 (ja) | 2006-06-13 | 2012-09-19 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP4609797B2 (ja) | 2006-08-09 | 2011-01-12 | Nec液晶テクノロジー株式会社 | 薄膜デバイス及びその製造方法 |
JP4999400B2 (ja) | 2006-08-09 | 2012-08-15 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP4332545B2 (ja) | 2006-09-15 | 2009-09-16 | キヤノン株式会社 | 電界効果型トランジスタ及びその製造方法 |
JP5164357B2 (ja) | 2006-09-27 | 2013-03-21 | キヤノン株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP4274219B2 (ja) | 2006-09-27 | 2009-06-03 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機薄膜半導体装置 |
US7622371B2 (en) | 2006-10-10 | 2009-11-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Fused nanocrystal thin film semiconductor and method |
US7772021B2 (en) | 2006-11-29 | 2010-08-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays |
JP2008140684A (ja) | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Toppan Printing Co Ltd | カラーelディスプレイおよびその製造方法 |
KR101303578B1 (ko) | 2007-01-05 | 2013-09-09 | 삼성전자주식회사 | 박막 식각 방법 |
US8207063B2 (en) | 2007-01-26 | 2012-06-26 | Eastman Kodak Company | Process for atomic layer deposition |
KR100851215B1 (ko) | 2007-03-14 | 2008-08-07 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 이를 이용한 유기 전계 발광표시장치 |
US7795613B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-09-14 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure with transistor |
KR101325053B1 (ko) | 2007-04-18 | 2013-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법 |
KR20080094300A (ko) | 2007-04-19 | 2008-10-23 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판 디스플레이 |
KR101334181B1 (ko) | 2007-04-20 | 2013-11-28 | 삼성전자주식회사 | 선택적으로 결정화된 채널층을 갖는 박막 트랜지스터 및 그제조 방법 |
WO2008133345A1 (en) | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Oxynitride semiconductor |
KR101345376B1 (ko) | 2007-05-29 | 2013-12-24 | 삼성전자주식회사 | ZnO 계 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 |
JP5215158B2 (ja) | 2007-12-17 | 2013-06-19 | 富士フイルム株式会社 | 無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス |
KR101055713B1 (ko) | 2008-07-18 | 2011-08-11 | 삼성코닝정밀소재 주식회사 | 접촉 입력 감지 기능을 갖는 액정 디스플레이 필터 및 이를 구비하는 액정 디스플레이 장치 |
DE102009027537A1 (de) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Samsung Corning Precision Glass Co., Ltd., Gumi | Berührungseingabe detektierendes Anzeigefilter und Anzeigevorrichtung mit demselben |
KR20100022372A (ko) * | 2008-08-19 | 2010-03-02 | 삼성전자주식회사 | 표시장치 및 그 제조 방법 |
JP4623179B2 (ja) | 2008-09-18 | 2011-02-02 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP5451280B2 (ja) | 2008-10-09 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置 |
KR20100053349A (ko) * | 2008-11-12 | 2010-05-20 | 엘지전자 주식회사 | 터치 모듈, 그 터치 모듈의 제조 방법 및 그 터치 모듈을 갖는 휴대 단말기 |
JP5113773B2 (ja) * | 2009-01-20 | 2013-01-09 | 株式会社ジャパンディスプレイイースト | 表示装置 |
CN101587250B (zh) * | 2009-07-03 | 2012-01-11 | 友达光电股份有限公司 | 显示装置及其应用方法 |
CN101989160A (zh) | 2009-08-07 | 2011-03-23 | 铼宝科技股份有限公司 | 电容式触控面板 |
WO2011043194A1 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
TWI427520B (zh) * | 2009-12-10 | 2014-02-21 | Au Optronics Corp | 觸控顯示面板以及觸控基板 |
TW201124766A (en) * | 2010-01-08 | 2011-07-16 | Wintek Corp | Display device with touch panel |
TWI441119B (zh) * | 2010-04-02 | 2014-06-11 | Arolltech Co Ltd | 具內嵌觸控裝置之顯示器 |
US8803164B2 (en) | 2010-08-06 | 2014-08-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Solid-state image sensing device and semiconductor display device |
US8647919B2 (en) * | 2010-09-13 | 2014-02-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting display device and method for manufacturing the same |
KR101294237B1 (ko) * | 2010-10-07 | 2013-08-07 | 엘지디스플레이 주식회사 | 프린지 필드 스위칭 모드 액정표시장치용 어레이 기판 및 이의 제조방법 |
US9292143B2 (en) * | 2011-07-29 | 2016-03-22 | Sharp Kabushiki Kaisha | Touch panel substrate and electro-optical device |
JP5806905B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-11-10 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
WO2013080900A1 (en) * | 2011-12-02 | 2013-06-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
CN103247640B (zh) * | 2012-02-13 | 2016-04-06 | 群康科技(深圳)有限公司 | 主动矩阵式影像感测面板及装置 |
JP2015121829A (ja) * | 2012-04-18 | 2015-07-02 | シャープ株式会社 | カラーフィルター一体型タッチパネル |
US8946985B2 (en) * | 2012-05-07 | 2015-02-03 | Samsung Display Co., Ltd. | Flexible touch screen panel and flexible display device with the same |
KR102114212B1 (ko) * | 2012-08-10 | 2020-05-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 |
TWI657539B (zh) * | 2012-08-31 | 2019-04-21 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置 |
KR101968929B1 (ko) | 2012-09-11 | 2019-04-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 센서 기판, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 센싱 표시 패널 |
US9389737B2 (en) * | 2012-09-14 | 2016-07-12 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method of driving the same in two modes |
WO2014064999A1 (ja) * | 2012-10-22 | 2014-05-01 | コニカミノルタ株式会社 | タッチパネル付き表示装置 |
CN202948155U (zh) * | 2012-12-14 | 2013-05-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 彩色滤光片及触摸液晶显示屏 |
KR20140080038A (ko) | 2012-12-20 | 2014-06-30 | 삼성전기주식회사 | 터치패널 및 그 제조방법 |
KR102057666B1 (ko) * | 2013-02-19 | 2019-12-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 터치 스크린 패널 및 그 제조 방법 |
KR102029794B1 (ko) * | 2013-03-15 | 2019-10-08 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치 |
US9235285B2 (en) * | 2013-05-13 | 2016-01-12 | Himax Technologies Limited | Pixel matrix, touch display device and drving method thereof |
JP6475424B2 (ja) * | 2013-06-05 | 2019-02-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
KR102239367B1 (ko) | 2013-11-27 | 2021-04-09 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 터치 패널 |
WO2015125864A1 (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | シャープ株式会社 | タッチパネル |
WO2015132694A1 (en) | 2014-03-07 | 2015-09-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Touch sensor, touch panel, and manufacturing method of touch panel |
KR20160145643A (ko) | 2014-04-23 | 2016-12-20 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 입출력 장치 및 입출력 장치의 구동 방법 |
JP6518133B2 (ja) | 2014-05-30 | 2019-05-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 入力装置 |
-
2016
- 2016-03-04 CN CN201680016156.6A patent/CN107430461B/zh active Active
- 2016-03-04 WO PCT/IB2016/051214 patent/WO2016147074A1/en active Application Filing
- 2016-03-04 KR KR1020177029143A patent/KR102560862B1/ko active IP Right Grant
- 2016-03-04 CN CN202210017532.0A patent/CN114546158A/zh active Pending
- 2016-03-10 US US15/066,026 patent/US10168809B2/en active Active
- 2016-03-10 JP JP2016046738A patent/JP6795312B2/ja active Active
- 2016-03-11 TW TW105107595A patent/TWI735430B/zh not_active IP Right Cessation
-
2020
- 2020-11-12 JP JP2020188512A patent/JP2021028838A/ja not_active Withdrawn
-
2022
- 2022-04-29 JP JP2022075574A patent/JP2022109287A/ja not_active Withdrawn
-
2023
- 2023-10-03 JP JP2023171927A patent/JP2023181186A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013018591A1 (ja) * | 2011-07-29 | 2013-02-07 | シャープ株式会社 | タッチパネル基板および電気光学装置 |
JP2013222202A (ja) * | 2012-04-12 | 2013-10-28 | Samsung Display Co Ltd | 表示装置及びその製造方法 |
JP2014209204A (ja) * | 2013-03-22 | 2014-11-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
JP2015032104A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサ、タッチパネルモジュールおよびタッチパネルセンサの製造方法 |
JP2016046738A (ja) * | 2014-08-25 | 2016-04-04 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、および撮像方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107430461B (zh) | 2022-01-28 |
JP6795312B2 (ja) | 2020-12-02 |
CN107430461A (zh) | 2017-12-01 |
US10168809B2 (en) | 2019-01-01 |
TWI735430B (zh) | 2021-08-11 |
WO2016147074A1 (en) | 2016-09-22 |
US20160274398A1 (en) | 2016-09-22 |
CN114546158A (zh) | 2022-05-27 |
TW201636800A (zh) | 2016-10-16 |
JP2016173816A (ja) | 2016-09-29 |
KR20170128456A (ko) | 2017-11-22 |
JP2021028838A (ja) | 2021-02-25 |
JP2023181186A (ja) | 2023-12-21 |
KR102560862B1 (ko) | 2023-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7465907B2 (ja) | 表示装置及び発光装置 | |
JP2022109287A (ja) | 表示装置 | |
US12078883B2 (en) | Touch panel | |
JP6713820B2 (ja) | タッチパネル | |
US10095362B2 (en) | Touch panel | |
JP7002848B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2022166856A (ja) | 表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220429 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20221221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230110 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20230704 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20231004 |