JP2021044574A - マグネシウム系熱電変換材料の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
ZT=S2σT/κ・・・(1)
但し、S=ゼーベック係数、σ=電気伝導率、T=絶対温度、κ=熱伝導率
この式1からも分かるように、無次元性能指数には温度のファクターが入っており、熱電変換性能は温度の影響を大きく受ける。
このため、1種類の構成材料で熱電変換素子を作製した場合、高温側と低温側との間に生じる温度分布による発電量の総和がその熱電変換素子の発電量となる。よって、ZTが高い材料を用いて熱電変換素子を形成しても、低温側の熱電変換効率が低いために、熱電変換素子全体として見た時の発電量は必ずしも高くならないという課題があった。
また、異なる熱電変換材料の界面に電極を配置し、それぞれの熱電変換材料から電気を取り出すように構成されているため、構造が非常に複雑であった。
よって、単一組成の材料から成る熱電変換材料と比較して、熱電変換効率(発電効率)を大幅に向上させることが可能になる。
図1は、本発明のマグネシウム系熱電変換材料を用いたマグネシウム系熱電変換素子を示す断面図である。また、図2は、マグネシウム系熱電変換材料を構成する第一層と第二層との接合部分を示す要部拡大断面図である。
熱電変換素子10は、マグネシウム系熱電変換材料(以下、単に熱電変換材料と称することがある)11の一方の面11aおよびこれに対向する他方の面11bに、メタライズ層12a、12bがそれぞれ形成され、このメタライズ層12a、12bにそれぞれ重ねて電極13a,13bが形成されている。
図3によれば、第一層14と第二層15との接合面15aから、第二層15の反対面である他面11bに向かって、例えば1μm以上、50μm以下の厚み範囲でSn濃度が漸増し、またこれと反対にMg,Si濃度が漸減するスズ濃度遷移領域16が形成されていることが分かる。
なお、スズ濃度遷移領域16の厚みは、第一層14と第二層15の接合界面をFEI社製Quanta450FEG走査型電子顕微鏡により、第一層14が測定視野の左側に、第二層15が測定視野の右側になるよう観察し、倍率5000倍の視野(縦23μm;横30μm)において、EDAX社製GenesisシリーズのEDXを用いてSnのマッピング画像を取得し、Sn濃度が0.5wt%〜Xwt%の領域をスズ濃度遷移領域16とみなし、その領域の面積を算出した。ここで、Xは第二層15のSn濃度の95%の値である。なお、第二層15のSn濃度は、第一層14と第二層15の接合面15aから第二層15に向かって100μm離間した位置において、同様の装置によって10点を測定し、その平均値を第二層15のSn濃度とした。そして、算出されたスズ濃度遷移領域16の面積を測定視野の縦幅の寸法で除した値を求め、5視野の平均をスズ濃度遷移領域16の厚みとした。
図4は、第一実施形態の熱電変換装置を示す断面図である。
熱電変換装置20は、ユニレグ型の熱電変換装置である。
熱電変換装置20は、一面上に配列された複数の熱電変換素子10,10…と、これら配列された熱電変換素子10,10…の一方の側および他方に側にそれぞれ配された伝熱板21A,21Bとから構成されている。
また、伝熱板21A,21Bとして導電性の金属材料を用い、伝熱板21A,21Bと電極13a,13bとの間に絶縁層などを形成することもできる。絶縁層としては、樹脂膜又は板、セラミックス薄膜又は板などが挙げられる。
図5は、第二実施形態の熱電変換装置を示す断面図である。
熱電変換装置30は、π(パイ)型の熱電変換装置である。
熱電変換装置30は、一面上に交互に配列された熱電変換素子10A,10Bと、これら配列された熱電変換素子10A,10Bの一方の側および他方に側にそれぞれ配された伝熱板31A,31Bとから構成されている。
なお、図5では説明を明瞭にするために便宜的に熱電変換素子10A,10Bを一列分だけ図示しているが、実際には図5の紙面奥行き方向にも多数の熱電変換素子10A,10Bが配列されている。
また、伝熱板31A,31Bとして導電性の金属材料を用い、伝熱板31A,31Bと電極13a,13bとの間に絶縁層などを形成することもできる。絶縁層としては、樹脂膜又は板、セラミックス薄膜又は板などが挙げられる。
本発明の熱電変換材料の製造方法を説明する。
図6は、本発明の熱電変換材料の製造方法を段階的に示したフローチャートである。
例えば、図1に示す熱電変換材料11の製造にあたっては、まず、熱電変換材料11を成す第一層14の母材(マトリクス)となるマグネシウム系化合物を製造する(原料形成工程S1)。
本実施形態では、n型の熱電変換材料を得るためにドーパントとしてアンチモンを用い、添加量は0.5at%とした。そして、この混合粉末を、例えばアルミナるつぼに導入し、800〜1150℃程度で加熱する。これにより、例えば塊状のMg2Si固形物が得られる。なお、この加熱時に少量のマグネシウムが昇華するため、原料の計量時にMg:Si=2:1の化学量論組成に対して例えば5%ほどマグネシウムを多く入れることが好ましい。
また、最高温度における保持時間0秒以上10分以下、降温速度10℃/分以上50℃/分以下とするとよい。
さらに、昇温速度を10℃/分以上100℃/分以下とするとよい。昇温速度を10℃/分以上100℃/分以下とすることで、比較的短時間で焼結させることができるとともに、残留する酸素と高濃度ケイ素域との反応を抑制し、高濃度ケイ素域が酸化することを抑制できる。また、耐圧筐体101内の雰囲気はアルゴン雰囲気などの不活性雰囲気や真空雰囲気とするとよい。真空雰囲気とする場合は、圧力5Pa以下とするとよい。
また、焼結後に得られた焼結物である熱電変換材料を構成する第一層14のサイズは、例えば、直径30mm×厚み5mmの円筒形状である。
第二層15の原料粉末(混合体)としては、例えば、マグネシウム粉末(純度99.99%,粒径180μm)を4.4444g、ケイ素粉末(純度99.9999%,粒径45μm)を1.019g、スズ粉末(純度99.9999%、粒径63μm)を6.474g、ドーパントとしてアンチモン粉末(純度99.999%、粒径45μm)を0.055g、それぞれ計量し、これら粉末を乳鉢中で20分間撹拌したものを用いた。
また、この第二焼結工程S5においては、スズ粉末、マグネシウム粉末等が溶解して液相が生じるため、液相焼結によって第一層14に直接接合された第二層15が形成されることになる。
この場合、焼結時に液相が出現しないことから、図8に示すように、第一層と第二層との接合界面が平面状となり、スズ濃度遷移領域の厚さ比較的薄く、且つ、均一となる。
純度99.9%のMg(粒径180μm:株式会社高純度化学研究所製)、純度99.99%のSi(粒径300μm:株式会社高純度化学研究所製)、純度99.9%のSb(粒径300μm:株式会社高純度化学研究所製)を、それぞれ計量した。これら粉末を乳鉢中で良く混ぜ、アルミナるつぼに入れて、850℃で2時間、Ar−5%H2中で加熱した。Mgの昇華によるMg:Si=2:1の化学量論組成からのずれを考慮して、Mgを5%多く混合した。これにより、Mg2Si固形物(母材)を得た。
得られたMg2Si焼結体の一面を220番の研磨紙及び320番の研磨紙を用いて回転式の研磨機によって乾燥状態で研磨した。
上述の本発明例1−3の熱電変換材料について、スズ濃度遷移領域の厚さを以下のようにして評価した。
熱電変換材料の第一層と第二層の接合界面をFEI社製Quanta450FEG走査型電子顕微鏡により、第一層が測定視野の左側に、第二層が測定視野の右側になるよう観察し、倍率5000倍の視野(縦23μm;横30μm)において、EDAX社製GenesisシリーズのEDXを用いてSnのマッピング画像を取得し、Sn濃度が0.5wt%〜Xwt%の領域をスズ濃度遷移領域とみなし、その領域の面積を算出した。ここで、Xは熱電変換材料の第二層のSn濃度の95%の値である。なお、熱電変換材料の第二層のSn濃度は、熱電変換材料の第一層と第二層の接合面から第二層に向かって100μm離間した位置において、同様の装置によって10点を測定し、その平均値を第二層のSn濃度とした。
そして、算出されたスズ濃度遷移領域の面積を測定視野の縦幅の寸法で除した値を求め、5視野の平均をスズ濃度遷移領域の厚さとした。評価結果を表1に示す。
熱電モジュール発電効率測定装置を用いて、開放電圧を測定した。装置の概略を図9に示す。測定試料Sとして、上述の本発明例1−3及び比較例の熱電変換材料(5mm×5mm×7mm高さ)を用いた。
この測定試料Sを、加熱ブロック201と熱流束ブロック202との間に挟み込み、加熱ブロック201を加熱するとともに、熱流束ブロック202をチラー203によって10℃程度に冷却し、加熱ブロック201と熱流束ブロック202との間に、表1に示す温度差を生じさせた。なお。高温側の温度(Th)は加熱ブロック201の温度であり、低温側の温度(Tc)は熱流束ブロック202の測定試料S側の温度である。
そして、加熱ブロック201と熱流束ブロック202とは窒化アルミニウム(AlN)によって電気的に絶縁した状態で、測定試料Sの高温側と低温側に電圧と電流を測定する端子を設け、測定試料Sに逆起電力をかけ、電流が0(最大電圧)から最大電流(電圧ゼロ)の値を測定した。今回、電流がゼロの開放電圧を評価した。評価結果を表1に示す。
これに対して、本発明例1では温度差が331.2℃の条件で開放電圧が63.11mVであり、本発明例2では温度差が344.8℃の条件で開放電圧が71.74mVであった。同様の温度差の条件下においては、本発明例1,2の方が比較例よりも高い開放電圧を得ることができた。
さらに、本発明例3では、温度差が478.9℃の条件で開放電圧が108.94mVと非常に高い値を示した。
11 マグネシウム系熱電変換材料
12a、12b メタライズ層
13a、13b 電極
14 第一層
15 第二層
16 スズ濃度遷移領域
Claims (5)
- Mg2Siからなる第一層とMg2SixSn1−x(但し、xは0以上1未満)からなる第二層とが直接接合され、前記第二層は、前記第一層との接合面と前記接合面から積層方向に沿った1μm以上50μm以下の厚みの範囲において、前記接合面から遠ざかるほどスズ濃度が増加するスズ濃度遷移領域を有するマグネシウム系熱電変換材料の製造方法であって、
マグネシウム粉末およびケイ素粉末の混合体からなる焼結原料を形成する原料形成工程と、
前記焼結原料を10MPa以上の加圧力で加圧しながら、750℃以上、950℃以下の温度範囲で加熱して前記第一層を形成する第一焼結工程と、
前記第一層の前記接合面側に、マグネシウム粉末およびスズ粉末、さらにX>0の場合はケイ素粉末の混合体から成る焼結原料を配して、0.5MPa以上の加圧力で加圧しながら、650℃以上、750℃以下の温度範囲で加熱して、液相焼結によって前記第一層と直接接合された前記第二層を形成し、マグネシウム系熱電変換材料を得る第二焼結工程と、を備えたことを特徴とするマグネシウム系熱電変換材料の製造方法。 - Mg2Siからなる第一層とMg2SixSn1−x(但し、xは0以上1未満)からなる第二層とが直接接合され、前記第二層は、前記第一層との接合面と前記接合面から積層方向に沿った1μm以上50μm以下の厚みの範囲において、前記接合面から遠ざかるほどスズ濃度が増加するスズ濃度遷移領域を有するマグネシウム系熱電変換材料の製造方法であって、
マグネシウム粉末およびケイ素粉末の混合体からなる焼結原料を形成する原料形成工程と、
前記焼結原料を10MPa以上の加圧力で加圧しながら、750℃以上、950℃以下の温度範囲で加熱して前記第一層を形成する第一焼結工程と、
前記第一層の前記接合面側に、Mg2SixSn1−x(但し、xは0以上1未満)からなる焼結原料を配して、10MPa以上の加圧力で加圧しながら、650℃以上、850℃以下の温度範囲で加熱して、固相焼結によって前記第一層と直接接合された前記第二層を形成し、マグネシウム系熱電変換材料を得る第二焼結工程と、を備えたことを特徴とするマグネシウム系熱電変換材料の製造方法。 - 前記第一焼結工程と前記第二焼結工程との間に、前記第一層の前記接合面を研磨する研磨工程を更に備えたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のマグネシウム系熱電変換材料の製造方法。
- 前記第一焼結工程、および前記第二焼結工程は、ホットプレス法、熱間等方圧プレス法、放電プラズマ焼結法、通電焼結法、熱間圧延法、熱間押出法、熱間鍛造法の何れかで行うことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のマグネシウム系熱電変換材料の製造方法。
- 前記原料形成工程において、前記マグネシウム粉末およびケイ素粉末の混合体に対してシリコン酸化物を0.5mol%以上、13.0mol%以下の範囲で添加することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のマグネシウム系熱電変換材料の製造方法。
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