JP2020532836A - 電解銅箔、その製造方法及びそれを含む高容量Li二次電池用陰極 - Google Patents

電解銅箔、その製造方法及びそれを含む高容量Li二次電池用陰極 Download PDF

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Abstract

本発明はLi二次電池の陰極活物質と高い密着力を有する銅箔集電体に関するものである。本発明は、第1表面及び前記第2表面を有する電解銅箔であって、前記第1表面側の第1保護層と、前記第2表面側の第2保護層と、前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、前記電解銅箔は、前記第2表面での酸素含有部厚さ(Oxygen Thickness;OT)が1.5nm以上であることを特徴とする電解銅箔を提供する。本発明によれば、活物質と高い密着力を有しながらも低い電気抵抗を有するLi二次電池用電解銅箔集電体を提供することができる。【選択図】 図1

Description

本発明は電解銅箔に関するもので、より詳しくはLi二次電池の陰極活物質と高い密着力を有する電解銅箔に関するものである。
携帯電話、ノートブック型コンピュータなどの携帯用家電の使用増加とハイブリッド自動車の普及につれてLi電池の需要は急激に増加している。
リチウム二次電池において、陰極集電体の素材としては主に電解銅箔が使われる。電解銅箔は電気メッキ法による製箔工程を介して製造される。製造された電解銅箔の一面には相対的に低い粗度を有する光沢面(Shiny surface)、他面には相対的に高い粗度を有する艶消し面(Matte surface)が形成される。電解銅箔の艶消し面にはカーボン(Carbon)系スラリーのような活物質がコーティングされる。
リチウム二次電池は、集電体として使われる電解銅箔の表面状態によって活物質との結合力が変わり、これによって電池の容量と収率が決まることができる。特に、集電体と活物質間の結合力が低い場合、二次電池の寿命周期の間に活物質が集電体から脱落することによって内部短絡のような問題が発生し得る。
一方、電解銅箔の表面の酸素は親水性の特性を現すので、陰極材との密着力を増加させるものとして知られている。しかし、銅箔表面層の酸素は表面抵抗を増加させる欠点を有する。したがって、信頼性のあるLi二次電池の製造のためには、銅箔表面層の制御が必要である。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、活物質と高い密着力を有しながらも低い電気抵抗を有するLi二次電池用電解銅箔を提供することを目的とする。
また、本発明は、高い密着力と低い電気的抵抗を有する表面酸素層プロファイルを有する電解銅箔を提供することを目的とする。
また、本発明は、前述した電解銅箔の製造方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、前述した電解銅箔を含んで高い放電容量維持率を有するLi二次電池の陰極を提供することを目的とする。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、露出された第1表面及び前記第1表面の反対側の露出された第2表面を有する電解銅箔であって、前記第1表面側の第1保護層と、前記第2表面側の第2保護層と、前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、前記電解銅箔は、前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上乃至8.0nm未満であることを特徴とする電解銅箔を提供する。ここで、前記第2表面での酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Microscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである。
本発明で、前記第1保護層及び第2保護層はクロム酸塩を含むことが好ましい。
また、前記第2表面から測定した酸素成分の濃度は前記第2表面から深くなるほど増加してから減少する傾向を示す。
本発明の一実施例で、前記酸素含有部厚さは8.0mm未満であることが好ましい。
また、本発明の一実施例で、前記電解銅箔は、110℃で10分間熱処理後の破断強度が25〜57kgf/mmであることが好ましい。
また、本発明の一実施例によれば、前記第1表面での酸素含有部厚さと前記第2表面での酸素含有部厚さ間の差が5.8nm以下であることが好ましい。
前記他の技術的課題を達成するために、本発明は、電解内の電解液内に互いに離隔して配置された陽極板及び回転陰極ドラムの間に電流を印加して前記回転陰極ドラム上に銅膜を電気メッキする段階と、メッキされた前記銅膜を巻き取る段階と、前記銅膜を防錆処理溶液に浸漬して防錆処理する段階とを含み、前記防錆処理段階は、前記防錆処理溶液に空気を注入しながら行う。この際、空気注入はブロワーによって行うことができる。また、前記防錆処理溶液の溶存酸素量は3〜12ppmに維持されることが好ましい。
また、本発明で、前記電解液のTIC濃度は0.05g/L以下に維持されることが好ましく、前記電解液のFe濃度は0.3g/L以下に維持されることが好ましい。
前記さらに他の技術的課題を達成するために、本発明は、第1表面及び前記第1表面の反対側の第2表面を有する電解銅箔集電体と、前記第1表面及び前記第2表面上の陰極活物質層とを含み、前記電解銅箔は、前記第1表面側の第1保護層と、前記第2表面側の第2保護層と、前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上であることを特徴とするLi二次電池用陰極を提供する。ここで、前記第2表面の酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Microscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである。
本発明によれば、活物質と高い密着力を有しながらも低い電気抵抗を有するLi二次電池用電解銅箔集電体を提供することができる。
また、本発明は、活物質と高い密着力を有するように表面酸素濃度プロファイルが制御された電解銅箔集電体を提供することができる。
また、本発明は、高い放電容量維持率を有するLi二次電池の陰極を提供することができる。
本発明の実施例による電解銅箔の断面構造を示した模式図である。 本発明の実施例によるLi二次電池用陰極の断面構造を示した模式図である。 本発明の電解銅箔製造装置を模式的に示す図である。 実施例1の電解銅箔M面に対してAES装置で測定した各成分の濃度プロファイルを示したグラフである。 本発明の一実施例によって電解銅箔のM面に対してAES装置で測定した酸素濃度プロファイルを示したグラフである。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する。
図1は本発明の実施例による電解銅箔の断面構造を示した模式図である。
図1を参照すると、電解銅箔110は、露出された第1表面110a及び前記第1表面110aの反対側の露出された第2表面110bを備え、前記第1表面110aを形成する第1保護層112、前記第2表面110bを形成する第2保護層113、及び前記第1及び第2保護層112、113間の銅膜111を含む。
本発明で、前記電解銅箔110は所定厚さ、例えば4〜30μmの厚さを有する。銅箔の厚さが4μm未満の場合、電池製造工程での作業性低下をもたらし、30μm以上の場合、Li二次電池製造の際に銅箔の大きな厚さのため高容量の実現が難しくなる。
前記銅膜111は回転陰極ドラムで電気メッキによって形成される。電気メッキ過程で前記回転陰極ドラムと直接接触する面は光沢面(S面)111aとその反対側の艶消し面(M面)111bを有する。
好ましくは、前記第1及び第2保護層112、113は防錆コーティング層を含む。前記防錆コーティング層はクロム酸塩(chromate)化合物を含む。前記第1及び第2保護層112、113は前記銅膜111の酸化及び腐食を防止し、活物質の密着性を向上させる。
本発明で、前記電解銅箔の厚さ方向の酸素成分プロファイルは次のような特性を有する。前記電解銅箔のM面111bでの酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上であることが好ましい。ここで、前記M面111bでの酸素含有部厚さ(OT)は、AES(Auger Electron Microscopy)によってM面111bから測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層113部分のSiO換算厚さを言う。また、前記M面111bでの酸素含有部厚さは8.0nm未満であることが好ましい。酸素含有部厚さが1.5nm未満の場合、表面の親水性を有する酸素の活性位が足りなくて陰極材が銅箔の表面に十分な密着力を形成することができないから、陰極が銅箔から取れ、Li二次電池の製造後の充放電評価の際に充電効率が急激に低下する。8.0nmを超える場合、銅箔表面の抵抗が高くなり、Li二次電池製造の後、高い抵抗によって充電効率が低下する。
また、本発明で、電解銅箔のM面111b及びS面111aでの酸素含有部厚さ(OT)の差は5.8nm以下であることが好ましい。前記S面111aでの酸素含有部厚さ(OT)は、前記M面111bでの酸素含有部厚さ(OT)と同様に、AESによって前記S面111aの表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第1保護層112部分のSiO換算厚さを言う。
M面111b及びS面111aでの酸素含有部厚さ値の差(Oxygen Thickness Difference)が5.8nmを超えるときは、銅箔の両面に陰極材をコーティング及び乾燥した後、銅箔の両面で銅箔と陰極材間の密着力の差によって、製造された極板に撓みが発生し、Li二次電池ロールツーロール(Roll to Roll)工程で折れが発生する。
本発明で、前記電解銅箔は110℃で10分間熱処理後の破断強度が25〜57kgf/mmであることが好ましい。破断強度が25kgf/mm未満の場合、銅箔自体の強度不足によって、Siが混合された陰極材を適用してLi二次電池を製造して充放電評価を行えば、断線が発生して充電効率が急激に低下する。破断強度が57kgf/mmを超える場合、銅箔が延びる特性がめっきり低下するから、Li二次電池に対する充放電評価を実施するとき、体積膨張に耐えられなくて電極が断線されることがあり、充電効率が急激に低下することができる。
また、本発明で、前記電解銅箔は、幅方向重量の偏差が5%未満であることが好ましい。重量偏差が5%を超えれば、銅箔及びLi二次電池製造工程でしわが発生することができる。
また、本発明で、M面111bの表面プロファイルで最大高(Rp)が0.36〜1.69μmの範囲にあることが好ましい。電解銅箔の表面プロファイルで最大高が0.36μm未満であれば、銅箔表面が活物質が均一にコーティングされることができる活性位を充分に提供することができなく、活物質が不均一にコーティングされる。また、最大高が1.69μmを超えれば、銅箔表面のピーク高が余りにも高くて活物質のコーティングが不均一になって同じ現象が発生し、不均一な活物質コーティングによって電極の表面から局部的に活物質が脱離する現象が発生する。
選択によって、本発明で、前記第1及び第2保護層112、113は調和処理層をさらに含むことができる。前記調和処理層は、銅、コバルト及びニッケルの1種のメッキ又はこれらの2種以上の合金メッキで形成され、前記防錆コーティング層と銅膜との間に介在されることができる。
図2は本発明の実施例によるLi二次電池用陰極の断面構造を示した模式図である。
図2を参照すると、図1に基づいて説明したものと同様に、電解銅箔110は、第1表面110a及び第2表面110bを備え、前記第1表面110aを形成する第1保護層112、前記第2表面110bを形成する第2保護層113、及び前記第1及び第2保護層112、113間の銅膜111を含む。
前記第1及び第2保護層112、113上には陰極活物質層120が備えられる。
前記陰極活物質層120は、グラファイト、コークス系などの炭素系活物質を含むことができる。また、前記陰極活物質層120の活物質は、Si、Ge、Sn、Li、Zn、Mg、Cd、Ce、Ni及びFeからなる群から選択される少なくとも1種の金属、その金属を含む合金及び前記金属の化合物を含むことができる。また、前記陰極活物質層120の活物質は前記金属と炭素の複合体であり得る。また、前記陰極活物質層120は、導電材及びバインダーをさらに含むことができる。
図3は本発明の電解銅箔製造装置を模式的に示す図である。
図3の電解銅箔製造装置は製箔段階及び防錆処理段階を含む一連のロールツーロール工程を示している。
図3に示したように、電解槽10内の電解液20内に、互いに離隔して配置された陽極板30及び回転陰極ドラム40が備えられる。回転陰極ドラム40は所定方向に回転し、陰極ドラム40と陽極板30との間に電源を印加すれば、電解液20を介して通電によってメッキが施される。陰極ドラム40の表面にメッキされた銅膜100はガイドロール50によって巻き取られる。
前記電解銅箔を析出させる電解液20としては、硫酸銅メッキ液、ピロリン酸銅メッキ液又はスルファミン酸銅メッキ液などが使われることができる。好ましくは、本発明で、電解液としては硫酸銅メッキ液が好適である。
ここで、前記陽極板30は、互いに電気的に絶縁された第1陽極板31及び第2陽極板32を含むことができる。ここで、前記陽極板30、すなわち前記第1及び第2陽極板31、32によってそれぞれ提供される電流密度は40〜80A/dmであり得る。電流密度が高いほど表面が均一にメッキされることによって銅箔の平均Rpは減少する。電流密度が80A/dmを超える場合、Rpが所要の下限を外れることになり、一方Rpが40A/dm未満の場合、メッキが荒くなってRpが所要のスペックの上限を外れることになる。
本発明の一実施例で、前記電解液20は、70〜90g/Lの銅イオン、80〜120g/Lの硫酸を含むことができる。
本発明で、電解液内の全無機炭素(Total Inorganic Carbon;TIC)含量は0.05g/L以下、Fe含量は0.3g/L以下に管理されなければならない。TIC濃度が0.05g/Lを超えれば、無機系有機物成分がメッキ層の成長を加速化させて破断強度を低める。また、Feの濃度が0.3g/Lを超えれば、Fe成分が銅と共析することにより、合金化によって破断強度が過度に高くなる。
また、製箔段階で、前記電解液60は50〜60℃に維持され、前記電解槽10内に供給される前記電解液20の流量は40〜46m/hourの範囲で維持されることが好ましい。前記電解液20の流量が40m/hour以下の場合、回転陰極ドラム40の表面に銅イオンが円滑に供給できなくてメッキ薄膜が不均一に形成され、前記電解液20の流量が46m/hourを超える場合、フィルターを通過する電解液20の流速があまりにも速くてフィルターの寿命が急激に短縮する原因となる。
メッキによって製造された銅膜はガイドロール80によって防錆処理槽50に投入される。
本発明で、防錆処理溶液60はクロム酸塩を含む。クロム酸塩はMCr(ここで、Mは1価金属)のような重クロム酸塩又はCrOのようなクロム酸に水酸化アルカリ及び酸の混合水溶液が使われることができる。また、処理溶液は、ZnO、ZnSO・7HOなどの亜鉛塩をさらに含むことができる。必要によって、前記防錆処理溶液には有機添加剤をさらに含むことができることは言うまでもない。
本発明の一実施例で、銅箔表面での酸素含有部厚さを適正範囲で維持するために、防錆液の溶存酸素量が一定水準に維持される。このために、防錆処理槽にはブロワー70が備えられる。ブロワー70の流量を制御することにより、防錆処理溶液60内の溶存酸素の含量が制御される。後述する本発明の実施例で説明するように、溶存酸素量は3ppm〜12ppmの範囲で維持される。
本発明で、防錆処理は銅膜の単純浸漬又は電着によって施されることができ、好ましくは電着によって施される。
一方、防錆処理段階で、前記ガイドロールと接触する銅膜111の面(例えば、S面111a)は前記防錆処理溶液60に露出される面の反対面(例えば、M面111b)に比べて防錆処理溶液60のコーティング量が少なくなる。その結果、銅膜111のS面111aとM面111b上の電着量差は電解銅箔110の折れ及び/又は巻かれ(しわ)の原因となることができる。したがって、本発明で、銅膜と前記ガイドロールが接触する時間を最小化することができ、例えば、水平防錆処理などの方法を適用することが好ましい。
以下、本発明の好適な実施例を詳述する。
<電解銅箔の製造>
図3のような装置を使い、電解槽内の電解液内に互いに離隔して配置された陽極板及び回転陰極ドラムに通電させることによって前記回転陰極ドラム上に銅膜を形成した。
電解液は75g/Lの銅イオン、及び100g/Lの硫酸で製造した。電解液のTIC含量とFe含量を異にし、相異なる条件で銅膜を製造した。前記電解液は約55℃に維持し、電流密度は60A/dmにし、電解液流量は42m/hourにした。
ついで、防錆液は次のように製造した。まず、CrO粉末を水溶液に分散させてCrイオンの濃度が2.2g/Lになるようにした。この際、防錆溶液のpHは1.8〜2.2に維持した。その他に、クエン酸(Citric Acid)を0.2〜0.4g/L追加して防錆液を製造した。製造された防錆溶液のpHは硫酸又は水酸化ナトリウム水溶液で調節した。製造された防錆溶液にブロワーで注入する空気量を異にして溶存酸素量を変化させながら、製造された銅膜を常温(30℃)で10秒間浸漬した。防錆処理溶液内の溶存酸素量は日本TOADKK社の溶存酸素測定機で測定した。ついで、前記酸化クロム溶液を乾燥させて前記銅膜の両面上に防錆コーティング層を形成することにより、4μmの厚さを有する電解銅箔を製造した。製造された銅箔の製箔及び防錆処理条件は下記の表1に示した。
Figure 2020532836
ついで、製造された電解銅箔の特性を測定した。測定方法は次のようである。
破断強度
UTMで電解銅箔サンプルの両端を把持して引張し、破断されたときの強度を測定した。サンプル幅は12.7mm、グリップ間距離は50mm、測定速度は50mm/minにした。
M面での酸素含有部厚さ(OT)
製造された電解銅箔のM面からの酸素濃度の深みプロファイルをULVAC−PHI IncのAES分析装置であるPHI700モデルを用いて下記の条件で分析した。
Electron energy analyser:CMA(cylindrical mirror analyser)
Electron beamen ergy:5keV
Target current:10nA
イオンエネルギー、スパッタリング速度:2kVAr、60Å/min(SiO換算)
イオンビームスポットサイズ:2×2mm
酸素含有部厚さ(OT):AESによって酸素濃度を測定した深みはスパッタリング食刻時間から次の数式(SiO換算基準)によって求めた。
[数学式1]
SiO換算深み=スパッタリング食刻時間(min)×スパッタリング速度(60Å/min)
測定された酸素濃度が10atom%である地点の換算深みを酸素含有部厚さ(OT)として取った。
M面とS面での酸素含有部厚さ差(OTD)
S面のOTを前述したものと同様な方式で求め、M面とS面のOT差を計算した。
折れ発生有無
二次電池ロールツーロール工程で電解銅箔の折れが発生するかを肉眼で観察した。
<陰極の製造>
前述した実施例及び比較例1〜4で製造された電解銅箔から幅10cmの集電体を準備した。集電体上の陰極活物質はカーボンとSiOを9:1の重量比で混合して使った。この際、陰極活物質100重量部に対してSBR(スチレンブタジエンゴム)2重量部及びCMC(カルボキシメチルセルロース)2重量部を混合し、蒸溜水を溶剤としてスラリーを調製し、ドクターブレードを用いて厚さ60μmの陰極活物質を塗布し、120℃で乾燥した後、1ton/cmの圧力で押圧して陰極を製造した。
<Li二次電池の製造>
エチレンカーボネート(EC)及びエチレンメチルカーボネート(EMC)を1:2の比率で混合した非水性有機溶媒に溶質として1MのLiPFを溶解させたものを基本電解液とし、この基本電解液99.5重量%と無水コハク酸(Succinic anhydride)0.5重量%を混合して非水電解液を製造した。
Li1.1Mn1.85Al0.05のリチウムマンガン酸化物とo−LiMnOの斜方晶系(orthorhombic)結晶構造のリチウムマンガン酸化物を90:10の重量比で混合して陽極活物質を製造した。前記陽極活物質とカーボンブラックを結着剤であるPVDF[Poly(vinylidenefluoride)]と85:10:5の重量比で有機溶媒のNMPと混合してスラリーを製造した。製造されたスラリーを厚さ20μmのAl箔(foil)の両面に塗布してから乾燥して陽極を製作した。
製造された陽極、陰極及び電解液からLi二次電池セルを製造し、製造された2次電池の特性を評価した。前記陰極、電解液及び陽極から製作した電池で4.3V充電/3.4V放電の作動電圧で容量を測定し、高温寿命を評価するために、50℃の高温で0.2Cの充放電速度で500回の充放電実験を行って放電容量維持率を計算した。ここで、放電容量維持率はサンプル当たり5回ずつ測定した算術平均値である。
下記の表2に実施例及び比較例1〜4の電解銅箔の特性を示した。また、該当電解銅箔を集電体として製造されたLi二次電池セルの放電容量維持率をまとめて示した。
Figure 2020532836
まず、表1及び2を参照して、溶存酸素量以外の条件が同一である実施例1及び比較例1を比較すれば、実施例1のOTは比較例1より高い値を示すことが分かる。これは、実施例1の電解銅箔が比較例1に比べて表面に高い酸素活性位を提供することができることを意味する。一方、実施例1が90%以上の放電容量維持率を示す反面、比較例1の放電容量維持率は90%未満の値を有する。比較例1の場合、陰極材が銅箔表面に十分な密着力を形成することができなくて、繰り返された充放電評価の際に充電効率が急激に低下したことに起因する。一方、より高い溶存酸素量の条件で製造された実施例2と比較例2を比較すれば、溶存酸素量が相対的に低い実施例2(11.7ppm)のOTは比較例2(12.5ppm)のOTより低い値を有することが分かる。また、実施例2の集電体から製造された電池は比較例2の集電体から製造された電池に比べて高い放電容量維持率を有することを示している。これから、過度なOTレベルは銅箔の表面抵抗を増加させ、これによって放電容量維持率が減少することを確認することができる。
図4は実施例1の電解銅箔M面に対してAES装置で測定した各成分の濃度プロファイルを示したグラフ、図5は実施例1、2及び比較例2の電解銅箔のM面に対してAES装置で測定した酸素濃度プロファイルを示したグラフである。
図5を参照すると、比較例1の場合、表面から急激な酸素濃度の減少が現れ、およそ換算深み1.3nm付近で10atom%未満に落ちることが分かる。一方、実施例1及び2の電解銅箔の場合、表面とOT間の厚さ範囲で酸素濃度は表面で少し上昇してから減少する傾向を示し、減少区間での酸素濃度の減少傾きも緩やかな傾向を示している。以上の実施例及び比較例で説明したように、本発明で、好適なOT範囲は1.5〜8.0nmであることが好ましい。
また、表1及び表2を参照して、同じ溶存酸素濃度の条件(7.5ppm)での実施例3及び比較例3の特性データを調べると、比較例3の場合、TICの含量が小幅増加することによって破断強度が25kg/mm未満に落ちることが分かる。また、比較例3の場合、充放電評価の際に充電効率の急激な低下を示している。これは、銅箔自体の強度不足によって、Siが混合された陰極材の適用時に断線が発生することに起因する。
一方、実施例4及び比較例4は電解液(メッキ液)内のFe濃度を異にした場合である。比較例4のようにFe濃度が0.3g/L以上の場合、破断強度が57kg/mmを超えることになる。この場合、銅箔が延びる特性が著しく低下し、充放電評価時に発生する体積膨張に耐えられなくて電極が断線されることができ、これにより充電効率が急激に低下することが分かる。
一方、実施例1〜4はOTDが低い値を示している反面、比較例1〜4はOTDが5.9以上の高い値を示している。よって、比較例1〜4はいずれも折れ現象が観察されている。このような高いOTD値は、陰極材コーティング及び乾燥の後に銅箔両面での銅箔と陰極材間の密着力差によって、製造された極板に撓みを発生させることができ、Li二次電池ロールツーロール工程で折れ発生の主原因になることができる。
以上、本発明の実施例に基づいて本発明を詳述したが、前述した実施例本発明の技術思想を例示的に説明したものに過ぎないものであり、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者であれば本発明の本質的な特性から逸脱しない範囲内で多様な修正及び変形が可能であることが分かるであろう。よって、本発明に開示された実施例は本発明の技術思想を限定するためのものではなくて説明するためのものであり、このような実施例によって本発明の技術思想の範囲が限定されるものではない。本発明の保護範囲は以下の請求範囲によって解釈され、それと同等な範囲内にある全ての技術思想は本発明の権利範囲に含まれるものに解釈されなければならない。
本発明は電解銅箔に関するもので、より詳しくはLi二次電池の陰極活物質と高い密着力を有する電解銅箔に関するものである。
携帯電話、ノートブック型コンピュータなどの携帯用家電の使用増加とハイブリッド自動車の普及につれてLi電池の需要は急激に増加している。
リチウム二次電池において、陰極集電体の素材としては主に電解銅箔が使われる。電解銅箔は電気メッキ法による製箔工程を介して製造される。製造された電解銅箔の一面には相対的に低い粗度を有する光沢面(Shiny surface)、他面には相対的に高い粗度を有する艶消し面(Matte surface)が形成される。電解銅箔の艶消し面にはカーボン(Carbon)系スラリーのような活物質がコーティングされる。
リチウム二次電池は、集電体として使われる電解銅箔の表面状態によって活物質との結合力が変わり、これによって電池の容量と収率が決まることができる。特に、集電体と活物質間の結合力が低い場合、二次電池の寿命周期の間に活物質が集電体から脱落することによって内部短絡のような問題が発生し得る。
一方、電解銅箔の表面の酸素は親水性の特性を現すので、陰極材との密着力を増加させるものとして知られている。しかし、銅箔表面層の酸素は表面抵抗を増加させる欠点を有する。したがって、信頼性のあるLi二次電池の製造のためには、銅箔表面層の制御が必要である。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、活物質と高い密着力を有しながらも低い電気抵抗を有するLi二次電池用電解銅箔を提供することを目的とする。
また、本発明は、高い密着力と低い電気的抵抗を有する表面酸素層プロファイルを有する電解銅箔を提供することを目的とする。
また、本発明は、前述した電解銅箔の製造方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、前述した電解銅箔を含んで高い放電容量維持率を有するLi二次電池の陰極を提供することを目的とする。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、露出された第1表面及び前記第1表面の反対側の露出された第2表面を有する電解銅箔であって、前記第1表面側の第1保護層と、前記第2表面側の第2保護層と、前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、前記電解銅箔は、前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上乃至8.0nm未満であることを特徴とする電解銅箔を提供する。ここで、前記第2表面での酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Spectroscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである。
本発明で、前記第1保護層及び第2保護層はクロム酸塩を含むことが好ましい。
また、前記第2表面から測定した酸素成分の濃度は前記第2表面から深くなるほど増加してから減少する傾向を示す。
本発明の一実施例で、前記酸素含有部厚さは8.0mm未満であることが好ましい。
また、本発明の一実施例で、前記電解銅箔は、110℃で10分間熱処理後の破断強度が25〜57kgf/mmであることが好ましい。
また、本発明の一実施例によれば、前記第1表面での酸素含有部厚さと前記第2表面での酸素含有部厚さ間の差が5.8nm以下であることが好ましい。
前記他の技術的課題を達成するために、本発明は、電解内の電解液内に互いに離隔して配置された陽極板及び回転陰極ドラムの間に電流を印加して前記回転陰極ドラム上に銅膜を電気メッキする段階と、メッキされた前記銅膜を巻き取る段階と、前記銅膜を防錆処理溶液に浸漬して防錆処理する段階とを含み、前記防錆処理段階は、前記防錆処理溶液に空気を注入しながら行う。この際、空気注入はブロワーによって行うことができる。また、前記防錆処理溶液の溶存酸素量は3〜12ppmに維持されることが好ましい。
また、本発明で、前記電解液のTIC濃度は0.05g/L以下に維持されることが好ましく、前記電解液のFe濃度は0.3g/L以下に維持されることが好ましい。
前記さらに他の技術的課題を達成するために、本発明は、第1表面及び前記第1表面の反対側の第2表面を有する電解銅箔集電体と、前記第1表面及び前記第2表面上の陰極活物質層とを含み、前記電解銅箔は、前記第1表面側の第1保護層と、前記第2表面側の第2保護層と、前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上であることを特徴とするLi二次電池用陰極を提供する。ここで、前記第2表面の酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Spectroscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである。
本発明によれば、活物質と高い密着力を有しながらも低い電気抵抗を有するLi二次電池用電解銅箔集電体を提供することができる。
また、本発明は、活物質と高い密着力を有するように表面酸素濃度プロファイルが制御された電解銅箔集電体を提供することができる。
また、本発明は、高い放電容量維持率を有するLi二次電池の陰極を提供することができる。
本発明の実施例による電解銅箔の断面構造を示した模式図である。 本発明の実施例によるLi二次電池用陰極の断面構造を示した模式図である。 本発明の電解銅箔製造装置を模式的に示す図である。 実施例1の電解銅箔第2表面に対してAES装置で測定した各成分の濃度プロファイルを示したグラフである。 実施例1、実施例2、比較例1の電解銅箔の第2表面に対してAES装置で測定した酸素濃度プロファイルを示したグラフである。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する。
図1は本発明の実施例による電解銅箔の断面構造を示した模式図である。
図1を参照すると、電解銅箔110は、露出された第1表面110a及び前記第1表面110aの反対側の露出された第2表面110bを備え、前記第1表面110aを形成する第1保護層112、前記第2表面110bを形成する第2保護層113、及び前記第1及び第2保護層112、113間の銅膜111を含む。
本発明で、前記電解銅箔110は所定厚さ、例えば4〜30μmの厚さを有する。銅箔の厚さが4μm未満の場合、電池製造工程での作業性低下をもたらし、30μm以上の場合、Li二次電池製造の際に銅箔の大きな厚さのため高容量の実現が難しくなる。
前記銅膜111は回転陰極ドラムで電気メッキによって形成される。電気メッキ過程で前記回転陰極ドラムと直接接触する面は光沢面(S面)111aとその反対側の艶消し面(M面)111bを有する。
好ましくは、前記第1及び第2保護層112、113は防錆コーティング層を含む。前記防錆コーティング層はクロム酸塩(chromate)化合物を含む。前記第1及び第2保護層112、113は前記銅膜111の酸化及び腐食を防止し、活物質の密着性を向上させる。
本発明で、前記電解銅箔の厚さ方向の酸素成分プロファイルは次のような特性を有する。前記電解銅箔の第2表面110bでの酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上であることが好ましい。ここで、前記第2表面110bでの酸素含有部厚さ(OT)は、AES(Auger Electron Spectroscopy)によって第2表面110bから測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層113部分のSiO換算厚さを言う。また、前記第2表面110bでの酸素含有部厚さは8.0nm未満であることが好ましい。酸素含有部厚さが1.5nm未満の場合、表面の親水性を有する酸素の活性位が足りなくて陰極材が銅箔の表面に十分な密着力を形成することができないから、陰極が銅箔から取れ、Li二次電池の製造後の充放電評価の際に充電効率が急激に低下する。8.0nmを超える場合、銅箔表面の抵抗が高くなり、Li二次電池製造の後、高い抵抗によって充電効率が低下する。
また、本発明で、電解銅箔の第2表面110b及び第1表面110aでの酸素含有部厚さ(OT)の差は5.8nm以下であることが好ましい。前記第1表面110aでの酸素含有部厚さ(OT)は、前記第2表面110bでの酸素含有部厚さ(OT)と同様に、AESによって前記第1表面110aの表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第1保護層112部分のSiO換算厚さを言う。
第1表面110a及び第2表面110bでの酸素含有部厚さ値の差(Oxygen Thickness Difference)が5.8nmを超えるときは、銅箔の両面に陰極材をコーティング及び乾燥した後、銅箔の両面で銅箔と陰極材間の密着力の差によって、製造された極板に撓みが発生し、Li二次電池ロールツーロール(Roll to Roll)工程で折れが発生する。
本発明で、前記電解銅箔は110℃で10分間熱処理後の破断強度が25〜57kgf/mmであることが好ましい。破断強度が25kgf/mm未満の場合、銅箔自体の強度不足によって、Siが混合された陰極材を適用してLi二次電池を製造して充放電評価を行えば、断線が発生して充電効率が急激に低下する。破断強度が57kgf/mmを超える場合、銅箔が延びる特性がめっきり低下するから、Li二次電池に対する充放電評価を実施するとき、体積膨張に耐えられなくて電極が断線されることがあり、充電効率が急激に低下することができる。
また、本発明で、前記電解銅箔は、幅方向重量の偏差が5%未満であることが好ましい。重量偏差が5%を超えれば、銅箔及びLi二次電池製造工程でしわが発生することができる。
また、本発明で、第2表面110bの表面プロファイルで最大高(Rp)が0.36〜1.69μmの範囲にあることが好ましい。電解銅箔の表面プロファイルで最大高が0.36μm未満であれば、銅箔表面が活物質が均一にコーティングされることができる活性位を充分に提供することができなく、活物質が不均一にコーティングされる。また、最大高が1.69μmを超えれば、銅箔表面のピーク高が余りにも高くて活物質のコーティングが不均一になって同じ現象が発生し、不均一な活物質コーティングによって電極の表面から局部的に活物質が脱離する現象が発生する。
選択によって、本発明で、前記第1及び第2保護層112、113は調和処理層をさらに含むことができる。前記調和処理層は、銅、コバルト及びニッケルの1種のメッキ又はこれらの2種以上の合金メッキで形成され、前記防錆コーティング層と銅膜との間に介在されることができる。
図2は本発明の実施例によるLi二次電池用陰極100の断面構造を示した模式図である。
図2を参照すると、図1に基づいて説明したものと同様に、電解銅箔110は、第1表面110a及び第2表面110bを備え、前記第1表面110aを形成する第1保護層112、前記第2表面110bを形成する第2保護層113、及び前記第1及び第2保護層112、113間の銅膜111を含む。
前記第1及び第2保護層112、113上には陰極活物質層120が備えられる。
前記陰極活物質層120は、グラファイト、コークス系などの炭素系活物質を含むことができる。また、前記陰極活物質層120の活物質は、Si、Ge、Sn、Li、Zn、Mg、Cd、Ce、Ni及びFeからなる群から選択される少なくとも1種の金属、その金属を含む合金及び前記金属の化合物を含むことができる。また、前記陰極活物質層120の活物質は前記金属と炭素の複合体であり得る。また、前記陰極活物質層120は、導電材及びバインダーをさらに含むことができる。
図3は本発明の電解銅箔製造装置を模式的に示す図である。
図3の電解銅箔製造装置は製箔段階及び防錆処理段階を含む一連のロールツーロール工程を示している。
図3に示したように、電解槽10内の電解液20内に、互いに離隔して配置された陽極板30及び回転陰極ドラム40が備えられる。回転陰極ドラム40は所定方向に回転し、陰極ドラム40と陽極板30との間に電源を印加すれば、電解液20を介して通電によってメッキが施される。陰極ドラム40の表面にメッキされた銅膜111はガイドロール80によって巻き取られる。
前記銅膜111を析出させる電解液20としては、硫酸銅メッキ液、ピロリン酸銅メッキ液又はスルファミン酸銅メッキ液などが使われることができる。好ましくは、本発明で、電解液としては硫酸銅メッキ液が好適である。
ここで、前記陽極板30は、互いに電気的に絶縁された第1陽極板31及び第2陽極板32を含むことができる。ここで、前記陽極板30、すなわち前記第1及び第2陽極板31、32によってそれぞれ提供される電流密度は40〜80A/dmであり得る。電流密度が高いほど表面が均一にメッキされることによって銅箔の平均Rpは減少する。電流密度が80A/dmを超える場合、Rpが所要の下限を外れることになり、一方電流密度が40A/dm未満の場合、メッキが荒くなってRpが所要のスペックの上限を外れることになる。
本発明の一実施例で、前記電解液20は、70〜90g/Lの銅イオン、80〜120g/Lの硫酸を含むことができる。
本発明で、電解液内の全無機炭素(Total Inorganic Carbon;TIC)含量は0.05g/L以下、Fe含量は0.3g/L以下に管理されなければならない。TIC濃度が0.05g/Lを超えれば、無機系炭素成分がメッキ層の成長を加速化させて破断強度を低める。また、Feの濃度が0.3g/Lを超えれば、Fe成分が銅と共析することにより、合金化によって破断強度が過度に高くなる。
また、製箔段階で、前記電解液20は50〜60℃に維持され、前記電解槽10内に供給される前記電解液20の流量は40〜46m/hourの範囲で維持されることが好ましい。前記電解液20の流量が40m/hour以下の場合、回転陰極ドラム40の表面に銅イオンが円滑に供給できなくてメッキ薄膜が不均一に形成され、前記電解液20の流量が46m/hourを超える場合、フィルターを通過する電解液20の流速があまりにも速くてフィルターの寿命が急激に短縮する原因となる。
メッキによって製造された銅膜はガイドロール80によって防錆処理槽50に投入される。
本発明で、防錆処理溶液60はクロム酸塩を含む。クロム酸塩はMCr(ここで、Mは1価金属)のような重クロム酸塩又はCrOのようなクロム酸に水酸化アルカリ及び酸の混合水溶液が使われることができる。また、処理溶液は、ZnO、ZnSO・7HOなどの亜鉛塩をさらに含むことができる。必要によって、前記防錆処理溶液には有機添加剤をさらに含むことができることは言うまでもない。
本発明の一実施例で、銅箔表面での酸素含有部厚さを適正範囲で維持するために、防錆液の溶存酸素量が一定水準に維持される。このために、防錆処理槽にはブロワー70が備えられる。ブロワー70の流量を制御することにより、防錆処理溶液60内の溶存酸素の含量が制御される。後述する本発明の実施例で説明するように、溶存酸素量は3ppm〜12ppmの範囲で維持される。
本発明で、防錆処理は銅膜の単純浸漬又は電着によって施されることができ、好ましくは電着によって施される。
一方、防錆処理段階で、前記ガイドロールと接触する銅膜111の面(例えば、S面111a)は前記防錆処理溶液60に露出される面の反対面(例えば、M面111b)に比べて防錆処理溶液60のコーティング量が少なくなる。その結果、銅膜111のS面111aとM面111b上の電着量差は電解銅箔110の折れ及び/又は巻かれ(しわ)の原因となることができる。したがって、本発明で、銅膜と前記ガイドロールが接触する時間を最小化することができ、例えば、水平防錆処理などの方法を適用することが好ましい。
以下、本発明の好適な実施例を詳述する。
<電解銅箔の製造>
図3のような装置を使い、電解槽内の電解液内に互いに離隔して配置された陽極板及び回転陰極ドラムに通電させることによって前記回転陰極ドラム上に銅膜を形成した。
電解液は75g/Lの銅イオン、及び100g/Lの硫酸で製造した。電解液のTIC含量とFe含量を異にし、相異なる条件で銅膜を製造した。前記電解液は約55℃に維持し、電流密度は60A/dmにし、電解液流量は42m/hourにした。
ついで、防錆液は次のように製造した。まず、CrO粉末を水溶液に分散させてCrイオンの濃度が2.2g/Lになるようにした。この際、防錆溶液のpHは1.8〜2.2に維持した。その他に、クエン酸(Citric Acid)を0.2〜0.4g/L追加して防錆液を製造した。製造された防錆溶液のpHは硫酸又は水酸化ナトリウム水溶液で調節した。製造された防錆溶液にブロワーで注入する空気量を異にして溶存酸素量を変化させながら、製造された銅膜を常温(30℃)で10秒間浸漬した。防錆処理溶液内の溶存酸素量は日本TOADKK社の溶存酸素測定機で測定した。ついで、前記酸化クロム溶液を乾燥させて前記銅膜の両面上に防錆コーティング層を形成することにより、4μmの厚さを有する電解銅箔を製造した。製造された銅箔の製箔及び防錆処理条件は下記の表1に示した。
Figure 2020532836
ついで、製造された電解銅箔の特性を測定した。測定方法は次のようである。
破断強度
UTM(Universal Testing Machine)で電解銅箔サンプルの両端を把持して引張し、破断されたときの強度を測定した。サンプル幅は12.7mm、グリップ間距離は50mm、測定速度は50mm/minにした。
第2表面(M面付近の露出された表面)での酸素含有部厚さ(OT)
製造された電解銅箔の第2表面(M面付近の露出された表面)からの酸素濃度の深みプロファイルをULVAC−PHI IncのAES分析装置であるPHI700モデルを用いて下記の条件で分析した。
Electron energy analyser:CMA(cylindrical mirror analyser)
Electron beamen ergy:5keV
Target current:10nA
イオンエネルギー、スパッタリング速度:2kVAr、60Å/min(SiO換算)
イオンビームスポットサイズ:2×2mm
酸素含有部厚さ(OT):AESによって酸素濃度を測定した深みはスパッタリング食刻時間から次の数式(SiO換算基準)によって求めた。
[数学式1]
SiO換算深み=スパッタリング食刻時間(min)×スパッタリング速度(60Å/min)
測定された酸素濃度が10atom%である地点の換算深みを酸素含有部厚さ(OT)として取った。
第1表面と第2表面での酸素含有部厚さ差(OTD)
第1表面のOTを前述したものと同様な方式で求め、第1表面と第2表面のOT差を計算した。
折れ発生有無
二次電池ロールツーロール工程で電解銅箔の折れが発生するかを肉眼で観察した。
<陰極の製造>
前述した実施例及び比較例1〜4で製造された電解銅箔から幅10cmの集電体を準備した。集電体上の陰極活物質はカーボンとSiOを9:1の重量比で混合して使った。この際、陰極活物質100重量部に対してSBR(スチレンブタジエンゴム)2重量部及びCMC(カルボキシメチルセルロース)2重量部を混合し、蒸溜水を溶剤としてスラリーを調製し、ドクターブレードを用いて厚さ60μmのスラリー集電体に塗布し、120℃で乾燥した後、1ton/cmの圧力で押圧して陰極を製造した。
<Li二次電池の製造>
エチレンカーボネート(EC)及びエチレンメチルカーボネート(EMC)を1:2の重量比率で混合した非水性有機溶媒に溶質として1MのLiPFを溶解させたものを基本電解液とし、この基本電解液99.5重量%と無水コハク酸(Succinic anhydride)0.5重量%を混合して非水電解液を製造した。
Li1.1Mn1.85Al0.05のリチウムマンガン酸化物とo−LiMnOの斜方晶系(orthorhombic)結晶構造のリチウムマンガン酸化物を90:10の重量比で混合して陽極活物質を製造した。前記陽極活物質とカーボンブラックを結着剤であるPVDF[Poly(vinylidenefluoride)]と85:10:5の重量比で有機溶媒のNMPと混合してスラリーを製造した。製造されたスラリーを厚さ20μmのAl箔(foil)の両面に塗布してから乾燥して陽極を製作した。
製造された陽極、陰極及び電解液からLi二次電池セルを製造し、製造された2次電池の特性を評価した。前記陰極、電解液及び陽極から製作した電池で4.3V充電/3.4V放電の作動電圧で容量を測定し、高温寿命を評価するために、50℃の高温で0.2Cの充放電速度で500回の充放電実験を行って放電容量維持率を計算した。ここで、放電容量維持率はサンプルを5つ測定した算術平均値である。
下記の表2に実施例及び比較例1〜4の電解銅箔の特性を示した。また、該当電解銅箔を集電体として製造されたLi二次電池セルの放電容量維持率をまとめて示した。
Figure 2020532836
まず、表1及び2を参照して、溶存酸素量以外の条件が同一である実施例1及び比較例1を比較すれば、実施例1のOTは比較例1より高い値を示すことが分かる。これは、実施例1の電解銅箔が比較例1に比べて表面に高い酸素活性位を提供することができることを意味する。一方、実施例1が90%以上の放電容量維持率を示す反面、比較例1の放電容量維持率は90%未満の値を有する。比較例1の場合、陰極材が銅箔表面に十分な密着力を形成することができなくて、繰り返された充放電評価の際に充電効率が急激に低下したことに起因する。一方、より高い溶存酸素量の条件で製造された実施例2と比較例2を比較すれば、溶存酸素量が相対的に低い実施例2(11.7ppm)のOTは比較例2(12.5ppm)のOTより低い値を有することが分かる。また、実施例2の集電体から製造された電池は比較例2の集電体から製造された電池に比べて高い放電容量維持率を有することを示している。これから、過度なOTレベルは銅箔の表面抵抗を増加させ、これによって放電容量維持率が減少することを確認することができる。
図4は実施例1の電解銅箔第2表面に対してAES装置で測定した各成分の濃度プロファイルを示したグラフ、図5は実施例1、2及び比較例の電解銅箔の第2表面に対してAES装置で測定した酸素濃度プロファイルを示したグラフである。
図5を参照すると、比較例1の場合、表面から急激な酸素濃度の減少が現れ、およそ換算深み1.3nm付近で10atom%未満に落ちることが分かる。一方、実施例1及び2の電解銅箔の場合、表面とOT間の厚さ範囲で酸素濃度は表面で少し上昇してから減少する傾向を示し、減少区間での酸素濃度の減少傾きも緩やかな傾向を示している。以上の実施例及び比較例で説明したように、本発明で、好適なOT範囲は1.5〜8.0nmであることが好ましい。
また、表1及び表2を参照して、同じ溶存酸素濃度の条件(7.5ppm)での実施例3及び比較例3の特性データを調べると、比較例3の場合、TICの含量が小幅増加することによって破断強度が25kg/mm未満に落ちることが分かる。また、比較例3の場合、充放電評価の際に充電効率の急激な低下を示している。これは、銅箔自体の強度不足によって、Siが混合された陰極材の適用時に断線が発生することに起因する。
一方、実施例4及び比較例4は電解液(メッキ液)内のFe濃度を異にした場合である。比較例4のようにFe濃度が0.3g/L以上の場合、破断強度が57kg/mmを超えることになる。この場合、銅箔が延びる特性が著しく低下し、充放電評価時に発生する体積膨張に耐えられなくて電極が断線されることができ、これにより充電効率が急激に低下することが分かる。
一方、実施例1〜4はOTDが低い値を示している反面、比較例1〜4はOTDが5.9nm以上の高い値を示している。よって、比較例1〜4はいずれも折れ現象が観察されている。このような高いOTD値は、陰極材コーティング及び乾燥の後に銅箔両面での銅箔と陰極材間の密着力差によって、製造された極板に撓みを発生させることができ、Li二次電池ロールツーロール工程で折れ発生の主原因になることができる。
以上、本発明の実施例に基づいて本発明を詳述したが、前述した実施例本発明の技術思想を例示的に説明したものに過ぎないものであり、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者であれば本発明の本質的な特性から逸脱しない範囲内で多様な修正及び変形が可能であることが分かるであろう。よって、本発明に開示された実施例は本発明の技術思想を限定するためのものではなくて説明するためのものであり、このような実施例によって本発明の技術思想の範囲が限定されるものではない。本発明の保護範囲は以下の請求範囲によって解釈され、それと同等な範囲内にある全ての技術思想は本発明の権利範囲に含まれるものに解釈されなければならない。

Claims (11)

  1. 露出された第1表面及び前記第1表面の反対側の露出された第2表面を有する電解銅箔であって、
    前記第1表面側の第1保護層と、
    前記第2表面側の第2保護層と、
    前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、
    前記電解銅箔は、前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上乃至8.0nm未満であることを特徴とする、電解銅箔。
    (ここで、前記第2表面での酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Microscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである)
  2. 前記第1保護層及び第2保護層はクロム酸塩を含むことを特徴とする、請求項1に記載の電解銅箔。
  3. 前記第2表面から測定した酸素成分の濃度は前記第2表面から深くなるほど増加してから減少することを特徴とする、請求項1に記載の電解銅箔。
  4. 前記電解銅箔は、110℃で10分間熱処理後の破断強度が25〜57kgf/mmであることを特徴とする、請求項1に記載の電解銅箔。
  5. 前記第1表面での酸素含有部厚さと前記第2表面での酸素含有部厚さ間の差が5.8nm以下であることを特徴とする、請求項1に記載の電解銅箔。
  6. 電解内の電解液内に互いに離隔して配置された陽極板及び回転陰極ドラムの間に電流を印加して前記回転陰極ドラム上に銅膜を電気メッキする段階と、
    メッキされた前記銅膜を巻き取る段階と、
    前記銅膜を防錆処理溶液に浸漬して防錆処理する段階とを含み、
    前記防錆処理段階は、前記防錆処理溶液に空気を注入しながら行うことを特徴とする、電解銅箔の製造方法。
  7. 前記防錆処理段階で、前記防錆処理溶液の溶存酸素量は3〜12ppmに維持されることを特徴とする、請求項6に記載の電解銅箔の製造方法。
  8. 前記空気注入はブロワーによって行うことを特徴とする、請求項7に記載の電解銅箔の製造方法。
  9. 前記電解液のTIC濃度は0.05g/L以下に維持されることを特徴とする、請求項6に記載の電解銅箔の製造方法。
  10. 前記電解液のFe濃度は0.3g/L以下に維持されることを特徴とする、請求項6に記載の電解銅箔の製造方法。
  11. 第1表面及び前記第1表面の反対側の第2表面を有する電解銅箔集電体と、
    前記第1表面及び前記第2表面上の陰極活物質層とを含み、
    前記電解銅箔は、
    前記第1表面側の第1保護層と、
    前記第2表面側の第2保護層と、
    前記第1及び第2保護層間の銅膜とを含み、
    前記第2表面での酸素含有部厚さ(OT)が1.5nm以上であることを特徴とする、Li二次電池用陰極。
    (ここで、前記第2表面の酸素含有部厚さはAES(Auger Electron Microscopy)によって前記第2表面から測定した酸素成分の濃度が10atom%以上の前記第2保護層部分のSiO換算厚さである)
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