JP2020515709A - マグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム - Google Patents
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Abstract
Description
磁石集合体を複数含む磁気発生部と、前記駆動電源部と前記複数の磁石集合体のうちの1つ以上を選択的に制御可能なスイッチを含む磁気制御部とを含む。
本発明の駆動電源部は、外部電源から電流を取得して磁気制御部を介して磁気発生部に電流を流れるようにする。ここで、駆動電源部は、外部の電源から交流電流が流入されてもよい。駆動電源部を通過して流入された電流を、後述する磁気制御部で制御して磁気発生部の一部又は全ての磁石集合体に電流を送る役割を果たす。磁石集合体の組合せを含む後述する磁気発生部は、磁気制御部によって選択された磁石集合体から電流を受けて磁場を発生させる。
本発明の磁気制御部は、少なくとも1つ以上のスイッチを含むように形成され、形成されたスイッチの開閉を制御し、磁気発生部に含まれている磁石集合体の一部又は全てに選択的に電流が流れるようにする役割を果たす。
本発明において磁気発生部は、複数の磁石集合体を含んで形成される。本発明を詳細に説明するために、磁石集合体の他に磁石ユニット及び磁石構造体の概念が加えられて使用される。
本発明の一実施形態によれば、前記磁石集合体それぞれは、1つ以上の磁石複数構造体がワイヤーによって直列、並列、又は両方に接続されてもよい。
本発明の磁石ユニットと磁石集合体は、全て1つ以上の磁石構造体を含む概念である。磁石構造体は1つ以上が磁石集合体に含まれ、磁石構造体が複数の場合、互いに接続形成されて磁石集合体を形成する。磁石集合体は、再び一つ以上が磁石ユニットに含まれることができ、磁石集合体が複数の場合に互いに接続形成されて磁石ユニットを形成する。磁石集合体は磁石構造体を複数含んでいる場合、各磁石構造体がワイヤーによって直列、並列、又は両方に接続されて形成された構造であり得る。
他の一実施形態として、本発明のマグネトロンスパッタリング装置は、基板が載置される基板載置部と、前記基板載置部と所定間隔離隔して設けられ、複数の磁石集合体を含む磁気発生部と、前記磁気発生部と接続して前記磁気発生部に電源を供給するための駆動電源部と、前記駆動電源部と前記複数の磁石集合体のうち1つ以上が選択的に接続されるように制御可能なスイッチを含む磁気制御部と、前記基板載置部と磁気発生部との間に設けられる1つ以上のターゲット部とを含む。
図6に示された磁石ユニット630は、本発明の一例として基板と向かい合うように設けられているが、必ず基板と向かい合って設けられることはない。本発明の他の一例(図示せず)において、磁石ユニットが基板と一定の角度傾斜した状態に所定距離離隔して設けられてもよい。本発明の磁石ユニットの一例として、ヨーク310、ヨーク上に形成された中央の第1磁石群及び第1磁石群左側及び右側に設けられた第2磁石群を含む。第1磁石群及び第2磁石群は、複数の磁石構造体が連結された構造を含む。また、図6では例示的に一個の磁石ユニットを示したが、前記磁石ユニットは2つ以上設けられてもよく、前記磁石ユニットは、x軸方向、x軸方向と直交するy軸方向、及びx軸方向とy軸方向に全て直交するz軸方向のうち1つ以上の方向に往復移動してもよい。
バッキングプレート650は、磁石ユニット630と基板載置部620との間に設けられる。また、バッキングプレートの一面にはターゲット640が固定される。すなわち、ターゲットは基板610と対面するバッキングプレートの一面に固定される。一方、バッキングプレートを設けることなく、磁石ユニットの上側にターゲットを設けることも可能である。
ターゲット640は、バッキングプレート650に固定され、基板610に蒸着される物質から構成される。このようなターゲット640は、金属物質又は金属物質を含む合金であり得る。また、ターゲット640は、金属酸化物、金属窒化物、又は誘電体であり得る。
基板載置部620は、蒸着物質が基板610に均一に蒸着されるように基板を固定する。基板載置部は基板が載置されれば、固定手段などを用いて基板の縁部を固定したり、基板の裏面で基板を固定してもよい。基板載置部は、基板の裏面を全て支持して固定するために、基板の形状を有するほぼ四角形又は円状に設けることができる。また、基板載置部は、基板の縁部を固定するために、所定の長さを有する4つのバーが上下左右に所定間隔離隔して設けられ、バーの縁部が互いに接触することによって中央部が空いている四角の枠組み形状に設けられる。一方、基板載置部は、基板が載置した状態で一方向に移動してもよい。例えば、一方向に進みながら基板上に薄膜を蒸着し得る。したがって、基板載置部の基板が載置されていない面には、基板載置部を移動させる移動手段(図示せず)が設けられ得る。移動手段は、基板載置部と接触して移動させるローラ、基板載置部と離隔して磁気力に移動させる磁気移送手段などを含んでもよい。もちろん、基板載置部の一部が移動手段として機能してもよい。
図7A〜図7Dは、本発明の実施形態として、磁石構造体を複数含む磁石ユニットを図5Bのように構成し、スイッチを用いて一部又は全ての磁石集合体を駆動電源部に接続した後、接続された磁石構造体の構造を示す概略図である。
Claims (14)
- 駆動電源部と、
磁石集合体を複数含む磁気発生部と、
前記駆動電源部と前記複数の磁石集合体のうちの1つ以上を選択的に制御可能なスイッチを含む磁気制御部と、
を含むマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。 - 前記駆動電源部は、外部電源と接続されて交流を直流に切り替える電源部と、前記電源部と接続されて印加される電源の極性を切り替える極性切替部とを含む、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記磁気制御部は、前記駆動電源部に含まれる、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記磁気制御部は、前記スイッチの接続を選択的に制御し、前記磁気発生部の少なくとも一領域が他の領域と異なる磁場強度を有するように調整できる、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記磁気制御部は、前記駆動電源部で供給される電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、前記磁気発生部の少なくとも一領域が他の領域と異なる磁場強度を有するように制御できる、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置。
- 前記磁気制御部は、前記複数の磁石集合体間の直列接続、並列接続、又は両方の接続を制御する、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記磁石集合体のそれぞれは、1つ以上の磁石構造体を含み、
前記磁石構造体は複数の場合、互いに直列、並列、又は両方に接続される、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。 - 前記磁石構造体のそれぞれは、電磁石、永久磁石と電磁石の結合体、又は両方を含む、請求項7に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記複数の磁石集合体のうち少なくとも一部は、N極又はS極のうち選択された1つの磁極を有する第1磁石群と、N極又はS極のうち前記第1磁石群と異なる磁極を有する第2磁石群と、を含む、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 前記第2磁石群は、前記第1磁石群の外側に配置される、請求項9に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム。
- 基板が載置される基板載置部と、
前記基板載置部と所定間隔離隔して設けられ、複数の磁石集合体を含む磁気発生部と、
前記磁気発生部と接続され、前記磁気発生部に電源を供給するための駆動電源部と、
前記駆動電源部と前記複数の磁石集合体のうちの1つ以上を選択的に接続するためのスイッチを含む磁気制御部と、
前記基板載置部と磁気発生部との間に設けられる1つ以上のターゲット部と、
を含むマグネトロンスパッタリング装置。 - ターゲットの位置による表面の侵食程度を確認するステップと、
ターゲットの表面の侵食程度の分布に応じて、磁石構造体の磁場強度を調整してスパッタリングを行うステップと、
を含むマグネトロンスパッタリング法。 - 前記スパッタリングを行うステップは、請求項1乃至請求項10に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システムによるものである、請求項12に記載のマグネトロンスパッタリング法。
- 前記磁場強度調整は、
前記磁石構造体に加えられる電流及び前記磁石構造体に加えられる電圧のうちの1つ以上を制御したり、
前記磁石構造体が複数の場合、前記磁石構造体間の接続を制御したり、又は、両方の全てを制御して行われる、請求項12に記載のマグネトロンスパッタリング法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170042219A KR101885123B1 (ko) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 마그네트론 스퍼터링 장치의 자석 제어 시스템 |
KR10-2017-0042219 | 2017-03-31 | ||
PCT/KR2018/001673 WO2018182168A1 (ko) | 2017-03-31 | 2018-02-08 | 마그네트론 스퍼터링 장치의 자석 제어 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020515709A true JP2020515709A (ja) | 2020-05-28 |
JP7084931B2 JP7084931B2 (ja) | 2022-06-15 |
Family
ID=63250466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019536061A Active JP7084931B2 (ja) | 2017-03-31 | 2018-02-08 | マグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7084931B2 (ja) |
KR (1) | KR101885123B1 (ja) |
CN (1) | CN110140191B (ja) |
TW (1) | TWI768014B (ja) |
WO (1) | WO2018182168A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6895589B2 (ja) | 2019-05-28 | 2021-06-30 | 株式会社アルバック | スパッタリング装置、薄膜製造方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07173626A (ja) * | 1993-12-20 | 1995-07-11 | Casio Comput Co Ltd | スパッタ装置 |
JPH0881769A (ja) * | 1994-09-16 | 1996-03-26 | Fujitsu Ltd | スパッタ装置 |
JPH1180948A (ja) * | 1997-09-06 | 1999-03-26 | Anelva Corp | スパッタリング装置 |
JP2011518950A (ja) * | 2008-04-28 | 2011-06-30 | コムコン・アーゲー | 物体を前処理及びコーテイングするための装置及び方法 |
JP2017014557A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 京都電機器株式会社 | スパッタ装置用電源装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5887270A (ja) * | 1981-11-18 | 1983-05-25 | Hitachi Ltd | プレ−ナマグネトロン方式のスパッタリング電極 |
JPH05311431A (ja) * | 1992-05-07 | 1993-11-22 | Hitachi Ltd | スパッタリング装置 |
JPH07233473A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-09-05 | Hitachi Ltd | マグネトロンスパッタ装置 |
JP3403550B2 (ja) * | 1995-06-29 | 2003-05-06 | 松下電器産業株式会社 | スパッタリング装置とスパッタリング方法 |
JP4170439B2 (ja) * | 1997-05-06 | 2008-10-22 | キヤノンアネルバ株式会社 | スパッタリング装置およびその磁界発生装置 |
US6440280B1 (en) * | 2000-06-28 | 2002-08-27 | Sola International, Inc. | Multi-anode device and methods for sputter deposition |
JP2007224343A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Victor Co Of Japan Ltd | マグネトロンスパッタリング装置 |
KR101160919B1 (ko) * | 2010-02-02 | 2012-06-28 | 위순임 | 처리효율이 향상된 스퍼터 장치 |
KR101250950B1 (ko) * | 2010-04-16 | 2013-04-03 | (주) 씨앤아이테크놀로지 | 마그네트론 스퍼터링장치 |
WO2015059842A1 (ja) * | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 酸化物半導体膜の作製方法 |
TWI643969B (zh) * | 2013-12-27 | 2018-12-11 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 氧化物半導體的製造方法 |
-
2017
- 2017-03-31 KR KR1020170042219A patent/KR101885123B1/ko active IP Right Grant
-
2018
- 2018-02-08 CN CN201880005024.2A patent/CN110140191B/zh active Active
- 2018-02-08 JP JP2019536061A patent/JP7084931B2/ja active Active
- 2018-02-08 WO PCT/KR2018/001673 patent/WO2018182168A1/ko active Application Filing
- 2018-03-26 TW TW107110274A patent/TWI768014B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07173626A (ja) * | 1993-12-20 | 1995-07-11 | Casio Comput Co Ltd | スパッタ装置 |
JPH0881769A (ja) * | 1994-09-16 | 1996-03-26 | Fujitsu Ltd | スパッタ装置 |
JPH1180948A (ja) * | 1997-09-06 | 1999-03-26 | Anelva Corp | スパッタリング装置 |
JP2011518950A (ja) * | 2008-04-28 | 2011-06-30 | コムコン・アーゲー | 物体を前処理及びコーテイングするための装置及び方法 |
JP2017014557A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 京都電機器株式会社 | スパッタ装置用電源装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2018182168A1 (ko) | 2018-10-04 |
CN110140191A (zh) | 2019-08-16 |
TW201837954A (zh) | 2018-10-16 |
TWI768014B (zh) | 2022-06-21 |
KR101885123B1 (ko) | 2018-08-03 |
JP7084931B2 (ja) | 2022-06-15 |
CN110140191B (zh) | 2022-10-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211018 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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