JP2020194894A - デバイスチップの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】隣接するデバイスチップ同士の電極が連結し中央に凹みを有した連結電極を備えたパッケージ基板から高品質なデバイスチップを製造するデバイスチップの製造方法を提供すること。【解決手段】デバイスチップの製造方法は、第一の切削ブレードを用いてパッケージ基板に設定された分割予定ラインの両側部を切削し、連結電極を切断して一対の溝を形成する第一の切削ステップST2と、第二の切削ブレードを用いて一対の溝の間を切削してパッケージ基板を切断する第二の切削ステップST3と、を有し、第一の切削ステップST2によって形成される一対の溝は、両側の溝の外側間の長さが第二の切削ブレードの厚さより大きく、かつ、内側間の長さが第二の切削ブレードの厚さより小さく、第二の切削ステップST3では、アップカットで切削を行う。【選択図】図4
Description
本発明は、デバイスチップの製造方法に関する。
半導体ウェーハ等の被加工物は、切削ブレードを備えたダイシング装置等の切削装置によって個々のデバイスチップに分割され、携帯電話やパソコン等の電気機器に利用される。例えば、電極基板に複数のデバイスチップが形成され電極基板の反対側が樹脂で覆われたパッケージ基板であるQFN(Quad For Non-Lead Package)をデバイスチップ毎のパッケージチップに分割する技術が本出願人によって提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1は、電極基板をデバイスチップに対応して切削する際に発生するバリを高圧水で除去する技術を提案している。
しかしながら、デバイスチップに対応する電極が隣接するデバイスチップに対応する電極と連結し、これら電極同士が連結して構成されかつ中央に凹みを有した連結電極を備えた電極基板を含むパッケージ基板が近年増加している。この種のパッケージ基板を切削する際には、高圧水を噴射して凹み部分に生じたバリを十分に除去できないという問題があった。
この問題を解決ために、最初に分割予定ラインの幅方向の両側部を切断して溝を形成し、これらの溝間を切断することでバリそのものが凹み部分に入り込むことを低減する方法が考えられたが、溝間を切削する際に切削ブレードが破損してしまうという新たな問題が発生した。
本発明は、上記事実に鑑みてなされたものであり、隣接するデバイスチップ同士の電極が連結し中央に凹みを有した連結電極を備えたパッケージ基板から高品質なデバイスチップを製造するデバイスチップの製造方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るデバイスチップの製造方法は、分割予定ラインによって区画された領域に複数のデバイスチップが配設され、隣接する該デバイスチップに対応して連結し中央に凹みを有した連結電極を備えた電極基板を含むパッケージ基板(QFN)を分割してデバイスチップを製造するデバイスチップの製造方法であって、第一の切削ブレードを用いて該パッケージ基板に設定された分割予定ラインの両側部を切削し、該連結電極を切断して一対の溝を形成する第一の切削ステップと、該第一の切削ステップの後、第二の切削ブレードを用いて該一対の溝の間を切削して該パッケージ基板を切断する第二の切削ステップと、を有し、該第一の切削ステップによって形成される一対の溝は、両側の溝の外側間の長さが該第二の切削ブレードの厚さより大きく、かつ、内側間の長さが該第二の切削ブレードの厚さより小さく設定されており、該第二の切削ステップでは、該第二の切削ブレードと該パッケージ基板との接点において該第二の切削ブレードを下から上に回転させるアップカットで切削を行うことを特徴とする。
前記デバイスチップの製造方法において、該第一の切削ブレードは該第二の切削ブレードより刃厚が薄くても良い。
本発明によれば、隣接するデバイスチップ同士の電極が連結し中央に凹みを有した連結電極を備えたパッケージ基板から高品質なデバイスチップを製造するデバイスチップの製造方法を提供することができるという効果を奏する。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換または変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係るデバイスチップの製造方法を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法の加工対象のパッケージ基板の一例を示す斜視図である。図2は、図1に示されたパッケージ基板の要部を示す斜視図である。図3は、図2中のIII−III線に沿う断面図である。図4は、本実施形態に係るデバイスチップの製造方法の流れを示すフローチャートである。
本発明の実施形態1に係るデバイスチップの製造方法を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法の加工対象のパッケージ基板の一例を示す斜視図である。図2は、図1に示されたパッケージ基板の要部を示す斜視図である。図3は、図2中のIII−III線に沿う断面図である。図4は、本実施形態に係るデバイスチップの製造方法の流れを示すフローチャートである。
実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、図1及び図2に示すパッケージ基板1を分割してデバイスチップ2を製造する方法である。実施形態1に係るデバイスチップの製造方法の加工対象のパッケージ基板1は、例えば、QFN(Quad For Non-Lead Package)等であり、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large Scale Integration)等の回路が作り込まれた半導体チップを複数配列させ、モールド樹脂等で封止して略長方形の板状に形成されている。
より具体的には、パッケージ基板1は、PCB基板等で形成される長方形の樹脂基板10の表面に複数(図1では2つ)の電極基板であるデバイス領域3を長手方向に並べて構成される。即ち、パッケージ基板1は、電極基板であるデバイス領域3を備える。デバイス領域3は、図1に示すように、長方形の樹脂基板10の表面からの凸に形成されている。デバイス領域3は、樹脂基板10上に配列された複数の半導体チップと半導体チップを封止するモールド樹脂とで構成されている。
デバイス領域3は、格子状の分割予定ライン4によって区画された領域に複数のデバイスチップ2が配設され、隣接するデバイスチップ2に対応して連結した連結電極5を備えている。連結電極5は、隣接するデバイスチップ2間、即ち、分割予定ライン4に設けられている。連結電極5は、導電性を有する金属により構成され、隣接するデバイスチップ2同士を連結し、図3に示すように、中央に凹み6を有している。
パッケージ基板1は、分割予定ライン4に沿って切削され、個々のデバイスチップ2に分割される。パッケージ基板1が分割される際、連結電極5が分割され、分割された連結電極5は、各デバイスチップ2の外縁に配設され、各デバイスチップ2の接続端子となる凹み電極として機能する。
実施形態1では、パッケージ基板1の平面視において、連結電極5の平面形状は、長手方向が分割予定ライン4に直交する矩形状に形成されているが、本発明では、矩形状に限定されない。また、実施形態1では、凹み6は、例えば、長手方向の幅が0.40mm程で、短手方向の幅が0.10mm程の寸法で所定の深さに形成される。実施形態1では、凹み6の長手方向は、分割予定ライン4と直交し、凹み6の短手方向は分割予定ライン4と平行であるが、本発明では、凹み6の形状は、これに限定されない。また、図3は、分割予定ライン4の幅方向の両側部41,42を破線で仮想的に示している。
実施形態1では、パッケージ基板1は、図1に示すように、環状のフレーム7の裏面に貼着された円板状の粘着テープ8の粘着面に樹脂基板10が貼着されることにより、粘着テープ8を介してフレーム7の開口内に支持される。
実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、図4に示すように、保持ステップST1と、第一の切削ステップST2と、第二の切削ステップST3とを有する。
(保持ステップ)
図5は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の保持ステップにおいて、パッケージ基板が切削装置のチャックテーブルに保持された状態を示す斜視図である。図6は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の保持ステップにおいて、パッケージ基板が切削装置のチャックテーブルに保持された状態を一部断面で示す側面図である。
図5は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の保持ステップにおいて、パッケージ基板が切削装置のチャックテーブルに保持された状態を示す斜視図である。図6は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の保持ステップにおいて、パッケージ基板が切削装置のチャックテーブルに保持された状態を一部断面で示す側面図である。
保持ステップST1は、パッケージ基板1を切削装置20のチャックテーブル21の保持面22に保持するステップである。実施形態1において、保持ステップST1では、パッケージ基板1が粘着テープ8を介してチャックテーブル21の保持面22に載置され、切削装置20が、図5及び図6に示すように、保持面22に粘着テープ8を介してパッケージ基板1を吸引保持するとともに、フレーム7をクランプ部23でクランプして、第一の切削ステップST2に進む。
(第一の切削ステップ)
図7は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの一方の側部に溝が形成されるパッケージ基板の要部の断面図である。図8は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの他方の側部に溝が形成されるパッケージ基板の要部の断面図である。図9は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの両側部に溝が形成されたパッケージ基板の要部の断面図である。
図7は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの一方の側部に溝が形成されるパッケージ基板の要部の断面図である。図8は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの他方の側部に溝が形成されるパッケージ基板の要部の断面図である。図9は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第一の切削ステップにおいて、分割予定ラインの両側部に溝が形成されたパッケージ基板の要部の断面図である。
第一の切削ステップST2は、切削装置20が、第一の切削ブレード24を用いてパッケージ基板1に設定された分割予定ライン4の両側部41,42を切削し、連結電極5を切断して一対の溝50,51を形成するステップである。実施形態1において、第一の切削ステップST2では、切削装置20が、パッケージ基板1を図示しない撮像ユニットで撮像して、分割予定ライン4と第一の切削ユニット25の第一の切削ブレード24とを位置合わせするアライメントを遂行する。
なお、第一の切削ブレード24は、例えば、砥粒を電鋳により固定した所謂電鋳ブレードであり、刃厚である厚さ24−1が0.08mm程の比較的薄いブレードである。
第一の切削ステップST2では、切削装置20が、第一の切削ユニット25とチャックテーブル21とを分割予定ライン4に沿って相対的に移動させながら第一の切削ブレード24を分割予定ライン4に樹脂基板10に到達するまで切り込ませて、各分割予定ライン4に溝50,51を形成する。第一の切削ステップST2では、各分割予定ライン4に溝50,51を形成する際には、切削装置20が、まず、図7に示すように、第一の切削ユニット25の第一の切削ブレード24を各分割予定ライン4の一方の側部41に切り込ませた後、図8に示すように、第一の切削ユニット25の第一の切削ブレード24を各分割予定ライン4の他方の側部42に切り込ませる。
こうして、第一の切削ステップST2では、切削装置20が、各分割予定ライン4の両側部41,42に溝51,52を形成する。第一の切削ステップST2では、切削装置20が、全ての分割予定ライン4の両側部41,42に溝51,52を形成すると、第二の切削ステップST3に進む。
なお、実施形態1では、第一の切削ステップST2では、第一の切削ブレード24の刃先のパッケージ基板1に接触する接点において、第一の切削ブレード24を上から下に向うように回転させる所謂ダウンカットにより切削する。しかしながら、本発明では、第一の切削ステップST2では、第一の切削ブレード24の刃先のパッケージ基板1に接触する接点において、第一の切削ブレード24を下から上に向うように回転させる所謂アップカットにより切削しても良い。
(第二の切削ステップ)
図10は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップにおいて、分割予定ラインの一対の溝間が切削されるパッケージ基板の要部の断面図である。図11は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップにおいて、分割予定ラインが切削されたパッケージ基板の要部の断面図である。図12は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップを模式的に示す斜視図である。図13は、分割予定ラインの溝間をダウンカットで切削する比較例を模式的に示す斜視図である。
図10は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップにおいて、分割予定ラインの一対の溝間が切削されるパッケージ基板の要部の断面図である。図11は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップにおいて、分割予定ラインが切削されたパッケージ基板の要部の断面図である。図12は、図4に示されたデバイスチップの製造方法の第二の切削ステップを模式的に示す斜視図である。図13は、分割予定ラインの溝間をダウンカットで切削する比較例を模式的に示す斜視図である。
第二の切削ステップST3は、第一の切削ステップST2の後、切削装置20が、第二の切削ブレード26を用いて分割予定ライン4の一対の溝51,52の間を切削して、パッケージ基板1を切断して、個々のデバイスチップ2に分割するステップである。
なお、第二の切削ブレード26は、例えば、砥粒をレジンボンドにより固定した所謂レジンブレードであり、刃厚である厚さ26−1が第一の切削ブレード24の厚さ24−1よりも厚く、0.35mm程の比較的厚いブレードである。このために、第一の切削ブレード24は、第二の切削ブレード26より厚さ24−1が薄い。
実施形態1において、第二の切削ブレード26の厚さ26−1は、一対の溝51,52の外側56,57間の長さ59よりも薄く、一対の溝51,52の内側54,55間の長さ58よりも厚い。このために、第一の切削ステップST2によって形成される一対の溝51,52は、両側の溝51,52の外側56,57間の長さ59が第二の切削ブレード26の厚さ26−1より大きく、かつ、内側54,55間の長さ58が第二の切削ブレード26の厚さ26−1より小さく設定されている。
第二の切削ステップST3では、切削装置20が、図10に示すように、第二の切削ユニット27とチャックテーブル21とを分割予定ライン4に沿って相対的に移動させながら第二の切削ブレード26を分割予定ライン4の幅方向の中央に粘着テープ8に到達するまで切り込ませて、各分割予定ライン4に沿ってパッケージ基板1を切断する。第二の切削ステップST3では、切削装置20が、図11に示すように、各分割予定ライン4に沿ってパッケージ基板1を切断して、パッケージ基板1を個々のデバイスチップ2に分割する。第二の切削ステップST3では、切削装置20が、全ての分割予定ライン4に沿ってパッケージ基板1を切断すると、終了する。
なお、実施形態1では、第二の切削ステップST3では、第二の切削ブレード26の刃先のパッケージ基板1に接触する接点において、図12に示すように、第二の切削ブレード26を図12の矢印で示すように下から上に向うように回転させるアップカットで切削を行う。このために、デバイスチップの製造方法は、第二の切削ステップST3において、分割予定ライン4を切削することで生じた端材60が第二の切削ブレード26の回転によってパッケージ基板1の上方に向けて吹き飛ばされる。
分割予定ライン4を切削する際に、第二の切削ブレード26の刃先のパッケージ基板1に接触する接点において、図13に示すように、第二の切削ブレード26を図13の矢印で示すように上から下に向うように回転させるダウンカットにより切削すると端材60が粘着テープ8側に押されて端材60等により第二の切削ブレード26が挟まれて破損する恐れがある。このような図13に示す比較例に対して、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、第二の切削ステップST3ではアップカットにより切削するので、端材60等により第二の切削ブレード26が挟まれることを抑制できる。
なお、実施形態1では、第二の切削ブレード26の厚さ26−1が、一対の溝51,52の外側56,57間の長さ59よりも薄く、一対の溝51,52の内側54,55間の長さ58よりも厚いので、個々に分割されたデバイスチップ2の外側面11に段差12を生じさせる。個々に分割されたデバイスチップ2は、周知のピッカーなどにより粘着テープ8から取り外される。
以上説明したように、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、第一の切削ステップST2において、分割予定ライン4の両側部41,42を切削して、連結電極5を切断して一対の溝50,51を形成し、第二の切削ステップST3において、溝50,51の外側56,57間の長さ59より厚さ26−1が薄い第二の切削ブレード26で溝50,51間を切削してパッケージ基板1を切断する。このために、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、特に第二の切削ステップST3において、バリの発生を抑制でき、その結果、バリそのものが凹み6に入り込むことを低減することができる。
また、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、第二の切削ステップST3において、所謂アップカットで溝50,51間を切削してパッケージ基板1を切断するので、切削の結果生じる端材60を第二の切削ブレード26がパッケージ基板1の上方に吹き飛ばすこととなる。このために、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、第二の切削ブレード26が端材60等に挟み込まれて破損してしまうことを抑制することができる。
その結果、実施形態1に係るデバイスチップの製造方法は、隣接するデバイスチップ2同士の電極が連結し中央に凹み6を有した連結電極5を備えたパッケージ基板1からバリが少なく第二の切削ブレード26の破損による不具合もない高品質なデバイスチップを製造することができるという効果を奏する。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
1 パッケージ基板
2 デバイスチップ
3 デバイス領域(電極基板)
4 分割予定ライン
5 連結電極
6 凹み
24 第一の切削ブレード
24−1 厚さ(刃厚)
26 第二の切削ブレード
26−1 厚さ(刃厚)
41,42 側部
50,51 溝
54,55 内側
56,57 外側
58 長さ
59 長さ
ST2 第一の切削ステップ
ST3 第二の切削ステップ
2 デバイスチップ
3 デバイス領域(電極基板)
4 分割予定ライン
5 連結電極
6 凹み
24 第一の切削ブレード
24−1 厚さ(刃厚)
26 第二の切削ブレード
26−1 厚さ(刃厚)
41,42 側部
50,51 溝
54,55 内側
56,57 外側
58 長さ
59 長さ
ST2 第一の切削ステップ
ST3 第二の切削ステップ
Claims (2)
- 分割予定ラインによって区画された領域に複数のデバイスチップが配設され、隣接する該デバイスチップに対応して連結し中央に凹みを有した連結電極を備えた電極基板を含むパッケージ基板(QFN)を分割してデバイスチップを製造するデバイスチップの製造方法であって、
第一の切削ブレードを用いて該パッケージ基板に設定された分割予定ラインの両側部を切削し、該連結電極を切断して一対の溝を形成する第一の切削ステップと、
該第一の切削ステップの後、第二の切削ブレードを用いて該一対の溝の間を切削して該パッケージ基板を切断する第二の切削ステップと、
を有し、
該第一の切削ステップによって形成される一対の溝は、
両側の溝の外側間の長さが該第二の切削ブレードの厚さより大きく、かつ、内側間の長さが該第二の切削ブレードの厚さより小さく設定されており、
該第二の切削ステップでは、該第二の切削ブレードと該パッケージ基板との接点において該第二の切削ブレードを下から上に回転させるアップカットで切削を行うことを特徴とする、デバイスチップの製造方法。 - 該第一の切削ブレードは該第二の切削ブレードより刃厚が薄いことを特徴とする、請求項1に記載のデバイスチップの製造方法。
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